JP2014060412A - 半導体製造装置 - Google Patents
半導体製造装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2014060412A JP2014060412A JP2013222380A JP2013222380A JP2014060412A JP 2014060412 A JP2014060412 A JP 2014060412A JP 2013222380 A JP2013222380 A JP 2013222380A JP 2013222380 A JP2013222380 A JP 2013222380A JP 2014060412 A JP2014060412 A JP 2014060412A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- workstation
- chamber
- substrate
- transfer
- semiconductor manufacturing
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67155—Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations
- H01L21/67196—Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations characterized by the construction of the transfer chamber
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67155—Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations
- H01L21/67184—Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations characterized by the presence of more than one transfer chamber
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/677—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
- H01L21/67703—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations between different workstations
- H01L21/67715—Changing the direction of the conveying path
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S414/00—Material or article handling
- Y10S414/135—Associated with semiconductor wafer handling
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S414/00—Material or article handling
- Y10S414/135—Associated with semiconductor wafer handling
- Y10S414/139—Associated with semiconductor wafer handling including wafer charging or discharging means for vacuum chamber
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
Abstract
【解決手段】ブリッジングチャンバは隣接する基板処理ワークステーションシステムの間に形成され、隣接する基板処理ワークステーションシステムに形成されたポートにより繋がる。搬送機構はブリッジングチャンバ内へ及びブリッジングチャンバ外へ基板を動かすのに使用され、1次搬送システムを迂回する。
【選択図】図1
Description
Claims (11)
- 1次基板ハンドリングシステムによって接続される第1ワークステーションシステムと第2ワークステーションシステムとを少なくとも有する半導体製造装置であって、
前記第1ワークステーション及び第2ワークステーションシステムは2次搬送システムにより接続され、前記2次搬送システムは少なくとも前記第1及び第2ワークステーションシステムと通じるブリッジングチャンバを含み、かつ少なくとも1つの収容されていない基板を通過させるように形成され、
前記1次基板ハンドリングシステムはカセット内の基板を搬送するように構成された自動マテリアルハンドリングシステムであり、前記1次基板ハンドリングシステムは、前記第1ワークステーションシステムと前記第2ワークステーションシステムとの間において基板を搬送する1次経路である1次搬送経路を形成し、前記ブリッジングチャンバは前記1次基板ハンドリングシステムに繋げられ、前記1次基板ハンドリングシステムに対するバイパスを形成し、
前記2次搬送システムにはコントローラが接続され、前記コントローラは前記1次搬送経路が使用できない場合に前記収容されていない基板を搬送するための前記ブリッジングチャンバを経由するバイパス搬送経路を形成するように構成されていることを特徴とする半導体製造装置。 - 前記第1ワークステーションシステム内の少なくとも1つの基板を搬送する前記第1ワークステーションシステムに形成された第1搬送機構と、
前記第2ワークステーション内の少なくとも1つの基板を搬送する前記第2ワークステーションシステムに形成された第2搬送機構と、を含み、
前記第1搬送機構は前記第1ワークステーションシステムから前記ブリッジングチャンバへ前記少なくとも1つの基板を移送するように形成され、前記第2搬送機構は前記ブリッジングチャンバから前記第2ワークステーションシステムへ前記少なくとも1つの基板を移送するように形成されていることを特徴とする請求項1に記載の半導体製造装置。 - 前記ブリッジングチャンバは前記ブリッジングチャンバにおいて前記少なくとも1つの基板の特性を測定する計測機器を含むことを特徴とする請求項1に記載の半導体製造装置。
- 前記ブリッジングチャンバは所定の位置において前記少なくとも1つの基板を調整するアライメント装置を含むことを特徴とする請求項1に記載の半導体製造装置。
- 前記ブリッジングチャンバは、前記ブリッジングチャンバを前記第1及び第2ワークステーションシステムに繋ぐ収容ポート及び分配ポートを開閉し、所定のサイクルに従い前記ブリッジングチャンバ内の雰囲気を隔離するよう機能するバルブを含むことを特徴とする請求項1に記載の半導体製造装置。
- 前記ブリッジングチャンバは、前記ブリッジングチャンバの雰囲気を制御する雰囲気制御システムを含み、前記第1ワークステーションシステムと前記第2ワークステーションシステムとの間に移送ロック部を形成することを特徴とする請求項1に記載の半導体製造装置。
- 前記第1搬送機構は前記第1ワークステーションシステムのフロントエンドローディングシステムの一部を形成することを特徴とする請求項2に記載の半導体製造装置。
