JPH0831906A - 基板処理システム - Google Patents
基板処理システムInfo
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- JPH0831906A JPH0831906A JP18073694A JP18073694A JPH0831906A JP H0831906 A JPH0831906 A JP H0831906A JP 18073694 A JP18073694 A JP 18073694A JP 18073694 A JP18073694 A JP 18073694A JP H0831906 A JPH0831906 A JP H0831906A
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- chamber
- vacuum
- process chamber
- vacuum chamber
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 プロセスチャンバ単独の入れ替えが容易であ
るとともに、基板を大気中にさらすことなく装置間で搬
送でき、しかも、基板処理におけるスループットの向上
を可能とした基板処理システムを提供する。 【構成】 所定の雰囲気下で基板3の表面に所定の処理
を施す複数のプロセスチャンバ1と、各プロセスチャン
バ1に基板1を搬送する基板搬送車2とによって基板処
理システムを構成した。各プロセスチャンバ1には基板
3を取り込むためのゲートバルブ4を設けた。これに対
して基板搬送車2には、複数のプロセスチャンバ1間を
移動可能な自走台車5と、複数枚の基板3を収納可能な
真空チャンバ6と、プロセスチャンバ1のゲートバルブ
4に連結可能なゲートバルブ7と、ゲートバルブ4、7
同士が連結された状態で真空チャンバ6とプロセスチャ
ンバ1との間で基板3の移載を行う移載ロボット8とを
設けた。
るとともに、基板を大気中にさらすことなく装置間で搬
送でき、しかも、基板処理におけるスループットの向上
を可能とした基板処理システムを提供する。 【構成】 所定の雰囲気下で基板3の表面に所定の処理
を施す複数のプロセスチャンバ1と、各プロセスチャン
バ1に基板1を搬送する基板搬送車2とによって基板処
理システムを構成した。各プロセスチャンバ1には基板
3を取り込むためのゲートバルブ4を設けた。これに対
して基板搬送車2には、複数のプロセスチャンバ1間を
移動可能な自走台車5と、複数枚の基板3を収納可能な
真空チャンバ6と、プロセスチャンバ1のゲートバルブ
4に連結可能なゲートバルブ7と、ゲートバルブ4、7
同士が連結された状態で真空チャンバ6とプロセスチャ
ンバ1との間で基板3の移載を行う移載ロボット8とを
設けた。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体装置やディスプ
レイ装置、さらには記録メディアや他の電子部品などに
用いられる基板の処理システムに関するものである。
レイ装置、さらには記録メディアや他の電子部品などに
用いられる基板の処理システムに関するものである。
【0002】
【従来の技術】一般に、半導体装置の製造ラインでは、
ウエハの処理を終えるまでに200〜300もの工程を
経る。現状の半導体製造ラインにおいては、各工程間で
ウエハを搬送する場合、所定枚数(通常は25枚)のウ
エハをカセットに入れて、さらにそのカセットを専用の
ボックスに収納する。そして、オペレータまたは工程間
搬送ロボットによって各装置の入口(専用のカセット台
または真空ロードロック室等)にカセットをセットす
る。
ウエハの処理を終えるまでに200〜300もの工程を
経る。現状の半導体製造ラインにおいては、各工程間で
ウエハを搬送する場合、所定枚数(通常は25枚)のウ
エハをカセットに入れて、さらにそのカセットを専用の
ボックスに収納する。そして、オペレータまたは工程間
搬送ロボットによって各装置の入口(専用のカセット台
または真空ロードロック室等)にカセットをセットす
る。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ところで、半導体製造
ラインのウエハ処理工程では、エッチング、スパッタ、
CVD、拡散、イオン注入、アッシング等、数多くの真
空プロセス装置を使用している。これらのプロセス装置
はその殆どが何らかのかたちで大気−真空をつなぐ独立
した真空ロードロック室を備えている。このため、各装
置にウエハカセットをセッティングするたびに大気→真
空〜プロセス中〜真空→大気といった排気シーケンスが
繰り返されることになり、そこには必ずロードロック室
を大気圧から所定の真空圧まで排気する時間が必要とな
り、この排気時間が単位時間当たりのウエハの処理枚
数、つまりスループットを向上させるうえでネックにな
っていた。
