JP2014095707A - 基板検査方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】周辺光の干渉や隣接部品の相互干渉等の周辺与件の影響を受けず検査誤謬を防止しソルダージョイントが一般的な形状を有しない場合も検査誤謬を防止できる基板検査方法の提供。
【解決手段】基板検査のために、基板上に搭載された部品のソルダージョイントを含む検査領域に第1カラーを有する第1光、第1カラーと異なる第2カラーを有する第2光、第1及び第2カラーと異なる第3カラーを有する第3光を基板に対して其々第1傾斜角、第1傾斜角より小さい第2傾斜角、及び第2傾斜角より小さい第3傾斜角で照射する。続いて検査領域に照射された第1光、第2光及び第3光による検査領域のカラーイメージを獲得する。次にカラーイメージに示されたカラーの分布を用いてソルダージョイントの不良可否を検査する。続いて既測定されたソルダージョイントの高さ情報を用いて検査結果を検証する。これにより検査誤謬を防止することができる。
【選択図】図1

Description

本発明は基板検査方法に関わり、より詳細には基板のソルダージョイントを検査するための基板検査方法に関する。
一般的に、電子装置内には少なくとも一つの印刷回路基板(printed circuit board:PCB)が具備され、このような印刷回路基板上には回路パターン、連結パッド部、前記連結パッド部と電気的に連結された駆動チップなどを含む多様な回路部品が実装される。
前記駆動チップのような回路部品はソルダー(solder)を用いて前記印刷回路基板に装着される。前記回路部品が前記印刷回路基板上で正常的に動作するために前記回路部品は前記印刷回路基板にまともに装着されるべきであって、前記回路部品装着の不良可否を検査する検査装置が活用されている。
前記検査装置は前記回路部品が装着された部分に対する画像を撮影して検査する遂行することが一般的であり、最近には3次元形状に関する情報を用いて検査する検査装置が幅広く活用されている。
一方、前記回路部品が前記印刷回路基板にまともに装着されているかを検査するために、前記回路部品のターミナル(terminal)と前記印刷回路基板とを電気的に連結するソルダージョイントがまともに形成されているかを検査する。
前記ソルダージョイントを検査する方法のうち、互いに異なる照射角度を有する赤色、緑色、青色(RGB)の3段照明を通じてカメラに入射される光の色を活用してソルダージョイントの表面の傾きを予測しこれを用いて良否検査を遂行することができる。
しかし、このような方法を用いる場合、周辺光の干渉や隣接部品の相互干渉などのような周辺与件によって検査誤謬が発生するという問題点が発生し、ソルダージョイントが一般的な形状を有しない場合にも検査誤謬が発生するという問題点が発生する。従って、周辺光の干渉や隣接部品の相互干渉などのような周辺与件の影響を受けずこれによる検査誤謬を防止することができ、ソルダージョイントが一般的な形状を有しない場合にも検査誤謬を防止することのできる基板検査方法の開発が要請される。
従って、本発明が解決しようとする課題は、 周辺光の干渉や隣接部品の相互干渉などのような周辺与件の影響を受けずこれによる検査誤謬を防止することができ、ソルダージョイントが一般的な形状を有しない場合にも検査誤謬を防止することのできる基板検査方法を提供することにある。
本発明の例示的な一実施例による基板を検査するために、まず、板上に搭載された部品のソルダージョイントを含む検査領域に第1カラーを有する第1光、前記第1カラーと異なる第2カラーを有する第2光、及び前記第1及び第2カラーと異なる第3カラーを有する第3光を前記基板に対してそれぞれ第1傾斜角、前記第1傾斜角より小さい第2傾斜角、及び前記第2傾斜角より小さい第3傾斜角に照射する。続いて、前記検査領域に照射された前記第1光、前記第2光及び前記第3光による前記検査領域のカラーイメージを獲得する。次に、前記カラーイメージに示されたカラーの分布を用いて前記ソルダージョイントの不良可否を検査する。続いて、既測定された前記ソルダージョイントの高さ情報を用いて前記検査結果を検証する。
一実施例として、前記カラーイメージに示されたカラーの分布を用いて前記ソルダージョイントの不良可否を検査する段階は、前記検査領域のカラーイメージを形成するピクセルのうち前記第3カラーに対応するピクセルの数を算出する段階と、前記検査領域のカラーイメージを形成する全体ピクセル数に対する前記第3カラーに対応するピクセルの数の比率を算出する段階と、前記比率が既設定された基準比率を超過する場合良(good)と判断し、超過しない場合不良(no good)と判断する段階を含んでいてもよい。
