JP2013541699A - サンプリングを改善した微分位相差イメージング - Google Patents

Abstract

本発明は対象の微分位相差イメージングに関する。Ｘ線イメージングシステム２の空間分解能を増すために、検出器ピクセル素子８のサイズが制限要素とみなされ得る。従って、個別ピクセル素子８の面積をさらに減らすことなく位相差イメージング用の装置３８の分解能を増すことが有益であり得る。従って、サンプリングを改善した位相差イメージング用の装置３８が提供され、Ｘ線源４、第１の格子素子Ｇ_１２４、第２の格子素子Ｇ_２２６、及び複数の検出器ピクセル素子８を有するＸ線検出器素子６を有し、各検出器ピクセル素子８はピクセル面積Ａを持つ。撮像対象１４はＸ線源４とＸ線検出器素子６の間に配置可能である。第１の格子素子Ｇ_１２４及び第２の格子素子Ｇ_２２６はＸ線源４とＸ線検出器素子６の間に配置可能である。Ｘ線源４、第１の格子素子Ｇ_１２４、第２の格子素子Ｇ_２２６、及びＸ線検出器６は対象１４の位相差画像の収集のために動作可能に結合する。第１の格子素子Ｇ_１２４と第２の格子素子Ｇ_２２６の少なくとも一つは第１の格子ピッチｐ_１を持つ第１の面積Ａ_１、及び第１の格子ピッチと異なる第２の格子ピッチｐ_２を持つ第２の面積Ａ_２を有する。

Description

本発明は一般にＸ線イメージング技術に関する。

より具体的には、本発明は微分位相差イメージングに関する。

特に、本発明はサンプリングを改善した位相差イメージングのための装置、本発明にかかる装置を有するＸ線システム、並びにＸ線システム及びＣＴシステムの一つにおける本発明にかかる装置の使用に関する。

Ｘ線画像を取得するとき、検査対象、例えば患者がＸ線発生装置とＸ線検出器の間に配置される。Ｘ線発生装置から発するＸ線放射は検査対象を貫通し、その後Ｘ線検出器に到達する。Ｘ線放射の経路内に位置する検査対象は、対象内の特定組織構造に依存してＸ線ビームを空間的に減衰させている。Ｘ線検出器はその後Ｘ線放射の強度分布を決定することによって空間的に減衰したＸ線放射を検出しており、この画像情報は検査対象のＸ線画像を生成し、さらに処理し、その後表示するために利用される。

しかしながら、検査対象はＸ線放射を減衰させるときにごくわずかな違いしか与えず、コントラストの低い、従って対象の撮像された内部構造の詳細を欠く、比較的均一に減衰したＸ線画像をもたらす。

特定対象若しくは対象内の領域は同様の減衰特性を有し得るが、対象を貫通するＸ線放射の位相は対象の構造によって大幅に影響され得る。

位相差イメージングにおいては、例えばＸ線管などのＸ線源の近くに隣接して配置される線源格子によって生成される、少なくとも部分的に空間的にコヒーレントなＸ線放射が利用される。対象を貫通するコヒーレントなＸ線は位相情報のその後の回復を可能にし得る。

しかしながら、波の位相は直接測定されることができず、むしろ例えば二つ以上の波を干渉させることによって位相シフトが強度変調に変換されることが要求され得る。

一致した干渉パターンを生成するために、いわゆる位相格子が利用され、検査対象とＸ線検出器の間に配置される。しかしながら、位相格子を利用することのみによって生成される干渉パターンは、Ｘ線検出器の空間分解能の欠如のために、現在のＸ線検出器で検出するにはあまりにも小さ過ぎる。

従って、さらなる分析器格子が利用されて位相格子とＸ線検出器の間に配置され、その後現在のＸ線検出器によって検出できるほど十分に大きい干渉パターンをもたらす。

適切な画像情報を得るために、いわゆる位相ステッピングが実行される。位相ステッピングにおいて、線源格子、位相格子、及び分析器格子の一つはその格子ピッチの比率で、例えば位相格子の格子ピッチの１／４，１／６，１／８で、他の格子とＸ線検出器素子に対して横方向にずらされる。位相ステッピングが特定格子を用いて実行される場合、位相ステッピングはこの特定格子の全周期をカバーするものとする。

