JP2014020952A - 光学特性測定装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】面光源などの測定に適した光学特性測定装置を提供する。
【解決手段】光学特性測定装置は、内壁に反射面を有する半球部と、半球部の開口を塞ぐように配置され、半球部の内壁側に反射面を有する平面部とを含む。平面部は、半球部の実質的な曲率中心を含む範囲に光源を装着するための第1の窓を含む。半球部および平面部の少なくとも一方は、所定の規則性をもって配置された、半球部の内部から光を取り出すための複数の第2の窓を含む。
【選択図】図5

Description

本発明は、面光源などの測定に適した光学特性測定装置に関する。
近年、LED(Light Emitting Diode)やEL(Electro Luminescence)等の新しい光源の開発が急速に進んでいる。このような光源の性能を評価する指標として、全光束(lm:ルーメン)が用いられることが多い。
このような光源の全光束を測定する場合には、硫酸バリウムやPTFE(polytetrafluoroethylene)等の拡散反射材料を内壁面に塗布した中空の球である、積分球(球形光束計)が用いられることが一般的である。積分球を用いる測定方法では、その中心に配置した光源を点灯させ、その光源から放射される光が内壁面で繰り返し反射することで、内壁面の照度が均一化する。均一化した内壁面の照度が光源の全光束に比例することを利用して、光源の全光束が算出される。
しかしながら、積分球を用いる測定方法では、積分球内部の中心に光源が配置されるため、光源を支持するための構造物での光吸収、光源から受光部への直接入射を防止するためのバッフルでの光吸収、および光源自身の光吸収などによって、測定誤差が生じ得る。
例えば、JIS C 8152:2007「照明用白色発光ダイオード(LED)の測光方法」(非特許文献1)によれば、光源の自己吸収補正係数を求める方法の使用が推奨されている。但し、この方法では、光源を支持するための構造物およびバッフルでの光吸収を補正することはできない。
特開平06−167388号公報(特許文献1)、および特開2009−103654号公報(特許文献2)は、半球型の光束計を開示する。この半球型の光束計によれば、光源を支持するための構造物が不要になるので、構造物の光吸収による影響を回避できる。また、半球型の光束計では、特開2009−103654号公報(特許文献2)に開示されるように、光源の自己吸収による誤差の補正を簡単な構成で実現することもできる。
特開平06−167388号公報 特開2009−103654号公報
JIS C 8152:2007、照明用白色発光ダイオード(LED)の測光方法(Measuring methods of white lighting emitting diode for general lighting)、2007年7月
例えば、複数の発光素子をアレイ状に配置することで面光源を構成することができる。本願発明者らは、面光源の中央部にある発光素子と端部にある発光素子との間では、観測窓に対する位置関係が異なっており、このような面光源を測定する際に測定誤差が生じ得るという新規な課題を見いだした。
本発明は、このような課題を解決するためになされたものであって、その目的は、面光源などの測定に適した光学特性測定装置を提供することである。
本発明のある局面に従う光学特性測定装置は、内壁に反射面を有する半球部と、半球部の開口を塞ぐように配置され、半球部の内壁側に反射面を有する平面部とを含む。平面部は、半球部の実質的な曲率中心を含む範囲に光源を装着するための第1の窓を含む。半球部および平面部の少なくとも一方は、所定の規則性をもって配置された、半球部の内部から光を取り出すための複数の第2の窓を含む。
好ましくは、複数の第2の窓は、半球部の頂点および実質的な曲率中心を通る直線に関して、対称的に配置される。
好ましくは、複数の第2の窓は、半球部の頂点および実質的な曲率中心を通る直線に関して対向する一対の窓を含む。
好ましくは、複数の第2の窓は、半球部に配置され、半球部は、第2の窓の視野に関連付けられるとともに、半球部の実質的な曲率中心により近い位置に配置されたバッフルを含む。
好ましくは、光学特性測定装置は、複数の第2の窓を介して半球部の内部の光を受光するための受光部をさらに含む。
さらに好ましくは、光学特性測定装置は、複数の第2の窓と受光部とを光学的に接続する導光部をさらに含む。導光部は、複数の第2の窓のそれぞれからの光を結合する合波部を含む。
本発明の別の局面に従う光学特性測定装置は、光源を装着するための第1の窓が形成されるとともに、内壁に反射面を有する球体を含む。球体は、球体の中心および第1の窓の中心を通る直線に関して、対称的に配置された、球体の内部から光を取り出すための複数の第2の窓を含む。
好ましくは、光学特性測定装置は、複数の第2の窓を介して球体の内部の光を受光する受光部をさらに含む。
本発明のある局面に従う光学特性測定装置によれば、面光源などの全光束測定をより高い精度で行なうことができる。
本発明の関連技術に従う半球型の積分器を含む光学特性測定装置の外観を示す模式図である。 図1に示す光学特性測定装置において測定される光源の一例を示す模式図である。 図1に示す光学特性測定装置における受光感度の異方性をシミュレーションするための光学モデルを示す図である。 図3に示す光学モデルにおける受光感度の異方性の一例を示す図である。 実施の形態1に従う光学特性測定装置の外観を示す模式図である。 実施の形態1に従う光学特性測定装置に含まれる積分器の断面構造を示す模式図である。 図5に示す光学特性測定装置2における受光感度の異方性をシミュレーションするための光学モデルを示す図である。 図7に示す光学モデルにおける受光感度の異方性の一例を示す図である。 実施の形態1の第1変形例に従う光学特性測定装置の外観を示す模式図である。 実施の形態1の第2変形例に従う光学特性測定装置の外観を示す模式図である。 実施の形態1の第3変形例に従う光学特性測定装置の外観を示す模式図である。 実施の形態1の第3変形例に従う光学特性測定装置に含まれる積分器の断面構造を示す模式図である。 実施の形態2に従う光学特性測定装置の外観を示す模式図である。 実施の形態2に従う光学特性測定装置に含まれる積分球の断面構造を示す模式図である。 図13および図14に示す光学特性測定装置における受光感度の異方性をシミュレーションするための光学モデルを示す図である。 実施の形態2の一変形例に従う光学特性測定装置の外観を示す模式図である。
本発明の実施の形態について、図面を参照しながら詳細に説明する。なお、図中の同一または相当部分については、同一符号を付してその説明は繰返さない。
[A.概要]
本実施の形態に従う光学特性測定装置では、複数の観測窓が設けられた積分空間を用いて測定を行なう。複数の観測窓を設けることで、測定対象の光源の大きさに依存して生じる照度のばらつきを均一化する。すなわち、複数の観測窓を設けることで、受光感度の異方性を低減する。
[B.関連技術および課題]
まず、本発明に関連する光学特性測定装置について説明する。図1は、本発明の関連技術に従う半球型の積分器を含む光学特性測定装置1の外観を示す模式図である。
