JP2014048529A - ラマン顕微鏡 - Google Patents

ラマン顕微鏡 Download PDF

Info

Publication number
JP2014048529A
JP2014048529A JP2012192335A JP2012192335A JP2014048529A JP 2014048529 A JP2014048529 A JP 2014048529A JP 2012192335 A JP2012192335 A JP 2012192335A JP 2012192335 A JP2012192335 A JP 2012192335A JP 2014048529 A JP2014048529 A JP 2014048529A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
objective lens
raman microscope
raman
sample
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2012192335A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5998342B2 (ja
Inventor
Minoru Kobayashi
小林  実
Shogo Kawano
省悟 河野
Taisuke Ota
泰輔 太田
Shunichiro Matsuzaka
俊一郎 松坂
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nanophoton Corp
Original Assignee
Nanophoton Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nanophoton Corp filed Critical Nanophoton Corp
Priority to JP2012192335A priority Critical patent/JP5998342B2/ja
Publication of JP2014048529A publication Critical patent/JP2014048529A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5998342B2 publication Critical patent/JP5998342B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Microscoopes, Condenser (AREA)
  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)

Abstract

【課題】視野の広いラマン顕微鏡を提供すること。
【解決手段】励起光2を出射する光源1と、励起光2を試料15に照射する光学系と、試料15で発生したラマン散乱光を検出する検出器12とを備えたラマン顕微鏡であって、光学系は、光反射面4cを有し励起光2の向きを可変に変更するガルバノミラー4bと、対物レンズ5とを有しており、対物レンズ5のビームスポット16で発生する光により対物レンズ5の後側に形成される光束は、少なくとも一部の光束18は反射素子の光反射面に入射し、他の一部の光束17はガルバノミラー4bの光反射面4cに入射しないラマン顕微鏡を構成する。
【選択図】図2

