CN109493825A - 一种画面参数计算方法、装置及存储介质 - Google Patents
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Abstract
本发明实施例提供了一种画面参数计算方法、装置及存储介质，画面参数计算方法包括：获取显示面板上的一个或多个待检测区域在相同发光模式或不同发光模式下的亮度值；根据所获取的亮度值，确定显示画面的品质系数P；根据所述品质系数P，确定细纹Fine Pitch的等级大小。这样可以对Fine Pitch问题进行定量分析，判断结果准确，且效率高，可以适应8K大尺寸显示面板产品的发展需求。
Description
技术领域
本发明涉及液晶显示技术领域，特别涉及一种画面参数计算方法、装置及存储介质。
背景技术
近年来，人们对显示面板的要求越来越高，液晶显示产品也逐渐向大尺寸、高分辨率的方向发展。8K产品应运而生，以其7680画面参数计算装置4320的超高分辨率，在市场上独占鳌头。由于8K产品负载较大，像素点较小，若选择常用的帧反转、列反转方式，画质效果会受到影响，而点反转方式画质较好，但功耗过大，也不能满足需求。因此，可选择使用Z反转方式。Z反转方式的显示装置在某些特定的Pattern(模式)下会有Fine Pitch(细纹)的问题。
目前，现有Fine Pitch的画质评价方法基本还停留在人眼判定上，该Fine Pitch的画质评价方法具有强烈的主观性，判定结果不准确，且效率较低，已经不能适应8K大尺寸显示面板产品的发展需求。
发明内容
为了解决上述技术问题，本发明实施例提供了一种画面参数计算方法、装置及存储介质，以解决传统的判定方法的判定结果不准确，不能适应8K大尺寸显示面板产品的发展需求。
依据本发明实施例的一个方面，提供了一种画面参数计算方法，包括：
获取显示面板上的一个或多个待检测区域在相同发光模式或不同发光模式下的亮度值；
根据所获取的亮度值，确定显示画面的品质系数P；
根据所述品质系数P，确定细纹Fine Pitch的等级大小。
可选地，所述获取显示面板上的一个或多个待检测区域在相同发光模式或不同发光模式下的亮度值，包括：
获取所述显示面板上的第一待检测区域在第一发光模式下的亮度值，以及所述第一待检测区域在第二发光模式下的亮度值；其中，当所述显示面板处于所述第一发光模式时，所述显示面板的所有像素子单元达到充电饱合状态；当所述显示面板处于所述第二发光模式时，所述显示面板的一种颜色的像素子单元不点亮；
所述根据所获取的亮度值，确定显示画面的品质系数P，包括：
根据所述第一待检测区域在第一发光模式下的亮度值，以及所述第一待检测区域在第二发光模式下的亮度值，确定显示画面的品质系数P。
可选地，所述获取所述显示面板上的第一待检测区域在第一发光模式下的亮度值，以及所述第一待检测区域在第二发光模式下的亮度值，包括：
获取所述第一待检测区域在所述第一发光模式下通过第一滤光片后的第一亮度值Y1，以及所述第一待检测区域在所述第一发光模式下通过第二滤光片后的第二亮度值Y2；其中，所述第一滤光片和所述第二滤光片的颜色不同；
获取所述第一待检测区域在第二发光模式下通过第一滤光片后的第三亮度值Y3，以及所述第一待检测区域在第二发光模式下通过第二滤光片后的第四亮度值Y4；
所述根据所述第一待检测区域在第一发光模式下的亮度值，以及所述第一待检测区域在第二发光模式下的亮度值，确定显示画面的品质系数P，包括：
根据所述第一亮度值Y1、所述第二亮度值Y2、所述第三亮度值Y3和第四亮度值Y4，确定显示画面的品质系数P。
可选地，所述根据所述第一亮度值Y1、所述第二亮度值Y2、所述第三亮度值Y3和第四亮度值Y4，确定显示画面的品质系数P，包括：
根据以下公式，确定显示画面的品质系数P；
P＝α|Y1-Y3|+β|Y2-Y4|
其中，α和β为预设参数。
可选地，所述根据所述品质系数P，确定Fine Pitch的等级大小，包括：
根据以下公式，确定Fine Pitch的等级大小；
其中，M1为第一预设值，M2为第二预设值，且M1<M2。
可选地，所述获取显示面板上的一个或多个待检测区域在相同发光模式或不同发光模式下的亮度值，包括：
获取显示面板上的第二待检测区域在第三发光模式下的第五亮度值Y5，以及显示面板上的第三待检测区域在所述第三发光模式下的第六亮度值Y6；其中，所述第二待检测区域为显示面板上所有奇数行的像素子单元所在区域，所述第三待检测区域为显示面板上所有偶数行的像素子单元所在区域，当所述显示面板处于所述第三发光模式时，所述显示面板的一种颜色的像素子单元不点亮；
