JP2013545215A - 太陽光装置用のビアフィル材 - Google Patents

太陽光装置用のビアフィル材 Download PDF

Info

Publication number
JP2013545215A
JP2013545215A JP2013527306A JP2013527306A JP2013545215A JP 2013545215 A JP2013545215 A JP 2013545215A JP 2013527306 A JP2013527306 A JP 2013527306A JP 2013527306 A JP2013527306 A JP 2013527306A JP 2013545215 A JP2013545215 A JP 2013545215A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
microns
range
paste
weight
size
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2013527306A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2013545215A5 (ja
Inventor
ジョージ イー. ジュニア グラッディ
キャロライン エム. マッキンリー
アジズ エス. シャイカ
Original Assignee
フェッロ コーポレーション
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by フェッロ コーポレーション filed Critical フェッロ コーポレーション
Publication of JP2013545215A publication Critical patent/JP2013545215A/ja
Publication of JP2013545215A5 publication Critical patent/JP2013545215A5/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01BCABLES; CONDUCTORS; INSULATORS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR CONDUCTIVE, INSULATING OR DIELECTRIC PROPERTIES
    • H01B1/00Conductors or conductive bodies characterised by the conductive materials; Selection of materials as conductors
    • H01B1/14Conductive material dispersed in non-conductive inorganic material
    • H01B1/16Conductive material dispersed in non-conductive inorganic material the conductive material comprising metals or alloys
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/02Details
    • H01L31/0224Electrodes
    • H01L31/022408Electrodes for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier
    • H01L31/022425Electrodes for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier for solar cells
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C3/00Glass compositions
    • C03C3/04Glass compositions containing silica
    • C03C3/062Glass compositions containing silica with less than 40% silica by weight
    • C03C3/07Glass compositions containing silica with less than 40% silica by weight containing lead
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C3/00Glass compositions
    • C03C3/12Silica-free oxide glass compositions
    • C03C3/16Silica-free oxide glass compositions containing phosphorus
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C8/00Enamels; Glazes; Fusion seal compositions being frit compositions having non-frit additions
    • C03C8/02Frit compositions, i.e. in a powdered or comminuted form
    • C03C8/10Frit compositions, i.e. in a powdered or comminuted form containing lead
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C8/00Enamels; Glazes; Fusion seal compositions being frit compositions having non-frit additions
    • C03C8/14Glass frit mixtures having non-frit additions, e.g. opacifiers, colorants, mill-additions
    • C03C8/18Glass frit mixtures having non-frit additions, e.g. opacifiers, colorants, mill-additions containing free metals
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C8/00Enamels; Glazes; Fusion seal compositions being frit compositions having non-frit additions
    • C03C8/14Glass frit mixtures having non-frit additions, e.g. opacifiers, colorants, mill-additions
    • C03C8/20Glass frit mixtures having non-frit additions, e.g. opacifiers, colorants, mill-additions containing titanium compounds; containing zirconium compounds
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01BCABLES; CONDUCTORS; INSULATORS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR CONDUCTIVE, INSULATING OR DIELECTRIC PROPERTIES
    • H01B1/00Conductors or conductive bodies characterised by the conductive materials; Selection of materials as conductors
    • H01B1/20Conductive material dispersed in non-conductive organic material
    • H01B1/22Conductive material dispersed in non-conductive organic material the conductive material comprising metals or alloys
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/48Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
    • H01L23/481Internal lead connections, e.g. via connections, feedthrough structures
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/02Details
    • H01L31/0224Electrodes
    • H01L31/022408Electrodes for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier
    • H01L31/022425Electrodes for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier for solar cells
    • H01L31/022441Electrode arrangements specially adapted for back-contact solar cells
    • H01L31/02245Electrode arrangements specially adapted for back-contact solar cells for metallisation wrap-through [MWT] type solar cells
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/04Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices
    • H01L31/042PV modules or arrays of single PV cells
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/40Forming printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
    • H05K3/42Plated through-holes or plated via connections
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/0002Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2203/00Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
    • H05K2203/11Treatments characterised by their effect, e.g. heating, cooling, roughening
    • H05K2203/1126Firing, i.e. heating a powder or paste above the melting temperature of at least one of its constituents
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T29/00Metal working
    • Y10T29/49Method of mechanical manufacture
    • Y10T29/49002Electrical device making
    • Y10T29/49117Conductor or circuit manufacturing
    • Y10T29/49124On flat or curved insulated base, e.g., printed circuit, etc.
    • Y10T29/49155Manufacturing circuit on or in base
    • Y10T29/49165Manufacturing circuit on or in base by forming conductive walled aperture in base

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Geochemistry & Mineralogy (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Sustainable Development (AREA)
  • Sustainable Energy (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Dispersion Chemistry (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Conductive Materials (AREA)
  • Photovoltaic Devices (AREA)
  • Glass Compositions (AREA)

Abstract

本発明は直列抵抗が低くシャント抵抗が高い太陽光装置で使用するためのビアフィル材を提供する。本発明による前記ビアフィル材は銀粉末と、ガラス・フリットと賦形剤を含んでいる。
【選択図】図1

