JP2013519617A - 単結晶冷却装置およびこれを含む単結晶成長装置 - Google Patents
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Abstract
【選択図】図1
Description
図1は、実施例に係る単結晶の成長装置の例示図である。
上記のように、初期バカンシー濃度が決定されると、結晶の冷却過程中に外部拡散および過飽和による凝集現象などの挙動が起きる。このようなバカンシー挙動は、冷却速度の影響を受けることになる。冷却速度Q(cooling rate)は、結晶の温度勾配(単位の長さ当たりの温度差)と単位時間当り結晶が引上げられる速度である引上速度に直接的に比例するので、以下の数5で表すことができる。
(数6)
Radiation_Heat=Aεσ×(T4crystal-T4cooler)
(Aは冷却装置(cooler)の表面積、εは放射率、σはボルツマン定数、TCrystalは結晶の表面温度、TCoolerは冷却装置の表面温度)
比較例1は、冷却装置、例えば水冷管内部に円筒形状の黒鉛管を密着挿入して、Gs値を評価したものである。比較例2は、水冷管内部をセラミックコーティングして、Gs値を評価したものである。
実施例1では、セラミックコーティング冷却装置の内径R1を既存に比べて約33%広げ、結晶引上速度を無欠陥成長が可能となるように調整することで、結晶冷却速度が1.5K/minを超えることを確認できた。冷却速度が1.5K/minを超えることで、20nmの欠陥の発生比率が大幅に改善された。
Claims (10)
- 冷却部本体と、
前記冷却部本体の内壁と外壁に冷却物質が移動できる通路と、
を含む単結晶冷却装置において、
前記単結晶冷却装置は円筒形状であり、前記単結晶冷却装置の第1内径R1は、前記単結晶冷却装置が適用されて成長する単結晶の内径R2の1.5倍以上である、単結晶冷却装置。 - 前記単結晶冷却装置の第1内径R1は、前記単結晶冷却装置が適用されて成長する単結晶の内径R2の1.5倍ないし2.0倍である、請求項1に記載の単結晶冷却装置。
- 前記冷却部本体の表面に形成された炭素ナノチューブコーティング層をさらに含む、請求項1に記載の単結晶冷却装置。
- 前記冷却部本体の表面に形成されたセラミックコーティング層をさらに含む、請求項1に記載の単結晶冷却装置。
- 単結晶成長のためのチャンバーと、
前記チャンバー内に備えられたルツボと、
前記ルツボを加熱できるヒーターと、
前記チャンバーで成長する単結晶を冷却させる冷却装置と、
を含み、
前記単結晶冷却装置は円筒形状であり、前記単結晶冷却装置の第1内径R1は前記単結晶の内径R2の1.5倍以上である、単結晶成長装置。 - 前記単結晶冷却装置の第1内径R1は、前記単結晶の内径R2の1.5倍ないし2.0倍である、請求項5に記載の単結晶成長装置。
- 前記冷却装置は、冷却部本体と、前記冷却部本体の内部表面に形成された炭素ナノチューブコーティング層とを含む、請求項5に記載の単結晶成長装置。
- 前記冷却部本体の外部表面に形成された第2コーティング層をさらに含む、請求項7に記載の単結晶成長装置。
- 前記冷却装置は、冷却部本体と、前記冷却部本体の内部表面に形成されたセラミックコーティング層とを含む、請求項5に記載の単結晶成長装置。
- 前記冷却部本体の外部表面に形成された第2コーティング層をさらに含む、請求項9に記載の単結晶成長装置。
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