ラインのウエハ処理工程では、エッチング、スパッタ、
CVD、拡散、イオン注入、アッシング等、数多くの真
空プロセス装置を使用している。これらのプロセス装置
はその殆どが何らかのかたちで大気−真空をつなぐ独立
した真空ロードロック室を備えている。このため、各装
置にウエハカセットをセッティングするたびに大気→真
空〜プロセス中〜真空→大気といった排気シーケンスが
繰り返されることになり、そこには必ずロードロック室
を大気圧から所定の真空圧まで排気する時間が必要とな
り、この排気時間が単位時間当たりのウエハの処理枚
数、つまりスループットを向上させるうえでネックにな
っていた。
【0004】また、半導体のウエハ処理工程では空気中
に浮遊する微粒子などによってウエハ表面が汚染されて
しまうため、きわめて高い清浄空間が必要不可欠となっ
ている。ところが、従来のウエハ処理システムでは、た
とえプロセスインテグレーションが行われているクラス
タツールであっても、その装置と別の装置との間の搬送
ではウエハが大気中にさらされてしまう。このため、搬
送中にウエハの表面に自然酸化膜が生成され、これがウ
エハプロセスにおいて種々の問題を引き起こす。したが
って、CVD装置やスパッタリング装置などでは、自然
酸化膜を除去するための前処理室を設け、そこで表面の
自然酸化膜を完全に除去してからウエハをプロセスチャ
ンバに取り込む必要があった。
に浮遊する微粒子などによってウエハ表面が汚染されて
しまうため、きわめて高い清浄空間が必要不可欠となっ
ている。ところが、従来のウエハ処理システムでは、た
とえプロセスインテグレーションが行われているクラス
タツールであっても、その装置と別の装置との間の搬送
ではウエハが大気中にさらされてしまう。このため、搬
送中にウエハの表面に自然酸化膜が生成され、これがウ
エハプロセスにおいて種々の問題を引き起こす。したが
って、CVD装置やスパッタリング装置などでは、自然
酸化膜を除去するための前処理室を設け、そこで表面の
自然酸化膜を完全に除去してからウエハをプロセスチャ
ンバに取り込む必要があった。
【0005】そこで従来では、ウエハを窒素雰囲気中で
装置間搬送する処理システムも提案されているが、そう
した場合には各装置において真空引きや大気圧にもどす
といった動作が必要となり、結局はシーケンスのトータ
ル時間が非常に長くなり、大幅なスループットの低下を
招いてしまう。またこれ以外にも、真空カセットにウエ
ハを収納して装置間搬送を行うシステムも提案されてい
るが、このシステムでは各装置毎に別個に真空カセット
用のロードロック室が必要となり、個々の装置が大型化
してしまう。
装置間搬送する処理システムも提案されているが、そう
した場合には各装置において真空引きや大気圧にもどす
といった動作が必要となり、結局はシーケンスのトータ
ル時間が非常に長くなり、大幅なスループットの低下を
招いてしまう。またこれ以外にも、真空カセットにウエ
ハを収納して装置間搬送を行うシステムも提案されてい
るが、このシステムでは各装置毎に別個に真空カセット
用のロードロック室が必要となり、個々の装置が大型化
してしまう。
【0006】さらに、ウエハ処理用のクラスタツールに
は複数のプロセスチャンバが組み込まれているが、装置
改良によって次世代のプロセスチャンバが登場し、これ
を導入する場合はクラスタツール内のチャンバ設置スペ
ース、ウエハ搬送系との互換性などの面から装置全体を
入れ替える必要があり、一つのプロセスチャンバだけを
単独に入れ替えることはきわめて困難であった。
は複数のプロセスチャンバが組み込まれているが、装置
改良によって次世代のプロセスチャンバが登場し、これ
を導入する場合はクラスタツール内のチャンバ設置スペ
ース、ウエハ搬送系との互換性などの面から装置全体を
入れ替える必要があり、一つのプロセスチャンバだけを
単独に入れ替えることはきわめて困難であった。
【0007】本発明は、上記問題を解決するためになさ
れたもので、その目的とするところは、プロセスチャン
バ単独の入れ替えが容易であるとともに、基板を大気中
にさらすことなく装置間で搬送でき、しかも、基板処理
におけるスループットの向上を可能とした基板処理シス
テムを提供することにある。
れたもので、その目的とするところは、プロセスチャン
バ単独の入れ替えが容易であるとともに、基板を大気中
にさらすことなく装置間で搬送でき、しかも、基板処理
におけるスループットの向上を可能とした基板処理シス
テムを提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記目的を達
成するためになされたもので、大きくは、所定の雰囲気
下で基板の表面に所定の処理を施す複数のプロセスチャ
ンバと、これらのプロセスチャンバに対して処理対象と
なる基板を搬送する基板搬送車とによって構成される。
複数のプロセスチャンバはそれぞれに基板を取り込むた
めのゲートバルブを備えている。また、基板搬送車は、