図1を参照して、光学特性測定装置1は、半球型の積分器400と、積分器400の内部の光を受光するための受光部300と、受光部300を制御するための制御部350とを含む。測定対象の光源10(被測定光源)は、積分器400に設けられた光源窓404に装着される。光源10の点灯により生じた光は、積分器400の内部で繰り返し反射し、これによって、積分器400の内壁面の照度は均一化する。この均一化された照度を測定することで、光源10からの全光束が算出される。
より具体的には、積分器400は、内壁に反射面を有する半球部402と、半球部402の開口を塞ぐように配置され、半球部402の内壁側に反射面を有する平面部406とを含む。半球部402は、その内壁の反射面として、拡散反射層を有する。拡散反射層は、代表的に、硫酸バリウムやPTFE(polytetrafluoroethylene)などの拡散材料を塗布または吹付けることによって形成される。一方、平面部406は、半球部402の内壁側に鏡面反射(正反射)する鏡面反射層を有する。
平面部406の鏡面反射層が半球部402の内壁に対向配置されることで、半球部402についての虚像が生成される。平面部406は、半球部402の曲率中心を通るように配置される。平面部406により生成される虚像は、一定の曲率をもつ半球状になる。半球部402の内壁で定義される積分空間(実像)と、平面部406により生成される虚像とを組合せると、球状の積分器を用いた場合と実質的に同じ照度分布を得ることができる。
半球部402には、半球部402の内部から光を取り出すための開口である観測窓410、および観測窓410と連通する取出部412が設けられている。取出部412は、導光手段である光ファイバ408を通じて受光部300と光学的に接続される。受光部300は、観測窓410、取出部412および光ファイバ408の経路で導かれる光を測定する。
半球部402の内壁には、光源10からの光が直接的に観測窓410に入射することを防止するためのバッフル412が設けられている。バッフル412は、観測窓410からの視野内に光源10が含まれないように陰をつくる。
図1に示す光学特性測定装置1は、典型的には、面光源などの全光束測定などに適している。図2は、図1に示す光学特性測定装置1において測定される光源10の一例を示す模式図である。光源10としては、図2の(a)に示すように、方形状の基板上に複数の発光素子(典型的には、LED)がアレイ状に配置されているものや、図2の(b)に示すように、円状の基板上に複数の発光素子がアレイ状に配置されているものが想定される。
このような光源10の測定内容としては、光源10から放射される全光束の測定、および、個々の発光素子(LED)から放射される光束の測定がある。個々の発光素子について測定を行なう場合には、光源10を構成する発光素子を1個ずつ順次点灯させて、測定が行われる。あるいは、各列に属する発光素子群から放射される光束が測定される場合もある。
本願発明者らは、観測窓410に対する位置関係が、光源10の中央部にある発光素子と光源10の端部にある発光素子との間で異なっており、これによって、光源10を測定する際に測定誤差が生じ得るという新規な課題を見いだした。すなわち、複数の発光素子がアレイ状に実装された光源10について、各発光素子を順次点灯して各々の全光束を測定する場合、各発光素子から放射される全光束が互いに同一であったとしても、発光素子の実装位置に依存して測定値が異なるという新規な課題を、本願発明者らは見いだした。すなわち、本願発明者らは、受光感度に異方性が存在し得るという新規な課題を見いだした。
本願発明者らは、このような新規な課題について、次のような光学モデルを用いて、シミュレーションによって解析を行なった。図3は、図1に示す光学特性測定装置1における受光感度の異方性をシミュレーションするための光学モデルを示す図である。図4は、図3に示す光学モデルにおける受光感度の異方性の一例を示す図である。
図3に示す光学モデルにおいて、光源10を構成する発光素子10−1および10−2の配光が相対的に狭い場合を想定する。半球部402の壁面で生じる1次反射光が観測窓410を直接照明する照度を発光素子の位置毎に算出すると、発光素子の位置に依存して変動することがわかる。具体的には、半球部402の半径をrとし、半球部402の曲率中心Oからの距離Xを各発光素子の位置とすると、受光部300へ入力する光(1次反射光および拡散光)は、図4に示すようになる。ここで、発光素子からの全光束は、互いに同一であるとした。このように、受光部300へ入力する光(観測窓410での照度)は、発光素子の位置に依存して異なる。
より詳しく解説すると、半球型の積分器400の内壁で繰り返し反射した光(拡散光)は、発光素子の位置に依存することなく一定である。受光部300は、1次反射光および拡散光を同時に受光する。1次反射光についてみれば、その強度(照度)は発光素子の位置に依存して変動するため、受光部300の出力も発光素子の位置に依存して変動することになる。このように照度が変動する原因は、観測窓410が平面部406の近くに設けられることにより生じる感度の異方性であると考えられる。
本願発明者らは、このような新規な課題を検討し、複数の観測窓を設けることで、このような感度の異方性を緩和できるという新たな技術思想に想到したものである。以下、このような技術思想を具現化したいくつかの実施の形態について説明する。以下に説明する実施の形態はあくまでも例示であって、本願発明の技術範囲はこれらに限定されるものではない。
[C.実施の形態1]
(1.装置構成)
図5は、実施の形態1に従う光学特性測定装置2の外観を示す模式図である。図6は、実施の形態1に従う光学特性測定装置2に含まれる積分器100の断面構造を示す模式図である。
図5および図6を参照して、光学特性測定装置2は、半球型の積分器100と、積分器100の内部の光を受光するための受光部300と、受光部300を制御するための制御部350とを含む。
より具体的には、積分器100は、内壁に反射面102aを有する半球部102と、半球部102の開口を塞ぐように配置され、半球部102の内壁側に反射面106aを有する平面部106とを含む。典型的には、半球部102の反射面102aは、例えば、硫酸バリウムやPTFEなどの拡散材料を塗布または吹付けることによって形成された拡散反射層からなる。平面部106の反射面106aは、アルミ蒸着などによって形成された鏡面反射(正反射)層からなる。平面部106は、半球部102の実質的な曲率中心Oがその表面上に位置するように配置される。
積分器100の平面部106には、半球部102の実質的な曲率中心Oを含む範囲に、測定対象の光源10を装着するための光源窓104が設けられている。この光源窓104には、典型的には面光源などの光源10が装着される。実施の形態1に従う光学特性測定装置2は、面光源などの光学特性(例えば、全光束)の測定に適しているが、これに限られることなく、光源窓104に装着可能ないずれの光源についても光学特性を測定できる。
