JP2004102274A - 照明光および/または試料光のスペクトル組成および/または強度を制御下で変更するための方法および配置 - Google Patents
照明光および/または試料光のスペクトル組成および/または強度を制御下で変更するための方法および配置 Download PDFInfo
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Abstract
【解決手段】第1偏光手段(Pol 1)によって、異なった偏光を持つ光線成分への空間分離が行われるステップ、
第1分散手段(Disp 1)によって、少なくとも1つの光線成分のスペクトル空間分割が行われるステップ、
スペクトル空間分割された光線成分の少なくとも一部の偏光状態が変更されるステップ、
および第2偏光手段(Pol 2)によって、異なった偏光を持つ光線成分の空間分離および/または空間集合が行われるステップを含み、その場合に好ましくも第2分散手段(Disp 2)によって、偏光状態の変更された、および変更されなかった光線成分の空間集合が行われるという、
照明光および/または試料光のスペクトル組成および/または強度を調整下で変更するための方法。
【選択図】図4
Description
LSMは大きく分けて次の4つのモジュールから成っている:光源、走査モジュール、検出ユニット、顕微鏡。これらのモジュールは以下により詳しく説明する。それに加え、DE19702753A1(特許文献1)も参考になる。
多光子吸収によって励起される色素蛍光を検出するための別の配置では、さらにデスキャン検出が行われるが、この場合、対物レンズのひとみは検出ユニット内へ結像する(非共焦点デスキャン検出)。
したがって、LSMは厚いプレパラートを検査するのに適している。励起波長は使用色素の固有吸収特性で決定される。色素の放出特性に合わせたダイクロイックフィルタにより、それぞれの色素から送出される蛍光のみが確実に点像検出器で測定されることになる。
それぞれ別個の検出には、複数色素の蛍光に対する追加分割を副ビームスプリッタ(DBS)で行ない、個々の色素放出の検出を別々の点像検出器(PMT x)で行なう。
後方散乱信号から細胞の大きさが測定できる。個々の細胞の蛍光スペクトル特性から様々な細胞を分離/分類することが、または個別に計量することができる。細胞の分類は、静電界において様々な毛管の使用下で行う。その結果は、例えば色素A着色の細胞数と色素B着色の細胞数がしばしば棒グラフで描かれ比較される。流動速度は、典型例では数10〜100cm/秒である。従って、高感度の検出が必要になる。検出量の制限には、現状技術に基づく共焦点検出が行われる。
縞のない、深度差のある光学切断面を算定するためには、一般には少なくとも0°、120°および240°の三つの位相画像PBが必要である。これらの位相画像(PB)から、続いて画像プロセッサにおける次式1を用いた算定より(共焦点)光学切断画像が得られる。
ISection(x)=Const√((I(x,0°)−I(x,120°))2+(I(x,120°)−I(x,240°))2+(I(x,0°)−I(x,240°))2) (式1)
但し、式中I(x、角度)は当該位相画像の各画素における強度を表わしている。
最も簡単な例では3またはそれ以上の位相画像記録が、逐次的に行なわれる。その場合、画像測定中には試料は動かさないものとする。このように位相画像から算定された切断画像または断面成層は、続いて3次元評価ソフトウェアにより、標準PCおよびモニタに表示することができる。
光学軸に沿った方向での位置分解能は、光の波長、対物レンズの開口数および変調振動数に依存している。
例えば、いわゆるチップリーダで色素をスクリーニングするための配置は、その光学的構成がレーザ走査型顕微鏡に類似している。しかし、顕微鏡試料の検査では、たとえばバイオチップ上の作用物質のスクリーニングでは、これらによる方が走査画像フィールドが明らかに大きくなる。走査フィールドの縦横の長さはこの場合数10mmである。これらの走査フィールドは、例えば、ガルボスキャナの走査角を拡大することによって、図6Aに示された顕微鏡配置における中間像での試料配置によって、または中間像を拡大して試料上に結像する特殊な対物レンズの配置(マクロ対物レンズ)によって得ることができる。
しかし、複数の色素を複数の波長により同時に励起する場合(多重蛍光顕微鏡法)では、殆どが励起光と放出光間でスペクトルのオーバーラップを来たすから、効率が悪化する。
前記システムすべてにおいて、蛍光色素がプレパラートの特殊標識づけに使用される。
前記課題は独立請求項に基づき解決される。好ましい実施態様は従属請求事項の対象である。
以下では、試料からの放出光線とは、主として大きな空間角で試料から放射される複合光のことを言う。これらの光線は偏光化されていない(非偏光)。これらの光線としては特に、試料中で励起された蛍光、ルミネセンス光および後方散乱光がある。
