JP2014021008A - 自動分析装置及び自動分析方法 - Google Patents

自動分析装置及び自動分析方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2014021008A
JP2014021008A JP2012161846A JP2012161846A JP2014021008A JP 2014021008 A JP2014021008 A JP 2014021008A JP 2012161846 A JP2012161846 A JP 2012161846A JP 2012161846 A JP2012161846 A JP 2012161846A JP 2014021008 A JP2014021008 A JP 2014021008A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
reaction
scattered light
automatic analyzer
ratio
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2012161846A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5948173B2 (ja
Inventor
Sakuichiro Adachi
作一郎 足立
So Yamazaki
創 山崎
Masahiko Iijima
昌彦 飯島
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi High Tech Corp
Original Assignee
Hitachi High Technologies Corp
Hitachi High Tech Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi High Technologies Corp, Hitachi High Tech Corp filed Critical Hitachi High Technologies Corp
Priority to JP2012161846A priority Critical patent/JP5948173B2/ja
Priority to US14/414,782 priority patent/US9557264B2/en
Priority to CN201380038592.XA priority patent/CN104471381B/zh
Priority to PCT/JP2013/066483 priority patent/WO2014013823A1/ja
Priority to EP13820458.1A priority patent/EP2876433B1/en
Publication of JP2014021008A publication Critical patent/JP2014021008A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5948173B2 publication Critical patent/JP5948173B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/47Scattering, i.e. diffuse reflection
    • G01N21/49Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/47Scattering, i.e. diffuse reflection
    • G01N21/49Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid
    • G01N21/51Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid inside a container, e.g. in an ampoule
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N15/00Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
    • G01N15/10Investigating individual particles
    • G01N15/14Optical investigation techniques, e.g. flow cytometry
    • G01N15/1434Optical arrangements
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/251Colorimeters; Construction thereof
    • G01N21/253Colorimeters; Construction thereof for batch operation, i.e. multisample apparatus
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/27Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration
    • G01N21/272Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration for following a reaction, e.g. for determining photometrically a reaction rate (photometric cinetic analysis)
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/75Systems in which material is subjected to a chemical reaction, the progress or the result of the reaction being investigated
    • G01N21/77Systems in which material is subjected to a chemical reaction, the progress or the result of the reaction being investigated by observing the effect on a chemical indicator
    • G01N21/82Systems in which material is subjected to a chemical reaction, the progress or the result of the reaction being investigated by observing the effect on a chemical indicator producing a precipitate or turbidity
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/02Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations
    • G01N35/025Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations having a carousel or turntable for reaction cells or cuvettes
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/47Scattering, i.e. diffuse reflection
    • G01N2021/4704Angular selective
    • G01N2021/4711Multiangle measurement
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/75Systems in which material is subjected to a chemical reaction, the progress or the result of the reaction being investigated
    • G01N21/77Systems in which material is subjected to a chemical reaction, the progress or the result of the reaction being investigated by observing the effect on a chemical indicator
    • G01N21/82Systems in which material is subjected to a chemical reaction, the progress or the result of the reaction being investigated by observing the effect on a chemical indicator producing a precipitate or turbidity
    • G01N2021/825Agglutination
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N2035/00346Heating or cooling arrangements
    • G01N2035/00356Holding samples at elevated temperature (incubation)
    • G01N2035/00386Holding samples at elevated temperature (incubation) using fluid heat transfer medium
    • G01N2035/00396Holding samples at elevated temperature (incubation) using fluid heat transfer medium where the fluid is a liquid
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/02Mechanical
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/06Illumination; Optics
    • G01N2201/062LED's
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T436/00Chemistry: analytical and immunological testing
    • Y10T436/11Automated chemical analysis

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Dispersion Chemistry (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By The Use Of Chemical Reactions (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)

Abstract

【課題】散乱光測定法による定量結果に対する異物反応の影響の有無を判定可能とする。
【解決手段】自動分析装置として、光を反応液に照射する光源と、反応液から発生した散乱光をそれぞれ異なる受光角度で受光する複数の受光器と、いずれか一つの受光器において測定された反応過程データを処理し、反応液内の物質濃度を定量する第1のデータ処理部と、複数の受光器で測定された複数の反応過程データについてそれぞれ算出された複数の演算値の比に基づいて、物質濃度の定量が正常に行われたものか否かを判定する第2のデータ処理部とを有するものを提案する。
【選択図】図1