図1を参照して説明したように、光源10の点灯により生じた光は、積分器100の内部で繰り返し反射し、これによって、積分器100の内壁面の照度は均一化する。この均一化された照度を測定することで、光源10からの全光束が算出される。このように、内壁に反射面102aを有する半球部102と、反射面106aを有する平面部106とを組合せることで、球体の積分器を用いた場合と実質的に同じ照度分布を得ることができる。すなわち、平面部106および半球部102の間に形成される空間と、平面部106によって生成されるこの空間の虚像とを合わせた状態が球体とみなせるように、積分器100は構成される。そのため、「半球部102の実質的な曲率中心」とは、半球部102の全くの曲率中心Oに加えて、上記のように球体の積分球を用いた場合と実質的に等しい照度分布を得ることができる近傍位置をも含む概念である。
半球部102には、積分器100の内部から光を取り出すための開口である観測窓110および120、ならびに観測窓110および120とそれぞれ連通する取出部112および122が設けられている。取出部112は、導光手段である光ファイバ116を通じて受光部300と光学的に接続されるとともに、取出部122は、導光手段である光ファイバ126を通じて受光部300と光学的に接続される。より具体的には、光ファイバ116および126は、合波部109において1つに結合された上で、光ファイバ108を介して、受光部300と光学的に接続される。合波部109は、光ファイバ116を介して導かれる光と、光ファイバ126を介して導かれる光とを結合することで、両者を平均化(積分)する。このような合波部109は、典型的には、複数の光ファイバを束ねたY型ファイバなどを用いて構成される。
このように、光学特性測定装置1は、複数の観測窓110および120を介して、積分器100の内部の光を受光する受光部300を含む。また、光学特性測定装置1は、複数の観測窓110および120と、受光部300とを光学的に接続する接続部(光ファイバ116および126、ならびに光ファイバ108)を含む。この接続部は、複数の観測窓110および120のそれぞれからの光を結合する合波部109を含む。すなわち、複数の観測窓110および120のそれぞれでとらえられた光は、光ファイバなどの導光手段で受光部300へ導かれる。
半球部102の内壁には、観測窓110および120の視野に関連付けられるとともに、半球部102の実質的な曲率中心Oにより近い位置に配置されたバッフル114および124が設けられている。より具体的には、バッフル114および124は、光源10からの光が観測窓110および120へ直接的に入射することを防止する。すなわち、バッフル114および124は、観測窓110および120からの視野内に光源10が含まれないように陰をつくる。言い換えれば、バッフル114および124は、受光部300が光源10からの光を直接受光することを妨げる。
受光部300は、観測窓110および120における照度を測定し、例えば、光源10の全光束を算出する。受光部300は、少なくとも特定の波長にわたる照度を測定するものであってもよいし、相対照度スペクトルを測定するものであってもよい。受光部300は、回折格子および回折格子と光学的に関連付けられたラインセンサ等を含む。分光測定可能な受光部300を採用することで、全光束に加えて、色度、相関色温度、演色性といった光源としての性能評価などを行なうこともできる。
制御部350は、受光部300に対して、測定開始や測定内容などの指示を与えるとともに、受光部300での測定結果などを外部出力する。なお、光源10の全光束を算出する計算自体は、制御部350が実行するようにしてもよい。制御部350は、典型的には、汎用コンピュータで実現される。すなわち、制御部350は、プロセッサ、メモリ、ハードディスクといったエレメントからなる。プロセッサがプログラムを実行することで、光学特性測定装置2で必要な各種処理が実現される。
図5および図6に示す実施の形態1に従う光学特性測定装置2では、一例として、半球部102に、2つの観測窓110および120が設けられている。これらの観測窓110および120は、積分器100の内部から光を取り出すために、所定の規則性をもって配置されている。より具体的には、半球部102の中心軸AX1に関して、観測窓110と観測窓120とは互いに対向した位置に設けられる。すなわち、観測窓110および120は、半球部102の頂点および実質的な曲率中心Oを通る直線(中心軸AX1)に関して、対称的に配置される。
別の言い方をすれば、半球部102の中心軸AX1に垂直な面と半球部102とが交わる位置であって、半球部102の中心軸AX1に関して点対象となる位置に、観測窓110および120が設けられる。
(2.シミュレーションによる効果の検証)
次に、上述の実施の形態1に従う光学特性測定装置2により感度の異方性が緩和されることをシミュレーションにより検証した結果を示す。図7は、図5に示す光学特性測定装置2における受光感度の異方性をシミュレーションするための光学モデルを示す図である。図8は、図7に示す光学モデルにおける受光感度の異方性の一例を示す図である。図7および図8のシミュレーションにおいても、光源10を構成する発光素子の配光が相対的に狭い場合を想定する。図8には、図4に示す関連技術に従う光学特性測定装置1でのシミュレーション結果をあわせて示す。
関連技術に従う光学特性測定装置1では、1つの観測窓410のみが設けられており、この場合には、図8に示すように、曲率中心Oから直径の20%に相当する距離だけ離れた位置において、受光部300へ入力する光は1.5%程度変動する。これに対して、実施の形態1に従う光学特性測定装置2では、半球部102の曲率中心Oに関して対向するように、2つの観測窓110および120が設けられている。このような構成を採用することで、図8に示すように、曲率中心Oから直径の20%に相当する距離だけ離れた位置における受光部300へ入力する光の変動は、0.3%以内に抑制されている。
また、曲率中心Oから直径の35%に相当する距離だけ離れた位置における受光部300へ入力する光の変動についてみれば、関連技術に従う光学特性測定装置1では、3%程度であるのに対して、実施の形態1に従う光学特性測定装置2では、1%以内に抑制されていることがわかる。
(3.まとめ)
実施の形態1に従う光学特性測定装置1は、半球部102と平面部106とで構成された積分器100を含む。積分器100では、平面部106に近接した、半球部102の曲面上に、半球部102の実質的な曲率中心Oに関して対向するように観測窓110および120が配置される。これらの観測窓110および120を介して測定される照度の合成値を用いることで、受光感度の異方性を低減できる。すなわち、半球部102の曲率中心Oから離れた位置にある光源についても、より正確に、その光学特性を測定できる。言い換えれば、光源窓104に装着された光源10の位置の偏りによって生じる、半球部102の内壁における空間的な照度ムラに起因する測定誤差を低減できる。
また、実施の形態1に従う光学特性測定装置1において、観測窓110および120からそれぞれ取り出された光は合波部109で光学的に平均化(積分)されるので、1つの観測窓が設けた場合と同様の受光処理を採用することができる。
[D.実施の形態1の第1変形例]
