JP2014087162A - 半導体集積回路装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】モーターの種類によって印可する電圧の最適なスルーレートは異なる。
【解決手段】半導体集積回路装置は、モーターを駆動するための出力段を有しており、モーターを駆動するための出力段からの第一出力信号の立ち上がりまたは立ち下がりのスルーレートが可変となっている。これにより半導体集積回路装置は、モーターの特性に合わせてスルーレートを変更することができ、モーターの種類に応じた最適なモーター駆動が可能となる。
【選択図】図3
【解決手段】半導体集積回路装置は、モーターを駆動するための出力段を有しており、モーターを駆動するための出力段からの第一出力信号の立ち上がりまたは立ち下がりのスルーレートが可変となっている。これにより半導体集積回路装置は、モーターの特性に合わせてスルーレートを変更することができ、モーターの種類に応じた最適なモーター駆動が可能となる。
【選択図】図3
Description
本明細書は、半導体集積回路装置に関し、特にモーターにて用いられる半導体集積回路装置に関する。
モーターにて用いられる半導体集積回路装置において、Hブリッジの出力段からの出力信号の立ち上がりや立ち下がりのスルーレートは固定となっている。
Hブリッジの出力段からの出力信号の立ち上がりや立ち下がりが固定である場合、モーターの種類に応じて最適なスルーレートを用いることができず、適切な駆動ができなくなる。駆動されるモーターがVCMモーター(ボイスコイルモーター)等のコイルの誘起電力にて駆動するモーターの場合は、スルーレートが大きいとオーバーシュートが発生してのノイズが発生することとなる。駆動されるモーターがピエゾ素子であるピエゾモーターの場合は、インピーダンスとして容量成分が大きく電圧変動時に充放電電流が発生することで駆動されるために、立ち上がりや立ち下がりが早い方が好ましい。
その他の課題と新規な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかになるであろう。
その他の課題と新規な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかになるであろう。
一実施の形態による半導体集積回路装置は、モーターを駆動するための出力段からの第一出力信号の立ち上がりまたは立ち下がりのスルーレートが可変となっている。
上記一実施の形態によれば、モーターの特性に合わせてスルーレートを変更することができ、最適なモーター駆動が可能となる。
以下、図面を参照しながら、実施の形態について詳細に説明する。
以下の実施の形態においては便宜上その必要があるときは、複数のセクションまたは実施の形態に分割して説明するが、特に明示した場合を除き、それらはお互いに無関係なものではなく、一方は他方の一部または全部の変形例、応用例、詳細説明、補足説明等の関係にある。また、以下の実施の形態において、要素の数等(個数、数値、量、範囲等を含む)に言及する場合、特に明示した場合および原理的に明らかに特定の数に限定される場合等を除き、その特定の数に限定されるものではなく、特定の数以上でも以下でもよい。
以下の実施の形態においては便宜上その必要があるときは、複数のセクションまたは実施の形態に分割して説明するが、特に明示した場合を除き、それらはお互いに無関係なものではなく、一方は他方の一部または全部の変形例、応用例、詳細説明、補足説明等の関係にある。また、以下の実施の形態において、要素の数等(個数、数値、量、範囲等を含む)に言及する場合、特に明示した場合および原理的に明らかに特定の数に限定される場合等を除き、その特定の数に限定されるものではなく、特定の数以上でも以下でもよい。
さらに、以下の実施の形態において、その構成要素(動作、タイミングチャート、要素ステップ、動作ステップ等も含む)は、特に明示した場合および原理的に明らかに必須であると考えられる場合等を除き、必ずしも必須のものではない。同様に、以下の実施の形態において、構成要素等の形状、位置関係等に言及するときは、特に明示した場合および原理的に明らかにそうでないと考えられる場合等を除き、実質的にその形状等に近似または類似するもの等を含むものとする。このことは、上記数等(個数、数値、量、範囲等を含む)についても同様である。
なお、実施の形態を説明するための全図において、同一の機能を有する部位や部材には同一または関連する符号を付し、その繰り返しの説明は省略する。また、以下の実施の形態では、特に必要なとき以外は同一または同様な部分の説明を原則として繰り返さない。
また、実施の形態で用いる図面においては、断面図であっても図面を見易くするためにハッチングを省略する場合もある。また、平面図であっても図面を見易くするためにハッチングを付す場合もある。
(実施の形態1.)
図1は実施の形態1の半導体集積回路装置の全体図である。
図1は実施の形態1の半導体集積回路装置の全体図である。
半導体集積回路装置ICは、中央演算装置CPUと、ランダムアクセスメモリRAMと不揮発性メモリFLASHと、AD変換回路ADCと、入出力回路I/Oと、発振回路OSCと、バスBUSと、モータードライバMTDとを有する。
中央演算装置CPUはプログラムに従って半導体集積回路装置IC全体を制御する。ランダムアクセスメモリRAMは中央演算装置CPUのワークエリアとして用いられ、各種データや命令等を記憶する記憶領域である。不揮発性メモリFLASHは格納されたデータが書き換え可能となっており、中央演算装置CPUにて用いられる各種プログラムが記憶されている。入出力回路I/Oは各種ポートの入出力制御を行う回路である。AD変換回路ADCはアナログ信号をデジタル信号に変換する回路である。モータードライバMTDは各種モーターを駆動するための回路である。バスBUSは中央演算装置CPU、ランダムアクセスメモリRAM、不揮発性メモリFLASH、入出力回路I/O、モータードライバMTD、及び発振回路OSCとの間にて各種データ、コマンド、及びアドレスを互いにやり取りするための複数の信号線である。発振回路OSCは外部のクロック信号に基づいて、中央演算装置CPU、ランダムアクセスメモリRAM、不揮発性メモリFLASH、入出力回路I/O、モータードライバMTD、および発振回路OSCにて用いられる各種クロック信号を生成する。
図2は実施の形態1のモータードライバの構成図である。
モータードライバMTDは、点線にて示されているドライバDRと、PWM波生成回路PWM−GCと、スルーレート設定レジスタSRS−REGとを有する。
PWM波生成回路PWM−GCは中央演算装置CPUからの指令値IVと発振回路OSCからの周期CTのクロックCLKに基づいて、PWM(パルス幅変調)波PWM−WとPWM波PWM−Wと反転関係になっているPWM波PWM−RMとを生成する。ドライバDRはPMOSトランジスタ(Pチャネル型MOS電界効果トランジスタ)PMOS1と、NMOSトランジスタ(Nチャネル型MOS電界効果トランジスタ)NMOS1と、PMOSトランジスタPMOS2と、NMOSトランジスタNMOS2と、プリドライバPreDRV1と、プリドライバPreDRV2と、プリドライバPreDRV3と、プリドライバPreDRV4とを有する。PMOSトランジスタPMOS1と、NMOSトランジスタNMOS1と、PMOSトランジスタPMOS2と、NMOSトランジスタNMOS2とで出力段としてのHブリッジを構成する。PMOSトランジスタPMOS1のソースには電源電圧VMが供給され、PMOSトランジスタPMOS1のドレインはNMOSトランジスタNMOS1のドレインと接続され、NMOSトランジスタNMOS1のソースには電源電圧VMよりも低い接地電圧GNDが供給され、PMOSトランジスタPMOS1のゲートにはプリドライバPreDRV3が接続され、NMOSトランジスタNMOS1のゲートにはプリドライバPreDRV4が接続される。プリドライバPreDRV3およびプリドライバPreDRV4にはPWM波PWM−RWが供給され、このPWM波PWM−RWに基づいた出力がプリドライバPreDRV4からNMOSトランジスタNMOS1に出力され、プリドライバPreDRV3からPMOSトランジスタPMOS1に出力される。PMOSトランジスタPMOS2のソースには電源電圧VMが供給され、PMOSトランジスタPMOS2のドレインはNMOSトランジスタNMOS2ドレインと接続され、NMOSトランジスタNMOS2のソースには電源電圧VMよりも低い接地電圧GNDが供給され、PMOSトランジスタPMOS2ゲートにはプリドライバPreDRV1が接続され、およびNMOSトランジスタNMOS2のゲートにはプリドライバPreDRV2が接続される。プリドライバPreDRV1およびプリドライバPreDRV2にはPWM波PWM−Wが供給され、このPWM波PWM−Wに基づいた出力がプリドライバPreDRV2からNMOSトランジスタNMOS2に出力され、プリドライバPreDRV1からPMOSトランジスタPMOS2に出力される。よってPMOSトランジスタPMOS1およびNMOSトランジスタNMOS1はPWM波PWM−RWによって駆動され、PMOSトランジスタPMOS2およびNMOSトランジスタNMOS2はPWM波PWM−Wによって駆動される。スルーレート設定レジスタSES−REGはプリドライバPreDRV1〜4から出力信号の立ち上がりまたは立ち下がりのスルーレートを設定するレジスタであり、中央演算装置CPUや入出力回路IOを介して半導体集積回路装置ICの外部から設定値が格納可能となっている。
PMOSトランジスタPMOS1のドレインと端子MTT2が接続され、PMOSトランジスタPMOS2のドレインと端子MTT1が接続されるようにモーターMTが設けられる。このモーターMTはVCMモーターであることもあり、ピエゾモーターであることもある。PWM波PWM−WやPWM波PWM−RWの周期はPWM周期PWM−Tであり、PWM周期PWM−Tは発振回路OSCからのクロックCLKの周期CTの自然数倍となっている。PWM波PWM−Wの立ち上がりエッジとPWM波PWM−RWの立ち下がりエッジは同期しており、PWM波PWM−Wの立ち下がりエッジとPWM波PWM−RWの立ち上がりエッジは同期している。
図3はプリドライバの構成を示した図である。
一点鎖線にて示されているプリドライバPreDRV1は遅延回路DLと、点線にて示されている可変スルーレートドライバVSR−PDとを有する。遅延回路DLはPWM波PWM−Wの立ち上がりを遅延させる回路である。可変スルーレートドライバVSR−PDは遅延回路DLからの出力信号を反転させる。遅延回路DLからの出力信号がハイレベルからローレベルになるときは可変スルーレートドライバVSR−PDからの出力信号は急峻でかつ一定のスルーレートでローレベルからハイレベルになる。遅延回路DLからの出力信号がローレベルからハイレベルになるときは可変スルーレートドライバVSR−PDからの出力信号は中央演算装置CPUや半導体集積回路装置ICの外部からの設定に従った様々な長さのスルーレートでローレベルからハイレベルになる。ここでスルーレートとは信号がハイレベルからローレベルに変化する期間であり、ローレベルからハイレベルに変化する期間である。
一点鎖線にて示されているプリドライバPreDRV2は遅延回路DL1−Sと点線にて示されている可変スルーレートドライバVSR−NDを有する。遅延回路DL1−SはPWM波PWM−Wの立下りを遅延させる回路で、遅延時間は遅延回路DLの遅延時間よりも短い。可変スルーレートドライバVSR−NDはPWM波PWM−Wを反転させる。PWM波PWM−Wがローレベルからハイレベルになるときは可変スルーレートドライバVSR−NDからの出力信号は急峻でかつ一定のスルーレートでハイレベルからローレベルになる。PWM波PWM−Wがハイレベルからローレベルになるときは可変スルーレートドライバVSR−NDからの出力信号は中央演算装置CPUや半導体集積回路装置ICの外部からの設定に従った様々な長さのスルーレートでローレベルからハイレベルになる。
