CN104075878A - 一种导光板的均匀度测试方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种导光板的均匀度测试方法，包括步骤：将待测导光板置于温箱内，以进行导光板的高温老化测试，测试结束后从温箱中取出导光板；将导光板置于冷热冲击机内，以进行导光板的温度冲击测试，测试结束后，从冷热冲击机中取出导光板；将已进行高温老化测试和温度冲击测试后的导光板，常温下静置于测试平台上；将导光板和光源置于暗房环境，点亮光源，测试导光板上特定的若干测试点的亮度，从而得到进行高温老化测试和温度冲击测试之后，导光板的均匀度。该导光板抗弯曲性能测试方法，简便可行，有效模拟导光板在经长期使用后导光率差，光线不均匀等问题，从而筛选抗弯曲性能高的优质导光板。
Description
技术领域
本发明涉及照明领域，尤其涉及一种导光板的均匀度测试方法。
背景技术
导光板广泛应用于背光模组技术及灯箱照明领域，用于将线光源转变为面光源。
目前，检测导光板品质的方法仅在目视导光板是否有黑点、漏点、缺点，面光源是否均匀，导光板是否出现雾化、开裂等基础检测上。而对导光板经过长期应用后，是否会出现因导光板开裂、变形等异常而导致该导光板亮度均匀性差等问题，却无有效的测试方法。
发明内容
本发明所要解决的技术问题在于，提供一种导光板的均匀度测试方法，可有效测试所述导光板经长期使用后的均匀度。
为了解决上述技术问题，本发明的实施例提供了一种导光板的均匀度测试方法，包括以下步骤：
提供一温箱，将待测导光板置于所述温箱内，所述温箱的温度为第一预设温度，测试时间为第一预设时间，启动所述温箱，以进行所述导光板的高温老化测试，测试结束后从所述温箱中取出所述导光板；
提供一冷热冲击机，将所述导光板置于所述冷热冲击机内，所述冷热冲击机的低温为第二预设温度，低温保持时间为第二预设时间，所述冷热冲击机的高温为第三预设温度，高温保持时间为第三预设时间，高低温循环次数为预设次数，以进行所述导光板的温度冲击测试，测试结束后，从所述冷热冲击机中取出所述导光板；
提供一测试平台，将已进行所述高温老化测试和所述温度冲击测试后的所述导光板，常温下静置于所述测试平台上，静置时间为第四预设时间；
提供一光源，将所述导光板和所述光源置于暗房环境，点亮所述光源，并将所述光源预热第五预设时间后，测试所述导光板上特定的若干测试点的亮度，从而得到已进行所述高温老化测试和所述温度冲击测试之后的所述导光板的均匀度。
其中，在所述提供一温箱，将待测导光板置于所述温箱内，所述温箱的温度为第一预设温度，测试时间为第一预设时间，启动所述温箱，以进行所述导光板的高温老化测试，测试结束后从所述温箱中取出所述导光板的步骤之前，还包括步骤：提供所述光源，将所述导光板和所述光源置于暗房环境，点亮所述光源，并将所述光源预热所述第五预设时间后，测试所述导光板上特定的若干个点的亮度，从而得到在进行所述高温老化测试和所述温度冲击测试之前的所述导光板的均匀度。
其中，在所述提供一温箱，将待测导光板置于所述温箱内，所述温箱的温度为第一预设温度，测试时间为第一预设时间，启动所述温箱，以进行所述导光板的高温老化测试，测试结束后从所述温箱中取出所述导光板的步骤之后，在所述提供一冷热冲击机，将所述导光板置于所述冷热冲击机内，所述冷热冲击机的低温为第二预设温度，低温保持时间为第二预设时间，所述冷热冲击机的高温为第三预设温度，高温保持时间为第三预设时间，高低温循环次数为预设次数，以进行所述导光板的温度冲击测试，测试结束后，从所述冷热冲击机中取出所述导光板的步骤之前，还包括步骤：提供所述测试平台，将已进行所述高温老化测试的所述导光板，常温下静置于所述测试平台上，静置时间为所述第四预设时间。
其中，所述测试点的个数为9个，且分别处于九宫格位置，所述九宫格位置与所述光源的发光尺寸相匹配。
其中，通过色彩分析仪测试所述导光板的9个点的亮度。
其中，所述第一预设温度为55～75℃，所述第一预设时间为至少240h。
其中，所述第二预设温度为-35～-15℃，所述第二预设时间为至少30min，所述第三预设温度为55～65℃，所述第三预设时间为至少30min，所述预设次数为至少10次。
其中，所述第四预设时间为至少2h。
其中，所述第五预设时间为0.5h。