所述根据一个或多个待检测区域在相同发光模式或不同发光模式下的亮度值，确定显示画面的品质系数P，包括：
根据所述第五亮度值Y5和所述第六亮度值Y6，确定显示画面的品质系数P。
可选地，所述根据所述第五亮度值Y5和所述第六亮度值Y6，确定显示画面的品质系数P，包括：
根据以下公式，确定显示画面的品质系数P；
P＝αY5-βY6
其中，α和β为预设参数。
可选地，所述获取显示面板上的第二待检测区域在第三发光模式下的第五亮度值Y5，以及位于所述第二待检测区域的相邻行的第三待检测区域在所述第三发光模式下的第六亮度值Y6，包括：
提供一黑矩阵基板，所述黑矩阵基板上形成有成行排布、间隔设置的遮光图形，每一行遮光图形的尺寸等同于显示面板一行像素单元的尺寸，相邻行遮光图形之间的透光图形的尺寸等同于显示面板一行像素单元的尺寸；
通过黑矩阵基板上的遮光图形遮挡所述第三待检测区域，获取所述第二待检测区域在第三发光模式下的第五亮度值Y5；
通过黑矩阵基板上的遮光图形遮挡所述第二待检测区域，获取所述第三待检测区域在所述第三发光模式下的第六亮度值Y6。
可选地，所述根据所述品质参数P，确定Fine Pitch的等级大小，包括：
根据以下公式，确定Fine Pitch的等级大小；
其中，N1为第三预设值，N 2为第四预设值，且N1<N2。
依据本发明实施例的另一个方面，还提供了一种画面参数计算装置，包括：
获取模块，用于获取显示面板上的一个或多个待检测区域在相同发光模式或不同发光模式下的亮度值；
第一确定模块，用于根据所获取的亮度值，确定显示画面的品质系数P；
第二确定模块，用于根据所述品质系数P，确定细纹Fine Pitch的等级大小。
依据本发明实施例的又一个方面，还提供了一种画面参数计算装置，包括处理器、存储器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的程序，所述程序被所述处理器执行时实现如上所述的画面参数计算方法的步骤。
依据本发明实施例的再一个方面，还提供了一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储程序，所述程序被处理器执行时实现如上所述的画面参数计算方法的步骤。
本发明的实施例具有如下有益效果：
在本发明实施例中，首先通过显示面板上的一个或多个待检测区域在相同发光模式或不同发光模式下的亮度值，来确定显示画面的品质系数P以及Fine Pitch的等级大小，进而通过Fine Pitch的等级大小对显示画面的Fine Pitch问题进行评价，即可以对FinePitch问题进行定量分析，判断结果准确，且效率高，可以适应8K大尺寸显示面板产品的发展需求。
附图说明
图1为一种Z反转方式Source(电源)线的连接方式的示意图；
图2为本发明实施例的一种画面参数计算方法的流程图；
图3为本发明实施例的另一种画面参数计算方法的流程图；
图4为本发明实施例的再一种画面参数计算方法的流程图；
图5为本发明实施例的一种黑矩阵基板的结构示意图；
图6为本发明实施例的一种画面参数计算装置的结构示意图；
图7为本发明实施例的另一种画面参数计算装置的结构示意图。
具体实施方式
为使本发明要解决的技术问题、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图及具体实施例进行详细描述。
本发明的说明书和权利要求书中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本发明的实施例例如能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。
图1所示的为一种Z反转方式Source(电源)线的连接方式的示意图，由图1可以看出，显示面板上成行排布、间隔设置有多个像素单元，每个像素单元包括：R(red，红色)像素子单元、G(green，绿色)像素子单元和B(blue，蓝色)像素子单元，每一根Source线所连接的像素子单元的极性相同。
