JP2002005815A - バックライト用部材の耐久性試験方法 - Google Patents
バックライト用部材の耐久性試験方法Info
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- JP2002005815A JP2002005815A JP2000187474A JP2000187474A JP2002005815A JP 2002005815 A JP2002005815 A JP 2002005815A JP 2000187474 A JP2000187474 A JP 2000187474A JP 2000187474 A JP2000187474 A JP 2000187474A JP 2002005815 A JP2002005815 A JP 2002005815A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】バックライト用部材の耐久性を短期間で適切に
評価するための試験方法を提供すること。 【解決手段】バックライト用部材またはその断片に、下
記（Ａ）〜（Ｃ）の条件を満たす強度で光を照射するバ
ックライト用部材の耐久性試験方法。 （Ａ）波長２５０〜３５０ｎｍの光の強度：０．０５〜
１０ｍＷ／ｃｍ2、 （Ｂ）波長２５０ｎｍ未満の光の強度：０〜０．５ｍＷ
／ｃｍ2、 （Ｃ）波長３５０ｎｍを越える光の強度：０〜１５０ｍ
Ｗ／ｃｍ2。
評価するための試験方法を提供すること。 【解決手段】バックライト用部材またはその断片に、下
記（Ａ）〜（Ｃ）の条件を満たす強度で光を照射するバ
ックライト用部材の耐久性試験方法。 （Ａ）波長２５０〜３５０ｎｍの光の強度：０．０５〜
１０ｍＷ／ｃｍ2、 （Ｂ）波長２５０ｎｍ未満の光の強度：０〜０．５ｍＷ
／ｃｍ2、 （Ｃ）波長３５０ｎｍを越える光の強度：０〜１５０ｍ
Ｗ／ｃｍ2。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、導光板、光拡散シ
ート、プリズムシート等のバックライト用部材の耐久性
試験方法に関する。
ート、プリズムシート等のバックライト用部材の耐久性
試験方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】液晶表示装置に用いるバックライトは、
通常、冷陰極管や熱陰極管を光源として、導光板、光拡
散シート、プリズムシート等の部材から構成される光学
系を有している。これらバックライト用部材の材質や形
状は、液晶表示装置の大きさ、バックライトの構成、陰
極管の輝度等により、適宜選定され、また、近年、目的
に応じた様々な材質、形状のバックライト用部材が開発
されている。バックライト用部材の選定や開発において
は、実際にこれらの部材を長期間使用した場合に起こり
うる劣化の度合いを把握するための、耐久性試験が必要
である。従来、バックライト用部材の耐久性試験は、通
常、実際にバックライトを組み立て、または実際のバッ
クライトと同様に部材と陰極管を配置し、陰極管を点灯
することにより行われている。しかしながら、この方法
は、試験結果を得るまでに長期間を要し、温度を上げる
などして条件を厳しくしても、期間短縮には限界があ
る。また、バックライト用部材の耐久性試験に、サンシ
ャインカーボンウェザオメーターを用いる方法も採用さ
れている。しかしながら、この方法は、本来、屋外用途
向け製品用の耐久性試験方法であり、該試験条件下にお
ける部材の劣化挙動と実際にバックライトにて使用した
際の部材の劣化挙動とが異なり、部材の耐久性を適切に
評価できないことが多い。
通常、冷陰極管や熱陰極管を光源として、導光板、光拡
散シート、プリズムシート等の部材から構成される光学
系を有している。これらバックライト用部材の材質や形
状は、液晶表示装置の大きさ、バックライトの構成、陰
極管の輝度等により、適宜選定され、また、近年、目的
に応じた様々な材質、形状のバックライト用部材が開発
されている。バックライト用部材の選定や開発において