上述の実施の形態1においては、半球部102に、2つの観測窓110および120が設けられている光学特性測定装置2について例示した。受光感度の異方性を緩和するためには、より多くの観測窓を設けてもよい。以下、半球部に4つの観測窓が設けられた光学特性測定装置3について例示する。
図9は、実施の形態1の第1変形例に従う光学特性測定装置3の外観を示す模式図である。図9を参照して、光学特性測定装置3は、半球型の積分器100Aと、積分器100Aの内部の光を受光するための受光部300と、受光部300を制御するための制御部350とを含む。
より具体的には、積分器100Aは、内壁に反射面を有する半球部102と、半球部102の開口を塞ぐように配置され、半球部102の内壁側に反射面を有する平面部106とを含む。平面部106は、半球部102の実質的な曲率中心Oがその表面上に位置するように配置される。積分器100Aは、観測窓の数を除いて、図5に示す積分器100と同様の構成を有するので、共通部分についての詳細な説明は繰返さない。
半球部102には、積分器100Aの内部から光を取り出すための開口である観測窓110、120、130、140、および観測窓110、120、130、140とそれぞれ連通する取出部112、122、132、142が設けられている。
半球部102の内壁には、さらに、観測窓110、120、130、140の視野にそれぞれ関連付けられるとともに、半球部102の実質的な曲率中心Oにより近い位置に配置されたバッフル114、124、134、144が設けられている。より具体的には、バッフル114、124、134、144は、光源10からの光が観測窓110、120、130、140へ直接的に入射することを防止する。
取出部112、122、132、142は、導光手段である光ファイバ116、126、136、146を通じて受光部300とそれぞれ光学的に接続される。より具体的には、光ファイバ116、126、136、146は、合波部109Aにおいて1つに結合された上で、光ファイバ108を介して、受光部300と光学的に接続される。合波部109Aは、光ファイバ116、126、136、146を介して導かれるそれぞれの光同士を結合することで、これらの光を平均化(積分)する。このような合波部109Aは、典型的には、複数の光ファイバを束ねたY型ファイバなどを用いて構成される。
このように、光学特性測定装置3において、受光部300は、複数の観測窓110、120、130、140を介して、積分器100Aの内部の光を受光する。光学特性測定装置3は、複数の観測窓110、120、130、140と、受光部300とを光学的に接続する接続部(光ファイバ116、126、136、146および光ファイバ108)を含む。この接続部は、複数の観測窓110、120、130、140のそれぞれからの光を結合する合波部109Aを含む。すなわち、複数の観測窓110、120、130、140のそれぞれでとらえられた光は、光ファイバなどの導光手段で受光部300へ導かれる。
図9に示す実施の形態1の第1変形例に従う光学特性測定装置3では、4つの観測窓110、120、130、140が半球部102に設けられている。これらの観測窓110、120、130、140は、積分器100Aの内部から光を取り出すために、所定の規則性をもって配置されている。より具体的には、半球部102の中心軸AX1に関して、観測窓110と観測窓120とが互いに対向した位置に設けられ、観測窓130と観測窓140とが互いに対向した位置に設けられる。すなわち、積分器100Aは、半球部102の頂点および実質的な曲率中心Oを通る直線(中心軸AX1)に関して、対向する一対の観測窓(観測窓110と観測窓120との組、および、観測窓130と観測窓140との組)を有する。
別の言い方をすれば、観測窓110、120、130、140は、半球部102の中心軸AX1に垂直な面と半球部102との交線上の位置であって、ある隣接する2つの位置が半球部102の中心軸AX1に対してなす角と、他の隣接する2つの位置が半球部102の中心軸AX1に対してなす角とが互いに一致する(図9では、90°)ような位置に配置される。図9に示す例では、観測窓110および観測窓120を通る光軸と、観測窓130および観測窓140を通る光軸とは、直交することになる。
実施の形態1の第1変形例では、実施の形態1に比較して、より多くの観測窓が設けられるので、受光感度の異方性をより低減できる。これによって、半球部102の曲率中心Oから離れた位置にある光源についても、より正確に、その光学特性を測定できる。言い換えれば、光源窓104に装着された光源10の位置の偏りによって生じる、半球部102の内壁における空間的な照度ムラに起因する測定誤差をより低減できる。
[E.実施の形態1の第2変形例]
上述の実施の形態1および第1変形例においては、対向配置された一対の観測窓が1つまたは複数設けられた構成について例示した。但し、受光感度の異方性を緩和するための規則性を有していれば、観測窓を対向配置しなくともよい。以下、半球部に3つの観測窓が対称性をもって配置された光学特性測定装置4について例示する。
図10は、実施の形態1の第2変形例に従う光学特性測定装置4の外観を示す模式図である。図10を参照して、光学特性測定装置4は、半球型の積分器100Bと、積分器100Bの内部の光を受光するための受光部300と、受光部300を制御するための制御部350とを含む。
より具体的には、積分器100Bは、内壁に反射面を有する半球部102と、半球部102の開口を塞ぐように配置され、半球部102の内壁側に反射面を有する平面部106とを含む。平面部106は、半球部102の実質的な曲率中心Oがその表面上に位置するように配置される。積分器100Bは、観測窓の数を除いて、図5に示す積分器100と同様の構成を有するので、共通部分についての詳細な説明は繰返さない。
半球部102Bには、半球部102Bの内部から光を取り出すための開口である観測窓110、150、160、および観測窓110、150、160とそれぞれ連通する取出部112、152、162が設けられている。
半球部102の内壁には、さらに、観測窓110、150、160の視野にそれぞれ関連付けられるとともに、半球部102の実質的な曲率中心Oにより近い位置に配置されたバッフル114、154、164が設けられている。より具体的には、バッフル114、154、164は、光源10からの光が観測窓110、150、160へ直接的に入射することを防止する。
取出部112、152、162は、導光手段である光ファイバ116、156、166を通じて受光部300とそれぞれ光学的に接続される。より具体的には、光ファイバ116、156、166は、合波部109Bにおいて1つに結合された上で、光ファイバ108を介して、受光部300と光学的に接続される。合波部109Bは、光ファイバ116、156、166を介して導かれるそれぞれの光同士を結合することで、これらの光を平均化(積分)する。このような合波部109Bは、典型的には、複数の光ファイバを束ねたY型ファイバなどを用いて構成される。
