JP2014116499A - リードフレーム及びその製造方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】パッド部とモールド樹脂の密着性を高めて、このリードフレームが使用された半導体装置の信頼性を高めるリードフレーム及びその製造方法を提供する。
【解決手段】搭載する半導体素子11より広い面積のパッド部12を備えた半導体装置に使用するリードフレーム10の製造方法であって、パッド部12の表側で半導体素子11の搭載領域15外に第1の潰し加工によって複数条の溝16、17を形成する工程と、溝16、17の片側又は両側の土手27を、押し金型29によって押して第2の潰し加工を行う工程とを有し、溝16、17内に一側又は両側の側壁20、21が溝16、17の中央側に傾斜し、その幅が表側方向に狭くなる樹脂掛止部24を形成する。
【選択図】図4
【解決手段】搭載する半導体素子11より広い面積のパッド部12を備えた半導体装置に使用するリードフレーム10の製造方法であって、パッド部12の表側で半導体素子11の搭載領域15外に第1の潰し加工によって複数条の溝16、17を形成する工程と、溝16、17の片側又は両側の土手27を、押し金型29によって押して第2の潰し加工を行う工程とを有し、溝16、17内に一側又は両側の側壁20、21が溝16、17の中央側に傾斜し、その幅が表側方向に狭くなる樹脂掛止部24を形成する。
【選択図】図4
Description
半導体素子を搭載するパッド部(素子搭載部)を有するリードフレームにおいて、モールド樹脂との密着性を高めたリードフレーム及びその製造方法に関する。
ICパッケージにおいて、パッケージの信頼性を確保するためには、パッド部とモールド樹脂の密着性が重要である。この密着性が十分でないと、パッケージ内部に剥離が発生する虞れがあり、剥離した部分を起点としてクラックが発生する可能性がある。また、パッド部にワイヤを配線しているパッケージにおいては配線部分に剥離が生じることで、ワイヤが断線する場合がある。
また、ICパッケージの放熱性向上を目的として、パッド部の裏面を露出させたパッケージにおいては、パッド部抜け等の問題がある。
また、ICパッケージの放熱性向上を目的として、パッド部の裏面を露出させたパッケージにおいては、パッド部抜け等の問題がある。
一方、リードフレームとモールド樹脂の接合性を確保するために、パッド部にプレス加工によって開口部に逆テーパーを有するディンプルを設けることが知られている(例えば、特許文献1参照)。
しかしながら、ディンプルを上側に細くなる逆テーパーとしたので、ディンプルの開口部が狭くなり、樹脂を充填する場合に内部に空気が残り、ディンプル内へのモールド樹脂の未充填が発生することがある。これが発生すると更にパッド部とモールド樹脂の密着性が低下するという問題がある。
本発明はかかる事情に鑑みてなされたもので、パッド部とモールド樹脂の密着性を高めて、このリードフレームが使用された半導体装置の信頼性を高めるリードフレーム及びその製造方法を提供することを目的とする。
前記目的に沿う第1の発明に係るリードフレームは、搭載する半導体素子より広い面積のパッド部を備えた半導体装置に使用するリードフレームであって、
前記パッド部の表側で前記半導体素子の搭載領域外に複数条の溝が設けられ、しかも前記溝には表側方向に縮幅する樹脂掛止部が設けられている。
前記パッド部の表側で前記半導体素子の搭載領域外に複数条の溝が設けられ、しかも前記溝には表側方向に縮幅する樹脂掛止部が設けられている。
第1の発明に係るリードフレームにおいて、前記樹脂掛止部は前記各溝の長手方向に連続である場合の他、長手方向に隙間を有して複数設けることも可能である。
第1の発明に係るリードフレームにおいて、前記樹脂掛止部は前記溝の両側の側壁が傾斜して形成されている場合のみでなく、片側の側壁のみが溝中央方向に傾斜して形成されている場合もある。
