JPH11345859A - 処理装置及び処理方法 - Google Patents

処理装置及び処理方法

Info

Publication number
JPH11345859A
JPH11345859A JP9558699A JP9558699A JPH11345859A JP H11345859 A JPH11345859 A JP H11345859A JP 9558699 A JP9558699 A JP 9558699A JP 9558699 A JP9558699 A JP 9558699A JP H11345859 A JPH11345859 A JP H11345859A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
load lock
lock chamber
chamber
processing
carrier
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP9558699A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4533462B2 (ja
Inventor
Tsutomu Hiroki
勤 広木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokyo Electron Ltd
Original Assignee
Tokyo Electron Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Electron Ltd filed Critical Tokyo Electron Ltd
Priority to JP09558699A priority Critical patent/JP4533462B2/ja
Publication of JPH11345859A publication Critical patent/JPH11345859A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4533462B2 publication Critical patent/JP4533462B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Chemical Vapour Deposition (AREA)
  • ing And Chemical Polishing (AREA)
  • Drying Of Semiconductors (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 従来の処理装置は、処理室内を所定の減圧状
態に維持するため、ロードロック室及び搬送室を介して
大気圧から処理室内の圧力まで段階的に減圧して処理室
内へLCD用基板等の被処理体を搬入するようにしてい
るため、大気圧下と減圧下の二段階の搬送機構が必要で
装置の構成要素が多くフットプリントが大きくなってコ
スト高になり、しかも搬送工程も大気圧下の搬送工程と
減圧下の搬送工程があり、被処理体の受け渡しに要する
時間が長くなる。 【解決手段】 本発明の処理装置は、減圧下でLCD用
基板1にエッチング、成膜等の処理を施す2室の処理室
2と、これらの処理室2と3台のキャリアCの載置ユニ
ット4との間に配設され且つ処理室2とキャリア間でL
CD用基板1を直接遣取りする搬送ユニット5とを備
え、搬送ユニット5は、LCD用基板1を搬送する搬送
アーム11と、この搬送アーム11が収納され且つ処理
室2と接続自在なロードロック室12と、このロードロ
ック室12をLCD用基板1の遣取り位置まで移動させ
る駆動ユニット13とを有することを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、処理装置及び処理
方法に関し、更に詳しくは液晶表示体用基板(以下、
「LCD用基板」と称す。)や半導体ウエハ等の被処理
体に対してエッチングや成膜等の処理を施す処理装置及
び処理方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来のこの種の処理装置としては、例え
ば、マルチチャンバー処理装置が広く用いられている。
マルチチャンバー処理装置は、例えば、減圧下で被処理
体(例えば、LCD用基板)にそれぞれ同種または異種
の処理を施す複数(例えば、3室)の処理室と、これら
の処理室に接続された搬送室と、この搬送室に処理室と
同様に接続されたロードロック室と、このロードロック
室と載置機構に配置されたキャリアとの間でLCD用基
板を遣取りする搬送機構とを備えている。
【0003】LCD用基板に所定の処理を施す場合に
は、搬送機構の多関節型搬送アームを屈伸して載置機構
に配置されたキャリアからLCD用基板を一枚ずつ取り
出した後、搬送機構がキャリアから処理室側まで移動し
ロードロック室と対峙する。次いで、ロードロック室の
搬出入口のゲートバルブが開き、大気圧化で搬送アーム
を介してLCD用基板をロードロック室内へ搬入し搬送
アームがロードロック室から退避した後、ゲートバルブ
を閉じてロードロック室内を密閉する。その後、ロード
ロック室内の空気を例えば窒素ガス等の不活性ガスで置
換すると共に、ロードロック室内の不活性ガスを排気
し、ロードロック室内を搬送室内と同程度の減圧状態に
する。次いで、搬送室側のゲートバルブが開き、ロード
ロック室と搬送室が連通した後、搬送室内の搬送アーム
が駆動し、搬送アームを介してロードロック室内のLC
D用基板を搬送室内へ搬入しゲートバルブを閉じる。搬
送室がロードロック室から遮断されると、処理室側のゲ
ートバルブが開き、搬送アームを介して処理室内へLC
D用基板を搬入した後、処理室から搬送アームが退避す
ると共にゲートバルブが閉じ、処理室と搬送室を遮断
し、処理室内でエッチングや成膜等の処理を開始する。
処理室内でLCD用基板の処理が終了すると、搬送室内
の搬送アーム及び搬送機構を介して上述した場合とは逆
の経路を辿って処理室からキャリア内の元の場所へ処理
後のLCD用基板を戻す。尚、引き続きLCD用基板に
対して別の処理を施す場合には搬送室内の搬送アームを
介して次に処理すべき処理室へ処理後のLCD用基板を
搬入し、その処理を施した後、キャリア内の元の場所へ
処理後のLCD用基板を戻す。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
処理装置の場合には、ロードロック室及び搬送室を介し
て大気圧から処理室内の圧力まで段階的に減圧して処理
室内へLCD用基板等の被処理体を搬入するようにして
いるため、大気圧下と減圧下の二段階の搬送機構が必要
で装置の構成要素が多くフットプリントが大きくなって
コスト高になり、しかも搬送工程も大気圧下の搬送工程
