KR20140023214A - 도광판의 투과 스펙트럼 검출 장치 및 방법 - Google Patents

도광판의 투과 스펙트럼 검출 장치 및 방법 Download PDF

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Abstract

도광판의 투과 스펙트럼 검출 장치 및 방법이 제공된다. 이 검출 장치는 연속 스펙트럼을 갖는 선형 광원을 검출될 도광판에 제공하기 위한 혼합 캐비티 유닛; 상기 혼합 캐비티 유닛의 한쪽에 위치한 도광판 배치 유닛 - 상기 도광판 배치 유닛 위에는 상기 혼합 캐비티 유닛으로부터 광을 수신할 수 있게 검출될 도광판이 배치됨 - ; 및 스펙트럼을 검출하기 위해 상기 도광판 배치 유닛 위에 배치된 검출 렌즈를 포함한다.

Description

도광판의 투과 스펙트럼 검출 장치 및 방법{A DEVICE AND A METHOD FOR DETECTING A TRANSMITTIVITY SPECTRUM OF A LIGHT GUIDING PLATE}
본 발명은 도광판의 투과 스펙트럼을 검출하기 위한 방법 및 장치에 관한 것이다.
디스플레이 기술의 급속한 발전에 따라서, 액정 디스플레이 장치(예로, 액정 TV 세트, 액정 디스플레이, 액정 디스플레이 스크린 등)는 저전압 구동, 평판 패널 구조, 높은 정보전달력의 표시, 용이한 채색화, 긴 수명, 무 방사, 무공해 등의 이점으로 인해 제조업이나 일상 생활에 점차 광범위하게 이용되고 있다. 그러나 액정 디스플레이 장치는 수동형 디스플레이 장치로서 스스로는 빛을 방출할 수 없어 외부의 광을 조절하여 디스플레이 목적을 달성한다. 따라서, 백라이트는 액정 디스플레이 장치에서 매우 중요한 역할을 한다.
도광판은 측광형 백라이트에서 중요한 기능을 하는 구성요소들 중 하나이다. 도 1은 도광판의 일례에 대한 개략적인 구조도이다. 도광판(11')은 무색 투명하며, 그 바닥면에는 광 기능성 표면(10')을 형성한다. 도광판(11')의 적어도 한쪽에는 입광면(14')을 설계한다. 광원으로부터의 광은 입광면(14')을 통과하여 도광판(11') 내로 들어가고, 광 기능성 면(10')과 도광판의 내면에 의해 복수 반사된 후 도광판(11')의 상부면, 즉 출광면(15')으로부터 출사하여 균일한 면광원을 형성한다.
다양한 파장을 갖는 광에 대한 광 기능성 면(10")과 도광판 재료의 광 흡수율면에서의 차이 등에 기인하여, 입광면(14')의 입사광은 출광면(15')의 출사광과 다른 스펙트럼을 갖게 되고, 이는 도광판 출사광의 크로마 오프셋(chroma offset)을 초래한다. 광원의 스텍트럼을 이용하여 직접 계산해보면, 액정 디스플레이의 채도(chroma) 계산 결과에 오차가(errors) 발생한다. 이는 제품 품질과 생산 효율에 영향을 준다.
본 발명의 한 목적은 도광판의 투과 스펙트럼을 검출하기 위한 방법 및 장치를 제공하는 것이다.
본 발명의 실시예들에 따르면, 도광판(light guiding plate)의 투과 스펙트럼 검출 장치가 제공된다. 이 검출 장치는 연속 스펙트럼을 갖는 선형 광원을 검출될 도광판에 제공하기 위한 혼합 캐비티 유닛; 상기 혼합 캐비티 유닛의 한쪽에 위치한 도광판 배치 유닛 - 상기 도광판 배치 유닛 위에는 상기 혼합 캐비티 유닛으로부터 광을 수신할 수 있게 검출될 도광판이 배치됨 - ; 및 스펙트럼을 검출하기 위해 상기 도광판 배치 유닛 위에 배치된 검출 렌즈를 포함한다.
