JP2014045410A - 二重化光伝送路の光路長差検出方法とその検出装置 - Google Patents

Abstract

【課題】本線路を通じる試験信号光と迂回路を通じる試験信号光に光パワー差があった場合においても、確実に光路長差を検出できるようにする。
【解決手段】本線路１０２を通じる試験信号光Ｌ２１と迂回路１０３を通じる試験信号光Ｌ２２に別波長を用いるようにし、２つの試験信号光Ｌ２１，Ｌ２２を上部光分岐カプラ２０２で合波する前に光パワー差の調整を行うようにして、本線路１０２を通じる試験信号光と迂回路１０３を通じる試験信号光に光パワー差がある場合においても、確実に光路長差の検出可能とする。
【選択図】 図１

Description

本発明は、支障移転工事等における光線路切替時の一時的な迂回路を構成するために二重化された光伝送路の光路長差検出技術に関する。

これまでの二重化光伝送路における光路長差検出技術としては、本線路および迂回路に同一波長の試験信号光を入力し、その合波された試験信号光から光路長差を検出する方式が提案されている。例えば非特許文献１では、本線路および迂回路を通じて合波された同一波長の試験信号光のＣＤＲ（Clock Data Recovery）エラーの有無により光路長差を検出する方式が提案されている。

しかしながら、非特許文献１で示されているＣＤＲエラーの有無を検出する方式では、本線路と迂回路の２経路を通る試験信号光の光パワーに大きなパワー差が存在する場合に問題が生じる。すなわち、２つの試験信号のパワー差が大きい場合、光パワーの大きな信号光の特性が支配的になってしまう。よって、仮に光路長差があったとしても、パワーが大きく支配的な信号光と比べて光路長差に起因する波形の歪みが限定的になる。この結果、ＣＤＲエラーが発生せず、光路長差の有無を正しく判定することが困難になる、または出来なくなってしまうという問題があった。

真鍋他：光線路無瞬断切替のための光電変換を用いた伝送路二重化の検討，電子情報通信学会２０１２年総合大会講演論文集,pp.341, 2012 エルメック株式会社,４ビット、６ビット高速プログラマブルディレイライン（http://www.elmec.co.jp/programmable.html）

以上のように、従来の二重化光伝送路の光路長差検出技術では、本線路と迂回路の２経路を通る試験信号光の光パワーに大きな差が存在する場合に、光パワーの大きな信号光の特性が支配的になってしまうため、光路長差に起因する波形の歪みが限定的になってＣＤＲエラーが発生せず、光路長差の有無を正しく判定することが困難になるという問題があった。
そこで、本発明は、上記の課題を解決するためになされたもので、本線路を通じる試験信号光と迂回路を通じる試験信号光に光パワー差があった場合においても、その光パワー差の影響によらず、確実に光路長差を検出することのできる二重化光伝送路の光路長差検出方法とその検出装置を提供するものである。

上記の課題を解決するため、本発明に係る二重化光伝送路の光路長差検出方法は、以下の態様で構成される。
（１）対向する上流側伝送装置と下流側伝送装置が本線路を介して光接続される光伝送システムに用いられ、前記本線路にある上流側光分岐カプラと下流側光分岐カプラとの間に迂回路を形成してなる二重化光伝送路の光路長差検出方法において、前記下流側光分岐カプラから前記本線路及び前記迂回路に信号光を分岐入力し、前記本線路及び前記迂回路を伝送する信号光の少なくともいずれ一方を異なる波長の信号光に変換し、前記本線路及び前記迂回路をそれぞれ通過した波長の異なる信号光が前記上流側光分岐カプラによって合波される信号光を取り出し、前記合波された信号光から前記波長の異なる信号光成分を抽出し、両者の抽出タイミングから本線路及び迂回路経由の光路長差を検出する態様とする。