一実施例として、前記カラーイメージに示されたカラーの分布を用いて前記ソルダージョイントの不良可否を検査する段階において前記ソルダージョイントが良と判断された場合のみに、前記既測定された前記ソルダージョイントの高さ情報を用いて前記検査結果を検証する段階が遂行される。
一実施例として、前記カラーイメージに示されたカラーの分布を用いて前記ソルダージョイントの不良可否を検査する段階において前記ソルダージョイントが良と判断された場合、前記既測定された前記ソルダージョイントの高さ情報を用いて前記検査結果を検証する段階で、前記ソルダージョイントの高さが既設定された基準高さより小さい場合不良と判断してよい。
一実施例として、前記カラーイメージに示された分布を用いて前記ソルダージョイントの不良可否を検査する段階において前記ソルダージョイントが不良と判断された場合のみに、前記既測定された前記ソルダージョイントの高さ情報を用いて前記検査結果を検証する段階が遂行される。
一実施例として、前記カラーイメージに示されたカラーの分布を用いて前記ソルダージョイントの不良可否を検査する段階において前記ソルダージョイントが不良と判断された場合、前記既測定された前記ソルダージョイントの高さ情報を用いて前記検査結果を検証する段階で、前記ソルダージョイントの高さが既設定された基準高さより大きい場合良と判断してもよい。
例えば、前記第1光、前記第2光、及び前記第3光はそれぞれ赤色R、青色光G、及び青色光Bであってもよい。
一実施例として、前記基板検査方法は、前記ソルダージョイントの高さ情報を獲得する段階をさらに含み、前記ソルダージョイントの高さ情報を獲得する段階は、前記基板に格子パターン光をN回照射して前記検査領域に対する測定データを獲得する段階(Nは2以上の自然数)と、獲得された前記測定データにバケットアルゴリズムを適用して前記ソルダージョイントの高さ情報を獲得する段階と、を含んでいてもよい。
本発明の例示的な他の実施例による基板を検査するためには、基板上に搭載された部品のソルダージョイントを含む検査領域に互いに異なるカラーを有する複数の光を前記基板に対してそれぞれ互いに異なる傾斜角に照射する。続いて、前記検査領域に照射された前記複数の光による前記検査領域のカラーイメージを獲得する。次に、前記カラーイメージに示されたカラーの分布を用いて前記ソルダージョイントの不良可否を検査する。続いて、既測定された前記ソルダージョイントの高さ情報を用いて前記検査結果を検証する。
一実施例として、前記カラーイメージに示されたカラーの分布を用いて前記ソルダージョイントの不良可否を検査する段階は、前記検査領域のカラーイメージを形成するピクセルのうち、前記複数の光のうち最も小さい傾斜角に照射される光のカラーに対応するピクセル数を算出する段階と、前記検査領域のカラーイメージを形成する全体ピクセル数に対する前記最も小さい傾斜角に照射される光のカラーに対応するピクセル数の比率を算出する段階と、前記比率が既設定された基準比率を超過する場合良(good)と判断し、超過しない場合不良(no good)と判断する段階と、を含んでいてもよい。
一実施例として、前記カラーイメージに示された分布を用いて前記ソルダージョイントの不良可否を検査する段階において前記ソルダージョイントが良と判断された場合、前記既測定された前記ソルダージョイントの高さ情報を用いて前記検査結果を検証する段階で、前記ソルダージョイントが既設定された基準高さより小さい場合不良と判断してもよい。
一実施例として、前記カラーイメージに示されたカラーの分布を用いて前記ソルダージョイントの不良可否を検査する段階において前記ソルダージョイントが不良と判断された場合、前記既測定された前記ソルダージョイントの高さ情報を用いて前記検査結果を検証する段階で、前記ソルダージョイントの高さが既設定された基準高さより大きい場合良と判断してもよい。
本発明によると、RGB3段照明のような複数のカラー光を通じてカメラのようなイメージ獲得部で撮影されるカラーイメージのカラー分布を用いた2次元的な検査結果を3次元高さ情報を用いて検証する。
従って、周辺光の干渉や隣接部品の相互干渉などのような周辺与件による影響を減少させることができ、これにより、検査誤謬を防止することができる。また、ソルダージョイントが一般的な形状を有しない場合にも検査誤謬を防止することができる。
従って、ソルダージョイント不良可否をより正確に判断することができるので、印刷回路基板の不良可否をより正確に判断することができる。