このように、光学特性測定装置4において、受光部300は、複数の観測窓110、150、160を介して、積分器100Bの内部の光を受光する。光学特性測定装置4は、複数の観測窓110、150、160と、受光部300とを光学的に接続する接続部(光ファイバ116、156、166および光ファイバ108)を含む。この接続部は、複数の観測窓110、150、160のそれぞれからの光を結合する合波部109Bを含む。すなわち、複数の観測窓110、150、160のそれぞれでとらえられた光は、光ファイバなどの導光手段で受光部300へ導かれる。
図10に示す実施の形態1の第2変形例に従う光学特性測定装置4では、3つの観測窓110、150、160が半球部102に設けられている。これらの観測窓110、150、160は、積分器100Bの内部から光を取り出すために、所定の規則性をもって配置されている。より具体的には、積分器100Bは、半球部102の頂点および実質的な曲率中心Oを通る直線(中心軸AX1)に関して、互いに対称性を有して配置された、観測窓110、150、160を有する。
別の言い方をすれば、観測窓110、150、160は、半球部102の中心軸AX1に垂直な面と半球部102との交線上の位置であって、ある隣接する2つの位置が半球部102の中心軸AX1に対してなす角と、他の隣接する2つの位置が半球部102の中心軸AX1に対してなす角とが互いに一致する(図9では、120°)ような位置に配置される。
実施の形態1の第2変形例では、実施の形態1に比較して、より多くの観測窓が設けられるので、受光感度の異方性をより低減できる。これによって、半球部102の曲率中心Oから離れた位置にある光源についても、より正確に、その光学特性を測定できる。言い換えれば、光源窓104に装着された光源10の位置の偏りによって生じる、半球部102の内壁における空間的な照度ムラに起因する測定誤差をより低減できる。
[F.実施の形態1の第3変形例]
上述の実施の形態1ならびに第1変形例および第2変形例においては、半球部102に観測窓が複数設けられた構成について例示した。但し、観測窓を設ける位置は半球部102に限られない。以下、平面部に2つの観測窓が対称性をもって配置された光学特性測定装置5について例示する。
図11は、実施の形態1の第3変形例に従う光学特性測定装置5の外観を示す模式図である。図12は、実施の形態1の第3変形例に従う光学特性測定装置5に含まれる積分器100Cの断面構造を示す模式図である。
図11および図12を参照して、光学特性測定装置5は、半球型の積分器100Cと、積分器100Cの内部の光を受光するための受光部300と、受光部300を制御するための制御部350とを含む。
より具体的には、積分器100Cは、内壁に反射面を有する半球部102と、半球部102の開口を塞ぐように配置され、半球部102の内壁側に反射面を有する平面部106とを含む。平面部106は、半球部102の実質的な曲率中心Oがその表面上に位置するように配置される。積分器100Cは、観測窓の位置を除いて、図5に示す積分器100と同様の構成を有するので、共通部分についての詳細な説明は繰返さない。
平面部106には、積分器100Cの内部から光を取り出すための開口である観測窓170および180、ならびに観測窓170および180とそれぞれ連通する取出部172および182が設けられている。積分器100Cにおいては、観測窓170および180に関連付けられるバッフルを設ける必要はない。これは、観測窓170および180と、光源10とが同一平面上にあるため、バッフルがなくとも、光源10からの光が観測窓170および180へ直接的に入射することを防止できるからである。なお、外乱光をより低減するためには、バッフルを設けることが好ましい。
取出部172および182は、導光手段である光ファイバ176および186を通じて受光部300とそれぞれ光学的に接続される。より具体的には、光ファイバ176および186は、合波部109Cにおいて1つに結合された上で、光ファイバ108を介して、受光部300と光学的に接続される。合波部109Cは、光ファイバ176および186を介して導かれるそれぞれの光同士を結合することで、これらの光を平均化(積分)する。このような合波部109Cは、典型的には、複数の光ファイバを束ねたY型ファイバなどを用いて構成される。
このように、光学特性測定装置5において、受光部300は、複数の観測窓170および180を介して、積分器100Cの内部の光を受光する。光学特性測定装置5は、複数の観測窓170および180と、受光部300とを光学的に接続する接続部(光ファイバ176および186、ならびに光ファイバ108)を含む。この接続部は、複数の観測窓170および180のそれぞれからの光を結合する合波部109Cを含む。すなわち、複数の観測窓170および180のそれぞれでとらえられた光は、光ファイバなどの導光手段で受光部300へ導かれる。
図11および図12に示す実施の形態1の第3変形例に従う光学特性測定装置5では、2つの観測窓170および180が平面部106に設けられている。これらの観測窓170および180は、積分器100Cの内部から光を取り出すために、所定の規則性をもって配置されている。より具体的には、半球部102の中心軸AX1に関して、観測窓170と観測窓180とが互いに対向した位置に設けられる。すなわち、積分器100Cは、半球部102の頂点および実質的な曲率中心Oを通る直線(中心軸AX1)に関して、対向する観測窓(観測窓170および観測窓180)を有する。
実施の形態1の第3変形例では、実施の形態1に比較して、バッフルを設ける必要がないので、バッフルでの光吸収がなく、より誤差の少ない光学特性の測定を実現できる。
さらに、実施の形態1の第3変形例のさらなる変形例として、上述の実施の形態1の第1変形例および第2変形例において説明したように、平面部106上で90°ずつ離れた位置に4つの観測窓を配置した構成や、平面部106上で120°ずつ離れた位置に3つの観測窓を配置した構成などを採用することもできる。
さらに、平面部106に複数の観測窓を配置するとともに、半球部102にも複数の観測窓を配置した構成を採用することもできる。
[G.実施の形態1の第4変形例]
上述の実施の形態1および第1〜第4変形例においては、光ファイバを介して導かれる光を合波部によって結合した上で、1つの受光部を用いて光学特性を測定する構成について例示した。これに対して、積分器に設けられた観測窓の数と同数の受光部を配置するとともに、それぞれの受光部による測定結果を統計処理(典型的には、平均化処理)を行なうことで、光源10についての光学特性の測定を行なってもよい。すなわち、前処理として、積分器から取り出された光を光学的に結合するのではなく、後処理として、積分器から取り出されたそれぞれの光についての測定結果を電子的に結合してもよい。
実施の形態1の第4変形例によれば、より自由度の高い統計処理を行なって、光源10についての光学特性を算出できる。例えば、それぞれの観測窓を介して取り出された光についての測定結果に対して、光源10の形状などに応じた重み係数を乗じた上で、光学特性を算出してもよい。
[H.実施の形態2]
(1.装置構成)
上述の実施の形態1およびその変形例では、半球型の積分器を含む光学特性測定装置について例示した。しかしながら、本願発明者らが想到した新たな技術思想は、一般的な積分球を含む光学特性測定装置にも適用可能である。以下では、積分球に本願発明に係る技術思想を適用した実施形態について例示する。