상기 혼합 캐비티 유닛은 캐비티 케이스, 상기 혼합 캐비티 케이스 안에 배치된 램프 반사 커버, 및 상기 램프 반사 커버 안에 배치된 표준 광원을 포함하고; 상기 혼합 캐비티 케이스의 한쪽에 광-통과 슬릿이 제공되고, 상기 표준 광원으로부터 광이 상기 광-통과 슬릿을 통해서 통과하여 선형 광원을 형성한다.
양호하게는, 상기 램프 반사 커버는 복수의 곡면 유닛으로 구성되고, 상기 복수의 곡면 유닛 각각은 타원의 일부인 수직 중앙-분리 라인과 포물선의 일부인 수평 중앙-분리 라인이 있으며, 상기 수평 중앙-분리 라인의 포물선의 초점은 상기 수직 중앙-분리 라인의 타원의 두 초점 중 제1 초점과 일치하고; 상기 표준 광원은 복수의 표준 램프를 포함하고, 복수의 표준 램프의 각각은 상기 곡면 유닛 중 한 유닛의 수직 중앙-분리 라인의 타원의 제1 초점에 배치되며; 상기 광-통과 슬릿은 상기 램프 반사 커버의 상기 복수의 곡면 유닛의 수평 중앙-분리 라인들의 타원들의 제2 초점들을 통해서 통과한다.
양호하게는, 상기 복수의 표준 램프는 일렬로 연결된다.
양호하게는, 상기 혼합 캐비티 유닛은 상기 표준 광원과 상기 광-통과 슬릿 사이에 배치된 조정가능한 광-누출 슬릿(adjustable light-leaking slit)을 더 포함한다.
양호하게는, 상기 혼합 캐비티 유닛은 상기 표준 광원과 상기 조정가능한 광-누출 슬릿 사이에 배치된 광 필터와 광 균질화기(light homogenizer)를 더 포함한다.
양호하게는, 상기 검출 렌즈는 검출될 상기 도광판의 중심 바로 위의 위치와 검출될 상기 도광판의 입광면 바로 위의 위치 사이에서 수평으로 이동할 수 있다.
상기 도광판 배치 유닛은 베이스, 스페이서들, 및 반사 시트를 포함하고, 상기 반사 시트는 상기 베이스에 배치되고, 상기 스페이서들은 상기 반사 시트와 상기 베이스 사이에 선택적으로 배치될 수 있게 이용되며, 검출될 상기 도광판은 상기 반사 시트에 배치된다.
양호하게는, 상기 베이스의 상단 면은 상기 혼합 캐비티 내의 상기 광-통과 슬릿보다 낮다.
양호하게는, 상기 장치는 상기 광-통과 슬릿으로부터의 광을 상기 검출 렌즈로 반사시킬 수 있게 상기 베이스에 배치되는 45°기울어진 미러(45°-angled mirror)를 더 포함한다.
본 발명의 실시예들에 따르면, 연속 스펙트럼을 갖는 선형 광원을 검출될 도광판에 제공하기 위한 혼합 캐비티 유닛; 상기 혼합 캐비티 유닛의 한쪽에 위치한 도광판 배치 유닛 - 상기 도광판 배치 유닛 위에는 상기 혼합 캐비티 유닛으로부터 광을 수신할 수 있게 검출될 도광판이 배치됨 - ; 및 스펙트럼을 검출하기 위해 상기 도광판 배치 유닛 위에 배치된 검출 렌즈를 포함하는 도광판의 투과 스펙트럼 검출 장치를 이용하여 도광판의 투과 스펙트럼을 검출하는 방법이 더 제공된다. 이 방법은: 상기 도광판의 출사광 스펙트럼을 측정하는 단계; 상기 도광판의 입사광 스펙트럼을 측정하는 단계; 및 상기 도광판의 투과 스펙트럼을 계산하는 단계 - 상기 도광판의 투과 스펙트럼 = 상기 출사광 스펙트럼/상기 입사광 스펙트럼 - 를 포함한다.
양호하게는, 상기 도광판 배치 유닛은 베이스, 스페이서들 및 반사 시트를 포함하고, 상기 도광판의 출사광 스펙트럼 측정 단계는: 스페이서들을 선택하고, 검출될 도광판의 입광면이 상기 혼합 캐비티 유닛 안에 있는 광-통과 슬릿에 대응되도록 상기 스페이서들, 상기 반사 시트 및 상기 검출된 도광판을 언급한 순서대로 상기 베이스 위에 배치하는 단계를 포함한다.