複数のプロセスチャンバ間を移動可能な自走台車と、こ
の自走台車に搭載されて複数枚の基板を収納可能な真空
チャンバと、この真空チャンバに設けられてプロセスチ
ャンバのゲートバルブに連結可能なゲートバルブと、真
空チャンバ内に設けられてゲートバルブ同士が連結され
た状態で真空チャンバとプロセスチャンバとの間で基板
の移載を行う移載ロボットとを備えている。
成するためになされたもので、大きくは、所定の雰囲気
下で基板の表面に所定の処理を施す複数のプロセスチャ
ンバと、これらのプロセスチャンバに対して処理対象と
なる基板を搬送する基板搬送車とによって構成される。
複数のプロセスチャンバはそれぞれに基板を取り込むた
めのゲートバルブを備えている。また、基板搬送車は、
複数のプロセスチャンバ間を移動可能な自走台車と、こ
の自走台車に搭載されて複数枚の基板を収納可能な真空
チャンバと、この真空チャンバに設けられてプロセスチ
ャンバのゲートバルブに連結可能なゲートバルブと、真
空チャンバ内に設けられてゲートバルブ同士が連結され
た状態で真空チャンバとプロセスチャンバとの間で基板
の移載を行う移載ロボットとを備えている。
【0009】
【作用】本発明の基板処理システムにおいては、真空チ
ャンバに収納された基板が自走台車の移動とともに複数
のプロセスチャンバ間を搬送される。また、所定のプロ
セスチャンバに搬送されると、プロセスチャンバ側のゲ
ートバルブと真空チャンバ側のゲートバルブとが連結さ
れ、この状態で移載ロボットにより真空チャンバからプ
ロセスチャンバに未処理の基板が移載されるとともにプ
ロセスチャンバから真空チャンバに処理済の基板が移載
される。これにより基板は搬送から処理にいたるまで一
貫して真空雰囲気下に保持され、従来のように大気にさ
らされることがなくなる。
ャンバに収納された基板が自走台車の移動とともに複数
のプロセスチャンバ間を搬送される。また、所定のプロ
セスチャンバに搬送されると、プロセスチャンバ側のゲ
ートバルブと真空チャンバ側のゲートバルブとが連結さ
れ、この状態で移載ロボットにより真空チャンバからプ
ロセスチャンバに未処理の基板が移載されるとともにプ
ロセスチャンバから真空チャンバに処理済の基板が移載
される。これにより基板は搬送から処理にいたるまで一
貫して真空雰囲気下に保持され、従来のように大気にさ
らされることがなくなる。
【0010】
【実施例】以下、本発明の実施例について図面を参照し
ながら詳細に説明する。図1は本発明に係わる基板処理
システムの一実施例を説明する要部斜視図である。本実
施例の基板処理システムは、大きくは、複数のプロセス
チャンバ(図1ではその中の1台だけ表示)1と基板搬
送車2によって構成されている。
ながら詳細に説明する。図1は本発明に係わる基板処理
システムの一実施例を説明する要部斜視図である。本実
施例の基板処理システムは、大きくは、複数のプロセス
チャンバ(図1ではその中の1台だけ表示)1と基板搬
送車2によって構成されている。
【0011】各々のプロセスチャンバ1は、所定の雰囲
気下で基板3の表面に所定の処理を施すもので、その前
部には基板3を取り込むためのゲートバルブ4が設けら
れている。
気下で基板3の表面に所定の処理を施すもので、その前
部には基板3を取り込むためのゲートバルブ4が設けら
れている。
【0012】基板搬送車2は、上述した複数のプロセス
チャンバ1間で基板3の搬送を行うものであり、その主
要な構成部分として、自走台車5、真空チャンバ6、ゲ
ートバルブ7、移載ロボット8を備えている。
チャンバ1間で基板3の搬送を行うものであり、その主
要な構成部分として、自走台車5、真空チャンバ6、ゲ
ートバルブ7、移載ロボット8を備えている。
【0013】自走台車5は、上記複数のプロセスチャン
バ1間を移動するための第1の車輪9と、プロセスチャ
ンバ1と真空チャンバ6とをドッキングさせるための第
2の車輪10と、自走するための電力を供給する電源部
11とを備えている。ここで、第1の車輪9と第2の車
輪10とはそれぞれ向きが直交する状態で台車底部に設
けられており、このうち第1の車輪9はプロセスチャン
バ1の配置形態に応じて敷設された主軌道L1に係合
し、第2の車輪10はそれぞれのプロセスチャンバ1か
ら主自動L1に直交して敷設された副軌道L2に係合し
ている。また電源部11には、遠隔操作用の無線通信ユ
ニットやマイクロコンピュータ等からなる制御ユニット
12が組み込まれている。
バ1間を移動するための第1の車輪9と、プロセスチャ
ンバ1と真空チャンバ6とをドッキングさせるための第
2の車輪10と、自走するための電力を供給する電源部
11とを備えている。ここで、第1の車輪9と第2の車
輪10とはそれぞれ向きが直交する状態で台車底部に設
けられており、このうち第1の車輪9はプロセスチャン
バ1の配置形態に応じて敷設された主軌道L1に係合
し、第2の車輪10はそれぞれのプロセスチャンバ1か