Description

本発明は、ラマン顕微鏡に関するものであり、特に広視野の観察に適したラマン顕微鏡に関するものである。
ラマン分光法は物質の同定、結晶の評価、応力の測定などに用いられる光学的測定手法である。例えば、測定対象の試料の1μm程度(あるいはそれ以下)のサイズの領域を分析するために、顕微鏡用対物レンズを用いて光源からの光をスポット状の領域に集光する顕微ラマン分光法が広く用いられている。
図7は、従来の一般的な顕微ラマン分光装置(以下、「ラマン顕微鏡」と記載する場合もある。)を示す図である。顕微ラマン分光装置においては、レーザ光源から射出された光がビームスプリッタによって反射された後、顕微鏡用対物レンズによって試料(サンプル)上のスポット状の領域に集光される。このとき、サンプルのスポット状領域からはラマン散乱光が発生する。発生したラマン散乱光は、レーザ光源からの光を集光したのと同じ顕微鏡用対物レンズによって平行光として集められ、ビームスプリッタを透過し、レンズによって集光され、分光器の手前に設置された空間フィルタであるスリットを透過する。スリットを透過したラマン散乱光は分光器によってスペクトルに分光され、検出器によって測定される。
このような顕微ラマン分光装置において、レーザ光のスポットをサンプル上で二次元に走査すれば、物質、応力等の分布像を取得することができる。走査方法としては、(1)ガルバノミラーなどによって対物レンズに入射するレーザ光の角度を変化させ、固定されたサンプルに対してスポットを動かすビームスキャン方式と、(2)サンプルを可動ステージ上に置いて、固定されたスポットに対してサンプルを動かす、ステージスキャン方式が知られている。
ビームスキャン方式の顕微ラマン分光装置としては、例えば特許文献1のものが知られている。図8は、特許文献1の図5を示すものである。この図面の説明に限り、特許文献1において付されている符号のまま説明する。図8においてレーザ光源10から射出された光は、エッジフィルタ19で反射され、Y走査装置16、X走査装置20で反射されたあと、リレーレンズ21,22を介して対物レンズ23に入射し、対物レンズ23の下に置かれた試料24に入射する。この顕微ラマン分光装置では、ガルバノミラー等のY走査装置16、X走査装置20の角度をそれぞれ振ることにより、レーザ光のビームスポットが試料24上で二次元に走査される。
特開2010−54368号公報(第5図)
しかしながら、従来の顕微鏡用対物レンズを用いた装置には次の問題があった。ビームスキャン方式においては、測定できる範囲が使用する顕微鏡用対物レンズの視野(100μmから数mm程度)に制限され、視野外においては空間分解能、感度などの性能が大きく低下してしまう。また、顕微鏡用対物レンズの筺体内部には開口絞りが存在しているため、開口絞りによって光が蹴られないようにするために走査装置との間にリレーレンズが必要であり、そのために装置の部品点数が増え、装置が複雑になる。さらにリレーレンズによる光の損失が原因の感度の低下、リレーレンズから発生する蛍光による背景光の増大が問題となる。
ステージスキャン方式においては、対物レンズの視野による測定範囲の制限はないが、例えば、ピントがあっているかなど対物レンズの視野の外の状態を調べるためには、ステージによるサンプルの移動が必要であり、測定範囲全体の状態がわかりにくい。また、ステージを動作させることによって試料に振動が加わってしまうなどの問題、その他、一般的にビームスキャン方式よりも走査に時間がかかるといった問題がある。
本発明は上記の様な事情に着目してなされたものであって、その目的は、対物レンズの性能を活かしつつ広い視野のラマン分光像を形成し得るラマン顕微鏡を提供することにある。
対物レンズは、試料から様々な方向へ発する光をできるだけ広い角度範囲で多く集光して、試料の像をより正確に得ようとするものである。しかし、レンズの周縁部を通過する光には歪曲収差などの諸収差が現れ、像品質を落としてしまう。そのため顕微鏡用対物レンズには通常、諸収差の発生要因である周縁光をカットする(蹴る)ための開口絞りが設けられている。この開口絞りを通過した光は、収差の少ない像の形成に寄与する。したがって、開口絞りの後側の光学系で更に蹴られが発生することなくCCD等の検出器に到達することが望ましいのである。
例えば、前述の図8に示したラマン顕微鏡におけるリレーレンズ21,22は、試料24で発生して対物レンズ23を透過してきた様々な方向の光がガルバノミラー等のX走査装置20によって蹴られないようにするため、すなわち対物レンズ23を透過した全光束をX走査装置20の反射面に到達させるために設けられている。このように、対物レンズ23を透過した光がX走査装置20に蹴られないようにすることは、技術常識として大前提をなしていた。
本発明者は、試料の広い視野を観察するために対物レンズとして実体顕微鏡用対物レンズを用いることを検討したが、対物レンズとして実体顕微鏡用の対物レンズ等を用いる場合には、従来のようにリレーレンズを用いることが困難であることに直面した。その理由は、実体顕微鏡用対物レンズは、焦点距離fに対する開口数(NA)の比(NA/f)が通常の顕微鏡用対物レンズよりも非常に大きいために、仮にリレーレンズを使用して実用的なリレー性能を得ようとすると、リレーレンズ1つあたりの構成レンズ枚数が実体顕微鏡用対物レンズなみに多くなってしまい、これらのレンズを透過することに伴う光の損失が非常に多くなってしまうためである。
そこで本発明者は、対物レンズを透過した光がガルバノミラー等の走査装置に蹴られないようにするという従来の前提にとらわれず、対物レンズの前側焦点で発生する光により対物レンズの後側に形成される光束のうち少なくとも一部はガルバノミラー等の反射素子に入射させ、光束の他の一部はガルバノミラーに入射させない構成、すなわち対物レンズを透過した光の一部がガルバノミラーによって蹴られるという構成に想到した。対物レンズを透過した光がガルバノミラーによって一部蹴られるということは、ガルバノミラーに対物レンズの開口絞りの役割を持たせるものである。対物レンズの開口絞りの位置においてガルバノミラーの角度が変化することにより、対物レンズの開口数を最大限に活かしたビーム走査が可能となる。