格子に基づく微分位相差イメージングシステムの空間分解能は典型的にはＸ線源の焦点のサイズと単一検出器ピクセル素子のサイズによって制限される。

微分位相差イメージングは減衰のみを考慮して透過Ｘ線イメージングに関する改善された画像情報を提供し得るが、そうして得られる画像情報の空間分解能は依然として個々の検出器ピクセル素子とそれらの各サイズによって制限されるとみなされ得る。

従って、より詳細な画像情報を得るために、微分位相差投影の収集画像情報の改良された若しくは増強された空間分解能が有益であり得る。

Ｘ線位相差イメージングはＷｅｉｔｋａｍｐ Ｔ．，Ｄｉａｚ Ａ．，Ｄａｖｉｄ Ｃ．ｅｔ ａｌ．："Ｘ‐ｒａｙ ｐｈａｓｅ ｉｍａｇｉｎｇ ｗｉｔｈ ａ ｇｒａｔｉｎｇ ｉｎｔｅｒｆｅｒｏｍｅｔｅｒ"；Ｏｐｔｉｃｓ Ｅｘｐｒｅｓｓ ６２９６，８．Ａｕｇｕｓｔ ２００５，Ｖｏｌ．１３，Ｎｏ．１６及びＢａｒｔｌ Ｐ．，Ｄｕｒｓｔ Ｊ．，Ｈａａｓ Ｗ．ｅｔ ａｌ．"Ｓｉｍｕｌａｔｉｏｎ ｏｆ Ｘ‐ｒａｙ ｐｈａｓｅ‐ｃｏｎｔｒａｓｔ ｃｏｍｐｕｔｅｄ ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ ｏｆ ａ ｍｅｄｉｃａｌ ｐｈａｎｔｏｍ ｃｏｍｐｒｉｓｉｎｇ ｐａｒｔｉｃｌｅ ａｎｄ ｗａｖｅ ｃｏｎｔｒｉｂｕｔｉｏｎｓ"，Ｐｒｏｃ ｏｆ ＳＰＩＥ，Ｖｏｌｕｍｅ ７６２２，７６２２０Ｑ‐１の両方に記載されている。

本発明の態様は、検出器ピクセル素子の物理的サイズに直接依存する空間分解能の制限を克服し、従って検出器ピクセル素子の実際のサイズを超えて空間分解能を増加するための手段を提供するものとして見られ得る。これは現在のＸ線検出器を利用しながら微分位相差投影の空間分解能を改善すること、若しくは例えば個々の検出器ピクセル素子の個々のピクセル面積を増加することによって微分位相差投影の空間分解能を維持しながら検出器の空間分解能の要件を緩和することを可能にし得る。

従って、独立請求項にかかる、サンプリングを改善した位相差イメージングのための装置、本発明にかかる装置を有するＸ線システム、並びにＸ線システム及びＣＴシステムの少なくとも一つにおける本発明にかかる装置の使用が提供される。

好適な実施形態は従属請求項から得られる。

特に、個々のピクセル素子の面積をさらに縮小することなく位相差イメージングのための装置の分解能を増加することが有益であり得る。

本発明のこれらの及び他の態様は以下に記載の実施形態から明らかとなり、これらを参照して解明される。

本発明の実施形態例は以下の図面を参照して以下に記載される。

図面における説明図は略図である。異なる図面において、同様の若しくは同一の要素は同様の若しくは同一の参照数字を与えられる。

図面は縮尺通りに描かれないが、定性的比率を描き得る。

本発明にかかるＸ線システムの実施形態例を示す。 本発明にかかる位相差イメージングのための装置の詳細例を示す。 本発明にかかる格子配置の詳細例を示す。

本発明の一態様は、各検出器ピクセルに対して不均一な若しくは変動するピッチ構造を持つ位相格子と分析器格子を利用するものとして見られ得る。特に、位相格子と分析器格子の各々は２つの個別面積に分割され、各個別面積はＸ線検出器の単一検出器ピクセル素子の面積及び／又はサイズに対応するものとして見られ得る。

単一検出器ピクセル素子に対応する各面積内で、位相格子と分析器格子の格子構造は不均一格子構造であり得る。不均一格子構造は各検出器ピクセル素子に対し少なくとも２つの個別格子ピッチを利用するものと見られ得る。

各格子素子の格子構造は個別バリア素子を有し、その各々がバリア領域を形成し、互いに間隔をあけ、従ってバリア素子間にトレンチ領域を形成するものと見られ得る。好適には、トレンチ領域とバリア領域は両方とも同じ幅を有し、従ってトレンチ領域とバリア領域若しくはバリア素子は実質的に同じ寸法である。