ら主自動L1に直交して敷設された副軌道L2に係合し
ている。また電源部11には、遠隔操作用の無線通信ユ
ニットやマイクロコンピュータ等からなる制御ユニット
12が組み込まれている。
【0014】なお、本実施例では、自走台車5に電源部
11を搭載して自走のための電力を得るようにしている
が、これ以外にも、例えばプロセスチャンバ1の配置形
態に応じてトロリ線を架設し、集電装置(パンダグラ
フ)を介して電力を得る、いわゆるトロリ方式を採用す
ることもできる。
11を搭載して自走のための電力を得るようにしている
が、これ以外にも、例えばプロセスチャンバ1の配置形
態に応じてトロリ線を架設し、集電装置(パンダグラ
フ)を介して電力を得る、いわゆるトロリ方式を採用す
ることもできる。
【0015】真空チャンバ6は、例えばアルミ合金製の
箱型気密構造をなすもので、これは上記自走台車5に搭
載されている。真空チャンバ6の底面部からは図示せぬ
昇降ユニットの構成部品である昇降軸13がシール部材
(不図示)を介して延出し、この昇降軸13の上端部に
基板カセット14が支持されている。基板カセット14
には所定枚数(例えば25枚)の基板3が収納され、こ
の状態で真空チャンバ6の内部に複数枚の基板3を収納
し得る構造になっている。また、真空チャンバ6には例
えばターボ分子ポンプ等のメインポンプ15とロータリ
ポンプ等の補助ポンプ16、そしてチャンバとポンプ間
を繋ぐ配管、バルブ等が接続されている。さらに、真空
チャンバ6には基板3を出し入れするためのドア17が
取り付けられており、このドア17を開放した状態で、
基板カセット14に収納された基板3の出し入れが行わ
れ、ドア17を閉めた状態でチャンバ内が気密状態に保
持されるようになっている。
箱型気密構造をなすもので、これは上記自走台車5に搭
載されている。真空チャンバ6の底面部からは図示せぬ
昇降ユニットの構成部品である昇降軸13がシール部材
(不図示)を介して延出し、この昇降軸13の上端部に
基板カセット14が支持されている。基板カセット14
には所定枚数(例えば25枚)の基板3が収納され、こ
の状態で真空チャンバ6の内部に複数枚の基板3を収納
し得る構造になっている。また、真空チャンバ6には例
えばターボ分子ポンプ等のメインポンプ15とロータリ
ポンプ等の補助ポンプ16、そしてチャンバとポンプ間
を繋ぐ配管、バルブ等が接続されている。さらに、真空
チャンバ6には基板3を出し入れするためのドア17が
取り付けられており、このドア17を開放した状態で、
基板カセット14に収納された基板3の出し入れが行わ
れ、ドア17を閉めた状態でチャンバ内が気密状態に保
持されるようになっている。
【0016】ここで、真空チャンバ6に接続される真空
ポンプはプロセスチャンバ1の処理内容に応じて適宜選
定されるものである。例えば、半導体ウエハ処理工程に
おいて、スパッタリングプロセスのようにきわめて高真
空(10-5〜10-8Torrレベル)に保持する必要が
ある場合はメインポンプ15としてターボ分子ポンプや
クライオポンプ等の高真空対応の真空ポンプが採用さ
れ、CVDプロセスのように比較的中・低真空(10-1
〜10-4Torrレベル)に保持しても支障がない場合
は油回転ポンプやドライポンプ等の真空ポンプをメイン
ポンプ15として採用することができる。なお、高真空
対応として、上述のごとくメインポンプ15にターボ分
子ポンプを採用した場合は補助ポンプ16が必要になる
が、メインポンプ15にクライオポンプを採用した場合
は補助ポンプ16が不要となる。
ポンプはプロセスチャンバ1の処理内容に応じて適宜選
定されるものである。例えば、半導体ウエハ処理工程に
おいて、スパッタリングプロセスのようにきわめて高真
空(10-5〜10-8Torrレベル)に保持する必要が
ある場合はメインポンプ15としてターボ分子ポンプや
クライオポンプ等の高真空対応の真空ポンプが採用さ
れ、CVDプロセスのように比較的中・低真空(10-1
〜10-4Torrレベル)に保持しても支障がない場合
は油回転ポンプやドライポンプ等の真空ポンプをメイン
ポンプ15として採用することができる。なお、高真空
対応として、上述のごとくメインポンプ15にターボ分
子ポンプを採用した場合は補助ポンプ16が必要になる
が、メインポンプ15にクライオポンプを採用した場合
は補助ポンプ16が不要となる。
【0017】ゲートバルブ7は、上記ドア17の反対側
に位置して真空チャンバ6に設けられている。このゲー
トバルブ7は、副軌道L2に沿った自走台車5の走行動
作によってプロセスチャンバ1のゲートバルブ4に連結
可能となっている。
に位置して真空チャンバ6に設けられている。このゲー
トバルブ7は、副軌道L2に沿った自走台車5の走行動
作によってプロセスチャンバ1のゲートバルブ4に連結
可能となっている。
【0018】移載ロボット8は、上記基板カセット14
とゲートバルブ7の間に位置して真空チャンバ6の内部