第1の発明に係るリードフレームにおいて、両側に配置された前記溝は平行であって、隣り合う前記溝によって形成される土手は、前記パッド部の表面位置より下位置にあるのが好ましい。
第1の発明に係るリードフレームにおいて、前記溝の底部の厚みは前記パッド部の厚みの0.5〜0.95倍の範囲であるのが好ましい。
第2の発明に係るリードフレームの製造方法は、搭載する半導体素子より広い面積のパッド部を備えた半導体装置に使用するリードフレームの製造方法であって、
前記パッド部の表側で前記半導体素子の搭載領域外に第1の潰し加工によって複数条の溝を形成する工程と、前記溝の片側又は両側の土手を、押し金型によって押して第2の潰し加工を行う工程とを有し、前記溝内に一側又は両側の側壁が前記溝の中央側に傾斜し、その幅が表側方向に狭くなる樹脂掛止部を形成する。
前記パッド部の表側で前記半導体素子の搭載領域外に第1の潰し加工によって複数条の溝を形成する工程と、前記溝の片側又は両側の土手を、押し金型によって押して第2の潰し加工を行う工程とを有し、前記溝内に一側又は両側の側壁が前記溝の中央側に傾斜し、その幅が表側方向に狭くなる樹脂掛止部を形成する。
第2の発明に係るリードフレームの製造方法において、前記複数条の溝は前記半導体素子の側端に平行に設けられているのが好ましい。
また、以上の発明においては、前記パッド部を裏面を外部に露出させた状態で使用する場合と、前記パッド部の裏面も封止樹脂(モールド樹脂)で覆う場合があり、この場合は、パッド部の裏面にも前記した樹脂掛止部を設けることができる。
また、以上の発明においては、前記パッド部を裏面を外部に露出させた状態で使用する場合と、前記パッド部の裏面も封止樹脂(モールド樹脂)で覆う場合があり、この場合は、パッド部の裏面にも前記した樹脂掛止部を設けることができる。
第1の発明に係るリードフレーム、及び第2の発明に係るリードフレームの製造方法においては、パッド部の表側で半導体素子の搭載領域外に複数条の溝が設けられ、しかもこの溝には表側方向に縮幅する樹脂掛止部が設けられているので、樹脂充填時には充填されるモールド樹脂が溝内に入り込み、硬化すると溝内に形成された樹脂掛止部によってロックされ、モールド樹脂とパッド部との密着性が向上する。
即ち、従来のようにディンプルを上側に細くなる逆テーパー状にした場合は、モールド樹脂によって上側開口部が閉塞されるが、第1、第2の発明では溝内を樹脂が流れて溝内に樹脂が充填されるので、流れ込む樹脂によって開口部が閉塞することがない。これによって、パッケージの信頼性が向上する。
続いて、添付した図面を参照しながら、本発明を具体化した実施の形態(リードフレーム及びその製造方法)について説明する。
図4に示すように、本発明の第1の実施の形態に係るリードフレーム10は、搭載する半導体素子11より広い面積の四角形のパッド部12と、パッド部12の角部に連接されて角部を周囲から支持するサポートリード13と、パッド部12の周囲に設けられた複数のインナーリード14とを有している(なお、基本的な要素については、例えば、特開2010−40595号公報記載のリードフレームと同様)。
図4に示すように、本発明の第1の実施の形態に係るリードフレーム10は、搭載する半導体素子11より広い面積の四角形のパッド部12と、パッド部12の角部に連接されて角部を周囲から支持するサポートリード13と、パッド部12の周囲に設けられた複数のインナーリード14とを有している(なお、基本的な要素については、例えば、特開2010−40595号公報記載のリードフレームと同様)。
パッド部12内であって、その表側で、半導体素子11の搭載領域15の外側には、平面視して四角形の半導体素子11の側端に隙間を有して平行に複数条(この実施の形態では2条)の平行な溝16、17が形成されている。この溝16、17の中央には、図3に示すように、溝16、17の深さdより低い高さを有する土手18が設けられている。即ち、土手18の高さ(パッド部12の底面からの高さ)は、パッド部12の高さより小さい。