Description

本発明は低い直列抵抗と高いシャント抵抗を示す太陽光装置で用いるためのビアフィル材(via fill)に関する。この新しい太陽電池構造はバック接点太陽電池装置である。この装置では、p及びn面に対する接点がその太陽電池の裏側につくられている。こうした構造は、陰影損を減らし太陽光効率を増大させるという利点を有している。本発明は特に太陽電池の前面を図1に示すような孔を通じて裏側に接続させるキー金属化に関するものである。
この技術領域では太陽光電池と呼ばれることもある太陽電池は、光電効果を利用して太陽光エネルギーを電気に変換する。最もよく知られている太陽電池は大面積P−N接合装置で構成されている。こうした太陽電池は、通常、N極側にリン、P極側にボロンをドープしたシリコン・ウエハーで構成されている。金属接点グリッドはそのシリコン・ウエハーのN極側に(一般的には反射防止被膜上に)形成される。バック接点はそのシリコン・ウエハーのP極側に形成される。光子が太陽電池に衝突すると、そのシリコン・ウエハーのN極側から電子が放出される。放出された電子はP−N接合を通過することはできず、従って、バック接点の絶縁層状に形成されているコレクター・グリッドと電気的に接続されている接点グリッド内を流れる。接点グリッドとコレクター・グリッド間の電気的接続は上記シリコン・ウエハーを通じるビアを満たす電導性のビアフィル材を用いることによっても設置される。電子はコレクター・グリッドから外部回路(図示せず)を通じてバック接点に流れ、そこでそれら電子はそのシリコン・ウエハーのP極側の空いている「ホール」を満たす。外部回路を通じての電子の流れは電流(I)をもたらし、太陽電池の電場が電圧(V)を発生させ、その電圧が作り出すのが電力(P)である。
太陽電池が作り出す電力は直列抵抗(Rs)とシャント抵抗(Rsh)と呼ばれる2つの寄生的な抵抗によって消費されてしまうことが知られている。直列抵抗は、その太陽電池がつくられている材料上での電流(特にそのシリコン・ウエハーのN極側から接点グリッドへの電子の流れ)に対する内在的な抵抗と抵抗性接点とから生じる。シャント抵抗はその太陽電池内部に形成されるP−N接合を通じての電流の漏出を防ぐために発生する。太陽電池の効率を最大限にするためには、直列抵抗をできるだけ少なくして、シャント抵抗をできるだけ大きくすることである。
ビアを通じての電導性経路を形成することは太陽電池における寄生的抵抗の制御という面で困難な問題を提出する。一方では、直列抵抗をできるだけ小さくするためにビアフィル材が低い内在的抵抗を示すことが望ましい。しかし、ビアフィル材はビア内でシリコン・ウエハーと接触するので、ビアフィル材もP−N接合を通じて電導性経路(シャント)を形成する場合があり、不都合にもシャント抵抗を低くしてしまう。
上に述べたことを視野に入れて、本発明は低い直列抵抗と高いシャント抵抗を示す太陽光装置で用いるためのビアフィル材の開発に向けられている。本発明によるビアフィル材は銀粉末、特殊な酸化物、ガラス・フリット及び賦形剤で構成されている。別のタイプの太陽電池はエミッタラップスルー(EWT)電池と呼ばれるもので、この電池でシリコン・ウエハーがその内部に形成されたビア孔を有していて、このビア孔がn側(主表面)をp側(主表面)と接続している。これらの孔は、例えば、化学的エッチング、機械的孔開け、あるいはレーザーを用いて形成することができる。そしてビア孔は次に電気絶縁性物質によって覆われる。絶縁されたビア孔は、次に、通常は銀やガラス・フリットなどの電導性物質を含むペーストで満たされる。ペーストで満たされたシリコン・ウエハーはその金属を焼成しガラス・フリットを溶融するために熱処理される。従って、電導性経路がそのn側からp側に、そのウエハーの厚み全体にわたって形成される。側面への電気伝導はそれらビア孔に予め塗布してある絶縁性材料のおかげでシリコン・ウエハーを通じて防がれる。エミッタラップスルー太陽電池の製造方法は米国特許出願公開第2011/0192826号明細書に教示されており、この特許はここで触れたことによりその全体が本明細書に組み入れられる。
特に、EWT太陽電池を一般化・様式化して示してある図1を参照して説明すると、シリコン・ウエハー10はn側とp側を有している。シリコン・ウエハー10にはビア孔(図示せず)が形成されており、n側とp側の間の通路を提供している。。ビア孔の内面とシリコン・ウエハー10のn側の表面の少なくとも一部には絶縁層50が塗布されている。このビア孔は金属及びガラス・フリットを含むペースト60が満たされている。ウエハー10のn側の絶縁層50の少なくとも一部にはSiNxあるいはSiO2などの不働態化層70が塗布されている。それはペースト60の露出部分を覆っている場合もある。
次に、ビア孔にペースト60を満たしたウエハー10はペースト中の金属を焼成しガラスを溶融するために熱処理にかけられ、プラグが形成される。又はビア孔ペースト60だけを熱処理する代わりに、別のペーストから接点をウエハーのn側(80)及びp側(90)の両方のうえにプリントすることも可能である。ペースト80とペースト90はそれぞれペースト60の露出された部分の少なくとも一部は覆っている。n側接点80は上記不働態化層70の一部を覆っていてもよい。ビア・ペースト60が事前に熱処理されているのであれば、接点80と接点90をプラグの熱処理された端部上にプリントして、別々に熱処理してもよい。