また、本発明に係る二重化光伝送路の光路長差検出装置は、以下の態様で構成される。
（２）対向する上流側伝送装置と下流側伝送装置が本線路を介して光接続される光伝送システムに用いられ、前記本線路にある上流側光分岐カプラと下流側光分岐カプラとの間に迂回路構成器を挿入した迂回路を形成してなる二重化光伝送路の光路長差検出装置において、前記下流側光分岐カプラから前記本線路及び前記迂回路に信号光を分岐入力する分岐入力手段と、前記本線路及び前記迂回路を伝送する信号光の少なくともいずれ一方を異なる波長の信号光に変換する波長変換手段と、前記上流側光分岐カプラにより前記本線路及び前記迂回路をそれぞれ通過した信号光を合波する合波手段と、前記合波された信号光から波長の異なる信号光を抽出し、両者の抽出タイミングから本線路及び迂回路経由の光路長差を検出する検出手段とを具備する態様とする。

（３）（２）において、さらに、前記本線路及び前記迂回路に分岐入力する信号光として特定の波長の試験信号光を発生する試験信号光発生手段を備え、前記試験信号光を前記下流側光分岐カプラから入射して前記本線路及び前記迂回路に分岐入力させる態様とする。

（４）（２）において、前記波長変換手段は、前記迂回路構成器に設けられ、前記信号光を入力し、前記分岐入力された信号光の波長と異なる波長の信号光に変換して出力する態様とする。
（５）（２）において、前記分岐入力される信号光に、前記下流側光伝送装置から前記上流側光伝送装置に向かう上り信号光を用いる態様とする。

（６）（２）において、前記波長変換手段は、前記本線路に介在され、前記分岐入力された信号光を第１の波長の信号光に変換する第１の波長変換部と、前記迂回路構成器に設けられ、前記分岐入力された信号光を前記第１の波長とは異なる第２の波長の信号光に変換して出力する第２の波長変換部とを備える態様とする。

（７）（２）において、前記検出手段は、前記合波された信号光から前記波長の異なる信号光を抽出し、前記抽出された波長別の信号光を受光して、それぞれの受光信号のタイミングを計測することで前記本線路及び迂回路経由の光路長差を検出する態様とする。

（８）（２）において、前記検出手段は、前記合波された信号光から本線路信号光と迂回路信号光を波長別に分波する波長選択フィルタと、前記本線路信号光を電気信号に変換する本線路用信号光−電気変換器と、前記迂回路信号光を電気信号に変換する迂回路用試験信号光−電気変換器と、これらの電気信号のうち、前記本線路信号、迂回路信号を任意に選択する選択手段と、前記選択手段で選択される本線路信号および迂回路信号の論理和を得る論理和回路と、論理和された電気信号のエラーを検出するエラー検出器とを備える態様とする。

本発明では、本線路を通じる試験信号光と迂回路を通じる試験信号光に別波長を用い、２つの試験信号光を合波する前に光パワー差の調整を可能とする。
したがって、本発明によれば、本線路を通じる試験信号光と迂回路を通じる試験信号光に光パワー差があった場合においても、その光パワー差の影響によらず、確実に光路長差を検出することのできる二重化光伝送路の光路長差検出方法とその検出装置を提供することができる。

本発明が適用される二重化光伝送路の構成を示すブロック図。 本発明に係る第１の実施形態である、二重化光伝送路とその光路長差検出装置の構成を示すブロック図。 図２に示す迂回路構成器の具体的な構成を示すブロック図。 図２に示す光路長差検出器の具体的な構成を示すブロック図。 本発明に係る第２の実施形態である、二重化光伝送路に対する光路長差検出装置の構成を示すブロック図。 図５に示す迂回路構成器の具体的な構成を示すブロック図。 図５に示す光路長差検出器の具体的な構成を示すブロック図。 本発明に係る第３の実施形態である、二重化光伝送路に対する光路長差検出装置の構成を示すブロック図。 図８に示す上り信号波長変換器の具体的な構成を示すブロック図。 図８に示す光路長差検出の具体的な構成を示すブロック図。