溝16、17によって形成された土手18の長さ方向両端部を除く部分の内側壁(片側の側壁)20、21はそれぞれ溝16、17の中央方向に例えば60〜80度の角度で傾斜し、溝16、17の幅が表側方向(即ち、図3で上方向)に徐々に縮幅している。従って、両端部を除く溝16、17の主要部がその底部22、23の方向(即ち、図3において下方向)に徐々に拡幅している。これによって溝16、17内の長手方向に表側方向に縮幅する樹脂掛止部24が形成される。なお、溝部16、17の深さdはパッド部12の厚みtの好ましくは0.05〜0.5倍程度、即ち底部22、23の厚みがパッド部12の厚みtの0.5〜0.95倍程度となっている。
溝16、17の底部22、23の幅はリードフレーム10、即ちパッド部12の厚みtの例えば0.3〜2倍程度とすることが可能であるが、このリードフレーム10においては他の寸法比でも適用可能である。また、このリードフレーム10は必要に応じてパッド部12の裏面(下面)を露出させ、熱放散を良好にすることもできる。
以上の構成となったリードフレーム10の製造方法について、図1〜図4を参照しながら説明する。図1に示すように、製造途中のリードフレーム10を下型の上に配置し、中央のパッド部12の上で、半導体素子11の搭載領域15の外側4方に、少しの隙間を設けて、対となる断面長方形の押し刃25、26で第1の潰し加工を行い(図1、図2参照)2条の溝16、17を形成する。従って、溝16、17の間には長尺の土手27が形成される。
次に、この土手27を断面長方形で底が水平面となった押さえパンチ(押し金型の一例、以下同じ)29で一定長潰して土手18を形成する第2の潰し加工を行う。この場合の押さえパンチ29の幅は、土手27の幅w2より十分大きくなって、更に、溝16、17の外側壁30、31の幅より小さくなっている。これによって、土手27のみを潰して、溝16、17の内側壁20、21を傾斜させ、溝16、17の中央方向に傾けることができる。なお、押さえパンチ29の長さは、溝16、17の幅方向長さより短くなって、溝16、17の両端部に未加工領域を有する。また、第2の潰し加工は、第1の潰し加工より荷重は小さくなって、押さえパンチ29の潰し代は小さくなっている。
これによって、図3、図4に示す形状のリードフレーム10が形成される。このリードフレーム10の上に半導体素子11を搭載し、ワイヤーボンディングを行い、モールド金型に入れてモールド樹脂(単に樹脂とも称する)の充填(即ち、樹脂封止)を行うと、溶けた樹脂がモールド金型の一部(即ち、ゲート)から流入し、溝16、17を覆うが、空気を押し出しながら溝16、17に徐々に侵入する。これによって、溝16、17の殆どが樹脂で埋まり、樹脂が硬化すると長尺の樹脂掛止部24に樹脂が食い込んで、表側方向に縮幅したモールド樹脂と溝部16、17が係合し、リードフレーム10と樹脂との接合性が増す。
続いて、図5、図6を参照しながら、本発明の第2の実施の形態に係るリードフレーム35及びその製造方法について説明する。なお、第1の実施の形態に係るリードフレーム10と同一の構成要素については、同一の番号を付してその詳しい説明を省略する(以降の実施の形態についても同様)。
この実施の形態においては、パッド部12の表側で半導体素子11の搭載領域外に第1の潰し加工で3条(複数条の一例)の溝36〜38が形成され、それぞれの溝36〜38の間にある土手を押さえパンチ41で押圧し(第2の潰し加工)、溝36、38の内側壁43、44を傾斜させ、溝37の両側壁45、46を傾斜させて、溝36〜38の幅が表側方向に縮幅している。これら溝36〜38の底部方向に広くなった領域で、樹脂掛止部48を形成している。