本発明の一実施例による基板検査方法を示す流れ図である。 本発明の一実施例による基板検査方法を説明するための概念図である。 本発明の一実施例による基板検査方法を説明するための概念図である。 図1のソルダージョイントの不良可否を検査する段階においてソルダージョイントが不良であるが良と検査結果が示される一例を示す概念図である。 図1のソルダージョイントの不良可否を検査する段階においてソルダージョイントが良であるが不良と検査結果が示される一例を示す概念図である。
本発明は多様な変更を加えることができ、多様な形態を有することできる。ここでは、特定の実施形態を図面に例示し本文に詳細に説明する。しかし、これは本発明を特定の開示形態に限定するものではなく、本発明の思想及び技術範囲に含まれる全ての変更、均等物乃至代替物を含むこととして理解されるべきである。
第1、第2などの用語は多用な構成要素を説明するのに使用されることがあるが、前記構成要素は前記用語によって限定解釈されない。前記用語は一つの構成要素を他の構成要素から区別する目的のみとして使用される。例えば、本発明の権利範囲を外れることなく第1構成要素を第2構成要素ということができ、類似に第2構成要素も第1構成要素ということができる。
本出願において使用した用語は単なる特定の実施形態を説明するために使用されたもので、本発明を限定しようとする意図ではない。単数の表現は文脈上明白に示さない限り、複数の表現を含む。本出願において、「含む」または「有する」などの用語は明細書に記載された特徴、数字、ステップ、段階、動作、構成要素、部品またはこれらを組み合わせたものが存在することを意味し、一つまたはそれ以上の他の特徴や数字、ステップ、段階、動作、構成要素、部品またはこれらを組み合わせたものの存在または付加可能性を予め排除しないこととして理解されるべきである。
特別に定義しない限り、技術的、科学的用語を含んでここで使用される全ての用語は本発明が属する技術分野で通常の知識を有する者によって一般的に理解されるのと同一の意味を有する。
一般的に使用される辞書に定義されている用語と同じ用語は関連技術の文脈上有する意味と一致する意味を有すると解釈されるべきであり、本出願で明白に定義しない限り、理想的またも過度に形式的な意味に解釈されない。
以下、図面を参照して本発明の好適な一実施形態をより詳細に説明する。
図1は本発明の一実施例による基板検査方法を示す流れ図である。図2及び図3は本発明の一実施例による基板検査方法を説明するための概念図である。図2はソルダージョイントが良である場合を示し、図3はソルダージョイントが不良である場合を示す。
図1乃至図3を参照すると、本発明の例示的な一実施例により基板を検査するために、まず、基板10上の検査領域に複数の光を照射する(S110)。
具体的には、前記基板10上に搭載された部20のソルダージョイント30aを含む検査領域に互いに異なるカラーを有する複数の光を前記基板10に対してそれぞれ互いに異なる傾斜角に照射する。
前記検査領域は検査対象物を含む所定の領域として、使用者によって設定されるか検査装置によって自動的に設定できる使用者の関心領域(regin of interest:ROI)であってもよい。前記部品20のソルダージョイント30aは前記部品20がソルダー用いて前記印刷回路基板に装着される時、前記部品20のターミナル22とソルダーとが接合されることによって形成されるソルダーの接合部分をいう。
一実施例として、前記複数の光は光提供部10によって提供され、第1光提供部112、第2光提供部114及び第3光提供部116から提供される第1光、第2光及び第3光を含んでいてもよい。前記第1光、前記第2光及び前記第3光はそれぞれ第1カラー、前記第1カラーと異なる第2カラー及び、前記第1カラー及び第2カラーと異なる第3カラーを有する。例えば、前記第1カラー、前記第2カラー及び前記第3カラーはそれぞれ赤色、緑色、青色であり、図2及び図3において前記第1光、前記第2光及び前記第3光はそれぞれ赤色光R、緑色光G及び青色光Bであってもよい。
また、一実施例として、図2及び図3に示されたように、前記第1光R、前記第2光及び前記第3光Bは前記基板に対してそれぞれ第1傾斜角、前記第1傾斜角より小さい第2傾斜角及び前記第2傾斜角より小さい第3傾斜角に照射される。
続いて、前記検査領域に照射された前記複数の光による前記検査領域のカラーイメージを獲得する(S120)。