添付の図面を参照して本発明の実施の形態を説明する。以下に説明する実施の形態は本発明の構成の例であり、本発明は、以下の実施の形態に制限されるものではない。
（第１の実施形態）
図１は、本発明が適用される二重化光伝送路の構成を示すブロック図である。図１において、１００は局側伝送装置、１０１は加入者側伝送装置であり、両者は本線路用光ファイバ１０２によって光接続される。この本線路用光ファイバ１０２の加入者側には下部光分岐カプラ２０１が介在され、局側には上部光分岐カプラ２０２が介在される。

試験信号光発生器１０００により発生された試験信号光Ｌ１１は下部光分岐カプラ２０１において、本線路用光ファイバ１０２および下部迂回路用光ファイバ１０３に分けられる。迂回路を通じる試験信号光Ｌ１１は、下部迂回路用光ファイバ１０３、迂回路構成器２０００および上部迂回路用光ファイバ１０４を通じた後、上部光分岐カプラ２０２において本線路用光ファイバ１０２を通じて到着した試験信号光Ｌ１１と合波される。合波された試験信号光Ｌ１１は光路長差検出器３０００に送られ、ここでＣＤＲエラーの有無の判定を受けて、最終的に光路長差の有無が検出される。

上記構成において、従来では、本線路および迂回路に同一波長の試験信号光を用いていることから、光パワー差が存在する場合の問題に対処することができていなかった。それに対し、本発明では本線路および迂回路に異なる２つの波長を割り当てることにより問題の解決を図る。

図２は本発明に係る第１の実施形態である、二重化光伝送路とその光路長差検出装置の構成を示すブロック図である。図２において、図１と同一部分には同一符号を付して示し、ここでは異なる部分について詳述する。
まず、本線路用試験信号光発生器４０００により入力された波長λcurrentの本線路用試験信号光Ｌ２１は下部光分岐カプラ２０１において、本線路用光ファイバ１０２および下部迂回路用光ファイバ１０３に分けられる。迂回路を通じる波長λcurrentの本線路用試験信号光Ｌ２１は、迂回路構成器２０００において波長λdetourの迂回路用試験信号光Ｌ２２に変換され、上部迂回路用光ファイバ１０４を通じた後、上部光分岐カプラ２０２において本線路用光ファイバ１０２を通じて到着した波長λcurrentの本線路用試験信号光Ｌ２１と合波される。光路長差検出器３０００には２つの異なる波長をもつ試験信号である波長λcurrentの本線路用試験信号光Ｌ２１および波長λdetourの迂回路用試験信号光Ｌ２２が到着することから、光パワー差が存在する場合の問題に対処することが可能となる。

図３は図２に示す迂回路構成器２０００の具体的な構成を示すブロック図である。図３において、迂回路構成器２０００は上り信号光Ｌup、下り信号光Ｌdownを中継する手段および本線路用試験信号光Ｌ２１を迂回路用試験信号光Ｌ２２に波長変換する手段より構成される。上り信号光Ｌup、下り信号光Ｌdownを中継する手段は次の通りである。

局側伝送装置１００から送出され、上部迂回用光ファイバ１０４を通過した波長λdownの下り信号光Ｌdownは、上部波長選択フィルタ２００１で分波されて下り信号光−電気変換器２２００に入射され、ここで電気信号に変換される。変換された電気信号は、下り信号可変遅延器２２０１により設定された遅延時間後に、下り信号電気−光変換器２２０２により再度波長λdownの下り信号光Ｌdownに変換される。この波長λdownの下り信号光Ｌdownは下り信号光遮断スイッチ２２０３を通過後、下部波長選択フィルタ２００２により合波されて下部迂回用光ファイバ１０３へ出力される。

加入者側伝送装置１０１から送出された波長λupの上り信号光Ｌupは下部波長選択フィルタ２００２で分波され、上り信号光−電気変換器２１００により電気信号に変換される。変換された電気信号は、上り信号可変遅延器２１０１により設定された遅延時間後に、下り信号電気−光変換器２２０２により再度波長λdownの下り信号光Ｌdownに変換される。