と減圧下の搬送工程があり、被処理体の受け渡しに要す
る時間が長くなるという課題があった。
【0005】本発明は、上記課題を解決するためになさ
れたもので、装置をコンパクト化してフットプリントを
削減すると共に被処理体の搬送工程を簡素化してスルー
プットを高めることができる処理装置及び処理方法を提
供することを目的としている。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明の請求項1に記載
の処理装置は、減圧下で被処理体に所定の処理を施す少
なくとも一つの処理室と、この処理室と少なくとも一つ
のキャリアの載置機構との間に配設され且つ上記処理室
と上記キャリア間で被処理体を直接取りする搬送機構と
を備えた処理装置であって、上記搬送機構は、上記被処
理体を搬送する搬送アームと、この搬送アームが収納さ
れ且つ上記処理室と接続自在なロードロック室と、この
ロードロック室を上記被処理体の遣取り位置まで移動さ
せる駆動機構とを有することを特徴とするものである。
【0007】また、本発明の請求項2に記載の処理装置
は、減圧下で被処理体に所定の処理を施す少なくとも一
つの処理室と、この処理室と少なくとも一つのキャリア
の載置機構との間に配設され且つ上記処理室と上記キャ
リア間で被処理体を直接遣取りする搬送機構とを備えた
処理装置であって、上記搬送機構は、上記被処理体を搬
送する搬送アームと、この搬送アームが収納され且つ上
記処理室と接続自在なロードロック室と、このロードロ
ック室を上記被処理体の遣取り位置まで移動させる駆動
機構とを有し、上記ロードロック室内に外部の気体を清
浄化して取り込む換気機構を設けたことを特徴とするも
のである。
【0008】また、本発明の請求項3に記載の処理装置
は、請求項1または請求項2に記載の発明において、上
記駆動機構は、上記ロードロック室を旋回させる旋回機
構を有することを特徴とするものである。
【0009】また、本発明の請求項4に記載の処理装置
は、請求項1〜請求項3のいずれか1項に記載の発明に
おいて、上記駆動機構は、上記ロードロック室を昇降さ
せる昇降機構を有することを特徴とするものである。
【0010】また、本発明の請求項5に記載の処理装置
は、請求項1〜請求項4のいずれか1項に記載の発明に
おいて、上記駆動機構は、上記ロードロック室を一方向
で移動させる移動機構を有することを特徴とするもので
ある。
【0011】また、本発明の請求項6に記載の処理装置
は、請求項1〜請求項5のいずれか1項に記載の発明に
おいて、上記処理室または上記ロードロック室は、これ
ら両者の接続を保持するロック機構を有することを特徴
とするものである。
【0012】また、本発明の請求項7に記載の処理装置
は、請求項1〜請求項6のいずれか1項に記載の発明に
おいて、上記処理室または上記ロードロック室は、上記
ロードロック室内を減圧する排気手段を有することを特
徴とするものである。
【0013】また、本発明の請求項8に記載の処理装置
は、請求項1〜請求項7のいずれか1項に記載の発明に
おいて、上記搬送機構は、上記ロードロック室をフロー
ティング状態で支持するフローティング機構を有するこ
とを特徴とするものである。
【0014】また、本発明の請求項9に記載の処理方法
は、ロードロック室がキャリアまで移動し、このロード
ロック室内の搬送アームを介してキャリア内の被処理体
を取り出す工程と、上記ロードロック室が上記キャリア
から処理室まで移動し、上記ロードロック室と上記処理
室とを接続する工程と、上記ロードロック室内を減圧す
る工程と、上記ロードロック室と上記処理室を連通し、
上記搬送アームを介して上記ロードロック室と処理室と
間で上記被処理体を遣取りする工程とを有することを特
徴とするものである。
【0015】また、本発明の請求項10に記載の処理方
法は、ロードロック室が内部を清浄な気体で換気しなが
らキャリアまで移動し、このロードロック室内を清浄な
気体で換気しながらその内部の搬送アームを介してキャ
リア内の被処理体を取り出す工程と、上記ロードロック
室が内部を清浄な気体で換気しながら上記キャリアから
処理室まで移動し、上記ロードロック室と上記処理室と
を接続する工程と、上記ロードロック室内の換気を止め
てその内部を減圧する工程と、上記ロードロック室と上
記処理室を連通し、上記搬送アームを介して上記ロード
ロック室と処理室と間で上記被処理体を遣取りする工程
とを有することを特徴とするものである。
【0016】
【発明の実施の形態】以下、図1〜図15に示す実施形
態に基づいて本発明を説明する。本実施形態の処理装置
は、例えば、図1に示すように、所定の減圧下で被処理
体(例えば、LCD用基板)1に所定の処理(例えば、
エッチング処理、成膜処理等)を施す2室の処理室2を
有する処理ユニット3と、この処理ユニット3で処理す
るLCD用基板1が例えば25枚収納されたキャリアC
を載置する3台の載置ユニット4と、これら両者3、4
間に配設され且つLCD用基板1を搬送する搬送ユニッ
ト5とを備え、搬送ユニット5を介してキャリアC内の
LCD用基板を一枚ずつ取り出し、各処理室2内へLC
D用基板1を搬入し、その内部で所定の処理を施し、処
理後には逆の経路を辿って処理室2からキャリアC内の
元の場所へ戻すようにしてある。
【0017】而して、上記処理室2の正面にはゲートバ
ルブユニット6及び接続ユニット7が互いに気密を保持
した状態で重ねて取り付けられ、接続ユニット7を介し
て処理室2と搬送ユニット5を直接接続するようにして
ある。処理室2の上部には開閉自在な蓋体8が取り付け
られ、例えばメンテナンス時等に図1の矢印で示すよう
に蓋体8を一点鎖線で示す位置まで開き、処理室2を開
放するようにしてある。処理ユニット3内には処理室2
の下部に配置された真空ポンプ9が配設され、この真空
ポンプ9により処理室2内を減圧し、所定の真空度を維
持するようにしてある。また、載置ユニット4及び搬送
ユニット5はいずれも例えば基台10上に配置されてい
る。尚、載置ユニット4は昇降機構(図示せず)を内蔵
したものであってもキャリアCの高さ等を調整する調整
機構を内蔵したものであっても良い。
【0018】上記搬送ユニット5は、図1、図2に示す
ように、LCD用基板1を搬送する多関節型の搬送アー
ム11と、この搬送アーム11が収納された略矩形状の
ロードロック室12と、このロードロック室12を処理
室2と載置ユニット4間で移動させる駆動ユニット13
と、この駆動ユニット13が処理室2及び載置ユニット
4の間で移動案内する一対のガイドレール14とを備え
ている。駆動ユニット13は、例えば、ロードロック室
12を旋回させるモータ(図示せず)を主体にした旋回
駆動機構15と、この旋回駆動機構15を昇降させるラ
ックアンドピニオンを主体にした昇降駆動機構16とを
備え、旋回駆動機構15によりロードロック室12を処
理室2と載置ユニット4との間で例えば180°旋回さ
せ、また、昇降駆動機構16を介してロードロック室1