양호하게는, 상기 도광판 투과 스펙트럼 검출 장치의 상기 혼합 캐비티 유닛은 조정가능한 광-누출 슬릿을 갖고 있으며; 상기 도광판의 출사광 스펙트럼을 측정 단계는 검출될 도광판의 두께에 따라 상기 조정가능한 광-누출 슬릿의 폭을 검출될 상기 도광판의 두께보다 작게 되도록 조정하는 단계를 포함한다.
양호하게는, 상기 도광판의 출사광 스펙트럼을 측정하는 단계는 상기 검출 렌즈가 검출될 상기 도광판의 중앙 바로 위에 위치해 있을 때 실행된다.
양호하게는, 상기 도광판의 입사광 스펙트럼을 측정하는 단계는: 상기 혼합 캐비티 유닛의 상태가 출사광 스펙트럼을 측정할 때의 상태와 같게 되도록 제어하는 단계; 상기 혼합 캐비티 유닛의 광-통과 슬릿으로부터의 광을 상향으로 반사시키기 위해 45°기울어진 미러를 상기 도광판 배치 유닛에 배치하는 단계; 및 상기 미러에 의해 반사된 상기 광-누출 슬릿의 이미지에 초점이 맞도록 상기 검출 렌즈를 이동시켜 입사광 스펙트럼을 판독하는 단계를 포함한다.
양호하게는, 상기 미러는 상기 도광판의 출사광 스펙트럼이 측정될 때 검출될 상기 도광판의 입광면이 배치되어 있는 위치에 배치된다.
본 발명의 실시예에 따른 도광판의 투과 스펙트럼을 검출하기 위한 장치는 구조가 간단하고 작동이 용이하며, 도광판의 입사광 스펙트럼과 출사광 스펙트럼을 측정하여 측광형의 도광판의 투과 스펙트럼을 계산하기가 용이하다. 이 계산 결과는 백라이트의 설계 및 품질 제어를 위한 기준을 제공한다.
본 발명의 실시예들의 기술적인 해법을 명료하게 설명하기 위해서, 실시예들에 대한 도면을 이하 간략히 설명한다. 설명된 도면들은 단지 본 발명의 본 발명의 몇몇 실시예들에 관련되어 있는 것이지 본 발명을 한정하는 것이 아님은 자명하다.
도 1은 종래 기술의 도광판의 개략적인 구조도이다.
도 2는 냉음극 형광 램프의 개략도이다.
도 3은 백색 LED(발광 다이오드)의 스펙트럼의 개략도이다.
도 4는 본 발명의 한 실시예에 따른 도광판의 투과 스펙트럼을 검출하기 위한 장치 내의 혼합 캐비티 유닛에 있는 표준 광원의 스펙트럼의 개략도이다.
도 5는 도광판의 출사광 스펙트럼을 검출하는 상태를 보여주는, 본 발명의 실시예에 따른 도광판의 투과 스펙트럼을 검출하는 장치의 개략도이다.
도 6은 도광판의 입사광 스펙트럼을 검출하는 상태를 보여주는, 본 발명의 실시예에 따른 도광판의 투과 스펙트럼을 검출하는 장치의 개략도이다.
도 7은 본 발명의 실시예의 도광판의 투과 스펙트럼을 검출하는 장치에 있는 표준 광원의 배치에 대한 개략도이다.
도 8은 혼합 캐비티 유닛이 단면으로 도시된, 본 발명에 따른 도광판의 투과 스펙트럼을 검출하는 장치의 부분 평면도이다.
본 발명 장치의 목적, 기술적인 세부 사항 및 장점들을 알 수 있도록, 실시예의 기술적인 해법들을 본 발명의 실시예에 관련된 도면들을 참조하여 명료하고 완전히 이해될 수 있는 식으로 설명하기로 한다. 설명된 실시예들은 본 발명의 일부이지 전부가 아님은 자명하다. 이 기술 분야에 숙련된 자이면 여기에 설명된 실시예들을 기반으로, 어떤 창의적인 작업을 하지 않더라도 다른 실시예(들)를 성취할 수 있을 것이며, 이러한 실시예들은 본 발명의 범위 내에 속한다.
