JP2014038101A - 導光板の透過率スペクトルのテスト装置及び方法 - Google Patents
導光板の透過率スペクトルのテスト装置及び方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2014038101A JP2014038101A JP2013169067A JP2013169067A JP2014038101A JP 2014038101 A JP2014038101 A JP 2014038101A JP 2013169067 A JP2013169067 A JP 2013169067A JP 2013169067 A JP2013169067 A JP 2013169067A JP 2014038101 A JP2014038101 A JP 2014038101A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- guide plate
- light guide
- spectrum
- test
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/59—Transmissivity
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
- G01N21/03—Cuvette constructions
- G01N21/0303—Optical path conditioning in cuvettes, e.g. windows; adapted optical elements or systems; path modifying or adjustment
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Pathology (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Planar Illumination Modules (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Non-Portable Lighting Devices Or Systems Thereof (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Testing Resistance To Weather, Investigating Materials By Mechanical Methods (AREA)
Abstract
【解決手段】テスト対象導光板11にスペクトルが連続する線状光源を提供する混光チャンバユニット3と、混光チャンバユニット3の一側にあり、前記混光チャンバユニット3からの光を受光するようにテスト対象導光板11が上方に配置される導光板配置ユニットと、前記導光板配置ユニットの上方に設けられ、スペクトルを測定するテストレンズ12と、を備える。
【選択図】図5
Description
2 ランプリフレクタカバー
3 混光チャンバユニット
4 フィルタ
5 光均一シート
6 調整可能漏光スリット
7 通光スリット
8 導光板ベース
9 高度スペーサ
10 リフレクタシート
11 テスト対象導光板
12 テストレンズ
13 反射レンズ
14 入光面
15 出光面
16 混光チャンバケース
Claims (16)
- テスト対象導光板に、スペクトルが連続する線状光源を提供する混光チャンバユニットと、
混光チャンバユニットの一側にあり、前記混光チャンバユニットからの光を受光するようにテスト対象導光板が上方に配置される導光板配置ユニットと、
前記導光板配置ユニットの上方に設けられてスペクトルを測定するテストレンズと、を備えることを特徴とする導光板の透過率スペクトルのテスト装置。 - 前記混光チャンバユニットは、混光チャンバケースと、前記混光チャンバケース内に設けられるランプリフレクタカバーと、前記ランプリフレクタカバーに設けられる標準光源と、を備え、
前記混光チャンバケースの一側に通光スリットが設けられ、前記標準光源からの光が前記通光スリットを通して線状光源を形成することを特徴とする請求項1に記載の導光板の透過率スペクトルのテスト装置。 - 前記ランプリフレクタカバーは、垂直断面線が楕円の一部であり、水平断面線が放物線の一部である複数の曲面ユニットからなり、前記水平断面線の放物線の焦点は、前記垂直断面線の楕円の第1の焦点に重合し、
前記標準光源は、複数の標準ランプを備え、それぞれの前記曲面ユニットの垂直断面線の楕円の第1の焦点に1つの標準ランプが設けられ、
前記通光スリットは、前記ランプリフレクタカバーの複数の前記曲面ユニットの垂直断面線の楕円の第2の焦点を通すことを特徴とする請求項2に記載の導光板の透過率スペクトルのテスト装置。 - 複数の前記標準ランプは直列に接続されることを特徴とする請求項3に記載の導光板の透過率スペクトルのテスト装置。
- 前記混光チャンバユニットは、前記標準光源と前記通光スリットとの間に設けられる調整可能漏光スリットをさらに備えることを特徴とする請求項3または4に記載の導光板の透過率スペクトルのテスト装置。
- 前記混光チャンバユニットは、前記標準光源と調整可能漏光スリットとの間に設けられるフィルタ、及び光均一シートをさらに備えることを特徴とする請求項5に記載の導光板の透過率スペクトルのテスト装置。
- 前記テストレンズは、テスト対象導光板の中心の真上の位置と、テスト対象導光板の入光面の真上の位置との間に移動することができることを特徴とする請求項1〜6のいずれか1項に記載の導光板の透過率スペクトルのテスト装置。
- 前記導光板配置ユニットは、導光板ベース、高度スペーサ及びリフレクタシートを備え、前記リフレクタシートは前記導光板ベース上に配置され、高度スペーサは、前記リフレクタシートと前記導光板ベースとの間に選択的に配置され、リフレクタシート上にテスト対象導光板が配置されることを特徴とする請求項3〜6のいずれか1項に記載の導光板の透過率スペクトルのテスト装置。
- 前記導光板ベースの上表面は、混光チャンバにおける通光スリットより低いことを特徴とする請求項8に記載の導光板の透過率スペクトルのテスト装置。
- 前記通光スリットからの光をテストレンズに直接に反射するように、前記導光板ベース上に設けられる45度角をなす反射レンズをさらに備えることを特徴とする請求項1〜9のいずれか1項に記載の導光板の透過率スペクトルのテスト装置。