なお、この実施の形態においては、押さえパンチ41の幅は、両側の溝36、38の中心間距離程度で、土手39、40及び溝37を加えた幅より長くなっている。従って、押さえパンチ41で土手39、40を形成した場合、形成された土手39、40が押さえパンチ41の幅内に入っている。
第2の実施の形態に係るリードフレーム35には複数条の溝36〜38と土手39、40によって形成される樹脂掛止部48が設けられているので、樹脂とリードフレーム35の密着性が更に向上し、信頼性の高い半導体装置を提供できる。
第2の実施の形態に係るリードフレーム35には複数条の溝36〜38と土手39、40によって形成される樹脂掛止部48が設けられているので、樹脂とリードフレーム35の密着性が更に向上し、信頼性の高い半導体装置を提供できる。
次に、図7、図8を参照しながら、本発明の第3の実施の形態に係るリードフレーム50及びその製造方法について説明する。
この実施の形態においては、第1の潰し加工によって、2条の溝52、53が形成され、土手(押圧後土手51となる)及び溝52、53の外側壁55、56の上部を押圧する第2の潰し加工によって、溝52、53を上方に縮幅させている。
この実施の形態においては、第1の潰し加工によって、2条の溝52、53が形成され、土手(押圧後土手51となる)及び溝52、53の外側壁55、56の上部を押圧する第2の潰し加工によって、溝52、53を上方に縮幅させている。
この場合の、押さえパンチ54が溝52、53の外側壁55、56を覆う幅k1、k2は、パッド部12の板厚tの例えば0.05倍以上で0.5倍以下であるのが好ましい。この幅が短いと外側壁55、56の傾斜が形成されない。
なお、溝52、53の外側壁55、56の外側にも段57、58が形成されるが、リードフレーム50の機能には影響しない。
なお、溝52、53の外側壁55、56の外側にも段57、58が形成されるが、リードフレーム50の機能には影響しない。
図9には、本発明の第4の実施の形態に係るリードフレーム60を示すが第1の実施の形態に係るリードフレーム10に比較して、溝16、17によって形成される、押さえパンチ61の形状を変えて、土手62の上部が断面円弧状になっている。なお、土手の上部の形状(形状線)は任意であり、単なる平面又は曲面の他、波状などがある。
図10(A)、(B)には本発明の第5の実施の形態に係るリードフレーム65の製造方法を示すが、まず第1の潰し加工で、パッド部12の表面に所定ピッチで設けられた連結溝66によって連結された2条の溝67、68を形成する。次に、連結溝66の両側に形成された土手69、70に対して第2の潰し加工を行い、土手69、70の周囲に傾斜する側壁71、72を形成し、溝67、68及び連結溝66を上方に縮幅させ、樹脂掛止部75を形成する。なお、73、74は拡幅された土手を示す。また、樹脂掛止部75は溝67、68の長手方向に対して隙間を有して複数設けられている。
図11は本発明の第6の実施の形態に係るリードフレーム76及びその製造方法を示すが、第1の潰し加工で溝77、78内の底面に凹凸を形成している。その他は、上記した第1の実施の形態と同様である。
図12(A)、(B)、(C)は、本発明の第7〜第9の実施の形態に係るリードフレーム79、79a、79b及びその製造方法を示すが、図12(A)、(B)においては、第1の潰し加工によってパッド部12に形成される溝80〜83の形状が直線ではなく、曲線又は折れ曲がって形成され、これに合わせて土手も非直線となっている。そして、第2の潰し加工によって形成される土手84、85も直線とは異なる形状に形成され、土手84、85を形成する側壁は傾斜し、溝80〜83が上方に向けて幅狭となって、樹脂掛止部を構成している。
図12(C)は、第2の潰し加工を行う押さえパンチ29の位置が、土手87に対して偏心して形成されたリードフレーム79bを示す。これによって、溝88、89の内側の側壁90、91の傾斜角度が異なり、樹脂掛止部の樹脂拘束力も異なることになるが、ゲートの位置の状況等に応じて側壁90、91の傾斜角度を自由に選択できる。
