JP2014041014A - 計測システム及びその計測システムを備えた工作機械 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】テーブル2上の既知の位置に設けられた指標と、光軸が主軸の回転軸と平行になるように配置され、テーブル2上の測定対象物を撮像する撮像装置20と、撮像装置20で撮像された画像を処理し、光軸を基準として測定対象物の画像から計測位置情報に変換する画像処理装置24と、この計測位置情報を用いた各種処理を行う制御装置6とを備え、制御装置6は、撮像装置20が指標を撮像したときに回転軸と光軸との相対位置情報を求め、該相対位置情報に基づいて計測位置情報を回転軸を基準とした絶対位置情報に変換することを特徴とする。
【選択図】図1
Description
本発明に係る計測システムは、ワークWを載置するテーブル2と、工具5を装着する主軸3と、該主軸3を回転自在に支持する主軸ハウジング4と、を有する工作機械1において、前記テーブル2上の既知の位置に設けられた指標11と、光軸21aが前記主軸の回転軸3aと平行になるように配置され、前記テーブル2上の測定対象物を撮像する撮像装置20と、前記撮像装置20で撮像された画像を処理し、前記光軸21aを基準として前記測定対象物の画像から計測位置情報に変換する画像処理装置24と、この計測位置情報を用いた各種処理を行う制御装置6と、を備え、前記制御装置6は、前記撮像装置20が前記指標11を撮像したときに前記回転軸3aと前記光軸21aとの相対位置情報を求め、該相対位置情報に基づいて前記計測位置情報を前記回転軸3aを基準とした絶対位置情報に変換することを特徴とする。
図1に示す実施例において、工作機械1はマシニングセンタであり、ワークWを載置するテーブル2と、工具5を装着する主軸3と、主軸3を回転自在に支持する主軸ハウジング4と、を有する。テーブル2はX軸方向及びY軸方向に駆動され、主軸ハウジング4はZ軸方向に駆動される。工作機械1は、主軸3の先端に工具5が装着され、工具5を回転させながらワークWに対してX,Y,Z軸方向に相対移動させ、ワークWを所望の形状に加工する。また、工作機械1は、工具5の加工軌跡を数値制御する制御装置6と、加工条件、工具交換、座標設定などの指示を入力する操作パネル7と、加工情報や位置情報などを表示するモニター8を備えている。なお、工作機械1は、図示の立形マシニングセンタに限られず、横形マシニングセンタの他、ボール盤、中ぐり盤、フライス盤、研削盤など各種の工作機械に本発明の計測システムを採用することが可能である。
図2は、本発明に係る工作機械の一実施例の主要部を示す分解斜視図である。
撮像装置20は、テーブル2上に載置された測定対象物を撮像するものであり、テレセントリックレンズ21と、CCDイメージセンサなどの撮像素子22と、測定対象物に光を照射するスポット照明23とを有する。撮像装置20は、テレセントリックレンズ21の光軸21aが主軸3の回転軸3aと平行になるように配置され、支持部材30を介して主軸ハウジング4に取り付けられている。本発明の計測システムは、撮像装置20の光軸21aが主軸3の回転軸3aと平行に配置されたことによって、撮像装置20の光学系がスペースの制約を受けないので、撮像装置20の光学系に全長の長いテレセントリックレンズを装着することが可能になった。このテレセントリックレンズ21は、(1)焦点位置と被写体位置に多少のずれがあっても被写体サイズが変化しない、(2)ワーキングディスタンスが長い、(3)歪曲収差が生じにくい等の特徴を有している。なお、撮像装置20の光学系は、テレセントリックレンズに限られず、種々の光学系を用いることも可能である。
図1乃至図3に示す実施例において、支持部材30は、インバー合金やスーパーインバー合金などの低熱膨張材で円環形状に形成してある。図2及び図3に示すように、支持部材30は、主軸ハウジング4の端部にネジ止めするための複数のネジ挿通孔31を有すると共に、それぞれのネジ挿通孔31に対して径方向の外側に該径方向と直交する方向のスリット32を備えている。支持部材30は、主軸ハウジング4の端部にネジ34によって固定され、この支持部材30の外縁部には撮像装置20を取り付ける取付部33を形成してある。ネジ挿通孔31及びスリット32は、取付部33と円環形状の中心を通る直線に対して対称な位置に4箇所ずつ設けてある。