Description

本発明は、サンプルに含まれる物質の濃度を測定する自動分析装置及び自動分析方法に関する。
サンプルと試薬を反応させた反応液に光を照射し、反応液を透過した透過光量からランベルト・ベールの法則に従い吸光度を算出し、一定時間の変化量からサンプル内の物質濃度を定量する自動分析装置が広く用いられている(例えば特許文献1)。これらの装置においては、反応液を保持する多数のセルが、反応ディスクに円周状に配列されている。回転駆動される反応ディスクの周辺には吸光度測定部が配置されており、15秒に一回の間隔で約10分間、反応液を透過する光の量(透過光量)の時系列データを取得する。ここでの時系列データは、反応過程データと呼ばれる。透過光量から吸光度が算出され、一定時間内における吸光度の変化量から物質の濃度が定量される。
自動分析装置で測定される反応には、主に、基質と酵素を用いた呈色反応と、抗原と抗体を用いた免疫凝集反応の2種類がある。呈色反応により濃度を定量する方法は生化学分析と呼ばれ、検査項目にはLDH(乳酸脱水素酵素)、ALP(アルカリホスファターゼ)、AST(アスパラギン酸オキソグルタル酸アミノトンラフェナーゼ)などがある。免疫凝集反応により物質濃度を定量する方法は免疫分析と呼ばれ、検査項目にはCRP(C反応性蛋白)、IgG(免疫グロブリン)、RF(リウマトイド因子)などがある。免疫凝集反応により測定される物質は比較的血中濃度が低い。このため、試薬は高感度であることが要求される。そのため、試薬の表面に、増感剤として抗体を感作させたラテックス粒子を試薬として用いることが多い。表面に抗体を感作させたラテックス粒子は、被測定物質を介して凝集し凝集体を形成する。凝集体は時間とともに成長し、物質濃度が高いほど一定時間後の凝集体は大きくなる。これまでの測定法は、このように凝集反応が進行した反応液に光を照射し、その透過光量を測定することで被測定物質の濃度を定量している。
しかし近年、このラテックス免疫分析のさらなる高感度化が望まれており、透過光を測定するのではなく、散乱光の測定が試みられている。例えばダイアフラムを用いて透過光と散乱光とを分離し、吸光度と散乱光を同時に計測するシステム(特許文献2)等が開示されている。
米国特許第4451433号明細書 特開2001−141654号公報
C. F. Bohren, D. R. Huffman、Absorption and Scattering of Light by Small Particles、J. Wiley & Sons, 1983
散乱光を測定する方法は、透過光を測定する方法に比べ、反応を大きな変化として測定することができる。その一方で、異物反応による影響を受け易いという問題がある。異物反応とは、溶存酸素が析出することによる光路上の気泡の成長や、血液内に含まれる異物の非特異的な凝集反応、反応液に含まれるごみの非特異的な凝集反応などである。
これらの反応物が測定光路上に存在すると、散乱光量(散乱光強度)は、ラテックス粒子の凝集反応と同様の変化を示す。このため、反応過程データによっては、正常な凝集体から得られた散乱光なのか異物から得られた散乱光なのかを明確に区別することができなかった。結果的に、ごみ、気泡などの異物の影響によるノイズの増大が問題となっている。
前述した課題を解決するために、本発明に係る自動分析装置は、光を反応液に照射する光源と、反応液から発生した散乱光をそれぞれ異なる受光角度で受光する複数の受光器と、いずれか一つの受光器において測定された反応過程データを処理し、反応液内の物質濃度を定量する第1のデータ処理部と、複数の受光器で測定された複数の反応過程データについてそれぞれ算出された複数の演算値の比に基づいて、物質濃度の定量が正常に行われたものか否かを判定する第2のデータ処理部とを有する。
本発明によれば、散乱光測定法による物質濃度の定量結果に、異物反応による影響が大きいか否かを判定することができる。前述した以外の課題、構成及び効果は、以下の実施形態の説明により明らかにされる。
自動分析装置の主要構成を説明する図(実施例1)。 ラテックス粒子の散乱光強度の粒径依存性を示す図。 ラテックス粒子の散乱光強度比(30°/20°比)の粒径依存性を示す図。 図2に示す粒径依存性を拡大して示す図。 自動分析装置の全体構成例を示す図(実施例2)。 吸光度測定部の概略構成例を示す図。 散乱光測定部の概略構成例を示す図。 反応過程データの例を示す図。 分析設定画面の例を示す図。 測定開始から測定結果の表示までの処理手順を示すフローチャート。 測定結果の表示画面例を示す図。 受光角20°による散乱光強度に対応する演算値と、その演算値と受光角30°の散乱光強度に対応する演算値との比(30°/20°比)の関係を示す図。
以下、図面に基づいて、本発明の実施の形態を説明する。なお、本発明の実施の態様は、後述する実施例に限定されるものではなく、その技術思想の範囲において、種々の変形が可能である。
〔実施例1〕
本実施例では、測定結果に影響を与えるような異物反応の有無を判定する機能、すなわち測定結果が正常か否かを判定する機能を搭載する自動分析装置の基本構成と判定原理の概略を説明する。
図1に、反応液の散乱光を測定し、その時間変化に基づいて物質濃度を定量する自動分析装置の概略構成を示す。なお、図1に示す自動分析装置の構成は、本明細書で提案する発明の基本概念を説明するためのみに用いられる。
自動分析装置は、サンプルと試薬を混合させた反応液7を収めるセル8をその円周上に保持し、回転と停止を繰り返す反応ディスク9と、セル8に光を照射する光源160と、反応液7から発生した散乱光を異なる受光角度で受光する2つの受光器161、162と、2つの受光器161、162から出力される光量データを一定時間ごとに取得し、反応過程データとして出力する散乱光測定回路25と、受光器161により測定された反応液の反応過程データを処理し、反応液内の物質濃度を定量する第1のデータ処理部261と、2つの受光器161、162で測定された2つの反応過程データの演算値の比に基づいて、物質濃度の定量結果が正常か否かを判定する第2のデータ処理部262とを有している。
なお、自動分析装置には、反応ディスク9の回転、散乱光測定部16(光源160、受光器161、162)の発光と受光を制御する制御回路23が設けられている。また、自動分析装置は、第1のデータ処理部261と第2のデータ処理部262を内蔵するデータ処理部26を有している。因みに、制御回路23及びデータ処理部26は、制御モジュールとして構成しても良いし、処理プログラムを実行するコンピュータとして構成しても良い。