に設けられている。この移載ロボット8は、真空中にて
動作するもので、一般的には主軸の昇降動作と回転動
作、さらにはリンク機構による伸縮動作等の組み合わせ
によって基板3の移載を行う。本実施例では、ゲートバ
ルブ4、7同士が連結された状態で真空チャンバ6とプ
ロセスチャンバ1との間で基板3の移載を行う。
とゲートバルブ7の間に位置して真空チャンバ6の内部
に設けられている。この移載ロボット8は、真空中にて
動作するもので、一般的には主軸の昇降動作と回転動
作、さらにはリンク機構による伸縮動作等の組み合わせ
によって基板3の移載を行う。本実施例では、ゲートバ
ルブ4、7同士が連結された状態で真空チャンバ6とプ
ロセスチャンバ1との間で基板3の移載を行う。
【0019】続いて、本実施例の基板処理システムにお
ける基板の搬送形態について説明する。まず、処理対象
となる基板3は各工程の中継点となるステーションにて
真空チャンバ6に収納される。ステーションでは、真空
チャンバ6のドア17が開放され、この状態で所定枚数
の基板3が基板カセット14に収納された状態で真空チ
ャンバ6に収納される。このとき、所定枚数の基板3を
収納した基板カセット14は昇降軸13の上端部に供給
される。なお、基板搬送車2の専用カセットとして基板
カセット14が昇降軸13の上端部に固定されている場
合は、上記ステーションにて図示せぬ基板移載ロボット
により汎用カセットと基板カセット14との間で基板3
の移替えが行われ、これによって真空チャンバ6に所定
枚数の基板3が収納される。
ける基板の搬送形態について説明する。まず、処理対象
となる基板3は各工程の中継点となるステーションにて
真空チャンバ6に収納される。ステーションでは、真空
チャンバ6のドア17が開放され、この状態で所定枚数
の基板3が基板カセット14に収納された状態で真空チ
ャンバ6に収納される。このとき、所定枚数の基板3を
収納した基板カセット14は昇降軸13の上端部に供給
される。なお、基板搬送車2の専用カセットとして基板
カセット14が昇降軸13の上端部に固定されている場
合は、上記ステーションにて図示せぬ基板移載ロボット
により汎用カセットと基板カセット14との間で基板3
の移替えが行われ、これによって真空チャンバ6に所定
枚数の基板3が収納される。
【0020】こうして真空チャンバ6に基板3が収納さ
れると、ドア17の閉塞によって真空チャンバ6の内部
が気密状態に保持される。次いで、メインポンプ15お
よび補助ポンプ16の作動により真空チャンバ6の内部
が真空状態に保持される。そうすると、主軌道L1に沿
った自走台車5の移動とともに基板搬送車2が走行を開
始し、予め決められた処理手順にしたがって複数のプロ
セスチャンバ1間を渡り歩く。例えば、図2(a)に示
すように複数のプロセスチャンバ1が所定の間隔を置い
て一列に並べられている場合は、これに並行して敷設さ
れた主軌道L1に沿って基板搬送車2が複数のプロセス
チャンバ1間を往復移動する。
れると、ドア17の閉塞によって真空チャンバ6の内部
が気密状態に保持される。次いで、メインポンプ15お
よび補助ポンプ16の作動により真空チャンバ6の内部
が真空状態に保持される。そうすると、主軌道L1に沿
った自走台車5の移動とともに基板搬送車2が走行を開
始し、予め決められた処理手順にしたがって複数のプロ
セスチャンバ1間を渡り歩く。例えば、図2(a)に示
すように複数のプロセスチャンバ1が所定の間隔を置い
て一列に並べられている場合は、これに並行して敷設さ
れた主軌道L1に沿って基板搬送車2が複数のプロセス
チャンバ1間を往復移動する。
【0021】その移動途中で、例えば図2(a)に示す
3つのプロセスチャンバ1のうち、中央に設置されたプ
ロセスチャンバ1に基板3を供給する場合は、そのプロ
セスチャンバ1に対向する位置で基板搬送車2が主軌道
L1上で停止する。続いて、図2(b)に示すように、
主軌道L1に直交する副軌道L2に沿った自走台車5の
移動により基板搬送車2がプロセスチャンバ1側に接近
し、これによってプロセスチャンバ1のゲートバルブ4
に真空チャンバ6のゲートバルブ7が連結される。
3つのプロセスチャンバ1のうち、中央に設置されたプ
ロセスチャンバ1に基板3を供給する場合は、そのプロ
セスチャンバ1に対向する位置で基板搬送車2が主軌道
L1上で停止する。続いて、図2(b)に示すように、
主軌道L1に直交する副軌道L2に沿った自走台車5の
移動により基板搬送車2がプロセスチャンバ1側に接近
し、これによってプロセスチャンバ1のゲートバルブ4
に真空チャンバ6のゲートバルブ7が連結される。
【0022】次に、チャンバ相互のロードロック機能に
よりプロセスチャンバ1と真空チャンバ6とがいずれも
真空状態に保持されている条件の下で双方のゲートバル
ブ4、7が開けられる。続いて、真空チャンバ6内に収
納された基板(未処理)3が基板カセット14から移載