は、実際にこれらの部材を長期間使用した場合に起こり
うる劣化の度合いを把握するための、耐久性試験が必要
である。従来、バックライト用部材の耐久性試験は、通
常、実際にバックライトを組み立て、または実際のバッ
クライトと同様に部材と陰極管を配置し、陰極管を点灯
することにより行われている。しかしながら、この方法
は、試験結果を得るまでに長期間を要し、温度を上げる
などして条件を厳しくしても、期間短縮には限界があ
る。また、バックライト用部材の耐久性試験に、サンシ
ャインカーボンウェザオメーターを用いる方法も採用さ
れている。しかしながら、この方法は、本来、屋外用途
向け製品用の耐久性試験方法であり、該試験条件下にお
ける部材の劣化挙動と実際にバックライトにて使用した
際の部材の劣化挙動とが異なり、部材の耐久性を適切に
評価できないことが多い。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、上記
問題点を解決し、バックライト用部材の耐久性を短期間
で適切に評価するための試験方法を提供することにあ
る。
問題点を解決し、バックライト用部材の耐久性を短期間
で適切に評価するための試験方法を提供することにあ
る。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明者は、鋭意検討の
結果、バックライト用部材に特定波長範囲の光を特定の
強度で照射し、部材の劣化度合いを光学物性等により評
価する方法が、上記目的に適うことを見出し、本発明を
完成するに至った。すなわち本発明は、バックライト用
部材またはその断片に、下記（Ａ）〜（Ｃ）の条件を満
たす強度で光を照射するバックライト用部材の耐久性試
験方法に係るものである。 （Ａ）波長２５０〜３５０ｎｍの光の強度：０．０５〜
１０ｍＷ／ｃｍ2、（Ｂ）波長２５０ｎｍ未満の光の強
度：０〜０．５ｍＷ／ｃｍ2、（Ｃ）波長３５０ｎｍを
越える光の強度：０〜１５０ｍＷ／ｃｍ2。
結果、バックライト用部材に特定波長範囲の光を特定の
強度で照射し、部材の劣化度合いを光学物性等により評
価する方法が、上記目的に適うことを見出し、本発明を
完成するに至った。すなわち本発明は、バックライト用
部材またはその断片に、下記（Ａ）〜（Ｃ）の条件を満
たす強度で光を照射するバックライト用部材の耐久性試
験方法に係るものである。 （Ａ）波長２５０〜３５０ｎｍの光の強度：０．０５〜
１０ｍＷ／ｃｍ2、（Ｂ）波長２５０ｎｍ未満の光の強
度：０〜０．５ｍＷ／ｃｍ2、（Ｃ）波長３５０ｎｍを
越える光の強度：０〜１５０ｍＷ／ｃｍ2。
【０００５】
【発明の実施の形態】以下、本発明を詳細に説明する。
本発明の耐久性試験方法は、液晶表示装置等のバックラ
イトの構成部材を対象とする。該部材は、エッジライト
型バックライト用の部材でも直下型バックライト用の部
材でもよく、具体的には、導光板、光拡散シート、プリ
ズムシート等の光学部材が挙げられる。
本発明の耐久性試験方法は、液晶表示装置等のバックラ
イトの構成部材を対象とする。該部材は、エッジライト
型バックライト用の部材でも直下型バックライト用の部
材でもよく、具体的には、導光板、光拡散シート、プリ
ズムシート等の光学部材が挙げられる。
【０００６】導光板としては、表面にドット印刷、レー
ザー加工、プリズム加工、マット加工、ベタ印刷等の光
拡散手段を施したものでもよいし、内部に基材と屈折率
が異なる粒子を分散させたものでもよい。光拡散シート
としては、表面にマット加工等の光拡散手段を施したも
のでもよいし、内部に基材と屈折率が異なる粒子を分散
させたものでもよい。プリズムシートとしては、片面に
プリズム構造を設けたものでもよいし、両面にプリズム
構造を設けたものでもよい。
ザー加工、プリズム加工、マット加工、ベタ印刷等の光
拡散手段を施したものでもよいし、内部に基材と屈折率
が異なる粒子を分散させたものでもよい。光拡散シート
としては、表面にマット加工等の光拡散手段を施したも
のでもよいし、内部に基材と屈折率が異なる粒子を分散
させたものでもよい。プリズムシートとしては、片面に