2をキャリアC内の任意のLCD用基板1及び処理室2
のゲートバルブユニット6それぞれの高さに合わせて昇
降させるようにしてある。ロードロック室12は、図
1、図2に示すように、旋回駆動機構15を構成する基
板15A上に配設され、この基板15Aを介して旋回す
るようにしてある。
【0019】上記ロードロック室12と基板15Aとの
関係を図示したものが図3である。そこで、ロードロッ
ク室12について図1、図2をも参照しながら詳述す
る。即ち、多関節型の搬送アーム11は、モータ11A
と、このモータ11Aと回転軸11Bを介して連結され
た第1アーム11Cと、第1アーム11Cと第2アーム
11Dを介して連結され且つLCD用基板1を支持する
フォーク型のハンド11Eとを備え、それぞれの連結部
が関節として構成されている。従って、搬送アーム11
は、モータ11Aの駆動により第1、第2アーム11
C、11D及びハンド11Eを屈伸し、ハンド11Eを
ロードロック室12の搬出入口12Aから出し入れし、
LCD用基板1をキャリアC及び処理室2との間で遣取
りするようにしてある。また、回転軸11Bは、ボール
ベアリング等の摺動部材を介して筒状部材11F内に磁
気シールされた状態で収納されている。そして、この筒
状部材11Fはロードロック室12内からその下面の貫
通孔を垂下している。この貫通孔は、筒状部材11Fの
外径より大径に形成され、リング状の突起12Bによっ
て補強されている。更に、筒状部材11Fは上下両端が
それぞれ第1アーム11Cとリング状突起12Bに連結
されたベローズ17によって囲まれ、ロードロック室1
2の内側と外側を遮断し、ロードロック室12が処理室
2と接続された時にロードロック室12内の気密を保持
するようにしてある。
【0020】また、上記ロードロック室12は、図3に
示すように基板15A上に配設された一対のガイドレー
ル18に従って往復移動し、LCD用基板1を搬送する
際に基板15A上でキャリアCまたは処理室2に対して
進退動できるようにしてある。即ち、ロードロック室1
2の下面には支持機構19を介して各ガイドレール18
それぞれの前後で係合する係合部材20が取り付けられ
ている。この支持機構19は、例えば、ガイドレール1
8と対向させてロードロック室12の下面に固定された
4個の固定ブロック19Aと、これらの固定ブロック1
9Aに山型の板バネ19Bを介して連結された支持体1
9Cとを備えている。また、この支持機構19は、支持
体19Cに固定された筒状部材11Fを介して搬送アー
ム11を支持している。従って、ロードロック室12は
板バネ19Bを介してガイドレール18に対して弾力的
に係合し、ロードロック室12が処理室2と接合する時
に両者間の位置ズレを板バネ19Bによって吸収し、搬
送アーム11は支持機構19で支持された状態で駆動す
るようにしてある。
【0021】上記ロードロック室12は、図1に示すよ
うに、基板15A上に配設された一対のエアシリンダ2
1を介して各ガイドレール18に従って往復移動するよ
うになっている。即ち、一対のエアシリンダ21は、一
対のガイドレール18の外側でこれと平行させて基板1
5A上に固定されている。そして、エアシリンダ21の
ロッド21Aの先端がロードロック室12の両側面に固
定された連結部材12Cに連結されている。また、図3
に示すように基板15Aには搬送アーム11の筒状部材
11Fが貫通する長孔15Bが形成され、この長孔15
B内で筒状部材11Fが移動するようになっている。従
って、搬送ユニット5とキャリアCまたは処理室2との
間でLCD用基板1を遣取りする時には、ロードロック
室12がエアシリンダ21を介してガイドレール18に
従って基板15A上で往復移動するようにしてある。
尚、図2ではエアシリンダ21を図示してない。
【0022】ところで、上記ロードロック室12はLC
D用基板1を遣取りする時にはクリーンルーム内で開放
された状態になっているため、装置廻りの空気がロード
ロック室12内に侵入し、装置廻りで発生したパーティ
クルにより内部が汚染される虞がある。図4、図5に示
すロードロック室120はこのような汚染から防止する
ために、ロードロック室120が大気に開放されている
時には換気機構を用いて内部を常に正圧状態を保持して
装置廻りの空気がロードロック室120内に侵入しない
ようにしてある。その他の点では上記ロードロック室1
2に準じて構成されている。
【0023】即ち、図4、図5に示すロードロック室1
20の背面には換気機構121が取り付けられている。
この換気機構121は、図4、図5に示すように、例え
ばゲートバルブユニット122、HEPAフィルタ12
3及び送風ファン124を備え、この順序で背面側から
外側へ順次配設されている。従って、ロードロック室1
20がキャリアCと処理室2との間でLCD用基板1を
遣取りする時には、ゲートバルブユニット122及び送
風ファン124が駆動し、ゲートバルブ122Aがロー
ドロック室120の背面に形成された開口部120Cを
開放すると共に送風ファン124からクリーンルーム内
の空気がロードロック室120内に送風され、搬出入口
120Aから流出しロードロック室120内を常に正圧
状態に保持し、装置廻りの空気がロードロック室120
内に侵入しないようになっている。ロードロック室12
0内を流れる空気はHEPAフィルタ123を介して空
気中に含まれている装置廻りで発生したパーティクルが
除去されて清浄になっており、LCD用基板1を汚染す
る虞がない。
【0024】図6に示すロードロック室120’は搬送
アームとしてフロッグレッグタイプでダブルアームの搬
送アーム11’を使用した以外は図4及び図5に示すロ
ードロック室120に準じて構成されている。即ち、こ
のロードロック室120’は、換気機構121’として
ゲートバルブユニット122’、HEPAフィルタ12
3’及び送風ファン124’を備え、ロードロック室1
20’内を清浄な空気で常に正圧に保持し、装置廻りの
空気が侵入しないようになっている。このようにダブル
アームを採用することでLCD用基板1の搬出入効率を
高めることができる。
【0025】また、上記ロードロック室12と処理室2
との間でLCD用基板1を遣取りする時には、図1、図
7に示すように処理室2のゲートバルブユニット6とロ
ードロック室12とを接続ユニット7を介して接続し、
ロードロック室12内を処理室2内の真空度に合わせて
真空引きするようにしてある。尚、図7では説明の都合
上搬送ユニット5のロードロック室12のみを図示して
ある。
【0026】即ち、上記ゲートバルブユニット6は、図
8、図9に示すように、処理室2の搬出入口を昇降して
開閉するゲートバルブ6Aと、このゲートバルブ6Aが
取り付けられた枠体6Bとを備えている。枠体6Bの両
面にはそれぞれOリング等からなるシール部材6Cが装
着され、これらのシール部材6Cによりゲートバルブユ