当所有的R像素子单元不点亮，且只有G像素子单元和B像素子单元点亮时，对于图1所示的奇数行的像素子单元来讲，所有的B像素子单元充电不足，G像素子单元充电充足；对于图1所示的偶数行的像素子单元来讲，所有的G像素子单元充电不足，B像素子单元充电充足。这样，会造成显示画面中奇数行和偶数行的亮度值不同，宏观上会有一行亮一行暗的视觉感受，将这种现象定义为Fine Pitch(细纹)。
同理，当所有的G像素子单元不点亮，只有R像素子单元和B像素子单元点亮，或者所有的B像素子单元不点亮，只有G像素子单元和R像素子单元点亮时，也会有同样的现象发生。并且，Fine Pitch问题在显示面板的远端会尤为明显。
由于在相同电压下，G像素子单元亮度最高，B像素子单元亮度最低。因此，在进行Fine Pitch评价时，可以选择GB Pattern的发光模式，即所有的R像素子单元不点亮，只有G像素子单元和B像素子单元点亮。
参见图2，本发明实施例提供了一种画面参数计算方法，该画面参数计算方法可以用于评价显示画面所存在Fine Pitch问题的严重程度，例如：Z反转方式下显示画面所存在Fine Pitch问题，所述画面参数计算方法具体包括以下步骤：
步骤201：获取显示面板上的一个或多个待检测区域在相同发光模式或不同发光模式下的亮度值；
在本发明实施例中，所述显示面板上成行排布、间隔设置有多个像素子单元，所述待检测区域可以为显示面板上的一个或多个像素子单元所组成的区域，例如：待检测区域可以为所述显示面板上的一行或一列像素子单元所组成的区域。
需要说明的是，以上有关所述待检测区域的描述只是示例并非限定，可以理解的是，在本发明实施例中并不具体限定所述待检测区域的具体形式。
在本发明实施例中，所述待检测区域的亮度值用于表示待检测区域中所有像素子单元发光强弱的物理量。例如：可以通过色彩分析仪(型号为CA310)来测量所述待检测区域的亮度值。
在本发明实施例中，所述发光模式是指用于表示点亮所述待检测区域的像素子单元的模式，例如：以L1023灰阶点亮所述待检测区域的像素子单元，此时，显示面板上的所有的像素子单元均可以达到充电饱和状态，亮度值达到最大。
步骤202：根据所获取的亮度值，确定显示画面的品质系数P；
在本发明实施例中，所述品质系数P用于表示显示画面中的Fine Pitch(细纹)问题的严重程度。例如：可以定义为：若品质系数P越大，显示画面中存在Fine Pitch的问题越严重。
步骤203：根据所述品质系数P，确定Fine Pitch的等级大小。
例如：根据品质系数P的大小，可以将显示画面所存在的Fine Pitch问题分为L1、L2和L3三个不同的等级，且L1＜L2＜L3，可以理解的是，L3等级表示显示画面所存在的FinePitch问题最严重。
需要说明的是，以上有关所述Fine Pitch的等级的描述只是示例并非限定，可以理解的是，在本发明实施例中并不具体限定Fine Pitch等级的划分方式。
在本发明实施例中，首先通过显示面板上的一个或多个待检测区域在相同发光模式或不同发光模式下的亮度值，来确定显示画面的品质系数P以及Fine Pitch的等级大小，进而通过Fine Pitch的等级大小对显示画面的Fine Pitch问题进行评价，即可以对FinePitch问题进行定量分析，判断结果准确，且效率高，可以适应8K大尺寸显示面板产品的发展需求。
参见图3，本发明实施例提供了另一种画面参数计算方法，该画面参数计算方法可以用于评价显示画面所存在Fine Pitch问题的严重程度，例如：Z反转方式下显示画面所存在Fine Pitch问题，所述画面参数计算方法具体包括以下步骤：
步骤301：获取所述显示面板上的第一待检测区域在第一发光模式下的亮度值，以及所述第一待检测区域在第二发光模式下的亮度值；其中，当所述显示面板处于所述第一发光模式时，所述显示面板的所有像素子单元达到充电饱合状态；当所述显示面板处于所述第二发光模式时，所述显示面板的一种颜色的像素子单元不点亮；
在本发明实施例中，所述第一待检测区域可以为显示面板上一列或多列像素子单元所构成的区域，可以理解的是，所述第一待检测区域可以为显示面板上至少部分的像素子单元所构成的区域。
可选地，步骤301具体可以包括：
获取所述第一待检测区域在所述第一发光模式下通过第一滤光片后的第一亮度值Y1，以及所述第一待检测区域在所述第一发光模式下通过第二滤光片后的第二亮度值Y2；其中，所述第一滤光片和所述第二滤光片的颜色不同；
获取所述第一待检测区域在第二发光模式下通过第一滤光片后的第三亮度值Y3，以及所述第一待检测区域在第二发光模式下通过第二滤光片后的第四亮度值Y4。
