JPH04298059A - 真空処理装置 - Google Patents

真空処理装置

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JPH04298059A
JPH04298059A JP6283891A JP6283891A JPH04298059A JP H04298059 A JPH04298059 A JP H04298059A JP 6283891 A JP6283891 A JP 6283891A JP 6283891 A JP6283891 A JP 6283891A JP H04298059 A JPH04298059 A JP H04298059A
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JP
Japan
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substrate
cassette
substrates
processed
cassettes
Prior art date
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Pending
Application number
JP6283891A
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English (en)
Inventor
Shigekazu Kato
加藤 重和
Naoyuki Tamura
直行 田村
Koji Nishihata
西畑 廣治
Atsushi Ito
温司 伊藤
Tsunehiko Tsubone
恒彦 坪根
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、複数の被処理基板を収
納した基板カセットを供給し、処理済み基板を基板カセ
ットに収納して回収する方式の真空処理装置に関する。
【0002】
【従来の技術】ドライエッチング装置、CVD装置ある
いはスパッタリング装置などの真空処理装置においては
、定められた複数枚の被処理基板を一つの単位(一般に
ロットとよばれる)として基板カセットに収納して装置
に投入し、処理済みの基板も同一の単位毎に基板カセッ
トに収容して回収することにより、生産の効率化を図る
のが一般的な運転方法である。
【0003】従来の真空処理装置の例としては、実開昭
62ー45825号公報に開示された装置などがあげら
れる。前記公報に開示された装置においては、複数枚の
被処理基板を基板カセットに収納して導入室にセットし
、導入室内を真空排気したのちに導入室と基板処理室の
間の隔離弁を開放して導入室と基板処理室とを連通させ
る。続いてカセット駆動装置と基板搬送装置とを連動さ
せて、基板カセットの最下段に収容された未処理基板か
ら順次基板を基板処理室に搬入し、隔離弁を閉じて基板
に所望の処理を行う。処理が終了すると基板処理室と取
出し室との間の隔離弁が開放され、カセット駆動装置と
基板搬送装置とを連動させて処理済みの基板を、取出し
室にセットされた空の基板カセットの最上段から順次収
納し、全ての基板を収納した後に隔離弁を閉じ、取出し
室を大気圧に復帰させて処理済み基板を収納した基板カ
セットを回収する。
【0004】また、従来の真空処理装置の別の一例を示
すものとして、特開昭60ー74531号公報に開示さ
れた装置がある。この場合には、基板カセットは、導入
側、取出し側ともに大気中にセットされる。導入室を大
気圧にして隔離弁を開放し、カセット駆動装置と基板搬
送装置とを連動させて、基板カセットの最下段に収容さ
れた未処理基板を導入室に搬入する。次に、導入室内を
真空排気したのちに導入室と基板処理室の間の隔離弁を
開放し、導入室と基板処理室とを連通させて基処理室に
基板を搬入し、隔離弁を閉じて基板に所望の処理を行う
。この処理を行う間に、導入室は再び大気圧に復帰され
、導入側基板カセットの下から2段目に収納された未処
理基板が導入室に搬入される。1枚目の基板の処理が完
了すると、1枚目の基板は取出し室へ、2枚目の基板は
基板処理室へと順次送られ、2枚目の基板に処理が行わ
れる間に1枚目の基板は大気圧に戻された取出し室から
取出し側基板カセットの最上段へと搬送、収納される。 以下同様にして1枚ずつ処理を行い、最後の基板が取出
し側基板カセットに収納された後基板カセットを回収す
る。
【0005】また、半導体製造工程におけるウェーハの
搬送処理に際し、ウェーハやウェーハカセットに付着す
るゴミなどにより汚染が生じるのを防ぐようにした搬送
装置として、特開昭63ー273331号公報に開示さ
れた装置がある。本例においては、ウェーハを処理する
際にカセット内からウェーハを搬送したり、カセット内
にウェーハを収納などする場合に、カセットを設置する
ステージを固定し、かつ搬送アーム側を上下及び回転、
直進自在になすとともに、その駆動部をカバー内部に収
納することにより、目的を達成している。
【0006】また、特開昭63ー252439号公報に
は、被処理基板を収納した2個の基板カセットが大気中
に設置され、真空処理装置側の搬送手段との受渡しの取
り合い位置にカセットをスライドさせることにより、2
個の基板カセットに単一の搬送受渡し位置でアクセス可
能としたものが開示してある。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】近年、半導体素子をは
じめとする電子デバイスに対する微細化、高集積化、高
密度化の要求はますます高まる一方であり、歩留まり向
上を阻害するパーティクル発生の最大要因である人間を