上記目的を達成し得た本発明のラマン顕微鏡は、励起光を出射する光源と、前記励起光を試料に照射する光学系と、前記試料で発生したラマン散乱光を検出する検出器と、を備えたラマン顕微鏡であって、
前記光学系は、光反射面を有し前記励起光の向きを可変に変更する反射素子と、対物レンズとを有しており、前記対物レンズの前側焦点で発生する光により前記対物レンズの後側に形成される光束は、少なくとも一部は前記反射素子の光反射面に入射し、前記光束の他の一部は前記反射素子の光反射面に入射しないものである。
このような構成により、対物レンズの開口数を最大限に活かしたビーム走査が可能となり、試料の広い視野のラマン分光像を得ることができる。
上記ラマン顕微鏡において、前記反射素子の光反射面と前記対物レンズの光軸との交点を、前記対物レンズの後側焦点から、前記対物レンズから離れる方向に距離0.2F(F:対物レンズの後側焦点距離)離れた位置よりも前記対物レンズに近い側におくことが好ましい。
上記ラマン顕微鏡において、前記対物レンズに入射する前記励起光のビーム径を、前記対物レンズの前側焦点で発生する光により前記対物レンズの後側に形成される光束であって前記反射素子の光反射面に入射する光束の径の70%以下とすることが好ましい。
上記ラマン顕微鏡において、前記反射素子の光反射面に入射する前記励起光のビーム径を、前記光反射面の短径の70%以下とすることが好ましい。
上記ラマン顕微鏡において、前記対物レンズは、1または複数のレンズで構成されるレンズ系と、該レンズ系を保持するための筒状筐体とを有しており、前記対物レンズの前側焦点で発生して前記対物レンズの像面側に透過できる光と光軸とがなす角の最大値が前記筒状筐体によって制限されていることが好ましい。
上記ラマン顕微鏡において、前記対物レンズとして、平行系実体顕微鏡用対物レンズを用いることができる。
上記ラマン顕微鏡において、前記平行系実体顕微鏡用対物レンズの焦点距離を40mm以上とすることが好ましい。
上記ラマン顕微鏡において、前記試料を観察する撮像装置をさらに設けることが好ましい。
上記ラマン顕微鏡において、前記反射素子と前記対物レンズとの間にレンズが存在させない態様を好ましく実施することができる。
上記ラマン顕微鏡において、前記検出器の光入射側に分光器、該分光器の光入射側に空間フィルタを更に有しており、前記対物レンズの前側焦点位置から、前記空間フィルタへの結像倍率を2.5倍以下とすることが好ましい。
上記ラマン顕微鏡において、前記反射素子のうちの少なくとも1つを、2軸方向に走査が可能な反射素子とすることが好ましい。
上記ラマン顕微鏡において、前記反射素子のうち、前記対物レンズに最も近いものの光反射面の形状を楕円とすることが好ましい。
本発明のラマン顕微鏡では、対物レンズの前側焦点で発生する光により対物レンズの後側に形成される光束が少なくとも一部は反射素子の光反射面に入射し、光束の他の一部は反射素子の光反射面に入射しない構成とすることにより、対物レンズの性能を活かしつつ、広い視野のラマン分光像を得ることができる。さらに、従来、反射素子と対物レンズの間に使用していたリレーレンズを用いる必要もなくなる。
図1は、本発明の実施の形態におけるラマン顕微鏡の装置構成図である。 図2は、同実施の形態のラマン顕微鏡における光の進路を示す図である。 図3は、同実施の形態のラマン顕微鏡においてガルバノミラーの角度を変えた場合における光の進路を示す図である。 図4は、図3の一部拡大図であり、ガルバノミラーの設置位置を説明するものである。 図5は、図2の一部拡大図であり、対物レンズ付近の光の様子を示すものである。 図6(a)は、励起光のビーム径が大きい場合のスポットの様子、図6(b)は、励起光のビーム径が小さい場合のスポットの様子を示すものである。 図7は、従来のラマン顕微鏡の光学系を示すものである。 図8は、他の従来のラマン顕微鏡の光学系を示すものである。
以下、本発明の実施の形態により本発明をより具体的に説明するが、本発明はもとより下記実施の形態によって制限を受けるものではなく、前・後記の趣旨に適合し得る範囲で適当に変更を加えて実施することも勿論可能であり、それらはいずれも本発明の技術的範囲に包含される。以下、図面を用いて本発明の実施の形態におけるラマン顕微鏡について説明する。
図1は、本発明の実施の形態におけるラマン顕微鏡の装置構成図である。図1において、レーザである光源1から射出された励起光2は、ビームエキスパンダー3によってビーム径を拡げられた後、エッジフィルタ7、反射素子であるガルバノミラー4により向きを変えられる。その後、励起光2は、対物レンズ5に入射して試料ステージ6上に集光されビームスポットを形成する。
試料において散乱された光は、再び対物レンズ5に入射した後にガルバノミラー4により向きを変えられ、エッジフィルタ7を透過することによりレーザ光(励起光2)が除去され、結像レンズ8(焦点距離200mm)によって分光器10の入口に入射される。なお分光器10の入口側には、ピンホールやスリットに代表される空間フィルタ9が設けられている。分光器10の内部に導入された光は、反射型グレーティング11によって波長ごとに分光され、冷却CCD等の検出器12によって光の強度が測定される。ガルバノミラー4は、角度の変更が可変な光学素子であり、ガルバノミラー4の向きを変えてビームスポットを2次元に走査することにより2次元のラマン分光イメージを取得することができる。
また、ガルバノミラー4と対物レンズ5との間にビームスプリッタを挿入し、分岐された光をビデオカメラ13の撮像素子上に結像させることで、測定しようとする視野全体のフォーカス等状態を把握することができる。
図1のラマン顕微鏡において、ガルバノミラー4は、励起光2の向きを変更できる反射素子であり、X軸変更用とY軸変更用の二つの反射素子を備えている。X軸、Y軸は、対物レンズ5の光軸に垂直な面において規定されるものである。後述するが、一つの反射素子を用いてX軸、Y軸の2軸の角度を走査することもできる。