- 導光板の透過率スペクトルのテスト装置は、テスト対象導光板にスペクトルが連続する線状光源を提供する混光チャンバユニットと、混光チャンバユニットの一側にあり、前記混光チャンバユニットからの光を受光するようにテスト対象導光板が上方に配置される導光板配置ユニットと、前記導光板配置ユニットの上方に設けられ、スペクトルを測定するテストレンズと、を備える、前記導光板の透過率スペクトルのテスト装置による導光板の透過率スペクトルのテスト方法において、
導光板の出射光スペクトルを測定する工程と、
導光板の入射光スペクトルを測定する工程と、
導光板透過率スペクトル=出射光スペクトル/入射光スペクトルの数式により導光板透過率スペクトルを計算する工程と、を備えることを特徴とする導光板の透過率スペクトルのテスト方法。 - 前記導光板配置ユニットは、導光板ベース、高度スペーサ及びリフレクタシートを備え、前記導光板の出射光スペクトルを測定する工程は、高度スペーサを選択し、高度スペーサ、リフレクタシート及びテスト対象導光板を前記導光板ベース上に順に配置し、テスト対象導光板の入光面を混光チャンバにおける通光スリットに対応させる工程を備えることを特徴とする請求項11に記載の導光板の透過率スペクトルのテスト方法。
- 前記導光板の透過率スペクトルテスト装置の混光チャンバユニットは調整可能漏光スリットを有し、
前記導光板の出射光スペクトルを測定する工程は、テスト対象導光板の厚みによって、前記調整可能漏光スリットの幅をテスト対象導光板の厚みより小さいように調整する工程を備えることを特徴とする請求項11又は12に記載の導光板の透過率スペクトルのテスト方法。 - 前記導光板の出射光スペクトルを測定する工程は、前記テストレンズが前記テスト対象導光板の中心の真上に位置する状態で行われることを特徴とする請求項11〜13のいずれか1項に記載の導光板の透過率スペクトルのテスト方法。
- 前記導光板の入射光スペクトルを測定する工程は、
混光チャンバユニットの状態を、出射光スペクトルを測定する場合と同じように制御する工程と、
前記混光チャンバユニットの通光スリットからの光を上へ反射するように、45度角をなす反射レンズを前記導光板配置ユニットに配置する工程と、
テストレンズを移動し、反射レンズ内に反射される漏光スリットの結像に位置合わせて、入射光スペクトルを読取る工程と、を備えることを特徴とする請求項11〜14のいずれか1項に記載の導光板の透過率スペクトルのテスト方法。 - 前記反射レンズは、前記導光板の出射光スペクトルを測定する場合、テスト対象導光板の入光面が所在する位置に設けられることを特徴とする請求項15に記載の導光板の透過率スペクトルのテスト方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201210293346.6A CN102829959B (zh) | 2012-08-16 | 2012-08-16 | 一种导光板透过率光谱的测试装置及方法 |
CN201210293346.6 | 2012-08-16 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014038101A true JP2014038101A (ja) | 2014-02-27 |
JP6319969B2 JP6319969B2 (ja) | 2018-05-09 |
Family
ID=47333173
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013169067A Expired - Fee Related JP6319969B2 (ja) | 2012-08-16 | 2013-08-16 | 導光板の透過率スペクトルのテスト装置及び方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9442068B2 (ja) |
EP (1) | EP2698625B1 (ja) |
JP (1) | JP6319969B2 (ja) |
KR (1) | KR20140023214A (ja) |
CN (1) | CN102829959B (ja) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104075878A (zh) * | 2013-03-29 | 2014-10-01 | 深圳市海洋王照明工程有限公司 | 一种导光板的均匀度测试方法 |
CN104111238A (zh) * | 2013-04-16 | 2014-10-22 | 烁光特晶科技有限公司 | 一种光学材料透过率的测试系统及测试方法 |
CN103792002B (zh) * | 2014-01-28 | 2016-01-20 | 北京京东方显示技术有限公司 | 一种入光效率测量装置及入光效率测量方法 |
CN104180901A (zh) * | 2014-08-15 | 2014-12-03 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 超窄带滤光片的透射率光谱测量装置及方法 |
KR102231107B1 (ko) * | 2018-10-31 | 2021-03-23 | 주식회사 엘지화학 | 회절 도광판 품질 평가 시스템 및 평가 방법 |
CN109115730A (zh) * | 2018-11-02 | 2019-01-01 | 天津津航技术物理研究所 | 基于可调谐激光的光谱透过率测试系统及方法 |
CN110332889A (zh) * | 2019-07-19 | 2019-10-15 | 上海磊跃自动化设备有限公司 | 一种测量细小薄带凹节的测量装置 |
CN110646974A (zh) * | 2019-08-31 | 2020-01-03 | 深圳市纳泽光电有限公司 | 一种背光模组 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06294749A (ja) * | 1993-04-09 | 1994-10-21 | Nippon Electric Glass Co Ltd | 板ガラスの欠点検査方法 |
JP2002005815A (ja) * | 2000-06-22 | 2002-01-09 | Sumitomo Chem Co Ltd | バックライト用部材の耐久性試験方法 |
