JP2014035782A - ディスク反転ユニットを備えたディスク検査装置及びそれを用いたディスク検査方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】磁気ディスクの表面を検査し、次に磁気ディスクを反転させて裏面を検査する磁気ディスクの検査において、磁気ディスクを反転させるための時間を短縮して検査のスループットを上げる。
【解決手段】ディスク反転ユニットを備えたディスク検査装置を、磁気ディスクを保持するスピンドルを備えて移動可能なディスク搬送部と、磁気ディスクをディスク搬送部に受け渡すディスク受渡部と、磁気ディスクの表面の欠陥を光学的に検査する光学式検査部と、磁気ディスクを反転させるディスク反転ユニットとを備えて構成し、ディスク反転ユニットは、ディスク搬送部のスピンドルに保持された磁気ディスクをスピンドルから外して持ち上げて前記スピンドルに戻す上下機構部と、磁気ディスクを反転させる反転機構部とを備え、上下機構部で磁気ディスクをディスク搬送部のスピンドルから外して持ち上げて前記スピンドルに戻すまでの動作の一部と、反転機構部で磁気ディスクを反転させる動作とを同時に実行するようにした。
【選択図】図1A
【解決手段】ディスク反転ユニットを備えたディスク検査装置を、磁気ディスクを保持するスピンドルを備えて移動可能なディスク搬送部と、磁気ディスクをディスク搬送部に受け渡すディスク受渡部と、磁気ディスクの表面の欠陥を光学的に検査する光学式検査部と、磁気ディスクを反転させるディスク反転ユニットとを備えて構成し、ディスク反転ユニットは、ディスク搬送部のスピンドルに保持された磁気ディスクをスピンドルから外して持ち上げて前記スピンドルに戻す上下機構部と、磁気ディスクを反転させる反転機構部とを備え、上下機構部で磁気ディスクをディスク搬送部のスピンドルから外して持ち上げて前記スピンドルに戻すまでの動作の一部と、反転機構部で磁気ディスクを反転させる動作とを同時に実行するようにした。
【選択図】図1A
Description
本発明は、磁気ディスクの検査装置に関し、磁気ディスクの表面を検査した後にディスク反転ユニットを用いて磁気ディスクを裏返し、上向きになった裏面を検査して磁気ディスクの両面を検査するディスク反転ユニットを備えたディスク検査装置及びそれを用いたディスク検査方法に関する。
従来の磁気ディスク検査装置のディスク反転機構としては、例えば、特許文献1に、2枚のディスクを一定の間隔をなして別々に着脱自在にチャックし、ディスクを解放して検査装置のスピンドルに対してローディングするチャック部と、チャックされたディスクを反転し、または一定の間隔Hに等しい距離を昇降する反転/昇降部とにより構成される。チャック部は、ガイド棒と、エアシリンダに駆動されたクランク機構により、ガイド棒に沿って移動してディスクの円周エッジを両側でチャックする2本のチャックアームを1組とし、このチャックアームの2組を上記の一定の間隔として結合する。また、反転/昇降部は、カム板の1回転により半回転するゼネバ歯車を有する反転部と、反転部を上記の一定の間隔に等しい距離を昇降させるエアシリンダとよりなり、チャック部の結合部の中心点をゼネバ歯車の反転軸に固定する構成が記載されている。
特許文献1に記載されているチャック反転機構では、スピンドルに保持されているディスクを上昇させ、スピンドルから所定の高さまで上昇して上昇が終了した後に、ディスクを反転させ、反転が完了してからディスクを下降させてスピンドルに装着する一連の動作により、ディスクの反転を行っていた。
しかし、磁気ディスクの検査のスループットを上げるために、このディスクの反転動作を早く行おうとすると、シーケンシャルに実行するそれぞれの動作が終了したのを待って次の動作を開始する必要があるので、より早くディスクを交換する上でネックになっていた。
上記した課題を解決するために、本発明では、ディスク反転ユニットを備えたディスク検査装置を、磁気ディスクを保持するスピンドルを備えて移動可能なディスク搬送部と、 磁気ディスクを前記ディスク搬送部に受け渡すディスク受渡部と、前記ディスク搬送部に受け渡されて前記スピンドルに保持された前記磁気ディスクの表面の欠陥を光学的に検査する光学式検査部と、前記ディスク搬送部に受け渡されて前記光学式検査部で表面の欠陥が検査された前記スピンドルに保持された前記磁気ディスクを反転させるディスク反転ユニットとを備えて構成し、前記ディスク反転ユニットは、前記ディスク搬送部の前記スピンドルに保持された前記磁気ディスクを前記スピンドルから外して持ち上げて前記スピンドルに戻す上下機構部と、前記磁気ディスクを反転させる反転機構部とを備え、前記上下機構部で前記磁気ディスクを前記ディスク搬送部のスピンドルから外して持ち上げて前記スピンドルに戻すまでの動作の一部と、前記反転機構部で前記磁気ディスクを反転させる動作とを同時に実行するようにした。
また、上記した課題を解決するために、本発明では、ディスク反転ユニットを備えたディスク検査装置を用いたディスク検査方法において、磁気ディスクをディスク受渡部から磁気ディスクを保持するスピンドルを備えて移動可能なディスク搬送部に受け渡し、該ディスク搬送部に受け渡されて前記スピンドルに保持された前記磁気ディスクの表面の欠陥を光学的に検査し、前記ディスク搬送部に受け渡されて前記光学式検査部で表面の欠陥が検査された前記スピンドルに保持された前記磁気ディスクをディスク反転ユニットに搬送して前記磁気ディスクを反転させて裏面側を上に向け、該反転させた磁気ディスクの裏面側を光学的に検査し、該裏面を光学的に検査した磁気ディスクをディスク搬送部から取り外すことにより行ない、前記磁気ディスクを前記ディスク反転ユニットで反転させることを、前記磁気ディスクを前記ディスク搬送部のスピンドルから外して持ち上げる動作の一部と、前記磁気ディスクを反転させる動作とを同時に実行するようにした。
本発明によれば、同時に複数スピンドルモータ上のディスク反転動作を回転モータによる昇降機構と、回転角度に対する昇降位置ゾーン信号を使用することで、ゾーンエリア検出により反転動作を開始できるため動作タイミングを意識する必要がない。仮にゾーンエリア内で反転動作が完了できない場合は昇降機構動作駆動モータに対する即停止指令(割り込み)により異常停止することで異常処理時の動作タイミングも意識する必要がない。このように、省スペースで短時間に反転動作を実現できる。
以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。
図1A及びBは、この発明を適用したディスク検査装置の概略構成を示すブロック図で、図2はディスク検査の動作フローを示すフロー図、図3はディスク反転機構部の動作フローを示すフロー図である。
図1A及びBは、この発明を適用したディスク検査装置の概略構成を示すブロック図で、図2はディスク検査の動作フローを示すフロー図、図3はディスク反転機構部の動作フローを示すフロー図である。
図1A及び図1Bに示すように、ディスク検査装置10は、検査対象ディスクを反転するディスク反転部20、検査ディスクを検査する光学式検査部30、検査済ディスクを受け取り、検査対象ディスクを受け渡すディスク受け渡し部40、検査対象ディスクを反転させるため、あるいは、検査済ディスクを交換するためのリニア駆動機構部50で構成される。
ディスク反転部20は、図4A乃至Cに示すように、上下移動部201、ディスク反転ハンド202、上下駆動モータ203、移動検知部204、ディスク反転ハンド保持部205、上下駆動モータ203で回転駆動される円板206、円板206と上下移動部201とを接続する接続ロッド207、ベースプレート208を備えている。
上下移動部201は、接続ロッド207を介して接続されている円板206が上下駆動モータ203で回転駆動されることにより、ベースプレート208に沿って上下に駆動される。上下移動部201には、ディスク反転ハンド保持部205を介して検査対象ディスク60を反転するためのディスク反転ハンド202が取り付けられているので、上下移動部201が上下に移動すると一緒に上下に移動する。
ディスク反転ハンド202は、ディスク反転ハンド保持部205の開閉駆動部(図示せず)で駆動されて開閉動作を行い、閉じて検査対象ディスク60をつかんだ状態でディスク反転ハンド保持部205の回転駆動モータ(図示せず)で駆動されて180度回転させることで、検査対象ディスク60を反転させる。ディスク反転ハンド202は、図示していない開閉駆動部により駆動されて、ディスク60の円周部分を保持及び解放するように動作する。
上下駆動モータ203は、上下移動部201をベースプレート208に沿って上下に移動するための駆動源である。移動検知部204は、上下移動部201に固定されており、上下駆動モータ203により駆動されたときの、図示していないベースプレート208の基準位置に対する上下移動部201の移動位置(高さ)を検知して、ディスク反転ハンド202が検査対象ディスク60をつかめるような高さに移動したり、ディスク反転ハンド202で検査対象ディスク60を反転するときに、他の部品に検査対象ディスク60が接触しないように高さを検知する。
ディスク反転ハンド保持部205は、上下移動部201に固定されており、ディスク反転ハンド202を保持するとともに、ディスク反転ハンド保持部205の内部に装着された図示していない回転駆動モータで駆動されてディスク反転ハンド202を反転させる。上下駆動モータ203で駆動されて上下移動部201がベースプレート208に沿って上下移動をしているときに、移動検知部204で検知した上下移動部201の高さ情報に基づいて、上下移動部201が最上昇点に達する前に、ディスク反転ハンド保持部205の内部に装着された図示していない回転駆動モータで駆動してディスク反転ハンド202の反転動作を開始させることで、検査対象ディスク60を早く反転することができる。
なお、上下移動部201の移動高さを直接検知する代わりに、円板206の回転角度を測定してこの回転角度から判断してもよい。あるいは、この回転角度を移動高さに変換して変換された移動高さで判断することもできる。
光学式検査部30は、検査光学系301を通じて検査用ディスク60を検査する。検査光学系の構成は、例えば特開2012−42375号公報の図1Aに記載されているような構成とすればよい。
ディスク受け渡し部40は、図1A及び図1Bに示すように、ディスク交換ハンド401、ディスク交換ハンド保持台402、上下移動用柱403、駆動部404を備えている。ディスク交換ハンド401は、光学式検査部30で測定した検査対象ディスク60の検査が終了した後、新たな検査対象使用ディスク60に交換するため、検査対象ディスク60を受け渡しする。ディスク交換ハンド保持台402は、ディスク交換ハンド401を保持する。上下移動用柱403は、ディスク交換ハンド保持台402が上下に移動するときのガイドとなるものである。駆動部404は、ディスク交換ハンド保持台402を上下及び水平方向に駆動する駆動源である。
リニア移動機構50は、ベース501、ステージ502、スピンドル503、スピンドルモータ504、ガイドテーブル505を備えている。ガイドテーブル505は、ベース501が移動する際のガイドを備えたテーブルである。ベース501の上には、1対のステージ502が設置されている。1対のステージ502は、検査対象ディスク60を検査するときに検査対象ディスク60を一方向に連続的に移動させる。スピンドル503は、検査対象ディスク60を保持するとともに、光学式検査部30で検査するときは、検査対象ディスク60を保持しながら回転させる。スピンドルモータ504は、スピンドル503を回転するときの駆動源である。
次に、ディスクの検査手順を説明する。図2は、ディスク検査の動作フローを示すフロー図である。
ディスク受け渡し部40のディスク交換ハンド401に検査対象ディスク60をセットして、ディスク交換ハンド保持台402をステージ502の方向に回転(旋回)させる(S101)。スピンドル503に検査対象ディスク60を供給する(S102)。スピンドル503が図示していないディスクチャックをオンにして(S103)、検査対象ディスク60がスピンドル503に保持される。1対のステージ502を搭載したベース501が、ガイドテーブル505上を光学式検査部30まで移動する(S104)。光学式検査部30が検査対象ディスク60のTOP面(上面)を光学測定することで検査する(S105)。
ディスク受け渡し部40のディスク交換ハンド401に検査対象ディスク60をセットして、ディスク交換ハンド保持台402をステージ502の方向に回転(旋回)させる(S101)。スピンドル503に検査対象ディスク60を供給する(S102)。スピンドル503が図示していないディスクチャックをオンにして(S103)、検査対象ディスク60がスピンドル503に保持される。1対のステージ502を搭載したベース501が、ガイドテーブル505上を光学式検査部30まで移動する(S104)。光学式検査部30が検査対象ディスク60のTOP面(上面)を光学測定することで検査する(S105)。
TOP面の検査終了後、ベース501がガイドテーブル505上をディスク反転部20へ移動する(S106)。スピンドル503の図示していないディスクチャックをオフにして(S107)検査対象ディスク60をスピンドル503から解放する。ディスク反転ハンド202がディスクチャックをオンにして検査対象ディスク60を保持し(S108)、ディスク反転ハンド202で検査対象ディスク60を反転させる(S109)。検査対象ディスク60を反転させた後、ディスク反転ハンド202が検査対象ディスク60をスピンドル503に載せて、ディスク反転ハンド202のチャックをオフにする(S110)。
スピンドル503がディスクチャックをオンにして、検査対象ディスク60を保持する(S111)。ステージ502がガイドテーブル505に沿って光学式検査部30に移動する(S112)。光学式検査部30が検査対象ディスク60のボトム面(下面)を光学測定により検査する(S113)。光学式検査部30の検査が終了すると、ステージ502がガイドテーブル505に沿ってディスク受け渡し部40に移動する(S114)。スピンドル503がチャックをオフして、検査済の検査対象ディスク60を解放する(S115)。ディスク反転ハンド202が検査済の検査対象ディスク60を受け取って(S116)一連のディスクの検査を終了する。
次に、上記に説明したディスク検査の処理フローにおいて、S108の反転ハンド202のディスクチャックをONにする工程からS109の検査対象ディスク60を反転させる工程を経て、S110の反転ハンド202のチャックをOFFにする工程までの詳細なフローを、図3を用いて説明する。
図3は本実施例のディスク反転動作フローを示す。
片面(TOP面)の光学検査終了後のディスク60は、もう片面(ボトム面)の光学検査を行うため、ステージ502がガイドテーブル505に沿ってディスク反転部20に移動し、図2で説明したS107の工程でスピンドルのディスクチャックがOFFになり、ディスク60を反転ハンド202でつかむ(S201)。その後、反転回転駆動軸の回転方向(CWかCCW)をセットする(S202)。上下動作駆動モータをスタート(S203)。ロッドにより回転を上下動作に変換することで反転ハンドを上昇させる(S204)。反転ハンドが上昇し反転動作可能ゾーンに到達したことで反転開始位置を検出する(S205)。この信号検出により、(S202)で予めセットされている回転方向にハンド回転動作開始する(S206)。その後、上端到達から下降し反転動作可能ゾーン終了位置までゾーン信号が有効となる(S207)。
片面(TOP面)の光学検査終了後のディスク60は、もう片面(ボトム面)の光学検査を行うため、ステージ502がガイドテーブル505に沿ってディスク反転部20に移動し、図2で説明したS107の工程でスピンドルのディスクチャックがOFFになり、ディスク60を反転ハンド202でつかむ(S201)。その後、反転回転駆動軸の回転方向(CWかCCW)をセットする(S202)。上下動作駆動モータをスタート(S203)。ロッドにより回転を上下動作に変換することで反転ハンドを上昇させる(S204)。反転ハンドが上昇し反転動作可能ゾーンに到達したことで反転開始位置を検出する(S205)。この信号検出により、(S202)で予めセットされている回転方向にハンド回転動作開始する(S206)。その後、上端到達から下降し反転動作可能ゾーン終了位置までゾーン信号が有効となる(S207)。
反転動作可能ゾーン検出にてハードゲートONし、そのタイミングで反転動作開始する。反転動作可能ゾーン内で反転動作が未完了かどうかは、CWまたはCCW位置センサ検出信号と上記ゾーン信号によりハード回路によりチェックする(S208)の場合は上下動作用モータに対しハードインタロックを実行し、衝突を回避することができる(S209)。次に、反転動作が完了したかをチェックし(S210)、反転動作が未完了の場合には(NOの場合)減速モータを即時停止させる(S211)。一方、正常に反転動作が完了した場合(YESの場合)は、反転ハンドのディスクチャックをOFFにし(S212)、図2で説明したS111に進んで、スピンドルハブ上に受け渡し(S212)。上記のように、最短時間で反転動作の完了/未完了を判定するため、上下動作用駆動装置のゾーン信号と反転ハンドのCW/CCW位置センサ(図示せず)からの検出信号により実現する。