一点鎖線にて示されているプリドライバPreDRV3はプリドライバPreDRV1と同じ構成要素である遅延回路DLと、可変スルーレートドライバVSR−PDとを有する。遅延回路DLはPWM波PWM−RWの立ち上がりを遅延させる。可変スルーレートドライバVSR−PDは遅延回路DLからの出力信号を反転させる。遅延回路DLからの出力信号がハイレベルからローレベルになるときは可変スルーレートドライバVSR−PDからの出力信号は急峻でかつ一定のスルーレートでローレベルからハイレベルになる。遅延回路DLからの出力信号がローレベルからハイレベルになるときは可変スルーレートドライバVSR−PDからの出力信号は中央演算装置CPUや半導体集積回路装置ICの外部からの設定に従った様々な長さのスルーレートでローレベルからハイレベルになる。
一点鎖線にて示されるプリドライバPreDRV4は遅延回路DL1−Sと可変スルーレートドライバVSR−NDを有する。遅延回路DL1−SはPWM波PWM−RWの立下りを遅延させる回路で、遅延時間は遅延回路DLの遅延時間よりも短い。可変スルーレートドライバVSR−NDはPWM波PWM−RWを反転させる。PWM波PWM−RWがローレベルからハイレベルになるときは可変スルーレートドライバVSR−NDからの出力信号は急峻でかつ一定のスルーレートでハイレベルからローレベルになる。PWM波PWM−RWがハイレベルからローレベルになるときは可変スルーレートドライバVSR−NDからの出力信号は中央演算装置CPUや半導体集積回路装置ICの外部からの設定に従った様々な長さのスルーレートでローレベルからハイレベルになる。
可変スルーレートドライバVSR−PDはプリドライバ内ドライバPD1と、プリドライバ内ドライバPD2と、プリドライバ内ドライバPD3と、スイッチSp1と、スイッチSp2と、スイッチSp3とを有する。
プリドライバ内ドライバPD1はPMOSトランジスタP1と、抵抗Rp1と、NMOSトランジスタN1とを有する。PMOSトランジスタP1のソースには電源電圧VMが供給され、PMOSトランジスタP1のドレインは抵抗Rp1の一方の端子と接続され、抵抗Rp1の他方の端子がNMOSトランジスタN1のドレインと接続され、NMOSトランジスタN1のソースには接地電圧GNDが供給される。PMOSトランジスタP1のドレインにはスイッチSp1の一方の端子が接続され、スイッチSp1の他方の端子はPMOSトランジスタPMOS2のゲートに接続される。
スイッチSp1がオンしていたとした場合、遅延回路DLからの出力信号がハイレベルからローレベルになるときはPMOSトランジスタP1がオンし、NMOSトランジスタN1がオフすることとなる。電源電圧VMが抵抗Rp1を介さないでPMOSトランジスタP1を介してPMOSトランジスタPMOS2に供給されることとなるので、可変スルーレートドライバVSR−PDからの出力信号は急峻でかつ一定のスルーレートでローレベルからハイレベルになる。スイッチSp1がオンしていたとした場合、遅延回路DLからの出力信号がローレベルからハイレベルになるときはPMOSトランジスタP1がオフし、NMOSトランジスタN1がオンすることとなる。接地電圧GNDが抵抗Rp1およびNMOSトランジスタN1を介してPMOSトランジスタPMOS2に供給されることとなるので、可変スルーレートドライバVSR−PDからの出力信号は抵抗Rp1の抵抗値に従ったスルーレートでハイレベルからローレベルになる。
プリドライバ内ドライバPD2はPMOSトランジスタP2と、抵抗Rp2と、NMOSトランジスタN2とを有する。PMOSトランジスタP2のソースには電源電圧VMが供給され、PMOSトランジスタP2のドレインは抵抗Rp2の一方の端子と接続され、抵抗Rp2の他方の端子がNMOSトランジスタN2のドレインと接続され、NMOSトランジスタN2のソースには接地電圧GNDが供給される。PMOSトランジスタP2のドレインにはスイッチSp2の一方の端子が接続され、スイッチSp2の他方の端子はPMOSトランジスタPMOS2のゲートに接続される。
スイッチSp2がオンしていたとした場合、遅延回路DLからの出力信号がハイレベルからローレベルになるときはPMOSトランジスタP2がオンし、NMOSトランジスタN2がオフすることとなる。電源電圧VMが抵抗Rp2を介さないでPMOSトランジスタP2を介してPMOSトランジスタPMOS2に供給されることとなるので、可変スルーレートドライバVSR−PDからの出力信号は急峻でかつ一定のスルーレートでローレベルからハイレベルになる。スイッチSp2がオンしていたとした場合、遅延回路DLからの出力信号がローレベルからハイレベルになるときはPMOSトランジスタP2がオフし、NMOSトランジスタN2がオンすることとなる。接地電圧GNDが抵抗Rp2およびNMOSトランジスタN2を介してPMOSトランジスタPMOS2に供給されることとなるので、可変スルーレートドライバVSR−PDからの出力信号は抵抗Rp2の抵抗値に従ったスルーレートでハイレベルからローレベルになる。ここで抵抗Rp2の抵抗値は抵抗Rp1の抵抗値よりも小さいので、ハイレベルからローレベルになるスルーレートはプリドライバ内ドライバPD1の出力がハイレベルからローレベルになるスルーレートよりも短くなる。
プリドライバ内ドライバPD3はPMOSトランジスタP3と、抵抗Rp3と、NMOSトランジスタN3とを有する。PMOSトランジスタP3のソースには電源電圧VMが供給され、PMOSトランジスタP3のドレインは抵抗Rp3の一方の端子と接続され、抵抗Rp3の他方の端子がNMOSトランジスタN3のドレインと接続され、NMOSトランジスタN3のソースには接地電圧GNDが供給される。PMOSトランジスタP3のドレインにはスイッチSp3の一方の端子が接続され、スイッチSp3の他方の端子はPMOSトランジスタPMOS2のゲートに接続される。
スイッチSp3がオンしていたとした場合、遅延回路DLからの出力信号がハイレベルからローレベルになるときはPMOSトランジスタP3がオンし、NMOSトランジスタN3がオフすることとなる。電源電圧VMが抵抗Rp3を介さないでPMOSトランジスタP3を介してPMOSトランジスタPMOS2に供給されることとなるので、可変スルーレートドライバVSR−PDからの出力信号は急峻でかつ一定のスルーレートでローレベルからハイレベルになる。スイッチSp3がオンしていたとした場合、遅延回路DLからの出力信号がローレベルからハイレベルになるときはPMOSトランジスタP3がオフし、NMOSトランジスタN3がオンすることとなる。接地電圧GNDが抵抗Rp3およびNMOSトランジスタN3を介してPMOSトランジスタPMOS2に供給されることとなるので、可変スルーレートドライバVSR−PDからの出力信号は抵抗Rp3の抵抗値に従ったスルーレートでハイレベルからローレベルになる。ここで抵抗Rp3の抵抗値は抵抗Rp2の抵抗値よりも小さいので、ハイレベルからローレベルになるスルーレートはプリドライバ内ドライバPD2の出力がハイレベルからローレベルになるスルーレートよりも短くなる。
可変スルーレートドライバVSR−NDはプリドライバ内ドライバND1と、プリドライバ内ドライバND2と、プリドライバ内ドライバND3と、スイッチSn1と、スイッチSn2と、スイッチSn3とを有する。
プリドライバ内ドライバND1はPMOSトランジスタP4と、抵抗Rn1と、NMOSトランジスタN4とを有する。PMOSトランジスタP4のソースには電源電圧VMが供給され、PMOSトランジスタP4のドレインは抵抗Rn1の一方の端子と接続され、抵抗Rn1の他方の端子がNMOSトランジスタN4のドレインと接続され、NMOSトランジスタN4のソースには接地電圧GNDが供給される。NMOSトランジスタN4のドレインにはスイッチSn1の一方の端子が接続され、スイッチSn1の他方の端子はNMOSトランジスタNMOS2のゲートに接続される。
スイッチSn1がオンしていたとした場合、遅延回路DL1−Sからの出力信号がハイレベルからローレベルになるときはPMOSトランジスタP4がオンし、NMOSトランジスタN4がオフすることとなる。電源電圧VMが抵抗Rn1およびPMOSトランジスタP4を介してNMOSトランジスタNMOS2に供給されることとなるので、可変スルーレートドライバVSR−NDからの出力信号は抵抗Rn1の抵抗値に従ったスルーレートでローレベルからハイレベルになる。スイッチSn1がオンしていたとした場合、遅延回路DL1−Sからの出力信号がローレベルからハイレベルになるときはPMOSトランジスタP4がオフし、NMOSトランジスタN4がオンすることとなる。接地電圧GNDが抵抗Rn1を介さないでNMOSトランジスタN4を介してNMOSトランジスタNMOS2に供給されることとなるので、可変スルーレートドライバVSR−NDからの出力信号は急峻でかつ一定のスルーレートでハイレベルからローレベルになる。
プリドライバ内ドライバND2はPMOSトランジスタP5と、抵抗Rn2と、NMOSトランジスタN5とを有する。PMOSトランジスタP5のソースには電源電圧VMが供給され、PMOSトランジスタP5のドレインは抵抗Rn2の一方の端子と接続され、抵抗Rn2の他方の端子がNMOSトランジスタN5のドレインと接続され、NMOSトランジスタN5のソースには接地電圧GNDが供給される。NMOSトランジスタN5のドレインにはスイッチSn2の一方の端子が接続され、スイッチSn2の他方の端子はNMOSトランジスタNMOS2のゲートに接続される。
スイッチSn2がオンしていたとした場合、遅延回路DL1−Sからの出力信号がハイレベルからローレベルになるときはPMOSトランジスタP5がオンし、NMOSトランジスタN5がオフすることとなる。電源電圧VMが抵抗Rn2およびPMOSトランジスタP5を介してNMOSトランジスタNMOS2に供給されることとなるので、可変スルーレートドライバVSR−NDからの出力信号は抵抗Rn2の抵抗値に従ったスルーレートでローレベルからハイレベルになる。ここで抵抗Rn2の抵抗値は抵抗Rn1の抵抗値よりも小さいので、ローレベルからハイレベルになるスルーレートはプリドライバ内ドライバND1の出力がローレベルからハイレベルになるスルーレートよりも短くなる。スイッチSn2がオンしていたとした場合、遅延回路DL1−Sからの出力信号がローレベルからハイレベルになるときはPMOSトランジスタP5がオフし、NMOSトランジスタN5がオンすることとなる。接地電圧GNDが抵抗Rn2を介さないでNMOSトランジスタN5を介してNMOSトランジスタNMOS2に供給されることとなるので、可変スルーレートドライバVSR−NDからの出力信号は急峻でかつ一定のスルーレートでハイレベルからローレベルになる。
プリドライバ内ドライバND3はPMOSトランジスタP6と、抵抗Rn3と、NMOSトランジスタN6とを有する。PMOSトランジスタP6のソースには電源電圧VMが供給され、PMOSトランジスタP6のドレインは抵抗Rn3の一方の端子と接続され、抵抗Rn3の他方の端子がNMOSトランジスタN6のドレインと接続され、NMOSトランジスタN6のソースには接地電圧GNDが供給される。NMOSトランジスタN6のドレインにはスイッチSn3の一方の端子が接続され、スイッチSn3の他方の端子はNMOSトランジスタNMOS2のゲートに接続される。