互いに隣接して配置される二つのバリア素子間の距離は格子のピッチと呼ばれ得る。従って、格子構造のピッチはトレンチ領域の幅プラスバリア領域の幅であるか、又は、バリア領域とトレンチ領域が好適には同じ幅を有するので、格子構造のピッチはトレンチ領域若しくはバリア領域の幅いずれかの２倍にも等しい。

格子のピッチは格子の周期性とも呼ばれ得る。

好適には、単一検出器ピクセル素子の面積若しくはサイズに対応する格子の面積若しくはサイズは二分割され、単一検出器ピクセル素子に対応する面積の各半分は個々の格子ピッチを持つ個々の格子構造を有する。言い換えれば、一つの検出器ピクセル素子の面積の第１の半分は第１の格子ピッチを持つ格子構造によってカバーされ、一つの検出器ピクセル素子の面積の第２の半分は第１の格子ピッチと異なる第２の格子ピッチを持つ格子構造によってカバーされる。

特定の実施形態において、位相格子Ｇ_１に対して２つの異なる格子ピッチｐ_１及びｐ_２が利用され、各々は各面積Ａ_１，Ａ_２、すなわち単一検出器ピクセル素子のピクセル面積Ａの半分をカバーする。第１の格子素子、位相格子Ｇ_１、及び第２の格子素子、分析器格子Ｇ_２の間の距離ｄは例示的にピッチ（例えばピッチｐ_１）に関連する一次分数タルボット距離（ｆｉｒｓｔ ｆｒａｃｔｉｏｎａｌ Ｔａｌｂｏｔ ｄｉｓｔａｎｃｅ）として選択され得る。

ｎ次分数タルボット距離は次式を利用することによって決定され得る。

λはＸ線源の規定設計エネルギーにおける波長であり、ｎは正の整数である。球面波が利用される場合、従来技術で既知のさらなる修正が要求され得る。従って、一次分数タルボット距離は次式に等しい。

正確な波長λが利用される場合、ぼやけのない輪郭の明瞭な干渉パターンが分数タルボット距離において得られる。

第２の格子ピッチｐ_２は次式のように選択され得る。

かかる第２の格子ピッチを利用することで同様に距離ｄに等しくなるようピッチｐ_２に関連するさらなる分数タルボット距離をもたらす。言い換えれば、距離ｄはピッチｐ_１に対する分数タルボット距離であるとともに、さらにｐ_２に対する異なる分数タルボット距離である。

ｎ＝２の式２と式３の場合、距離ｄは同じ設計エネルギーにおいてピッチｐ_１に対する一次分数タルボット距離とピッチｐ_２に対する三次分数タルボット距離を構成する。

分析器格子Ｇ_２も個々のピッチｑ_１及びｑ_２を持つ面積Ａ_１及びＡ_２を有する。ｐ_１及びｑ_１並びにｐ_２及びｑ_２の各ピッチは好適には式４によって関連付けられ得る。

各個別面積Ａ_１，Ａ_２は物理的検出器ピクセル素子上に個別仮想ピクセルを作り出すとみなされ得る。

ここで位相ステッピングが行われる場合、第１の仮想ピクセル上の強度変動はピッチｐ_１の周期を有するとみなされ得るが、一方第２の仮想ピクセルの強度変動はピッチｐ_２の周期を有する。従って、各二つの仮想ピクセルの位相勾配は異なる周波数において符号化されているとして見られ、従ってこれらは両方とも位相ステッピングから回復され得る。しかしながら、位相ステッピングフェーズ中に取得される投影の最小数は両仮想ピクセルに対して要求される独立パラメータの取得を可能にするために増加される必要があり得る。

例えば、二つの異なる格子ピッチｐ_１及びｐ_２では、投影の最小数は三つの異なる位相ステッピング状態から五つの位相ステッピング状態へ増加されることが要求され得る。言い換えれば、単一ピッチのみを利用するときは、互いに対する位相格子Ｇ_１と分析器格子Ｇ_２の三つの個別整列位置が画像情報を得るために十分であるとみなされ得るが、二つの異なる格子ピッチを利用するときは、五つの独立投影が取得される必要があり得る。