本発明で開発されたペースト組成物はビア孔を満たし、熱処理されると固形プラグを形成する。この固形プラグの抵抗は低く、エミッタと反応してシャンティングを起こしたりすることはない。エミッタはシリコン・ウエハー内にリンを分散させることで形成されるp−n接合である。ペーストもメッキ可能で、高い粘着力を有している。いくつかの例では、このビアフィル・ペーストを別のペーストで覆って、接合性が高い接点を形成することもできる。
本発明には3つの主要な特徴がある。第1の特徴は熱処理中の焼成の制御に関するものである。これはある粒子サイズを有する金属粉末の慎重な選択と、ある融点を持つガラス、そして、焼成挙動に影響を及ぼす酸化物の使用によって達成される。第2の特徴はシャンティング挙動に関するものである。優れたシャント性能はビアフィル材とそれを取り囲む孔との間の反応を制御することによって達成される。これはガラスの選択と酸化物の比率によって制御される。第3の特徴は熱処理される薄膜のはんだ付け性と接着に関係している。これはシリコン・ウエハーに対する反応性を有するガラスの選択と焼成プロセス中にガラスを表面に押し出さない金属粉末の選択によって達成される。上記に加えて、有機性樹脂の選択を通じて優れたビア充填効果を達成するために、ペーストのレオロジー(流動及び変形特性)が制御される。
本発明の上に述べた、あるいはその他の特徴を以下にさらに詳しく述べ、請求項において具体的に指摘するが、これらは本発明のいくつかの実施の形態を詳細に述べることを目的としていて、本発明の原理を採用するさまざまな方法のうちのごく少数の例を述べるものに過ぎない。
太陽電池の様式化した断面図を示す図である。 上記実施例で形成されるビアの断面図を示す顕微鏡写真である。 上記実施例で形成されるビアの断面図を示す顕微鏡写真である。 上記実施例で形成されるビアの断面図を示す顕微鏡写真である。
本発明によるビアフィル材は、熱処理する前の段階で、銀粉末とガラス・フリットを含んでいる。これら銀粉末とガラス・フリットの特殊な特性が本発明の発明によるビアフィル材でつくられるプラグを用いた太陽電池の挙動を決定する。
本発明によるビアフィル材は好ましくは約65重量%から約90重量%の銀粉末を含んでいる。より好ましくは、本発明によるビアフィル材は約74重量%から約重量87%の銀粉末を含んでいる。銀粉末は通常の高い純度(99%+)を有しているべきである。
2種あるいはそれ以上のD50の粒子サイズの(つまり、2モード、3モード、あるいは多重粒子サイズ分布を有する)銀粉末を用いると、パッキング密度が改善させると考えられている。銀粉末は、好ましくは、約0.25ミクロンから約30ミクロンの範囲のD50平均粒子サイズを有している。
銀粉末の第1の部分に関しては、D50粒子サイズは0.5−5ミクロンの範囲、好ましくは1−4.5ミクロンの範囲、より好ましくは1.5−3.5の範囲、例えば、2−3ミクロンの範囲である。銀粉末の第2の部分に関しては、D50粒子サイズは0.5−2.5ミクロンの範囲、好ましくは0.75−2.25ミクロンの範囲、より好ましくは1−2ミクロンの範囲、例えば、1.25−1.75ミクロンの範囲である。銀粉末の第3の部分に関しては、D50粒子サイズは0.1−1.5ミクロンの範囲、好ましくは0.3−1.3ミクロンの範囲、より好ましくは0.5−1.0ミクロンの範囲、例えば、0.6−0.9ミクロンの範囲である。
第2、第3、あるいは文脈によってその他の名称で呼ばれてもいい別の銀粉末は、D50粒子サイズが2−20ミクロンの範囲、好ましくは3−15ミクロンの範囲、そして、より好ましくは4−10ミクロンの範囲、そして、さらに好ましくは5−9ミクロンの範囲、例えば、6−8ミクロンの範囲である。
本発明の発明的実施の形態においては、これら第1、第2、第3、あるいはその他の銀粉末のいろいろな比率での組み合わせが考えられる。
例えば、ペーストが20−50重量%の銀粉末の第1の部分、30−50重量%の銀粉末の第2の部分、そして、0.1−10重量%の第3の部分を含んでいる構成もあり得る。好ましくは、このペーストは25−45重量%の銀粉末の第1の部分、35−45重量%の銀粉末の第2の部分、そして、2−8重量パーセントの銀粉末の第3の部分を含んでいる。あるいは、このペーストは30−40重量%の銀粉末の第1の部分、30−40重量%の銀粉末の第2の部分、そして、3−7重量パーセントの銀粉末の第3の部分を含んでいる構成もあり得る。
本発明の別の実施の形態で、このペーストは40−70重量%の銀粉末の別の部分、5−25重量%の銀粉末の第2の部分、そして、1−20重量パーセントの銀粉末の第3の部分を含んでいる。好ましくは、このペーストは45−65重量%の銀粉末の別の部分、10−20重量%の銀粉末の第2の部分、そして、5−15重量パーセントの銀粉末の第3の部分を含んでいる。より好ましくは、このペーストは50−60重量%の銀粉末の別の部分、12−18重量%の銀粉末の第2の部分、そして、6−10重量パーセントの銀粉末の第3の部分を含んでいる。
本発明においては、いろいろな銀粒子表面積(SSA、BET法で測定)が実用性を持つ。例えば、0.01−1.0m/gm、あるいは0.1−0.5m/gmあるいは0.2−0.6m/gm、あるいは0.3−0.8m/gm、例えば、0.22m/gmあるいは0.84m/gmなどの表面積である。
Ag粉末については2つの形態が考えられる。つまり、平たいフレーク状と球状のものである。好ましい銀は球状粉末とフレーク化された粉末の組み合わせである。異なったサイズと形状を有する2つあるいは3つのタイプのAg粉末をブレンドして、焼成処理後の収縮を制御するために用いられた。これらのAg粒子は望ましいレオロジーを達成するために脂肪酸とその石鹸で被覆された。