具体的には、前記検査領域に照射された前記第1光R、前記第2光G及び前記第3光Bによる前記検査領域のカラーイメージを獲得する。即ち、前述されたように、互いに異なるカラーと互いに異なる照射角度を有する前記第1光R、前記第2光G、及び前記第3光Bが前記ソルダージョイント30aに向かって照射され、これによる反射光が一例としてカメラのようなイメージ獲得部120に入射されることで、前記検査領域のカラーイメージを獲得することができる。
次に、前記カラーイメージに示されたカラーの分布を用いて前記ソルダージョイントの不良可否を検査する(S130)。
即ち、前記のように獲得されたカラーイメージに示されるカラーの分布を用いるとソルダージョイントの表面の傾き及び/または形状を予測することができ、これによりソルダージョイントの不良可否を検査することができる。
一般的に、ソルダージョイントが良好に形成された場合は、図2に示されたように、ソルダージョイント30aの表面の傾きが前記ターミナル22に近接するほど増加しソルダージョイント30aの表面は凹んで形成される。反面、ソルダージョイントが不良に形成された場合は、図3に示されたように、ソルダージョイント30bの表面の傾きが前記ターミナル22に近接するほど減少しソルダージョイント30bの表面は膨らんで形成される。
従って、図2のようにソルダージョイント30aが良好に形成された場合、前記カラーイメージに示されるカラーの分布は前記第3光Bの比率が高く示され、図3のようにソルダージョイント30bが不良と形成された場合、前記カラーイメージに示されるカラーの分布は前記第3光Bの比率が低く示される。
これにより、前記カラーイメージに示されるカラーの分布に第3光Bの比率が高く示される場合、ソルダージョイントの表面の傾きは図2に示されたように前記ターミナル22に近接するほど増加しソルダージョイントの表面は凹んで形成されると予測でき、これにより、前記ソルダージョイント30aは良と判断できる。反面、前記カラーイメージに示されるカラーの分布に第1光Rの比率が高く示される場合、ソルダージョイントの表面の傾きは図3に示されたように前記ターミナル22に近接するほど減少しソルダージョイントの表面は膨らんで形成されると予測され、これにより前記ソルダージョイント30aは不良と判断できる。
一例として、前記カラーイメージに示されたカラーの分布を用いて前記ソルダージョイントの不良可否を検査する際、各カラーのピクセル数を用いてもよい。
具体的には、前記検査領域のカラーイメージを形成するピクセルのうち、前記複数の光のうち最も小さい傾斜角に照射される光のカラーに対応するピクセル数を算出し、続いて、前記検査領域のカラーイメージを形成する全体ピクセル数に対する前記最も小さい傾斜角に照射される光のカラーに対応するピクセル数の比率を算出し、次に、前記比率が既設定された基準比率を超過する場合良と判断し、超過しない場合不良と判断できる。
例えば、前記検査領域のカラーイメージを形成するピクセルのうち前記第3カラーに対応するピクセル数を算出し、前記検査領域のカラーイメージを形成する全体ピクセル数に対する前記第3カラーに対応するピクセル数の比率を算出した後、前記比率が既設定された基準非率を超過する場合良と判断し、超過しない場合不良と判断できる。
続いて、既測定された前記ソルダージョイントの高さ情報を用いて前記検査結果を検証する(S140)。
前述したように、ソルダージョイントの不良可否を判断する場合、周辺光の干渉や隣接部品の相互干渉などのような周辺与件によって正確な判断が行われない場合が発生し、ソルダージョイントが一般的な形状を有しない場合にも正確な判断が行われない場合が発生し得る。従って、前記検査結果を検証する必要がある。
図4は図1のソルダージョイントの不良可否を検査する段階においてソルダージョイントが不良であるが良と検査結果が示される一例を示す概念図である。
図4を参照すると、ソルダージョイントが図3に示されたように同一に不良である場合にも、周辺光の干渉や隣接部品の相互干渉などのような周辺与件によって外部から青色光が前記イメージ獲得部120に入射されるので、前記イメージ獲得部120から獲得されたカラーイメージの青色ピクセル数は前記ソルダージョイント30bによる結果として見られない(青色ピクセル汚染)。従って、前記検査結果は不良と判断されるべきであるにも関わらず良と判断され得る。
このような誤謬の発生を防止するために、既測定された前記ソルダージョイントの高さ情報を用いて前記検査結果を検証する。この場合、前記ソルダージョイントの高さ情報は3次元形状測定装置のような検査装備を用いて予め獲得された情報を用いてもよい。