- 前記第2搬送機構は前記第2ワークステーションシステムのフロントエンドローディングシステムの一部を形成することを特徴とする請求項2に記載の半導体製造装置。
- 前記第1ワークステーションシステムは、共通の搬送チャンバと通じる多数の処理チャンバを有するバッチ処理システムであり、前記第1搬送機構は前記共通の搬送チャンバに収容された搬送ロボットを含むことを特徴とする請求項2に記載の半導体製造装置。
- 前記第2ワークステーションシステムは、共通の搬送チャンバと通じる多数の処理チャンバを有するバッチ処理システムであり、前記第2搬送機構は前記共通の搬送チャンバに収容された搬送ロボットを含むことを特徴とする請求項2に記載の半導体製造装置。
- 少なくとも前記第1及び第2ワークステーションシステムは、共通の搬送チャンバと通じる多数の処理チャンバを有するバッチ処理システムであり、前記ブリッジングチャンバは前記第1ワークステーションシステムの前記搬送チャンバに形成された搬出ポートに接続される収容ポートを有しており、前記第2ワークステーションシステムの前記搬送チャンバに形成された搬入ポートに接続された分配ポートを有することを特徴とする請求項1に記載の半導体製造装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US11/093,480 US9099506B2 (en) | 2005-03-30 | 2005-03-30 | Transfer chamber between workstations |
US11/093,480 | 2005-03-30 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008504312A Division JP5751690B2 (ja) | 2005-03-30 | 2006-03-29 | 半導体製造装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014060412A true JP2014060412A (ja) | 2014-04-03 |
Family
ID=37054076
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008504312A Active JP5751690B2 (ja) | 2005-03-30 | 2006-03-29 | 半導体製造装置 |
JP2013222380A Pending JP2014060412A (ja) | 2005-03-30 | 2013-10-25 | 半導体製造装置 |
Family Applications Before (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008504312A Active JP5751690B2 (ja) | 2005-03-30 | 2006-03-29 | 半導体製造装置 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9099506B2 (ja) |
JP (2) | JP5751690B2 (ja) |
KR (2) | KR101567917B1 (ja) |
CN (1) | CN101189713B (ja) |
TW (1) | TWI395255B (ja) |
WO (1) | WO2006105195A2 (ja) |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8531678B2 (en) * | 1999-07-09 | 2013-09-10 | Nova Measuring Instruments, Ltd. | Method and system for measuring patterned structures |
US8545165B2 (en) | 2005-03-30 | 2013-10-01 | Brooks Automation, Inc. | High speed substrate aligner apparatus |
US7891936B2 (en) | 2005-03-30 | 2011-02-22 | Brooks Automation, Inc. | High speed substrate aligner apparatus |
US20080019806A1 (en) * | 2006-07-24 | 2008-01-24 | Nyi Oo Myo | Small footprint modular processing system |
DE102008062080A1 (de) * | 2008-12-12 | 2010-06-17 | Karlsruher Institut für Technologie | Vorrichtung zum Transport atmosphärenempfindlicher Proben und Verwendung derselben |
TW201123340A (en) * | 2009-11-12 | 2011-07-01 | Hitachi High Tech Corp | Vacuum processing system and vacuum processing method of semiconductor processing substrate |
US8974601B2 (en) | 2011-07-29 | 2015-03-10 | Semes Co., Ltd. | Apparatuses, systems and methods for treating substrate |
JP5923288B2 (ja) * | 2011-12-01 | 2016-05-24 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 真空処理装置及び真空処理装置の運転方法 |
WO2019182913A1 (en) * | 2018-03-20 | 2019-09-26 | Tokyo Electron Limited | Self-aware and correcting heterogenous platform incorporating integrated semiconductor processing modules and method for using same |
EP3768081B1 (en) * | 2018-03-23 | 2024-07-24 | Azenta US, Inc. | Cryogenic storage system and method of transporting a sample in a cryogenic storage system |
US10886155B2 (en) * | 2019-01-16 | 2021-01-05 | Applied Materials, Inc. | Optical stack deposition and on-board metrology |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06151552A (ja) * | 1992-11-10 | 1994-05-31 | Hitachi Ltd | 半導体製造装置およびそれを用いた半導体製造方法 |
JPH08111449A (ja) * | 1994-08-19 | 1996-04-30 | Tokyo Electron Ltd | 処理装置 |
