JP2013541699A5 - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- JP2013541699A5 JP2013541699A5 JP2013526576A JP2013526576A JP2013541699A5 JP 2013541699 A5 JP2013541699 A5 JP 2013541699A5 JP 2013526576 A JP2013526576 A JP 2013526576A JP 2013526576 A JP2013526576 A JP 2013526576A JP 2013541699 A5 JP2013541699 A5 JP 2013541699A5
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- grating
- area
- pitch
- distance
- ray
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- LFEUVBZXUFMACD-UHFFFAOYSA-H lead(2+);trioxido(oxo)-$l^{5}-arsane Chemical compound [Pb+2].[Pb+2].[Pb+2].[O-][As]([O-])([O-])=O.[O-][As]([O-])([O-])=O LFEUVBZXUFMACD-UHFFFAOYSA-H 0.000 claims 6
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims 3
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims 1
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| EP10175176 | 2010-09-03 | ||
| EP10175176.6 | 2010-09-03 | ||
| PCT/IB2011/053750 WO2012029005A1 (en) | 2010-09-03 | 2011-08-26 | Differential phase-contrast imaging with improved sampling |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2013541699A JP2013541699A (ja) | 2013-11-14 |
| JP2013541699A5 true JP2013541699A5 (enExample) | 2014-10-09 |
| JP5961614B2 JP5961614B2 (ja) | 2016-08-02 |
Family
ID=44674840
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2013526576A Expired - Fee Related JP5961614B2 (ja) | 2010-09-03 | 2011-08-26 | 位相差イメージングのための格子装置、位相差イメージングのための装置、当該装置を有するx線システム、当該装置の使用方法 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US9105369B2 (enExample) |
| EP (1) | EP2611364B1 (enExample) |
| JP (1) | JP5961614B2 (enExample) |
| CN (1) | CN103079469B (enExample) |
| WO (1) | WO2012029005A1 (enExample) |
Families Citing this family (26)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2012029005A1 (en) * | 2010-09-03 | 2012-03-08 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Differential phase-contrast imaging with improved sampling |
| JP6228457B2 (ja) * | 2010-10-19 | 2017-11-08 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェKoninklijke Philips N.V. | 微分位相コントラスト画像形成 |
| EP2630476B1 (en) * | 2010-10-19 | 2017-12-13 | Koninklijke Philips N.V. | Differential phase-contrast imaging |
| US9597050B2 (en) * | 2012-01-24 | 2017-03-21 | Koninklijke Philips N.V. | Multi-directional phase contrast X-ray imaging |
| US9826949B2 (en) * | 2012-03-05 | 2017-11-28 | University Of Rochester | Methods and apparatus for differential phase-contrast cone-beam CT and hybrid cone-beam CT |
| JP2013255536A (ja) * | 2012-06-11 | 2013-12-26 | Konica Minolta Inc | 放射線画像撮影装置 |
| EP3064930B1 (en) * | 2013-10-31 | 2018-04-18 | Tohoku University | Non-destructive inspection device |
| CN104622492A (zh) * | 2013-11-11 | 2015-05-20 | 中国科学技术大学 | 一种x射线光栅相位衬度成像装置和方法 |
| KR20170015886A (ko) * | 2014-05-09 | 2017-02-10 | 더 존스 홉킨스 유니버시티 | 위상 콘트라스트 엑스레이 이미징을 위한 시스템 및 방법 |
| US10368815B2 (en) | 2014-07-17 | 2019-08-06 | Koninklijke Philips N.V. | X-ray imaging device |