上り信号光Ｌupは、上り信号可変遅延器２１０１により設定された遅延時間後に上り信号電気−光変換器２１０２により再度波長λupの上り信号光Ｌupに変換される。この波長λupの上り信号光は、上り信号光遮断スイッチ２１０３を通過後、上部波長選択フィルタ２００１により合波されて上部迂回用光ファイバ１０４へ出力される。

本線路用試験信号光Ｌ２１を迂回路用試験信号光Ｌ２２に波長変換する手段は次のとおりである。
本線路用試験信号光Ｌ２１は下部波長選択フィルタ２００２で分波され、本線路用試験信号光−電気変換器２３００に入射され、ここで電気信号に変換される。変換された電気信号は本線路用試験信号可変遅延器２３０１により設定された遅延時間後に本線路用試験信号電気−光変換器２３０２に送られ、ここで波長λdetourの迂回路用試験信号光Ｌ２１に変換される。ここで、迂回路用試験信号光遮断スイッチ２３０３を通過後、上部波長選択フィルタ２００１により合波され、上部迂回路用光ファイバ１０４へ出力される。

なお、上り信号可変遅延器２１０１、下り信号可変遅延器２２０２および本線路用試験信号可変遅延器２３０３の構成としては、半導体ディレイライン等を用いることが可能である（例えば、非特許文献２参照）。
図４は図２に示す光路長差検出器３０００の具体的な構成を示すブロック図である。図４において、光路長差検出器３０００は本線路を通過する本線路用試験信号光Ｌ２１および迂回路を通過する迂回路用試験信号光Ｌ２２の異なる２波長λcurrent，λdetourの試験信号光から光路長差を検出する光路長差検出手段から構成される。

本線路用試験信号光Ｌ２１は波長選択フィルタ３００１にて分波され、本線路用試験信号光−電気変換器３１００で電気信号に変換される。迂回路用試験信号光Ｌ２２は波長選択フィルタ３００１にて分波され、迂回路用試験信号光−電気変換器３２００にて電気信号に変換される。これら２つの電気信号は論理ＯＲ回路３５００にて論理和が計算された後、ＣＤＲエラー検出器３６００に入力される。ＣＤＲエラーの検出結果は検出信号線３６０１より出力される。

光信号を電気信号に変換する本線路用試験信号光−電気変換器３１００および迂回路用試験信号光−電気変換器３２００としては、ディジタル通信に用いられる光トランシーバを用いる。この場合、入力される光パワーが通信維持に必要な規定値以上であれば、光−電気変換後の電気信号は、ＬＶＰＥＣＬ（Low Voltage Positive Emitter Coupled Logic）等の高速ディジタル回路で用いられる電圧レベルで出力されることになる。これにより、光パワーのレベル差を考慮する必要がなくなる。

（第２の実施形態）
図５は本発明に係る第２の実施形態である、二重化光伝送路に対する光路長差検出装置の構成を示すブロック図である。図５において、図１及び図２と同一部分には同一符号を付して示し、ここでは異なる部分について詳述する。
まず、加入者側伝送装置１０１から出力された波長λupの上り信号光Ｌupは下部光分岐カプラ２０１において、本線路用光ファイバ１０２および下部迂回路用光ファイバ１０３に分けられる。迂回路を通じる波長λupの上り信号光Ｌupは、迂回路構成器２０００において波長λdetourの迂回路用試験信号光Ｌ２２に変換され、上部迂回路用光ファイバ１０４を通じた後、上部光分岐カプラ２０２において本線路用光ファイバ１０２を通じて到着した波長λupの上り信号光Ｌupと合波される。

光路長差検出器３０００には、２つの異なる波長をもつ波長λupの上り信号光Ｌupおよび波長λdetourの迂回路用試験信号光Ｌ２２が到着する。この２波長の信号光から光路長差を検出することから、光パワー差が存在する場合の問題に対処することが可能となる。