図1のラマン顕微鏡において、エッジフィルタ7は、波長に応じて光を反射又は透過する。すなわち、エッジフィルタ7は、波長に応じた透過率、及び反射率を有している。具体的には、エッジフィルタ7は、レーザ波長の光を反射して、レーザ波長よりも波長の長い光を透過する。これにより、効率よく、ラマン散乱光を測定することができる。すなわち、励起光2となるレーザ光のほとんどは、エッジフィルタ7で反射して、試料の方向に向かう。一方、レーザ光よりも長い波長を有するラマン散乱光のほとんどは、エッジフィルタ7を透過して、分光器10の方向に向かう。エッジフィルタ7には、例えばSemrock社製のラマン分光用フィルタ「RazorEdge」を用いることができる。
対物レンズ5には、例えば、オリンパス社製の「SDF PLAPO 1XPF」(NA:0.15)等の実体顕微鏡用対物レンズを用いることができる。実体顕微鏡用対物レンズは、顕微鏡用の対物レンズに比べて、焦点距離が長い、視野が広い、無限系(平行系)の光学系であるといった特徴がある。実体顕微鏡用対物レンズの焦点距離の下限については、例えば、40mm、60mm、80mmとすることができる。焦点距離の上限については特にはないが、例えば、300mm、250mm、200mmとすることもできる。また、実体顕微鏡用対物レンズは、1または複数のレンズで構成されるレンズ系と、このレンズ系を保持するための筒状筐体とを有しており、対物レンズの前側焦点で発生して対物レンズの像面側に透過できる光と光軸とがなす角の最大値が筒状筐体によって制限されているという特徴も有している。すなわち、筒状筐体の内部には、視野を制限するための開口絞りを有していない。
図2も、基本的には図1のラマン顕微鏡を示す図であるが、図1がラマン顕微鏡の主に装置構成を示しているのに対して、図2は、同ラマン顕微鏡における光の進路をより詳細に示すものである。図2において、光源1から射出された励起光2は、ビームエキスパンダー3によってビーム径を拡げられた後、エッジフィルタ14で反射され、さらに反射素子であるX軸用のガルバノミラー4aおよびY軸用のガルバノミラー4bにより向きを変えられる。なお、実際には、ガルバノミラー4aは光線を紙面の奥行き方向に反射させるものであるが、図面の理解のため便宜上、同一平面内の光学系として表している。その後、励起光2は、対物レンズ5に入射して前側焦点であるビームスポット16に集光され、試料ステージ6上の試料15を照射する。試料15は、励起光2により基底状態から、ラマン散乱光を放出し得る励起状態となる。
励起された試料15から発生するラマン散乱光は、再び対物レンズ5に入射した後にガルバノミラー4b、4aにより向きを変えられ、エッジフィルタ14を透過することにより励起光2が除去され、結像レンズ8によって分光器10の入口に入射される。分光器10の入口側には、図1において説明した通り、ピンホールやスリットに代表される空間フィルタ9が設けられている。分光器10の内部に導入された光は、反射型グレーティング11によって波長ごとに分光され、冷却CCD等の検出器12によって光の強度が測定される。
試料15から散乱された光の振る舞いについてもう少し詳しく説明すると、対物レンズ5の前側焦点16で発生する光により対物レンズ5の後側に形成される光束の一部である光束18は最初に到達するガルバノミラー4bの光反射面4cに入射して分光器10に到達している。一方、光束の他の一部である光束17はガルバノミラー4bの光反射面4cに入射せず、分光器10には到達しない。すなわち、対物レンズ5の後側に形成される光束の中でも、最初に到達するガルバノミラー4bによって蹴られる部分があり、ガルバノミラー4bの光反射面4cが実質的に対物レンズ5の開口絞りの役割を果たしている。
図3は、図2のラマン顕微鏡においてガルバノミラー4bの角度を変えた場合における光の進路を示す図である。図3では、ガルバノミラー4bの角度を変えた場合に形成されるビームスポット19と、ビームスポット19で発生した光であって最初に到達するガルバノミラー4bの光反射面4cに入射する光束20を示している。なお、図面の複雑化を避けるために、ビームスポット16,19で発生した光のうちガルバノミラー4bの光反射面4cに入射しない光束は図示していない。図3にも示すように、ガルバノミラー4bの光反射面4cは対物レンズ5の開口絞りとして働いている。
以上説明したように、本発明は、励起光2を出射する光源1と、励起光2を試料15に照射する光学系と、試料15で発生したラマン散乱光を検出する検出器12とを備えたラマン顕微鏡であって、光学系は、光反射面4cを有し励起光2の向きを可変に変更する反射素子4bと、対物レンズ5とを有しており、対物レンズ5の前側焦点16で発生する光により対物レンズ5の後側に形成される光束は、少なくとも一部の光束18は反射素子の光反射面に入射し、他の一部の光束17は反射素子4bの光反射面4cに入射しないものである。このように対物レンズ5の開口絞りとなるガルバノミラー4bの角度を変化させるために、リレーレンズを用いずとも対物レンズ5の開口数(NA)を最大限に活かしたビーム走査が可能となる。
本発明では、反射素子であるガルバノミラー4bと対物レンズとの間のリレーレンズをなくすこともできるため、リレーレンズによる信号光(ラマン散乱光)の損失が起こらない、リレーレンズにおいて励起光2に起因して発生する蛍光をなくせるため、ラマン散乱光のSN比が向上する、といった効果が得られる。リレーレンズをなくすことにより、その他の効果もある。リレーレンズの間ではレーザ光のパワーの空間密度が高いため、空気中の分子によるラマン散乱光が発生する。例えば、酸素、又は窒素にレーザ光が照射されると、ラマン散乱光が出射される。したがって、空気からのラマン散乱光が光学系を伝播して、検出器12によって検出されてノイズとなってしまう。したがって、リレーレンズをなくせば、より精度の高いラマン顕微が可能となる。
以下、本発明のより好ましい実施態様について説明する。