| US10420521B2 (en) | 2014-08-05 | 2019-09-24 | Koninklijke Philips N.V. | Grating device for an X-ray imaging device |
| AU2014250719A1 (en) * | 2014-10-17 | 2016-05-05 | Canon Kabushiki Kaisha | Image processing method, system and apparatus |
| CN107106101B (zh) * | 2014-12-22 | 2020-04-24 | 株式会社岛津制作所 | 放射线相位差摄影装置 |
| JPWO2017168844A1 (ja) * | 2016-03-28 | 2019-02-07 | コニカミノルタ株式会社 | X線タルボ撮影装置 |
| KR102543948B1 (ko) | 2016-05-17 | 2023-06-15 | 삼성전자주식회사 | 클럭 신호 생성기 및 기판 검사 장치 |
| EP3427664A1 (en) | 2017-07-13 | 2019-01-16 | Koninklijke Philips N.V. | A device for scatter correction in an x-ray image and a method for scatter correction in an xray image |
| TWI613804B (zh) * | 2017-09-04 | 2018-02-01 | 友達光電股份有限公司 | 光感測裝置 |
| JP6743983B2 (ja) * | 2017-10-31 | 2020-08-19 | 株式会社島津製作所 | X線位相差撮像システム |
| US11422292B1 (en) * | 2018-06-10 | 2022-08-23 | Apple Inc. | Super-blazed diffractive optical elements with sub-wavelength structures |
| EP3603515A1 (en) * | 2018-08-01 | 2020-02-05 | Koninklijke Philips N.V. | Apparatus for generating x-ray imaging data |
| CN109458922B (zh) * | 2018-11-05 | 2019-08-30 | 浙江大学 | 一种静电式自供能位移栅格传感器 |
| WO2020095482A1 (ja) * | 2018-11-06 | 2020-05-14 | 株式会社島津製作所 | X線位相撮像システム |
| US11754767B1 (en) | 2020-03-05 | 2023-09-12 | Apple Inc. | Display with overlaid waveguide |
| EP4029451A1 (en) | 2021-01-19 | 2022-07-20 | Koninklijke Philips N.V. | An x-ray imaging system and method |
| WO2022197339A1 (en) | 2021-03-17 | 2022-09-22 | Apple Inc. | Waveguide-based transmitters with adjustable lighting |
| CN113758952B (zh) * | 2021-08-20 | 2022-10-11 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 基于动量编码的x射线衍射成像装置及方法 |
Family Cites Families (17)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5812629A (en) * | 1997-04-30 | 1998-09-22 | Clauser; John F. | Ultrahigh resolution interferometric x-ray imaging |
| JP3987676B2 (ja) * | 2000-07-10 | 2007-10-10 | 株式会社日立メディコ | X線計測装置 |
| DE102006015356B4 (de) * | 2006-02-01 | 2016-09-22 | Siemens Healthcare Gmbh | Verfahren zur Erzeugung projektiver und tomographischer Phasenkontrastaufnahmen mit einem Röntgen-System |
| DE102006063048B3 (de) * | 2006-02-01 | 2018-03-29 | Siemens Healthcare Gmbh | Fokus/Detektor-System einer Röntgenapparatur zur Erzeugung von Phasenkontrastaufnahmen |
| DE102006037256B4 (de) * | 2006-02-01 | 2017-03-30 | Paul Scherer Institut | Fokus-Detektor-Anordnung einer Röntgenapparatur zur Erzeugung projektiver oder tomographischer Phasenkontrastaufnahmen sowie Röntgensystem, Röntgen-C-Bogen-System und Röntgen-CT-System |
| CN101013613B (zh) * | 2006-02-01 | 2011-10-19 | 西门子公司 | X射线设备的焦点-检测器装置的x射线光学透射光栅 |
| JP2008224661A (ja) * | 2007-02-14 | 2008-09-25 | Konica Minolta Medical & Graphic Inc | X線撮像素子、装置及び方法 |
| JP5493852B2 (ja) * | 2007-02-21 | 2014-05-14 | コニカミノルタ株式会社 | 放射線画像撮影装置 |
| CN101952900B (zh) * | 2008-02-14 | 2013-10-23 | 皇家飞利浦电子股份有限公司 | 用于相位对比成像的x射线探测器 |