本発明によるビアフィル材は1種類以上のガラス・フリットを約0.01重量%から約10重量%の範囲、あるいは1−10重量%の範囲で含んでいる。本発明で用いられるガラス・フリットはラビノ軟化点測定装置で測定して、約250℃から650℃の範囲、好ましくは約300℃から約600℃の範囲の軟化点を有している。ファイヤースルー(貫通焼成)が起きないようにするためには、そのガラス・フリットの化学組成が重要な意味を持つ。例えば、表1に示すような組成を有する鉛リン酸バナジウム・ガラス(Pb−V−P)あるいは鉛亜鉛アルミノシリケート・ガラス(Pb−Zn−Al−Si)を用いることができる。
Figure 2013545215
ガラス・フリットは平均粒子サイズ(D50)が約2−約5ミクロンとなるように破砕しておくべきである。粒子サイズは光散乱、例えばマイクロトラックX−100粒子装置分析装置を用いてレーザー光散乱によって測定される。好ましいガラスのガラス遷移温度(Tg)は好ましくは250−650℃の範囲であり、最も好ましくは300−550℃の範囲である。
例えば、シリコンに対する抵抗性や接着性を制御するためにこの発明で用いて有用なガラス・フリットは圧倒的に結晶化タイプのものか、あるいは、結晶化タイプと非結晶化タイプのフリットの組み合わせか、あるいは非結晶化フリットと接点形成中にガラス内で溶解する反応性結晶化素材の組み合わせであってもよい。好ましいフリットは部分的に結晶性のものであると考えられている。
酸化銅、酸化マグネシウム、酸化コバルト、酸化バナジウム、酸化亜鉛、及びそれらの組み合わせと、アルミン酸コバルトなどのそれらと酸化アルミニウムとの反応生成物等の添加剤を用いてシリコンへの接着性を高めることも考えられる。
上記ビアフィル材はオプションとして、例えば、ジルコニア、酸化ビスマス、アルミナ、チタニア、ジルコンなどのジルコニウム・ケイ酸塩、ウィレマイトなどの亜鉛ケイ酸塩,結晶性シリカ、コルジエライト、ベントナイト及び/又はヘクトライトで、総量は最大で約10重量%程度である。これらの無機性充填材のD50平均粒子サイズは約20ナノメートルから約10ミクロンの範囲、好ましくは50ナノメートルから5ミクロン、より好ましくは100ナノメートルから1ミクロンの範囲とすべきである。
銀粉末、ガラス・フリット、及びオプションとしての無機充填材は好ましくは上に述べた範囲で、約5重量%から約20重量%の1つ以上の有機性賦形剤あるいは基質組成物と混合されている。この有機性賦形剤あるいは担体組成物は好ましくは1つ以上の溶剤に溶解された1つ以上の樹脂を含んでおり、オプションとしては1つ以上のチキソトロープ剤を含んでいる。好ましい実施の形態では、上記有機性賦形剤組成物は少なくとも約80重量%の1つ以上の有機性溶剤、最大約重量15%までの1つ以上の熱可塑性樹脂、最大約4%までの1つ以上のチキソトロープ剤、そして最大約2重量%の1つ以上の加湿剤を含んでいる。
エチル・セルロースは本発明での使用に適した好ましい樹脂であるが、エチル・ヒドロキシエチル・セルロース、ウッドロジン、エチル・セルロースとフェノール性樹脂の混合物、低級アルコール類のポリメタクリレート、及びエチレン・グリコール・モノアセテートのモノブチル・エーテル等の樹脂も用いることができる。沸点(1気圧で)が約130℃から約350℃の範囲の溶剤が適している。適切な溶剤にはアルファ又はベータ・テルピネオルなどのテルペン類、Dowanol(登録商標)(ジエチレン・グリコール・モノエチル・エーテル)などの高沸点アルコール類、あるいはそれらとブチル・カルビトール(Carbitol)(登録商標)(ジエチレン・グリコール・モノエチル・エーテル)、ジブチル・カルビトール(Carbitol)(登録商標)(ジエチレン・グリコール・ジブチル・エーテル)、ブチル・カルビトール(Carbitol)(登録商標)アセテート(ジエチレン・グリコール・モノエチル・エーテル・アセテート)ヘキシレン・グリコール、テキサノール(Texanol)(登録商標)(2,2,4−トリメチル−1,3−ペンタンジオール・モノイソブチレート)、及びその他のアルコール・エステル、ケロシン、及びジブチル・フタレートなどとの混合物などがある。これら及びその他の溶剤のいろいろな組み合わせを調合して、それぞれの適用目的に適した粘度と蒸発性要件を達成することができる。他の分散剤、界面活性剤、及びレオロジー修正剤など、通常の薄膜ペースト製剤に一般的に用いられているものを含めることも可能である。そうした製品の市販品の例としては、以下の商品名で売られているものがある。テキサノール(Texanol)(登録商標)(Eastman Chemical Company,Kingsport, Tenn.); ダワノール(Dowanol)(登録商標)及びカルビトール(登録商標)(Carbitol)(Dow Chemical Co.,Midland,Mich);トリトン(Triton)(登録商標)(Union Carbide Division of Dow Chemical CO.,Midland,Michi.),チキサトロール(Thixatrol)(登録商標)(Elementis Company, Hightstown N.J.),及びディヒュソール(Diffisol)(登録商標)(Transene Co.,Inc,Danvers,Mass.).