図６は図５に示す迂回路構成器２０００の具体的な構成を示すブロック図である。図６において、迂回路構成器２０００は上り信号光Ｌup、下り信号光Ｌdownを中継する手段および上り信号光Ｌupを迂回路用試験信号光Ｌ２２に波長変換する手段より構成される。

上り信号光Ｌupを迂回路用試験信号光Ｌ２２に波長変換する手段は次の通りである。波長λupの上り信号光Ｌupは下部波長選択フィルタ２００２で分波され、上り信号光−電気変換器２１００に入射され、ここで電気信号に変換される。変換された電気信号は上り信号可変遅延器２１０１とともに本線路用試験信号可変遅延器２３０１に供給される。そして、本線路用試験信号可変遅延器２３０１により設定された遅延時間後に、本線路用試験信号電気−光変換器２３０２によって波長λdetourの迂回路用試験信号光Ｌ２２に変換され、迂回路用試験信号光遮断スイッチ１３０３を通過した後、上部波長選択フィルタ１００２により合波されて、上部迂回路用光ファイバ１０４へ出力される。

なお、上り信号光Ｌup、下り信号光Ｌdownを中継する手段は、図３にて示した実施の形態と同一である。
図７は図５に示した光路長差検出器３０００の具体的な構成を示すブロック図である。図７において、光路長差検出器３０００は本線路を通過する波長λupの上り信号光Ｌupおよび迂回路を通過する波長λdetourの迂回路用試験信号光Ｌ２２の異なる２波長の信号光から光路長差を検出する光路長差検出手段から構成される。

波長λupの上り信号光Ｌupは波長選択フィルタ３００１にて分波され、上り信号光−電気変換器３３００で電気信号に変換される。波長λdetourの迂回路用試験信号光Ｌ２２は波長選択フィルタ３００１にて分波され、迂回路用試験信号光−電気変換器３２００にて電気信号に変換される。これら２つの電気信号は、論理ＯＲ回路３５００にて論理和が計算された後、ＣＤＲエラー検出器３６００に入力される。ＣＤＲエラーの検出結果は検出信号線３６０１より出力される。

（第３の実施形態）
図８は本発明に係る第３の実施形態である、二重化光伝送路に対する光路長差検出装置の構成を示すブロック図である。図８において、図１、図２、図５と同一部分には同一符号を付して示し、ここでは異なる部分について詳述する。
まず、加入者側伝送装置１０１から出力された波長λupの上り信号光Ｌupは、下部光分岐カプラ２０１において、本線路用光ファイバ１０２および下部迂回路用光ファイバ１０３に分けられる。本線路用ファイバ１０２を通じる波長λupの上り信号光Ｌupは、上り信号波長変換器５０００により波長λcurrentの本線路用試験信号光Ｌ２１に変換され、上部光分岐カプラ２０２を通じて光路長差検出器３０００に送られる。迂回路を通じる波長λupの上り信号光Ｌupは、迂回路構成器２０００において波長λdetourの迂回路用試験信号光Ｌ２２に変換され、上部迂回路用光ファイバ１０４を通じた後、上部光分岐カプラ２０２を通じて光路長差検出器３０００に送られる。

光路長差検出器３０００には、２つの異なる波長をもつ波長λcurrentの本線路用試験信号光Ｌ２１および波長λdetourの迂回路用試験信号光Ｌ２２が入力される。この２波長の信号光から光路長差を検出することから、光パワー差が存在する場合の問題に対処することが可能となる。
尚、ここで用いる迂回路構成器２０００としては、図６にて示した構成と同一である。

図９は図８に示す上り信号波長変換器５０００の具体的な構成を示すブロック図である。図９において、加入者側伝送装置１０１から出力された波長λupの上り信号光Ｌupは、上り信号光−電気変換器５００１にて電気信号に変換される。電気信号は本線路用試験信号電気−光変換器５００２により波長λcurrentの本線路用試験信号光Ｌ２１に変換され、本線路用光ファイバ１０２に出力される。

