BR112012015931A2 - método para formar imagem microscopicamente de uma amostra com um escaner, microscópio de escaneamento para formação de imagem de uma amostra, uso de um sensor de disposição bidimensional e disposição para formação de imagem de um corte trasnversal oblíquio de uma amostra - Google Patents
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Abstract
MÉTODO PARA FORMAR IMAGEM MICROSCOPICAMENTE DE UMA AMOSTRA COM UM ESCÂNER, MICROSCÓPIO DE ESCANEAMENTO PARA FORMAÇÃO DE IMAGEM DE UMA AMOSTRA, USO DE UM SENSOR DE DISPOSIÇÃO BIDIMENSIONAL E DISPOSIÇÃO PARA FORMAÇÃO DE IMAGEM DE UM CORTE TRANSVERSAL OBLÍQUO DE UMA AMOSTRA.
Essa invenção pertence a um método for formar imagem microscopicamente de uma amostra, com um escâner digital compreendendo um sensor que inclui uma disposição bidimensional de pixels e a um microscópio de escaneamento digital que realiza esse método. É notavelmente provido um método para formar imagem microscopicamente de uma amostra com um escâner compreendendo um sensor que inclui uma disposição bidimensional de pixels em um sistema de coordenada XY, o eixo Y sendo substancialmente perpendicular A direção de escaneamento, em que escâner é disposto de modo que o sensor pode formar uma imagem de um corte transversal oblíquo da amostra, e em que o método compreende as etapas de: ativação de uma primeira subdisposição da disposição bidimensional de pixels, o primeira subdisposição se estendendo principalmente ao longo do eixo Y em uma primeira coordenada X (X1), criação de uma primeira imagem pela formação de imagem de uma primeira área da amostra por meio da primeira subdisposição de pixels. De acordo com os aspectos da invenção, é ainda proposto um escâner que realiza esse método e a utilização do mesmo sensor de disposição bidimensional para a formação de imagem e para fins de auto-focalização.
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