一般的に使われている有機性チキソトロープ剤には水素処理したひまし油及びその変性体がある。どんな懸濁液内にも存在しているシヤスィニングと結合した溶剤はそれだけでもこの点では適しているので、チキソトロープは必ずしも常に必要ではない。さらに、N−タロウ−1,3−ジアミノプロパン・ジオレエート、N−タロウ・トリメチレン・ジアミン・ジアセテート、N−ココ・トリメチレン・ジアミン、ベータ・ジアミン、N−オレイル・トリメチレン・ジアミン、N−タロウ・トリメチレン・ジアミン、N−タロウ・トリメチレン・ジアミン・ジオレエート、及びそれらの組み合わせなどの脂肪酸エステルなどの加湿剤を用いることもできる。
本発明によるビアフィル材は3ロール式ミルを用いてつくるのが便利である。用いる賦形剤のタイプと量は主として最終的な望ましい製剤の粘度及びその材料のひきの細かさによって決められる。太陽光装置の場合、粘度は、ブルックフィールド粘度計HBT、スピンドル14を用いて25℃の温度で測定した場合に、毎秒9.6のせん断速度で、約100−約500pcpsの範囲内、好ましくは約300−約400kcpsの範囲内となるように調節される。
本発明によるビアフィル材は好ましくはシリコン・ウエハーのN側に形成される接点グリッドからバック接点上の絶縁層上に形成されるコレクタ・グリッドへの電導性経路を提供するために、太陽電池のビアへの充填に使用するのに適している。ビアフィル材は通常の薄膜塗布法を用いて塗布され、乾燥・熱処理される。熱処理中に、ビアフィル材が焼成し高密度化される。熱処理は空気中で通常の熱処理設備を用いて約550℃から約850℃のウエハー温度で行うことができる。
特定の理論に拘束されることなく、出願人らはビアフィル材内のガラス・フリットの少なくとも一部が熱処理中にビアを形成しているシリコン・ウエハーに移行する、及び/又はシリコン・ウエハーを被覆するのに対して、本発明によるビアフィル材内の銀粉末は焼成及び/又は溶融して、フロント接点グリッドとバック接点グリッドの間に金属製プラグを形成すると考えている。従って、電子は低い直列抵抗(R)で金属性微量成分を通じて流れることができるが、シリコン・ウエハー上のガラス被覆はシリコンへの接着性をもたらし、もっと正確に言えば、シリコン上の不働態化層に対する接着性を提供する。しかしながら、シリコンとガラスとの間の反応を制御して、ガラスTgの最善の選択を行うと同時に、異なった酸化物を使うことでシャンティングを防ぐことができる。
ビアフィルのシャンティング特性は太陽電池の電流−電圧(I−V)応答を通じての尺度として用いることができる。優れた太陽性能を実現するためには、シャント抵抗は1Kオームより大きい必要性がある。本発明での好ましいペーストは20Kオームより大きなシャント抵抗をもたらした。
以下の実施例は発明を説明することだけを目的としており、請求項に限定を課すものと解釈されるべきではない。
サイズが12.5cm×12.5cmで厚みが250−300μmの多結晶シリコン・ウエハーをそのウエハーのN側の窒化シリコン反射防止被膜を用いて被覆した。これらのウエハーのシート抵抗性は約1Ω−cmであった。接点グリッドはFerro Corporation(Vista,Calfornia)から市販されているNS33−502及びNS33−503ペーストを用いて、スクリーン印刷で形成した。
直径が200ミクロン程度のビアを拡散プロセス前にレーザー・ドリリングを用いてウエハーを通じて形成した。
表2に重量%で示す組成物をつくるために、通常のガラス作成技術を用いて、2つのタイプのガラス・フリットを個別に作成した。
Figure 2013545215
それぞれのガラス・フリットを2−5ミクロンD50の細かさに個別に破砕した。本発明による3つのタイプのビアフィル材を、表3に重量%で示してある成分を3式ロールを用いて混合することにより作成した。
Figure 2013545215
銀粉末I−IVはFerro Corporation(South Plainfield,New Jersey)から発売されている銀粉末、Silver Flake#125、Silver Powder 11000−04、Silver Powder7000−07、及びSiler Powder14000−06とそれぞれ対応する。
賦形剤A308−5VA、賦形剤626、賦形剤131、賦形剤132、賦形剤473は有機性賦形剤で、これらは種々のグレートのエチル・セルロースあるいはアクリル性樹脂を溶剤に溶かした樹脂溶液で、Ferro Corporationから発売されている。ビアフィル材組成物A、B、C及びDは次にステンシルを通じてプリントされ、シリコン・ウエハーのビアを充填する。ビアフィル材を塗布した後、それらの組成物を30秒間250℃で、あるいは5−7分間140℃から180℃の温度で乾燥してから、次に、赤外線加熱炉内で1−2秒間680℃から820℃の範囲の温度下で熱処理される。図2は、はんだ付けされたプラグ(つまり、ビアフィル材で充填されたビア)を示す顕微鏡写真で、この図でビアフィル材は組成物Aである。図3と4は、はんだ付けプラグ(つまり、ビアフィル材で充填されたビア)の断面図を示す顕微鏡写真で、この例ではビアフィル材は組成物Cである。
直列抵抗(R)及びシャント抵抗(Rsh)は太陽電池I−Vテスターを用いて測定された。組成物Dに関するデータを以下の表4に示す。
Figure 2013545215
さらなる利点や修正可能性は当業者には容易に想起できるであろう。従って、本発明はそのより広い態様においては、ここに述べられ、あるいは図示されている具体的な詳細事項や例示的な実施例に限定されるものではない。従って添付請求項に述べられている一般的な発明的概念及びそれらと同等のものの精神や範囲から逸脱せずに、種々の修正は可能であろう。

Claims (43)

  1. a: 65−90重量%の銀粉末と、
    b: 0.1−10重量%の少なくとも1種類のガラス・フリットと、
    c: ジルコニウム、ビスマス、アルミニウム、及びそれらの組み合わせで構成される群から選択される金属の少なくとも1つの酸化物あるいは粘土の個別的部分と、そして
    d: バリウム、カルシウム、マグネシウム、シリコン、及びそれらの組み合わせで構成される群から選択される金属の少なくとも1つの酸化物あるいは粘土の個別的部分
    とで構成される電導性ペースト。
  2. 前記銀粉末が第1のD50平均粒子サイズと第2のD50平均粒子サイズを有する少なくとも二様の粒子サイズ分布を有していることを特徴とする、請求項1記載のペースト。
  3. 前記銀粉末が第1のD50平均粒子サイズを有する銀の第1の部分と、第2のD50平均粒子サイズを有する銀の第2の部分と、第3のD50平均粒子サイズを有する銀の第3の部分を有する少なくとも三様の粒子サイズ分布を有していることを特徴とする、請求項1記載のペースト。
  4. 前記第1のD50サイズが0.5−5ミクロンの範囲であり、前記第2のD50サイズが0.5−2.5ミクロンの範囲であり、前記第3のD50サイズが0.1−1.5ミクロンの範囲であり、これらD50サイズが相互に少なくとも0.1ミクロンは違っていることを特徴とする、請求項3記載のペースト。
  5. 前記第1のD50サイズが1−4.5ミクロンの範囲であり、前記第2のD50サイズが0.75−2.25ミクロンの範囲であり、前記第3のD50サイズが0.3−1.3ミクロンの範囲であることを特徴とする、請求項4記載のペースト。
  6. 前記第1のD50サイズが1.5−3.5ミクロンの範囲であり、前記第2のD50サイズが1−2ミクロンの範囲であり、前記第3のD50サイズが0.5−1.0ミクロンの範囲であることを特徴とする、請求項5記載のペースト。
  7. 前記第1のD50サイズが2−3ミクロンの範囲であり、前記第2のD50サイズが1.25−1.75ミクロンの範囲であり、前記第3のD50サイズが0.6−0.9ミクロンの範囲であることを特徴とする請求項6記載のペースト。
  8. 前記銀粉末が20−50重量%の第1の部分と、30−50重量%の第2の部分と、0.1−10重量%の第3の部分で構成されていることを特徴とする、請求項4〜7のいずれか1項記載のペースト。
  9. 前記銀粉末が25−45重量%の第1の部分と、35−45重量%の第2の部分と、2−8重量%の第3の部分で構成されていることを特徴とする、請求項4〜7のいずれか1項記載のペースト。
  10. 前記銀粉末が30−40重量%の第1の部分と、30−40重量%の第2の部分と、3−7重量%の第3の部分で構成されていることを特徴とする、請求項4〜7のいずれか1項記載のペースト。
  11. 前記第1のD50サイズが2−20ミクロンの範囲であり、前記第2のD50サイズが0.5−2.5ミクロンの範囲であり、前記第3のD50サイズが0.1−1.5ミクロンの範囲であり、これらD50サイズが相互に少なくとも0.1ミクロンは違っていることを特徴とする、請求項3記載のペースト。
  12. 前記第1のD50サイズが3−15ミクロンの範囲であり、前記第2のD50サイズが0.75−2.25ミクロンの範囲であり、前記第3のD50サイズが0.3−1.3ミクロンの範囲であることを特徴とする、請求項11記載のペースト。
  13. 前記第1のD50サイズが4−10ミクロンの範囲であり、前記第2のD50サイズが1−2ミクロンの範囲であり、前記第3のD50サイズが0.5−1.0ミクロンの範囲であることを特徴とする、請求項11記載のペースト。
  14. 前記第1のD50サイズが5−9ミクロンの範囲であり、前記第2のD50サイズが1.25−1.75ミクロンの範囲であり、前記第3のD50サイズが0.6−0.9ミクロンの範囲であることを特徴とする、請求項11記載のペースト。
  15. 前記銀粉末が40−70重量%の第1の部分と、5−25重量%の第2の部分と、1−20重量%の第3の部分で構成されていることを特徴とする、請求項11〜14のいずれか1項記載のペースト。
  16. 前記銀粉末が45−65重量%の第1の部分と、10−20重量%の第2の部分と、5−15重量%の第3の部分で構成されていることを特徴とする、請求項11〜14のいずれか1項記載のペースト。
  17. 前記銀粉末が50−60重量%の第1の部分と、12−18重量%の第2の部分と、6−10重量%の第3の部分で構成されていることを特徴とする、請求項11〜14のいずれか1項記載のペースト。
  18. 前記銀粉末が3−15ミクロンの範囲の第1のD50平均粒子サイズと、0.7−1.5ミクロンの範囲の第2のD50平均粒子サイズと、1−3ミクロンの範囲の第1のD50平均粒子サイズとを有していることを特徴とする、請求項3記載のペースト。
  19. (c)及び(d)の合計がペーストの0.01−10重量%を構成していることを特徴とする、請求項1記載のペースト。
  20. (c)の前記粘土または酸化物が前記ペーストの0.1−5重量%を構成していることを特徴とする、請求項1記載のペースト。
  21. (d)の前記粘土または酸化物が前記ペーストの0.01−2重量%を構成していることを特徴とする、請求項1記載のペースト。
  22. (c)構成成分の前記粘土または酸化物が、ジルコニウム、ビスマス、アルミニウム、及びそれらの組み合わせで構成される群から選択される金属の単純な酸化物であることを特徴とする、請求項1記載のペースト。
  23. (d)構成成分の前記粘土または酸化物が、バリウム、カルシウム、マグネシウム、シリコン、及びそれらの組み合わせで構成される群から選択される金属の粘土であることを特徴とする、請求項1記載のペースト。
  24. (c)構成成分の前記粘土または酸化物がジルコニアを含んでいることを特徴とする、請求項5記載のペースト。
  25. (c)構成成分の前記粘土または酸化物がさらにアルミナを含んでいることを特徴とする請求項24記載のペースト。
  26. (c)構成成分の前記粘土または酸化物がBiを含んでいることを特徴とする、請求項24記載のペースト。
  27. (c)構成成分の粘土あるいは酸化物がさらにベントナイトを含んでいることを特徴とする、請求項24記載のペースト。
  28. (d)の前記粘土または酸化物がさらにベントナイトを含んでいることを特徴とする、請求項27記載のペースト。
  29. (c)の前記粘土または酸化物がBiを含んでいることを特徴とする、請求項11記載のペースト。
  30. 前記ペーストが74−87重量%の銀粉末を含んでいることを特徴とする、請求項1記載のペースト。
  31. 少なくとも1種類のガラス・フリットがPbO、P、V、ZrO、SiO、Al、ZnO及びTaで構成される群から選択される少なくとも1つの酸化物で構成されることを特徴とする、請求項1記載のペースト。
  32. 前記少なくとも1種類のガラス・フリットがPbO、P、及びVを含んでいることを特徴とする、請求項1記載のペースト。
  33. 前記ガラス・フリットが20−40重量%のPbO、5−20重量%のP、及び45−70重量%のVを含んでいることを特徴とする、請求項32記載のペースト。
  34. 少なくとも1種類のガラス・フリットがPbO、ZnO、SiO、Al及びTaを含んでいることを特徴とする、請求項1記載のペースト。
  35. 前記少なくとも1種類のガラス・フリットが45−70重量%のPbO、10−30重量%のZnO、5−25重量%のSiO、1−15重量%のAl及び1−10重量%のTaを含んでいることを特徴とする、請求項34記載のペースト。
  36. 前記少なくとも1種類のガラス・フリットが250−650℃の範囲の軟化温度を有していることを特徴とする、請求項1記載のペースト。
  37. 前記少なくとも1種類のガラス・フリットのTgが300−550℃の範囲であることを特徴とする、請求項1記載のペースト。
  38. 前記少なくとも1種類のガラス・フリットが加熱すると少なくとも部分的に結晶化することを特徴とする、請求項1記載のペースト。
  39. 第1の主表面と第2の主表面と、そして前記第1の主表面から前記第2の主表面に延びる側壁を有するビアを含んでおり、前記ビアが前記第1の主表面と前記第2の主表面間で電気を伝導することができる熱処理された電導性物質によって満たされており、前記電導性物質が前記電導性物質の熱処理中に形成される絶縁層によって前記ビアの側壁から電気的に絶縁されていることを特徴とする、電子装置。
  40. a: 第1の面とそれに向き合った第2の面と前記第1の面と第2の面との間に延びているビアを有する基板を設けるステップで、前記ビアが前記基板に沿って形成される側壁を有しているステップと、
    b: 前記ビアに電導性の充填材を塗布するステップと、そして
    c: 前記基板を熱処理して、前記電導性充填材が前記電導性充填材と前記側壁との間に絶縁層を形成し、さらに、前記第1の表面から前記第2の面に延びる電導性経路を形成するステップ
    を含んでいる、電子装置を製造する方法。
  41. 前記電導性の充填材が熱処理中に前記側壁とは反応しないことを特徴とする、請求項40記載の方法。
  42. a: 65−90重量%の銀粉末と、
    b: 0.1−10重量%の少なくとも1種類のガラス・フリットと、
    c: ジルコニウム、ビスマス、アルミニウム、及びそれらの組み合わせで構成される群から選択される金属の少なくとも1つの酸化物あるいは粘土の個別的部分と
    で構成される電導性ペースト。
  43. さらに、バリウム、カルシウム、マグネシウム、シリコン、及びそれらの組み合わせで構成される群から選択される金属の少なくとも1つの酸化物あるいは粘土の個別的な部分(d)を含んでいる、請求項42記載の電導性ペースト。
JP2013527306A 2010-09-01 2011-09-01 太陽光装置用のビアフィル材 Pending JP2013545215A (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US37895910P 2010-09-01 2010-09-01
US61/378,959 2010-09-01
PCT/US2011/050145 WO2012031078A1 (en) 2010-09-01 2011-09-01 Via fill material for solar applications