ロボット8に受け渡される。基板3を受け取った移載ロ
ボット8はその主軸の回転動作によって向きを反転し、
ゲートバルブ4、7を介して基板3をプロセスチャンバ
1に送り込む。以降、基板カセット14内の基板3は昇
降軸13の昇降動作に連動した移載ロボット8の移載動
作により一枚ずつプロセスチャンバ1に送り込まれる。
よりプロセスチャンバ1と真空チャンバ6とがいずれも
真空状態に保持されている条件の下で双方のゲートバル
ブ4、7が開けられる。続いて、真空チャンバ6内に収
納された基板(未処理)3が基板カセット14から移載
ロボット8に受け渡される。基板3を受け取った移載ロ
ボット8はその主軸の回転動作によって向きを反転し、
ゲートバルブ4、7を介して基板3をプロセスチャンバ
1に送り込む。以降、基板カセット14内の基板3は昇
降軸13の昇降動作に連動した移載ロボット8の移載動
作により一枚ずつプロセスチャンバ1に送り込まれる。
【0023】こうして所定枚数の基板3が全てプロセス
チャンバ1に送り込まれると、一旦、ゲートバルブ4、
7が閉ざされて真空チャンバ6とプロセスチャンバ1と
が遮断される。ゲートバルブ4、7が閉ざされている
間、プロセスチャンバ1では所定の雰囲気下で基板3の
表面に所定の処理を施す。プロセスチャンバ1での基板
処理が終了すると、再びゲートバルブ4、7が開けられ
る。次いで、移載ロボット8によってプロセスチャンバ
1から処理済の基板3が一枚ずつ取り出され、昇降軸1
3の昇降動作に連動して再び基板カセット4の元の位置
に戻される。
チャンバ1に送り込まれると、一旦、ゲートバルブ4、
7が閉ざされて真空チャンバ6とプロセスチャンバ1と
が遮断される。ゲートバルブ4、7が閉ざされている
間、プロセスチャンバ1では所定の雰囲気下で基板3の
表面に所定の処理を施す。プロセスチャンバ1での基板
処理が終了すると、再びゲートバルブ4、7が開けられ
る。次いで、移載ロボット8によってプロセスチャンバ
1から処理済の基板3が一枚ずつ取り出され、昇降軸1
3の昇降動作に連動して再び基板カセット4の元の位置
に戻される。
【0024】その後、チャンバ相互のゲートバルブ4、
7が閉ざされて真空チャンバ6とプロセスチャンバ1と
が遮断され、副軌道L2に沿った自走台車5の移動とと
もにプロセスチャンバ1から真空チャンバ6が離反す
る。このように一つのプロセスチャンバ1における基板
処理が完了すると、再び主軌道L1に沿った自走台車5
の移動とともに次のプロセスチャンバ1に向けて基板搬
送車2が走行を開始する。以降、各々のプロセスチャン
バ1毎に上記同様の手順にしたがって真空チャンバ6と
プロセスチャンバ1との間で基板1の受け渡しが行わ
れ、最後のプロセスチャンバ1から真空チャンバ6が離
反した時点で基板搬送車2はステーションに戻る。
7が閉ざされて真空チャンバ6とプロセスチャンバ1と
が遮断され、副軌道L2に沿った自走台車5の移動とと
もにプロセスチャンバ1から真空チャンバ6が離反す
る。このように一つのプロセスチャンバ1における基板
処理が完了すると、再び主軌道L1に沿った自走台車5
の移動とともに次のプロセスチャンバ1に向けて基板搬
送車2が走行を開始する。以降、各々のプロセスチャン
バ1毎に上記同様の手順にしたがって真空チャンバ6と
プロセスチャンバ1との間で基板1の受け渡しが行わ
れ、最後のプロセスチャンバ1から真空チャンバ6が離
反した時点で基板搬送車2はステーションに戻る。
【0025】このように本実施例の基板処理システムに
おいては、処理対象となる基板3が真空チャンバ6の内
部に収納された状態でプロセスチャンバ1間を搬送され
るため、従来のように基板3が大気中にさらされること
なく、常に真空雰囲気下に保持されるようになる。ま
た、それぞれ独立してプロセスチャンバ1を設置し、個
々に真空チャンバ6をドッキングさせて基板3の移載を
行う方式であるため、基板処理工程におけるプロセスチ
ャンバ1の入れ替えが容易である。さらに、自走台車5
の走行とともに真空チャンバ6がプロセスチャンバ1間
を移動し、互いのゲートバルブ4、7同士を連結した状
態で基板3の受け渡しを行うため、従来のように装置毎
にロードロック室を設ける必要がないうえ、ロードロッ
ク室を真空排気するための時間も生じない。
おいては、処理対象となる基板3が真空チャンバ6の内
部に収納された状態でプロセスチャンバ1間を搬送され
るため、従来のように基板3が大気中にさらされること
なく、常に真空雰囲気下に保持されるようになる。ま
た、それぞれ独立してプロセスチャンバ1を設置し、個
々に真空チャンバ6をドッキングさせて基板3の移載を
行う方式であるため、基板処理工程におけるプロセスチ
ャンバ1の入れ替えが容易である。さらに、自走台車5
の走行とともに真空チャンバ6がプロセスチャンバ1間
を移動し、互いのゲートバルブ4、7同士を連結した状
態で基板3の受け渡しを行うため、従来のように装置毎
