JP2013516640A - 顕微鏡センサ - Google Patents
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Abstract
Description
a)2Dピクセルアレイの第1のサブアレイを活性化するステップであって、第1のサブアレイが、第1のX座標においてY軸に沿って主に延在する、ステップと、
b)ピクセルの第1のサブアレイによりサンプルの第1の領域をイメージングすることによって、第1の画像を生成するステップと、を含む。
−方法は更に、
・サンプルを走査するステップと、
・2Dピクセルアレイの第2のサブアレイを活性化するステップであって、第2のサブアレイは、第1のX座標とは異なる第2のX座標においてY軸に沿って主に延在する、ステップと、
・ピクセルの第2のサブアレイによって、サンプルの第2の領域をイメージングすることによって、第2の画像を生成するステップと、を含む;
−方法は更に、第1及び第2の画像を組み合わせることによって、サンプルの合成画像を構築するステップを含む;
−方法は更に、第1の座標を提供するステップを含む;
−方法は更に、第1のサブアレイが予め決められたフォーカスで第1の画像を提供することができるように、第1のX座標を決定するステップを含む;
−方法は更に、第1及び第2のサブアレイが、実質的に等しいフォーカスで第1及び第2の画像を提供することができるように、第1及び第2のX座標を決定するステップを含む;
・前記センサの2Dアレイのピクセルの予め決められたサブセットにより、サンプルの第2の領域をイメージングするステップであって、前記予め決められたサブセットが、ピクセルのサブアレイとは異なる、ステップと、
・この画像からフォーカス情報を導き出すステップと、
・フォーカス情報から第1のX座標を決定するステップと、を更に含む;
−方法は更に、ピクセルの予め決められたサブセットを、それが矩形形状を有してX軸に沿って主に延在するように、活性化するステップを含む;
−サンプルが特定の厚さを有するものとして、方法は、ピクセルの第1のサブアレイが予め決められたフォーカスでサンプルをイメージングすることができる厚さ内の深さに関する情報を提供するステップと、この深さ情報に従って第1のX座標を決定するステップと、を含む;
−予め決められたフォーカスは、ベストフォーカスの状態に対応しうる;
−サンプルの断面は、スキャン方向に対して斜め(オブリーク)でありうる;
−スキャナは、保持表面を含むサンプルホルダを有することができ、ピクセルの2Dアレイは、実質的に、前記保持表面に対し傾斜角をなす平面内にありうる;
−2Dアレイセンサは、第1のサブアレイが、Y軸に沿って3未満のピクセル行、好適にはただ1つのピクセル行を含むように第1のサブアレイを活性化することによって、1Dラインセンサをシミュレートし、又は第1のサブアレイが、Y軸に沿って各ステージにおいて3未満のピクセル行、好適にはただ1つのピクセル行を含むように第1のサブアレイを活性化することによって、1D N−ステージTDIセンサをシミュレートするように、制御されることができる。
Δx=b cosβ'
Δz=b sinβ'
によって与えられる。
Δx'=Δx/M
Δz'=nΔz/M2
によって与えられる。ここで、Mは倍率であり、nは組織スライドの屈折率である。
Claims (15)
- XY座標系の2Dピクセルアレイを含むセンサを有するスキャナにより、サンプルを微視的にイメージングする方法であって、Y軸は、走査方向に対し実質的に垂直であり、前記スキャナは、前記センサが前記サンプルのオブリーク断面をイメージングすることができるように構成され、前記方法は、
第1のX座標においてY軸に沿って主に延在する、前記2Dピクセルアレイの第1のサブアレイを活性化するステップと、
前記第1のサブアレイによって前記サンプルの第1の領域をイメージングすることによって、第1の画像を生成するステップと、
を含む方法。 - 前記サンプルを走査するステップと、
前記第1のX座標と異なる第2のX座標においてY軸に沿って主に延在する、前記2Dピクセルアレイの第2のサブアレイを活性化するステップと、
前記第2のサブアレイによって前記サンプルの第2の領域をイメージングすることによって、第2の画像を生成するステップと、
を更に含む、請求項1に記載の方法。 - 前記第1及び前記第2の画像を組み合わせることによって、前記サンプルの合成画像を作るステップを更に含む、請求項2に記載の方法。
- 前記第1の座標を提供するステップを更に含む、請求項1に記載の方法。
- 前記第1のサブアレイが予め決められたフォーカスで前記第1の画像を提供することが可能であるように、前記第1のX座標を決定するステップを更に含む、請求項1に記載の方法。
- 前記第1及び前記第2のサブアレイは、実質的に等しいフォーカスで前記第1及び前記第2の画像を提供することが可能であるように、前記第1及び前記第2のX座標を決定するステップを更に含む、請求項2に記載の方法。
- 前記センサの前記2Dピクセルアレイのピクセルの予め決められたサブセットにより、前記サンプルの第2の領域をイメージングするステップであって、前記サブセットが前記サブアレイとは異なる、ステップと、
この画像からフォーカス情報を導き出すステップと、
前記フォーカス情報から前記第1のX座標を決定するステップと、
を含む、請求項1に記載の方法。 - 前記予め決められたサブセットが、矩形形状を有してX軸に沿って主に延在するように、ピクセルの前記予め決められたサブセットを活性化するステップを更に含む、請求項7に記載の方法。
- 前記サブセットが、前記2Dピクセルアレイの少なくとも2つの別個の領域に分布される、請求項7又は8に記載の方法。
- 前記サンプルが特定の厚さを有し、前記方法は、
前記第1のサブアレイが予め決められたフォーカスで前記サンプルをイメージングすることができる前記厚さ内の深さに関する情報を提供するステップと、
前記深さ情報に従って、前記第1のX座標を決定するステップと、
を含む、請求項1に記載の方法。 - 前記予め決められたフォーカスは、ベストフォーカスの状態を示す、請求項5乃至10のいずれか1項に記載の方法。
- 前記サンプルの断面は、前記走査方向に対し傾いている、請求項1に記載の方法。
- 前記スキャナは、前記保持表面を含むサンプルホルダを有し、前記2Dピクセルアレイは、実質的に、前記保持表面に対し傾斜角をなす平面にある、請求項1に記載の方法。
- 前記2Dアレイセンサは、前記第1のサブアレイが、Y軸に沿って3未満のピクセル行、好適にはただ1つのピクセル行を含むように、前記第1のサブアレイを活性化することによって1Dラインセンサをシミュレートし、又は前記第1のサブアレイが、各ステージにおいてY軸に沿って3未満のピクセル行、好適にはただ1つのピクセル行を含むように、前記第1のサブアレイを活性化することによって、1D N−ステージTDIセンサをシミュレートするように制御される、請求項1に記載の方法。
- 請求項1乃至14のいずれか1項に記載の方法を実施するように構成される、サンプルをイメージングするための走査型顕微鏡。
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