ニット6と処理室2及び接続ユニット7との間の気密を
保持するようにしてある。更に、図8に示すようにゲー
トバルブ6Aの上端及び下端にはシール部材6Dが装着
され、これらのシール部材6Dによりゲートバルブ6A
と処理室2間の気密を保持するようにしてある。枠体6
Bの上部には例えば窒素ガスの等の不活性ガスを導入す
る導入管6Eが取り付けられ、その下部には排気管6F
が取り付けられている。そして、図8の矢印で示すよう
に導入管6Eから不活性ガスを導入すると共に排気管6
Fから排気し、処理室2に対してロードロック室12が
接続された時にロードロック室12内の空気を不活性ガ
スと置換した後、その内部を所定の真空度に達するまで
排気するようにしてある。
【0027】上記接続ユニット7は、図7の(a)、図
8に示すように、ゲートバルブユニット6に対して気密
状態で接合されている。この接続ユニット7は、上記枠
体6Bに接合された枠体7Aと、この枠体7Aの両側に
取り付けられた一対のロック機構7Bとを備え、ロック
機構7Bを介して接続ユニット7に接合したロードロッ
ク室12をロックしてロードロック室12を処理室2側
に接続するようにしてある。各ロック機構7Bは、例え
ば図7の(a)、(b)、図10に示すように、枠体7
A正面の両側に固定された左右のガイドレール7Cと、
これらのガイドレール7Cとそれぞれ係合し且つロード
ロック室12の搬出入口の左右に形成されたフランジ1
2Dとそれぞれ係合する左右の係合部材7Dと、これら
の係合部材7Dにそれぞれ連結され且つ係合部材7Dを
ガイドレール7Cに従ってそれぞれ昇降させる左右の第
1エアシリンダ7Eと、上記各係合部材7Dにそれぞれ
取り付けられ且つこれと係合したロードロック室12の
フランジ11Dをそれぞれ均等に押圧してロードロック
室12を枠体7Aに対して密着させる第2エアシリンダ
7Fとを備えている。従って、ロードロック室12が図
7の(a)に示すように処理室2側に接合されると、ロ
ック機構7Bが駆動し、ロードロック室12が接続ユニ
ット7の枠体7Aと密着するようにしてある。また、図
7の(b)に示すようにロードロック室12の背後には
例えばバネ22が装着され、このバネ22を介してロー
ドロック室12を処理室2側に弾接させ、ロック機構7
Bが円滑に機能するようにしても良い。尚、図8におい
て7GはOリング等からなるシール部材である。
【0028】また、本発明では上記ロック機構7Bに代
えて図11の(a)、(b)に示すロック機構23を取
り付けても良い。このロック機構23は、同図に示すよ
うに、正逆方向に回転するクランプ23Aと、このクラ
ンプ23Aを進退動作せるエアシリンダ23Bとを備
え、枠体7Aの周面に取り付けられている。一方、ロー
ドロック室12には搬出入口の全周にフランジ11Eが
形成され、このフランジ11Eを介してロードロック室
12を処理室2に対してロックするようにしてある。
【0029】また、本発明では図12、図13に示すよ
うにロードロック室をフローティング構造にすること
で、ロードロック室と処理室との位置合わせをより円滑
に行えるようにしても良い。このロードロック室51
は、各図に示すように、フローティング機構52によっ
て支持されている。このフローティング機構52は、側
面形状がL字状に形成された基板52Aと、この基板5
2Aに配置されてロードロック室51を弾力的に支持す
る第1、第2、第3バネ52B、52C、52Dとを備
えている。第1バネ52Bはロードロック室51の両側
の前後にそれぞれ立設された支持柱52Eとロードロッ
ク室51の上面から側方へ延設されたフランジ51Aの
間に弾装され、第2バネ52Cは基台52の垂直壁面と
ロードロック室51の背面の間に弾装され、更に第3バ
ネ52Dはロードロック室51の下面と基板52Aの間
に弾装されている。そして、ロードロック室51の基板
52Aに前記支持機構19が取り付けられている。従っ
て、ロードロック室51を処理室2と接続する時には、
第1、第2、第3バネ52B、52C、52D介して図
12の矢印で示すようにロードロック室51が全方向に
僅かに変動し、ロードロック室51と処理室2間の位置
ズレを吸収し、ロードロック室51と処理室2が衝撃な
く円滑に接続する。尚、図13において、50は多関節
型搬送アーム、53はベローズで、これらは前述したも
のと同様に構成されている。
【0030】次に、本実施形態の処理装置を用いた本発
明の処理方法について図14を参照しながら説明する。
まず、キャリアCからLCD用基板1を取り出す時に
は、搬送ユニット5が基台10上のガイドレール14に
従って載置機構4上の所定のキャリアCまで移動した
後、図14の(a)に示すように旋回駆動機構15を介
してロードロック室12の搬出入口12AをキャリアC
と対峙させる。次いで、昇降駆動機構16を介してロー
ドロック室12が昇降し、搬送アーム11のハンド11
Eの高さを取り出すべきLCD用基板1の高さに合わせ
る。
【0031】この状態でエアシリンダ21が駆動してロ
ードロック室12がガイドレール18に従って移動し、
同図の(b)に示すようにロードロック室12がキャリ
アCへ接近して停止する。引き続きモータ11Aが例え
ば正回転し、第1、第2アーム11C、11D及びハン
ド11Eが回転軸11Bを介して伸び、ハンド11Eが
キャリアC内へ進入する。次いで、ロードロック室12
が昇降駆動機構16を介して僅かに昇降し、キャリアC
内のLCD用基板1をハンド11E上に載置する。
【0032】次いで、搬送アーム11のモータ11Aが
逆回転し、同図に(c)に示すように第1、第2アーム
11C、11D及びハンド11Eが回転軸11Bを介し
てキャリアCからロードロック室12内へLCD用基板
1を持ち込む。その後、エアシリンダ21が駆動してロ
ードロック室12がガイドレール18に従って移動し、
ロードロック室12がキャリアCから離れて元の位置へ
戻る。
【0033】その後、同図の(d)に示すようにロード
ロック室12が旋回駆動機構15及び昇降駆動機構16
を介して180°回転すると共にして搬出入口12Aを
処理室2の接続ユニット7の高さに合わせた状態で停止
する。次いで、エアシリンダ21が駆動し、同図の
(e)に示すようにロードロック室12が処理室2へ接
近すると搬出入口12Aが処理室2側の接続ユニット7
の枠体7Aと接触する。これと同時に接続ユニット7の
ロック機構7Bの第1エアシリンダ7Eが駆動し、係合
部材7Dがガイドレール7Cに従って上昇してロードロ
ック室12のフランジ11Eと係合すると同時に第2エ
アシリンダ7Fが駆動してロードロック室12を接続ユ
ニット7の枠体7Aに密着させる。
【0034】この時、図12、図13に示すようにロー
ドロック室51がフローティング構造になっていると、
ロードロック室51は何等の衝撃を伴うことなく接続ユ
ニット7と接触し、しかも接続ユニット7に対して多少
の位置ズレがあってもフローティング機構52によって