にロードロック室を設ける必要がないうえ、ロードロッ
ク室を真空排気するための時間も生じない。
【0026】なお、上記実施例においては、真空チャン
バ6に収納された基板3を一枚ずつプロセスチャンバ1
に移載し、一度に複数枚の基板3を処理する例を述べた
が、これ以外にも、プロセスチャンバ1に基板3を一枚
移載する毎にゲートバルブ4、7を閉じて基板処理を行
い、その後、処理済の基板3をプロセスチャンバ1から
取り出してから次の基板3をプロセスチャンバ1に移載
することも可能である。つまり、一度に複数枚の基板3
を処理するバッチ式と一枚ずつ処理する枚葉式のいずれ
にも対応することができる。したがって、バッチ式で基
板3を処理するプロセスチャンバ1と枚葉式で基板3を
処理するプロセスチャンバ1とを一つの工程ライン上に
設置し、それぞれの処理形式に応じて基板搬送車2の真
空チャンバ6とプロセスチャンバ1との間で基板3の移
載を行うことが可能となる。
バ6に収納された基板3を一枚ずつプロセスチャンバ1
に移載し、一度に複数枚の基板3を処理する例を述べた
が、これ以外にも、プロセスチャンバ1に基板3を一枚
移載する毎にゲートバルブ4、7を閉じて基板処理を行
い、その後、処理済の基板3をプロセスチャンバ1から
取り出してから次の基板3をプロセスチャンバ1に移載
することも可能である。つまり、一度に複数枚の基板3
を処理するバッチ式と一枚ずつ処理する枚葉式のいずれ
にも対応することができる。したがって、バッチ式で基
板3を処理するプロセスチャンバ1と枚葉式で基板3を
処理するプロセスチャンバ1とを一つの工程ライン上に
設置し、それぞれの処理形式に応じて基板搬送車2の真
空チャンバ6とプロセスチャンバ1との間で基板3の移
載を行うことが可能となる。
【0027】
【発明の効果】以上、説明したように本発明によれば、
処理対象となる基板が真空チャンバに収納された状態で
プロセスチャンバ間を搬送されるため、従来のように大
気中にさらされることなく、常に真空雰囲気下に保持さ
れるようになる。これにより、半導体製造プロセスでは
ウエハ表面における自然酸化膜の生成を抑えることが可
能となるため、自然酸化膜の生成に起因したウエハプロ
セスにおける種々の問題が解消されるとともに、自然酸
化膜を除去するための前処理室および前処理工程が不要
となり、装置の小型化とともにスループットの向上が図
られる。また、それぞれ独立してプロセスチャンバが設
置されるため、新規に開発されたプロセスチャンバの導
入にあたっては、従来システムのように装置全体を入れ
替える必要がなく、プロセスチャンバ単独での入れ替え
が容易となる。さらに、自走台車の走行とともに真空チ
ャンバがプロセスチャンバ間を移動する方式であるた
め、従来のように装置毎にロードロック室を設ける必要
がないうえ、ロードロック室を真空排気するための時間
も生じない。したがって、システム全体の簡素化ととも
に、より一層のスループットの向上が図られる。加え
て、基板処理装置の製造メーカ間で規格の統一に伴いプ
ロセスチャンバの間口サイズ等が共通化が図られれば、
異なる製造メーカのプロセスチャンバモジュールを一つ
のシステム内に組み込むことが可能となる。
処理対象となる基板が真空チャンバに収納された状態で
プロセスチャンバ間を搬送されるため、従来のように大
気中にさらされることなく、常に真空雰囲気下に保持さ
れるようになる。これにより、半導体製造プロセスでは
ウエハ表面における自然酸化膜の生成を抑えることが可
能となるため、自然酸化膜の生成に起因したウエハプロ
セスにおける種々の問題が解消されるとともに、自然酸
化膜を除去するための前処理室および前処理工程が不要
となり、装置の小型化とともにスループットの向上が図
られる。また、それぞれ独立してプロセスチャンバが設
置されるため、新規に開発されたプロセスチャンバの導
入にあたっては、従来システムのように装置全体を入れ
替える必要がなく、プロセスチャンバ単独での入れ替え
が容易となる。さらに、自走台車の走行とともに真空チ
ャンバがプロセスチャンバ間を移動する方式であるた
め、従来のように装置毎にロードロック室を設ける必要
がないうえ、ロードロック室を真空排気するための時間
も生じない。したがって、システム全体の簡素化ととも
に、より一層のスループットの向上が図られる。加え
て、基板処理装置の製造メーカ間で規格の統一に伴いプ
ロセスチャンバの間口サイズ等が共通化が図られれば、
異なる製造メーカのプロセスチャンバモジュールを一つ
のシステム内に組み込むことが可能となる。
【図1】本発明に係わる基板処理システムの一実施例を
説明する要部斜視図である。
説明する要部斜視図である。
【図2】実施例における基板の搬送形態を説明する図で
ある。
ある。
1 プロセスチャンバ 2 基板搬送車 3 基板 4 ゲートバルブ 5 自走台車 6 真空チャンバ 7 ゲートバルブ 8 移載ロボット
Claims (1)