図１０は図８に示す光路長差検出器３０００の具体的な構成を示すブロック図である。まず、図８に示す構成において、本線路用ファイバ１０２および上部迂回線路用ファイバ１０３を通り上部光分岐カプラ２０２にて合波された波長λupの上り信号光Ｌupもしくは波長λdetourの迂回路用試験信号光Ｌ２２もしくは波長λcurrentの本線路用試験信号光Ｌ２１は波長選択フィルタ３００１にて分波され、それぞれ、上り信号光−電気変換器３３００、迂回路用試験信号光−電気変換器３２００および本線路用試験信号光−電気変換器３１００にて電気信号に変換される。

変換された電気信号はそれぞれ上り信号選択スイッチ３３０１、迂回路用試験信号選択スイッチ３２０１および本線路用試験信号選択スイッチ３１０１を通り、論理ＯＲ回路３５００にて論理和が計算された後、ＣＤＲエラー検出器３６００に入力される。ＣＤＲエラーの検出結果は検出信号線３６０１より出力される。

上り信号選択スイッチ３３０１、迂回路用試験信号選択スイッチ３２０１および本線路用試験信号選択スイッチ３３０１により、任意の２つの波長の信号を選択することが可能となる。これにより、図２、図５および図８に示したいかなる実施形態においても利用が可能である。

以上のように、本発明に係る二重化光伝送路の光路長差検出装置によれば、本線路を通じる試験信号光と迂回路を通じる試験信号光に別波長を用いるようにしているので、２つの試験信号光を合波する前に光パワー差の調整が可能となり、従来であれば光路長差検出が困難であった本線路を通じる試験信号光と迂回路を通じる試験信号光に光パワー差がある場合においても、確実に光路長差の検出することが可能となる。

尚、本発明は上記実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合わせにより、種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成を削除してもよい。さらに、異なる実施形態例に亘る構成要素を適宜組み合わせてもよい。

１００…局側伝送装置、１０１…加入者側伝送装置、１０２…本線路用光ファイバ、１０３…下部迂回路用光ファイバ、１０４…上部迂回路用光ファイバ、２０１…下部光分岐カプラ、２０２…上部光分岐カプラ、
１０００…試験信号光発生器、
２０００…迂回路構成器、２００１…上部波長選択フィルタ、２００２…下部波長選択フィルタ、２１００…上り信号光−電気変換器、２１０１…上り信号可変遅延器、２１０２…上り信号電気−光変換器、２１０３…上り信号光遮断スイッチ、２２００…下り信号光−電気変換器、２２０１…下り信号可変遅延器、２２０２…下り信号電気−光変換器、２２０３…下り信号光遮断スイッチ、２３００…本線路用試験信号光−電気変換器、２３０１…本線路用試験信号可変遅延器、２３０２…本線路用試験信号電気−光変換器、２３０３…迂回路用試験信号光遮断スイッチ、
３０００…光路長差検出器、３００１…波長選択フィルタ、３１００…本線路用試験信号光−電気変換器、３１０１…本線路用試験信号選択スイッチ、３２００…迂回路用試験信号光−電気変換器、３２０１…迂回路用試験信号選択スイッチ、３３００…上り信号光−電気変換器、３３０１…上り信号選択スイッチ、３５００…論理ＯＲ回路、３６００…ＣＤＲエラー検出器、３６０１…検出信号線、
４０００…本線路用試験信号光発生器、
５０００…上り信号波長変換器、５００１…上り信号光−電気変換器、５００２…本線路用試験信号電気−光変換器、
Ｌ１１…試験信号光、Ｌ２１…本線路用試験信号光、Ｌ２１…本線路用試験信号光、Ｌ２２…迂回路用試験信号光、Ｌup…上り信号光、Ｌdown…下り信号光。

Claims (8)