一例として、前記3次元形状測定装置を用いてソルダージョイントの対象情報を獲得することができる。即ち、まず、前記基板10に格子パターン光をN回照射して前記検査領域に対する測定データを獲得し(Nは2以上の自然数)、続いて、獲得された前記測定データにバケットアルゴリズムを適用して前記ソルダージョイントの高さ情報を獲得することができる。
前記3次元形状測定装置は複数の部品が搭載された基板10に関する多様な不良可否を判断するために高さ情報を含む3次元形状に関する情報を獲得するので、この際、獲得された前記ソルダージョイントの高さ情報を用いると前記検査結果に対して容易に検証することができる。
一例として、前記ソルダージョイント30bが良と判断された場合、前記既測定された前記ソルダージョイント30bの高さ情報を用いて前記ソルダージョイント30bの高さが既設定された基準高さより小さい場合不良と判断してよい。
従って、前記のように前記検査結果を検証する段階(S140)を遂行することで、周辺光の干渉や隣接部品の相互干渉などのような周辺与件によって正確な判断が行われない場合が発生する場合にも、検査誤謬を防止することができる。
図5は図1のソルダージョイントの不良可否を検査する段階においてソルダージョイントが良であるが不良と検査結果が示される一例を示す概念図である。
図5を参照すると、ソルダーが十分に塗布されてソルダージョイント30cが良である場合にも、前記ソルダージョイント30cの形状が一般的な場合と異なって緩慢な傾斜角を有するので、前記イメージ獲得120から獲得されたカラーイメージの青色ピクセル数は図2に示された場合に比べて少なく示される。従って、前記検査結果は良と判断されるべきであるにも関わらず不良と判断され得る。
このような誤謬の発生を防止するために、既測定された前記ソルダージョイントの高さ情報を用いて前記検査結果を検証する。この場合、前記ソルダージョイントの高さ情報は3次元形状測定装置のような検査装備を用いて予め獲得された情報を用いてもよい。
一実施例として、前記3次元形状測定装置を用いてソルダージョイントの高さ情報を獲得することができる。即ち、まず、前記基板10に格子パターン光をN回照射して前記検査領域に対する測定データを獲得し(Nは2以上の自然数)、続いて、獲得された前記測定データにバケットアルゴリズムを適用して前記ソルダージョイントの高さ情報を獲得することができる。
前記3次元形状測定装置は複数の部品が搭載された前記基板10に関する多様な不良可否を判断するために高さ情報を含む3次元形状に関する情報を獲得するので、この際、獲得された前記ソルダージョイントの高さ情報を用いると前記検査結果に対して容易に検証することができる。
一実施例として、前記ソルダージョイント30cが不良と判断された場合、前記既測定された前記ソルダージョイント30cの高さ情報を用いて前記ソルダージョイント30cの高さが既設定された基準高さより大きい場合良と判断してよい。
従って、前記のように検査結果を検証する段階(S140)を遂行することで、ソルダージョイントが一般的な形状を有しない場合にも、検査誤謬を防止することができる。
一方、前記検査結果を検証する段階(S140)は良と判断された場合及び不良と判断された場合のうちいずれか一つの場合に対してのみ選択的に遂行することができる。
一般的に、同一の種類の印刷回路基板の複数が検査対象である場合、同一の種類の印刷回路基板の同一の部品に形成されるソルダージョイントは同一の周辺与件を有するようになる。従って、標本抽出された印刷回路基板に図4において説明された検査誤謬が多く示される場合、ソルダージョイントの検査結果が良と判断された場合のみに前記検査結果を検証する段階(S140)が遂行される。
また、同一の種類の印刷回路基板の複数の検査対象である場合、同一の鉛塗布装置及び同一のリフロー装置を使用するので、図4において説明された検査誤謬はよく示されないが図5において説明された検査誤謬が多く示される。従って、標本抽出された印刷回路基板に図5において説明された検査誤謬が多く示される場合、ソルダージョイントの検査結果が不調と判断された場合にのみ前記検査結果を検証する段階(S140)が遂行される。
結果的に、同一の種類の印刷回路基板の複数の検査対象である場合、標本抽出された印刷回路基板に図4において説明された検査誤謬と図5において説明された検査誤謬が示される頻度数をテェックして、いずれか一つの場合のみ示されるかいずれか一つの場合がずっと多く示される場合には、前記検査結果を検証する段階(S140)が選択的に遂行される。
前記のような本発明によると、RGB3段照明のような複数のカラー光を通じてカメラのようなイメージ獲得から撮影されるカラーイメージのカラー分布を用いた2次元的検査結果を、3次元高さ情報を用いて検証する。