액정 디스플레이 장치에 있는 백라이트는 보통 광원으로서 냉음극 형광 램프나 백색 광 LED(발광 다이오드)를 이용한다. 도 2 및 도 3은 각각 냉음극 형광 램프와 백색 광 LED의 스펙트럼을 보여주고 있다. 이 도면들로부터 두 개의 광원의 스펙트럼들이 둘 다 불연속임을 알 수 있다. 검출을 실행하는데 이들 두 개의 광원을 이용하면, 비교적 작은 세기를 갖는 파장(즉, 도 2 및 도 3에서 작은 수직 좌표를 갖는 영역들)에서 비교적 큰 오차가 발생한다.
도 4는 표준 광원의 스펙트럼을 보여주고 있다. 이 도면에서 표준 광원의 스펙트럼은 연속적임을 알 수 있다. 다양한 파장에서 도광판 투과의 완전한 스펙트럼은 도광판을 조사하는 광원으로서 연속 스펙트럼이 이용될 때만 측정될 수 있다. 그러나 보통 액정 디스플레이 장치의 측광형 백라이트에서 도광판의 두께가 약 0.4㎜ ~ 4㎜로 작기 때문에, 매칭 크기를 갖는 표준 광원으로 검출하기가 어렵다.
본 발명의 실시예들에서, 도광판의 투과 스펙트럼을 검출하기 위해, 균일한 밝기, 연속된 스펙트럼, 및 액정 디스플레이 장치의 측광형 백라이트의 도광판의 크기에 적응되는 크기를 갖는 선형 광원을 만드는데 특정한 구조의 혼합 캐비티를 이용한다. 이는 도광판의 투과 스펙트럼이 검출될 수 없다는 기술적인 문제를 해결한다.
도 5-8은 본 발명의 실시예에 따라 제공된 도광판의 투과 스펙트럼을 검출하는 장치를 보여주고 있고, 이 검출 장치는:
균일한 밝기 및 연속 스펙트럼을 갖는 선형 광원을 검출될 도광판(11)에 제공하기 위한 혼합 캐비티 유닛(3);
혼합 캐비티 유닛(3)의 한쪽에 위치한 도광판 배치 유닛 - 도광판 배치 유닛 위에는 혼합 캐비티 유닛으로부터 광을 수신할 수 있게 검출될 도광판이 배치됨 - ; 및
스펙트럼을 검출하기 위해 도광판 배치 유닛 위에 배치된 검출 렌즈(12)를 포함한다.
본 발명의 실시예에 따른 도광판의 투과 스펙트럼을 검출하기 위한 장치는 구조가 간단하고 작동이 용이하며, 도광판의 입사광 스펙트럼과 출사광 스펙트럼을 측정하여 측광형의 도광판의 투과 스펙트럼을 계산하기가 용이하다. 이 계산 결과는 백라이트의 설계 및 품질 제어를 위한 기준을 제공한다.
도 5 및 도 6에 도시된 바와 같이, 혼합 캐비티 유닛(3)은 혼합 캐비티 케이스(16), 혼합 캐비티 케이스(16) 안에 배치된 램프 반사 커버(2); 및 램프 반사 커버(2) 안에 배치된 표준 광원(1)을 포함한다. 또한, 광-통과 슬릿(7)은 혼합 캐비티 케이스(16)의 한쪽에 배치되고, 광-통과 슬릿(7)을 통해서 표준 광원(1)의 광이 통과하여 선형 광원을 형성한다.
본 발명의 양호한 실시예들에서, 램프 반사 커버(2)는 복수의 곡면 유닛으로 구성되고, 이들 각각은 타원의 일부인 수직 중앙-분리 라인과 포물선의 일부인 수평 중앙-분리 라인이 있다. 수평 중앙-분리 라인의 포물선의 초점은 수직 중앙-분리 라인의 타원의 두 초점 중 제1 초점과 일치한다.