ズレを吸収し、ロードロック室51と接続ユニット7を
ロック機構7Bを介して円滑に接続することができる。
【0035】引き続き、ゲートバルブユニット6の導入
管6Eから不活性ガス(例えば窒素ガス)を導入すると
共に排気管6Fからロードロック室12内の空気を排気
し、内部の空気を窒素ガスと置換すると共にロードロッ
ク室12内を処理室2内の真空度に近い状態まで真空引
きする。
【0036】ロードロック室12内が所定の真空度に達
した後、ゲートバルブ6Aが開き、ロードロック室12
内で搬送アーム11のモータ11Aが正回転し、同図の
(f)に示すように第1、第2アーム11C、11D及
びハンド11Eが回転軸11Bを介して伸びてハンド1
1Eが処理室2内へ進入し、ハンド11E上のLCD用
基板1を処理室2内の載置台2Aへ引き渡す。この際、
処理済みのLCD用基板1が載置台2A上に存在すれ
ば、ハンド11Eで処理済みのLCD用基板1を受け取
り、処理室2からロードロック室12内に持ち込む。引
き続き、処理室2内へLCD用基板1を搬入した場合と
は逆の手順で処理済みのLCD用基板1をキャリアC内
の元の場所へ戻す。
【0037】また、図4〜図6に示すロードロック室1
20、120’を使用する場合には、ロードロック室1
20、120’を介してキャリアCと処理室2との間で
LCD用基板1を遣取りする時には、換気機構121、
121’が駆動してロードロック室120、120’内
に外気を清浄化しながら送風し、その内部を清浄な空気
で常に正圧に保持し、装置廻りの空気が内部に侵入しな
いようにしてLCD用基板1をパーティクルの汚染から
防止する。即ち、換気機構121、121’が駆動する
と、送風ファン124、124’が始動すると共に、ゲ
ートバルブ122A、122’Aが駆動してロードロッ
ク室120、120’の開口部120C、120’Cを
開放し、外部の空気がHEPAフィルタ123、12
3’で清浄化された後、ロードロック室120、12
0’の開口部120C、120’Cから内部へ流入し搬
出入口120A、120’Aから流出する。これにより
ロードロック室120、120’内には装置廻りの空気
が侵入せず、内部を常に清浄な環境にする。そして、ロ
ードロック室120、120’が処理室2と接続された
時点で換気機構121、121’が停止し、ロードロッ
ク室120、120’内の機密を保持する。その後の工
程は上述した通りである。また、処理室2から処理後の
LCD用基板1を受け取り、キャリアC内へLCD用基
板1を戻す時にも換気機構121、121’が働き、ロ
ードロック室120、120’内に措置廻りの空気が直
接侵入しないようにする。
【0038】以上説明したように本実施形態によれば、
従来の大気下の搬送機構、ロードロック室及び真空下で
搬送する搬送室を搬送ユニット5として纏めて簡素化し
て処理装置をコンパクト化したため、処理装置全体のフ
ットプリントを格段に削減することができ、格段のコス
ト低減を実現することができる。しかも、LCD用基板
1の搬送プロセスも極めて簡素化しているため、LCD
用基板1のスループットを格段に高めることができる。
【0039】また、本実施形態によれば、ロードロック
室120、120’に換気機構121、121’を設け
たため、大気圧下でLCD用基板1を遣取りする時に
は、ロードロック室120、120’内で常に清浄な環
境が保持され、LCD用基板1のパーティクルによる汚
染を確実に防止することができる。
【0040】尚、本発明は上記実施形態に何等制限され
るものではなく、必要に応じて各構成要素を適宜設計変
更することができる。例えば、上記実施形態では、二室
の処理室2と一台の搬送ユニット5を備えた処理装置に
ついて説明したが、例えば図15に示すように、3台の
処理ユニット3と2台の搬送ユニット5を備えた処理装
置であっても良く、また、処理室2と搬送ユニット5が
一対一対応の処理装置であっても良い。また、上記実施
形態ではLCD用基板1の処理装置について説明した
が、半導体ウエハ等の他の処理装置について適用するこ
とができる。要は、従来の大気下の搬送機構、ロードロ
ック室及び真空下で搬送する搬送室を、搬送ユニット5
として纏めたものであれば、全て本発明に包含される。
【0041】
【発明の効果】本発明の請求項1〜請求項10に記載の
発明によれば、装置をコンパクト化してフットプリント
を削減すると共に被処理体の搬送工程を簡素化してスル
ープットを高めることができる処理装置及び処理方法を
提供することができる。
【0042】また、本発明の請求項2〜請求項8及び請
求項10に記載の発明によれば、大気圧下で搬送機構を
用いて被処理体を搬送する時でもロードロック室内の環
境を常に清浄に保持することができ、搬送過程で被処理
体を汚染する虞のない処理装置及び処理方法を提供する
ことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の処理装置の一実施形態を示す斜視図で
ある。
【図2】図1に示す処理装置の載置機構及び搬送ユニッ
トを示す斜視図である。
【図3】図2に示す搬送ユニットのロードロック室を示
す断面図である。
【図4】図3に示すロードロック室とは別のタイプのロ
ードロック室の要部を示す斜視図である。
【図5】図4に示すロードロック室の要部を示す断面図
である。
【図6】図3に示すロードロック室とは更に別のタイプ
のロードロック室の要部を示す斜視図である。
【図7】図3に示すロードロック室が処理室に接続され
た状態を示す図で、(a)はその斜視図、(b)は
(a)の一部を示す断面図である。
【図8】図7の(a)に示す処理室のゲートバルブユニ
ット及び接続ユニットを示す断面図である。
【図9】図8に示すゲートバルブユニットを示す斜視図
である。
【図10】図7(a)に示す接続ユニットのロック機構
を示す斜視図である。
【図11】図10に示すロック機構とは別のタイプのロ
ック機構を示す図で、(a)は処理室とロードロック室
とが接続する直前の状態を示す斜視図、(b)は(a)
のロック機構によってロードロック室を処理室に接続し
た状態を示す斜視図である。
【図12】フローティングタイプのロードロック室を示
す斜視図である。
【図13】図12に示すロードロック室と処理室とを接
続する直前の状態の要部断面図である。
【図14】(a)〜(f)は本発明の処理方法の一実施
形態の搬送工程を説明するための説明図である。
【図15】図1に示す処理装置とは別のタイプの処理装
置の一例を示す平面図である。
【符号の説明】
1 LCD用基板(被処理体) 2 処理室 4 載置ユニット(載置機構) 5 搬送ユニット(搬送機構) 6F 排気管(排気手段) 7B ロック機構 11 搬送アーム 12、120、120’ロードロック室 13 駆動ユニット(駆動機構) 15 旋回駆動機構 16 昇降駆動機構 18 ガイドレール(移動機構) 21 エアシリンダ(移動機構) 121、121 換気機構