(1)ガルバノミラー4bの設置位置
図4は、図3の一部拡大図であり、ガルバノミラー4bの好ましい設置位置を説明するものである。図4では、光線の屈折を理解しやすくするために、対物レンズ5は1枚のレンズで示している。図4に示すように、ガルバノミラー4bの光反射面4cと対物レンズ5の光軸との交点を、対物レンズ5の後側焦点21から、対物レンズ5から離れる方向に距離0.2F(F:対物レンズの後側焦点距離)離れた位置(遠点22)よりも対物レンズ5に近い側におくことが好ましい。対物レンズ5の筐体に蹴られることなく、励起光2を走査できる範囲を広げるという観点、或いは、試料15からの光束を検出器12に導くという観点から、ガルバノミラー4bは、できるだけ対物レンズ5に近い位置に置くことが好ましいからである。
さらに、ガルバノミラー4bの光反射面4cと対物レンズ5の光軸との交点を、対物レンズ5の後側焦点21付近に置けば、後側焦点面の同じ点から発した光は対物レンズ5と試料15との間では平行光となる物体側テレセントリック光学系となり、試料15をフォーカスの合った位置から光軸方向に多少動かしたり、傾斜させたりしても、ラマン分光像の形が変化せず、試料の形状を正確に調べられる。このような効果を実効的に得るためには、ガルバノミラー4bの光反射面4cと対物レンズ5の光軸との交点を、対物レンズ5の後側焦点21の位置から、後側焦点距離(F)の±20%以内でずれた位置、すなわちガルバノミラー4bの光反射面4cと対物レンズ5の光軸との交点と、対物レンズの後側焦点との距離を0.2F以下の範囲とすることが好ましい。より好ましくは0.15F以下、さらに好ましくは0.1F以下である。
(2)励起光2のビーム径Di
図5は、図2の一部拡大図であり、対物レンズ5付近の光路を示すものである。
対物レンズ5に入射する励起光2のビーム径の大きさDiは、対物レンズ5の前側焦点で発生する光により対物レンズ5の後側に形成される光束であって反射素子であるガルバノミラー4bの光反射面4cに入射する光束18の径の大きさDdの70%以下であることが好ましい。より好ましくは60%以下、さらに好ましくは50%以下、いっそう好ましくは40%以下である。以下、励起光2のビーム径の大きさDiを、光束18の径の大きさDdよりも小さくすることが望ましい理由について詳しく説明する。
図7に示した従来の顕微ラマン分光イメージング装置には、焦点深度が浅く、試料の僅かな凹凸でもデフォーカスしてしまう問題点があった。これは、図7の光学系が共焦点光学系となっており、分光器の入り口に設置された空間フィルタ(例えばスリット、ピンホール等)によって対物レンズの前側焦点から光軸方向に外れた点からの光が遮られてしまい、分光器に入射しないためである。
共焦点光学系においては、対物レンズの焦点と共役な位置に空間フィルタが置かれるため、対物レンズの前側焦点面以外から発生した光はカットされ検出器に到達しない。図1の光学系は空間フィルタ9が対物レンズ5の焦点と共役な位置に置かれた共焦点光学系である。
このような共焦点光学系においては、対物レンズ5によって光が集光、収集される角度、すなわちNAを小さくすることで、焦点深度が深くなる。しかしながら、対物レンズ5のNAを小さくした場合には、試料15から発生する光を収集できる量がNAの2乗に比例して小さくなってしまう。ラマン分光測定においては、試料15で発生するラマン散乱光が微弱であるため、試料15から発生したラマン散乱光はできる限り広い角度で集光する必要があり、NAはできるだけ大きくしたいところである。
共焦点光学系の焦点深度を大きくする別の方法として、空間フィルタ9の開口(ピンホールの開口径、あるいはスリット幅)を大きくすることも考えられる。しかしながら、顕微ラマン分光イメージング装置においては、空間フィルタ9は分光器10の入り口に設置されているため、そのサイズを大きくすると、分光分解能が低下してしまうという技術常識がある。
そこで、本発明者は、ラマン散乱光の集光効率や分光分解能を維持しつつ、焦点深度を深めるため、以下の検討を行った。
図5に示したように、試料15と対物レンズ5の間において、励起光2と光軸とがなす最大角度をθi、試料15から発生してガルバノミラー4bに蹴られない光束18と光軸とがなす最大角度をθdとする。ここで、sin(θi)の値を「照明側NA」あるいは「NAi」、sin(θd)の値を「検出側NA」あるいは「NAd」ということにする。
図6は、対物レンズ5付近から試料15にかけての光の様子を示すものであり、図6(a)は、励起光2のビーム径Diが大きい場合(照明側NAが大きい場合)のスポットの様子、図6(b)は、励起光2のビーム径Diが小さい場合(照明側NAが小さい場合)のスポットの様子を示すものである。当然のことながら、照明側NAが小さい場合のスポットは大きくなる。
共焦点光学系の焦点深度は、光源1からの励起光2が試料15に集光される角度(θi)およびサンプルから発生した光が集光される角度(θd)の両方によって決まる。すなわち、照明側NA、検出側NAの両方によって決まる。
焦点深度を深くするために、検出側NAを小さくすると、試料15から発生する光の集光量が低下してしまう。一方で細い励起光2を使用することで照明側のNAのみを小さくする場合には、試料15から発生する光の収集効率を下げることなく、焦点深度を深くすることができる。
上記のようにDiの小さい励起光2を用いる場合には、試料15におけるビームスポットのサイズは大きくなり、面内の空間分解能は低下する。通常の顕微鏡においてはこのような空間分解能の低下は好ましくない。しかしながら、広い視野を測定することが目的である場合には、ビームスポットを大きくすることは、より少ない測定点数で視野全体を測定できるため、むしろ好ましいものである。