スイッチSn3がオンしていたとした場合、遅延回路DL1−Sからの出力信号がハイレベルからローレベルになるときはPMOSトランジスタP6がオンし、NMOSトランジスタN6がオフすることとなる。電源電圧VMが抵抗Rn3およびPMOSトランジスタP6を介してNMOSトランジスタNMOS2に供給されることとなるので、可変スルーレートドライバVSR−NDからの出力信号は抵抗Rn3の抵抗値に従ったスルーレートでローレベルからハイレベルになる。ここで抵抗Rn3の抵抗値は抵抗Rn2の抵抗値よりも小さいので、ローレベルからハイレベルになるスルーレートはプリドライバ内ドライバND2の出力がローレベルからハイレベルになるスルーレートよりも短くなる。スイッチSn3がオンしていたとした場合、遅延回路DL1−Sからの出力信号がローレベルからハイレベルになるときはPMOSトランジスタP6がオフし、NMOSトランジスタN6がオンすることとなる。接地電圧GNDが抵抗Rn3を介さないでNMOSトランジスタN6を介してNMOSトランジスタNMOS2に供給されることとなるので、可変スルーレートドライバVSR−NDからの出力信号は急峻でかつ一定のスルーレートでハイレベルからローレベルになる。
スルーレート設定レジスタSRS−REGはスイッチSp1〜Sp3、スイッチSn1〜Sn3のオン、オフを制御する。スイッチSp1〜Sp3のうちにオンとなるのはいずれか1つであり、スイッチSn1〜Sn3のうちにオンとなるのはいずれか1つである。スイッチSp1がオンとされた場合は、スイッチSp2,スイッチSp3がオフとなり、プリドライバ内ドライバPD1が用いられる、このプリドライバ内ドライバPD1のスルーレートにて出力信号が変化する。スイッチSp2がオンとされた場合は、スイッチSp1,スイッチSp3がオフとなり、プリドライバ内ドライバPD2が用いられる、このプリドライバ内ドライバPD2のスルーレートにて出力信号が変化する。スイッチSp3がオンとされた場合は、スイッチSp1,スイッチSp2がオフとなり、プリドライバ内ドライバPD3が用いられる、このプリドライバ内ドライバPD3のスルーレートにて出力信号が変化する。スイッチSn1がオンとされた場合は、スイッチSn2,スイッチSn3がオフとなり、プリドライバ内ドライバND1が用いられる、このプリドライバ内ドライバND1のスルーレートにて出力信号が変化する。スイッチSn2がオンとされた場合は、スイッチSn1,スイッチSn3がオフとなり、プリドライバ内ドライバND2が用いられる、このプリドライバ内ドライバND2のスルーレートにて出力信号が変化する。スイッチSn3がオンとされた場合は、スイッチSn1,スイッチSn2がオフとなり、プリドライバ内ドライバND3が用いられる、このプリドライバ内ドライバND3のスルーレートにて出力信号が変化する。
図4は遅延回路DLの構造を示す図である。
遅延回路DLは入力端子INと、インバータINV1〜INV4と、抵抗Rと容量CとアンドゲートANDと、出力端子OUTとを有する。
入力端子INとアンドゲートANDの一方の入力とが接続されている。入力端子とインバータINV1の入力とが接続されており、インバータINV1の出力とインバータINV2の入力とが接続されている。インバータINV2の出力と抵抗Rの一方の端子とが接続されており、抵抗Rの他方の端子は容量Cの一方の端子に接続されており、容量Cの他方の端子には接地電圧GNDが供給されている。抵抗Rの他方の端子はインバータINV3の入力に接続されており、インバータINV3の出力はインバータINV4の入力に接続されている。インバータINV4の出力はアンドゲートANDの他方の入力に接続されており、アンドゲートANDの出力は出力端子OUTに接続されている。
入力端子INの信号がハイレベルからローレベルに変化するときは、アンドゲートANDの一方の入力がハイレベルからローレベルに変化するために、速やかに出力端子OUTの出力がハイレベルからローレベルに変化する。入力端子INの信号がローレベルからハイレベルに変化するときは、アンドゲートANDの一方の入力がローレベルからハイレベルに速やかに変化する。アンドゲートANDの他方の入力はインバータINV1、インバータINV2、抵抗Rと容量Cで構成された遅延部、インバータINV3、およびインバータINV4をとおってから信号が伝わる関係で、遅延時間Dだけ遅れてローレベルからハイレベルに変化する。よって、出力端子OUTの信号は、入力端子INの信号変化からおおよそ遅延時間Dだけ遅れてローレベルからハイレベルに変化する。
図5は遅延回路DL1−Sの構造を示す図である。
遅延回路DL1−Sは遅延回路DLとは以下の点で異なる。抵抗Rの代わりに抵抗R1をもち、容量Cの代わりに容量C1をもち、アンドゲートANDの代わりにオアゲートORを有する。それ以外は遅延回路DLと同じである。
入力端子INの信号がローレベルからハイレベルに変化するときは、オアゲートORの一方の入力がローレベルからハイレベルに変化するために、速やかに出力端子OUTの出力がローレベルからハイレベルに変化する。入力端子INの信号がハイレベルからローレベルに変化するときは、オアゲートORの一方の入力がハイレベルからローレベルに速やかに変化する。オアゲートORの他方の入力はインバータINV1、インバータINV2、抵抗R1と容量C1で構成された遅延部、インバータINV3、およびインバータINV4をとおってから信号が伝わる関係で、遅延時間D1だけ遅れてハイレベルからローレベルに変化する。ここで遅延時間
D1は遅延時間Dよりも短い時間である。これは抵抗R1が抵抗Rよりも抵抗値が小さく、容量C1が容量Cより容量値が小さいからである。よって出力端子OUTの信号は、入力端子INの信号変化からおおよそ遅延時間D1だけ遅れてハイレベルからローレベルに変化する。
D1は遅延時間Dよりも短い時間である。これは抵抗R1が抵抗Rよりも抵抗値が小さく、容量C1が容量Cより容量値が小さいからである。よって出力端子OUTの信号は、入力端子INの信号変化からおおよそ遅延時間D1だけ遅れてハイレベルからローレベルに変化する。
図6はモーターに接続される端子MTT1や端子MTT2の印可電圧とPWM波PWM−WおよびPWM
波PWM−RWの関係を示した波形図である。ここでは、スルーレート設定レジスタSRS−REGに格納された設定値に従った立ち上がりおよび立ち下がりのスルーレートとなっている。ここではスイッチSp1およびスイッチSn1がオン、スイッチSp2、スイッチSp3、スイッチSn2、スイッチSn3がオフとなっている。
波PWM−RWの関係を示した波形図である。ここでは、スルーレート設定レジスタSRS−REGに格納された設定値に従った立ち上がりおよび立ち下がりのスルーレートとなっている。ここではスイッチSp1およびスイッチSn1がオン、スイッチSp2、スイッチSp3、スイッチSn2、スイッチSn3がオフとなっている。
時刻T1にてPWM波PWM−Wがハイレベルからローレベルに変化し、PWM波PWM−RWがローレベルからハイレベルに変化する。この時、プリドライバPreDRV1内の遅延回路DLの出力はPWM波PWM−Wがハイレベルからローレベルに変化するために速やかにハイレベルからローレベルに変化する。プリドライバPreDRV1内の可変スルーレートドライバVSR−PDはプリドライバ内ドライバPD1の出力を用いるようになっている。PMOSトランジスタP1のゲートおよびNMOSトランジスタN1のゲートの電圧がハイレベルからローレベルに変化するため、電源電圧VMが抵抗Rp1を介さずにPMOSトランジスタP1を介して速やかにPMOSトランジスタPMOS2のゲートに供給される。よってPMOSトランジスタPMOS2のゲート電圧は速やかに電源電圧VMに変化する。プリドライバPreDRV2内の可変スルーレートドライバVSR−NDはプリドライバ内ドライバND1の出力をもちいるようになっている。プリドライバPreDRV2内の遅延回路DL1−Sの出力はPWM波PWM−Wがハイレベルからローレベルに変化するために、インバータINV1〜INV4や抵抗R1および容量C1にて構成された遅延部により信号遅延が発生し、時刻T1から遅延時間D1過ぎた時刻である時刻T2にハイレベルからローレベルに変化する。PMOSトランジスタP4のゲートおよびNMOSトランジスタN4のゲートの電圧がハイレベルからローレベルに変化するため、電源電圧VMがPMOSトランジスタP4および抵抗Rn1を介してNMOSトランジスタNMOS2のゲートに供給される。よってNMOSトランジスタNMOS2のゲート電圧は抵抗Rn1の抵抗値に従ったスルーレートにて電源電圧VMに変化する。PMOSトランジスタPMOS2のゲート電圧が時刻T1に電源電圧VMに変化するために端子MTT1に対する電源電圧VMの供給が止められ、NMOSトランジスタNMOS2のゲート電圧が時刻T2に抵抗Rn1の抵抗値に従ったスルーレートにて電源電圧VMに変化するために端子MTT1に対する接地電圧GNDの供給が開始される。よって端子MTT1の電圧は時刻T2にて、抵抗Rn1に従ったスルーレートに従ってハイレベルからローレベルに変化する。なお、他のプリドライバ内ドライバND2やプリドライバ内ドライバND3が用いられる場合は図の一点鎖線に示すようにより速いスルーレートにて変化する。
一方プリドライバPreDRV3内の遅延回路DLの出力はPWM波PWM−RWがローレベルからハイレベルに変化するためにインバータINV1〜INV4や抵抗Rおよび容量Cにて構成された遅延部により信号遅延が発生し、遅延時間Dだけ遅れたタイミングである時刻T3にてローレベルからハイレベルに変化する。プリドライバPreDRV3内の可変スルーレートドライバVSR−PDはプリドライバ内ドライバPD1の出力を用いるようになっている。PMOSトランジスタP1のゲートおよびNMOSトランジスタN1のゲートの電圧が時刻T3にてローレベルからハイレベルに変化するため、接地電圧GNDはNMOSトランジスタN1および抵抗Rp1を介してPMOSトランジスタPMOS1のゲートに供給される。よってPMOSトランジスタPMOS1のゲート電圧は時刻T3に抵抗Rp1のスルーレートに従って接地電圧GNDに変化する。プリドライバPreDRV4内の可変スルーレートドライバVSR−NDはプリドライバ内ドライバND1の出力をもちいるようになっている。プリドライバPreDRV4の遅延回路DL1−Sの出力はPWM波PWM−RWがローレベルからハイレベルに変化するために速やかに時刻T1にてローレベルからハイレベルに変化する。PMOSトランジスタP4のゲートおよびNMOSトランジスタN4のゲートの電圧が時刻T1にてローレベルからハイレベルに変化するため、接地電圧GNDが抵抗Rn1を介さないでNMOSトランジスタN4を介してNMOSトランジスタNMOS1のゲートに供給される。よってNMOSトランジスタNMOS1のゲート電圧は時刻T1に速やかに接地電圧GNDに変化する。PMOSトランジスタPMOS1のゲート電圧は時刻T3に抵抗Rp1に従ったスルーレートにて接地電圧GNDに変化し、NMOSトランジスタNMOS1のゲート電圧は時刻T1に速やかに接地電圧GNDに変化する。時刻T3に抵抗Rp1に従ったスルーレートによりPMOSトランジスタPMOS1を介した電源電圧VMの供給が端子MTT2に行われ、時刻T1にNMOSトランジスタNMOS1を介した接地電圧GNDの供給が端子MTT2に止められる。よって端子MTT2は時刻T3に抵抗Rp1に従ったスルーレートによりローレベルからハイレベルに変化する。なお、他のプリドライバ内ドライバPD2やプリドライバ内ドライバPD3が用いられる場合は図の一点鎖線に示すようにより速いスルーレートにて変化する。
