JP2014117401A - 収差測定装置およびその方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 測定光を照射した被検査物からの戻り光の収差を測定する収差測定装置は、前記戻り光を複数の光に分割する分割手段と、前記複数の光それぞれが照射した領域の位置を検出する検出手段と、前記戻り光が前記分割手段に照射した照射領域に対応する計測領域毎に、所定の多項式を微分した式の各項の値を対応付けて記憶する記憶手段と、前記検出された位置における領域に基づいて、前記計測領域を決定する決定手段と、前記検出された位置に基づいて、前記計測領域における前記複数の光それぞれの波面の傾きを取得する取得手段と、を有し、前記決定された計測領域と前記取得された傾きと前記記憶された情報とに基づいて、前記収差が測定される。
【選択図】 図4
Description
ここで、シャック・ハルトマンセンサーにおける各スポット信号は、光波面の局所的な傾きを表し、すなわち光波面の局所的な微分を表している。このとき、シャック・ハルトマンセンサーにおける各スポット信号から光波面を計算する手法として、光波面の局所的な傾きを積分する手法がある。この手法は、シャック・ハルトマンセンサーにより測定した後に計算する必要がある。一方、別の手法として、シャック・ハルトマンセンサーにおける収差を計測する計測領域を予め一つ設定し、その計測領域内において考えられる光波面それぞれを表す所定の多項式を微分する手法がある。なお、シャック・ハルトマンセンサーにより測定する前に、被検眼からの戻り光がシャック・ハルトマンセンサーに照射した照射領域から計測領域を一つ設定することが一般的である。微分する手法は、測定する前に、計測領域を一つに設定して微分しておくことで、上述した積分する手法に比べて計算速度を速くすることができるため、一般的に用いられている。なお、特許文献1の場合、上述したように、光がシャック・ハルトマンセンサーに照射される照射領域の大きさよりも大きい計測領域を一つ設定している。
測定光を照射した被検査物からの戻り光の収差を測定する収差測定装置であって、
前記戻り光を複数の光に分割する分割手段と、
前記複数の光それぞれが照射した領域の位置を検出する検出手段と、
前記戻り光が前記分割手段に照射した照射領域に対応する計測領域毎に、所定の多項式を微分した式の各項の値を対応付けて記憶する記憶手段と、
前記検出された位置における領域に基づいて、前記計測領域を決定する決定手段と、
前記検出された位置に基づいて、前記計測領域における前記複数の光それぞれの波面の傾きを取得する取得手段と、を有し、
前記決定された計測領域と前記取得された傾きと前記記憶された情報とに基づいて、前記収差が測定されることを特徴とする。
本発明を適用した眼底撮像装置の構成について図1を用いて説明する。なお、本実施例においては、測定対象である被検査物を眼とし、眼で発生する収差をAOで補正し、眼底を撮像する。
測定された微小波面136の傾きに対して、所定の多項式の一例である基底関数を用いてフィッティングを行い、元の光波面131の収差を表すのに最適な基底関数の係数群を求める。測定された微小波面136の傾きは元の光波面131の収差の1次微分であるため、ある基底関数の係数群を求める場合には、微小波面136の傾きに対して、該基底関数の1次微分を用いてフィッティングを行うのが好ましい。
D=AZ ・・・式(1)
ベクトルZが、元の光波面131の収差を表すために求めるべきゼルニケ多項式の係数群の要素からなるベクトルである。
シャック・ハルトマンセンサー115はAO制御部116に接続され、受光した信号をAO制御部116に伝える。波面補正デバイス108もAO制御部116に接続されており、AO制御部116から指示された変調を行う。AO制御部116はシャック・ハルトマンセンサー115の測定結果により取得された波面をもとに、収差のない波面へと補正するような位相変調量を計算し、波面補正デバイス108にそのように変調するように指令する。波面の測定と波面補正デバイスへの指示は繰り返し処理され、常に最適な波面となるようにフィードバック制御が行われる。
Zを求める。
実施例2として、図6のフローチャートを用いて、本発明を適用した実施例1とは異なる形態の眼底撮像装置の制御方法の例について説明する。本実施例において、基本的な装置構成は実施例1と同様である。
また、本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。即ち、上述した実施形態の機能を実現するソフトウェア(プログラム)を、ネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータ(またはCPUやMPU等)がプログラムを読み出して実行する処理である。
Claims (9)
- 測定光を照射した被検査物からの戻り光の収差を測定する収差測定装置であって、
前記戻り光を複数の光に分割する分割手段と、
前記複数の光それぞれが照射した領域の位置を検出する検出手段と、
前記戻り光が前記分割手段に照射した照射領域に対応する計測領域毎に、所定の多項式を微分した式の各項の値を対応付けて記憶する記憶手段と、
前記検出された位置における領域に基づいて、前記計測領域を決定する決定手段と、
前記検出された位置に基づいて、前記計測領域における前記複数の光それぞれの波面の傾きを取得する取得手段と、を有し、
前記決定された計測領域と前記取得された傾きと前記記憶された情報とに基づいて、前記収差が測定されることを特徴とする収差測定装置。 - 前記決定された計測領域における前記所定の多項式を微分した式の各項の値と前記取得された傾きとに基づいて、前記所定の多項式の各項の係数を取得する係数取得手段を有し、
前記所定の多項式と前記取得された係数とに基づいて、前記波面の形状が取得されることにより、前記収差が測定されることを特徴とする請求項1に記載の収差測定装置。 - 前記所定の多項式を微分した式の各項の値は、前記計測領域の大きさ毎に異なることを特徴とする請求項1あるいは2に記載の収差測定装置。
- 前記所定の多項式を微分した式の各項の値は、前記検出手段における前記計測領域の位置毎に異なることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の収差測定装置。
- 前記分割手段が、複数のレンズから成るレンズアレイであり、
前記所定の多項式を微分した式の各項の値は、前記計測領域における前記複数のレンズの個数毎に異なることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の収差測定装置。 - 前記検出手段が、前記レンズアレイそれぞれにより照射された光を受光するCCDセンサーであり、
シャック・ハルトマンセンサーであることを特徴とする請求項5に記載の収差測定装置。 - 前記記憶手段は、前記計測領域毎に前記所定の多項式を微分した式の各項の値を各要素とする2次元行列を記憶し、
前記決定された計測領域と前記取得された傾きと前記記憶された2次元行列とに基づいて、前記収差が測定されることを特徴とする請求項1乃至6のいずれか1項に記載の収差測定装置。 - 測定光を照射した被検査物からの戻り光の収差を測定する収差測定装置の制御方法であって、
前記戻り光を分割した複数の光それぞれが照射した領域の位置を検出する工程と、
前記検出された位置における領域に基づいて、前記計測領域を決定する工程と、
前記検出された位置に基づいて、前記計測領域における前記複数の光それぞれの波面の傾きを取得する工程と、を有し、
前記戻り光が前記分割手段に照射した照射領域に対応する計測領域毎に所定の多項式を微分した式の各項の値を対応付けて記憶された情報と、前記決定された計測領域と、前記取得された傾きとに基づいて、前記収差が測定されることを特徴とする収差測定装置の制御方法。 - 請求項8に記載の収差測定装置の制御方法の各工程をコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。
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