本実施例で説明する自動分析装置は、反応液7に対して照射される光の照射方向(光軸)とは異なる角度で散乱光を受光する2つの受光器161、162を有し、これら2つの受光器161、162で測定された2つの反応過程データの演算値の比に基づいて、物質濃度の定量結果が正常であるか否かを判定する機能を有することを特徴とする。この機能を用いることにより、実施例に係る自動分析装置は、異物反応による影響が仮にあったとしても、定量結果に異物反応の影響が及んでいることを作業者に提供することができる。
なお、2つの反応過程データの演算値には、キャリブレーション前の演算値を用いることが望ましい。この場合、有効数字の影響などを受けずに定量値をチェックをすることができる。
以下では、異なる受光角度で散乱光を受光する受光器161、162を設ける理由を説明する。ラテックス粒子による凝集体と、反応液中に含まれる異物は、その材質と大きさが異なっている。自動分析装置の試薬に含まれるラテックス粒子の材質はポリスチレンが多く、その粒径は0.1〜0.3μm程度であると考えられる。なお、粒径の測定には、例えば動的散乱光法、レーザ回折法、遠心沈降法、FFF法、電気的検知体法など様々な方法を用いることができる。測定する物質の濃度が低濃度であれば、ラテックス粒子による凝集体の大きさは平均的にはほとんど変わらず、その粒径は0.1〜0.3μm程度であるとみなすことができる。
反応液中の異物の材質は不明であるが溶存酸素の場合は気体であり、その他の場合はポリスチレンと同様の屈折率を持つとみなしてかまわない。異物の大きさは、ラテックス粒子よりも少ないにもかかわらず同程度の光量として検知されることから概ね数μm程度の大きさを持つと考えられる。
散乱光測定法による測定では、特にラテックス粒子による凝集体と、反応液中の異物の大きさの違いが重要である。
図2に、水中に存在するポリスチレンの単一粒子(屈折率1.59)に波長700nmの光を照射した際に発せられる散乱光量の粒径依存性を、空気中換算角度15°、20°、25°、30°、35°の受光角度ごとに示す。受光角度とは、照射光の光軸に対する角度で定義される。これらの計算は、Mie散乱理論を用いて計算した。Mie散乱理論は、例えば非特許文献1に記載されている。
Mie散乱理論では、散乱体の粒径が大きいほど、散乱光はより前方(照射光進行方向)に概ね集まる性質が知られている。そのため、粒径が同一の場合、受光される散乱光量は、受光角度が小さくなるほど大きくなる傾向にある。ラテックス粒子を含む反応液からの散乱光量は、簡単に言うと、単一のラテックス粒子からの散乱光量の重ね合わせと考えることができる。このため、反応液中に存在する多数個の粒子からの散乱光を受光する場合にも、その散乱光量は、受光角度が小さくなるほど大きくなると推測することができる。
この受光角度依存性に着目し、本実施例では、受光器161の受光角度を20°、受光器162の受光角度を30°とする場合について、各受光器で受光される散乱光量の比と粒径との関係を検証する。
図3に、受光角度が30°の受光器162に対応する演算値を、受光角度が20°の受光器161に対応する演算値で除算した値(以下、「30°/20°比」という。)と粒径との関係を示す。図3のうち0.6μm以下の30°/20°比と粒径との関係を図4に示す。
図3から分かるように、粒径が10μm以下の範囲では、30°/20°比は散乱体の粒径が大きくなると概して小さくなる傾向にある。反応液中の粒子が気泡でも、ラテックス粒子等でも、本範囲では、同様の性質を示す。そして、図3より、異物反応(数μm程度の大きさを持つと考えられる粒子による反応)についての30°/20°比は、概ね0.5以下と推測することができる。
一方、図4に示すように、ラテックス粒子の凝集体(粒径はおおよそ0.1〜0.3μm程度であるとみなすことができる)についての30°/20°比は、概ね0.9−0.5程度と推測することができる。
ここで、2つの受光器161、162は、セル8の同じ透過面を通過した散乱光を受光することが望ましい。2つの受光器161、162が、セル8の異なる透過面を通過した散乱光を受光したのでは、透過面のばらつきの影響が測定結果に現れるためである。同じ透過面を通過するという条件を満たすためには、2つの受光器161、162の受光角度は、概ね35°以下の範囲で選択することが望ましい。この角度条件を満たす場合、2つの受光器161、162において、セル8の異なる面を透過した散乱光が検出されることはない。結果的に、測定結果の良否判定の精度を向上することができる。なお、本実施例における2つの受光角度は一例であり、受光角度が3つ以上の場合にも適用できる。
第1のデータ処理部261は、ある受光角度で取得した反応過程データから一定時間の間に生じた変化量を演算値として算出し、この演算値に基づいて測定対象物質の濃度を定量する。本実施例では、受光器161で測定された反応過程データを処理対象とする。
第2のデータ処理部262は、2つの受光角度について取得した反応過程データのそれぞれについて演算値を算出し、それら2つの演算値の比を演算値比として算出する。ここでの演算値比は、散乱光量の比と同じ傾向を示す。
本実施例における第2のデータ処理部262は、受光角度が30°の場合の演算値と受光角度が20°場合の演算値比(30°/20°比)を所定の閾値(本実施例の場合、最大値と最小値の2つ)と比較し、異物からの散乱光の影響が大きいか否かを判定する。すなわち、測定された散乱光量がラテックス粒子からの散乱光に起因するものか、異物からの散乱光に起因するものかを判定する。
具体的には、30°/20°の演算値比が0.5より大きい場合、定量された濃度は異物からの散乱光の影響を受けていないと判定される。一方、30°/20°の演算値比が0.5より小さい場合、定量された濃度は異物からの散乱光の影響を受けていると判定される。
ここで、異物からの散乱光の影響が大きいと判定された場合、第2のデータ処理部262又は制御回路23は、例えばその旨を示すアラームを不図示の出力装置を通じて出力する。アラームの出力形態には、文字や画像による方法、音による方法、警告ランプ等の点灯・点滅等による方法がある。
本実施例に係る自動分析装置を用いれば、定量された濃度に異物反応による影響が含まれるか否かを判定できるため、測定対象物質の濃度を散乱光測定法により高精度に定量することができる。
〔実施例2〕
[装置構成]
以下では、実施例1の測定原理を応用した自動分析装置の具体例を説明する。本実施例では、セル8の照射方向に対して概ね20°と30°の方向に出力された散乱光の測定光量に基づいて、濃度の定量や正常・異常の判定を実行する自動分析装置について説明する。
なお、本実施例における自動分析装置は、各受光角度に対応する散乱光を測定した反応過程データから算出される演算値比により定量結果が正しいか否かを画面表示する機能を備えている。
図5は、本実施例に係る自動分析装置の全体構成例を示している。図5と図1との対応部分には、同一符号を付して示している。
本実施例に係る自動分析装置は、サンプルディスク3、試薬ディスク6、反応ディスク9の3種類のディスクと、これらのディスク間でサンプルや試薬を移動させる分注機構、これらを制御する制御回路23、反応液の吸光度を測定する吸光度測定回路24、反応液からの散乱光を測定する散乱光測定回路25、各測定回路で測定されたデータを処理するデータ処理部26、データ処理部26とのインタフェースである入力部27及び出力部28で構成される。
なお、データ処理部26は、データ格納部2601と解析部2602で構成される。実施例1における第1のデータ処理部261及び第2のデータ処理部262は、解析部2602の機能の一部を構成する。データ格納部2601には、制御データ、測定データ、データ解析に用いるデータ、解析結果データ等が格納される。入力部27及び出力部28は、データ格納部2601との間でデータを入出力する。図5の例では、入力部27がキーボードの場合を表しているが、タッチパネル、テンキーその他の入力装置でも良い。
サンプルディスク3の円周上には、サンプル1の収容容器であるサンプルカップ2が複数配置される。サンプル1は例えば血液である。試薬ディスク6の円周上には、試薬4の収容容器である試薬ボトル5が複数配置される。反応ディスク9の円周上には、サンプル1と試薬4を混合させた反応液7の収容容器であるセル8が複数配置される。
サンプル分注機構10は、サンプルカップ2からセル8にサンプル1を一定量移動させる際に使用する機構である。サンプル分注機構10は、例えば溶液を吐出又は吸引するノズルと、ノズルを所定位置に位置決め及び搬送するロボット、溶液をノズルから吐出又はノズルに吸引するポンプで構成される。試薬分注機構11は、試薬ボトル5からセル8に試薬4を一定量移動させる際に使用する機構である。試薬分注機構11も、例えば溶液を吐出又は吸引するノズルと、ノズルを所定位置に位置決め及び搬送するロボット、溶液をノズルから吐出又はノズルに吸引するポンプで構成される。
攪拌部12は、セル8内で、サンプル1と試薬4を攪拌し混合させる機構部である。洗浄部14は、分析処理が終了したセル8から反応液7を排出し、その後、セル8を洗浄する機構部である。洗浄終了後のセル8には、再び、サンプル分注機構10から次のサンプル1が分注され、試薬分注機構11から新しい試薬4が分注され、別の反応処理に使用される。
反応ディスク9において、セル8は、温度及び流量が制御された恒温槽内の恒温流体15に浸漬されている。このため、セル8及びその中の反応液7は、反応ディスク9による移動中も、その温度は一定温度に保たれる。本実施例の場合、恒温流体15として水を使用し、その温度は制御回路23により37±0.1℃に温度調整される。勿論、恒温流体15として使用する媒体や温度は一例である。
反応ディスク9の円周上の一部には、吸光度測定部13と散乱光測定部16が配置される。
図6は、吸光度測定部13の構成例を示している。図6に示す吸光度測定部13は、ハロゲンランプ光源31から射出された光をセル8に照射し、セル8を透過した光32を回折格子33で分光し、フォトダイオードアレイ34で受光する構造を有している。フォトダイオードアレイ34で受光する波長は、340nm、405nm、450nm、480nm、505nm、546nm、570nm、600nm、660nm、700nm、750nm、800nmである。これら受光器による受光信号は、吸光度測定回路13を通じ、データ処理部26のデータ格納部2601に送信される。ここで、吸光度測定回路13は、一定期間毎に各波長域の受光信号を取得し、取得された光量値をデータ処理部26に出力する。
図7は、散乱光測定部16の構成例を示している。本実施例の場合、光源17には、例えばLED光源ユニット等を使用する。LED光源ユニットから射出された照射光18は、その光路上に位置するセル8に照射され、セル8を透過した透過光19が透過光受光器20において受光される。照射光の波長には、例えば700nmを使用する。本実施例では、光源17としてLED光源ユニットを使用したが、レーザ光源、キセノンランプ、ハロゲンランプ等を用いても良い。
散乱光測定部16は、照射光18又は透過光19の光軸に対し、空気中において角度20°だけ離れた方向の散乱光21aを散乱光受光器22aで受光する。また、散乱光測定部16は、照射光18又は透過光19の光軸に対し、空気中において角度30°だけ離れた方向の散乱光21bを散乱光受光器22bで受光する。散乱光受光器22a及び22bは、例えばフォトダイオードで構成する。これら散乱光受光器22a、22bの受光信号は、散乱光測定回路16を通じ、データ処理部26のデータ格納部2601に送信される。散乱光測定回路16も、一定期間毎に受光角度が異なる2つの受光信号を取得し、取得された光量値をデータ処理部26に出力する。
散乱光受光器22a及び22bは、反応ディスク9の回転によるセル8の移動方向に対して概ね垂直である面内に配置される。ここでは、受光角度の基準位置(散乱の起点)を、セル8内を通過する光の光路の中央部に設定している。
図7では、受光角度20°と30°にそれぞれ対応するように散乱受光器22a及び22bを配置する場合について説明したが、受光器を内部に多数保持する単体のリニアアレイを配置し、複数角度の散乱光を一度に受光する構成であってもよい。リニアアレイを用いることにより、受光角度の選択肢を広げることができる。また、受光器でなく、ファイバやレンズなどの光学系を配置し、別位置に配置された散乱光受光器に光を導いても良い。
[被測定物質の濃度測定と測定結果の正常/異常判定]
サンプル1に含まれる被測定物質の濃度の定量は、次の手順により行われる。まず、制御回路23は、洗浄部14において、セル8を洗浄する。次に、制御回路23は、サンプル分注機構10により、サンプルカップ2内のサンプル1をセル8に一定量分注する。次に、制御回路23は、試薬分注機構11により、試薬ボトル5内の試薬4をセル8に一定量分注する。
各溶液の分注時、制御回路23は、それぞれに対応する駆動部により、サンプルディスク3、試薬ディスク6、反応ディスク9を回転駆動させる。この際、サンプルカップ2、試薬ボトル5、セル8は、それぞれに対応する分注機構の駆動タイミングに応じ、所定の分注位置に位置決めされる。
続いて、制御回路23は、攪拌部12を制御して、セル8内に分注されたサンプル1と試薬4とを攪拌し、反応液7を生成する。反応ディスク9の回転により、反応液7を収容するセル8は、吸光度測定部13が配置された測定位置と散乱光測定部16が配置された測定位置をそれぞれ通過する。測定位置を通過するたび、反応液7からの透過光又は散乱光は、それぞれ対応する吸光度測定部13及び散乱光測定部16を介して測定される。本実施例の場合、各測定時間は約10分である。吸光度測定部13及び散乱光測定部16による測定データはデータ格納部2601に順次出力され、反応過程データとして蓄積される。
この反応過程データの蓄積の間、必要であれば、別の試薬4を試薬分注機構11によりセル8に追加で分注し、攪拌部12により攪拌し、さらに一定時間測定する。これにより、一定の時間間隔で取得された反応過程データが、データ格納部2601に格納される。
図8に、反応過程データの一例を示す。図8の横軸に示す測光ポイントは、反応過程データが測定された順番を表している。一方、図8の縦軸は散乱光測定回路25により測定された散乱光量を示している。図8は、ある受光角度に対応する反応過程データを表しているが、本実施例に係る散乱光測定回路25からは、受光角度20°に対応する反応過程データと受光角度30°に対応する反応過程データが別々に出力される。
解析部2602は、不図示の分析設定画面を通じて指定される一定時間内の光量変化を演算値として算出する。ここで、演算値の算出に使用される一定期間は、測光ポイントの中から演算開始ポイントと演算終了ポイントを指定することで規定される。なお、演算値は、演算開始ポイントにおける光量と演算終了ポイントにおける光量の差分として計算される。
データ格納部2601には、ここでの演算値と被測定物質濃度の関係を示す検量線データが予め保持されている。解析部2602は、計算された演算値と検量線データとを照合し、被測定物質の濃度を定量する。定量された濃度値は出力部28を通じて表示される。
また、解析部2602は、受光角度30°における演算値を受光角度20°における演算値で除算した値を散乱光強度比として算出し、当該散乱光強度比が所定の条件を満たす場合、定量結果は正常に測定された値であると判定する。
一方、解析部2602は、算出された散乱光強度比が所定の条件を満たさない場合、定量結果は異物反応の影響を含む測定異常であると判定する。判定結果も、データ格納部2601に格納される。
なお、各部の制御・分析に必要なデータは、入力部27からデータ格納部2601に入力される。データ格納部2601に格納された各種のデータ、測定結果、分析結果、アラーム等は出力部28により表示される。
[分析設定画面]
図9に、分析設定画面の一例を示す。ユーザーは、分析設定画面901を使用し、測定項目902ごとに、濃度定量角度903、分注条件904、演算条件905、アラーム条件906を設定する。図9は、測定項目902がCRP(C反応性蛋白)の場合を表している。また、図9は、濃度定量角度903が30°の場合を表している。また、図9は、分注条件904として、サンプル量に2μL、第一試薬に180μL、第二試薬に60μLが設定された場合を表している。
また、図9は、演算条件905として、演算開始ポイントが20番目の測定ポイント、演算終了ポイントが第34番目の測定ポイントに設定された場合を表している。従って、図9の場合、解析部2602は、20番目の測定ポイントから34番目の測定ポイントまでの一定時間内の反応に伴って測定される光量の変化から演算値を求める。
また、図9は、アラーム条件906として、演算値の定量下限値を「20」、散乱光強度比の最小値を「0.5」、散乱光強度比の最大値を「0.8」に設定した例を表している。従って、図9の場合、算出された演算値が例えば「15」の場合、正常範囲の値ではないと解析部2602により判定される。
なお、アラーム条件906として、演算値についての定量下限を設定したのは、以下の理由による。演算値が定量下限以下になるような測定状況では、測定値自体もばらつきが生じ易く、算出される散乱光強度比(すなわち、演算値の比)もばらつくためである。そこで、アラームを出力するか否かの判定は、定量下限を超える演算値が算出される場合に適用した。また、図9では、散乱光強度比が正常である範囲の上限を与える最大値を「0.8」に設定しているが、当該値は「0.9」でも良い。
アラーム条件906の正常範囲を与える数値は、試薬ごとに試薬メーカにより推奨されたパラメータを参考に、ユーザーが手入力してもよい。また、自動分析装置側にアラーム条件を自動的に設定する機能を設け、試薬ごとに試薬メーカが推奨する値等を予め自動的に設定しても良い。
なお、ユーザーは、不図示の別画面を通じ、測定したい血液のサンプル番号とサンプルディスク中のサンプルポジションの対応関係を指定すると共に、検査項目も指定する。
[自動分析装置の処理動作]
図10に、本実施例に係る自動分析装置において実行される処理動作の一例を示す。図10は、自動分析装置による濃度の測定開始から定量結果が表示されるまでの一連の処理動作を表している。
前処理として、制御回路23は、分析条件や検査項目が設定されたか否かを判定する。分析条件や検査項目の設定が確認されると、制御回路23は、自動分析装置の各部を制御し、ユーザーにより指定された所定のサンプル濃度の測定を開始する(ステップS1001)。測定の開始と共に、受光角度別に散乱光強度が測定され、測定された散乱光強度が時系列データ(すなわち、反応過程データ)としてデータ格納部2601に保存される。
次に、解析部2602は、反応過程データから所定の測定ポイントを読み出して光量差を計算し、演算値として出力する(ステップS1002)。この演算値もデータ格納部2601に保存される。また、解析部2602は、計算された演算値と検量線データとを照合し、被測定物質の濃度を定量する。