JP2007516477A (ja) * | 2003-12-23 | 2007-06-21 | ソリッド・ステート・オプト・リミテッド | 基板上または基板内に光学素子を作成するために使用するロール上で光学素子形状を作成する方法 |
US20070230217A1 (en) * | 2006-03-29 | 2007-10-04 | Nec Lcd Technologies, Ltd. | Back light unit and liquid crystal display device |
Family Cites Families (23)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3947131A (en) * | 1974-11-04 | 1976-03-30 | Gerhard Karl | Windshield soil detector |
JPH01189549A (ja) * | 1988-01-26 | 1989-07-28 | Asahi Glass Co Ltd | 硝子欠点検出装置 |
JP2517368B2 (ja) | 1988-09-27 | 1996-07-24 | 株式会社小糸製作所 | 自動車用前照灯及び自動車用前照灯装置 |
JPH04208834A (ja) * | 1990-12-04 | 1992-07-30 | Ezel Inc | 液晶パネルの検査方法 |
US5764209A (en) * | 1992-03-16 | 1998-06-09 | Photon Dynamics, Inc. | Flat panel display inspection system |
US6323894B1 (en) * | 1993-03-12 | 2001-11-27 | Telebuyer, Llc | Commercial product routing system with video vending capability |
CA2162996C (en) * | 1993-05-18 | 2008-02-05 | James N. Herron | Apparatus and methods for multianalyte homogeneous fluoroimmunoassays |
JPH10274593A (ja) * | 1997-03-31 | 1998-10-13 | Komatsu Ltd | 液晶パネルの光透過率測定装置 |
JPH11337496A (ja) * | 1998-03-24 | 1999-12-10 | Ngk Insulators Ltd | 透明体の欠陥検出方法及び透明体の製造方法 |
US6606116B1 (en) * | 2000-03-30 | 2003-08-12 | Ncr Corporation | Methods and apparatus for assessing quality of information displays |
JP2002257678A (ja) * | 2001-02-06 | 2002-09-11 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | 表示パネルの検査装置および検査方法 |
US6775000B2 (en) * | 2001-12-19 | 2004-08-10 | Novalux, Inc. | Method and apparatus for wafer-level testing of semiconductor laser |
TWI243258B (en) | 2002-11-29 | 2005-11-11 | Hon Hai Prec Ind Co Ltd | Measurement apparatus of light guide plate |
JP2005049291A (ja) | 2003-07-31 | 2005-02-24 | Nippon Sheet Glass Co Ltd | 透明板状体の集光作用を有する微小欠点を検出する装置および方法 |
KR20070056453A (ko) * | 2005-11-29 | 2007-06-04 | 삼성전자주식회사 | 액정패널의 투과율 측정장치 |
FR2895084B1 (fr) * | 2005-12-16 | 2008-02-08 | Vai Clecim Soc Par Actions Sim | Rampe et procede d'eclairage a diodes electroluminescentes de puissance pour un systeme de detection automatique de defauts |
CN101025515A (zh) * | 2006-02-23 | 2007-08-29 | 中华映管股份有限公司 | 用于液晶显示器的侧光式背光模块 |
US8072607B2 (en) * | 2006-10-30 | 2011-12-06 | Von Ardenne Anlagentechnik Gmbh | Measuring device for measuring optical properties of transparent substrates |
JP5403389B2 (ja) * | 2008-03-27 | 2014-01-29 | 日本電気硝子株式会社 | ガラス基板検査装置およびガラス基板検査方法 |
JP2012007993A (ja) | 2010-06-24 | 2012-01-12 | Asahi Glass Co Ltd | 板状透明体の欠陥検査装置及びその方法 |
CN102337099B (zh) | 2010-07-28 | 2013-06-19 | 烟台德邦科技有限公司 | 单组分可光热双重固化的胶粘剂及其制备方法 |
US8646960B2 (en) | 2010-08-03 | 2014-02-11 | 3M Innovative Properties Company | Scanning backlight with slatless light guide |
CN102628579B (zh) * | 2012-02-28 | 2016-05-25 | 京东方科技集团股份有限公司 | 导光板、背光模组及显示装置 |
-
2012
- 2012-08-16 CN CN201210293346.6A patent/CN102829959B/zh not_active Expired - Fee Related
-
2013