従って、周辺光の干渉や隣接部品の相互干渉などのような周辺与件による影響を減少させることができ、これにより検査誤謬を防止することができる。また、ソルダージョイントが一般的な形状を有しない場合にも検査誤謬を防止することができる。
従って、ソルダージョイントの不良可否をより正確に判断することができるので、印刷回路基板の不良可否をより正確に判断することができる。
以上、本発明の実施例によって詳細に説明したが、本発明はこれに限定されず、本発明が属する技術分野において通常の知識を有する者であれば、本発明の思想と精神を離れることなく、本発明を修正または変更できる。
10:基板
20:部品
22:ターミナル
30a、30b、30c:ソルダージョイント
110:光提供部
120:イメージ獲得部

Claims (5)

  1. 基板上に搭載された部品のソルダージョイントを含む検査領域に第1カラーを有する第1光、前記第1カラーと異なる第2カラーを有する第2光、及び前記第1及び第2カラーと異なる第3カラーを有する第3光を、前記基板に対してそれぞれ第1傾斜角、前記第1傾斜角より小さい第2傾斜角、及び前記第2傾斜角より小さい第3傾斜角で照射する段階と、
    前記検査領域に照射された前記第1光、前記第2光及び前記第3光による前記検査領域のカラーイメージを獲得する段階と、
    前記カラーイメージに示されたカラーの分布を用いて前記ソルダージョイントの不良可否を検査する段階と、
    既測定された前記ソルダージョイントの高さ情報を用いて前記検査結果を検証する段階と、
    を含むことを特徴とする基板検査方法。
  2. 前記カラーイメージに示されたカラーの分布を用いて前記ソルダージョイントの不良可否を検査する段階は、
    前記検査領域のカラーイメージを形成するピクセルのうち前記第3カラーに対応するピクセルの数を算出する段階と、
    前記検査領域のカラーイメージを形成する全体ピクセル数に対する前記第3カラーに対応するピクセルの数の比率を算出する段階と、
    前記比率が既設定された基準比率を超過する場合に良と判断し、超過しない場合に不良と判断する段階と、を含むことを特徴とする請求項1に記載の基板検査方法。
  3. 前記カラーイメージに示されたカラーの分布を用いて前記ソルダージョイントの不良可否を検査する段階において前記ソルダージョイントが良と判断された場合、
    前記既測定された前記ソルダージョイントの高さ情報を用いて前記検査結果を検証する段階で、前記ソルダージョイントの高さが既設定された基準高さより小さい場合不良と判断することを特徴とする請求項1に記載の基板検査方法。
  4. 前記カラーイメージに示されたカラーの分布を用いて前記ソルダージョイントの不良可否を検査する段階において前記ソルダージョイントが不良と判断された場合、
    前記既測定された前記ソルダージョイントの高さ情報を用いて前記検査結果を検証する段階で、前記ソルダージョイントの高さが既設定された基準高さより大きい場合良と判断することを特徴とする請求項1に記載の基板検査方法。
  5. 基板上に搭載された部品のソルダージョイントを含む検査領域に互いに異なるカラーを有する複数の光を前記基板に対してそれぞれ互いに異なる傾斜角に照射する段階と、
    前記検査領域に照射された前記複数の光による前記検査領域のカラーイメージを獲得する段階と、
    前記カラーイメージに示されたカラーの分布を用いて前記ソルダージョイントの不良可否を検査する段階と、
    既測定された前記ソルダージョイントの高さ情報を用いて前記検査結果を検証する段階と、
    を含むことを特徴とする基板検査方法。
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Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20140198185A1 (en) * 2013-01-17 2014-07-17 Cyberoptics Corporation Multi-camera sensor for three-dimensional imaging of a circuit board
US10126252B2 (en) 2013-04-29 2018-11-13 Cyberoptics Corporation Enhanced illumination control for three-dimensional imaging