도 7 및 도 8에 도시된 바와 같이, 표준 광원(1)은 복수의 표준 램프를 포함한다. 표준 램프들 각각은, 양호하게는, 곡면 유닛들 중 한 곡면 유닛의 수직 중앙-분리 라인의 타원의 제1 초점에 배치된다. 광-통과 슬릿(7)은 램프 반사 커버의 복수의 곡면 유닛의 수직 중앙-분리 라인들의 타원들의 제2 초점들을 통과한다. 이는 표준 광원으로부터의 광이 광-통과 슬릿(7)에 수렴되어 검출될 도광판의 입광면을 효율적으로 조사할 수 있게 해준다.
복수의 표준 램프는 일렬로 연결될 수 있다. 이는 광의 균질성을 향상시키는데 도움을 줄 수 있다.
광 필터(4), 광 균질화기(5) 및 조정가능한 광-누출 슬릿(6)은 언급된 순서로 표준 광원(1)과 광-통과 슬릿(7) 사이에 배치될 수 있다. 광 필터(4)는 다양한 대역의 도광판의 투과 스펙트럼을 정밀하게 검출하기 위하여, 표준 광원(1)의 스펙트럼을 필터링하여 검출하고자 하는 특정 대역의 스펙트럼을 선택하는 기능을 한다. 광 균질화기(5)는, 검출된 도광판(11) 내에서 밝기와 어두움이 교착하는 것을 방지하여 검출의 정밀도를 향상시키기 위해, 복수의 표준 램프로 구성된 라이트 바(light bar)가 수평 방향으로 균일한 밝기를 갖도록 광을 수평 방향으로 균일하게 하는 기능을 한다. 조정가능한 광-누출 슬릿(6)은 다양한 두께를 갖는 검출될 도광판들(11)을 매칭(matching)시키기 위하여, 광-누출 슬릿을 다른 폭을 갖는 다른 광-누출 슬릿으로 대체함으로써 광-통과 슬릿(7)에서 나온 광의 폭을 조정할 수 있게 해주는 기능을 한다.
본 발명의 양호한 실시예들에서, 도광판 배치 유닛은 충분한 입사 효율이 보장될 수 있게 다양한 두께의 도광판들의 출광면들과 광-통과 슬릿과의 얼라인먼트(alignment)가 가능해지도록 구성된다. 도면들에 도시된 바와 같이, 도광판 배치 유닛은 베이스(8), 스페이서들(9)(이들 중 하나만이 도시되어 있음), 및 반사 시트(10)로 구성된다. 베이스(8)는 특정 높이와 평탄한 면을 갖는 구조를 띠고 있으며, 이는 혼합 캐비티 유닛(3) 내의 광-통과 슬릿(7)보다 약간 낮은 상부면을 갖고 있다. 베이스(8)에 다양한 높이의 스페이서들(9)을 배치하면 다양한 두께의 도광판들의 중간 면들(middle planes)과 광-통과 슬릿(7)의 중앙 면(central plane)이 플러싱(flushing)될 수 있어 최적의 입사 효율이 달성된다. 액정 디스플레이 장치의 백라이트에서 반사 시트와 동일한 기능을 하는 반사 시트(10)는 스페이서(9) 상에 배치된다. 검출될 도광판(11)은 반사 시트(10)에 배치되고, 검출될 도광판(11)의 출광면은 위를 향하고 그의 입광면은 혼합 캐비티(3)의 광-통과 슬릿(7)에 대응한다.
유의할 점은 스페이서(9)가 필요에 따라 베이스(8)와 반사 시트(10) 사이에 배치되지 않을 수도 있다는 것이다.
검출 렌즈(12)는 검출될 도광판(11) 바로 위에 위치하며 검출될 도광판(11)의 중앙 바로 위의 위치와 검출될 도광판(11)의 입광면 바로 위의 위치 간에서 수평으로 이용할 수 있다.
본 발명에 의해 제공된 도광판의 투과 스펙트럼을 검출하기 위한 장치는 구조가 간단하고 작동이 용이하며, 측광형의 도광판에 들어갈 수 있게 반사 시트와 광-통과 슬릿에 의해 선형 광원으로 조정되는 광원으로서 표준 조명을 이용하며, 이 장치에서, 측광형 도광판의 투과 스펙트럼은 도광판의 입사광 스펙트럼과 출사광 스펙트럼의 측정치를 기반으로 계산되며, 이는 백라이트의 설계 및 품질 제어를 위한 기준을 제공한다.