- 2013-07-09 EP EP13175741.1A patent/EP2698625B1/en not_active Not-in-force
- 2013-07-29 US US13/953,007 patent/US9442068B2/en active Active
- 2013-08-01 KR KR20130091548A patent/KR20140023214A/ko not_active Application Discontinuation
- 2013-08-16 JP JP2013169067A patent/JP6319969B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06294749A (ja) * | 1993-04-09 | 1994-10-21 | Nippon Electric Glass Co Ltd | 板ガラスの欠点検査方法 |
JP2002005815A (ja) * | 2000-06-22 | 2002-01-09 | Sumitomo Chem Co Ltd | バックライト用部材の耐久性試験方法 |
JP2007516477A (ja) * | 2003-12-23 | 2007-06-21 | ソリッド・ステート・オプト・リミテッド | 基板上または基板内に光学素子を作成するために使用するロール上で光学素子形状を作成する方法 |
US20070230217A1 (en) * | 2006-03-29 | 2007-10-04 | Nec Lcd Technologies, Ltd. | Back light unit and liquid crystal display device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US9442068B2 (en) | 2016-09-13 |
US20140049778A1 (en) | 2014-02-20 |
JP6319969B2 (ja) | 2018-05-09 |
EP2698625A1 (en) | 2014-02-19 |
EP2698625B1 (en) | 2016-09-14 |
CN102829959A (zh) | 2012-12-19 |
KR20140023214A (ko) | 2014-02-26 |
CN102829959B (zh) | 2014-12-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6319969B2 (ja) | 導光板の透過率スペクトルのテスト装置及び方法 | |
US9291766B2 (en) | Color deviation balance thin film, side-type backlight module and liquid crystal display device | |
CN104423089A (zh) | 光学片及包括该光学片的背光单元和显示器 | |
CN103150062B (zh) | 触控显示装置 | |
US11306899B2 (en) | Light source system and display device | |
US20120154712A1 (en) | Liquid crystal display device and backlight module thereof | |
US9671642B2 (en) | Display panel and display device | |
CN100545682C (zh) | 棱镜片和包括棱镜片的背光单元 | |
CN103217218B (zh) | 一种光谱测试装置及方法 | |
JP2013152432A (ja) | 画像表示装置 | |
US9791616B2 (en) | Display apparatus and method of manufacturing the display apparatus | |
KR20190113018A (ko) | 레인보우 무라 측정장치 | |
US9739445B2 (en) | Backlight module having two light source layers and display device | |
CN104820259A (zh) | 导光板、背光模组及显示装置 | |
TW201617704A (zh) | 含降頻轉換膜元件之背光系統 | |
CN103953893A (zh) | 调光单元、背光模组以及显示装置 | |
CN208367387U (zh) | 背光模块及显示设备 | |
CN104061488A (zh) | 背光模块及显示装置 | |
JP2019067593A (ja) | 照明装置及び表示装置 | |
CN104776355B (zh) | 液晶显示装置及其背光模组 | |
TW201702657A (zh) | 導光板、及應用其之背光模組與液晶顯示裝置 | |
KR101408688B1 (ko) | 액정표시장치 | |
US20170082793A1 (en) | Backlight module, display module and electronic device | |
KR20190010348A (ko) | 렌즈, 광원 장치, 백라이트 유닛 및 전자 기기 | |
CN107831621B (zh) | 背光模块及包含其的显示装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20160713 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20170517 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20170605 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20170905 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20180305 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20180403 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6319969 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |