CN104376827A - 校正液晶显示装置的方法和设备 - Google Patents

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Abstract

本发明的实施例提供了一种校正液晶显示装置的方法和设备。所述液晶显示装置包括像素阵列，所述像素阵列中的每个像素包括倾斜布置的电极，其中奇数行像素中的所述电极的倾斜取向不同于偶数行像素中的所述电极的倾斜取向；所述方法包括：在预定的方向上分别测量奇数行像素在多个灰阶下的亮度和偶数行像素在所述多个灰阶下的亮度；以及调节所述奇数行像素的数据线电压和/或所述偶数行像素的数据线电压，使得在所述多个灰阶中的每一个下，所述奇数行像素的亮度与所述偶数行像素的亮度在所述预定的方向上相同。

Description

校正液晶显示装置的方法和设备
技术领域
本发明涉及液晶显示领域，特别地涉及一种校正液晶显示装置的方法和设备。
背景技术
随着薄膜场效应晶体管液晶显示（TFT-LCD Display）技术的发展和工业技术的进步，液晶显示器件生产成本降低、制造工艺的日益完善，TFTLCD已经取代了阴极射线管显示成为平板显示领域的主流技术；并且，由于其本身所具有的优点，在市场和消费者心中已成为理想的显示器件。目前市场上各种模式、各种尺寸的液晶显示屏已十分普及，而对于最为人们接受的液晶显示屏，其技术缺点有待急需解决。
发明内容
为了改善显示效果在角度上的差异，现有的液晶显示器中，如图1所示，显示阵列的相邻行101、102中的像素电极101a、102a通常被设置为具有不同的倾斜取向（也称为畴取向，domain orientation）。在这种布置模式下，从侧面（即，倾斜于液晶面板的方向，例如沿着液晶面板对角线的任意倾斜方向）进行观察时，会发现显示器呈现一行亮一行暗的现象（也称为H-Line现象），如图2所示。由于相邻行中的像素电极通常被设置为具有不同的畴取向，在液晶显示器的所有灰阶下，从显示器的侧面观察，都将存在上述现象。人眼对低灰阶敏感度更高，因此这种明暗交错的现象在显示器显示低灰阶（即，亮度较低的）图像时尤为明显。
为了解决上述技术问题，本发明的实施例提供一种校正液晶显示装置的方法，所述液晶显示装置包括像素阵列，所述像素阵列中的每个像素包括倾斜布置的电极，其中奇数行像素中的所述电极的倾斜取向不同于偶数行像素中的所述电极的倾斜取向；所述方法包括：
在预定的方向上分别测量奇数行像素在多个灰阶下的亮度和偶数行像素在所述多个灰阶下的亮度；以及
调节所述奇数行像素的数据线电压和/或所述偶数行像素的数据线电压，使得在所述多个灰阶中的每一个下，所述奇数行像素的亮度与所述偶数行像素的亮度在所述预定的方向上相同。
优选地，所述调节的步骤包括：利用在预定的方向上同一个灰阶下测量的奇数行像素的亮度和偶数行像素的亮度来计算在该灰阶下的参考亮度；在每一个灰阶下，将奇数行像素的亮度和偶数行像素的亮度调节为与该灰阶下的参考亮度相同。
优选地，所述调节的步骤还包括：利用奇数行像素和/或偶数行像素的电压-透射率关系来调节所述奇数行像素的数据线电压和/或所述偶数行像素的数据线电压。
优选地，所述参考亮度是在同一个灰阶下测量的奇数行像素的亮度和偶数行像素的亮度的均值。
优选地，所述多个灰阶的数目为256。
优选地，所述电极是像素电极。
优选地，所述预定的方向为使用者的观看方向。
本发明的实施例还提供了一种校正液晶显示装置的设备，所述液晶显示装置包括像素阵列，所述像素阵列中的每个像素包括倾斜布置的电极，其中奇数行像素中的所述电极的倾斜取向不同于偶数行像素中的所述电极的倾斜取向；所述设备包括：
测量单元，所述测量单元在预定的方向上分别测量奇数行像素在多个灰阶下的亮度和偶数行像素在所述多个灰阶下的亮度；以及
调节单元，所述调节单元调节所述奇数行像素的数据线电压和/或所述偶数行像素的数据线电压，使得在所述多个灰阶中的每一个下，所述奇数行像素的亮度与所述偶数行像素的亮度在所述预定的方向上相同。
优选地，所述调节单元利用在预定的方向上同一个灰阶下测量的奇数行像素的亮度和偶数行像素的亮度来计算在该灰阶下的参考亮度；在每一个灰阶下，将奇数行像素的亮度和偶数行像素的亮度调节为与该灰阶下的参考亮度相同。
优选地，所述调节单元利用奇数行像素和/或偶数行像素的电压-透射率关系来调节所述奇数行像素的数据线电压和/或所述偶数行像素的数据线电压。
优选地，所述参考亮度是在同一个灰阶下测量的奇数行像素的亮度和偶数行像素的亮度的均值。
优选地，所述多个灰阶的数目为256。
优选地，所述电极是像素电极。
本发明的实施例还提供了一种校正液晶显示装置的仪器，所述液晶显示装置包括像素阵列，所述像素阵列中的每个像素包括倾斜布置的电极，其中奇数行像素中的所述电极的倾斜取向不同于偶数行像素中的所述电极的倾斜取向；所述仪器包括：
测量单元，所述测量单元包括亮度测量组件和角度控制组件；以及
调节单元，所述调节单元包括与所述液晶显示装置相连接的电压调整组件。
优选地，所述角度控制组件支撑所述亮度测量组件。
优选地，所述亮度测量组件是电荷耦合器件。
优选地，所述电压调整组件与所述液晶显示装置的数据线驱动电路相连接。
根据本发明实施例提供的校正液晶显示装置的方法，调节所述奇数行像素的数据线电压和/或所述偶数行像素的数据线电压，从而得到在预定方向上亮度一致的显示画面；在不损失透过率的情况下，消除了H-Line现象，实现了亮度一致的显示效果。
利用上述方法校正过的液晶显示装置以及包括该液晶显示装置的电子设备，在预定方向上能够获得亮度一致的显示画面；在不损失透过率的情况下，消除了H-Line现象，实现了亮度一致的显示效果。
附图说明
图1为现有技术中像素电极的示意图；
图2为现有技术中H-Line现象的示意图；
图3为分别在256灰阶下测量的相邻像素行的亮度差异的示意图，其中奇数行像素中的像素电极的倾斜取向不同于偶数行像素中的像素电极的倾斜取向；
图4为相邻像素行的电压-透射率关系的示意图，其中奇数行像素中的像素电极的倾斜取向不同于偶数行像素中的像素电极的倾斜取向；以及
图5为执行了根据本发明的实施例的校正液晶显示装置的方法之后，相邻像素行的亮度曲线的示意图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例，对本发明的具体实施方式作进一步详细描述。以下实例用于说明本发明，但不用来限制本发明的范围。
尽管在本发明中使用“像素行”、“行”的措辞来描述本发明的技术方案和实施例，但本领域技术人员能够明了，对于电极的倾斜取向是以列来区分的液晶显示器，本发明的技术方案也是同样适用的。
为消除现有技术中的H-Line现象，本发明的实施例提供一种校正液晶显示装置的方法，所述液晶显示装置包括像素阵列，所述像素阵列中的每个像素包括倾斜布置的电极，其中奇数行像素中的所述电极的倾斜取向不同于偶数行像素中的所述电极的倾斜取向；所述方法包括：
在预定的方向上分别测量奇数行像素在多个灰阶下的亮度和偶数行像素在所述多个灰阶下的亮度；以及
调节所述奇数行像素的数据线电压和/或所述偶数行像素的数据线电压，使得在所述多个灰阶中的每一个下，所述奇数行像素的亮度与所述偶数行像素的亮度在所述预定的方向上相同。
对于电极的倾斜取向隔行相反的液晶显示器，几乎在所有的倾斜于液晶面板的方向上，都会发生H-Line现象；这归因于电极的不同倾斜取向导致了各像素的透过率上的差异。发明人意识到，对于预定的方向（即，相对于液晶面板法线呈预定角度的方向），能够通过调整像素在各个灰阶下的数据线电压来校正相邻行之间的亮度差异。图3为分别在256灰阶下测量的相邻像素行的亮度差异的示意图，其中奇数行像素中的像素电极的倾斜取向不同于偶数行像素中的像素电极的倾斜取向。图3中，横坐标表示灰阶序数，纵坐标表示归一化的亮度。根据本发明实施例提供的校正液晶显示装置的方法，调节所述奇数行像素的数据线电压和/或所述偶数行像素的数据线电压，从而得到在预定方向上亮度一致的显示画面；在不损失透过率的情况下，消除了H-Line现象，实现了亮度一致的显示效果。
应当注意到，根据本发明实施例提供的校正液晶显示装置的方法，还可以在不同的需求或场景下，针对不同预定的方向对同一液晶显示装置执行多次校正，这使得液晶显示装置能够先后在不同的需求或场景下在预定的方向上消除H-Line现象。
优选地，所述调节的步骤包括：利用在预定的方向上同一个灰阶下测量的奇数行像素的亮度和偶数行像素的亮度来计算在该灰阶下的参考亮度；在每一个灰阶下，将奇数行像素的亮度和偶数行像素的亮度调节为与该灰阶下的参考亮度相同。