例如：所述第一滤光片可以为绿色滤光片，此时只有绿色光能透过第一滤光片，第一亮度值Y1是第一待检测区域在所述第一发光模式下通过绿色滤光片后的亮度值；所述第二滤光片可以为蓝色滤光片，此时只有蓝色光能透过所述第二滤光片，第二亮度值Y2是所述第一待检测区域在所述第一发光模式下通过蓝色滤光片后的亮度值。
步骤302：根据所述第一待检测区域在第一发光模式下的亮度值，以及所述第一待检测区域在第二发光模式下的亮度值，确定显示画面的品质系数P。
可选地，步骤302具体可以包括：
根据所述第一亮度值Y1、所述第二亮度值Y2、所述第三亮度值Y3和第四亮度值Y4，确定显示画面的品质系数P。
进一步地，可以将所述第一亮度值Y1、所述第二亮度值Y2、所述第三亮度值Y3和第四亮度值Y4带入公式1)，来确定显示画面的品质系数P；
P＝α|Y1-Y3|+β|Y2-Y4| 1)
其中，α和β为预设参数。
步骤303：根据所述品质系数P，确定Fine Pitch的等级大小。
在本发明实施例中，可以根据公式2)，确定Fine Pitch的等级大小；
其中，M1为第一预设值，M2为第二预设值，且M1<M2。
在本发明实施例中，首先通过显示面板上的第一待检测区域分别在第一发光模式和第二发光模式下的亮度值，来确定显示画面的品质系数P以及Fine Pitch的等级大小，进而通过Fine Pitch的等级大小对显示画面的Fine Pitch问题进行评价，即可以对FinePitch问题进行定量分析，判断结果准确，且效率高，可以适应8K大尺寸显示面板产品的发展需求。
由于Fine Pitch的宏观表现为相邻两行的像素子单元的亮暗程度不同，因此可分别测量奇数行和偶数行的亮度进行对比，以此对显示画面的Fine Pitch问题进行评价。为此，本发明实施例提供了另一种画面参数计算方法，参见图4，所述画面参数计算方法具体包括以下步骤：
步骤401：获取显示面板上的第二待检测区域在第三发光模式下的第五亮度值Y5，以及显示面板上的第三待检测区域在所述第三发光模式下的第六亮度值Y6；其中，所述第二待检测区域为显示面板上所有奇数行的像素子单元所在区域，所述第三待检测区域为显示面板上所有偶数行的像素子单元所在区域，当所述显示面板处于所述第三发光模式时，所述显示面板的一种颜色的像素子单元不点亮；
可选地，步骤401可以具体包括：
提供一黑矩阵基板500，所述黑矩阵基板500上形成有成行排布、间隔设置的遮光图形501，每一行遮光图形501的尺寸等同于显示面板一行像素单元的尺寸，相邻行遮光图形501之间的透光图形的尺寸等同于显示面板一行像素单元的尺寸，如图5所示；通过黑矩阵基板500上的遮光图形501遮挡所述第三待检测区域，获取所述第二待检测区域在第三发光模式下的第五亮度值Y5；通过黑矩阵基板500上的遮光图形501遮挡所述第二待检测区域，获取所述第三待检测区域在所述第三发光模式下的第六亮度值Y6。
需要说明的是，可以将黑矩阵基板的长度设置为整行像素单元的长度，也可以根据需要自行决定黑矩阵基板的长度，在本发明实施例中并不具体限定黑矩阵基板的长度大小。
步骤402：根据所述第五亮度值Y5和所述第六亮度值Y6，确定显示画面的品质系数P。
在本发明实施例中，可以将所述第五亮度值Y5和所述第六亮度值Y6带入公式3)，来确定显示画面的品质系数P；
P＝αY5-βY6 3)
其中，α和β为预设参数。
步骤403：根据所述品质系数P，确定Fine Pitch的等级大小。
在本发明实施例中，可以根据公式4)，确定Fine Pitch的等级大小；
其中，N1为第三预设值，N 2为第四预设值，且N1<N2。
在本发明实施例中，首先通过显示面板上的第二待检测区域和第三待检测区域分别在第三发光模式下的亮度值，来确定显示画面的品质系数P以及Fine Pitch的等级大小，进而通过Fine Pitch的等级大小对显示画面的Fine Pitch问题进行评价，即可以对FinePitch问题进行定量分析，判断结果准确，且效率高，可以适应8K大尺寸显示面板产品的发展需求。
本发明实施例中还提供了一种画面参数计算装置，由于画面参数计算装置解决问题的原理与本发明实施例中画面参数计算方法相似，因此该画面参数计算装置的实施可以参见方法的实施，重复之处不再敷述。
参见图6，本发明实施例还提供了一种画面参数计算装置600，包括：
获取模块601，用于获取显示面板上的一个或多个待检测区域在相同发光模式或不同发光模式下的亮度值；