本发明实施例提供的所述导光板的均匀度测试方法，通过所述高温老化测试模拟所述导光板在经过长期使用后的状态，通过所述冷热冲击机的温度冲击测试模拟所述导光板受恶劣环境变化影响后的状态，最后检查所述导光板的均匀度，以确认所述导光板的均匀度是否满足长期使用要求。
本发明实施例提供的所述导光板的均匀度测试方法，简便可行，有效地模拟所述导光板在经长期使用后所述导光板导光率差，光线不均匀等问题。筛选均匀度高的优质所述导光板，以为产品开发提供依据。使得筛选出的所述导光板在经长期使用后，仍具有较好的平整度和可靠度，满足客户长期使用的需求。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明实施例提供的导光板的均匀度测试方法的流程图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
下面参考附图对本发明的实施例进行描述。参见图1，为本发明中实施例中导光板的均匀度测试方法的流程图。
本发明实施例提供的导光板的均匀度测试方法，包括以下步骤：
S1：提供一光源，将所述导光板和所述光源置于暗房环境，点亮所述光源，并将所述光源预热第五预设时间后，通过色彩分析仪测试所述导光板上特定的若干个测试点的亮度。从而得到在进行所述高温老化测试和所述温度冲击测试之前，所述导光板的均匀度。本实施方式中，所述第五预设时间为0.5h。所述测试点的个数为9个，且分别处于九宫格位置，所述九宫格位置与所述光源的发光尺寸相匹配。所述色彩分析仪的型号为CA210或BM-7。在其他实施方式中，所述第五预设时间可根据实际应用需要设置，所述测试点的个数也可为更多个，以提高测试均匀度的准确性。所述色彩分析仪可采用其他亮度测试仪进行替代。总之，该步骤均用于确认所述导光板在未进行本发明实施例测试之前的状态，以对比多个所述导光板的均匀度。
S2：提供一温箱，将待测导光板置于所述温箱内。所述温箱的温度为第一预设温度，测试时间为第一预设时间，启动所述温箱，以进行所述导光板的高温老化测试，从而模拟所述导光板长期高温下的老化状态。测试结束后从所述温箱中取出所述导光板。本实施方式中，所述第一预设温度为55～75℃，所述第一预设时间为至少240h。优选的，所述第一预设温度为65℃，所述第一预设时间为240h。
S3：提供一测试平台，将已进行所述高温老化测试的所述导光板，常温下静置于所述测试平台上，静置时间为所述第四预设时间。以使得所述导光板恢复常态机理，降低与后面测试产生应力叠加效应，提高测试数据的有效性。本实施方式中，所述第四预设时间为2h。在其他实施方式中，为了减少测试时间，提高测试效率，该步骤可以适当缩短第四预设时间，或是省略该步骤而直接进行下一步骤。
S4：提供一冷热冲击机，将所述导光板置于所述冷热冲击机内，所述冷热冲击机的低温为第二预设温度，低温保持时间为第二预设时间，所述冷热冲击机的高温为第三预设温度，高温保持时间为第三预设时间，高低温循环次数为预设次数，以进行所述导光板的温度冲击测试，测试结束后，从所述冷热冲击机中取出所述导光板。具体的，所述第二预设温度为-35～-15℃，优选为-20℃。所述第二预设时间为至少30min。所述第三预设温度为55～65℃，优选为60℃。所述第三预设时间为至少30min，所述预设次数为至少10次。本实施方式中，所述导光板的温度冲击测试的温度循环从低温开始，高温结束，以避免测试后所述导光板表面出现结露现象，影响所述导光板的均匀度测试。
S5：将已进行所述高温老化测试和所述温度冲击测试后的所述导光板，常温下静置于所述测试平台上，静置时间为所述第四预设时间。由于所述导光板在进行所述高温老化测试和所述温度冲击测试后，仍留有余温，需冷却所述导光板，以恢复所述导光板的常态机理，降低所述温度冲击测试对所述导光板均匀度测试的影响，提高测试数据的有效性。
S6：将所述导光板和所述光源置于暗房环境，点亮所述光源。并将所述光源预热所述第五预设时间后，测试所述导光板上特定的若干测试点的亮度，从而得到进行所述高温老化测试和所述温度冲击测试之后，所述导光板的均匀度。本实施方式中，经所述色彩分析仪测量得到九个所述测试点的亮度后，比较得到其中的亮度最大值和亮度最小值，并经公式：均匀度=亮度最小值/亮度最大值，计算得到所述导光板的均匀度。如若所述导光板在经上述测试方法后，均匀度值大于或等于80%，则所述导光板符合长期使用要求。