図4は検出光路において、図5は励起光路において、励起光を検出光から分離するための配置を図式化したものである。この配置における主要機器は、少なくとも3つのダイス型偏光ビームスプリッタP1〜P3である。P4は、別タイプのダイス型偏光ビームスプリッタやミラーにすることもできる。ダイス型偏光ビームスプリッタとしては、例えばグラン・レーザ偏光スプリッタ、複屈折性材質タイプまたは特殊マイクロ構造型ビームスプリッタ(例えばMoxtek,Inc./Orem(USA)のマイクロ・ワイア)が使用できる。
SLMを光が通るのは領域aおよびb(図4、5、7参照)である。その場合、縞構造はX軸に沿う方向に向けられている。
図7はx−y平面におけるピクセル(縞構造)を示している。Y軸に沿う方向にそれぞれのピクセル(縞構造)が認められる。分散素子D1、D2により、この軸に沿って光線のスペクトル分割が行われる。Y軸に沿う黒い縞は領域aおよびbを表わしているが、そこを通って異なった偏光方向Pol 1およびPol 2に進むことになる。
矢印方向に入力された非偏光LDは、偏光スプリッタP2により互いに直角をなす2つの成分、すなわち反射偏光成分Pol 1(丸印、偏光方向は注視方向)と通過偏光成分Pol 2(矢印、偏光方向は矢印方向)に分割される。丸印のハッチ(II)とブラック(I)の色分けは、異なった波長の光(例えば、ブラック(I)が蛍光で、ハッチ(II)が散乱励起光)を表わしている。
蛍光測定のために、検出光路内で偏光を90°以外の角度で回転させることは可能であるが、しかしそれはあまり得策ではない。その場合では蛍光成分が連結ポート(1)および(5)にも達するため、一検出器では検出されないからである。
このように、入力部1から入った光線はこの配置により、偏光度には係りなく、異なったスペクトル成分に基づき別々の出力部2、3および6へと空間分離され、それによりそれ以降別々に光学加工することができる。
図8は、レーザ走査型顕微鏡(LSM)のx−z平面における照明光/試料光の分離に用いられるMDB(メインカラースプリッタ)を対象とした、本発明に基づく配置を図式化したものである。
第1項で図4〜7を基に説明した作用原理は、顕微鏡において蛍光光線を励起光線からフレキシブルに分離させる場合にも準用することができる。
LSMの場合、試料は、x−y平面上をスキャナSXおよびSYにより動かされる点フォーカスで照明される。その場合、主として直線偏光光源LQがP1のポート1を通じてMDB(図5および図6参照)と連結している。光源LQの光は、次に分散素子D1および光学系L1を通って、大部分がSLM Sのピクセル(領域a)に到達する。励起光を試料に到達させるべき場合には、対応のピクセルを制御することなく、すなわち偏光方向を変えることなく、励起光をMDBの出力部2に到達させる。
既に図8を基に説明した配置に比べ、出力部6(図5参照)にモニタ・ダイオードM1が別途配備されている。励起光線を偏光方向Pol 1だけでなく、偏光方向Pol 2にも連結する場合では、M1が結合出力を測定する。測定信号M1が設定値からずれていれば、M2において別な然るべき設定値が決められるように、それ相応にSLMを制御する。
ここでは、上記配置と異なり、検出対象である試料光線は、P2、P4の通過、D1によるスペクトル分離およびSでの偏光成分操作の後に、ビームスプリッタP1およびP3(図ではP1の後に隠れている)により励起光線から分離される。図に描かれている通り、ここではP1およびP3はY軸に沿って延びているので、それらによりスペクトル分布の全体を転向させることができる。
本発明に基づくいずれの配置でも、その配置に対応して出力部を取り換えることも可能である。
上記スキャナの機能は、原則として、対応の走査テーブル(対象物スキャナ)によって代用することもできる。
(1) 光線
(2) 試料
(3) 平板
(4) 光学系
(5) 光線方向
1〜6 入出力部(ポート)
SX、SY スキャナ
ROI 走査対象領域
P1〜P4 ダイス型偏光ビームスプリッタ
D1、D2 分散素子
SLM S 空間光変調器
L1、L2 光学系
Pol 1、Pol 2 偏光方向
LD 非偏光
P2 偏光スプリッタ
MDB メインカラースプリッタ
LQ 光源
M2 モニタ・ダイオード
SO 走査光学系
TL 鏡胴レンズ
O 対物レンズ
RL リレー光学系
ZB 中間像平面
PO 結像光学系
PH 共焦点絞り
Claims (29)
- 照明光および/または試料光のスペクトル組成および/または強度を制御下で変更するための方法であって、
その内訳として、第1偏光手段によって、異なった偏光を持つ光線成分への空間分離が行われるステップ、
第1分散手段によって、少なくとも1つの光線成分のスペクトル空間分割が行われるステップ、
スペクトル空間分割された光線成分の少なくとも一部の偏光状態が変更されるステップ、