第一确定模块602，用于根据所获取的亮度值，确定显示画面的品质系数P；
第二确定模块603，用于根据所述品质系数P，确定细纹Fine Pitch的等级大小。
可选地，所述获取模块601具体可以包括：
第一获取单元，用于获取所述显示面板上的第一待检测区域在第一发光模式下的亮度值，以及所述第一待检测区域在第二发光模式下的亮度值；其中，当所述显示面板处于所述第一发光模式时，所述显示面板的所有像素子单元达到充电饱合状态；当所述显示面板处于所述第二发光模式时，所述显示面板的一种颜色的像素子单元不点亮；
所述第一确定模块602具体可以包括：
第一确定单元，用于根据所述第一待检测区域在第一发光模式下的亮度值，以及所述第一待检测区域在第二发光模式下的亮度值，确定显示画面的品质系数P。
可选地，所述第一获取单元具体可以包括：
第一获取子单元，用于获取所述第一待检测区域在所述第一发光模式下通过第一滤光片后的第一亮度值Y1，以及所述第一待检测区域在所述第一发光模式下通过第二滤光片后的第二亮度值Y2；其中，所述第一滤光片和所述第二滤光片的颜色不同；
第二获取子单元，用于获取所述第一待检测区域在第二发光模式下通过第一滤光片后的第三亮度值Y3，以及所述第一待检测区域在第二发光模式下通过第二滤光片后的第四亮度值Y4；
所述第一确定单元具体可以包括：
第一确定子单元，用于根据所述第一亮度值Y1、所述第二亮度值Y2、所述第三亮度值Y3和第四亮度值Y4，确定显示画面的品质系数P。
可选地，所述第一确定子单元包括：
第一确定子子单元，用于根据以下公式，确定显示画面的品质系数P；
P＝α|Y1-Y3|+β|Y2-Y4|
其中，α和β为预设参数。
可选地，所述第二确定模块603具体可以包括：
第二确定单元，用于根据以下公式，确定Fine Pitch的等级大小；
其中，M1为第一预设值，M2为第二预设值，且M1<M2。
可选地，所述获取模块601具体可以包括：
第二获取单元，用于获取显示面板上的第二待检测区域在第三发光模式下的第五亮度值Y5，以及显示面板上的第三待检测区域在所述第三发光模式下的第六亮度值Y6；其中，所述第二待检测区域为显示面板上所有奇数行的像素子单元所在区域，所述第三待检测区域为显示面板上所有偶数行的像素子单元所在区域，当所述显示面板处于所述第三发光模式时，所述显示面板的一种颜色的像素子单元不点亮；
所述第一确定模块602具体可以包括：
第三确定单元，用于根据所述第五亮度值Y5和所述第六亮度值Y6，确定显示画面的品质系数P。
可选地，所述第三确定单元具体可以包括：
第二确定子单元，用于根据以下公式，确定显示画面的品质系数P；
P＝αY5-βY6
其中，α和β为预设参数。
可选地，所述第二获取单元具体可以包括：
提供子单元，用于提供一黑矩阵基板，所述黑矩阵基板上形成有成行排布、间隔设置的遮光图形，每一行遮光图形的尺寸等同于显示面板一行像素单元的尺寸，相邻行遮光图形之间的透光图形的尺寸等同于显示面板一行像素单元的尺寸；
第三获取子单元，用于通过黑矩阵基板上的遮光图形遮挡所述第三待检测区域，获取所述第二待检测区域在第三发光模式下的第五亮度值Y5；
第四获取子单元，用于通过黑矩阵基板上的遮光图形遮挡所述第二待检测区域，获取所述第三待检测区域在所述第三发光模式下的第六亮度值Y6。
可选地，所述第二确定模块603具体可以包括：
第四确定单元，用于根据以下公式，确定Fine Pitch的等级大小；
其中，N1为第三预设值，N 2为第四预设值，且N1<N2。
在本发明实施例中，首先通过显示面板上的一个或多个待检测区域在相同发光模式或不同发光模式下的亮度值，来确定显示画面的品质系数P以及Fine Pitch的等级大小，进而通过Fine Pitch的等级大小对显示画面的Fine Pitch问题进行评价，即该画面参数计算装置可以对Fine Pitch问题进行定量分析，判断结果准确，且效率高，可以适应8K大尺寸显示面板产品的发展需求。
需要说明的是，本发明实施例提供的画面参数计算装置能够实现图2至图4的方法实施例中的各个过程，其实现原理和技术效果类似，本实施例此处不再赘述。
图7为本发明实施例提供的画面参数计算装置的结构示意图。如图7所示，画面参数计算装置700包括：至少一个处理器701、存储器702、至少一个网络接口704和用户接口703。画面参数计算装置700中的各个组件通过总线系统705耦合在一起。可理解，总线系统705用于实现这些组件之间的连接通信。总线系统705除包括数据总线之外，还包括电源总线、控制总线和状态信号总线。但是为了清楚说明起见，在图7中将各种总线都标为总线系统705。