図13は、実施の形態2に従う光学特性測定装置6の外観を示す模式図である。図14は、実施の形態2に従う光学特性測定装置6に含まれる積分球200の断面構造を示す模式図である。
図13および図14を参照して、光学特性測定装置6は、積分球200と、積分球200の内部の光を受光するための受光部300と、受光部300を制御するための制御部350とを含む。測定対象の光源10(被測定光源)は、積分球200に設けられた光源窓204に装着される。
より具体的には、積分球200は、内壁に反射面200aを有する。積分球200の反射面200aは、例えば、硫酸バリウムやPTFEなどの拡散材料を塗布または吹付けることによって形成された拡散反射層からなる。積分球200には、積分球200の内部から光を取り出すための開口である観測窓210および220、ならびに観測窓210および220とそれぞれ連通する取出部212および222が設けられている。このように、積分球200は、光源10を装着するための光源窓204が形成されるとともに、内壁に反射面200aを有する球体である。
積分球200の内壁には、観測窓210および220の視野にそれぞれ関連付けられるとともに、光源10により近い位置に配置されたバッフル214および224が設けられている。より具体的には、バッフル214および224は、光源10からの光が観測窓210および220へ直接的に入射することを防止する。
取出部212および222は、導光手段である光ファイバ216および226を通じて受光部300とそれぞれ光学的に接続される。より具体的には、光ファイバ216および226は、合波部209において1つに結合された上で、光ファイバ208を介して、受光部300と光学的に接続される。合波部209は、光ファイバ216および226を介して導かれるそれぞれの光同士を結合することで、これらの光を平均化(積分)する。このような合波部109は、典型的には、複数の光ファイバを束ねたY型ファイバなどを用いて構成される。
このように、光学特性測定装置6において、受光部300は、複数の観測窓210および220を介して、積分球200の内部の光を受光する。光学特性測定装置6は、複数の観測窓210および220と、受光部300とを光学的に接続する接続部(光ファイバ216および226、ならびに光ファイバ208)を含む。この接続部は、複数の観測窓210および220のそれぞれからの光を結合する合波部209を含む。すなわち、複数の観測窓210および220のそれぞれでとらえられた光は、光ファイバなどの導光手段で受光部300へ導かれる。
図13および図14に示す実施の形態2に従う光学特性測定装置6では、2つの観測窓210および220が積分球200に設けられている。これらの観測窓210および220は、積分球200の内部から光を取り出すために、所定の規則性をもって配置されている。より具体的には、積分球200の中心軸AX2に関して、観測窓210と観測窓220とが互いに対向した位置に設けられる。すなわち、積分球200は、積分球200の中心Oおよび光源窓204の中心を通る直線(中心軸AX2)に関して、対称的に配置された、積分球200の内部から光を取り出すための窓(観測窓210および220)を含む。
別の言い方をすれば、観測窓210および220は、積分球200の中心軸AX2に垂直な面と積分球200との交線上の位置であって、積分球200の中心軸AX2に関して、互いに対向した位置に設けられる。バッフルでの光吸収を低減する観点からは、積分球200の中心Oを含む水平軸上に観測窓210および220を設けることが好ましいが、必ずしもこの位置に限られることはない。例えば、観測窓210および220を、積分球200の中心Oを含む水平軸より上側に設けてもよいし、下側に設けてもよい。
その他の構成については、上述の光学特性測定装置と同様の構成を有するので、共通部分についての詳細な説明は繰返さない。
(2.シミュレーションによる効果の検証)
次に、上述の実施の形態2に従う光学特性測定装置2により感度の異方性が緩和されることをシミュレーションにより検証した結果を示す。図15は、図13および図14に示す光学特性測定装置6における受光感度の異方性をシミュレーションするための光学モデルを示す図である。図15のシミュレーションにおいても、光源10を構成する発光素子10−1および10−2の配光が相対的に狭い場合を想定する。
図15に示す光学モデルを想定すると、受光感度の異方性は、図7に示す光学モデルの場合と同様になる。すなわち、積分球200に対して観測窓210が設けられている場合には、図8に示す「関連技術」の場合と同様の受光感度の異方性を有することになる。これに対して、観測窓210に加えて、観測窓220が積分球200に設けられることで、受光感度の異方性は、図8に示す「実施の形態1」の場合と同様に改善する。
(3.まとめ)
実施の形態2に従う光学特性測定装置6は、内部から光を取り出すための開口である観測窓210および220が設けられた積分球200を含む。これらの観測窓210および220を介して測定される照度の合成値を用いることで、受光感度の異方性を低減できる。すなわち、積分球200の中心軸AX2から離れた位置にある光源についても、より正確に、その光学特性を測定できる。言い換えれば、光源窓204に装着された光源10の位置の偏りによって生じる、積分球200の内壁における空間的な照度ムラに起因する測定誤差を低減できる。
[I.実施の形態2の変形例]
図13および図14に示す実施の形態2に従う光学特性測定装置6に対しても、上述の実施の形態1の各変形例と同様の変形が可能である。すなわち、観測窓の数や位置についても、受光感度の異方性を低減できれば、どのようなものであってもよい。
図16は、実施の形態2の一変形例に従う光学特性測定装置7の外観を示す模式図である。図16に示す光学特性測定装置7は、図13および図14に示す光学特性測定装置6に比較して、観測窓をより多く配置したものである。
図16を参照して、光学特性測定装置7は、積分球200Aと、積分球200Aの内部の光を受光するための受光部300と、受光部300を制御するための制御部350とを含む。積分球200Aには、積分球200Aの内部から光を取り出すための開口である観測窓210、220、230、240、および観測窓210、220、230、240とそれぞれ連通する取出部212、222、232、242が設けられている。
積分球200Aの内壁には、観測窓210、220、230、240の視野にそれぞれ関連付けられるとともに、光源10により近い位置に配置されたバッフル214、224、234、244が設けられている。より具体的には、バッフル214、224、234、244は、光源10からの光が観測窓210、220、230、240へ直接的に入射することを防止する。
取出部212、222、232、242は、導光手段である光ファイバ216、226、236、246を通じて受光部300とそれぞれ光学的に接続される。より具体的には、光ファイバ216、226、236、246は、合波部209Aにおいて1つに結合された上で、光ファイバ208を介して、受光部300と光学的に接続される。
図16に示す光学特性測定装置7では、13および図14に示す光学特性測定装置6に比較して、より多くの観測窓が設けられるので、受光感度の異方性をより低減できる。
