JP2013524553A5 - - Google Patents

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  1. マイクロチャネルを備えた集積回路を形成する方法であって、
    基板上のフォトレジスト内にマイクロチャネルパターンを形成することであって、前記マイクロチャネルパターンの少なくとも1つが前記基板の一部を囲むトレンチパターンである、前記形成すること
    前記基板内にトレンチをエッチングすること
    前記トレンチの底部を露出させるように前記基板の裏側を薄化すること
    前記マイクロチャネルを形成するように前記基板前記一部を取り除くこと
    前記裏側を薄化することの前に、前記トレンチをトレンチ充填材料で充填することと、
    前記トレンチ充填材料のオーバーフィルを取り除くことと、
    前記裏側の薄化することの後に、前記トレンチから前記トレンチ充填材料を取り除くことと、
    を含む、方法。
  2. 請求項1に記載の方法であって、
    前記マイクロチャネルパターンを形成する前に前記集積回路が製造され、前記トレンチが前記基板内にエッチングされる前に前記集積回路を形成する層を介して前記トレンチがエッチングされる、方法。
  3. 請求項1に記載の方法であって、
    前記マイクロチャネルが形成された後前記集積回路が製造される、方法。
  4. マイクロチャネルを備えた集積回路を形成する方法であって、
    回路構造の形成前に前記集積回路の基板上に少なくとも2つのマイクロチャネルパターンを形成することであって、前記少なくとも2つのマイクロチャネルパターンの少なくとも1つが前記基板の一部を囲むトレンチパターンである、前記形成すること
    前記基板内にトレンチをエッチングすること
    前記回路構造を形成するために用いられる処理条件に耐えることが可能なトレンチ充填材料で前記トレンチを充填すること
    前記トレンチ充填材料のオーバーフィルを取り除くこと
    前記トレンチを含む前記基板上に回路構造を形成すること
    前記トレンチの底部を露出させるように前記基板の裏側を薄化すること
    前記トレンチから前記材料を取り除くこと
    前記基板の前記一部を取り除くこと
    を含む、方法。
  5. 請求項に記載の方法であって、
    前記トレンチ充填材料で前記トレンチを充填する前に、前記トレンチの側壁上に誘電体ライナーを形成することを更に含む、方法。
  6. 請求項に記載の方法であって、
    前記誘電体ライナーが、酸化物、窒化物、及びオキシナイトライドのうち少なくとも1つであり、前記トレンチ充填材料がポリシリコンである、方法。
  7. 請求項に記載の方法であって、
    前記基板の前記囲まれる部分の少なくとも1つの寸法が20ミクロンより大きい、方法。
  8. 請求項に記載の方法であって、
    前記トレンチの深さが15〜50ミクロンの範囲であり、前記トレンチの幅が5〜50ミクロンの範囲である、方法。
  9. 請求項4に記載の方法であって、
    前記マイクロチャネルパターンが全て同じ寸法である、方法。
  10. 請求項4に記載の方法であって、
    前記マイクロチャネルパターンが複数の寸法を有する、方法。
  11. 請求項4に記載の方法であって、
    前記マイクロチャネルのトレンチの形成の前にアイソレーションを形成することを更に含み、前記アイソレーションがSTIとLOCOSの少なくとも1つである、方法。
  12. 請求項4に記載の方法であって、
    前記マイクロチャネルのトレンチの形成の後にアイソレーションを形成することを更に含み、前記アイソレーションがSTIとLOCOSの少なくとも1つである、方法。
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