본 발명의 실시예들에 따르면, 도광판의 투과 스펙트럼을 검출하는 방법이 제공되며, 이 방법은 위에 설명한 검출 장치를 이용한다. 이 방법은:
도광판의 출사광 스펙트럼을 측정하는 단계;
상기 도광판의 입사광 스펙트럼을 측정하는 단계; 및
상기 도광판의 투과 스펙트럼을 계산하는 단계 - 상기 도광판의 투과 스펙트럼 = 상기 출사광 스펙트럼/상기 입사광 스펙트럼 - 를 포함한다.
본 발명에 의해 제공된 도광판의 투과 스펙트럼을 검출하기 위한 방법은 작업이 용이하며 광원으로서 표준 조명을 이용하고, 이 표준 조명의 광원은, 반사 시트와 광-통과 슬릿에 의해 측광형의 도광판에 들어갈 수 있게 선형 광원이 되도록 조정되며, 측광형 도광판의 투과 스펙트럼은 도광판의 입사광 스펙트럼과 출사광 스펙트럼의 측정치를 기반으로 계산되며, 이는 백라이트의 설계 및 품질 제어를 위한 기준을 제공한다.
도 5를 참조하면, 도광판의 출사광 스펙트럼의 측정은 스페이서들을 선택하고, 검출될 도광판(11)의 입광면이 혼합 캐비티 내의 광-통과 슬릿(7)에 대응되도록 검출될 도광판(11), 스페이서들(9) 및 반사 시트(10)를 언급된 순서로 베이스(8) 위에 배치하는 것을 포함한다.
도광판의 출사광 스펙트럼의 측정은 또한 조정가능한 광-누출 슬릿(6)의 폭이 도광판의 두께보다 작게 되도록 검출될 도광판의 두께에 따라서 조정가능한 광-누출 슬릿(6)의 폭을 조정하는 것을 포함한다.
또한, 양호하게는 도광판의 출사광 스펙트럼의 측정은 검출 렌즈가 검출될 도광판의 중앙 바로 위에 위치할 때 실행된다.
도 6을 참조하면, 도광판의 입사광 스펙트럼의 측정은:
출사광 스펙트럼 검출이 완료된 후, 혼합 케비티 유닛의 상태를 변하지 않게 유지하고서 스페이서들, 반사 시트 및 검출된 도광판을 제거하고; 45°기울어진 미러를 장착하고; 검출 렌즈를 이동시켜서, 미러로부터 반사되어 나온 광-누출 슬릿을 조정하여 이미지를 형성하고 입사광 스펙트럼을 판독하는 것을 포함한다.
광-누출 슬릿으로부터의 광은 수평 방향인 한편 검출 렌즈는 수직 방향이기 때문에, 검출 렌즈는 광-누출 슬릿으로부터의 광을 직접 수신할 수 없다. 그러므로 이 광을 렌즈로 반사시키기 위한 45°기울어진 미러를 장착해야 한다. 검출 동안, 필요한 모든 것은 검출 렌즈를 미러에 있는 이미지에 맞추어서 검출을 실행하는 것이다.
본 발명의 실시예들에 따라 제공된 도광판의 투과 스펙트럼 검출 방법은 작업이 쉽고 표준 조명을 광원으로 이용하고, 이 표준 광원에서는, 광원이 반사 시트와 광-통과 슬릿에 의해 선형 광원으로 조정되어 측광형 도광판으로 들어가고, 측광형 도광판의 투과 스펙트럼은 도광판의 입사광 스펙트럼과 출사광 스펙트럼의 측정치를 기반으로 계산되어 백라이트의 설계 및 품질 제어를 위한 기준으로 제공된다.
본 발명의 실시예들이 위에 설명되었을지라도, 이들이 많은 방식으로 변형될 수 있음은 자명하다. 그러한 변형은 본 발명의 정신 및 범위를 벗어나지 않으며, 다음의 청구항들의 범위 내에 포함된다는 것은 이 기술 분야에 숙련된 자들에게 자명한 것이다.