次に、Diの小さい励起光2を用いる場合に好ましい空間フィルタ9の開口サイズ(ピンホールにおいては開口直径、スリットにおいては開口幅)について説明する。図6の光学系において、励起光2が試料15に形成するビームスポットのサイズは、照明側NA(NAi)を用いて1.22λ/NAiと表される。λは、励起光2の波長である。ここで、1.22λ/NAiのサイズのスポット状の領域から発生したラマン散乱光は、空間フィルタ9の位置に1.22Mλ/NAiのスポットサイズで結像される(但し対物レンズ5から空間フィルタ9までの検出光学系での回折の効果は、Di<Ddの場合には微小であるため考慮していない)。ここでMは試料15(対物レンズの前側焦点面の位置)から空間フィルタ9までの結像の倍率である。空間フィルタ9の開口のサイズを、1.22Mλ/NAiとすることで、試料15上のビームスポットからの光のほとんどを分光器10側に通すことができる。
ある開口サイズの空間フィルタ9による共焦点作用(焦点深度を浅くさせる作用)の大きさは、検出側NA(NAd)および結像倍率Mによって決まる。空間フィルタ9の開口サイズが1.22Mλ/NAdの半分の大きさの場合、焦点深度はほぼ最小となり、これを超える開口サイズの場合には、焦点深度は空間フィルタ9の開口サイズと1.22Mλ/NAdの大きさの比にほぼ比例することが知られている。
したがって、Diの小さい励起光2によって試料15に形成される大きめのビームスポットのサイズに合わせて、空間フィルタ9の開口サイズを1.22Mλ/NAiとすると、NAi<NAdであることから、1.22Mλ/NAi>1.22Mλ/NAdであるため、従来のラマン顕微鏡(NAi=NAd)に比べて、空間フィルタ9の開口サイズが大きいため、空間フィルタ9の共焦点作用が小さくなり、より深い焦点深度が得られる。すなわち、本実施の形態における空間フィルタ9の開口サイズは、試料15のビームスポット16からの光のほとんどを通すことができるだけでなく、従来よりも共焦点作用が小さく抑えられている。
次に、分光分解能の観点から、開口フィルタ9の好ましい開口サイズについて考える。分光分解能はより小さなピンホールを用いることで向上するが、冷却CCDカメラのような、アレイ型の検出器12を用いる場合には、検出器12の画素のサイズより小さくしても(モノクロメータの場合には出口スリットの大きさよりも小さくしても)、ほとんど分光分解能は向上しない。したがって、検出器12の画素サイズ程度が、より高い分光分解能を得るために好ましい空間フィルタ9の開口サイズである。
以上の条件を満たすために、1.22Mλ/NAiが検出器12の画素サイズ程度となる結像倍率Mを特定することが好ましい。これによって、ラマン散乱光の集光効率、分光分解能を維持しつつ、焦点深度の深いラマン顕微鏡が実現される。与えられた対物レンズに対して、結像倍率Mは、空間フィルタ9への結像レンズ8の焦点距離によって調整することができる。
結像倍率Mの上限は、例えば、2.5倍、2.0倍、或いは、1.5倍とすることができる。倍率の下限は、例えば、0.2倍、0.4倍、或いは、0.6倍とすることができる。
一例として、表1に従来のラマン顕微鏡と、本発明の実施の形態におけるラマン顕微鏡の設計パラメータを示す。
他方、ビーム径Diの好ましい大きさを他の方法で特定することもできる。例えば、反射素子の光反射面に入射する励起光のビーム径Diは、光反射面の短径の70%以下とすることが好ましい。より好ましくは60%以下、さらに好ましくは50%以下、いっそう好ましくは40%以下である。
(3)反射素子(ガルバノミラー)
(3−1)反射素子が複数ある場合
図2を用いて説明したように、反射素子が複数ある場合は、対物レンズ5の前側焦点で発生する光により対物レンズ5の後側に形成される光束17は、対物レンズ5に最も近いガルバノミラー4bによって蹴られる構成にする必要があるが、ガルバノミラー4bによって蹴られずに反射された光束18は、対物レンズ5に対して遠い位置にあるガルバノミラー4aによっては蹴られない構成とすることが望ましい。対物レンズ5の瞳はガルバノミラー4bによって規定されているため、光束18が瞳以外のガルバノミラー4aによって蹴られると、分光器10に入射する光の量が不必要に低下し、分光イメージング特性を一定に保てないからである。
(3−2)反射素子が一つの場合
先にも少し触れたが、一つの反射素子を用いてX軸、Y軸の2軸の角度を走査することもできる。2軸可変の反射素子としては、例えば、THORLABS社製の「高速ステアリングミラー」を使用することができる。このような1枚で2軸可変の反射素子を用いることにより、対物レンズ5に対する開口絞りが1つの反射素子の光反射面で定まるため、分光イメージング特性を一定に保つことができる。
(3−3)反射素子の光反射面の形状
対物レンズ5に最も近いガルバノミラー4bの光反射面4cの形状を楕円とすることが望ましい。光反射面4cは、上述の通り対物レンズ5の開口絞りの役割を果たしているが、検出器12から見て開口絞りである光反射面4cが円形となるためには、光反射面4cの実際の形状を楕円とすればよいからである。上記の高速ステアリングミラーを使用する場合も同様に、光反射面4cの形状を楕円とすることが望ましい。
以上のように、本実施の形態におけるラマン顕微鏡によれば、対物レンズの前側焦点で発生する光により対物レンズの後側に形成される光束のうち少なくとも一部はガルバノミラー等の反射素子に入射させ、光束の他の一部はガルバノミラーに入射させない構成とすることにより、対物レンズの開口数を最大限に活かしたビーム走査が可能となり、試料の広い視野のラマン分光像を得ることができる。また、対物レンズに入射する励起光のビーム径を小さくすることにより、ラマン散乱光の集光効率や分光分解能を維持しつつも、焦点深度の深いラマン顕微鏡を提供することができるものである。
1 光源
2 励起光
3 ビームエキスパンダー
4a ガルバノミラー
4b ガルバノミラー
4c 光反射面
5 対物レンズ
6 試料ステージ
7 エッジフィルタ
8 結像レンズ
9 空間フィルタ
10 分光器
11 反射型グレーティング
12 検出器
13 ビデオカメラ
14 エッジフィルタ
15 試料
16 ビームスポット
17 光束
18 光束
19 ビームスポット
20 光束
21 後側焦点
22 遠点