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 減圧下で被処理体に所定の処理を施す少
    なくとも一つの処理室と、この処理室と少なくとも一つ
    のキャリアの載置機構との間に配設され且つ上記処理室
    と上記キャリア間で被処理体を直接遣取りする搬送機構
    とを備えた処理装置であって、上記搬送機構は、上記被
    処理体を搬送する搬送アームと、この搬送アームが収納
    され且つ上記処理室と接続自在なロードロック室と、こ
    のロードロック室を上記被処理体の遣取り位置まで移動
    させる駆動機構とを有することを特徴とする処理装置。
  2. 【請求項2】 減圧下で被処理体に所定の処理を施す少
    なくとも一つの処理室と、この処理室と少なくとも一つ
    のキャリアの載置機構との間に配設され且つ上記処理室
    と上記キャリア間で被処理体を直接遣取りする搬送機構
    とを備えた処理装置であって、上記搬送機構は、上記被
    処理体を搬送する搬送アームと、この搬送アームが収納
    され且つ上記処理室と接続自在なロードロック室と、こ
    のロードロック室を上記被処理体の遣取り位置まで移動
    させる駆動機構とを有し、上記ロードロック室内の空気
    を清浄な空気で換気する換気機構を設けたことを特徴と
    する処理装置。
  3. 【請求項3】 上記駆動機構は、上記ロードロック室を
    旋回させる旋回機構を有することを特徴とする請求項1
    または請求項2に記載の処理装置。
  4. 【請求項4】 上記駆動機構は、上記ロードロック室を
    昇降させる昇降機構を有することを特徴とする請求項1
    〜請求項3のいずれか1項に記載の処理装置。
  5. 【請求項5】 上記駆動機構は、上記ロードロック室を
    一方向で移動させる移動機構を有することを特徴とする
    請求項1〜請求項4のいずれか1項に記載の処理装置。
  6. 【請求項6】 上記処理室または上記ロードロック室
    は、これら両者の接続を保持するロック機構を有するこ
    とを特徴とする請求項1〜請求項5のいずれか1項に記
    載の処理装置。
  7. 【請求項7】 上記処理室または上記ロードロック室
    は、上記ロードロック室内を減圧する排気手段を有する
    ことを特徴とする請求項1〜請求項6のいずれか1項に
    記載の処理装置。
  8. 【請求項8】 上記搬送機構は、上記ロードロック室を
    フローティング状態で支持するフローティング機構を有
    することを特徴とする請求項1〜請求項7のいずれか1
    項に記載の処理装置。
  9. 【請求項9】 ロードロック室がキャリアまで移動し、
    このロードロック室内の搬送アームを介してキャリア内
    の被処理体を取り出す工程と、上記ロードロック室が上
    記キャリアから処理室まで移動し、上記ロードロック室
    と上記処理室とを接続する工程と、上記ロードロック室
    内を減圧する工程と、上記ロードロック室と上記処理室
    を連通し、上記搬送アームを介して上記ロードロック室
    と処理室と間で上記被処理体を遣取りする工程とを有す
    ることを特徴とする処理方法。
  10. 【請求項10】 ロードロック室が内部を清浄な気体で
    換気しながらキャリアまで移動し、このロードロック室
    内を清浄な気体で換気しながらその内部の搬送アームを
    介してキャリア内の被処理体を取り出す工程と、上記ロ
    ードロック室が内部を清浄な気体で換気しながら上記キ
    ャリアから処理室まで移動し、上記ロードロック室と上
    記処理室とを接続する工程と、上記ロードロック室内の
    換気を止めてその内部を減圧する工程と、上記ロードロ
    ック室と上記処理室を連通し、上記搬送アームを介して
    上記ロードロック室と処理室と間で上記被処理体を遣取
    りする工程とを有することを特徴とする処理方法。
JP09558699A 1998-04-04 1999-04-01 処理方法 Expired - Fee Related JP4533462B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP09558699A JP4533462B2 (ja) 1998-04-04 1999-04-01 処理方法