さらに、より多くの観測窓を設けてもよい。この場合、積分球200の中心Oに関して対向するように、1つまたは複数対の観測窓を設けることが好ましい。
あるいは、図10と同様に、積分球200の中心軸AX2に関して、複数の観測窓を対称的に配置してもよい。例えば、積分球200の中心Oを含む水平軸上に、ある隣接する2つの位置が積分球200の中心軸AX2に対してなす角と、他の隣接する2つの位置が積分球200の中心軸AX2に対してなす角とが互いに一致する(例えば、120°)位置に、観測窓を配置してもよい。
さらに、実施の形態1の第4変形例と同様に、観測窓の数と同数の受光部を用いるような構成を採用してもよい。
[J.利点]
本実施の形態に従う光学特性測定装置によれば、光源の位置に依存した受光感度の異方性の影響を低減できる。積分空間に対して比較して大きな光源であっても、より正確にその全光束などを測定できる。
今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記した説明ではなく、特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
1,2,3,4,5,6,7 光学特性測定装置、10 光源、10−1、10−2 発光素子、100,100A,100B,100C,400 積分器、102,102B,402 半球部、102a,106a,200a 反射面、104,204,404 光源窓、106,406 平面部、108,116,126,136,146,156,166,176,186,208,216,226,408 光ファイバ、109,109A,109B,109C,209,209A 合波部、110,120,130,140,150,160,170,180,210,220,410 観測窓、112,122,132,142,152,162,172,212,412 取出部、114,124,134,144,154,164,214,412 バッフル、200,200A 積分球、300 受光部、350 制御部。

Claims (8)

  1. 内壁に反射面を有する半球部と、
    前記半球部の開口を塞ぐように配置され、前記半球部の内壁側に反射面を有する平面部とを備え、
    前記平面部は、前記半球部の実質的な曲率中心を含む範囲に光源を装着するための第1の窓を含み、
    前記半球部および前記平面部の少なくとも一方は、所定の規則性をもって配置された、前記半球部の内部から光を取り出すための複数の第2の窓を含む、光学特性測定装置。
  2. 前記複数の第2の窓は、前記半球部の頂点および実質的な曲率中心を通る直線に関して、対称的に配置される、請求項1に記載の光学特性測定装置。
  3. 前記複数の第2の窓は、前記半球部の頂点および実質的な曲率中心を通る直線に関して対向する一対の窓を含む、請求項1または2に記載の光学特性測定装置。
  4. 前記複数の第2の窓は、前記半球部に配置され、
    前記半球部は、前記第2の窓の視野に関連付けられるとともに、前記半球部の実質的な曲率中心により近い位置に配置されたバッフルを含む、請求項1〜3のいずれか1項に記載の光学特性測定装置。
  5. 前記複数の第2の窓を介して前記半球部の内部の光を受光するための受光部をさらに備える、請求項1〜4のいずれか1項に記載の光学特性測定装置。
  6. 前記複数の第2の窓と前記受光部とを光学的に接続する導光部をさらに備え、
    前記導光部は、前記複数の第2の窓のそれぞれからの光を結合する合波部を含む、請求項5に記載の光学特性測定装置。
  7. 光学特性測定装置であって、
    光源を装着するための第1の窓が形成されるとともに、内壁に反射面を有する球体を備え、
    前記球体は、前記球体の中心および前記第1の窓の中心を通る直線に関して、対称的に配置された、前記球体の内部から光を取り出すための複数の第2の窓を含む、光学特性測定装置。
  8. 前記複数の第2の窓を介して前記球体の内部の光を受光する受光部をさらに備える、請求項7に記載の光学特性測定装置。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2016151778A1 (ja) * 2015-03-24 2016-09-29 大塚電子株式会社 分光輝度計の校正に用いる基準光源装置及びそれを用いる校正方法

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5944719B2 (ja) * 2012-04-04 2016-07-05 大塚電子株式会社 配光特性測定装置および配光特性測定方法
JP5959644B2 (ja) * 2012-07-30 2016-08-02 大塚電子株式会社 光学測定装置
WO2015151233A1 (ja) * 2014-04-01 2015-10-08 株式会社島津製作所 分光測定装置及び積分球
CN104457980B (zh) * 2014-11-28 2016-05-11 江门市宏丰电子科技有限公司 一种导光条检测装置
JP6613063B2 (ja) * 2015-07-07 2019-11-27 大塚電子株式会社 光学特性測定システム
CN109738062B (zh) * 2019-03-14 2024-04-09 贵州大学 一种环形光源积分球结构
CN113687504A (zh) * 2021-09-03 2021-11-23 浙江理工大学绍兴柯桥研究院有限公司 用于微小物体观测的均匀照明装置及其使用方法

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS50126280U (ja) * 1974-03-30 1975-10-16
JPH03162634A (ja) * 1989-11-20 1991-07-12 Sanyo Electric Co Ltd 光源の外部量子効率測定方法
JPH07116530A (ja) * 1993-10-25 1995-05-09 Satake Eng Co Ltd 搗精度自動調節方法及び装置
JP2009103654A (ja) * 2007-10-25 2009-05-14 Otsuka Denshi Co Ltd 光束計および測定方法
WO2010140484A1 (ja) * 2009-06-01 2010-12-09 株式会社システムロード 光源の光学特性の測定装置および測定方法ならびに該測定装置を備えた検査装置
JP4932045B1 (ja) * 2011-06-20 2012-05-16 西進商事株式会社 光源検査装置

Family Cites Families (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CH547487A (de) 1972-07-27 1974-03-29 Bbc Brown Boveri & Cie Verfahren zur beruehrungslosen und materialunabhaengigen temperaturmessung an oberflaechen mittels infrarot-pyrometer.