1: 표준 광원; 2: 램프 반사 커버; 3: 혼합 캐비티 유닛; 4: 광 필터; 5: 광 균질화기; 6: 조정가능한 광-누출 슬릿; 7: 광-통과 슬릿; 8: 베이스; 9: 스페이서; 10: 반사 시트; 11: 검출될 도광판; 12: 검출 렌즈; 13: 미러; 14: 입광면; 15: 출광면; 16: 램프 반사 케이스

Claims (16)

  1. 도광판(light guiding plate)의 투과 스펙트럼 검출 장치로서,
    연속 스펙트럼을 갖는 선형 광원을 검출될 도광판에 제공하기 위한 혼합 캐비티 유닛:
    상기 혼합 캐비티 유닛의 한쪽에 위치한 도광판 배치 유닛 - 상기 도광판 배치 유닛 위에는 상기 혼합 캐비티 유닛으로부터 광을 수신할 수 있게 검출될 도광판이 배치됨 - ; 및
    스펙트럼을 검출하기 위해 상기 도광판 배치 유닛 위에 배치된 검출 렌즈를 포함하는 도광판의 투과 스펙트럼 검출 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 혼합 캐비티 유닛은 혼합 캐비티 케이스, 상기 혼합 캐비티 케이스 안에 배치된 램프 반사 커버, 및 상기 램프 반사 커버 안에 배치된 표준 광원을 포함하고;
    상기 혼합 캐비티 케이스의 한쪽에 광-통과 슬릿이 제공되고, 상기 표준 광원으로부터의 광이 상기 광-통과 슬릿을 통해서 통과하여 선형 광원을 형성하는, 도광판의 투과 스펙트럼 검출 장치.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 램프 반사 커버는 복수의 곡면 유닛으로 구성되고, 상기 복수의 곡면 유닛 각각은 타원의 일부인 수직 중앙-분리 라인과 포물선의 일부인 수평 중앙-분리 라인을 가지며, 상기 수평 중앙-분리 라인의 포물선의 초점은 상기 수직 중앙-분리 라인의 타원의 두 초점 중 제1 초점과 일치하고;
    상기 표준 광원은 복수의 표준 램프를 포함하고, 복수의 표준 램프의 각각은 상기 곡면 유닛 중 한 유닛의 수직 중앙-분리 라인의 타원의 제1 초점에 배치되며;
    상기 광-통과 슬릿은 상기 램프 반사 커버의 상기 복수의 곡면 유닛의 수평 중앙-분리 라인들의 타원들의 제2 초점들을 통과하는, 도광판의 투과 스펙트럼 검출 장치.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 복수의 표준 램프는 일렬로 연결되어 있는, 도광판의 투과 스펙트럼 검출 장치.
  5. 제3항 또는 제4항에 있어서,
    상기 혼합 캐비티 유닛은 상기 표준 광원과 상기 광-통과 슬릿 사이에 배치된 조정가능한 광-누출 슬릿(adjustable light-leaking slit)을 더 포함하는, 도광판의 투과 스펙트럼 검출 장치.
  6. 제5항에 있어서,
    상기 혼합 캐비티 유닛은 상기 표준 광원과 상기 조정가능한 광-누출 슬릿 사이에 배치된 광 필터와 광 균질화기(light homogenizer)를 더 포함하는, 도광판의 투과 스펙트럼 검출 장치.
  7. 제1항에 있어서,
    상기 검출 렌즈는 검출될 상기 도광판의 중심 바로 위의 위치와 검출될 상기 도광판의 입광면 바로 위의 위치 사이에서 수평으로 이동할 수 있는, 도광판의 투과 스펙트럼 검출 장치.
  8. 제3항 또는 제4항에 있어서,
    상기 도광판 배치 유닛은 베이스, 스페이서들, 및 반사 시트를 포함하고, 상기 반사 시트는 상기 베이스에 배치되고, 상기 스페이서들은 상기 반사 시트와 상기 베이스 사이에 선택적으로 배치될 수 있게 이용되며, 검출될 상기 도광판은 상기 반사 시트에 배치되는, 도광판의 투과 스펙트럼 검출 장치.