プリズム構造を設けたものでもよいし、両面にプリズム
構造を設けたものでもよい。
【０００７】上記部材の基材材料としては透明性の高い
ものが好ましく、通常、メタクリル酸メチル系樹脂、ス
チレン系樹脂、ポリエステル樹脂、ポリカーボネート樹
脂、ポリノルボルネン樹脂等の透明樹脂やガラスが用い
られている。なお、メタクリル酸メチル系樹脂として
は、通常、その構成単量体としてメタクリル酸メチルを
５０重量％以上含む重合体が用いられており、実質的に
メタクリル酸メチルの単独重合体であるポリメタクリル
酸メチルや、メタクリル酸メチル５０重量％以上とこれ
と共重合可能な不飽和単量体５０重量％以下とからなる
共重合体が挙げられる。また、スチレン系樹脂として
は、通常、その構成単量体としてスチレンを５０重量％
以上含む重合体が用いられており、実質的にスチレンの
単独重合体であるポリスチレンや、スチレン５０重量％
以上とこれと共重合可能な不飽和単量体５０重量％以下
とからなる共重合体が挙げられる。
ものが好ましく、通常、メタクリル酸メチル系樹脂、ス
チレン系樹脂、ポリエステル樹脂、ポリカーボネート樹
脂、ポリノルボルネン樹脂等の透明樹脂やガラスが用い
られている。なお、メタクリル酸メチル系樹脂として
は、通常、その構成単量体としてメタクリル酸メチルを
５０重量％以上含む重合体が用いられており、実質的に
メタクリル酸メチルの単独重合体であるポリメタクリル
酸メチルや、メタクリル酸メチル５０重量％以上とこれ
と共重合可能な不飽和単量体５０重量％以下とからなる
共重合体が挙げられる。また、スチレン系樹脂として
は、通常、その構成単量体としてスチレンを５０重量％
以上含む重合体が用いられており、実質的にスチレンの
単独重合体であるポリスチレンや、スチレン５０重量％
以上とこれと共重合可能な不飽和単量体５０重量％以下
とからなる共重合体が挙げられる。
【０００８】本発明の方法においては、バックライト用
部材に、波長２５０〜３５０ｎｍの光を０．０５〜１０
ｍＷ／ｃｍ2の強度で照射することにより、部材の劣化
を、実際にバックライトにて使用した場合と同様の挙動
で、適度に促進させることができ、部材の耐久性を短期
間で評価することができる。波長２５０〜３５０ｎｍの
光の強度は、好ましくは０．１ｍＷ／ｃｍ2以上、さら
に好ましくは０．１５ｍＷ／ｃｍ2以上であり、また、
好ましくは７ｍＷ／ｃｍ2以下、さらに好ましくは５ｍ
Ｗ／ｃｍ2以下である。該強度が０．０５ｍＷ／ｃｍ2未
満であると、部材劣化の促進性が低く、試験期間の短縮
が十分ではない。また、該強度が１０ｍＷ／ｃｍ2を越
えると、部材の劣化が速すぎて、評価が適切に行えない
ことがある。
部材に、波長２５０〜３５０ｎｍの光を０．０５〜１０
ｍＷ／ｃｍ2の強度で照射することにより、部材の劣化
を、実際にバックライトにて使用した場合と同様の挙動
で、適度に促進させることができ、部材の耐久性を短期
間で評価することができる。波長２５０〜３５０ｎｍの
光の強度は、好ましくは０．１ｍＷ／ｃｍ2以上、さら
に好ましくは０．１５ｍＷ／ｃｍ2以上であり、また、
好ましくは７ｍＷ／ｃｍ2以下、さらに好ましくは５ｍ
Ｗ／ｃｍ2以下である。該強度が０．０５ｍＷ／ｃｍ2未
満であると、部材劣化の促進性が低く、試験期間の短縮
が十分ではない。また、該強度が１０ｍＷ／ｃｍ2を越
えると、部材の劣化が速すぎて、評価が適切に行えない
ことがある。
【０００９】光照射においては、波長２５０〜３５０ｎ
ｍの範囲における光の積分強度が０．０５〜１０ｍＷ／
ｃｍ2の範囲にあればよく、照射光中には、上記波長範
囲の一部の光が含まれていなくてもよいし、一方、波長
２５０ｎｍ未満の光や波長３５０ｎｍを越える光が含ま
れていてもよい。ただし、波長２５０ｎｍ未満の光の強
度が強すぎると、部材の劣化挙動が実際にバックライト
にて使用した場合と異なったり、部材の劣化が速すぎ
て、評価が適切に行なえないことがあり、さらに電力消
費量の点からも好ましくない。また、波長３５０ｎｍを
越える光の強度が強すぎると、波長によっては部材の劣