Claims (12)

  1. 励起光を出射する光源と、
    前記励起光を試料に照射する光学系と、
    前記試料で発生したラマン散乱光を検出する検出器と、を備えたラマン顕微鏡であって、
    前記光学系は、光反射面を有し前記励起光の向きを可変に変更する反射素子と、対物レンズとを有しており、
    前記対物レンズの前側焦点で発生する光により前記対物レンズの後側に形成される光束は、少なくとも一部は前記反射素子の光反射面に入射し、前記光束の他の一部は前記反射素子の光反射面に入射しないことを特徴とするラマン顕微鏡。
  2. 前記反射素子の光反射面と前記対物レンズの光軸との交点は、前記対物レンズの後側焦点から、前記対物レンズから離れる方向に距離0.2F(F:対物レンズの後側焦点距離)離れた位置よりも前記対物レンズに近い側にある請求項1に記載のラマン顕微鏡。
  3. 前記対物レンズに入射する前記励起光のビーム径が、前記対物レンズの前側焦点で発生する光により前記対物レンズの後側に形成される光束であって前記反射素子の光反射面に入射する光束の径の70%以下である請求項1または2に記載のラマン顕微鏡。
  4. 前記反射素子の光反射面に入射する前記励起光のビーム径が、前記光反射面の短径の70%以下である請求項1〜3のいずれかに記載のラマン顕微鏡。
  5. 前記対物レンズは、1または複数のレンズで構成されるレンズ系と、該レンズ系を保持するための筒状筐体とを有しており、前記対物レンズの前側焦点で発生して前記対物レンズの像面側に透過できる光と光軸とがなす角の最大値が前記筒状筐体によって制限されている請求項1〜4のいずれかに記載のラマン顕微鏡。
  6. 前記対物レンズが、平行系実体顕微鏡用対物レンズである請求項1〜5のいずれかに記載のラマン顕微鏡。
  7. 前記平行系実体顕微鏡用対物レンズの焦点距離が40mm以上である請求項6に記載のラマン顕微鏡。
  8. 前記試料を観察する撮像装置をさらに設けた請求項1〜7のいずれかに記載のラマン顕微鏡。
  9. 前記反射素子と前記対物レンズとの間にレンズが存在しない請求項1〜8のいずれかに記載のラマン顕微鏡。
  10. 前記検出器の光入射側に分光器、該分光器の光入射側に空間フィルタを更に有しており、前記対物レンズの前側焦点位置から、前記空間フィルタへの結像倍率が2.5倍以下である請求項1〜9のいずれかに記載のラマン顕微鏡。
  11. 前記反射素子のうちの少なくとも1つは、2軸方向に走査が可能な反射素子である請求項1〜10のいずれかに記載のラマン顕微鏡。
  12. 前記反射素子のうち、前記対物レンズに最も近いものの光反射面の形状が楕円である請求項1〜11のいずれかに記載のラマン顕微鏡。
JP2012192335A 2012-08-31 2012-08-31 ラマン顕微鏡 Active JP5998342B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012192335A JP5998342B2 (ja) 2012-08-31 2012-08-31 ラマン顕微鏡