時刻T4にてPWM波PWM−Wがローレベルからハイレベルに変化し、PWM波PWM−RWがハイレベルからローレベルに変化する。この時、プリドライバPreDRV3内の遅延回路DLの出力はPWM波PWM−RWがハイレベルからローレベルに変化するために時刻T4にハイレベルからローレベルに変化する。プリドライバPreDRV3内の可変スルーレートドライバVSR−PDはプリドライバ内ドライバPD1の出力を用いるようになっている。PMOSトランジスタP1のゲートおよびNMOSトランジスタN1のゲートの電圧がハイレベルからローレベルに変化するため、電源電圧VMが抵抗Rp1を介さずにPMOSトランジスタP1を介して速やかにPMOSトランジスタPMOS2のゲートに供給される。よってPMOSトランジスタPMOS1のゲート電圧は時刻T4に電源電圧VMに変化する。プリドライバPreDRV4内の可変スルーレートドライバVSR−NDはプリドライバ内ドライバND1の出力をもちいるようになっている。プリドライバPreDRV4内の遅延回路DL1−Sの出力はPWM波PWM−RWがハイレベルからローレベルに変化するために、インバータINV1〜INV4や抵抗R1および容量C1にて構成された遅延部により信号遅延が発生し、時刻T4から遅延時間D1過ぎた時刻である時刻T5にハイレベルからローレベルに変化する。PMOSトランジスタP4のゲートおよびNMOSトランジスタN4のゲートの電圧がハイレベルからローレベルに変化するため、電源電圧VMがPMOSトランジスタP1および抵抗Rn1を介してNMOSトランジスタNMOS1のゲートに供給される。よってNMOSトランジスタNMOS1のゲート電圧は抵抗Rn1の抵抗値に従ったスルーレートにて電源電圧VMに変化する。時刻T4に端子MTT2に対する電源電圧VMの供給が止められ、時刻T5に抵抗Rn1の抵抗値に従ったスルーレートにて端子MTT2に対する接地電圧GNDの供給が行われる。よって端子MTT2は時刻T5に抵抗Rnに従ったスルーレートにてハイレベルからローレベルに変化する。なお、他のプリドライバ内ドライバND2やプリドライバ内ドライバND3が用いられる場合は図の一点鎖線に示すようにより速いスルーレートにて変化する。
一方プリドライバPreDRV1内の遅延回路DLの出力はPWM波PWM−Wがローレベルからハイレベルに変化するためにインバータINV1〜INV4や抵抗Rおよび容量Cにて構成された遅延部により信号遅延が発生し、時刻T4から遅延時間Dだけ遅れたタイミングである時刻T6にてローレベルからハイレベルに変化する。プリドライバPreDRV1内の可変スルーレートドライバVSR−PDはプリドライバ内ドライバPD1の出力を用いるようになっている。PMOSトランジスタP1のゲートおよびNMOSトランジスタN1のゲートの電圧が時刻T6にてローレベルからハイレベルに変化するため、接地電圧GNDはNMOSトランジスタN1および抵抗Rp1を介してPMOSトランジスタPMOS2のゲートに供給される。よってPMOSトランジスタPMOS2のゲート電圧は時刻T6に抵抗Rp1のスルーレートに従って接地電圧GNDに変化する。プリドライバPreDRV2内の可変スルーレートドライバVSR−NDはプリドライバ内ドライバND1の出力をもちいるようになっている。プリドライバPreDRV2内の遅延回路DL1−Sの出力はPWM波PWM−Wがローレベルからハイレベルに変化するために速やかに変化し、時刻T4にてローレベルからハイレベルに変化する。PMOSトランジスタP4のゲートおよびNMOSトランジスタN4のゲートの電圧が時刻T4にてローレベルからハイレベルに変化するため、接地電圧GNDが抵抗Rn1を介さないでNMOSトランジスタN4を介してNMOSトランジスタNMOS2のゲートに供給される。よってNMOSトランジスタNMOS2のゲート電圧は時刻T4に速やかに接地電圧GNDに変化する。PMOSトランジスタPMOS2のゲート電圧は時刻T6に抵抗Rp1に従ったスルーレートにて接地電圧GNDに変化し、NMOSトランジスタNMOS2のゲート電圧は時刻T4に速やかに接地電圧GNDに変化する。時刻T6に端子MTT1に対して抵抗Rp1に従ったスルーレートにより電源電圧VM供給が行われ、時刻T4に端子MTT1に対して接地電圧GNDの供給が止められる。よって端子MTT1は時刻T6に抵抗Rp1に従ったスルーレートによりローレベルからハイレベルに変化する。なお、他のプリドライバ内ドライバPD2やプリドライバ内ドライバPD3が用いられる場合は図の一点鎖線に示すようにより速いスルーレートにて変化する。
なお、当然に上述した抵抗に従ったスルーレートはスルーレート設定レジスタSRS−REGに格納された設定値に従って選択されたプリドライバ内ドライバ(図3におけるPD1〜PD3、ND1〜ND3)により変わるものとなる。
本実施の形態の半導体集積回路装置ICは、モーターを駆動するためのモータードライバMTDの出力段からの端子MTT1または端子MTT2からの出力信号の立ち上がりおよび立ち下がりのスルーレートが可変となっている。モーターMTの特性に合わせてスルーレートを変更することができ、最適なモーター駆動が可能となる。たとえばモーターがピエゾモーターであればスルーレートを早くして効率的な駆動が可能となり、モーターがVCMモーターであればスルーレートを遅くしてオーバーシュートを防いでノイズを防ぐことができる。
モータードライバMTDはHブリッジ型の出力段を持っており、PMOSトランジスタPMOS1、NMOSトランジスタNMOS1、PMOSトランジスタPMOS2、NMOSトランジスタNMOS2で出力段が構成されている。モータードライバMTDは中央演算装置CPUからの指令値IVに基づいてPWM波PWM−WとPWM波PMW−Wと反転関係にあるPWM波PWM−RWを生成するPWM波生成回路PWM−GCを持つ。PWM波PWM−Wに基づいて、端子MTT1から出力信号が出力され、PWM波PWM−RWに基づいて、端子MTT2から出力信号が出力される。PWM波PWM−Wの立ち上がりエッジに伴う端子MTT1からの出力信号の立ち上がりのタイミングとPWM波PWM−RWの立ち下がりエッジに伴う端子MTT2からの出力信号の立ち下がりのタイミングとは異なり、PWM波PWM−Wの立ち下がりエッジに伴う端子MTT1からの出力信号の立ち下がりのタイミングとPWM波PWM−RWの立ち上がりエッジに伴う端子MTT2からの出力信号の立ち上がりのタイミングとは異なる。
本実施の形態においてはPWM波PWM−Wの立ち上がりエッジとPWM波PWM−RWの立ち下がりエッジは同時に出力されるものであり、PWM波PWM−Wの立ち下がりエッジとPWM波PWM−RWの立ち上がりエッジは同時に出力されるものである。それにもかかわらずPWM波PWM−Wの立ち上がりエッジに伴う端子MTT1からの出力信号の立ち上がりのタイミングとPWM波PWM−RWの立ち下がりエッジに伴う端子MTT2からの出力信号の立ち下がりのタイミングとは異なり、PWM波PWM−Wの立ち下がりエッジに伴う端子MTT1からの出力信号の立ち下がりのタイミングとPWM波PWM−RWの立ち上がりエッジに伴う端子MTT2からの出力信号の立ち上がりのタイミングとは異なるようになっている。このことにより、端子MTT1に対する印可電圧が電源電圧VMとなっており端子MTT2に対する印可電圧が接地電圧GNDとなっている状態から、端子MTT1に対する印可電圧が接地電圧GNDとなっており端子MTT2に対する印可電圧が電源電圧VMとなっている状態に変化するときに、端子MTT1の印可電圧と端子MTT2の印可電圧が同一電圧となってから変化する。同じく端子MTT1に対する印可電圧が接地電圧GNDとなっており端子MTT2に対する印可電圧が電源電圧VMとなっている状態から、端子MTT1に対する印可電圧が電源電圧VMとなっており端子MTT2に対する印可電圧が接地電圧GNDとなっている状態に変化するときに、端子MTT1の印可電圧と端子MTT2の印可電圧が同一電圧となってから変化する。このことで、モーターMTに適切な印可電圧を与えることができる。
モータードライバMTDは、PMOS2トランジスタを駆動するためのプリドライバPreDRV1と、NMOS2トランジスタを駆動するためのプリドライバPreDRV2と、PMOSトランジスタPMOS1を駆動するためのプリドライバPreDRV3と、NMOSトランジスタNMOS1を駆動するためのプリドライバPreDRV4を持つ。プリドライバPreDRV1はPWM波PWM−Wの立ち上がりを遅延させる遅延回路DLと、PMOSトランジスタPMOS2のゲートに対する出力信号の立ち下がりのスルーレートが可変となっている可変スルーレートドライバVSR−PDとを有する。プリドライバPreDRV2はPWM波PWM−Wの立ち下がりを遅延させる遅延回路DL1−Sと、NMOSトランジスタNMOS2のゲートに対する出力信号の立ち上がりのスルーレートが可変となっている可変スルーレートドライバVSR−NDとを有する。プリドライバPreDRV3はPWM波PWM−RWの立ち上がりを遅延させる遅延回路DLと、PMOSトランジスタPMOS1のゲートに対する出力信号の立ち下がりのスルーレートが可変となっている可変スルーレートドライバVSR−PDとを有する。プリドライバPreDRV4はPWM波PWM−RWの立ち下がりを遅延させる遅延回路DL1−Sと、NMOSトランジスタNMOS1のゲートに対する出力信号の立ち上がりのスルーレートが可変となっている可変スルーレートドライバVSR−NDとを有する。
PWM波PWM−Wを受けるプリドライバPreDRV1により、時刻T1に速やかにPMOSトランジスタPMOS2がオフされる。ここで時刻T1はPWM波PWM−Wがハイレベルからローレベルに変化するタイミングであり、PWM波PWM−RWがローレベルからハイレベルに変化するタイミングである。さらにPWM波PWM−Wを受けるプリドライバPreDRV2により時刻T1から遅延時間D1だけ過ぎた時刻T2に選択されたプリドライバ内ドライバに従ったスルーレートによりNMOSトランジスタNMOS2がオンする。よってPMOSトランジスタPMOS2がオフとなってからNMOSトランジスタNMOS2がオンとなるために、電源電圧VMからPMOSトランジスタPMOS2およびNMOSトランジスタNMOS2を介して流れる貫通電流を防止できる。PWM波PWM−RWを受けるプリドライバPreDRV4により時刻T1に速やかにNMOSトランジスタNMOS1がオフされる。PWM波PWM−RWを受けるプリドライバPreDRV3により時刻T1から遅延時間Dだけ過ぎた時刻T3に選択されたプリドライバ内ドライバに従ったスルーレートによりPMOSトランジスタPMOS1がオンする。よってNMOSトランジスタNMOS1がオフとなってからPMOSトランジスタPMOS1がオンとなるために、電源電圧VMからPMOSトランジスタPMOS1およびNMOSトランジスタNMOS1を介して流れる貫通電流を防止できる。さらに遅延時間Dが遅延時間D1よりも長いことにより、端子MTT1に対する印可電圧が電源電圧VMとなっており端子MTT2に対する印可電圧が接地電圧GNDとなっている状態から、端子MTT1に対する印可電圧が接地電圧GNDとなっており端子MTT2に対する印可電圧が電源電圧VMとなっている状態に変化するときに、端子MTT1の印可電圧と端子MTT2の印可電圧が同一電圧となってから変化する。