图4为相邻像素行的电压-透射率关系的示意图，其中奇数行像素中的像素电极的倾斜取向不同于偶数行像素中的像素电极的倾斜取向。图4中，横坐标示意性地表示电压，纵坐标表示归一化的亮度。利用像素的电压-透射率关系能够准确控制每个灰阶所需的数据线电压，因而优选地，所述调节的步骤还包括：利用奇数行像素和/或偶数行像素的电压-透射率关系来调节所述奇数行像素的数据线电压和/或所述偶数行像素的数据线电压。
优选地，所述参考亮度是在同一个灰阶下测量的奇数行像素的亮度和偶数行像素的亮度的均值。本发明不限于此，基于同样的思想，例如，如果奇（偶）数行像素的亮度在各个灰阶下都高于偶（奇）数行像素的亮度（如图4所示），还可以在各个灰阶下仅对奇（偶）数行像素的亮度进行调整，使之降低到偶（奇）数行像素的亮度。
优选地，所述多个灰阶的数目为256。尽管在本发明的实施例中，以256灰阶为例进行了描述，本领域技术人员能够明了，本发明也适用于使用其他数量灰阶的液晶显示装置。
优选地，所述电极是像素电极。本领域技术人员能够理解，对于将公共电极布置在出光侧，并且所述公共电极的倾斜取向隔行变化的液晶显示装置，可以同样使用本发明各实施例所述的方法进行校正。同样地，基于本发明的思想，对于任何由于像素中电极的布置差异所导致的在同一灰阶下多个行（列，或者，像素）的亮度之间的差异，都可以使用本发明各实施例所述的方法进行校正。
图5为执行了根据本发明的实施例的校正液晶显示装置的方法之后，相邻像素行的亮度曲线的示意图。图5中，横坐标表示灰阶序数，纵坐标表示归一化的亮度。能够看出，经过校正后，在预定方向上，相邻行的亮度曲线是彼此重叠的，也就是说，相邻行的亮度之间的差异已经消除。
优选地，所述预定的方向为使用者的观看方向。
本发明的实施例还提供了一种校正液晶显示装置的设备，所述液晶显示装置包括像素阵列，所述像素阵列中的每个像素包括倾斜布置的电极，其中奇数行像素中的所述电极的倾斜取向不同于偶数行像素中的所述电极的倾斜取向；所述设备包括：
测量单元，所述测量单元在预定的方向上分别测量奇数行像素在多个灰阶下的亮度和偶数行像素在所述多个灰阶下的亮度；以及
调节单元，所述调节单元调节所述奇数行像素的数据线电压和/或所述偶数行像素的数据线电压，使得在所述多个灰阶中的每一个下，所述奇数行像素的亮度与所述偶数行像素的亮度在所述预定的方向上相同。
优选地，所述调节单元利用在预定的方向上同一个灰阶下测量的奇数行像素的亮度和偶数行像素的亮度来计算在该灰阶下的参考亮度；在每一个灰阶下，将奇数行像素的亮度和偶数行像素的亮度调节为与该灰阶下的参考亮度相同。
优选地，所述调节单元利用奇数行像素和/或偶数行像素的电压-透射率关系来调节所述奇数行像素的数据线电压和/或所述偶数行像素的数据线电压。
优选地，所述参考亮度是在同一个灰阶下测量的奇数行像素的亮度和偶数行像素的亮度的均值。
优选地，所述多个灰阶的数目为256。
优选地，所述电极是像素电极。
优选地，所述预定的方向为使用者的观看方向。
本发明的实施例还提供了一种校正液晶显示装置的仪器，所述液晶显示装置包括像素阵列，所述像素阵列中的每个像素包括倾斜布置的电极，其中奇数行像素中的所述电极的倾斜取向不同于偶数行像素中的所述电极的倾斜取向；所述仪器包括：
测量单元，所述测量单元包括亮度测量组件和角度控制组件；以及
调节单元，所述调节单元包括与所述液晶显示装置相连接的电压调整组件。
为了消除H-Line现象，所述测量单元在预定的方向上分别测量奇数行像素在多个灰阶下的亮度和偶数行像素在所述多个灰阶下的亮度；并且所述调节单元调节所述奇数行像素的数据线电压和/或所述偶数行像素的数据线电压，使得在所述多个灰阶中的每一个下，所述奇数行像素的亮度与所述偶数行像素的亮度在所述预定的方向上相同。
优选地，所述角度控制组件支撑所述亮度测量组件，从而使得所述亮度测量组件能够在任意的预定方向上进行测量。
优选地，所述亮度测量组件是电荷耦合器件。
优选地，所述电压调整组件与所述液晶显示装置的数据线驱动电路相连接，从而修改（即，调节）所述液晶显示装置的奇数行像素的数据线电压和/或所述偶数行像素的数据线电压。
利用上述方法校正过的液晶显示装置以及包括该液晶显示装置的电子设备，在预定方向上能够获得亮度一致的显示画面；在不损失透过率的情况下，消除了H-Line现象，实现了亮度一致的显示效果。