図1及び図6において、10は指標装置であり、指標11が描画された円形のガラス板14と、このガラス板14を載置する載置台15と、ガラス板14を載置台15に固定する固定部材16と、を有する。ガラス板14は、高い真円度で円形に加工され、中央部に撮像装置20で撮像可能な任意のパターン形状を描画してある。スポット照明23からの照明光が指標11に反射して帰ってくる光を撮像装置20の撮像素子22が捉えて、指標11の位置情報を認識する。指標11の描画は、フォトリソグラフィなど既存の方法を用いて行うことができる。また、固定部材16は複数の係止片17を備え、この係止片17でガラス板14を固定しているから、タッチプローブなどの接触式センサによってガラス板14の周囲を計測可能になっている。
画像処理装置24は、撮像装置20で撮像された画像を処理し、撮像装置20の光軸21aを基準として測定対象物の画像から計測位置情報に変換する。制御装置6は、この計測位置情報を用いてデータの記憶や演算などの各種処理を行う。制御装置6は、撮像装置20が指標11を撮像したときに回転軸3aと光軸21aとの相対位置情報を求め、この相対位置情報に基づいて上記計測位置情報を回転軸3aを基準とした絶対位置情報に変換する。本発明の計測システムは、撮像装置20がワークW上の測定対象物を撮像し、画像処理装置24が画像データを画像処理して位置情報に変換すると共に、制御装置6が位置情報の記憶・演算などの処理をすることにより、小径穴、細い溝、微小段差の突起物など微細な形状について機上計測を可能にしている。
次に、本発明に係る計測システムを用いた機上計測方法について説明する。
初めに、主軸3の回転軸3aと撮像装置20の光軸21aとの相対位置を正確に計測する。
XL(cc)=XL(pc)+Δx
YL(cc)=YL(pc)+Δy
XL−S=|XL(cc)−XS(cc)|
YL−S=|YL(cc)−YS(cc)|
2 テーブル
3 主軸
3a 回転軸
4 主軸ハウジング
5 工具
6 制御装置
7 操作パネル
8 モニター
10 指標装置
11 指標
12 誘導マーク
13 中心マーク
14 ガラス板
15 載置台
16 固定部材
17 係止片
20 撮像装置
21 テレセントリックレンズ
21a 光軸
22 撮像素子
23 スポット照明
24 画像処理装置
25 照度コントローラー
26 通信ケーブル
30 支持部材
31 ネジ挿通孔
32 スリット
33 取付部
34 ネジ
W ワーク
Claims (9)
- ワークを載置するテーブルと、工具を装着する主軸と、該主軸を回転自在に支持する主軸ハウジングと、を有する工作機械において、
前記テーブル上の既知の位置に設けられた指標と、
光軸が前記主軸の回転軸と平行になるように配置され、前記テーブル上の測定対象物を撮像する撮像装置と、
前記撮像装置で撮像された画像を処理し、前記光軸を基準として前記測定対象物の画像から計測位置情報に変換する画像処理装置と、
この計測位置情報を用いた各種処理を行う制御装置と、を備え、
前記制御装置は、前記撮像装置が前記指標を撮像したときに前記回転軸と前記光軸との相対位置情報を求め、該相対位置情報に基づいて前記計測位置情報を前記回転軸を基準とした絶対位置情報に変換することを特徴とする計測システム。 - 前記主軸を挿通可能な円環形状に形成された支持部材が前記主軸ハウジングの端部に設けられ、該支持部材の外縁部に前記撮像装置を取り付けた請求項1に記載の計測システム。
- 前記支持部材が、前記主軸ハウジングの端部にネジ止めするための複数のネジ挿通孔を有すると共に、それぞれのネジ挿通孔に対して径方向の外側に該径方向と直交する方向のスリットを備えた請求項2に記載の計測システム。
- 前記撮像装置が、低熱膨張材で形成された支持部材を介して前記主軸ハウジングに取り付けられた請求項1乃至3の何れか一項に記載の計測システム。
- 前記制御装置が、前記相対位置情報の初期値を記憶してあり、該初期値に基づいて前記計測位置情報を前記絶対位置情報に変換すると共に、前記指標を撮像したときに求められる前記相対位置情報と前記初期値との差分を求め、該差分に基づいて前記絶対位置情報を補正することを特徴とする請求項1乃至4の何れか一項に記載の計測システム。
- 前記制御装置が、前記差分を記憶する手段と、前記差分の変化の収束点を求める手段と、を備えた請求項5に記載の計測システム。
- 前記テーブル上の既知の位置に透明な円柱状体を設け、該円柱状体の前記テーブル側の端面中央部に前記指標を描画したことを特徴とする請求項1乃至6の何れか一項に記載の計測システム。
- 前記指標が、放射状に配列された複数の誘導マークと、これら誘導マークの中心に描画された中心マークと、を有する請求項7に記載の計測システム。
- 請求項1乃至8の何れか一項に記載の計測システムを備えた工作機械。
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