および第2偏光手段によって、異なった偏光を持つ光線成分の空間分離および/または空間集合が行われるステップ、
を含む方法。 - 第2分散手段によって、偏光状態が変更された、および変更されなかった光線成分の空間集合が行われる請求項1に記載の方法。
- 照明光のスペクトル組成および/または強度を変更するための光学的配置であって、
少なくとも1つの光線成分のスペクトル空間分割のための第1分散手段(Disp 1)が前置または後置されている、異なった偏光を持つ光線成分への空間分離のための第1偏光手段、
スペクトル空間分割された光線成分の少なくとも一部の偏光状態の変更のための手段、
および異なった偏光を持つ光線成分の空間分離および/または空間集合のための第2偏光手段、
から構成される光学的配置。 - 偏光状態が変更された、および変更されなかった光線成分の空間集合のために、第2分散手段が第2偏光手段に対して前置または後置されている請求項3に記載の配置。
- 試料光のスペクトル組成および/または強度を変更するための光学的配置であって、
少なくとも1つの光線成分のスペクトル空間分割のための第1分散手段が前置または後置されている、異なった偏光を持つ光線成分への空間分離のための第1偏光手段、
スペクトル空間分割された光線成分の少なくとも一部の偏光状態の変更のための手段、
および異なった偏光を持つ光線成分の空間分離および/または空間集合のための第2偏光手段、
から構成される光学的配置。 - 試料光の位置別分割検出を行う請求項5に記載の配置。
- 偏光状態が変更された、および変更されなかった光線成分の空間集合のために、第2分散手段が第2偏光手段に対して前置または後置されている請求項5に記載の配置。
- 照明光と試料光の分離のための配置であって、
少なくとも1つの光線成分のスペクトル空間分割のための第1分散手段が前置または後置されている、異なった偏光を持つ光線成分への空間分離のための第1偏光手段、
スペクトル空間分割された光線成分の少なくとも一部の偏光状態の変更のための手段、
および異なった偏光を持つ光線成分の空間分離および/または空間集合のための第2偏光手段、
から構成される配置。 - 偏光状態が変更された、および変更されなかった光線成分の空間集合のために、第2分散手段が第2偏光手段に対して前置または後置されている請求項8に記載の配置。
- 試料の照明が分離用配置の領域外にある光源によって行われ、試料光がその配置領域内を通過する請求項8または9に記載の配置。
- 照明光および/または試料光を互いに垂直な偏光成分に分割する請求項3から10のうちの1つに記載の配置。
- 試料光の少なくとも一部が少なくとも1つの検出器によって検出される請求項3から11のうちの1つに記載の配置。
- 照明光源としてレーザが配備されている請求項3から12のうちの1つに記載の配置。
- 光源として白色光源が配備されている請求項3から13のうちの1つに記載の配置。
- 照明が複数の波長によって行なわれる請求項3から14のうちの1つに記載の配置。
- 試料から発せられる蛍光および/またはルミネセンス光および/またはりん光および/または散乱光を検出する請求項3から15のうちの1つに記載の配置。
- 撮像の間、照明光の強度および/またはスペクトル組成を変更させ、それにより試料の異なった箇所に対して異なった照明を行う請求項のうちの1つに記載の配置。
- 分散ユニットに組み込まれた結像光学系が、スペクトル成分を焦点面に結像させるために配備されていて、焦点面にはスペクトル空間分割された光線成分の少なくとも一部の偏光状態を変更させるための手段が配置されている請求項3から17のうちの1つに記載の配置。
- 偏光状態の変更が、制御可能な液晶を有するSLM(空間光変調器)によって行われる請求項3から18のうちの1つに記載の配置。
- 検出光における偏光状態のスペクトル分割による捕捉のための同時または逐次方式による上記請求項の1つに記載の測定方法。
- 光源および/または光学素子によって惹起された励起光の強度変動に対する上記請求項の1つに記載の補整方法。
- 上記請求項の1つに記載の配置を持つ広域視野型顕微鏡。
- 上記請求項の1つに記載の配置を持つ蛍光顕微鏡。
- 上記請求項の1つに記載の配置を持つ点走査型レーザ走査顕微鏡。
- 上記請求項の1つに記載の配置を持つ線走査型レーザ走査顕微鏡。
- デスキャン、部分デスキャンまたはノンデスキャン検出が行われる請求項23〜25の1つに記載の走査型顕微鏡。
- 上記請求項の1つに記載の配置を持つ細胞流量メータ。
- 照明光路および/または検出光路にピンホール・ラスタが配備されている上記請求項の1つに記載の配置を持つ平行型共焦点顕微鏡。
- 上記請求項の1つに記載の配置を持つ、周期性構造を対象物上へ結像させるための装置、および当配置での構造の位相シフトおよび位相シフトされた像の撮影。
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