この後、解析部2602は、演算値が定量下限以下か否かを判定する(ステップS1003)。演算値が定量下限以下であった場合、解析部2602は、出力部28を通じ、定量結果とともに定量下限以下である旨を画面表示する(ステップS1004)。
一方、演算値が定量下限超であった場合、解析部2602は、第一受光角度(例えば20°)の演算値と第二受光角度(例えば30°)の演算値の比(散乱光強度比)を計算し、演算値比(散乱光強度比)が正常範囲内か否かを判定する(ステップS1005)。この実施例の場合、演算値比(散乱光強度比)は、受光角度30°に対応する演算値を、受光角度20°に対応する演算値で除算することにより算出する。
演算値比(散乱光強度比)が正常範囲内の場合、解析部2602は、出力部28を通じ、定量結果を画面表示する。なお、定量結果に異物反応の影響が含まれない旨や演算値比(散乱光強度比)についても、同時に画面表示しても良い。
これに対し、演算値比(散乱光強度比)が正常範囲外の場合、解析部2602は、定量結果と共に定量結果に異物反応の影響が含まれることを示すアラームを表示する。
[結果表示画面]
図11に、結果表示画面の一例を示す。結果表示画面1101は、サンプル番号1102、サンプルポジション1103、定量結果1104、結果詳細1105で構成される。図11の場合、サンプル番号1102は「3125」であり、サンプルディスク上の位置を与えるサンプルポジション1103は「25」であることを示している。
なお、定量結果1104は、検査項目、定量結果値、アラームを表示項目として有している。本実施例では、検査項目が「CRP」であり、定量結果値が「0.5mg/dL」であることが示されている。また、濃度測定に使用した受光角度が30°であることも示されている。また、この定量結果は、異物反応の影響を含む異常測定であるため、アラームの報知欄には「!」が表示されている。アラームは、演算値が定量下限以下の場合だけでなく、散乱光強度比が正常範囲に存在しない場合にも表示される。勿論、アラームの表示には、別の記号やマークを使用しても良い。
アラームの報知欄には、例えば「定量下限以下」、「角度比異常」、「異物反応影響あり」など具体的な言葉で示しても良い。この表示形態により、アラームの内容を定量的かつ分かりやすく表示することができる。結果的に、ユーザーは、なぜアラームが表示されたかを具体的に理解し易くなる。なお、定量結果値が正常測定により得られた場合には、このアラームの報知欄は空白でも良いし、例えば「正常」など具体的な言葉で示しても良い。
結果詳細1105には、アラーム種別とその結果(内容)が表示項目として示される。図11は、アラーム種別が「演算値比」に基づくことを表しており、具体的には、演算値が「0.13」であることを表している。勿論、アラームの原因が「定量下限以下」の場合には、「定量下限以下」との表示と共に、その際に算出された演算値が表示される。
[正常範囲の説明]
最後に、具体的な測定結果について正常範囲内にある反応と正常範囲外の反応との関係を示す。図12に、サンプル中に含まれるCRP濃度が一定範囲で異なる全60回の反応について、20°の演算値と、30°/20°演算値比(散乱光強度比)の関係を示す。図12は横軸が受光角度20°に対応する演算値であり、縦軸が散乱光強度比である。なお、グラフ中のマークは個々の反応を表している。
図12の場合には、定量下限を20°演算値の「20」に定めている。従って、演算値が「20」以下の反応(図中、演算値の「20」より左側にマッピングされた反応は、定量下限以下としてアラームの表示対象となる。一方、演算値が「20」を超える場合でも、演算値比(散乱光強度比)が正常とみなされる範囲は、図12の場合、2本の閾値線で挟まれた0.5から0.9の範囲である。従って、図12の例は、演算値の比(散乱光強度比)が正常範囲からはずれる反応が2つあることを表している。
以上の実施例に係る自動分析装置を用いれば、散乱光測定法により定量された結果が、測定値として信頼性が高いか否かをユーザーに通知することができる。これにより、信頼性の低い定量結果が得られたサンプルについては再測定を実行すること等により、信頼性を一段と向上させることができる。
また、本実施例の場合には、画面表示を通じて、アラームが出力される原因の種別やその際の測定結果等を画面上で確認することができる。この機能の搭載により、ユーザーは、アラームが出力された原因を確認することができる。
〔他の実施例〕
本発明は上述した実施例に限定されるものでなく、様々な変形例が含まれる。例えば、上述した実施例は、本発明を分かりやすく説明するために詳細に説明したものであり、必ずしも説明した全ての構成を備えるものに限定されるものではない。また、ある実施例の一部を他の実施例の構成に置き換えることが可能であり、また、ある実施例の構成に他の実施例の構成を加えることも可能である。また、各実施例の構成の一部に他の構成を追加、又は構成の一部を削除、又は構成の一部を他の構成に置換することも可能である。
また、上述した各構成、機能、処理部、処理手段等は、それらの一部又は全部を、例えば集積回路その他のハードウェアとして実現しても良い。また、上記の各構成、機能等は、プロセッサがそれぞれの機能を実現するプログラムを解釈し、実行することにより実現しても良い。すなわち、ソフトウェアとして実現しても良い。各機能を実現するプログラム、テーブル、ファイル等の情報は、メモリやハードディスク、SSD(Solid State Drive)等の記憶装置、ICカード、SDカード、DVD等の記憶媒体に格納することができる。
また、制御線や情報線は、説明上必要と考えられるものを示すものであり、製品上必要な全ての制御線や情報線を表すものでない。実際にはほとんど全ての構成が相互に接続されていると考えて良い。
1 サンプル
2 サンプルカップ
3 サンプルディスク
4 試薬
5 試薬ボトル
6 試薬ディスク
7 反応液
8 セル
9 反応ディスク
10 サンプル分注機構
11 試薬分注機構
12 攪拌部
13 吸光度測定部
14 洗浄部
15 恒温流体
16 散乱光測定部
160 光源
161 受光器
162 受光器
17 光源
18 照射光
19 透過光
20 透過光受光器
21a,21b 散乱光
22a,22b 散乱光受光器
23 制御回路
24 吸光度測定回路
25 散乱光測定回路
26 データ処理部
261 第1データ処理部
262 第2データ処理部
2601 データ格納部
2602 解析部
27 入力部
28 出力部

Claims (9)

  1. 光を反応液に照射する光源と、
    前記反応液から発生した散乱光をそれぞれ異なる受光角度で受光する複数の受光器と、
    いずれか一つの前記受光器において測定された反応過程データを処理し、反応液内の物質濃度を定量する第1のデータ処理部と、
    複数の前記受光器で測定された複数の反応過程データについてそれぞれ算出された複数の演算値の比に基づいて、物質濃度の定量が正常に行われたものか否かを判定する第2のデータ処理部と
    を有する自動分析装置。
  2. 請求項1に記載の自動分析装置において、
    前記複数の受光角度が、いずれも35°以下の角度から選択される
    ことを特徴とする自動分析装置。
  3. 請求項1に記載の自動分析装置において、
    前記第2のデータ処理部は、物質濃度の定量が正常に行われたものでない場合、アラームを画面表示する
    ことを特徴とする自動分析装置。
  4. 請求項3に記載の自動分析装置において、
    前記第2のデータ処理部は、アラームを画面表示する場合、アラームの出力原因を示すアラーム種とその際に算出された演算値又は複数の演算値の比を画面表示する
    ことを特徴とする自動分析装置。
  5. 請求項3に記載の自動分析装置において、
    前記複数の受光器で測定された複数の反応過程データに対応する演算値の比の正常範囲を与える最小値と最大値をアラーム条件として設定入力するための設定画面を有する
    ことを特徴とする自動分析装置。
  6. 請求項3に記載の自動分析装置において、
    前記第1のデータ処理部により定量された濃度の信頼性を担保可能な下限値をアラーム条件として設定入力するための設定画面を有する
    ことを特徴とする自動分析装置。
  7. 請求項1に記載の自動分析装置において、
    前記複数の受光器は、1つのリニアアレイを構成する受光器の一部である
    ことを特徴とする自動分析装置。
  8. サンプルと試薬が混合された反応液を収容するセルを保持する反応ディスクと、
    光を前記セル内の反応液に照射する光源と、
    前記反応液から発生した散乱光をそれぞれ異なる受光角度で受光する複数の受光器と、
    いずれか一つの受光器において測定された反応過程データを処理し、反応液内の物質濃度を定量する第1のデータ処理部と、
    物質濃度を定量する際に使用する検量線データを格納する第1の格納部と、
    複数の受光器で測定された複数の反応過程データについてそれぞれ算出された複数の演算値の比に基づいて、物質濃度の定量が正常に行われたものか否かを判定する第2のデータ処理部と、
    前記定量結果の正常範囲を与える前記複数の演算値の比の最大値と最小値を格納する第2の格納部と、
    少なくとも前記定量結果を出力する出力部と
    を有する自動分析装置。
  9. 反応液に光を照射し、散乱光を発生させるステップと、
    発生された散乱光をそれぞれ異なる受光角度で受光する複数の受光器から出力される測定結果を反応過程データとして格納部に逐次格納するステップと、
    いずれか一つの受光器において測定された反応過程データを処理し、反応液内の物質濃度を定量するステップと、
    前記複数の受光器で測定された複数の反応過程データについてそれぞれ算出された複数の演算値の比に基づいて、物質濃度の定量が正常に行われたものか否かを判定するステップと
    を有する自動分析方法。
JP2012161846A 2012-07-20 2012-07-20 自動分析装置及び自動分析方法 Active JP5948173B2 (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012161846A JP5948173B2 (ja) 2012-07-20 2012-07-20 自動分析装置及び自動分析方法
US14/414,782 US9557264B2 (en) 2012-07-20 2013-06-14 Automatic analysis device, and automatic analysis method
CN201380038592.XA CN104471381B (zh) 2012-07-20 2013-06-14 自动分析装置以及自动分析方法
PCT/JP2013/066483 WO2014013823A1 (ja) 2012-07-20 2013-06-14 自動分析装置及び自動分析方法
EP13820458.1A EP2876433B1 (en) 2012-07-20 2013-06-14 Automatic analysis device and method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012161846A JP5948173B2 (ja) 2012-07-20 2012-07-20 自動分析装置及び自動分析方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2014021008A true JP2014021008A (ja) 2014-02-03
JP5948173B2 JP5948173B2 (ja) 2016-07-06