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2013545215A true JP2013545215A (ja) 2013-12-19
JP2013545215A5 JP2013545215A5 (ja) 2016-01-14

Family

ID=45773271

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2013527306A Pending JP2013545215A (ja) 2010-09-01 2011-09-01 太陽光装置用のビアフィル材

Country Status (8)

Country Link
US (1) US20140332067A1 (ja)
EP (1) EP2612331A4 (ja)
JP (1) JP2013545215A (ja)
KR (1) KR20130124482A (ja)
CN (1) CN103430240A (ja)
BR (1) BR112013004884A2 (ja)
SG (1) SG188359A1 (ja)
WO (1) WO2012031078A1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014003285A (ja) * 2012-06-01 2014-01-09 Heraeus Precious Metals North America Conshohocken Llc 低金属含量導電性ペースト組成物

Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10038109B2 (en) * 2011-09-09 2018-07-31 Heraeus Precious Metals North America Conshohocken Llc Silver solar cell contacts
US9374892B1 (en) * 2011-11-01 2016-06-21 Triton Microtechnologies Filling materials and methods of filling through holes for improved adhesion and hermeticity in glass substrates and other electronic components
CN104170020A (zh) * 2012-01-18 2014-11-26 赫劳斯贵金属北美康舍霍肯有限责任公司 含有有机锌化合物的太阳能电池金属化
EP2891158A1 (en) * 2012-08-31 2015-07-08 Heraeus Deutschland GmbH & Co. KG An electro-conductive paste comprising ag nano-particles and spherical ag micro-particles in the preparation of electrodes
US9763317B2 (en) * 2013-03-14 2017-09-12 Cisco Technology, Inc. Method and apparatus for providing a ground and a heat transfer interface on a printed circuit board
EP2787510B1 (en) * 2013-04-02 2018-05-30 Heraeus Deutschland GmbH & Co. KG Particles comprising Al, Si and Mg in electro-conductive pastes and solar cell preparation
ES2649662T3 (es) * 2013-07-09 2018-01-15 Heraeus Deutschland GmbH & Co. KG Una pasta electroconductora que comprende partículas de Ag con una distribución multimodal del diámetro en la preparación de electrodos en células solares MWT
TWI642154B (zh) * 2013-12-25 2018-11-21 日商三菱綜合材料股份有限公司 電源模組用基板及其製造方法、電源模組
CN103824613A (zh) * 2014-03-18 2014-05-28 山西盛驰科技有限公司 一种高性能晶体硅太阳能电池背场的浆料
WO2015179268A1 (en) * 2014-05-19 2015-11-26 Sun Chemical Corporation A silver paste containing bismuth oxide and its use in solar cells
JP6164256B2 (ja) * 2015-07-08 2017-07-19 住友ベークライト株式会社 熱伝導性組成物、半導体装置、半導体装置の製造方法、および放熱板の接着方法
CN105097070B (zh) * 2015-07-22 2017-05-31 深圳市春仰科技有限公司 太阳能电池正面导电银浆及其制备方法
EP4173051A4 (en) * 2016-09-30 2023-12-27 Greatcell Energy Limited SOLAR MODULE AND METHOD FOR MANUFACTURING A SOLAR MODULE
TW202212498A (zh) 2016-11-18 2022-04-01 美商山姆科技公司 填充基板的穿通孔之填充材料及方法
TWI769376B (zh) 2018-03-30 2022-07-01 美商山姆科技公司 導電性通孔及其製造方法
EP4148748A1 (en) * 2018-07-06 2023-03-15 Senju Metal Industry Co., Ltd. Electrically conductive paste and sintered body
CN109659067A (zh) * 2018-12-06 2019-04-19 中国科学院山西煤炭化学研究所 用于perc晶体硅太阳能电池的正银浆料及制法
DE102021000640A1 (de) 2021-02-09 2022-08-11 Azur Space Solar Power Gmbh Verfahren zur Strukturierung einer Isolationsschicht auf einer Halbleiterscheibe