、生産環境から排除する動きが強まりつつある。こうし
た生産現場では、従来人間に依存していた各装置間、生
産ライン間の製品の移動や、装置への未処理基板の投入
/回収作業などを搬送ロボットによって行う方式が採用
されており、生産装置側にも搬送ロボットとのインター
フェイスを備えることが求められている。また、上記の
ようないわゆる生産ラインの自動化に伴って、生産管理
システムも自動化され、ロボットが搬送する製品単位毎
に生産管理情報を付与し、各工程では付与された情報を
もとに処理を行い、記録を管理するといったシステムが
用いられており、ロボットが搬送する製品単位も標準的
には、1カセットが1単位であるが、2カセットで1単
位、あるいは逆に1カセット中に複数の製品単位が混在
するといった場合も有り、ユーザーの使い方に応じて、
フレキシブルに対応できる生産装置が求められている。
【0008】以上のような環境の変化を踏まえて前記従
来技術を見ると、実開昭62ー45825号公報に開示
された装置においては、カセットが真空室中に設置され
るため、搬送ロボットとの取り合いが複雑になり、また
、真空中でカセットを上下に移動させるため装置の構造
も複雑化するという問題があり、とくに製品単位が複数
のカセットで構成されているような場合には、これに対
応してロード/アンロード両側に複数のカセット移動機
構を設ける必要が有り、構造の複雑化、コストアップの
問題はさらに顕著なものとなる。また、カセット内に収
納された基板は、未処理/処理済みにかかわらず、一枚
の基板を出し入れする毎に全基板が移動する必要があり
、ゴミの発生、付着いう問題が避けられないものとなっ
ている。
【0009】上記第2の従来例においては、カセットが
大気中に設置されるため、搬送ロボットとの取り合いの
問題は解消されるが、その他の点については、前記第一
の例と同様の問題点が残されている。
【0010】前記特開昭63ー273331号公報に開
示された装置は、上記の問題点に鑑みて、カセットを固
定化することにより、装置の簡略化、ゴミの発生の問題
の解決を図ったものであるが、これを例えば前記第2の
従来例の様な装置と組み合わせて装置を構成した場合に
おいてもなお、下記のような問題が有った。すなわち、
前記の従来技術においては、導入側にセットする、未処
理基板を収納した基板カセットと、取出し側にセットす
る空の基板カセットが、常に一対で投入、回収される必
要があり、また、処理済みの基板は、導入側基板カセッ
トに収納されていた時とは逆の順番で取出し側の基板カ
セットに収納される様になされている。このため、一般
的に用いられている各カセットを単位としてカセット毎
に生産情報を付与する方式に対応するには、一旦回収し
た取出し側の基板カセットから、空になった導入側の基
板カセットに再度処理済みの基板を移し換える必要があ
り、工程数が増えるのみならず、ゴミの発生による歩留
まりの低下などの問題が生じていた。また、装置稼働効
率の面からも、導入側基板カセットから最後に投入され
た基板が、全て取出し側基板カセットに収納されて、次
の空カセットが設置されるまでは新たな投入を待つか、
あるいは新たに投入した基板の処理進行を中断して待つ
必要が生じるという不都合が生じていた。
【0011】また、特開昭63−252439号公報に
開示された装置においては、被処理基板を収納した2個
の基板カセットをそれぞれエレベータに搭載して大気中
に設置し、搬出、搬入両方の機能を兼ね備えた真空処理
装置側の搬送手段との受渡しの取り合い位置に、前記基
板カセットを交互にスライドさせる機能を設けることに
より、処理済みの基板を元のカセットに収納可能にする
と共に、基板カセットの交換待ち時間が生じないように
したものであるが、基板カセットの供給回収の自動化を
図る場合には、処理済み基板を収納したカセットを回収
し、未処理基板を収納したカセットを供給すべきステー
ジの位置が、前記真空装置側の搬送手段との受渡し位置
に対して一回毎に左右入れ替わるため、カセットの供給
回収装置側が複雑化するという問題がある。
【0012】本発明の目的は、生産ラインの自動化への
対応が容易で、かつゴミの発生などによる製品の汚染を
低減でき、高い生産効率と高い製品歩留まりを実現する
真空処理装置を提供することにある。
【0013】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記の目的を
達成するために、大気圧雰囲気中に、複数の被処理基板
を収納した基板カセットを略水平の同一平面上に複数個
設置し、搬送手段を基板カセットとロードロック室との
間に配置するとともに、基板カセット位置を同一平面内
において搬送手段に対して移動可能な構成とすることに
より、該基板カセットに収納された基板の処理開始から
処理終了に至る間は前記基板カセットの位置及び姿勢を
換えることなく未処理基板を搬出し、処理済み基板を未
処理時に収納されていた元の位置に搬入し、該基板カセ
ットに収納された基板の処理開始前または処理終了後に
のみ該基板カセットを移動させる様にした。
【0014】
【作用】前記のように構成し、基板カセットに収納され
た基板の処理開始から処理終了に至る間は、基板カセッ
トの位置及び姿勢を換えることなく未処理基板を搬出し
、処理済み基板を未処理時に収納されていた元の位置に
搬入し、基板カセットに収納された基板の処理開始前ま
たは処理終了後にのみ該基板カセットを移動させる様に
なすことにより、生産ラインの自動化への対応が容易で
、かつゴミの発生などによる製品の汚染が低減でき、高
い生産効率と高い製品歩留まりを実現できる。
【0015】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図1および図2に
より説明する。図1は、本発明の真空処理装置である、
例えば、半導体ウェーハをドライエッチング処理する装
置の平面図であり、図2はその立面図である。装置は、
未処理のウェーハを収納した状態で装置に処理対象を供
給し、かつ処理済みのウェーハを再度元の位置に収納し
て回収する複数(通常25枚)のウェーハ10を収納で
きる複数のカセット1a,1b、1cと、該カセット1
a,1b、1cを載置し装置への導入/払出しの位置を
決定するために、該カセット1a,1b、1cの姿勢を
変えることなく略水平の平面を保ったまま移動するカセ
ット台2と、図示しない真空排気装置およびガス導入装
置を装備し、未処理のウェーハを真空雰囲気に導入する
ためのロードロック室3と、同じく処理済みのウェーハ
を大気中に取りだすためのアンロードロック室4と、搬
送手段を備えた搬送室5と、ウェーハにエッチングを施
すための放電部6およびウェーハステージ7と、さらに
図示しない真空排気装置およびガス導入装置を備えたエ
ッチング処理室8と、それぞれ気密に分離可能な隔離弁
9a〜9dと、ロードロック室3およびアンロードロッ
ク室4とカセット1a,1b,1cとの間に配置され、
ロードロック室3またはアンロードロック室4とカセッ
ト1a,1b,1cとの間でウェーハを授受するための
X,Y,Z及びθ軸を有するロボットを備えた搬送装置
20とから構成されている。
【0016】装置の動作としては、まず、未処理のウェ
ーハを収納したカセット1aがストッカから装置へと搬
送路30上を走行するロボット(図示せず)により供給
され、カセット台2に載置される。載置する位置は21
であるが、正確な位置調整や位置決め機構は必要としな
い。続いてカセット台2を一定量だけ移動させた後、カ
セット1bを、さらにカセット台2を一定量だけ移動さ
せた後にカセット1a,1b,1cを供給する。この時
カセット台2に対するカセットの供給位置21は一定で
あるため、セットの供給動作を単純化することが可能で
あり、生産ラインの自動化への対応が容易である。装置
は、カセットに付与された生産情報を自ら認識するか、
上位の制御装置から送られる情報に基づくか、あるいは
オペレータの入力する命令によるか、いずれかの方法に
よりウェーハに処理を行うことができる。
【0017】続いて、カセット台2を移動させてカセッ
ト1aを予め定められたロードロック室3との搬送受渡
し位置に送り停止させる。カセット1aに収納された未
処理のウェーハ10を搬送装置20により抜き取り、搬
送装置20に対してカセット1aとは反対側に配置され
たロードロック室3へ隔離弁9aを通して搬入する。こ
のときウェーハ10は、カセット1a内のいずれの場所
に収納されたものでも良い。ロードロック室3は、隔離
弁9aを閉じた後、排気装置により所定の圧力まで真空
排気され、次いで隔離弁9bが開放されてウェーハ10
は搬送室5を経てエッチング室8aへ搬送され、試料台
7上に載置される。エッチング室8aに搬入されたウェ
ーハ10は、所定の条件により第一のエッチング処理を
施される。この間に、ロードロック室3は隔離弁9a,
9bを閉じた状態で、ガス導入装置により大気圧に復帰
され、開放された隔離弁9aから1枚目のウェーハと同
様に2枚目のウェーハが搬送装置20によって搬入され
、再び排気装置により所定の圧力まで真空排気される。 各ウェーハは、順次エッチング室8a〜8dの全てある
いはいずれかで所定の処理を施された後、隔離弁9c、
アンロードロック室4、隔離弁9dを経て搬送装置20
によって大気中に取りだされ、当初収納されていたカセ
ット1a内の元の位置へ戻される。
【0018】以上の動作を繰り返して、カセット1aに
収納されていた未処理ウェーハの処理が完了し、元の位
置に再収納し終わるとカセット1aは回収可能となる。 そこでカセット台2を移動させて次のカセット1bを予
め定められたロードロック室3との搬送受渡し位置に送
り停止させる。カセット1aは回収位置22に移動し、
回収される迄待機する。以上のような稼働方法によれば
、未処理のウェーハを収納したカセットを供給位置21
に供給し、処理済みのウェーハを収納したカセットを回
収位置22から回収するという極めて単純な動作を行う
ことで生産ラインの自動化への対応が可能となる。
【0019】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
ロボットによる基板カセットの投入/回収が容易に行え
、且つ連続的に処理が可能なため生産ラインの自動化へ
の対応が容易にできるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例の真空処理装置を示す平面図
である。
【図2】図1を1−1から見た立面図である。
【符号の説明】
1a,1b,1c…基板カセット、2…カセット台、3
…ロードロック室、4…アンロードロック室、5…搬送
室、6…放電部、7…試料台、8…エッチング室、9a
〜9d…隔離弁、10…ウェーハ、20…搬送装置、2
1…供給位置、22…回収位置、30…搬送路。

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】大気圧中に設置され複数の被処理基板を収
    納した基板カセットと、被処理基板に真空中で処理を行
    うための少なくとも一つの真空処理室と、前記基板カセ
    ットと前記真空処理室との間で被処理基板を真空雰囲気
    に搬入・搬出する少なくとも一つのロードロック室と、
    該ロードロック室と前記基板カセットとの間で被処理基
    板を搬送する基板搬送手段とを具備し、前記基板カセッ
    トは略水平の同一平面上に複数個設置されるとともに同
    一平面内において前記搬送手段に対する位置を移動可能
    であり、前記基板カセットに収納された基板の搬出開始
    から処理後の搬入終了に至る間は、前記基板カセットの
    位置及び姿勢を換えることなく未処理基板を搬出すると
    ともに処理済み基板を未処理時に収納されていた元の位
    置に搬入可能としたことを特徴とする真空処理装置。
  2. 【請求項2】前記基板カセットは同一直線上に配置され
    、該直線上を移動する請求項1記載の真空処理装置。
  3. 【請求項3】前記基板カセットの移動は一方向送りであ
    る請求項2記載の真空処理装置。
  4. 【請求項4】前記基板カセットの移動手段は無限軌道で
    ある請求項1又は請求項2記載の真空処理装置。
JP6283891A 1991-03-27 1991-03-27 真空処理装置 Pending JPH04298059A (ja)

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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000150618A (ja) * 1998-11-17 2000-05-30 Tokyo Electron Ltd 真空処理システム
WO2002005314A2 (en) * 2000-07-07 2002-01-17 Semitool, Inc. Apparatus for processing a microelectronic workpiece including a workpiece cassette inventory assembly
KR100490702B1 (ko) * 2002-11-21 2005-05-19 주성엔지니어링(주) 다중 클러스터 장치
US7347656B2 (en) 1995-07-19 2008-03-25 Hitachi, Ltd. Vacuum processing apparatus and semiconductor manufacturing line using the same
JP2008535262A (ja) * 2005-03-30 2008-08-28 ブルックス オートメーション インコーポレイテッド ワークステーション間の搬送チャンバ
JP2009072909A (ja) * 1996-03-22 2009-04-09 Genmark Automation Inc ロボットアーム構造をコントロールする方法、ロボットアーム機構、ロボットアーム構造、センサアレイ及び製品製造方法

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7347656B2 (en) 1995-07-19 2008-03-25 Hitachi, Ltd. Vacuum processing apparatus and semiconductor manufacturing line using the same
JP2009072909A (ja) * 1996-03-22 2009-04-09 Genmark Automation Inc ロボットアーム構造をコントロールする方法、ロボットアーム機構、ロボットアーム構造、センサアレイ及び製品製造方法
JP2012223880A (ja) * 1996-03-22 2012-11-15 Genmark Automation Inc ロボットアーム構造をコントロールする方法、ロボットアーム機構、ロボットアーム構造、ワークピース処理システム及び製品製造方法
US6471460B1 (en) * 1996-07-15 2002-10-29 Semitool, Inc. Apparatus for processing a microelectronic workpiece including a workpiece cassette inventory assembly
JP2000150618A (ja) * 1998-11-17 2000-05-30 Tokyo Electron Ltd 真空処理システム
WO2002005314A2 (en) * 2000-07-07 2002-01-17 Semitool, Inc. Apparatus for processing a microelectronic workpiece including a workpiece cassette inventory assembly
WO2002005314A3 (en) * 2000-07-07 2002-04-18 Semitool Inc Apparatus for processing a microelectronic workpiece including a workpiece cassette inventory assembly
KR100490702B1 (ko) * 2002-11-21 2005-05-19 주성엔지니어링(주) 다중 클러스터 장치
JP2008535262A (ja) * 2005-03-30 2008-08-28 ブルックス オートメーション インコーポレイテッド ワークステーション間の搬送チャンバ
US9099506B2 (en) 2005-03-30 2015-08-04 Brooks Automation, Inc. Transfer chamber between workstations

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