US4378159A (en) 1981-03-30 1983-03-29 Tencor Instruments Scanning contaminant and defect detector
US4601576A (en) 1983-12-09 1986-07-22 Tencor Instruments Light collector for optical contaminant and flaw detector
JPS60202411A (ja) 1984-03-27 1985-10-12 Seiko Epson Corp ライトガイド用光源光学系
US4915500A (en) 1985-08-16 1990-04-10 The United States Of America As Represented By The Department Of Energy Multichannel optical sensing device
JPS63285441A (ja) 1987-05-19 1988-11-22 Mitsubishi Rayon Co Ltd 光ファイバ検査方法及び検査装置
US4995727A (en) 1987-05-22 1991-02-26 Minolta Camera Kabushiki Kaisha Compact diffusion light mixing box and colorimeter
JPH0827212B2 (ja) 1987-11-09 1996-03-21 大塚電子株式会社 分光器
US5332904A (en) * 1992-10-28 1994-07-26 The United States Of America As Represented By The Department Of Energy Broadband radiometer
JP3117565B2 (ja) * 1992-11-27 2000-12-18 松下電器産業株式会社 光束計
US5517315A (en) 1993-10-29 1996-05-14 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Reflectometer employing an integrating sphere and lens-mirror concentrator
JPH07212537A (ja) 1994-01-20 1995-08-11 Nichia Chem Ind Ltd 読取用標準光源の作成方法及び光源装置
JP3237467B2 (ja) 1995-05-25 2001-12-10 松下電器産業株式会社 全光束測定装置
EP0961140A1 (en) 1998-05-27 1999-12-01 Corning Incorporated Method and apparatus for aligning optical waveguide arrays
JP2001249207A (ja) 2000-03-06 2001-09-14 Minolta Co Ltd 光混合装置,照明装置及び反射特性測定装置
DE10133992A1 (de) 2001-07-12 2003-01-23 Leica Microsystems Anordnung und Verfahren zur Beleuchtung eines Objektfeldes in einem optischen Gerät
US6900437B2 (en) 2002-06-12 2005-05-31 Ford Global Technologies, Llc Color corrected laser illumination system for night vision applications
US7521667B2 (en) * 2003-06-23 2009-04-21 Advanced Optical Technologies, Llc Intelligent solid state lighting
US6995355B2 (en) 2003-06-23 2006-02-07 Advanced Optical Technologies, Llc Optical integrating chamber lighting using multiple color sources
US7145125B2 (en) 2003-06-23 2006-12-05 Advanced Optical Technologies, Llc Integrating chamber cone light using LED sources
JP2005055571A (ja) 2003-08-01 2005-03-03 Noritsu Koki Co Ltd 光源ユニット及びその光源ユニットを備えたフィルムスキャナ
JP2005127970A (ja) 2003-10-27 2005-05-19 Unitec:Kk 広拡散光源光測定装置の光学系および広拡散光源光測定装置ならびにその光測定方法
WO2007020554A1 (en) 2005-08-15 2007-02-22 Koninklijke Philips Electronics, N.V. Dual beam set-up for scatterometer
WO2007122674A1 (ja) * 2006-04-12 2007-11-01 Panasonic Corporation 光学測定装置
CN100476389C (zh) * 2006-11-30 2009-04-08 复旦大学 采用窄光束标准光源的led光通量测试装置及测试方法
CN201311325Y (zh) * 2008-11-19 2009-09-16 中国计量科学研究院 积分球及使用积分球的光学测量系统
KR100996881B1 (ko) * 2010-01-06 2010-11-26 유병소 적분구
JP5608919B2 (ja) * 2010-02-24 2014-10-22 大塚電子株式会社 光学測定装置
JP5643983B2 (ja) 2010-03-25 2014-12-24 大塚電子株式会社 光学測定装置、光学測定システムおよびファイバ結合器

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS50126280U (ja) * 1974-03-30 1975-10-16
JPH03162634A (ja) * 1989-11-20 1991-07-12 Sanyo Electric Co Ltd 光源の外部量子効率測定方法
JPH07116530A (ja) * 1993-10-25 1995-05-09 Satake Eng Co Ltd 搗精度自動調節方法及び装置
JP2009103654A (ja) * 2007-10-25 2009-05-14 Otsuka Denshi Co Ltd 光束計および測定方法
WO2010140484A1 (ja) * 2009-06-01 2010-12-09 株式会社システムロード 光源の光学特性の測定装置および測定方法ならびに該測定装置を備えた検査装置
JP4932045B1 (ja) * 2011-06-20 2012-05-16 西進商事株式会社 光源検査装置

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2016151778A1 (ja) * 2015-03-24 2016-09-29 大塚電子株式会社 分光輝度計の校正に用いる基準光源装置及びそれを用いる校正方法
KR20170131354A (ko) * 2015-03-24 2017-11-29 오츠카덴시가부시끼가이샤 분광 휘도계의 교정에 사용하는 기준 광원 장치 및 그것을 사용하는 교정 방법
JPWO2016151778A1 (ja) * 2015-03-24 2018-01-11 大塚電子株式会社 分光輝度計の校正に用いる基準光源装置及びそれを用いる校正方法
US10330530B2 (en) 2015-03-24 2019-06-25 Otsuka Electronics Co., Ltd. Reference light source device used for calibration of spectral luminance meter and calibration method using same
KR102015203B1 (ko) * 2015-03-24 2019-08-27 오츠카덴시가부시끼가이샤 분광 휘도계의 교정에 사용하는 기준 광원 장치 및 교정 방법

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