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1012045A (ja) * 1996-06-25 1998-01-16 Sumitomo Metal Mining Co Ltd 低温焼成用導電ペースト
JPH11153857A (ja) * 1997-09-18 1999-06-08 E I Du Pont De Nemours & Co 熱に補助された光感受性組成物およびそれについての方法
JP2007018884A (ja) * 2005-07-07 2007-01-25 Noritake Co Ltd 導電性ペースト
JP2007294677A (ja) * 2006-04-25 2007-11-08 Sharp Corp 太陽電池電極用導電性ペースト
JP2010526414A (ja) * 2007-04-25 2010-07-29 フエロ コーポレーション 銀及びニッケル、もしくは、銀及びニッケル合金からなる厚膜導電体形成、及びそれから作られる太陽電池
JP2010538466A (ja) * 2007-08-29 2010-12-09 フエロ コーポレーション 太陽電池におけるファイヤースルー用の厚膜ペースト

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6384473B1 (en) * 2000-05-16 2002-05-07 Sandia Corporation Microelectronic device package with an integral window
KR101087202B1 (ko) * 2003-11-27 2011-11-29 쿄세라 코포레이션 태양 전지 모듈
EP2015367A4 (en) * 2006-04-25 2011-10-05 Sharp Kk ELECTRO-CONDUCTIVE PASTE FOR A SOLAR BATTERY ELECTRODE
CN101609849B (zh) * 2009-07-13 2010-11-03 中南大学 太阳能电池正面电极用银导体浆料及其制备工艺

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1012045A (ja) * 1996-06-25 1998-01-16 Sumitomo Metal Mining Co Ltd 低温焼成用導電ペースト
JPH11153857A (ja) * 1997-09-18 1999-06-08 E I Du Pont De Nemours & Co 熱に補助された光感受性組成物およびそれについての方法
JP2007018884A (ja) * 2005-07-07 2007-01-25 Noritake Co Ltd 導電性ペースト
JP2007294677A (ja) * 2006-04-25 2007-11-08 Sharp Corp 太陽電池電極用導電性ペースト
JP2010526414A (ja) * 2007-04-25 2010-07-29 フエロ コーポレーション 銀及びニッケル、もしくは、銀及びニッケル合金からなる厚膜導電体形成、及びそれから作られる太陽電池
JP2010538466A (ja) * 2007-08-29 2010-12-09 フエロ コーポレーション 太陽電池におけるファイヤースルー用の厚膜ペースト

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014003285A (ja) * 2012-06-01 2014-01-09 Heraeus Precious Metals North America Conshohocken Llc 低金属含量導電性ペースト組成物

Also Published As

Publication number Publication date
CN103430240A (zh) 2013-12-04
BR112013004884A2 (pt) 2016-05-03
US20140332067A1 (en) 2014-11-13
EP2612331A1 (en) 2013-07-10
WO2012031078A1 (en) 2012-03-08
EP2612331A4 (en) 2014-12-17
SG188359A1 (en) 2013-04-30
KR20130124482A (ko) 2013-11-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2013545215A (ja) 太陽光装置用のビアフィル材
US7718092B2 (en) Aluminum thick film composition(s), electrode(s), semiconductor device(s) and methods of making thereof
US7494607B2 (en) Electroconductive thick film composition(s), electrode(s), and semiconductor device(s) formed therefrom
JP5395995B2 (ja) 半導体デバイスの製造に使用される導電性組成物および方法
EP1713093B1 (en) Backside electrode for solar cell and fabrication method
JP5349738B2 (ja) 半導体デバイスの製造方法、およびそこで使用される導電性組成物
CN102891215B (zh) 制造太阳能电池接触层的方法
KR101693840B1 (ko) 태양전지 전면전극용 페이스트 조성물 및 이를 이용한 태양전지
US20140352778A1 (en) Solar cell pastes for low resistance contacts
JP2006302891A (ja) 半導体デバイスの製造方法、およびそこで使用される導電性組成物
WO2012140787A1 (ja) 電極用ペースト組成物、太陽電池素子及び太陽電池
JP2016533019A (ja) 太陽電池電極形成用組成物及びこれによって製造された電極
WO2011090213A1 (ja) 電極用ペースト組成物及び太陽電池
WO2013015285A1 (ja) 素子および太陽電池
KR101706539B1 (ko) 태양 전지 전극 형성용 유리 프릿 조성물, 이를 사용하여 형성된 태양 전지용 전극, 및 상기 전극을 포함하는 태양 전지
US9748417B2 (en) Composition for forming solar cell electrode and electrode produced from same
KR101648245B1 (ko) 태양전지 전극 형성용 조성물 및 이로부터 제조된 전극
JP2007128872A (ja) アルミニウム厚膜組成物、電極、半導体デバイス、およびこれらの作製方法
JP2019507937A (ja) 太陽電池電極調製用ペースト組成物、太陽電池の電極及び太陽電池
JP6074483B1 (ja) 導電性組成物

Legal Events

Date Code Title Description
A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711

Effective date: 20140707

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20140707

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20140807

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20150716

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20150804

A524 Written submission of copy of amendment under section 19 (pct)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A524

Effective date: 20151104

A524 Written submission of copy of amendment under section 19 (pct)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A524

Effective date: 20151104

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20151222

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20160628