PWM波PWM−RWを受けるプリドライバPreDRV3により、時刻T4に速やかにPMOSトランジスタPMOS1がオフされる。ここで時刻T4はPWM波PWM−Wがローレベルからハイレベルに変化するタイミングであり、PWM波PWM−RWがハイレベルからローレベルに変化するタイミングである。さらにPWM波PWM−RWを受けるプリドライバPreDRV4により時刻T4から遅延時間D1だけ過ぎた時刻T5に選択されたプリドライバ内ドライバに従ったスルーレートによりNMOSトランジスタNMOS1がオンする。よってPMOSトランジスタPMOS1がオフとなってからNMOSトランジスタNMOS1がオンとなるために、電源電圧VMからPMOSトランジスタPMOS1およびNMOSトランジスタNMOS1を介して流れる貫通電流を防止できる。PWM波PWM−Wを受けるプリドライバPreDRV2により時刻T4に速やかにNMOSトランジスタNMOS2がオフされる。PWM波PWM−Wを受けるプリドライバPreDRV1により時刻T4から遅延時間Dだけ過ぎた時刻T6に選択されたプリドライバ内ドライバに従ったスルーレートによりPMOSトランジスタPMOS2がオンする。よってNMOSトランジスタNMOS2がオフとなってからPMOSトランジスタPMOS2がオンとなるために、電源電圧VMからPMOSトランジスタPMOS2およびNMOSトランジスタNMOS2を介して流れる貫通電流を防止できる。さらに遅延時間Dが遅延時間D1よりも長いことにより、端子MTT1に対する印可電圧が接地電圧GNDとなっており端子MTT2に対する印可電圧が電源電圧VMとなっている状態から、端子MTT1に対する印可電圧が電源電圧VMとなっており端子MTT2に対する印可電圧が接地電圧GNDとなっている状態に変化するときに、端子MTT1の印可電圧と端子MTT2の印可電圧が同一電圧となってから変化する。なお、詳しくは実施の形態2にて後述するが、プリドライバPreDRV1の遅延回路の遅延時間およびプリドライバPreDRV3の遅延回路の遅延時間が遅延時間Dであり、プリドライバPreDRV2の遅延回路の遅延時間およびプリドライバPreDRV4の遅延回路の遅延時間が遅延時間D1である必要は必ずしもなく、プリドライバPreDRV1の遅延回路の遅延時間とプリドライバPreDRV4の遅延回路の遅延時間が異なっていればよく、プリドライバPreDRV2の遅延回路の遅延時間とプリドライバPreDRV3の遅延回路の遅延時間が異なっていればよい。
(実施の形態2)
図7は実施の形態2のプリドライバの構成を示した図である。
図7は実施の形態2のプリドライバの構成を示した図である。
図6のプリドライバと比較して以下の点が異なる。PWM波PWM−Wを受けPMOSトランジスタPMOS2に駆動信号を出力するプリドライバが、実施の形態1ではプリドライバPreDRV1であったが、実施の形態2ではプリドライバPreDRV12となっている。PWM波PWM−Wを受けNMOSトランジスタNMOS2に駆動信号を出力するプリドライバが、実施の形態1ではプリドライバPreDRV2であったが、実施の形態2ではプリドライバPreDRV22となっている。PWM波PWM−RWを受けPMOSトランジスタPMOS1に駆動信号を出力するプリドライバが、実施の形態1ではプリドライバPreDRV3であったが、実施の形態2ではプリドライバPreDRV32となっている。PWM波PWM−RWを受けNMOSトランジスタNMOS1に駆動信号を出力するプリドライバが、実施の形態1ではプリドライバPreDRV4であったが、実施の形態2ではプリドライバPreDRV42となっている。プリドライバPreDRV12はプリドライバPreDRV1と異なり、遅延回路DLの代わりに遅延回路DL−Sを持っている。プリドライバPreDRV22はプリドライバPreDRV2と異なり、遅延回路DL1−Sの代わりに遅延回路DL1を持っている。プリドライバPreDRV32はプリドライバPreDRV3と異なり、遅延回路DLの代わりに遅延回路DL−Sを持っている。プリドライバPreDRV42はプリドライバPreDRV4と異なり、遅延回路DL1−Sの代わりに遅延回路DL1を持っている。
遅延回路DL−Sは実施の形態1の遅延回路DLとは以下の点で異なる。遅延回路DL−Sは遅延回路DLの抵抗Rの代わりに抵抗R1を持っている。さらに遅延回路DL−Sは遅延回路DLの容量Cの代わりに抵抗C1を持っている。同じく遅延回路DL1は実施の形態1の遅延回路DL1−Sとは以下の点で異なる。遅延回路DL1は遅延回路DL1−Sの抵抗R1の代わりに抵抗Rを持っている。さらに遅延回路DL1は遅延回路DL1−Sの容量C1の代わりに抵抗Cを持っている。遅延回路DL−Sは入力信号の立ち上がりを遅延させ、その遅延時間は遅延時間D1である。遅延回路DL1は入力信号の立ち下がりを遅延させ、その遅延時間は遅延時間Dである。
図8は実施の形態2において、モーターに接続される端子MTT1や端子MTT2の印可電圧とPWM波PWM−WおよびPWM波PWM−RWの関係を示した波形図である。実施の形態1の図6における箇所での説明との違いは、遅延回路が実施の形態2においては実施の形態1から図7にて上述したような形にて変更されていることである。それに伴い、時刻T7にてPMOSトランジスタPMOS2がオフし、時刻T7から遅延時間Dだけ経過した時刻T9にてNMOSトランジスタNMOS2が選択されたプリドライバ内ドライバに従ったスルーレートにてオンすることで、時刻T9にて端子MTT1の電圧が選択されたプリドライバ内ドライバに従ったスルーレートにてハイレベルからローレベルに変更される。時刻T7にてNMOSトランジスタPMOS1がオフし、時刻T7から遅延時間D1だけ経過した時刻T8にてPMOSトランジスタPMOS1が選択されたプリドライバ内ドライバに従ったスルーレートにてオンすることで、時刻T8にて端子MTT2の電圧が選択されたプリドライバ内ドライバに従ったスルーレートにてローレベルからハイレベルに変更される。時刻T10にてNMOSトランジスタNMOS2がオフし、時刻T10から遅延時間D1だけ経過した時刻T11にてPMOSトランジスタPMOS2が選択されたプリドライバ内ドライバに従ったスルーレートにてオンすることで、時刻T11にて端子MTT1の電圧が選択されたプリドライバ内ドライバに従ったスルーレートにてローレベルからハイレベルに変更される。時刻T10にてPMOSトランジスタPMOS1がオフし、時刻T10から遅延時間Dだけ経過した時刻T12にてNMOSトランジスタNMOS1が選択されたプリドライバ内ドライバに従ったスルーレートにてオンすることで、時刻T12にて端子MTT2の電圧が選択されたプリドライバ内ドライバに従ったスルーレートにてハイレベルからローレベルに変更される。ここで時刻T7はPWM波PWM−Wがハイレベルからローレベルに変更されるタイミングであり、PWM波PWM−RWがローレベルからハイレベルに変更されるタイミングである。時刻T10はPWM波PWM−Wがローレベルからハイレベルに変更されるタイミングであり、PWM波PWM−RWがハイレベルからローレベルに変更されるタイミングである。
尚、遅延回路は以下の組み合わせとしても問題はない。PWM波PWM−Wを受けPMOSトランジスタPMOS2を駆動するプリドライバの遅延回路をDL−Sとし、PWM波PWM−Wを受けNMOSトランジスタNMOS2を駆動するプリドライバの遅延回路をDL1−Sとし、PWM波PWM−RWを受けPMOSトランジスタPMOS1を駆動するプリドライバの遅延回路をDLとし、PWM波PWM−RWを受けNMOSトランジスタNMOS1を駆動するプリドライバの遅延回路をDL1とする。PWM波PWM−Wを受けPMOSトランジスタPMOS2を駆動するプリドライバの遅延回路をDLとし、PWM波PWM−Wを受けNMOSトランジスタNMOS2を駆動するプリドライバの遅延回路をDL1とし、PWM波PWM−RWを受けPMOSトランジスタPMOS1を駆動するプリドライバの遅延回路をDL−Sとし、PWM波PWM−RWを受けNMOSトランジスタNMOS1を駆動するプリドライバの遅延回路をDL1−Sとする。
この理由として、PWM波PWM−WやPWM波PWM−RWのエッジに伴い、端子MTT1の電圧レベルが変化するタイミングと、端子MTT2の電圧レベルが変化するタイミングがずらされればいいからである。このようにするためにはPWM波PWM−Wを受けPMOSトランジスタPMOS2を駆動するプリドライバの遅延回路の遅延時間と、PWM波PWM−RWを受けNMOSトランジスタNMOS1を駆動するプリドライバの遅延回路の遅延時間を異なるようにする。さらに、PWM波PWM−Wを受けNMOSトランジスタNMOS2を駆動するプリドライバの遅延回路の遅延時間と、PWM波PWM−RWを受けPMOSトランジスタPMOS1を駆動するプリドライバの遅延回路の遅延時間を異なるようにする。
実施の形態1および実施の形態2において、PWM波PWM−Wに従って端子MTT1の電圧がハイレベルからローレベルになる際、以下のように動作される。1.PMOSトランジスタPMOS2をオフにする。2.1.の後、NMOSトランジスタNMOS2のゲート電圧を抵抗に従ったスルーレートにてオンに変更することで、端子MTT1の電圧を抵抗に従ったスルーレートにてハイレベルからローレベルにする。また、PWM波PWM−RWに従って端子MTT2の電圧がローレベルからハイレベルになる際、以下のように動作される。3.NMOSトランジスタNMOS1をオフにする。4.3.の後、PMOSトランジスタPMOS1のゲート電圧を抵抗に従ったスルーレートにてオンに変更することで、端子MTT2の電圧を抵抗に従ったスルーレートにてローレベルからハイレベルにする。ここで、端子MTT1の電圧変化期間と端子MTT2の電圧変化期間が重ならないようにするために、2.の動作期間と4.の動作期間とがオーバーラップしないようにする。1.および2.の動作をすることで、スルーレート設定レジスタSRS−REGの設定値に従ったスルーレートにて端子MTT1の電圧を変更することができる。さらにPMOSトランジスタPMOS2およびNMOSトランジスタNMOS2を介して電源電圧VMから接地電圧GNDに向かって貫通電流が流れることを防ぐことができる。3.および4.の動作をすることで、スルーレート設定レジスタSRS−REGの設定値に従ったスルーレートにて端子MTT2の電圧を変更することができる。さらにPMOSトランジスタPMOS1およびNMOSトランジスタNMOS1を介して電源電圧VMから接地電圧GNDに向かって貫通電流が流れることを防ぐことができる。
さらに実施の形態1および実施の形態2において、PWM波PWM−Wに従って端子MTT1の電圧がローレベルからハイレベルになる際、以下のように動作される。5.NMOSトランジスタNMOS2をオフにする。6.5.の後、PMOSトランジスタPMOS2のゲート電圧を抵抗に従ったスルーレートにてオンに変更することで、端子MTT1の電圧を抵抗に従ったスルーレートにてローレベルからハイレベルにする。また、PWM波PWM−RWに従って端子MTT2の電圧がハイレベルからローレベルになる際、以下のように動作される。7.PMOSトランジスタPMOS1をオフにする。8.7.の後、NMOSトランジスタNMOS1のゲート電圧を抵抗に従ったスルーレートにてオンに変更することで、端子MTT2の電圧を抵抗に従ったスルーレートにてハイレベルからローレベルにする。ここで、端子MTT1の電圧変化期間と端子MTT2の電圧変化期間が重ならないようにするために、6.の動作期間と8.の動作期間とがオーバーラップしないようにする。5.および6.の動作をすることで、スルーレート設定レジスタSRS−REGの設定値に従ったスルーレートにて端子MTT1の電圧を変更することができる。さらにPMOSトランジスタPMOS2およびNMOSトランジスタNMOS2を介して電源電圧VMから接地電圧GNDに向かって貫通電流が流れることを防ぐことができる。7.および8.の動作をすることで、スルーレート設定レジスタSRS−REGの設定値に従ったスルーレートにて端子MTT2の電圧を変更することができる。さらにPMOSトランジスタPMOS1およびNMOSトランジスタNMOS1を介して電源電圧VMから接地電圧GNDに向かって貫通電流が流れることを防ぐことができる。