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012192335A JP5998342B2 (ja) 2012-08-31 2012-08-31 ラマン顕微鏡

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2014048529A true JP2014048529A (ja) 2014-03-17
JP5998342B2 JP5998342B2 (ja) 2016-09-28

Family

ID=50608252

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012192335A Active JP5998342B2 (ja) 2012-08-31 2012-08-31 ラマン顕微鏡

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5998342B2 (ja)

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000193890A (ja) * 1998-12-25 2000-07-14 Olympus Optical Co Ltd 顕微鏡光学系
JP2001091848A (ja) * 1999-09-27 2001-04-06 Nikon Corp 走査型光学顕微鏡
JP2007179002A (ja) * 2005-12-02 2007-07-12 Nano Photon Kk 光学顕微鏡及びスペクトル測定方法
JP2012145687A (ja) * 2011-01-11 2012-08-02 Nikon Corp 走査型顕微鏡

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000193890A (ja) * 1998-12-25 2000-07-14 Olympus Optical Co Ltd 顕微鏡光学系
JP2001091848A (ja) * 1999-09-27 2001-04-06 Nikon Corp 走査型光学顕微鏡
JP2007179002A (ja) * 2005-12-02 2007-07-12 Nano Photon Kk 光学顕微鏡及びスペクトル測定方法
JP2012145687A (ja) * 2011-01-11 2012-08-02 Nikon Corp 走査型顕微鏡

Also Published As

Publication number Publication date
JP5998342B2 (ja) 2016-09-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4670031B2 (ja) 試料内で励起および/または後方散乱を経た光ビームの光学的検出のための装置
US6947127B2 (en) Arrangement for the optical capture of excited and/or back scattered light beam in a sample
EP2316048B1 (en) Optical arrangement for oblique plane microscopy
JP6632993B2 (ja) 光学ビーム走査検鏡のための装置及び方法
US7561265B2 (en) Optical microscope and spectrum measuring method
CA3013946A1 (en) Method and system for improving lateral resolution in optical scanning microscopy
US9804029B2 (en) Microspectroscopy device
US7480046B2 (en) Scanning microscope with evanescent wave illumination
JP2004102274A (ja) 照明光および/または試料光のスペクトル組成および/または強度を制御下で変更するための方法および配置
JP2008033264A (ja) 走査型レーザ顕微鏡
US7463344B2 (en) Arrangement for the optical detection of light radiation which is excited and/or backscattered in a specimen with a double-objective arrangement
JP2008033263A (ja) 蛍光検査用の走査型レーザ顕微鏡
WO2021197207A1 (en) Apparatus for surface profile measurement
JP5592108B2 (ja) 干渉共焦点顕微鏡および光源撮像方法
US20160054225A1 (en) Ultra dark field microscope
JP4601266B2 (ja) レーザ顕微鏡
KR101632672B1 (ko) 공초점 분광 현미경
KR101603726B1 (ko) 멀티모달 현미경
JP2012526972A (ja) 小型共焦点分光計
JP5998342B2 (ja) ラマン顕微鏡
WO2019148008A1 (en) Apparatuses and methods for multi-direction digital scanned light sheet microscopy
JP6655966B2 (ja) 走査型顕微鏡
JPH01188816A (ja) 分光型走査顕微鏡
Aicock I would like to thank my supervisor Dr. Mark Dickinson and Professor Terry King for
KR20060111142A (ko) 공초점 어레이 검출기를 이용한 마이크로스코프

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20150717

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20160614

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20160628

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20160725

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5998342

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250