其中，用户接口703可以包括显示器、键盘或者点击设备(例如，鼠标，轨迹球(track ball)、触感板或者触摸屏等。可以理解，本发明实施例中的存储器702可以是易失性存储器或非易失性存储器，或可包括易失性和非易失性存储器两者。其中，非易失性存储器可以是只读存储器(Read-Only Memory，ROM)、可编程只读存储器(Programmable ROM，PROM)、可擦除可编程只读存储器(Erasable PROM，EPROM)、电可擦除可编程只读存储器(Electrically EPROM，EEPROM)或闪存。易失性存储器可以是随机存取存储器(RandomAccess Memory，RAM)，其用作外部高速缓存。通过示例性但不是限制性说明，许多形式的RAM可用，例如静态随机存取存储器(Static RAM，SRAM)、动态随机存取存储器(DynamicRAM，DRAM)、同步动态随机存取存储器(Synchronous DRAM，SDRAM)、双倍数据速率同步动态随机存取存储器(Double Data Rate SDRAM，DDRSDRAM)、增强型同步动态随机存取存储器(Enhanced SDRAM，ESDRAM)、同步连接动态随机存取存储器(Synchlink DRAM，SLDRAM)和直接内存总线随机存取存储器(Direct Rambus RAM，DRRAM)。本发明实施例描述的系统和方法的存储器702旨在包括但不限于这些和任意其它适合类型的存储器。
在一些实施方式中，存储器702存储了如下的元素，可执行模块或者数据结构，或者他们的子集，或者他们的扩展集：操作系统7021和应用程序7022。
其中，操作系统7021，包含各种系统程序，例如框架层、核心库层、驱动层等，用于实现各种基础业务以及处理基于硬件的任务。应用程序7022，包含各种应用程序，例如媒体播放器(Media Player)、浏览器(Browser)等，用于实现各种应用业务。实现本发明实施例方法的程序可以包含在应用程序7022中。
在本发明实施例中，通过调用存储器702存储的程序或指令，具体的，可以是应用程序7022中存储的程序或指令，处理器701可以执行上述画面参数计算方法。
上述本发明实施例揭示的方法可以应用于处理器701中，或者由处理器701实现。处理器701可能是一种集成电路芯片，具有信号的处理能力。在实现过程中，上述方法的各步骤可以通过处理器701中的硬件的集成逻辑电路或者软件形式的指令完成。上述的处理器701可以是通用处理器、数字信号处理器(Digital Signal Processor，DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)、现成可编程门阵列(FieldProgrammable Gate Array，FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件。可以实现或者执行本发明实施例中的公开的各方法、步骤及逻辑框图。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。结合本发明实施例所公开的方法的步骤可以直接体现为硬件译码处理器执行完成，或者用译码处理器中的硬件及软件模块组合执行完成。软件模块可以位于随机存储器，闪存、只读存储器，可编程只读存储器或者电可擦写可编程存储器、寄存器等本领域成熟的存储介质中。该存储介质位于存储器702，处理器701读取存储器702中的信息，结合其硬件完成上述方法的步骤。
可以理解的是，本发明实施例描述的这些实施例可以用硬件、软件、固件、中间件、微码或其组合来实现。对于硬件实现，处理单元可以实现在一个或多个专用集成电路(Application Specific Integrated Circuits，ASIC)、数字信号处理器(Digital SignalProcessing，DSP)、数字信号处理设备(DSP Device，DSPD)、可编程逻辑设备(ProgrammableLogic Device，PLD)、现场可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array，FPGA)、通用处理器、控制器、微控制器、微处理器、用于执行本发明所述功能的其它电子单元或其组合中。
