JP2014060698A - 電子デバイス、memsセンサ及び電子デバイスの製造方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】電子デバイス1は、基体2と、基体2との間にキャビティ4が形成され、基体2に陽極接合される蓋体3と、キャビティ4に収納される電子素子5と、蓋体3と基体2との接合面に設置される接合導電膜6と、蓋体3のキャビティ4側の表面に設置され、接合導電膜6と電気的に分離される内部導電膜7と、を備える。これにより、外部に露出する接合導電膜6が腐食し接合導電膜6に負電荷が帯電した場合でも、この負電荷は内部導電膜7に伝達されず、内部導電膜7の腐食によるガスの発生を防止する。
【選択図】図1
Description
蓋体に凹部を形成する凹部形成工程と、
前記蓋体の前記凹部が形成される側の表面に導電膜を堆積する導電膜堆積工程と、
前記凹部に前記電子素子を収納し、前記蓋体を前記基体に陽極接合する接合工程と、
前記凹部の周囲の上端面に堆積した前記導電膜と前記凹部の底面に堆積した導電膜とを電気的に分離する導電膜分離工程と、を備えることとした。
図1は本発明の第一実施形態に係る電子デバイス1の断面模式図である。電子デバイス1は、基体2と、基体2の上に接合される蓋体3と、基体2と蓋体3の間に形成されるキャビティ4に収納される電子素子5と、基体2と蓋体3との間の接合面に設置される接合導電膜6と、蓋体3のキャビティ4側の表面に設置され、接合導電膜6と電気的に分離される内部導電膜7とを備える。
図2及び図3は本発明の第二実施形態に係る電子デバイス1の製造方法を説明するための図である。図2は製造工程を表し、図3は同時に複数個の電子デバイスを製造する各工程の説明図である。同一の部分又は同一の機能を有する部分には同一の符号を付した。
図4は、本発明の第三実施形態に係る電子デバイス1の製造方法を説明するための工程図であり、上記第二実施形態の具体例である。同一の工程には同一の符号を付した。
図5は、本発明の第四実施形態に係る発振器40の上面模式図であり、上記第二又は第三実施形態において説明した製造方法により製造した電子デバイス1を組み込んでいる。図5に示すように、発振器40は、基板43、この基板上に設置した電子デバイス1、集積回路41及び電子部品42を備えている。電子デバイス1は、外部電極14に与えられる駆動信号に基づいて一定周波数の信号を生成し、集積回路41及び電子部品42は、電子デバイス1から供給される一定周波数の信号を処理して、クロック信号等の基準信号を生成する。本発明による電子デバイス1は、高信頼性でかつ小型に形成することができるので、発振器40の全体をコンパクトに構成することができる。
本発明の第五実施形態に係るMEMSセンサについて説明する。MEMSセンサは、例えば、加速度又は振動を検出する。MEMSセンサは、電子素子としてMEMSを使用し、第四実施形態と同様に上記第二又は第三実施形態において説明した製造方法により製造した電子デバイスを組み込んでいる。MEMSセンサは、基板と、この基板上に設置した電子デバイスと、信号処理回路とを備えている。電子デバイスは、加速度を検出し、検出した加速度を電気信号に変換し、電気信号を信号処理回路に送る。信号処理回路は、電気信号を増幅、調整など信号処理して出力する。本発明の電子デバイスは、高信頼性でかつ小型に形成することができるので、MEMSセンサの全体をコンパクトに構成することができる。
2 基体
3 蓋体
4 キャビティ
5 電子素子
6 接合導電膜
7 内部導電膜
8 凹部
10 水晶振動子
11 配線
12 ワイヤー
13 貫通電極
14 外部電極
15 導電性接着剤
16 導電膜
TS 上端面
BS 底面
SS 内側面
Claims (8)
- 基体と、
前記基体との間にキャビティが形成され、前記基体に陽極接合される蓋体と、
前記キャビティに収納される電子素子と、
前記蓋体と前記基体との接合面に設置される接合導電膜と、
前記蓋体の前記キャビティ側の表面に設置され、前記接合導電膜と電気的に分離される内部導電膜と、を備える電子デバイス。 - 前記接合導電膜と前記内部導電膜とは組成が同一である請求項1に記載の電子デバイス。
- 前記蓋体は中央に凹部を有し、
前記凹部の周囲の上端面に前記接合導電膜が形成され、
前記凹部の底面に前記内部導電膜が形成される請求項1又は2に記載の電子デバイス。 - 前記接合導電膜はアルミニウムからなる請求項1〜3のいずれか一項に記載の電子デバイス。
- 前記電子素子はMEMSである請求項1〜4のいずれか一項に記載の電子デバイス。
- 請求項1に記載の電子デバイスと、
前記電子デバイスから送られる電気信号を信号処理する信号処理回路と、を備えるMEMSセンサ。 - 基体に電子素子を実装する実装工程と、
蓋体に凹部を形成する凹部形成工程と、
前記蓋体の前記凹部が形成される側の表面に導電膜を堆積する導電膜堆積工程と、
前記凹部に前記電子素子を収納し、前記蓋体を前記基体に陽極接合する接合工程と、
前記凹部の周囲の上端面に堆積した前記導電膜と前記凹部の底面に堆積した導電膜とを電気的に分離する導電膜分離工程と、を備える電子デバイスの製造方法。 - 前記接合工程の前に前記導電膜分離工程を行う請求項7に記載の電子デバイスの製造方法。
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