以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此。任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。

Claims (18)

1. 一种校正液晶显示装置的方法，其特征在于，所述液晶显示装置包括像素阵列，所述像素阵列中的每个像素包括倾斜布置的电极，其中奇数行像素中的所述电极的倾斜取向不同于偶数行像素中的所述电极的倾斜取向；所述方法包括：
在预定的方向上分别测量奇数行像素在多个灰阶下的亮度和偶数行像素在所述多个灰阶下的亮度；以及
调节所述奇数行像素的数据线电压和/或所述偶数行像素的数据线电压，使得在所述多个灰阶中的每一个下，所述奇数行像素的亮度与所述偶数行像素的亮度在所述预定的方向上相同。
2. 如权利要求1所述的校正液晶显示装置的方法，其特征在于，所述调节的步骤包括：利用在预定的方向上同一个灰阶下测量的奇数行像素的亮度和偶数行像素的亮度来计算在该灰阶下的参考亮度；在每一个灰阶下，将奇数行像素的亮度和偶数行像素的亮度调节为与该灰阶下的参考亮度相同。
3. 如权利要求2所述的校正液晶显示装置的方法，其特征在于，所述调节的步骤还包括：利用奇数行像素和/或偶数行像素的电压-透射率关系来调节所述奇数行像素的数据线电压和/或所述偶数行像素的数据线电压。
4. 如权利要求1所述的校正液晶显示装置的方法，其特征在于，所述参考亮度是在同一个灰阶下测量的奇数行像素的亮度和偶数行像素的亮度的均值。
5. 如权利要求1所述的校正液晶显示装置的方法，其特征在于，所述多个灰阶的数目为256。
6. 如权利要求1所述的校正液晶显示装置的方法，其特征在于，所述电极是像素电极。
7. 如权利要求1所述的校正液晶显示装置的方法，其特征在于，所述预定的方向为使用者的观看方向。
8. 一种校正液晶显示装置的设备，所述液晶显示装置包括像素阵列，所述像素阵列中的每个像素包括倾斜布置的电极，其中奇数行像素中的所述电极的倾斜取向不同于偶数行像素中的所述电极的倾斜取向；其特征在于，所述设备包括：
测量单元，所述测量单元在预定的方向上分别测量奇数行像素在多个灰阶下的亮度和偶数行像素在所述多个灰阶下的亮度；以及
调节单元，所述调节单元调节所述奇数行像素的数据线电压和/或所述偶数行像素的数据线电压，使得在所述多个灰阶中的每一个下，所述奇数行像素的亮度与所述偶数行像素的亮度在所述预定的方向上相同。
9. 如权利要求8所述的校正液晶显示装置的设备，其特征在于，所述调节单元利用在预定的方向上同一个灰阶下测量的奇数行像素的亮度和偶数行像素的亮度来计算在该灰阶下的参考亮度；在每一个灰阶下，将奇数行像素的亮度和偶数行像素的亮度调节为与该灰阶下的参考亮度相同。
10. 如权利要求9所述的校正液晶显示装置的设备，其特征在于，所述调节单元利用奇数行像素和/或偶数行像素的电压-透射率关系来调节所述奇数行像素的数据线电压和/或所述偶数行像素的数据线电压。
11. 如权利要求8所述的校正液晶显示装置的设备，其特征在于，所述参考亮度是在同一个灰阶下测量的奇数行像素的亮度和偶数行像素的亮度的均值。
12. 如权利要求8所述的校正液晶显示装置的设备，其特征在于，所述多个灰阶的数目为256。
13. 如权利要求8所述的校正液晶显示装置的设备，其特征在于，所述电极是像素电极。
14. 如权利要求8所述的校正液晶显示装置的设备，其特征在于，所述预定的方向为使用者的观看方向。
15. 一种校正液晶显示装置的仪器，所述液晶显示装置包括像素阵列，所述像素阵列中的每个像素包括倾斜布置的电极，其中奇数行像素中的所述电极的倾斜取向不同于偶数行像素中的所述电极的倾斜取向；其特征在于，所述仪器包括：
测量单元，所述测量单元包括亮度测量组件和角度控制组件；以及
调节单元，所述调节单元包括与所述液晶显示装置相连接的电压调整组件。
16. 如权利要求15所述的校正液晶显示装置的仪器，其特征在于，所述角度控制组件支撑所述亮度测量组件。
17. 如权利要求15所述的校正液晶显示装置的仪器，其特征在于，所述亮度测量组件是电荷耦合器件。
18. 如权利要求15所述的校正液晶显示装置的仪器，其特征在于，所述电压调整组件与所述液晶显示装置的数据线驱动电路相连接。
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