化挙動が実際にバックライトにて使用した場合と異なる
ことがあり、さらに電力消費量の点からも好ましくな
い。したがって、波長２５０ｎｍ未満の光の強度は、
０．５ｍＷ／ｃｍ2以下、好ましくは０．３ｍＷ／ｃｍ2
以下、さらに好ましくは０．１ｍＷ／ｃｍ2以下であ
る。また、波長３５０ｎｍを越える光の強度は、１５０
ｍＷ／ｃｍ2以下、好ましくは１００ｍＷ／ｃｍ2以下、
さらに好ましくは５０ｍＷ／ｃｍ2以下である。通常、
λma xが２５０〜３５０ｎｍの範囲にある光を照射する
のが好ましい。
ｍの範囲における光の積分強度が０．０５〜１０ｍＷ／
ｃｍ2の範囲にあればよく、照射光中には、上記波長範
囲の一部の光が含まれていなくてもよいし、一方、波長
２５０ｎｍ未満の光や波長３５０ｎｍを越える光が含ま
れていてもよい。ただし、波長２５０ｎｍ未満の光の強
度が強すぎると、部材の劣化挙動が実際にバックライト
にて使用した場合と異なったり、部材の劣化が速すぎ
て、評価が適切に行なえないことがあり、さらに電力消
費量の点からも好ましくない。また、波長３５０ｎｍを
越える光の強度が強すぎると、波長によっては部材の劣
化挙動が実際にバックライトにて使用した場合と異なる
ことがあり、さらに電力消費量の点からも好ましくな
い。したがって、波長２５０ｎｍ未満の光の強度は、
０．５ｍＷ／ｃｍ2以下、好ましくは０．３ｍＷ／ｃｍ2
以下、さらに好ましくは０．１ｍＷ／ｃｍ2以下であ
る。また、波長３５０ｎｍを越える光の強度は、１５０
ｍＷ／ｃｍ2以下、好ましくは１００ｍＷ／ｃｍ2以下、
さらに好ましくは５０ｍＷ／ｃｍ2以下である。通常、
λma xが２５０〜３５０ｎｍの範囲にある光を照射する
のが好ましい。
【００１０】光照射に用いる光源としては、例えば、捕
虫用蛍光灯、複写用蛍光灯、ブラックライトブルー蛍光
灯、殺菌灯、キセノンランプ、メタルハライドランプ等
が挙げられ、必要に応じてそれらの２種以上を用いるこ
ともできる。光照射の際には、光が部材にあたる位置に
おいて、（Ａ）波長２５０〜３５０ｎｍの光の強度が
０．０５〜１０ｍＷ／ｃｍ2となり、（Ｂ）波長２５０
ｎｍ未満の光の強度が０〜０．５ｍＷ／ｃｍ2となり、
かつ（Ｃ）波長３５０ｎｍを越える光の強度が０〜１５
０ｍＷ／ｃｍ2となるように、適当な容器内に部材と光
源を必要に応じて複数個配置すればよい。この場合、部
材の代わりに部材から適当な大きさ、形状に切り出した
断片を用いることにより、光源の数を減らしたり、容器
を小さくすることができる。
虫用蛍光灯、複写用蛍光灯、ブラックライトブルー蛍光
灯、殺菌灯、キセノンランプ、メタルハライドランプ等
が挙げられ、必要に応じてそれらの２種以上を用いるこ
ともできる。光照射の際には、光が部材にあたる位置に
おいて、（Ａ）波長２５０〜３５０ｎｍの光の強度が
０．０５〜１０ｍＷ／ｃｍ2となり、（Ｂ）波長２５０
ｎｍ未満の光の強度が０〜０．５ｍＷ／ｃｍ2となり、
かつ（Ｃ）波長３５０ｎｍを越える光の強度が０〜１５
０ｍＷ／ｃｍ2となるように、適当な容器内に部材と光
源を必要に応じて複数個配置すればよい。この場合、部
材の代わりに部材から適当な大きさ、形状に切り出した
断片を用いることにより、光源の数を減らしたり、容器
を小さくすることができる。
【００１１】光照射の時間や温度については、光の強度
や他の条件、部材の想定使用期間等によって適宜設定さ
れるが、照射時間は通常２０〜５０００時間の範囲であ
り、照射温度は通常２０〜８０℃の範囲である。なお、
光照射は、通常、連続的に行われるが、断続的であって
もよい。また、光照射は、必要に応じて、適当な湿度条
件下に行ってもよい。
や他の条件、部材の想定使用期間等によって適宜設定さ
れるが、照射時間は通常２０〜５０００時間の範囲であ
り、照射温度は通常２０〜８０℃の範囲である。なお、
光照射は、通常、連続的に行われるが、断続的であって
もよい。また、光照射は、必要に応じて、適当な湿度条
件下に行ってもよい。
【００１２】光照射による部材の劣化の度合いは、光学
物性、機械物性等の各種物性測定や外観観察により、評