- 【請求項1】 所定の雰囲気下で基板の表面に所定の処
理を施すとともに、前記基板を取り込むためのゲートバ
ルブを備えた複数のプロセスチャンバと、 前記複数のプロセスチャンバ間を移動可能な自走台車
と、前記自走台車に搭載されて複数枚の基板を収納可能
な真空チャンバと、前記真空チャンバに設けられて前記
プロセスチャンバのゲートバルブに連結可能なゲートバ
ルブと、前記真空チャンバ内に設けられて前記ゲートバ
ルブ同士が連結された状態で前記真空チャンバと前記プ
ロセスチャンバとの間で基板の移載を行う移載ロボット
とを備えた基板搬送車とによって構成されたことを特徴
とする基板処理システム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18073694A JPH0831906A (ja) | 1994-07-08 | 1994-07-08 | 基板処理システム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18073694A JPH0831906A (ja) | 1994-07-08 | 1994-07-08 | 基板処理システム |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0831906A true JPH0831906A (ja) | 1996-02-02 |
Family
ID=16088417
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP18073694A Pending JPH0831906A (ja) | 1994-07-08 | 1994-07-08 | 基板処理システム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0831906A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11345859A (ja) * | 1998-04-04 | 1999-12-14 | Tokyo Electron Ltd | 処理装置及び処理方法 |
JP2008535256A (ja) * | 2005-03-28 | 2008-08-28 | ラム リサーチ コーポレーション | ロボットを利用したプラズマ処理システムの保守装置 |
JP2010018888A (ja) * | 2009-10-15 | 2010-01-28 | Kaneka Corp | Cvd装置及びcvd方法 |
KR100948210B1 (ko) * | 2006-06-12 | 2010-03-19 | 가와사키 쥬코교 가부시키가이샤 | 기판 이재 장치의 반송계 유닛 |
WO2011024749A1 (ja) * | 2009-08-26 | 2011-03-03 | シャープ株式会社 | 真空処理装置、および真空処理工場 |
-
1994
- 1994-07-08 JP JP18073694A patent/JPH0831906A/ja active Pending
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11345859A (ja) * | 1998-04-04 | 1999-12-14 | Tokyo Electron Ltd | 処理装置及び処理方法 |
JP4533462B2 (ja) * | 1998-04-04 | 2010-09-01 | 東京エレクトロン株式会社 | 処理方法 |
JP2008535256A (ja) * | 2005-03-28 | 2008-08-28 | ラム リサーチ コーポレーション | ロボットを利用したプラズマ処理システムの保守装置 |
US8764907B2 (en) | 2005-03-28 | 2014-07-01 | Lam Research Corporation | Servicing a plasma processing system with a robot |
KR100948210B1 (ko) * | 2006-06-12 | 2010-03-19 | 가와사키 쥬코교 가부시키가이샤 | 기판 이재 장치의 반송계 유닛 |
WO2011024749A1 (ja) * | 2009-08-26 | 2011-03-03 | シャープ株式会社 | 真空処理装置、および真空処理工場 |
JP2011049308A (ja) * | 2009-08-26 | 2011-03-10 | Sharp Corp | 真空処理装置、および真空処理工場 |
JP2010018888A (ja) * | 2009-10-15 | 2010-01-28 | Kaneka Corp | Cvd装置及びcvd方法 |
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