DE102013211090A1 (de) * 2013-06-14 2014-12-18 Robert Bosch Gmbh Erfassungssystem zum Erfassen einer Lötverbindung
JP6451142B2 (ja) * 2014-08-20 2019-01-16 オムロン株式会社 品質管理装置および品質管理装置の制御方法
CN107003255B (zh) * 2014-12-08 2020-06-30 株式会社高迎科技 在基板上形成的部件的端子检查方法及基板检查装置
KR101794964B1 (ko) 2015-07-17 2017-11-07 주식회사 고영테크놀러지 검사 시스템 및 검사 방법
DE102015217182A1 (de) * 2015-09-09 2017-03-09 Robert Bosch Gmbh Anlage und Verfahren zur Lötstellenüberprüfung
KR101702507B1 (ko) * 2015-09-30 2017-02-22 울산과학기술원 디지털 신호를 이용한 전자제품 손상 탐지 장치 및 이를 이용한 전자제품 손상 탐지 방법
WO2018132981A1 (zh) * 2017-01-18 2018-07-26 深圳市汇顶科技股份有限公司 一种用于矩阵排列芯片的不良品标记识别装置
JP2019074476A (ja) * 2017-10-18 2019-05-16 株式会社キーエンス 形状測定装置
CN109840984B (zh) * 2017-11-28 2020-12-25 南京造币有限公司 一种硬币表面质量检查系统、方法和装置
DE102018126466A1 (de) * 2018-10-24 2020-04-30 Bayerische Motoren Werke Aktiengesellschaft Verfahren zur Prüfung einer Fügeverbindung
JP7061690B2 (ja) * 2018-11-21 2022-04-28 株式会社Fuji 部品実装装置
US11953312B2 (en) * 2019-02-01 2024-04-09 Mit Semiconductor (Tian Jin) Co., Ltd System and method of object inspection using multispectral 3D laser scanning
CN112857234A (zh) * 2019-11-12 2021-05-28 峻鼎科技股份有限公司 结合物体二维和高度信息的测量方法及其装置
CN113438891A (zh) * 2021-07-02 2021-09-24 南通海舟电子科技有限公司 一种电路板自动化组装工艺

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04203916A (ja) * 1990-11-29 1992-07-24 Matsushita Electric Ind Co Ltd 外観検査方法
JP2000065758A (ja) * 1998-07-01 2000-03-03 Samsung Electronics Co Ltd 印刷回路基板のクリ―ムソルダ検査装置及び検査方法
JP2003232624A (ja) * 2002-02-12 2003-08-22 Olympus Optical Co Ltd 欠陥検査装置
JP2004226319A (ja) * 2003-01-24 2004-08-12 Saki Corp:Kk 外観検査装置および画像取得方法
JP2006140279A (ja) * 2004-11-11 2006-06-01 Omron Corp はんだ検査方法およびその方法を用いた基板検査装置
JP2006194607A (ja) * 2005-01-11 2006-07-27 Omron Corp 基板検査装置並びにそのパラメータ設定方法およびパラメータ設定装置
JP2006220437A (ja) * 2005-02-08 2006-08-24 Omron Corp 基板検査装置並びにそのパラメータ設定方法およびパラメータ設定装置
JP2007024510A (ja) * 2005-07-12 2007-02-01 Ckd Corp 基板の検査装置
JP2008309580A (ja) * 2007-06-13 2008-12-25 Omron Corp はんだフィレットの検査方法および基板外観検査装置