1. 対向する上流側伝送装置と下流側伝送装置が本線路を介して光接続される光伝送システムに用いられ、前記本線路にある上流側光分岐カプラと下流側光分岐カプラとの間に迂回路を形成してなる二重化光伝送路の光路長差検出方法において、
   前記下流側光分岐カプラから前記本線路及び前記迂回路に信号光を分岐入力し、
   前記本線路及び前記迂回路を伝送する信号光の少なくともいずれ一方を異なる波長の信号光に変換し、
   前記本線路及び前記迂回路をそれぞれ通過した波長の異なる信号光が前記上流側光分岐カプラによって合波される信号光を取り出し、
   前記合波された信号光から前記波長の異なる信号光成分を抽出し、両者の抽出タイミングから本線路及び迂回路経由の光路長差を検出することを特徴とする二重化光伝送路の光路長差検出方法。
2. 対向する上流側伝送装置と下流側伝送装置が本線路を介して光接続される光伝送システムに用いられ、前記本線路にある上流側光分岐カプラと下流側光分岐カプラとの間に迂回路構成器を挿入した迂回路を形成してなる二重化光伝送路の光路長差検出装置において、
   前記下流側光分岐カプラから前記本線路及び前記迂回路に信号光を分岐入力する分岐入力手段と、
   前記本線路及び前記迂回路を伝送する信号光の少なくともいずれ一方を異なる波長の信号光に変換する波長変換手段と、
   前記上流側光分岐カプラにより前記本線路及び前記迂回路をそれぞれ通過した信号光を合波する合波手段と、
   前記合波された信号光から波長の異なる信号光を抽出し、両者の抽出タイミングから本線路及び迂回路経由の光路長差を検出する検出手段と
   を具備することを特徴とする二重化光伝送路の光路長差検出装置。
3. さらに、前記本線路及び前記迂回路に分岐入力する信号光として特定の波長の試験信号光を発生する試験信号光発生手段を備え、
   前記試験信号光を前記下流側光分岐カプラから入射して前記本線路及び前記迂回路に分岐入力させることを特徴とする請求項２記載の二重化光伝送路の光路長差検出装置。
4. 前記波長変換手段は、前記迂回路構成器に設けられ、前記信号光を入力し、前記分岐入力された信号光の波長と異なる波長の信号光に変換して出力することを特徴とする請求項２記載の二重化光伝送路の光路長差検出装置。
5. 前記分岐入力される信号光に、前記下流側光伝送装置から前記上流側光伝送装置に向かう上り信号光を用いることを特徴とする請求項２記載の二重化光伝送路の光路長差検出装置。
6. 前記波長変換手段は、
   前記本線路に介在され、前記分岐入力された信号光を第１の波長の信号光に変換する第１の波長変換部と、
   前記迂回路構成器に設けられ、前記分岐入力された信号光を前記第１の波長とは異なる第２の波長の信号光に変換して出力する第２の波長変換部と
   を備えることを特徴とする請求項２記載の二重化光伝送路の光路長差検出装置。
7. 前記検出手段は、前記合波された信号光から前記波長の異なる信号光を抽出し、前記抽出された波長別の信号光を受光して、それぞれの受光信号のタイミングを計測することで前記本線路及び迂回路経由の光路長差を検出することを特徴とする請求項２記載の二重化伝送路の光路長差検出装置。
8. 前記検出手段は、
   前記合波された信号光から本線路信号光と迂回路信号光を波長別に分波する波長選択フィルタと、
   前記本線路信号光を電気信号に変換する本線路用信号光−電気変換器と、
   前記迂回路信号光を電気信号に変換する迂回路用試験信号光−電気変換器と、
   これらの電気信号のうち、前記本線路信号、迂回路信号を任意に選択する選択手段と、
   前記選択手段で選択される本線路信号および迂回路信号の論理和を得る論理和回路と、
   論理和された電気信号のエラーを検出するエラー検出器と
   を備えることを特徴とした請求項２記載の二重化光伝送路の光路長差検出装置。

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