JPH11307614A (ja) * | 1998-04-21 | 1999-11-05 | Samsung Electronics Co Ltd | 半導体素子製造用エッチング設備のマルチチャンバーシステム |
JP2000150618A (ja) * | 1998-11-17 | 2000-05-30 | Tokyo Electron Ltd | 真空処理システム |
JP2000312463A (ja) * | 1999-04-27 | 2000-11-07 | Shinko Electric Co Ltd | リニアモータのレール接続構造 |
JP2001053131A (ja) * | 1998-12-25 | 2001-02-23 | Tokyo Electron Ltd | 真空処理装置 |
JP2001519598A (ja) * | 1997-10-08 | 2001-10-23 | エーケーティー株式会社 | モジュラ基板処理システム |
Family Cites Families (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5310410A (en) * | 1990-04-06 | 1994-05-10 | Sputtered Films, Inc. | Method for processing semi-conductor wafers in a multiple vacuum and non-vacuum chamber apparatus |
JPH04298059A (ja) | 1991-03-27 | 1992-10-21 | Hitachi Ltd | 真空処理装置 |
KR970011065B1 (ko) | 1992-12-21 | 1997-07-05 | 다이닛뽕 스크린 세이조오 가부시키가이샤 | 기판처리장치와 기판처리장치에 있어서 기판교환장치 및 기판교환방법 |
TW295677B (ja) * | 1994-08-19 | 1997-01-11 | Tokyo Electron Co Ltd | |
JPH08151552A (ja) | 1994-11-29 | 1996-06-11 | Japan Synthetic Rubber Co Ltd | ハードコートフィルム |
JP2981844B2 (ja) | 1996-05-16 | 1999-11-22 | 住友重機械工業株式会社 | 薄膜製造装置 |
US6280134B1 (en) * | 1997-06-17 | 2001-08-28 | Applied Materials, Inc. | Apparatus and method for automated cassette handling |
US6038490A (en) * | 1998-01-29 | 2000-03-14 | International Business Machines Corporation | Automated data storage library dual picker interference avoidance |
TW442891B (en) * | 1998-11-17 | 2001-06-23 | Tokyo Electron Ltd | Vacuum processing system |
US6662076B1 (en) * | 1999-02-10 | 2003-12-09 | Advanced Micro Devices, Inc. | Management of move requests from a factory system to an automated material handling system |
TW504941B (en) * | 1999-07-23 | 2002-10-01 | Semiconductor Energy Lab | Method of fabricating an EL display device, and apparatus for forming a thin film |
JP2001315960A (ja) | 2000-05-09 | 2001-11-13 | Meidensha Corp | 基板搬送装置 |
JP4021125B2 (ja) * | 2000-06-02 | 2007-12-12 | 東京エレクトロン株式会社 | ウェハ移載装置の装置ユニット接続時に用いられるレールの真直性保持装置 |
US6852194B2 (en) | 2001-05-21 | 2005-02-08 | Tokyo Electron Limited | Processing apparatus, transferring apparatus and transferring method |
US6779962B2 (en) | 2002-03-22 | 2004-08-24 | Brooks Automation, Inc. | Device for handling flat panels in a vacuum |
AU2003259203A1 (en) | 2002-07-22 | 2004-02-09 | Brooks Automation, Inc. | Substrate processing apparatus |
US6968257B2 (en) * | 2003-11-21 | 2005-11-22 | International Business Machines Corporation | Continued execution of accessor commands on a restricted multiple accessor path of an automated data storage library |
US8085676B2 (en) * | 2006-06-29 | 2011-12-27 | Nortel Networks Limited | Method and system for looping back traffic in QIQ ethernet rings and 1:1 protected PBT trunks |
-
2005
- 2005-03-30 US US11/093,480 patent/US9099506B2/en active Active
-
2006
- 2006-03-29 JP JP2008504312A patent/JP5751690B2/ja active Active
- 2006-03-29 KR KR1020147033479A patent/KR101567917B1/ko active IP Right Grant
- 2006-03-29 KR KR1020077024974A patent/KR20070119057A/ko not_active Application Discontinuation
- 2006-03-29 CN CN200680019260.7A patent/CN101189713B/zh active Active
- 2006-03-29 WO PCT/US2006/011461 patent/WO2006105195A2/en active Search and Examination
- 2006-03-30 TW TW95111131A patent/TWI395255B/zh active
-
2013
- 2013-10-25 JP JP2013222380A patent/JP2014060412A/ja active Pending