なお、溝の長手方向の長さ及びパッド部の一辺側に配置する溝の数は適宜設定でき、パッド部全周に渡って連続して溝を配置することも可能である。
なお、溝の長手方向の長さ及びパッド部の一辺側に配置する溝の数は適宜設定でき、パッド部全周に渡って連続して溝を配置することも可能である。
本発明は前記した実施の形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を変更しない範囲でその構成を変更することもできる。また、以上に説明した第1〜第9の実施の形態に係るリードフレーム、及びその製造方法を組み合わせて新たなリードフレーム、及びその製造方法を構成する場合も、本発明は適用される。
10:リードフレーム、11:半導体素子、12:パッド部、13:サポートリード、14:インナーリード、15:搭載領域、16、17:溝、18:土手、20、21:内側壁、22、23:底部、24:樹脂掛止部、25、26:押し刃、27:土手、29:押さえパンチ、30、31:外側壁、35:リードフレーム、36〜38:溝、39、40:土手、41:押さえパンチ、43、44:内側壁、45、46:側壁、48:樹脂掛止部、50:リードフレーム、51:土手、52、53:溝、54:押さえパンチ、55、56:外側壁、57、58:段、60:リードフレーム、61:押さえパンチ、62:土手、65:リードフレーム、66:連結溝、67、68:溝、69、70:土手、71、72:側壁、73、74:土手、75:樹脂掛止部、76:リードフレーム、77、78:溝、79、79a、79b:リードフレーム、80〜83:溝、84、85:土手、87:土手、88、89:溝、90、91:側壁
Claims (8)
- 搭載する半導体素子より広い面積のパッド部を備えた半導体装置に使用するリードフレームであって、
前記パッド部の表側で前記半導体素子の搭載領域外に複数条の溝が設けられ、しかも前記溝には表側方向に縮幅する樹脂掛止部が設けられていることを特徴とするリードフレーム。 - 請求項1記載のリードフレームにおいて、前記樹脂掛止部は前記各溝の長手方向に隙間を有して複数設けられていることを特徴とするリードフレーム。
- 請求項1又は2記載のリードフレームにおいて、前記樹脂掛止部は前記溝の片側の側壁のみが溝中央方向に傾斜して形成されていることを特徴とするリードフレーム。
- 請求項1〜3のいずれか1項に記載のリードフレームにおいて、両側に配置された前記溝は平行であって、隣り合う前記溝によって形成される土手の高さは、前記パッド部の厚みより小さいことを特徴とするリードフレーム。
- 請求項1〜4のいずれか1項に記載のリードフレームにおいて、前記溝の底部の厚みは前記パッド部の厚みの0.5〜0.95倍の範囲であることを特徴とするリードフレーム。
- 搭載する半導体素子より広い面積のパッド部を備えた半導体装置に使用するリードフレームの製造方法であって、
前記パッド部の表側で前記半導体素子の搭載領域外に第1の潰し加工によって複数条の溝を形成する工程と、
前記溝の片側又は両側の土手を、押し金型によって押して第2の潰し加工を行う工程とを有し、
前記溝内に一側又は両側の側壁が前記溝の中央側に傾斜し、その幅が表側方向に狭くなる樹脂掛止部を形成することを特徴とするリードフレームの製造方法。 - 請求項6記載のリードフレームの製造方法において、前記複数条の溝は前記半導体素子の側端に平行に設けられていることを特徴とするリードフレームの製造方法。
- 請求項6又は7記載のリードフレームの製造方法において、前記パッド部を裏面を外部に露出させた状態で使用するリードフレームの製造方法。
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