価することができる。中でも光学物性により評価するの
が好ましく、該光学物性としては、例えば、分光透過
率、平均透過率、ＹＩ、ΔＥが挙げられ、必要に応じて
その２種以上を用いることもできる。分光透過率や平均
透過率であれば値の低下により、ＹＩやΔＥであれば値
の上昇により、部材の劣化を把握することができる。
物性、機械物性等の各種物性測定や外観観察により、評
価することができる。中でも光学物性により評価するの
が好ましく、該光学物性としては、例えば、分光透過
率、平均透過率、ＹＩ、ΔＥが挙げられ、必要に応じて
その２種以上を用いることもできる。分光透過率や平均
透過率であれば値の低下により、ＹＩやΔＥであれば値
の上昇により、部材の劣化を把握することができる。
【００１３】分光透過率の測定波長は、通常、３００〜
８００ｎｍ、好ましくは可視域（３８０〜７８０ｎｍ）
から１ないし２以上選択される。特定波長範囲にて一定
間隔で分光透過率を測定し、分光透過率曲線を求めても
よい。平均透過率は、可視域（３８０〜７８０ｎｍ）等
の特定波長範囲における分光透過率の平均値を算出して
求めることができる。
８００ｎｍ、好ましくは可視域（３８０〜７８０ｎｍ）
から１ないし２以上選択される。特定波長範囲にて一定
間隔で分光透過率を測定し、分光透過率曲線を求めても
よい。平均透過率は、可視域（３８０〜７８０ｎｍ）等
の特定波長範囲における分光透過率の平均値を算出して
求めることができる。
【００１４】ＹＩは、分光透過率のデータから求められ
る色の三刺激値（Ｘ、Ｙ、Ｚ）を用いて、下式１により
算出することができる。 ＹＩ＝[１００×(１．２８Ｘ−１．０６Ｚ)]／Ｙ ・・・式１
る色の三刺激値（Ｘ、Ｙ、Ｚ）を用いて、下式１により
算出することができる。 ＹＩ＝[１００×(１．２８Ｘ−１．０６Ｚ)]／Ｙ ・・・式１
【００１５】△Ｅは、色の三刺激値（Ｘ、Ｙ、Ｚ）から
求められる表色系（Ｌ*、ａ*、ｂ*）の、光照射前の初
期値（Ｌ*0、ａ*0、ｂ*0）からの変化量を用い、下式２
により算出することができる。 △Ｅ＝[(Ｌ*−Ｌ*0)2＋(ａ*−ａ*0)2＋(ｂ*−ｂ*0)2]1/2 ・・・式２
求められる表色系（Ｌ*、ａ*、ｂ*）の、光照射前の初
期値（Ｌ*0、ａ*0、ｂ*0）からの変化量を用い、下式２
により算出することができる。 △Ｅ＝[(Ｌ*−Ｌ*0)2＋(ａ*−ａ*0)2＋(ｂ*−ｂ*0)2]1/2 ・・・式２
【００１６】なお、ＹＩやΔＥの算出に用いる色の三刺
激値としては、分光透過率のデータから求めたものの代
わりに、分光反射率のデータから求めたものを用いるこ
ともできる。この分光反射率に基づくＹＩやΔＥは、部
材が光拡散シートである場合に好適に用いられる。
激値としては、分光透過率のデータから求めたものの代
わりに、分光反射率のデータから求めたものを用いるこ
ともできる。この分光反射率に基づくＹＩやΔＥは、部
材が光拡散シートである場合に好適に用いられる。
【００１７】分光透過率を測定する際の部材における測
定光路の方向は、適宜選択することができるが、例え
ば、部材が導光板であれば、バックライトにおいて光源
が設置されるエッジからその対面エッジに向かう方向が
好ましく、部材が光拡散シートやプリズムシートであれ
ば、シートの厚さ方向が好ましい。また、部材が導光板
であれば、測定光路長を１０ｃｍ以上取るのが好まし
い。
定光路の方向は、適宜選択することができるが、例え
ば、部材が導光板であれば、バックライトにおいて光源
が設置されるエッジからその対面エッジに向かう方向が
好ましく、部材が光拡散シートやプリズムシートであれ
ば、シートの厚さ方向が好ましい。また、部材が導光板
であれば、測定光路長を１０ｃｍ以上取るのが好まし
い。
【００１８】本発明の耐久性試験方法は、バックライト
用部材の中でも、画面の対角インチ数が１４インチ以
上、好ましくは２０インチ以上の液晶表示装置に用いる
バックライトの部材に好適に用いることができる。
用部材の中でも、画面の対角インチ数が１４インチ以
上、好ましくは２０インチ以上の液晶表示装置に用いる