例示的に、面積Ａ_１における強度変調は次式によってモデル化され得る。

χは位相格子Ｇ_１の変位であり位相φ_１は次式に従って面積Ａ_１におけるｘ線波面の平均勾配∂Φ／∂χ（Ａ_１）に関連付けられる。さらに、Ｃ_１は位相ステッピング中の平均強度に関連し、この量は従来のＸ線透過像に関連する。Ｖ_１はいわゆる視感度関数に関連し、これはＸ線源の帯域幅、Ｘ線ビームの空間コヒーレンス、対象内の散乱、及び他の効果によって影響される。

対応して、面積Ａ_２における強度変調が次式によってモデル化されることができる。

その後、個々の検出器ピクセル素子によって測定される総強度が次式から得られる。

関心のある二つの位相勾配∂Φ／∂χ（Ａ_１），∂Φ／∂χ（Ａ_２）は、異なる周波数１／ｐ_１及び１／ｐ_２において符号化されるので、こうして位相ステッピング中に取得され得る。位相ステッピングから二つの位相勾配を回復するために、格子Ｇ_１は少なくともｐ_１及びｐ_２の長い方の長さにわたって動かされるべきである。

本発明の概念は二つの仮想ピクセルへの物理的ピクセル素子の分割のみに限定されない。むしろさらに異なる格子ピッチ、例えば単一検出器ピクセル素子の面積内で三つの異なる格子ピッチを利用することによって、例えば三つの仮想ピクセルが生成され得る。この場合七つの個別投影が取得されることが要求され得る。従って、距離ｄが特定分数タルボット距離若しくは利用される全格子ピッチｐ_１，ｐ_２，ｐ_３，…ｐ_ｎの距離と等しく、一方複数の仮想ピクセルを再構成するために取得される必要がある個別画像の数は２ｎ＋１であり得ることが有益であり得る。

さらに、仮想ピクセルに対し異なる分数タルボット距離を選択することもまた考えられる。特に、距離ｄは例えばピッチｐ_１に対する三次分数タルボット距離、及び例えばピッチｐ_２に対する五次分数タルボット距離であり得る。しかしながら、位相勾配へのシステムの感度は分数タルボット次数と線形に増加するとみなされ得る。異なる仮想ピクセルについて同様の感度を得るために、異なる仮想ピクセルに対し同様の分数タルボット次数を利用することが有益であり得る。

ここで図１を参照すると、本発明にかかるＸ線システムの実施形態例が描かれる。

図１において、Ｘ線システム２はＸ線源４、及びＸ線検出器６とＸ線源４両方の軸まわりの回転を可能にするようガントリ１０に取り付けられるＸ線検出器６を有するＣＴシステム２として描かれる。

Ｘ線源４はＸ線源４から発してその後Ｘ線検出器６に達するＸ線放射２０を発生させる。

支持台１２は検査対象１４を支持するためにＣＴシステム２のガントリ１０内に配置される。対象１４はＸ線検出器６によるその個々の検出器ピクセル素子８によるＸ線画像情報の取得を可能にするようＸ線放射２０の経路内に配置可能である。Ｘ線検出器６は例示的に検出器ピクセル素子８の二次元アレイとして表示される。

ディスプレイ１８を有する制御システム１６は画像収集プロセスを制御するため、また収集及び再構成された画像情報のディスプレイ１８でのその後の表示のための手段を提供するために、Ｘ線システム２に通信可能に結合する。

微分位相差画像収集のための個別格子素子は図１に描かれない。しかしながら、Ｘ線管４から検出器素子６へのＸ線放射２０の経路の詳細な図が図２から得られる。

ここで図２を参照すると、本発明にかかる位相差イメージングのための配置の実施形態例が描かれる。

配置３８において、Ｘ線源４は少なくとも部分的に空間的コヒーレントなＸ線放射２０を発生させるために線源格子２２の近傍に配置される。線源格子２２は距離ｌだけ位相格子Ｇ_１２４から間隔をあけている。対象１４はＸ線源４と位相格子Ｇ_１２４の間にＸ線放射２０の経路内に配置される。均一位相を持つ波面２８ａは対象１４に達するように描かれるが、対象１４を貫通する間に波面にかかる位相シフトのために波面内で変化した位相関係を持つさらなる位相面２８ｂが描かれる。

その後、波面は分析器格子２６から距離ｄだけ間隔をあけて配置される位相格子Ｇ_１２４に達する。距離ｄは格子ピッチｐに対する分数タルボット距離であり得る。

分析器格子Ｇ_２２６は位相差画像の収集のために位相格子Ｇ_１２４に対してずらすことができる３２。しかしながら分析器格子Ｇ_２２６の代わりに線源格子Ｇ_０２２若しくは位相格子Ｇ_１２４をずらすことも考えられる。