1.の動作の後2.の動作をするために、NMOSトランジスタNMOS2を駆動するプリドライバの遅延回路は、PWM波PWM−Wの立ち下がり信号を遅延させるようになっている。さらに2.の動作を行うために、NMOSトランジスタNMOS2のゲート電圧をローレベルからハイレベルにするスルーレートをスルーレート設定レジスタSRS−REGに設定値に従うように抵抗を設けるようにしている。3.の動作の後4.の動作をするために、PMOSトランジスタPMOS1を駆動するプリドライバの遅延回路は、PWM波PWM−RWの立ち上がり信号を遅延させるようになっている。さらに4.の動作を行うために、PMOSトランジスタPMOS1のゲート電圧をハイレベルからローレベルにするスルーレートをスルーレート設定レジスタSRS−REGに設定値に従うように抵抗を設けるようにしている。5.の動作の後6.の動作をするために、PMOSトランジスタPMOS2を駆動するプリドライバの遅延回路は、PWM波PWM−Wの立ち上がり信号を遅延させるようになっている。さらに6.の動作を行うために、PMOSトランジスタPMOS2のゲート電圧をハイレベルからローレベルにするスルーレートをスルーレート設定レジスタSRS−REGに設定値に従うように抵抗を設けるようにしている。7.の動作の後8.の動作をするために、NMOSトランジスタNMOS1を駆動するプリドライバの遅延回路は、PWM波PWM−RWの立ち下がり信号を遅延させるようになっている。さらに8.の動作を行うために、NMOSトランジスタNMOS1のゲート電圧をローレベルからハイレベルにするスルーレートをスルーレート設定レジスタSRS−REGに設定値に従うように抵抗を設けるようにしている。2.の動作期間と4.の動作期間とがオーバーラップしないようにするために、NMOSトランジスタNMOS2を駆動するプリドライバの遅延回路の遅延時間と、PMOSトランジスタPMOS1を駆動するプリドライバの遅延回路の遅延時間とが異なるようにしている。6.の動作期間と8.の動作期間とがオーバーラップしないようにするために、PMOSトランジスタPMOS2を駆動するプリドライバの遅延回路の遅延時間と、NMOSトランジスタNMOS1を駆動するプリドライバの遅延回路の遅延時間とが異なるようにしている。1.の動作を速やかに行うために、PMOSトランジスタPMOS2のゲート電圧をローレベルからハイレベルにする動作を早くするために、PMOSトランジスタPMOS2を駆動するプリドライバは抵抗を介さないでローレベルからハイレベルになるように可変スルーレートドライバを構成している。3.の動作を速やかに行うために、NMOSトランジスタNMOS1のゲート電圧をハイレベルからローレベルにする動作を早くするために、NMOSトランジスタNMOS1を駆動するプリドライバは抵抗を介さないでハイレベルからローレベルになるように可変スルーレートドライバを構成している。5.の動作を速やかに行うために、NMOSトランジスタNMOS2のゲート電圧をハイレベルからローレベルにする動作を早くするために、NMOSトランジスタNMOS2を駆動するプリドライバは抵抗を介さないでハイレベルからローレベルになるように可変スルーレートドライバを構成している。7.の動作を速やかに行うために、PMOSトランジスタPMOS1のゲート電圧をローレベルからハイレベルにする動作を早くするために、PMOSトランジスタPMOS1を駆動するプリドライバは抵抗を介さないでローレベルからハイレベルになるように可変スルーレートドライバを構成している。
これら1.〜8.に関することは後に説明する実施の形態3や4でも当てはまる。
上述した1.〜8.の動作を行うために、以下のような形にてスルーレートを可変にするのは問題がある。Hブリッジを複数用意し、端子MTT1とHブリッジのPMOSトランジスタやNMOSトランジスタのソースとの間、および端子MTT2とHブリッジのPMOSトランジスタやNMOSトランジスタのソースとの間に抵抗を挿入し、この抵抗の抵抗値がHブリッジごとに異なるようにし、適宜最適なHブリッジを選択する方法もあるが、この場合はHブリッジが複数になるためにレイアウトが大きくなる上、ダイナミックレンジが取れなくなり、モーター駆動の効率が低下する。端子MTT1や端子MTT2と接地電圧GNDを供給する端子との間に容量値が異なる容量を複数用意し、適宜最適な容量を選択する方法では、複数の容量によりレイアウトが大きくなる問題がある。プリドライバの出力端子と接地電圧GNDを供給する端子との間に容量値が異なる容量を複数用意し、適宜最適な容量を選択する方法では、1.3.5.7.にて示したような電圧変化は不可能となる。
(実施の形態3)
図9は実施の形態3のプリドライバの構成を示した図である。
図9は実施の形態3のプリドライバの構成を示した図である。
図3のプリドライバと比較して以下の点が異なる。PWM波PWM−Wを受けPMOSトランジスタPMOS2に駆動信号を出力するプリドライバが、実施の形態1ではプリドライバPreDRV1であったが、実施の形態3ではプリドライバPreDRV11となっている。PWM波PWM−Wを受けNMOSトランジスタNMOS2に駆動信号を出力するプリドライバが、実施の形態1ではプリドライバPreDRV2であったが、実施の形態3ではプリドライバPreDRV21となっている。PWM波PWM−RWを受けPMOSトランジスタPMOS1に駆動信号を出力するプリドライバが、実施の形態1ではプリドライバPreDRV3であったが、実施の形態3ではプリドライバPreDRV31となっている。PWM波PWM−RWを受けNMOSトランジスタNMOS1に駆動信号を出力するプリドライバが、実施の形態1ではプリドライバPreDRV4であったが、実施の形態3ではプリドライバPreDRV41となっている。プリドライバPreDRV11はプリドライバPreDRV1と異なり、可変スルーレートドライバVSR−PDの代わりに可変スルーレートドライバVSR−PD1を持っている。プリドライバPreDRV21はプリドライバPreDRV2と異なり、可変スルーレートドライバVSR−NDの代わりに可変スルーレートドライバVSR−ND1を持っている。プリドライバPreDRV31はプリドライバPreDRV3と異なり、可変スルーレートドライバVSR−PDの代わりに可変スルーレートドライバVSR−PD1を持っている。プリドライバPreDRV41はプリドライバPreDRV4と異なり、可変スルーレートドライバVSR−PDの代わりに可変スルーレートドライバVSR−ND1を持っている。
可変スルーレートドライバVSR−PD1はPMOSトランジスタP7と、NMOSトランジスタN7と、抵抗Rp11と、抵抗Rp21と、抵抗Rp31と、スイッチSp11と、スイッチSp21と、スイッチSp31とを有する。
PMOSトランジスタP7のソースには電源電圧VMが供給され、PMOSトランジスタP7のドレインは抵抗Rp11、スイッチSp11、スイッチSp21、およびスイッチSp31の一方の端子に接続され、抵抗Rp11の他方の端子は抵抗Rp21の一方の端子及びスイッチSp11の他方の端子に接続され、抵抗Rp21の他方の端子は抵抗Rp31の一方の端子およびスイッチSp21の他方の端子に接続され、抵抗Rp31の他方の端子には、NMOSトランジスタN7のドレインおよびスイッチSp31の他方の端子に接続され、NMOSトランジスタN7のソースには接地電圧GNDが供給され、遅延回路DLの出力信号をPMOSトランジスタP7およびNMOSトランジスタN7のゲートに受け、可変スルーレートドライバVSR−PD1の出力信号として、PMOSトランジスタP7および抵抗Rp11の接続点からPMOSトランジスタPMOS2またはPMOSトランジスタPMOS1に信号を出力する。
可変スルーレートドライバVSR−ND1はPMOSトランジスタP8と、NMOSトランジスタN8と、抵抗Rn11と、抵抗Rn21と、抵抗Rn31と、スイッチSn11と、スイッチSn21と、スイッチSn31とを有する。
NMOSトランジスタN8のソースには接地電圧GNDが供給され、NMOSトランジスタN8のドレインは抵抗Rn11、スイッチSn11、スイッチSn21、およびスイッチSn31の一方の端子に接続され、抵抗Rn11の他方の端子は抵抗Rn21の一方の端子およびスイッチSn11の他方の端子に接続され、抵抗Rn21の他方の端子は抵抗Rn31の一方の端子およびスイッチSn21の他方の端子に接続され、抵抗Rn31の他方の端子はPMOSトランジスタP8のドレイン、およびスイッチSn31の他方の端子に接続され、PMOSトランジスタP8のソースには電源電圧VMが供給され、遅延回路DL1−Sの出力信号をPMOSトランジスタP8およびNMOSトランジスタN8のゲートに受け、可変スルーレートドライバVSR−ND1の出力信号として、NMOSトランジスタN8および抵抗Rn11の接続点からNMOSトランジスタNMOS2またはNMOSトランジスタNMOS1に信号を出力する。
可変スルーレートドライバVSR−PD1においてスイッチSp11、スイッチSp21、およびスイッチSp31がオフの場合、遅延回路DLからの出力信号がハイレベルからローレベルになるときはPMOSトランジスタP7がオンし、NMOSトランジスタN7がオフすることとなる。電源電圧VMが抵抗Rp11、抵抗Rp21および抵抗Rp31を介さないでPMOSトランジスタP7を介してPMOSトランジスタPMOS2に供給されることとなるので、可変スルーレートドライバVSR−PD1からの出力信号は急峻でかつ一定のスルーレートでローレベルからハイレベルになる。遅延回路DLからの出力信号がローレベルからハイレベルになるときはPMOSトランジスタP7がオフし、NMOSトランジスタN7がオンすることとなる。接地電圧GNDが抵抗Rp11、抵抗Rp21、抵抗Rp31およびNMOSトランジスタN7を介してPMOSトランジスタPMOS2に供給されることとなるので、可変スルーレートドライバVSR−PD1からの出力信号は抵抗Rp11、抵抗Rp21、抵抗Rp31の抵抗値に従ったスルーレートでハイレベルからローレベルになる。
可変スルーレートドライバVSR−PD1においてスイッチSp11がオンの場合、遅延回路DLからの出力信号がハイレベルからローレベルになるときはPMOSトランジスタP7がオンし、NMOSトランジスタN7がオフすることとなる。電源電圧VMが抵抗Rp11、抵抗Rp21および抵抗Rp31を介さないでPMOSトランジスタP7を介してPMOSトランジスタPMOS2に供給されることとなるので、可変スルーレートドライバVSR−PD1からの出力信号は急峻でかつ一定のスルーレートでローレベルからハイレベルになる。遅延回路DLからの出力信号がローレベルからハイレベルになるときはPMOSトランジスタP7がオフし、NMOSトランジスタN7がオンすることとなる。接地電圧GNDが抵抗Rp21、抵抗Rp31およびNMOSトランジスタN7を介してPMOSトランジスタPMOS2に供給されることとなるので、可変スルーレートドライバVSR−PD1からの出力信号は抵抗Rp21、抵抗Rp31の抵抗値に従ったスルーレートでハイレベルからローレベルになる。ここで接地電圧GNDは抵抗Rp21、抵抗Rp31、およびNMOSトランジスタN7を介してPMOSトランジスタPMOS2に供給されることとなるので、ハイレベルかローレベルになるスルーレートはスイッチSp11、スイッチSp21、およびスイッチSp31が全てオフであるときにハイレベルからローレベルになるスルーレートよりも短くなる。
可変スルーレートドライバVSR−PD1においてスイッチSp21がオンの場合、遅延回路DLからの出力信号がハイレベルからローレベルになるときはPMOSトランジスタP7がオンし、NMOSトランジスタN7がオフすることとなる。電源電圧VMが抵抗Rp11、抵抗Rp21 、抵抗Rp31を介さないでPMOSトランジスタP7を介してPMOSトランジスタPMOS2に供給されることとなるので、可変スルーレートドライバVSR−PD1からの出力信号は急峻でかつ一定のスルーレートでローレベルからハイレベルになる。遅延回路DLからの出力信号がローレベルからハイレベルになるときはPMOSトランジスタP7がオフし、NMOSトランジスタN7がオンすることとなる。接地電圧GNDが抵抗Rp31およびNMOSトランジスタN7を介してPMOSトランジスタPMOS2に供給されることとなるので、可変スルーレートドライバVSR−PD1からの出力信号は抵抗Rp31の抵抗値に従ったスルーレートでハイレベルからローレベルになる。ここで接地電圧GNDは抵抗Rp31およびNMOSトランジスタN7を介してPMOSトランジスタPMOS2に供給されることとなるので、ハイレベルからローレベルになるスルーレートはスイッチSp11がオンであるときにハイレベルからローレベルになるスルーレートよりも短くなる。
可変スルーレートドライバVSR−PD1においてスイッチSp31がオンの場合、遅延回路DLからの出力信号がハイレベルからローレベルになるときはPMOSトランジスタP7がオンし、NMOSトランジスタN7がオフすることとなる。電源電圧VMが抵抗Rp11、抵抗Rp21、および抵抗Rp31を介さないでPMOSトランジスタP7を介してPMOSトランジスタPMOS2に供給されることとなるので、可変スルーレートドライバVSR−PD1からの出力信号は急峻でかつ一定のスルーレートでローレベルからハイレベルになる。遅延回路DLからの出力信号がローレベルからハイレベルになるときはPMOSトランジスタP7がオフし、NMOSトランジスタN7がオンすることとなる。接地電圧GNDが抵抗Rp11,抵抗Rp12,および抵抗Rp31を介さないでNMOSトランジスタN7を介してPMOSトランジスタPMOS2に供給されることとなるので、可変スルーレートドライバVSR−PD1からの出力信号はスイッチSp21がオンの場合よりも更に急峻にハイレベルからローレベルになり、スイッチSp21がオンであるときにハイレベルからローレベルになるスルーレートよりも短くなる。
可変スルーレートドライバVSR−ND1においてスイッチSn11、スイッチSn21、およびスイッチSn31がオフの場合、遅延回路DL1−Sからの出力信号がハイレベルからローレベルになるときはPMOSトランジスタP8がオンし、NMOSトランジスタN8がオフすることとなる。電源電圧VMが抵抗Rn11、抵抗Rn21、抵抗Rn31およびPMOSトランジスタP8を介してNMOSトランジスタNMOS2に供給されることとなるので、可変スルーレートドライバVSR−ND1からの出力信号は抵抗Rn11、抵抗Rn21、および抵抗Rn31の抵抗値に従ったスルーレートでローレベルからハイレベルになる。遅延回路DL1−Sからの出力信号がローレベルからハイレベルになるときはPMOSトランジスタP8がオフし、NMOSトランジスタN8がオンすることとなる。接地電圧GNDが抵抗Rn11、抵抗Rn21、およびRn31を介さないでNMOSトランジスタN8を介してPMOSトランジスタPMOS2に供給されることとなるので、可変スルーレートドライバVSR−ND1からの出力信号は急峻でかつ一定のスルーレートでハイレベルからローレベルになる。
可変スルーレートドライバVSR−ND1においてスイッチSn11がオンの場合、遅延回路DL1−Sからの出力信号がハイレベルからローレベルになるときはPMOSトランジスタP8がオンし、NMOSトランジスタN8がオフすることとなる。電源電圧VMが抵抗Rn21、抵抗Rn31およびPMOSトランジスタP8を介してNMOSトランジスタNMOS2に供給されることとなるので、可変スルーレートドライバVSR−ND1からの出力信号は抵抗Rn21、および抵抗Rn31の抵抗値に従ったスルーレートでローレベルからハイレベルになる。遅延回路DL1−Sからの出力信号がローレベルからハイレベルになるときはPMOSトランジスタP8がオフし、NMOSトランジスタN8がオンすることとなる。接地電圧GNDが抵抗Rn11、抵抗Rn21、およびRn31を介さないでNMOSトランジスタN8を介してPMOSトランジスタPMOS2に供給されることとなるので、可変スルーレートドライバVSR−ND1からの出力信号は急峻でかつ一定のスルーレートでハイレベルからローレベルになる。
可変スルーレートドライバVSR−ND1においてスイッチSn21がオンの場合、遅延回路DL1−Sからの出力信号がハイレベルからローレベルになるときはPMOSトランジスタP8がオンし、NMOSトランジスタN8がオフすることとなる。電源電圧VMが抵抗Rn31およびPMOSトランジスタP8を介してNMOSトランジスタNMOS2に供給されることとなるので、可変スルーレートドライバVSR−ND1からの出力信号は抵抗Rn31の抵抗値に従ったスルーレートでローレベルからハイレベルになる。ここで電源電圧VMは抵抗Rn31およびPMOSトランジスタP8を介してNMOSトランジスタNMOS2に供給されることとなるので、ローレベルからハイレベルになるスルーレートはスイッチSn11がオンであるときにローレベルからハイレベルになるスルーレートよりも短くなる。遅延回路DL1−Sからの出力信号がローレベルからハイレベルになるときはPMOSトランジスタP8がオフし、NMOSトランジスタN8がオンすることとなる。接地電圧GNDが抵抗Rn11、抵抗Rn21、および抵抗Rn31を介さないでNMOSトランジスタN8を介してNMOSトランジスタNMOS2に供給されることとなるので、可変スルーレートドライバVSR−ND1からの出力信号は急峻でかつ一定のスルーレートでハイレベルからローレベルになる。
可変スルーレートドライバVSR−ND1においてスイッチSn31がオンの場合、遅延回路DL1−Sからの出力信号がハイレベルからローレベルになるときはPMOSトランジスタP8がオンし、NMOSトランジスタN8がオフすることとなる。電源電圧VMが抵抗Rn11、抵抗Rn21、および抵抗Rn31を介さないでPMOSトランジスタP8を介してNMOSトランジスタNMOS2に供給されることとなるので、可変スルーレートドライバVSR−ND1からの出力信号はスイッチSn21がオンの場合よりも更に急峻にローレベルからハイレベルになり、スイッチSn21がオンであるときにローレベルからハイレベルになるスルーレートよりも短くなる。遅延回路DL1−Sからの出力信号がローレベルからハイレベルになるときはPMOSトランジスタP8がオフし、NMOSトランジスタN8がオンすることとなる。接地電圧GNDが抵抗Rn11、抵抗Rn21、および抵抗Rn31を介さないでNMOSトランジスタN8を介してPMOSトランジスタPMOS2に供給されることとなるので、可変スルーレートドライバVSR−ND1からの出力信号は急峻でかつ一定のスルーレートでローレベルからハイレベルになる。
スルーレート設定レジスタSRS−REGはスイッチSp11〜Sp31、スイッチSn11〜Sn31のオン、オフを制御する。スイッチSp11〜Sp13は全てオフになる、あるいはオンとなるのはいずれか1つである。スイッチSn11〜Sn13は全てオフになる、あるいはオンとなるのはいずれか1つである。スイッチSp11〜Sp13がすべてオフの場合は、抵抗Rp11、抵抗Rp21および抵抗Rp31の値に従ったスルーレートにて出力信号が変化する。スイッチSp11がオンとされた場合は、スイッチSp21,スイッチSp31がオフとなり、抵抗Rp21および抵抗Rp31の値に従ったスルーレートにて出力信号が変化する。スイッチSp21がオンとされた場合は、スイッチSp11,スイッチSp31がオフとなり、抵抗Rp31の値に従ったスルーレートにて出力信号が変化する。スイッチSp31がオンとされた場合は、スイッチSp11,スイッチSp21がオフとなり、抵抗Rp11、抵抗Rp21、および抵抗Rp31の値とは無関係に急峻なスルーレートにて出力信号が変化する。スイッチSn11〜Sn13がすべてオフの場合は、抵抗Rn11、抵抗Rn21および抵抗Rn31の値に従ったスルーレートにて出力信号が変化する。スイッチSn11がオンとされた場合は、スイッチSn21、スイッチSn31がオフとなり、抵抗Rn21および抵抗Rn31の値に従ったスルーレートにて出力信号が変化する。スイッチSn21がオンとされた場合は、スイッチSn11、スイッチSn31がオフとなり、抵抗Rn31の値に従ったスルーレートにて出力信号が変化する。スイッチSn31がオンとされた場合は、スイッチSn11,スイッチSn21がオフとなり、抵抗Rn11、抵抗Rn21、および抵抗Rn31の値とは無関係に急峻なスルーレートにて出力信号が変化する。
本実施の形態においては、実施の形態1や2のように可変スルーレートドライバ内にプリドライバ内ドライバが複数あり、どのプリドライバ内ドライバを用いるのかをスイッチにて選択する形ではない。スイッチ(図中にてSp11〜Sp31や、Sn11〜Sn31とされているもの)を選択してどの抵抗(図中にてRp11〜Rp31や、Rn11〜Rn31とされているもの)値に従ったスルーレートを用いるのかを選択する形となっている。よって1つの可変スルーレートドライバ内にはPMOSトランジスタとNMOSトランジスタが合計2つとなるために、レイアウト面積を削減できる。
尚、本実施の形態のような形の可変スルーレートドライバVSR−PD1や可変スルーレートドライバVSR−ND1である必要はない。抵抗Rp11〜Rp31やスイッチSp11〜Sp31は必ずしも必要なく、これらの代わりにスルーレート設定レジスタにより抵抗値が制御される可変抵抗を、PMOSトランジスタP7のドレインとNMOSトランジスタN7のドレインとの間に設ければよい。可変スルーレートドライバの出力はこの可変抵抗とPMOSトランジスタP7のドレインとの接続点となる。同じく抵抗Rn11〜Rn31やスイッチSn11〜Sn31は必ずしも必要なく、これらの代わりにスルーレート設定レジスタにより抵抗値が制御される可変抵抗を、PMOSトランジスタP8のドレインとNMOSトランジスタN8のドレインとの間に設ければよい。可変スルーレートドライバの出力はこの可変抵抗とNMOSトランジスタP8のドレインとの接続点となる。
(実施の形態4)
図10は実施の形態4のプリドライバの構成を示している。
図10は実施の形態4のプリドライバの構成を示している。
実施の形態2のプリドライバとの違いは、プリドライバPreDRV13はプリドライバPreDRV12の可変スルーレートドライバVSR−PDの代わりに可変スルーレートドライバVSR−PD1を持つ。プリドライバPreDRV23はプリドライバPreDRV22の可変スルーレートドライバVSR−NDの代わりに可変スルーレートドライバVSR−ND1を持つ。プリドライバPreDRV33はプリドライバPreDRV32の可変スルーレートドライバVSR−PDの代わりに可変スルーレートドライバVSR−PD1を持つ。プリドライバPreDRV43はプリドライバPreDRV42の可変スルーレートドライバVSR−NDの代わりに可変スルーレートドライバVSR−ND1を持つ。
実施の形態2において説明したときと同様に、遅延回路は以下の組み合わせとしても問題はない。PWM波PWM−Wを受けPMOSトランジスタPMOS2を駆動するプリドライバの遅延回路をDL−Sとし、PWM波PWM−Wを受けNMOSトランジスタNMOS2を駆動するプリドライバの遅延回路をDL1−Sとし、PWM波PWM−RWを受けPMOSトランジスタPMOS1を駆動するプリドライバの遅延回路をDLとし、PWM波PWM−RWを受けNMOSトランジスタNMOS1を駆動するプリドライバの遅延回路をDL1とする。PWM波PWM−Wを受けPMOSトランジスタPMOS2を駆動するプリドライバの遅延回路をDLとし、PWM波PWM−Wを受けNMOSトランジスタNMOS2を駆動するプリドライバの遅延回路をDL1とし、PWM波PWM−RWを受けPMOSトランジスタPMOS1を駆動するプリドライバの遅延回路をDL−Sとし、PWM波PWM−RWを受けNMOSトランジスタNMOS1を駆動するプリドライバの遅延回路をDL1−Sとする。
この理由として、PWM波PWM−WやPWM波PWM−RWのエッジに伴い、端子MTT1の電圧レベルが変化するタイミングと、端子MTT2の電圧レベルが変化するタイミングがずらされればいいからである。このようにするためにはPWM波PWM−Wを受けPMOSトランジスタPMOS2を駆動するプリドライバの遅延回路の遅延時間と、PWM波PWM−RWを受けNMOSトランジスタNMOS1を駆動するプリドライバの遅延回路の遅延時間を異なるようにする。さらに、PWM波PWM−Wを受けNMOSトランジスタNMOS2を駆動するプリドライバの遅延回路の遅延時間と、PWM波PWM−RWを受けPMOSトランジスタPMOS1を駆動するプリドライバの遅延回路の遅延時間を異なるようにする。
以上本発明者によってなされた発明を実施形態に基づいて具体的に説明したが、本発明はそれに限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において種々変更可能であることは言うまでもない。
CPU 中央演算装置
MTD モータードライバ
DR ドライバ
PWM−GC PWM波生成回路
PWM−W、PWM−RW PWM波
MT モーター
PMOS1、PMOS2 PMOSトランジスタ
NMOS1、NMOS2 NMOSトランジスタ
PreDRV1、PreDRV2、PreDRV3、PreDRV4、PreDRV11、PreDRV21、PreDRV31、PreDRV41、PreDRV12、PreDRV22、PreDRV32、PreDRV42、PreDRV13、PreDRV23、PreDRV33、PreDRV4 プリドライバ
スルーレート設定レジスタ SRS−REG
VSR−PD、VSR−ND、VSR−PD1、VSR−ND1 可変スルーレートドライバ
DL、DL1、DL−S、DL1−S 遅延回路
D、D1 遅延時間
MTD モータードライバ
DR ドライバ
PWM−GC PWM波生成回路
PWM−W、PWM−RW PWM波
MT モーター
PMOS1、PMOS2 PMOSトランジスタ
NMOS1、NMOS2 NMOSトランジスタ
PreDRV1、PreDRV2、PreDRV3、PreDRV4、PreDRV11、PreDRV21、PreDRV31、PreDRV41、PreDRV12、PreDRV22、PreDRV32、PreDRV42、PreDRV13、PreDRV23、PreDRV33、PreDRV4 プリドライバ
スルーレート設定レジスタ SRS−REG
VSR−PD、VSR−ND、VSR−PD1、VSR−ND1 可変スルーレートドライバ
DL、DL1、DL−S、DL1−S 遅延回路
D、D1 遅延時間
Claims (5)
- モーターを駆動するための出力段を有し、前記出力段からの第一出力信号の立ち上がりまたは立ち下がりのスルーレートが可変となっている半導体集積回路装置。
- 指示値を出力する中央演算装置と、
前記中央演算装置からの前記指示値に基づいて、第一PWM波と前記第一PWM波と反転関係となっている第二PWM波を生成するPWM波生成回路とを有し、
前記PWM波生成回路からの前記第一PWM波の第一立ち上がりエッジと前記第二PWM波の第一立ち下がりエッジとは同期して出力され、前記第一PWM波の第二立ち下がりエッジと前記第二PWM波の第二立ち上がりエッジとは同期して出力され、
前記出力段は前記第一MOSトランジスタと、第二MOSトランジスタと、第三MOSトランジスタと、第四MOSトランジスタとを有し、前記第一および第二MOSトランジスタのゲートはそれぞれ第一PWM波に基づいた信号を受け、前記第一および第三MOSトランジスタのソースは前記電源電圧が供給され、前記第二および第四MOSトランジスタのソースは接地電圧が供給され、前記第一および第二MOSトランジスタのドレインは前記モーターの一方の端子に接続され、前記第三および第四MOSトランジスタのドレインは前記モーターの他方の端子に接続され、前記第三および第四MOSトランジスタのゲートはそれぞれ第二PWM波に基づいた信号を受けるように構成されたHブリッジ型となっており、
前記出力段から出力され前記モーターの一方の端子に印可される前記第一出力信号の立ち上がりまたは立ち下がりのスルーレートが可変となっており、前記出力段から出力され前記モーターの他方の端子に印可される第二出力信号の立ち上がりまたは立ち下がりのスルーレートが可変となっており、
前記第一立ち上がりエッジに伴う前記第一出力信号の立ち上がりと、前記第一立ち下がりエッジに伴う前記第二出力信号の立ち下がりとはタイミングがずれており、前記第二立ち下がりエッジに伴う前記第一出力信号の立ち下がりと、前記第二立ち上がりエッジに伴う前記第二出力信号の立ち上がりとはタイミングがずれている請求項1に記載の半導体集積回路装置。 - 前記第一PWM波を受けて前記第一MOSトランジスタのゲートに第一駆動信号を供給する第一プリドライバと、
前記第一PWM波を受けて前記第二MOSトランジスタのゲートに第二駆動信号を供給する第二プリドライバと、
前記第二PWM波を受けて前記第三MOSトランジスタのゲートに第三駆動信号を供給する第三プリドライバと、
前記第二PWM波を受けて前記第四MOSトランジスタのゲートに第四駆動信号を供給する第四プリドライバとを有し、
前記第一プリドライバは前記第一PWM波の立ち上がりを遅延させる第一遅延回路と、前記第一遅延回路からの出力を受けて立ち下がりのスルーレートが可変である前記第一駆動信号を出力する第一駆動回路とを有し、
前記第二プリドライバは前記第一PWM波の立ち下がりを遅延させる第二遅延回路と、前記第二遅延回路からの出力を受けて立ち上がりのスルーレートが可変である前記第二駆動信号を出力する第二駆動回路とを有し、
前記第三プリドライバは前記第二PWM波の立ち上がりを遅延させる第三遅延回路と、前記第三遅延回路からの出力を受けて立ち下がりのスルーレートが可変である前記第三駆動信号を出力する第三駆動回路とを有し、
前記第四プリドライバは前記第二PWM波の立ち下がりを遅延させる第四遅延回路と、前記第四遅延回路からの出力を受けて立ち上がりのスルーレートが可変である前記第四駆動信号を出力する第四駆動回路とを有し、
前記第一および第四遅延回路の遅延時間は互いに異なり、前記第二および第三遅延回路の遅延時間は互いに異なる請求項2に記載の半導体集積回路装置。 - 前記第一駆動回路は、ソースに前記電源電圧が供給されゲートに前記第一遅延回路の出力を受けドレインに第一抵抗の一端が接続された第五MOSトランジスタと、ソースに前記接地電圧が供給されゲートに前記第一遅延回路の出力を受けドレインに前記第一抵抗の他端が接続された第六MOSトランジスタと、前記第一抵抗と、前記第一駆動信号を出力する前記第一抵抗の一端と接続された第一内部出力端子とで構成されたプリドライバ内第一ドライバと、
ソースに前記電源電圧が供給されゲートに前記第一遅延回路の出力を受けドレインに第二抵抗の一端が接続された第七MOSトランジスタと、ソースに前記接地電圧が供給されゲートに前記第一遅延回路の出力を受けドレインに前記第二抵抗の他端が接続された第八MOSトランジスタと、前記第一抵抗よりも抵抗値の低い前記第二抵抗と、前記第一駆動信号を出力する前記第二抵抗の一端と接続された第二内部出力端子とで構成されたプリドライバ内第二ドライバと
ソースに前記電源電圧が供給されゲートに前記第一遅延回路の出力を受けドレインに第三抵抗の一端が接続された第九MOSトランジスタと、ソースに前記接地電圧が供給されゲートに前記第一遅延回路の出力を受けドレインに前記第三抵抗の他端が接続された第十MOSトランジスタと、前記第二抵抗よりも抵抗値の低い前記第三抵抗と、前記第一駆動信号を出力する前記第三抵抗の一端と接続された第三内部出力端子とで構成されたプリドライバ内第三ドライバとで構成され、
前記第一内部出力端子からの前記第一駆動信号を用いるか、前記第二内部出力端子からの前記第一駆動信号を用いるか、前記第三内部出力端子からの前記第一駆動信号を用いるかを選択することにより前記第一駆動信号の立ち上がりのスルーレートが可変となる請求項3に記載の半導体集積回路装置。 - 前記第一駆動回路は、ソースに前記電源電圧が供給されゲートに前記第一遅延回路の出力を受ける第五MOSトランジスタと、ソースに前記接地電圧が供給されゲートに前記第一遅延回路の出力を受ける第六MOSトランジスタと、前記第五MOSトランジスタのドレインと前記第六MOSトランジスタのドレインとの間に直列に接続された第一抵抗、第二抵抗および第三抵抗と、前記第一抵抗と並列に接続された第一スイッチと、前記第一抵抗および前記第二抵抗と並列に接続された第二スイッチと、前記第一抵抗、前記第二抵抗、および前記第三抵抗と並列に接続された第三スイッチと、前記第五トランジスタのドレインと接続され前記第一駆動信号を出力する内部出力端子を有し、
前記第一スイッチと、前記第二スイッチ、および前記第三スイッチのどちらをオンにするのか、あるいは前記第一〜第三スイッチすべてをオフにするかを選択可能となっていることで、前記第一駆動信号の立ち上がりのスルーレートが可変となる請求項3に記載の半導体集積回路装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012233819A JP2014087162A (ja) | 2012-10-23 | 2012-10-23 | 半導体集積回路装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2012233819A JP2014087162A (ja) | 2012-10-23 | 2012-10-23 | 半導体集積回路装置 |
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ID=50789758
Family Applications (1)
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Country Status (1)
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JP (1) | JP2014087162A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2018143017A (ja) * | 2017-02-27 | 2018-09-13 | セイコーエプソン株式会社 | 駆動制御回路、半導体装置、及び、電子機器 |
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2012
- 2012-10-23 JP JP2012233819A patent/JP2014087162A/ja active Pending
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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