  9. 제8항에 있어서, 상기 베이스의 상단 면은 상기 혼합 캐비티 내의 상기 광-통과 슬릿보다 낮은, 도광판의 투과 스펙트럼 검출 장치.
  10. 제1항 내지 제4항 및 제7항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 광-통과 슬릿으로부터의 광을 상기 검출 렌즈로 반사시킬 수 있게 상기 베이스에 배치되는 45°기울어진 미러(45°-angled mirror)를 더 포함하는, 도광판의 투과 스펙트럼 검출 장치.
  11. 연속 스펙트럼을 갖는 선형 광원을 검출될 도광판에 제공하기 위한 혼합 캐비티 유닛; 상기 혼합 캐비티 유닛의 한쪽에 위치한 도광판 배치 유닛 - 상기 도광판 배치 유닛 위에는 상기 혼합 캐비티 유닛으로부터 광을 수신할 수 있게 검출될 도광판이 배치됨 - ; 및 스펙트럼을 검출하기 위해 상기 도광판 배치 유닛 위에 배치된 검출 렌즈를 포함하는 도광판의 투과 스펙트럼 검출 장치를 이용하여 도광판의 투과 스펙트럼을 검출하는 방법에 있어서,
    상기 도광판의 출사광 스펙트럼을 측정하는 단계;
    상기 도광판의 입사광 스펙트럼을 측정하는 단계; 및
    상기 도광판의 투과 스펙트럼을 계산하는 단계 - 상기 도광판의 투과 스펙트럼 = 상기 출사광 스펙트럼/상기 입사광 스펙트럼 -
    를 포함하는 도광판의 투과 스펙트럼 검출 방법.
  12. 제11항에 있어서,
    상기 도광판 배치 유닛은 베이스, 스페이서들 및 반사 시트를 포함하고, 상기 도광판의 출사광 스펙트럼 측정 단계는:
    스페이서들을 선택하고, 검출될 도광판의 입광면이 상기 혼합 캐비티 유닛 안에 있는 광-통과 슬릿에 대응되도록 상기 스페이서들, 상기 반사 시트 및 상기 검출된 도광판을 언급한 순서대로 상기 베이스 위에 배치하는 단계를 포함하는 도광판의 투과 스펙트럼 검출 방법.
  13. 제11항 또는 제12항에 있어서,
    상기 도광판 투과 스펙트럼 검출 장치의 상기 혼합 캐비티 유닛은 조정가능한 광-누출 슬릿을 갖고 있으며;
    상기 도광판의 출사광 스펙트럼을 측정하는 단계는 검출될 도광판의 두께에 따라 상기 조정가능한 광-누출 슬릿의 폭을 검출될 상기 도광판의 두께보다 작게 조정하는 단계를 포함하는 도광판의 투과 스펙트럼 검출 방법.
  14. 제11항 또는 제12항에 있어서,
    상기 도광판의 출사광 스펙트럼을 측정하는 단계는 상기 검출 렌즈가 검출될 상기 도광판의 중앙 바로 위에 위치해 있을 때 실행되는, 도광판의 투과 스펙트럼 검출 방법.
  15. 제11항 또는 제12항에 있어서,
    상기 도광판의 입사광 스펙트럼을 측정하는 단계는:
    상기 혼합 캐비티 유닛의 상태가 출사광 스펙트럼을 측정할 때의 상태와 같게 되도록 제어하는 단계;
    상기 혼합 캐비티 유닛의 광-통과 슬릿으로부터의 광을 상향으로 반사시키기 위해 45°기울어진 미러를 상기 도광판 배치 유닛에 배치하는 단계; 및
    상기 미러에 의해 반사된 상기 광-누출 슬릿의 이미지에 초점이 맞도록 상기 검출 렌즈를 이동시켜 입사광 스펙트럼을 판독하는 단계를 포함하는, 도광판의 투과 스펙트럼 검출 방법.
  16. 제15항에 있어서,
    상기 미러는 상기 도광판의 출사광 스펙트럼이 측정될 때 검출될 상기 도광판의 입광면이 배치되어 있는 위치에 배치되는, 도광판의 투과 스펙트럼 검출 방법.
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