| JP5339975B2 (ja) | 2008-03-13 | 2013-11-13 | キヤノン株式会社 | X線位相イメージングに用いられる位相格子、該位相格子を用いたx線位相コントラスト像の撮像装置、x線コンピューター断層撮影システム |
| CN101413905B (zh) * | 2008-10-10 | 2011-03-16 | 深圳大学 | X射线微分干涉相衬成像系统 |
| JP5660910B2 (ja) * | 2010-03-30 | 2015-01-28 | 富士フイルム株式会社 | 放射線画像撮影用グリッドの製造方法 |
| WO2012029005A1 (en) * | 2010-09-03 | 2012-03-08 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Differential phase-contrast imaging with improved sampling |
| JP6228457B2 (ja) * | 2010-10-19 | 2017-11-08 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェKoninklijke Philips N.V. | 微分位相コントラスト画像形成 |
| JP2012157690A (ja) * | 2011-01-14 | 2012-08-23 | Fujifilm Corp | 放射線画像撮影装置および放射線画像検出器 |
| JP2012166010A (ja) * | 2011-01-26 | 2012-09-06 | Fujifilm Corp | 放射線画像撮影装置および放射線画像検出器 |
| JP2012161412A (ja) * | 2011-02-04 | 2012-08-30 | Fujifilm Corp | 放射線画像撮影用グリッド及びその製造方法、並びに放射線画像撮影システム |
-
2011
- 2011-08-26 WO PCT/IB2011/053750 patent/WO2012029005A1/en not_active Ceased
- 2011-08-26 CN CN201180041580.3A patent/CN103079469B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2011-08-26 JP JP2013526576A patent/JP5961614B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2011-08-26 EP EP11760576.6A patent/EP2611364B1/en not_active Not-in-force
- 2011-08-26 US US13/819,764 patent/US9105369B2/en not_active Expired - Fee Related
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP2013541699A5 (enExample) | ||
| JP2013039363A5 (ja) | 計算機式断層写真法(ct)撮像用の低分解能シンチレート式アレイ | |
| EP2730948A4 (en) | IMAGE DETECTOR WITH PHOTON COUNTING, X-RAY DIAGNOSTIC DEVICE AND X-RAY COMPUTER TOMOGRAPHY DEVICE | |
| EP2633813A4 (en) | PHASE CONTRAST RADIATION IMAGE DEVICE | |
| EP2589986A3 (en) | Photon counting detector to generate high-resolution images and high-contrast images, and photon counting and detecting method using the same | |
| JP2015519091A5 (enExample) | ||
| JP2009244260A5 (enExample) | ||
| JP2012110472A5 (enExample) | ||
| JP2012066075A5 (enExample) | ||
| JP2009276342A5 (enExample) | ||
| WO2009113726A3 (en) | Phase grating used for x-ray phase imaging, imaging apparatus for x-ray phase contrast image using phase grating, and x-ray computed tomography system | |
| PL2628030T3 (pl) | Zdalnie wyrównywana łukowata matryca detektorowa do wysokoenergetycznego obrazowania rentgenowskiego | |
| JP2013152160A5 (enExample) | ||
| JP2012085995A5 (enExample) | ||
| JP2012191376A5 (enExample) | ||
| EP2280293A3 (en) | Radiographic detector formed on scintillator | |
| JP2016503721A5 (enExample) | ||
| IN2014DE03318A (enExample) | ||
| EP2629083A3 (en) | 3d backscatter imaging system | |
| FI20095333L (fi) | Röntgentietokonetomografiakuvauslaite | |
| WO2013089154A8 (ja) | X線ct装置 | |
| JP2016523157A5 (enExample) | ||
| ES2550483T9 (es) | Un intercambiador de calor de placas | |
| RU2016119367A (ru) | Рентгеновская система, в частности система томосинтеза и способ получения изображения объекта | |
| JP2013138836A5 (enExample) |