对于软件实现，可通过执行本发明实施例所述功能的模块(例如过程、函数等)来实现本发明实施例所述的技术。软件代码可存储在存储器中并通过处理器执行。存储器可以在处理器中或在处理器外部实现。
在本发明实施例，程序被处理器701执行时还可实现如下步骤：获取显示面板上的一个或多个待检测区域在相同发光模式或不同发光模式下的亮度值；根据所获取的亮度值，确定显示画面的品质系数P；根据所述品质系数P，确定细纹Fine Pitch的等级大小。
本发明实施例还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有程序，该程序被处理器执行时实现如上所述的画面参数计算方法中的步骤。
应理解，说明书通篇中提到的“一个实施例”或“一实施例”意味着与实施例有关的特定特征、结构或特性包括在本发明的至少一个实施例中。因此，在整个说明书各处出现的“在一个实施例中”或“在一实施例中”未必一定指相同的实施例。此外，这些特定的特征、结构或特性可以任意适合的方式结合在一个或多个实施例中。
在本发明的各种实施例中，应理解，上述各过程的序号的大小并不意味着执行顺序的先后，各过程的执行顺序应以其功能和内在逻辑确定，而不应对本发明实施例的实施过程构成任何限定。
在本申请所提供的实施例中，应理解，“与A相应的B”表示B与A相关联，根据A可以确定B。但还应理解，根据A确定B并不意味着仅仅根据A确定B，还可以根据A和/或其它信息确定B。
在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露方法和装置，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。
另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理包括，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用硬件加软件功能单元的形式实现。
上述以软件功能单元的形式实现的集成的单元，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。上述软件功能单元存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络侧设备等)执行本发明各个实施例所述收发方法的部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(Read-Only Memory，简称ROM)、随机存取存储器(Random Access Memory，简称RAM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
以上所述是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明所述原理的前提下，还可以作出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。
Claims (12)
1.一种画面参数计算方法，其特征在于，包括：
获取显示面板上的一个或多个待检测区域在相同发光模式或不同发光模式下的亮度值；
根据所获取的亮度值，确定显示画面的品质系数P；
根据所述品质系数P，确定细纹Fine Pitch的等级大小。
2.根据权利要求1所述的画面参数计算方法，其特征在于，所述获取显示面板上的一个或多个待检测区域在相同发光模式或不同发光模式下的亮度值，包括：
获取所述显示面板上的第一待检测区域在第一发光模式下的亮度值，以及所述第一待检测区域在第二发光模式下的亮度值；其中，当所述显示面板处于所述第一发光模式时，所述显示面板的所有像素子单元达到充电饱合状态；当所述显示面板处于所述第二发光模式时，所述显示面板的一种颜色的像素子单元不点亮；
所述根据所获取的亮度值，确定显示画面的品质系数P，包括：
根据所述第一待检测区域在第一发光模式下的亮度值，以及所述第一待检测区域在第二发光模式下的亮度值，确定显示画面的品质系数P。
3.根据权利要求2所述的画面参数计算方法，其特征在于，所述获取所述显示面板上的第一待检测区域在第一发光模式下的亮度值，以及所述第一待检测区域在第二发光模式下的亮度值，包括：