バックライトの部材に好適に用いることができる。
【００１９】
【実施例】以下、本発明の実施例を示すが、本発明はこ
れらに限定されるものではない。なお、物性値について
は、分光光度計［（株）日立製作所製、Ｕ４０００型］
を用いて２５ｃｍ光路での分光透過率を波長３００〜８
００ｎｍの範囲で５ｎｍ刻みで測定し、該測定値をもと
に波長３８０〜７８０ｎｍの範囲の平均透過率、ＹＩお
よびΔＥを算出した。
れらに限定されるものではない。なお、物性値について
は、分光光度計［（株）日立製作所製、Ｕ４０００型］
を用いて２５ｃｍ光路での分光透過率を波長３００〜８
００ｎｍの範囲で５ｎｍ刻みで測定し、該測定値をもと
に波長３８０〜７８０ｎｍの範囲の平均透過率、ＹＩお
よびΔＥを算出した。
【００２０】実施例１、２ 導光板用のメタクリル酸メチル系樹脂［メタクリル酸メ
チル／アクリル酸メチル＝９６／４（重量比）の共重合
体、分子量約１０万］の６ｍｍ板から、５ｃｍ×２５ｃ
ｍの試験片を切り出した。この試験片の５ｃｍ×２５ｃ
ｍ面に平行に、Atlas Electric Devices Company 製の
３１３ｎｍＵＶＢランプ（４０Ｗ、λmax３１３ｎｍ）
４本を並べて配置し、６０℃にて点灯した。試験片の光
照射面における、光の強度は以下のとおりであった。 ・波長２５０〜３５０ｎｍの光の強度：０．２ｍＷ／ｃ
ｍ2、 ・波長２５０ｎｍ未満の光の強度：０．０５ｍＷ／ｃｍ
2未満（未検出）、 ・波長３５０ｎｍを越える光の強度：０．０５ｍＷ／ｃ
ｍ2未満（未検出）。 照射前（参考例）、照射２４０時間後（実施例１）およ
び照射６００時間後（実施例２）の各試験片の物性値を
表１に示す。
チル／アクリル酸メチル＝９６／４（重量比）の共重合
体、分子量約１０万］の６ｍｍ板から、５ｃｍ×２５ｃ
ｍの試験片を切り出した。この試験片の５ｃｍ×２５ｃ
ｍ面に平行に、Atlas Electric Devices Company 製の
３１３ｎｍＵＶＢランプ（４０Ｗ、λmax３１３ｎｍ）
４本を並べて配置し、６０℃にて点灯した。試験片の光
照射面における、光の強度は以下のとおりであった。 ・波長２５０〜３５０ｎｍの光の強度：０．２ｍＷ／ｃ
ｍ2、 ・波長２５０ｎｍ未満の光の強度：０．０５ｍＷ／ｃｍ
2未満（未検出）、 ・波長３５０ｎｍを越える光の強度：０．０５ｍＷ／ｃ
ｍ2未満（未検出）。 照射前（参考例）、照射２４０時間後（実施例１）およ
び照射６００時間後（実施例２）の各試験片の物性値を
表１に示す。
【００２１】比較例 実施例１と同様の試験片を用い、この試験片の６ｍｍ×
２５ｃｍ面に平行に、ハリソン電気製の冷陰極管２本を
並べて配置し、６０℃にて点灯した（０．６Ａ、１２
Ｖ）。試験片の光照射面における、光の強度は以下のと
おりであった。 ・波長２５０〜３５０ｎｍの光の強度：０．０５ｍＷ／
ｃｍ2未満（未検出）、 ・波長２５０ｎｍ未満の光の強度：０．０５ｍＷ／ｃｍ
2未満（未検出）、 ・波長３５０ｎｍを越える光の強度：１４４ｍＷ／ｃｍ
2。 照射２５００時間後の試験片の物性値を表１に示す。
２５ｃｍ面に平行に、ハリソン電気製の冷陰極管２本を
並べて配置し、６０℃にて点灯した（０．６Ａ、１２
Ｖ）。試験片の光照射面における、光の強度は以下のと
おりであった。 ・波長２５０〜３５０ｎｍの光の強度：０．０５ｍＷ／
ｃｍ2未満（未検出）、 ・波長２５０ｎｍ未満の光の強度：０．０５ｍＷ／ｃｍ
2未満（未検出）、 ・波長３５０ｎｍを越える光の強度：１４４ｍＷ／ｃｍ
2。 照射２５００時間後の試験片の物性値を表１に示す。
【００２２】
【表１】
【００２３】
【発明の効果】本発明によれば、バックライト用部材の
耐久性を短期間で適切に評価することができ、バックラ
イト部材の選択や開発において、有用な試験方法が提供
される。
耐久性を短期間で適切に評価することができ、バックラ
イト部材の選択や開発において、有用な試験方法が提供
される。
Claims (3)
- 【請求項１】バックライト用部材またはその断片に、下
記（Ａ）〜（Ｃ）の条件を満たす強度で光を照射するこ