位相格子Ｇ_１２４と分析器格子Ｇ_２２６を通過するＸ線放射２０はその後検出器ピクセル素子８によって検出可能な干渉パターンをＸ線検出器素子６上に生成する。

図２において明確にするために位相格子Ｇ_１２４は均一ピッチｐを持つように描かれ分析器格子Ｇ_２２６は均一ピッチｑを持つように描かれる。しかしながら、位相格子Ｇ_１２４及び分析器格子Ｇ_２２６両方の個別ピッチ配置に関する詳細な図は図３から得られる。

ここで図３を参照すると、本発明にかかる格子配置の詳細例が描かれる。

図３において格子配置４０において、単一検出器ピクセル素子８の面積Ａ並びに対応するサイズの位相格子Ｇ_１２４と分析器格子Ｇ_２２６が描かれる。図３に描かれる配置は特にＸ線検出器６の一つ一つの検出器ピクセル素子８について繰り返され得ることが理解される。

検出器ピクセル素子８の面積Ａは位相格子Ｇ_１２４と分析器格子Ｇ_２２６に関する異なるピッチの面積に対応する二つの同じくらいのサイズの面積Ａ_１及びＡ_２に分割される。特に、Ａ＝Ａ_１＋Ａ_２である。

面積Ａ_１において、位相格子Ｇ_１２４はピッチｐ_１を有し、分析器格子Ｇ_２２６はピッチｑ_１を有し、一方面積Ａ_２において位相格子Ｇ_１２４はピッチｐ_２を有し分析器格子Ｇ_２２６はピッチｑ_２を有する。

各ピッチｐ_１，ｐ_２，ｑ_１，ｑ_２のサイズと寸法は上記説明に従って決定され設定され得る。例えばｐ_１とｐ_２は

によって関連付けられ、一方ｐ_ｉとｑ_ｉは

によって関連付けられ得る。

各格子はバリア素子若しくはバリア領域３４間のギャップを構成するとみなされ得る中間トレンチ領域３６とともにバリア素子若しくはバリア領域３４を有する。各バリア領域２４及びトレンチ領域３６は各バリア領域２４及びトレンチ領域３６がどの面積内に配置されるかに応じて各ピッチｐ１，ｐ２，ｑ１，ｑ２の半分を有する。

位相格子Ｇ_１２４についてトレンチ領域３６は実質的に隣接バリア領域３４間の間隔若しくはギャップであり得るが、分析器格子Ｇ_２２６のトレンチ領域３６は例えば電気めっきにより金などの材料で充填され得る。

バリア領域３４及びトレンチ領域３６は等しい幅であり、両方とも位相格子Ｇ_１２４と分析器格子Ｇ_２２６の各面積Ａ_１，Ａ_２の各ピッチを構成することになる。

例示的に、分析器格子２６は位相ステッピングを実行するために位相格子Ｇ_１２４に平行にずらすことができる３２。現在の位相ステッピング状態に応じて、干渉パターンが検出器ピクセル素子８に仮想ピクセル１ ３０ａ若しくは仮想ピクセル２ ３０ｂいずれかの面積において投影され得る。両仮想ピクセル３０ａ，ｂは同じ検出器ピクセル素子８上に配置されるので、両仮想ピクセルはまた同じ物理的検出器ピクセル素子８を介して読み出される。従って検出器素子６は変更される必要がない。

その後、収集画像情報が個別位相ステッピング状態について、すなわち収集画像情報が仮想ピクセル１ ３０ａ若しくは仮想ピクセル２ ３０ｂに属するとみなされるかどうかについて、ソートされ得る。従って、仮想ピクセル３０ａ，ｂを考慮して個別検出器ピクセル素子８の複数の読み出し値によって再構成されるべき画像情報は、少なくとも格子構造に垂直な、すなわちバリア領域３４とトレンチ領域３６に垂直な方向において空間分解能を持ち、これは検出器素子６自体の空間分解能の２倍である。

"有する"という語は他の要素若しくはステップを除外せず"ａ"若しくは"ａｎ"は複数を除外しないことが留意されるべきである。また、異なる実施形態と関連して記載される要素は組み合わされ得る。