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06151552A (ja) * | 1992-11-10 | 1994-05-31 | Hitachi Ltd | 半導体製造装置およびそれを用いた半導体製造方法 |
JPH08111449A (ja) * | 1994-08-19 | 1996-04-30 | Tokyo Electron Ltd | 処理装置 |
JP2001519598A (ja) * | 1997-10-08 | 2001-10-23 | エーケーティー株式会社 | モジュラ基板処理システム |
JPH11307614A (ja) * | 1998-04-21 | 1999-11-05 | Samsung Electronics Co Ltd | 半導体素子製造用エッチング設備のマルチチャンバーシステム |
JP2000150618A (ja) * | 1998-11-17 | 2000-05-30 | Tokyo Electron Ltd | 真空処理システム |
JP2001053131A (ja) * | 1998-12-25 | 2001-02-23 | Tokyo Electron Ltd | 真空処理装置 |
JP2000312463A (ja) * | 1999-04-27 | 2000-11-07 | Shinko Electric Co Ltd | リニアモータのレール接続構造 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20060245847A1 (en) | 2006-11-02 |
WO2006105195A2 (en) | 2006-10-05 |
CN101189713B (zh) | 2012-03-28 |
TWI395255B (zh) | 2013-05-01 |
CN101189713A (zh) | 2008-05-28 |
JP5751690B2 (ja) | 2015-07-22 |
KR20070119057A (ko) | 2007-12-18 |
TW200644050A (en) | 2006-12-16 |
US9099506B2 (en) | 2015-08-04 |
KR20150002888A (ko) | 2015-01-07 |
JP2008535262A (ja) | 2008-08-28 |
KR101567917B1 (ko) | 2015-11-10 |
WO2006105195A3 (en) | 2007-11-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5751690B2 (ja) | 半導体製造装置 | |
JP7263639B2 (ja) | 基板搬送部 | |
US6270306B1 (en) | Wafer aligner in center of front end frame of vacuum system | |
US8292563B2 (en) | Nonproductive wafer buffer module for substrate processing apparatus | |
US8812150B2 (en) | Semiconductor manufacturing process modules | |
KR20180030171A (ko) | 온 더 플라이 자동 웨이퍼 센터링 방법 및 장치 | |
KR102512974B1 (ko) | 온-더-플라이 기판 센터링을 갖는 처리 장치 | |
US6848882B2 (en) | Apparatus and method for positioning a cassette pod onto a loadport by an overhead hoist transport system | |
US11430679B2 (en) | Semiconductor manufacturing apparatus | |
US6364592B1 (en) | Small footprint carrier front end loader | |
JP2688555B2 (ja) | マルチチャンバシステム | |
US9786535B2 (en) | Wafer transport system and method for operating the same | |
JP7110483B2 (ja) | 基板処理装置、半導体装置の製造方法及びプログラム | |
JP2018170347A (ja) | ウェハー搬送装置及びウェハー搬送方法 | |
KR101926414B1 (ko) | 로드포트모듈 직렬/무선 통신 무선 센싱 반도체 클러스터 툴 시스템 | |
US20080181758A1 (en) | Microfeature workpiece transfer devices with rotational orientation sensors, and associated systems and methods | |
KR101184596B1 (ko) | 기판 이송 장치 및 그 동작 방법 | |
KR20090072189A (ko) | 웨이퍼 이송 장치 | |
US20240153787A1 (en) | Control of environment within processing modules | |
JP3469230B2 (ja) | 真空処理装置 | |
KR20060085988A (ko) | 웨이퍼 가공 장치 | |
US20030215311A1 (en) | Mobile adjustment device for standard mechanical interface (SMIF) arm | |
US9704714B2 (en) | Method for controlling surface charge on wafer surface in semiconductor fabrication | |
TW202224882A (zh) | 偵測裝置、處理系統及搬運方法 | |
KR20210002929A (ko) | 로드락 챔버 및 이를 구비하는 기판 처리 시스템 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20140805 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20141022 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20141027 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20141202 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20141205 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20141224 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20150205 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20150728 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20160105 |