本发明实施例提供的所述导光板的均匀度测试方法，通过所述高温老化测试模拟所述导光板在经过长期使用后的状态，通过所述冷热冲击机的温度冲击测试模拟所述导光板受恶劣环境变化影响后的状态，最后经检查所述导光板的均匀度，以确认所述导光板的均匀度是否满足长期使用要求。
本发明实施例提供的所述导光板的均匀度测试方法，简便可行，有效地模拟所述导光板在经长期使用后所述导光板导光率差，光线不均匀等问题。筛选均匀度高的优质所述导光板，以为产品开发提供依据。使得筛选出的所述导光板在经长期使用后，仍具有较好的平整度和可靠度，满足客户长期使用的需求。
以上所述的实施方式，并不构成对该技术方案保护范围的限定。任何在上述实施方式的精神和原则之内所作的修改、等同替换和改进等，均应包含在该技术方案的保护范围之内。
Claims (9)
1.一种导光板的均匀度测试方法，其特征在于，包括以下步骤：
提供一温箱，将待测导光板置于所述温箱内，所述温箱的温度为第一预设温度，测试时间为第一预设时间，启动所述温箱，以进行所述导光板的高温老化测试，测试结束后从所述温箱中取出所述导光板；
提供一冷热冲击机，将所述导光板置于所述冷热冲击机内，所述冷热冲击机的低温为第二预设温度，低温保持时间为第二预设时间，所述冷热冲击机的高温为第三预设温度，高温保持时间为第三预设时间，高低温循环次数为预设次数，以进行所述导光板的温度冲击测试，测试结束后，从所述冷热冲击机中取出所述导光板；
提供一测试平台，将已进行所述高温老化测试和所述温度冲击测试后的所述导光板，常温下静置于所述测试平台上，静置时间为第四预设时间；
提供一光源，将所述导光板和所述光源置于暗房环境，点亮所述光源，并将所述光源预热第五预设时间后，测试所述导光板上特定的若干测试点的亮度，从而得到已进行所述高温老化测试和所述温度冲击测试之后的所述导光板的均匀度。
2.如权利要求1所述的导光板的均匀度测试方法，其特征在于，在所述提供一温箱将待测导光板置于所述温箱内，所述温箱的温度为第一预设温度，测试时间为第一预设时间，启动所述温箱，以进行所述导光板的高温老化测试，测试结束后从所述温箱中取出所述导光板的步骤之前，还包括步骤：提供所述光源，将所述导光板和所述光源置于暗房环境，点亮所述光源，并将所述光源预热所述第五预设时间后，测试所述导光板上特定的若干个点的亮度，从而得到在进行所述高温老化测试和所述温度冲击测试之前的所述导光板的均匀度。
3.如权利要求1所述的导光板的均匀度测试方法，其特征在于，在所述提供一温箱，将待测导光板置于所述温箱内，所述温箱的温度为第一预设温度，测试时间为第一预设时间，启动所述温箱，以进行所述导光板的高温老化测试，测试结束后从所述温箱中取出所述导光板的步骤之后，在所述提供一冷热冲击机，将所述导光板置于所述冷热冲击机内，所述冷热冲击机的低温为第二预设温度，低温保持时间为第二预设时间，所述冷热冲击机的高温为第三预设温度，高温保持时间为第三预设时间，高低温循环次数为预设次数，以进行所述导光板的温度冲击测试，测试结束后，从所述冷热冲击机中取出所述导光板的步骤之前，还包括步骤：提供所述测试平台，将已进行所述高温老化测试的所述导光板，常温下静置于所述测试平台上，静置时间为所述第四预设时间。
4.如权利要求1所述的导光板的均匀度测试方法，其特征在于，所述测试点的个数为9个，且分别处于九宫格位置，所述九宫格位置与所述光源的发光尺寸相匹配。
5.如权利要求4所述的导光板的均匀度测试方法，其特征在于，通过色彩分析仪测试所述导光板的9个点的亮度。
6.如权利要求1所述的导光板的均匀度测试方法，其特征在于，所述第一预设温度为55～75℃，所述第一预设时间为至少240h。
7.如权利要求1所述的导光板的均匀度测试方法，其特征在于，所述第二预设温度为-35～-15℃，所述第二预设时间为至少30min，所述第三预设温度为55～65℃，所述第三预设时间为至少30min，所述预设次数为至少10次。
8.如权利要求1所述的导光板的均匀度测试方法，其特征在于，所述第四预设时间为至少2h。
9.如权利要求1所述的导光板的均匀度测试方法，其特征在于，所述第五预设时间为0.5h。
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