請求項における参照数字は請求項の範囲を限定するものと解釈されてはならないことも留意されるべきである。

２ Ｘ線システム
４ Ｘ線源
６ Ｘ線検出器素子
８ 検出器ピクセル素子
１０ ガントリ
１２ 支持台
１４ 対象
１６ 制御システム
１８ ディスプレイ
２０ Ｘ線放射
２２ 線源格子
２４ 位相格子Ｇ_１
２６ 分析器格子Ｇ_２
２８ａ，ｂ 波面
３０ａ，ｂ 仮想ピクセル
３２ 変位／位相ステッピング
３４ バリア素子／バリア領域
３６ トレンチ領域
３８ 位相差イメージング用装置
４０ 格子配置

Claims (12)

1. 位相差イメージングのための格子配置であって、
   第１の格子素子Ｇ_１と、
   第２の格子素子Ｇ_２とを有し、
   前記第１の格子素子と前記第２の格子素子の少なくとも一つが第１の格子ピッチｐ_１，ｑ_１を持つ第１の面積Ａ_１、及び前記第１の格子ピッチｐ_１，ｑ_１と異なる第２の格子ピッチｐ_２，ｑ_２を持つ第２の面積Ａ_２を有する、格子配置。
2. 複数の検出器ピクセル素子を有するＸ線検出器素子をさらに有し、各検出器ピクセル素子がピクセル面積Ａを持ち、
   前記第１の面積Ａ_１及び前記第２の面積Ａ_２が隣接して配置され、
   前記第１の面積Ａ_１及び前記第２の面積Ａ_２のサイズが単一検出器ピクセル素子の前記ピクセル面積Ａに対応する、請求項１に記載の格子配置。
3. 前記第１の面積と前記第２の面積が同程度のサイズである、請求項１又は２に記載の格子配置。
4. 前記第１の格子素子と前記第２の格子素子の少なくとも一つが、各ピクセル素子について前記第１の格子ピッチｐ_１，ｑ_１を持つ前記第１の面積、及び前記第１の格子ピッチｐ_１，ｑ_１と異なる前記第２の格子ピッチｐ_２，ｑ_２を持つ前記第２の面積を有する、請求項１乃至３のいずれか一項に記載の格子配置。
5. 位相差イメージングのための装置であって、
   Ｘ線源と、
   請求項１乃至４のいずれか一項に記載の格子配置とを有し、
   撮像対象が前記Ｘ線源と前記Ｘ線検出器素子の間に配置可能であり、
   前記第１の格子素子と前記第２の格子素子が前記Ｘ線源と前記Ｘ線検出器素子の間に配置可能であり、
   前記Ｘ線源、前記第１の格子素子、前記第２の格子素子、及び前記Ｘ線検出器素子が前記対象の位相差画像の収集のために動作可能に結合する、
   装置。
6. 前記Ｘ線源が規定波長を持つ設計エネルギーレベルを持つＸ線放射を放出し、
   前記第１の格子素子と前記第２の格子素子が距離ｄだけ間隔をあけ、
   距離ｄが前記規定波長の前記第１の格子ピッチｐ_１及び前記第２の格子ピッチｐ_２の一つの分数タルボット距離に対応する、
   請求項５に記載の装置。
7. 前記距離ｄが前記第１の格子ピッチｐ_１と前記第２の格子ピッチｐ_２の両方に対する分数タルボット距離に対応する、請求項６に記載の装置。
8. 前記第１の格子ピッチｐ_１と前記第２の格子ピッチｐ_２が
   

   

   によって関連し、距離ｄが前記ピッチｐ_１に対する（２ｍ−１）次分数タルボット距離であり、
   距離ｄが前記ピッチｐ_２に対する（２ｎ−１）次分数タルボット距離である、
   請求項５乃至７のいずれか一項に記載の装置。
9. 前記距離ｄが前記第１の格子ピッチｐ_１の一次及び三次分数タルボット距離並びに前記第２の格子ピッチｐ_２の三次及び五次分数タルボット距離の一つである、請求項５乃至８のいずれか一項に記載の装置。
10. 前記第１の格子素子と前記第２の格子素子がほぼ平行に配置され、
    前記第１の格子素子と前記第２の格子素子が位相ステッピングを提供するために互いに対して可動である、請求項５乃至９のいずれか一項に記載の装置。
11. 請求項５乃至１０のいずれか一項に記載の装置を有するＸ線システム。
12. Ｘ線システム及びＣＴシステムの少なくとも一つにおける請求項５乃至１０のいずれか一項に記載の装置の使用。

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