Family

ID=49948658

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012161846A Active JP5948173B2 (ja) 2012-07-20 2012-07-20 自動分析装置及び自動分析方法

Country Status (5)

Country Link
US (1) US9557264B2 (ja)
EP (1) EP2876433B1 (ja)
JP (1) JP5948173B2 (ja)
CN (1) CN104471381B (ja)
WO (1) WO2014013823A1 (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2016136464A1 (ja) * 2015-02-27 2016-09-01 株式会社 日立ハイテクノロジーズ 分析装置およびその分析方法
US9506942B2 (en) 2011-12-26 2016-11-29 Hitachi High-Technologies Corporation Automatic analyzer and method for detecting measurement value abnormalities
WO2018016252A1 (ja) * 2016-07-19 2018-01-25 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置及び自動分析方法
WO2018105607A1 (ja) 2016-12-09 2018-06-14 コニカミノルタ株式会社 測定装置、測定異常検知方法、およびプログラム

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6658091B2 (ja) * 2016-02-29 2020-03-04 株式会社島津製作所 分析測定装置システム
CN110892270B (zh) * 2017-07-25 2021-10-26 株式会社日立高新技术 自动分析装置
WO2020133257A1 (zh) * 2018-12-28 2020-07-02 深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司 处理测量对象的检测值的方法、血细胞分析仪及存储介质
JP7229363B2 (ja) * 2019-08-05 2023-02-27 株式会社日立ハイテク 自動分析装置
CN112444634A (zh) * 2019-08-30 2021-03-05 深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司 一种样本分析装置及其报警方法
JP7447774B2 (ja) * 2020-11-30 2024-03-12 株式会社島津製作所 ガス分析装置およびガス分析装置の状態検出方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04250342A (ja) * 1991-01-28 1992-09-07 Shimadzu Corp 油分濃度測定装置
JP2011174842A (ja) * 2010-02-25 2011-09-08 Hitachi High-Technologies Corp 自動分析装置
JP2012007921A (ja) * 2010-06-23 2012-01-12 Hitachi High-Technologies Corp 自動分析装置および自動分析方法

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4234539A (en) * 1979-08-23 1980-11-18 Coulter Electronics, Inc. Apparatus for monitoring chemical reactions and employing moving photometer means
DE2804881C3 (de) * 1978-02-04 1980-08-07 Fa. Carl Zeiss, 7920 Heidenheim Gerät zur automatischen Analyse von flüssigen Proben
JPS5925460B2 (ja) * 1978-05-19 1984-06-18 株式会社日立製作所 ネフェロメトリック・イムノアッセイ法及び装置
JPS55136957A (en) * 1979-04-14 1980-10-25 Olympus Optical Co Ltd Automatic analyzer
JPS5782769A (en) 1980-11-10 1982-05-24 Hitachi Ltd Automatic analyzing device
FR2521304A1 (fr) * 1982-02-09 1983-08-12 Rhone Poulenc Sa Appareil automatise pour la realisation de dosages biologiques, biochimiques ou physico-chimiques
US4647432A (en) * 1982-11-30 1987-03-03 Japan Tectron Instruments Corporation Tokuyama Soda Kabushiki Kaisha Automatic analysis apparatus
US6469311B1 (en) * 1997-07-16 2002-10-22 Molecular Devices Corporation Detection device for light transmitted from a sensed volume
DE19948587A1 (de) 1999-10-08 2001-04-12 Dade Behring Marburg Gmbh Spektralphotometrische und nephelometrische Detektionseinheit
JP4349893B2 (ja) * 2003-12-05 2009-10-21 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置及び自動分析装置の分析方法
JP5380123B2 (ja) 2009-03-25 2014-01-08 株式会社日立ハイテクノロジーズ サンプル分析装置
JP5308212B2 (ja) * 2009-03-31 2013-10-09 株式会社日立ハイテクノロジーズ ディスク表面欠陥検査方法及び装置
EP2453224A4 (en) * 2009-07-10 2015-05-27 Hitachi High Tech Corp AUTOMATIC ANALYZER
JP5513040B2 (ja) 2009-08-28 2014-06-04 シスメックス株式会社 自動分析装置
JP5822534B2 (ja) * 2011-05-13 2015-11-24 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04250342A (ja) * 1991-01-28 1992-09-07 Shimadzu Corp 油分濃度測定装置
JP2011174842A (ja) * 2010-02-25 2011-09-08 Hitachi High-Technologies Corp 自動分析装置
JP2012007921A (ja) * 2010-06-23 2012-01-12 Hitachi High-Technologies Corp 自動分析装置および自動分析方法

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9506942B2 (en) 2011-12-26 2016-11-29 Hitachi High-Technologies Corporation Automatic analyzer and method for detecting measurement value abnormalities
WO2016136464A1 (ja) * 2015-02-27 2016-09-01 株式会社 日立ハイテクノロジーズ 分析装置およびその分析方法
JPWO2016136464A1 (ja) * 2015-02-27 2017-12-21 株式会社日立ハイテクノロジーズ 分析装置およびその分析方法
WO2018016252A1 (ja) * 2016-07-19 2018-01-25 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置及び自動分析方法
JPWO2018016252A1 (ja) * 2016-07-19 2019-05-16 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置及び自動分析方法
WO2018105607A1 (ja) 2016-12-09 2018-06-14 コニカミノルタ株式会社 測定装置、測定異常検知方法、およびプログラム
US11397150B2 (en) 2016-12-09 2022-07-26 Otsuka Pharmaceutical Co., Ltd. Measuring device, measurement abnormality detecting method, and program

Also Published As

Publication number Publication date
EP2876433A1 (en) 2015-05-27
CN104471381B (zh) 2016-09-28
US20150219556A1 (en) 2015-08-06
CN104471381A (zh) 2015-03-25
US9557264B2 (en) 2017-01-31
EP2876433B1 (en) 2022-10-05
EP2876433A4 (en) 2016-07-13
WO2014013823A1 (ja) 2014-01-23
JP5948173B2 (ja) 2016-07-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5948173B2 (ja) 自動分析装置及び自動分析方法
JP5613298B2 (ja) 自動分析装置
JP5740264B2 (ja) 自動分析装置及び分析方法
JP6013796B2 (ja) 自動分析装置及び試料測定方法
US10976333B2 (en) Automatic analysis device and automatic analysis method
JP6134210B2 (ja) 自動分析装置及び自動分析方法
JP5296015B2 (ja) 自動分析装置
US9459271B2 (en) Analyzer and automatic analyzer
US9645160B2 (en) Automatic analysis device
JP6437390B2 (ja) 自動分析装置
JP6031552B2 (ja) 自動分析装置及び分析方法
JP6576843B2 (ja) 自動分析装置及びその散乱光測定光学系評価用標準液
JP6313960B2 (ja) 自動分析装置
JP6138564B2 (ja) 自動分析装置
JP6657016B2 (ja) 自動分析装置
WO2016129029A1 (ja) 自動分析装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20150202

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20151104

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20151222

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20160517

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20160606

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5948173

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350