JP2014055892A - イオンクロマトグラフ分析装置およびイオンクロマトグラフ分析方法 - Google Patents
イオンクロマトグラフ分析装置およびイオンクロマトグラフ分析方法 Download PDFInfo
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Abstract
【解決手段】複数のイオン成分を含むサンプル液を送液するサンプル液ポンプ26と、溶離液を送液する溶離液ポンプ28と、送液されたサンプル液に含まれるイオン成分を濃縮する第一濃縮カラム10と、濃縮後の濃縮イオン成分を分離する分離カラム16と、分離カラム16への通液後の分離液の導電率を低下させるサプレッサ18と、導電率を低下させた分離液に含まれる分離イオン成分を導電率により検出する導電率測定装置32と、分離イオン成分のうち少なくとも測定対象成分を含む部分を画分したものを二次濃縮する第二濃縮カラム12と、を備え、二次濃縮後の二次濃縮イオン成分について分離カラム16により二次分離を行うイオンクロマトグラフ分析装置である。
【選択図】図1
Description
(1)測定対象成分と非測定対象成分の検出ピークが近接している場合、高濃度の非測定対象成分のピークが大きすぎて、測定対象成分のピークの検出が困難となる。
(2)濃縮カラムの交換容量が限られているため、高濃度の非測定対象イオン成分がサンプルに含まれる場合、濃縮カラムによる濃縮量を増やすのが困難となる。
(1)測定対象成分と非測定対象成分の検出ピークが近接している場合、高濃度の非測定対象成分のピークが大きすぎて、測定対象成分のピークの検出が困難となる。
(2)濃縮カラムの交換容量が限られているため、高濃度の非測定対象イオン成分がサンプルに含まれる場合、濃縮カラムによる濃縮量を増やすのが困難となる。
Mg2+イオン、Ca2+イオン、K+イオンを各1ppb、アンモニアを10ppm含む水溶液を調製し、サンプル液とした。図1に示すイオンクロマトグラフ分析装置を用い、Mg2+イオン、Ca2+イオン、K+イオンのイオンクロマトグラフ分析を行った。分析条件は以下の通りとした。
サンプル液流量:4mL/min
溶離液:メタンスルホン酸水溶液(15mmol/L)
溶離液流量:1.5mL/min
再生液:純水
再生液流量:1.5mL/min
第一濃縮カラム:サーモフィッシャー製 TCC−LP1(陽イオン交換樹脂)
第二濃縮カラム:サーモフィッシャー製 TCC−LP1(陽イオン交換樹脂)
分離カラム:サーモフィッシャー製 CS15(陽イオン交換樹脂)
サプレッサ:サーモフィッシャー製 CSRS300
カラム温度:30℃
一次濃縮時間:30min
二次濃縮時間:12min
三次濃縮時間:21min
Claims (2)
- 測定対象成分および非測定対象成分を含む複数のイオン成分を分離して検出するイオンクロマトグラフ分析装置であって、
前記複数のイオン成分を含むサンプル液を送液するサンプル液送液手段と、
溶離液を送液する溶離液送液手段と、
前記サンプル液送液手段により送液されたサンプル液に含まれるイオン成分を濃縮する第一濃縮カラムと、
濃縮後の濃縮イオン成分を分離する分離カラムと、
前記分離カラムへの通液後の分離液の導電率を低下させるサプレッサと、
前記導電率を低下させた分離液に含まれる分離イオン成分を導電率により検出する導電率測定手段と、
前記分離イオン成分のうち少なくとも前記測定対象成分を含む部分を画分したものを二次濃縮する第二濃縮カラムと、
を備え、
前記第二濃縮カラムによる二次濃縮後の二次濃縮イオン成分について前記分離カラムにより二次分離を行うことを特徴とするイオンクロマトグラフ分析装置。 - 測定対象成分および非測定対象成分を含む複数のイオン成分を分離して検出するイオンクロマトグラフ分析方法であって、
前記複数のイオン成分を含むサンプル液を第一濃縮カラムに通液してイオン成分を濃縮する一次濃縮工程と、
前記一次濃縮工程後の一次濃縮イオン成分を溶離液により分離カラムに通液して分離する一次分離工程と、
前記一次分離工程後の一次分離液の導電率を低下させる一次導電率低下工程と、
前記一次導電率低下工程後の一次分離液に含まれる一次分離イオン成分を導電率により検出する一次導電率測定工程と、
前記一次分離イオン成分のうち少なくとも前記測定対象成分を含む部分を画分したものを第二濃縮カラムに通液して濃縮する二次濃縮工程と、
前記二次濃縮工程後の二次濃縮イオン成分を溶離液により前記分離カラムに通液して分離する二次分離工程と、
前記二次分離工程後の二次分離液の導電率を低下させる二次導電率低下工程と、
前記二次導電率低下工程後の二次分離液に含まれる二次分離イオン成分を導電率により検出する二次導電率測定工程と、
を含むことを特徴とするイオンクロマトグラフ分析方法。
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