JP2010122016A (ja) * 2008-11-18 2010-06-03 Yamaha Motor Co Ltd 部品実装状態検査装置および部品実装状態検査方法

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5712701A (en) * 1995-03-06 1998-01-27 Ade Optical Systems Corporation Surface inspection system and method of inspecting surface of workpiece
JP2001255281A (ja) * 2000-01-17 2001-09-21 Agilent Technol Inc 検査装置
EP1314974B1 (en) * 2001-11-26 2005-02-02 Omron Corporation Method of inspecting curved surface and device for inspecting printed circuit board
US7062080B2 (en) * 2001-11-26 2006-06-13 Omron Corporation Method of inspecting curved surface and device for inspecting printed circuit board
JP3551188B2 (ja) * 2002-01-10 2004-08-04 オムロン株式会社 表面状態検査方法および基板検査装置
KR101133972B1 (ko) * 2009-07-03 2012-04-05 주식회사 고영테크놀러지 터미널 검사방법
TWI432699B (zh) * 2009-07-03 2014-04-01 Koh Young Tech Inc 用於檢查測量物件之方法
US8334985B2 (en) * 2010-10-08 2012-12-18 Omron Corporation Shape measuring apparatus and shape measuring method

Patent Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04203916A (ja) * 1990-11-29 1992-07-24 Matsushita Electric Ind Co Ltd 外観検査方法
JP2000065758A (ja) * 1998-07-01 2000-03-03 Samsung Electronics Co Ltd 印刷回路基板のクリ―ムソルダ検査装置及び検査方法
JP2003232624A (ja) * 2002-02-12 2003-08-22 Olympus Optical Co Ltd 欠陥検査装置
JP2004226319A (ja) * 2003-01-24 2004-08-12 Saki Corp:Kk 外観検査装置および画像取得方法
US20040218040A1 (en) * 2003-01-24 2004-11-04 Yoshihiro Akiyama Appearance inspection apparatus and method of image capturing using the same
JP2006140279A (ja) * 2004-11-11 2006-06-01 Omron Corp はんだ検査方法およびその方法を用いた基板検査装置
JP2006194607A (ja) * 2005-01-11 2006-07-27 Omron Corp 基板検査装置並びにそのパラメータ設定方法およびパラメータ設定装置
JP2006220437A (ja) * 2005-02-08 2006-08-24 Omron Corp 基板検査装置並びにそのパラメータ設定方法およびパラメータ設定装置
JP2007024510A (ja) * 2005-07-12 2007-02-01 Ckd Corp 基板の検査装置
JP2008309580A (ja) * 2007-06-13 2008-12-25 Omron Corp はんだフィレットの検査方法および基板外観検査装置
JP2010122016A (ja) * 2008-11-18 2010-06-03 Yamaha Motor Co Ltd 部品実装状態検査装置および部品実装状態検査方法

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