とを特徴とするバックライト用部材の耐久性試験方法。 （Ａ）波長２５０〜３５０ｎｍの光の強度：０．０５〜
１０ｍＷ／ｃｍ2、（Ｂ）波長２５０ｎｍ未満の光の強
度：０〜０．５ｍＷ／ｃｍ2、（Ｃ）波長３５０ｎｍを
越える光の強度：０〜１５０ｍＷ／ｃｍ2。 - 【請求項２】バックライト用部材が導光板、光拡散シー
トまたはプリズムシートである請求項１記載のバックラ
イト用部材の耐久性試験方法。 - 【請求項３】光の照射によるバックライト用部材または
その断片の劣化の度合いを、分光透過率、平均透過率、
ＹＩおよびΔＥから選ばれる１種以上により評価する請
求項１または２に記載のバックライト用部材の耐久性試
験方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000187474A JP2002005815A (ja) | 2000-06-22 | 2000-06-22 | バックライト用部材の耐久性試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000187474A JP2002005815A (ja) | 2000-06-22 | 2000-06-22 | バックライト用部材の耐久性試験方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002005815A true JP2002005815A (ja) | 2002-01-09 |
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ID=18687446
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000187474A Pending JP2002005815A (ja) | 2000-06-22 | 2000-06-22 | バックライト用部材の耐久性試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2002005815A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2006020475A1 (en) * | 2004-08-09 | 2006-02-23 | 3M Innovative Properties Company | Method of accelerated testing of illuminated device components |
| WO2012111806A1 (ja) * | 2011-02-18 | 2012-08-23 | 住友化学株式会社 | 検査装置および検査方法、並びに当該検査方法を用いた製造方法 |
| JP2014038101A (ja) * | 2012-08-16 | 2014-02-27 | Boe Technology Group Co Ltd | 導光板の透過率スペクトルのテスト装置及び方法 |
-
2000
- 2000-06-22 JP JP2000187474A patent/JP2002005815A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| WO2006020475A1 (en) * | 2004-08-09 | 2006-02-23 | 3M Innovative Properties Company | Method of accelerated testing of illuminated device components |
| US7124651B2 (en) | 2004-08-09 | 2006-10-24 | 3M Innovative Properties Company | Method of accelerated testing of illuminated device components |
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