10・・・ディスク検査装置 20・・・ディスク反転部 30・・・光学式検査部40・・・ディスク受け渡し部 50・・・リニア移動機構 60・・・検査対象ディスク 201・・・上下移動部 202・・・ディスク反転ハンド 203・・・上下駆動モータ 204・・・移動検知部 205・・・ディスク反転ハンド保持部 401・・・ディスク交換ハンド 402・・・ディスク交換ハンド保持台 403・・・上下移動用柱 404・・・駆動部 501・・・ベース 502・・・ステージ 503・・・スピンドル 504・・・スピンドルモータ。
Claims (6)
- 磁気ディスクを保持するスピンドルを備えて移動可能なディスク搬送部と、
磁気ディスクを前記ディスク搬送部に受け渡すディスク受渡部と、
前記ディスク搬送部に受け渡されて前記スピンドルに保持された前記磁気ディスクの表面の欠陥を光学的に検査する光学式検査部と、
前記ディスク搬送部に受け渡されて前記光学式検査部で表面の欠陥が検査された前記スピンドルに保持された前記磁気ディスクを反転させるディスク反転ユニットと
を備え、
前記ディスク反転ユニットは、前記ディスク搬送部の前記スピンドルに保持された前記磁気ディスクを前記スピンドルから外して持ち上げて前記スピンドルに戻す上下機構部と、前記磁気ディスクを反転させる反転機構部とを備え、前記上下機構部で前記磁気ディスクを前記ディスク搬送部の前記スピンドルから外して持ち上げて前記スピンドルに戻すまでの動作の一部と、前記反転機構部で前記磁気ディスクを反転させる動作とを同時に実行することを特徴とするディスク反転ユニットを備えたディスク検査装置。 - 前記ディスク反転ユニットは、前記上下機構の高さを検出する高さ検出器を備え、該高さ検出器の出力を用いて前記上下機構部で前記磁気ディスクを前記ディスク搬送部のスピンドルから外して持ち上げる動作を実行中に前記反転機構部で前記磁気ディスクを反転させる動作を開始することを特徴とする請求項1記載のディスク反転ユニットを備えたディスク検査装置。
- 前記ディスク受渡部は前記ディスク搬送部に2枚の磁気ディスクを受け渡し、前記光学式検査部は前記磁気ディスクの表面の欠陥を光学的に検査する検査ユニットを2組備え、前記ディスク反転ユニットは前記2組の検査ユニットで検査された2枚の磁気ディスクを一緒に反転させることを特徴とする請求項1記載のディスク反転ユニットを備えたディスク検査装置。
- 磁気ディスクをディスク受渡部から磁気ディスクを保持するスピンドルを備えて移動可能なディスク搬送部に受け渡し、
該ディスク搬送部に受け渡されて前記スピンドルに保持された前記磁気ディスクの表面の欠陥を光学的に検査し、
前記ディスク搬送部に受け渡されて前記光学式検査部で表面の欠陥が検査された前記スピンドルに保持された前記磁気ディスクをディスク反転ユニットに搬送して前記磁気ディスクを反転させて裏面側を上に向け、
該反転させた磁気ディスクの裏面側を光学的に検査し、
該裏面を光学的に検査した磁気ディスクをディスク搬送部から取り外す
磁気ディスクの検査方法であって、
前記磁気ディスクを前記ディスク反転ユニットで反転させることを、前記磁気ディスクを前記ディスク搬送部のスピンドルから外して持ち上げて前記スピンドルに戻すまでの動作の一部と、前記磁気ディスクを反転させる動作とを同時に実行することを特徴とするディスク反転ユニットを備えたディスク検査装置を用いたディスク検査方法。 - 前記ディスク反転ユニットは、前記上下機構の高さを検出する高さ検出器を備え、該高さ検出器の出力を用いて前記磁気ディスクを前記ディスク搬送部のスピンドルから外して持ち上げる動作中に前記磁気ディスクを反転させる動作を開始することを特徴とする請求項4記載のディスク反転ユニットを備えたディスク検査装置を用いたディスク検査方法。
- 前記ディスク受渡部は前記ディスク搬送部に2枚の磁気ディスクを受け渡し、前記磁気ディスクの表面の欠陥を光学的に検査することを前記2枚の磁気ディスクについて同時に行い、前記ディスク反転ユニットで前記2枚の磁気ディスクを一緒に反転させることを特徴とする請求項4記載のディスク反転ユニットを備えたディスク検査装置を用いたディスク検査方法。
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2012
- 2012-08-10 JP JP2012177832A patent/JP2014035782A/ja active Pending
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