获取所述第一待检测区域在所述第一发光模式下通过第一滤光片后的第一亮度值Y1，以及所述第一待检测区域在所述第一发光模式下通过第二滤光片后的第二亮度值Y2；其中，所述第一滤光片和所述第二滤光片的颜色不同；
获取所述第一待检测区域在第二发光模式下通过第一滤光片后的第三亮度值Y3，以及所述第一待检测区域在第二发光模式下通过第二滤光片后的第四亮度值Y4；
所述根据所述第一待检测区域在第一发光模式下的亮度值，以及所述第一待检测区域在第二发光模式下的亮度值，确定显示画面的品质系数P，包括：
根据所述第一亮度值Y1、所述第二亮度值Y2、所述第三亮度值Y3和第四亮度值Y4，确定显示画面的品质系数P。
4.根据权利要求3所述的画面参数计算方法，其特征在于，所述根据所述第一亮度值Y1、所述第二亮度值Y2、所述第三亮度值Y3和第四亮度值Y4，确定显示画面的品质系数P，包括：
根据以下公式，确定显示画面的品质系数P；
P＝α|Y1-Y3|+β|Y2-Y4|
其中，α和β为预设参数。
5.根据权利要求1所述的画面参数计算方法，其特征在于，所述根据所述品质系数P，确定Fine Pitch的等级大小，包括：
根据以下公式，确定Fine Pitch的等级大小；
其中，M1为第一预设值，M2为第二预设值，且M1<M2。
6.根据权利要求1所述的画面参数计算方法，其特征在于，所述获取显示面板上的一个或多个待检测区域在相同发光模式或不同发光模式下的亮度值，包括：
获取显示面板上的第二待检测区域在第三发光模式下的第五亮度值Y5，以及显示面板上的第三待检测区域在所述第三发光模式下的第六亮度值Y6；其中，所述第二待检测区域为显示面板上所有奇数行的像素子单元所在区域，所述第三待检测区域为显示面板上所有偶数行的像素子单元所在区域，当所述显示面板处于所述第三发光模式时，所述显示面板的一种颜色的像素子单元不点亮；
所述根据一个或多个待检测区域在相同发光模式或不同发光模式下的亮度值，确定显示画面的品质系数P，包括：
根据所述第五亮度值Y5和所述第六亮度值Y6，确定显示画面的品质系数P。
7.根据权利要求6所述的画面参数计算方法，其特征在于，所述根据所述第五亮度值Y5和所述第六亮度值Y6，确定显示画面的品质系数P，包括：
根据以下公式，确定显示画面的品质系数P；
P＝αY5-βY6
其中，α和β为预设参数。
8.根据权利要求6所述的画面参数计算方法，其特征在于，所述获取显示面板上的第二待检测区域在第三发光模式下的第五亮度值Y5，以及位于所述第二待检测区域的相邻行的第三待检测区域在所述第三发光模式下的第六亮度值Y6，包括：
提供一黑矩阵基板，所述黑矩阵基板上形成有成行排布、间隔设置的遮光图形，每一行遮光图形的尺寸等同于显示面板一行像素单元的尺寸，相邻行遮光图形之间的透光图形的尺寸等同于显示面板一行像素单元的尺寸；
通过黑矩阵基板上的遮光图形遮挡所述第三待检测区域，获取所述第二待检测区域在第三发光模式下的第五亮度值Y5；
通过黑矩阵基板上的遮光图形遮挡所述第二待检测区域，获取所述第三待检测区域在所述第三发光模式下的第六亮度值Y6。
9.根据权利要求6所述的画面参数计算方法，其特征在于，所述根据所述品质参数P，确定Fine Pitch的等级大小，包括：
根据以下公式，确定Fine Pitch的等级大小；
其中，N1为第三预设值，N 2为第四预设值，且N1<N2。
10.一种画面参数计算装置，其特征在于，包括：
获取模块，用于获取显示面板上的一个或多个待检测区域在相同发光模式或不同发光模式下的亮度值；
第一确定模块，用于根据所获取的亮度值，确定显示画面的品质系数P；
第二确定模块，用于根据所述品质系数P，确定细纹Fine Pitch的等级大小。
11.一种画面参数计算装置，其特征在于，包括处理器、存储器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的程序，所述程序被所述处理器执行时实现如权利要求1至9中任一项所述的画面参数计算方法的步骤。
12.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储程序，所述程序被处理器执行时实现如权利要求1至9中任一项所述的画面参数计算方法的步骤。
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