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10857698 1998-04-04
JP10-108576 1998-04-04
JP09558699A JP4533462B2 (ja) 1998-04-04 1999-04-01 処理方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH11345859A true JPH11345859A (ja) 1999-12-14
JP4533462B2 JP4533462B2 (ja) 2010-09-01

Family

ID=26436805

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP09558699A Expired - Fee Related JP4533462B2 (ja) 1998-04-04 1999-04-01 処理方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4533462B2 (ja)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2003096410A1 (fr) * 2002-05-10 2003-11-20 Tokyo Electron Limited Dispositif de traitement de substrat
JP2004221197A (ja) * 2003-01-10 2004-08-05 Tokyo Electron Ltd 処理装置
WO2005022627A1 (ja) * 2003-09-01 2005-03-10 Tokyo Electron Limited 基板処理装置
WO2005091337A1 (en) * 2004-03-05 2005-09-29 Axcelis Technologies, Inc. Work piece transfer system for an ion beam implanter
JP2010018888A (ja) * 2009-10-15 2010-01-28 Kaneka Corp Cvd装置及びcvd方法
WO2011102274A1 (ja) * 2010-02-18 2011-08-25 株式会社カネカ 薄膜製造装置及び薄膜製造方法、並びに薄膜製造装置のメンテナンス方法
JP2016092132A (ja) * 2014-10-31 2016-05-23 東京エレクトロン株式会社 基板処理装置

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01133067U (ja) * 1988-02-29 1989-09-11
JPH05335402A (ja) * 1992-06-01 1993-12-17 Hitachi Ltd 搬入搬出装置
JPH0697258A (ja) * 1992-09-17 1994-04-08 Hitachi Ltd 連続真空処理装置
JPH06318626A (ja) * 1993-05-07 1994-11-15 Nec Yamaguchi Ltd 半導体製造装置
JPH06349931A (ja) * 1993-06-10 1994-12-22 Tokyo Electron Ltd 処理システム
JPH0831906A (ja) * 1994-07-08 1996-02-02 Sony Corp 基板処理システム

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01133067U (ja) * 1988-02-29 1989-09-11
JPH05335402A (ja) * 1992-06-01 1993-12-17 Hitachi Ltd 搬入搬出装置
JPH0697258A (ja) * 1992-09-17 1994-04-08 Hitachi Ltd 連続真空処理装置
JPH06318626A (ja) * 1993-05-07 1994-11-15 Nec Yamaguchi Ltd 半導体製造装置
JPH06349931A (ja) * 1993-06-10 1994-12-22 Tokyo Electron Ltd 処理システム
JPH0831906A (ja) * 1994-07-08 1996-02-02 Sony Corp 基板処理システム

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2003096410A1 (fr) * 2002-05-10 2003-11-20 Tokyo Electron Limited Dispositif de traitement de substrat
US7780391B2 (en) 2002-05-10 2010-08-24 Tokyo Electron Limited Substrate processing device
JP2004221197A (ja) * 2003-01-10 2004-08-05 Tokyo Electron Ltd 処理装置
WO2005022627A1 (ja) * 2003-09-01 2005-03-10 Tokyo Electron Limited 基板処理装置
US7874781B2 (en) 2003-09-01 2011-01-25 Tokyo Electron Limited Substrate processing apparatus
WO2005091337A1 (en) * 2004-03-05 2005-09-29 Axcelis Technologies, Inc. Work piece transfer system for an ion beam implanter
JP2007527627A (ja) * 2004-03-05 2007-09-27 アクセリス テクノロジーズ インコーポレーテッド イオンビーム注入装置用のワークピース移送システム
JP2010018888A (ja) * 2009-10-15 2010-01-28 Kaneka Corp Cvd装置及びcvd方法
WO2011102274A1 (ja) * 2010-02-18 2011-08-25 株式会社カネカ 薄膜製造装置及び薄膜製造方法、並びに薄膜製造装置のメンテナンス方法
EP2537956A4 (en) * 2010-02-18 2017-03-22 Kaneka Corporation Thin film manufacturing apparatus, thin film manufacturing method, and method for maintaining thin film manufacturing apparatus
JP2016092132A (ja) * 2014-10-31 2016-05-23 東京エレクトロン株式会社 基板処理装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP4533462B2 (ja) 2010-09-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI417978B (zh) A substrate processing device, a loading lock chamber unit, and a transporting device
JP2644167B2 (ja) コンピュータ化コンベヤベースの製造ライン構造
US11227784B2 (en) Thin plate substrate-holding device and transfer robot provided with this holding device
US20060251499A1 (en) Linear substrate delivery system with intermediate carousel
JPH08213446A (ja) 処理装置
JPH06104332A (ja) ディスパッチング装置
JPH06104331A (ja) 加圧密封式可搬性コンテナ
JPH06104333A (ja) 加圧インタフェース装置
TW201901842A (zh) 薄板狀基板保持用指板及具備此指板的搬送機器人
JP2005521268A (ja) 真空中の平面パネル取扱い装置
TWI765088B (zh) 具有局部沖淨功能的搬送裝置
TW202133304A (zh) 基板處理裝置及基板處理系統
JPH10256346A (ja) カセット搬出入機構及び半導体製造装置
JP3350234B2 (ja) 被処理体のバッファ装置、これを用いた処理装置及びその搬送方法
EP1749116B1 (en) Methods and apparatuses for transferring articles through a load lock chamber under vacuum
JPH11345859A (ja) 処理装置及び処理方法
JP3671983B2 (ja) 真空処理装置
JP3236724B2 (ja) 真空処理装置
JP2004207279A (ja) 薄板状物製造設備
JP3500455B2 (ja) 処理装置
JP4467660B2 (ja) 処理装置
CN113557590A (zh) 基板处理装置
JP3371230B2 (ja) 搬送処理装置
KR20020071467A (ko) 기판 처리 장치
JP3662154B2 (ja) 基板処理システム

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20060329

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20081219

A131 Notification of reasons for refusal

Effective date: 20090106

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

A521 Written amendment

Effective date: 20090309

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090609

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090810

A131 Notification of reasons for refusal

Effective date: 20100223

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

A521 Written amendment

Effective date: 20100422

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20100608

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20100612

R150 Certificate of patent (=grant) or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130618

Year of fee payment: 3

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees