JP2013257318A - 1/tアーミング関数を用いたvrsインタフェース - Google Patents

1/tアーミング関数を用いたvrsインタフェース Download PDF

Info

Publication number
JP2013257318A
JP2013257318A JP2013113109A JP2013113109A JP2013257318A JP 2013257318 A JP2013257318 A JP 2013257318A JP 2013113109 A JP2013113109 A JP 2013113109A JP 2013113109 A JP2013113109 A JP 2013113109A JP 2013257318 A JP2013257318 A JP 2013257318A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
variable reluctance
arming
reluctance sensor
threshold
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2013113109A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6452217B2 (ja
Inventor
M Pigott John
エム. ピゴット ジョン
T Brauchler Fred
ティ. ブロークラー フレッド
William E Edwards
イー. エドワーズ ウィリアム
R Garrard Mike
アール. ガラード マイク
C Gray Randall
シー. グレイ ランドール
M Hall John
エム. ホール ジョン
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NXP USA Inc
Original Assignee
Freescale Semiconductor Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Freescale Semiconductor Inc filed Critical Freescale Semiconductor Inc
Publication of JP2013257318A publication Critical patent/JP2013257318A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6452217B2 publication Critical patent/JP6452217B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D5/00Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
    • G01D5/12Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means
    • G01D5/14Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage
    • G01D5/20Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage by varying inductance, e.g. by a movable armature
    • G01D5/2006Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage by varying inductance, e.g. by a movable armature by influencing the self-induction of one or more coils
    • G01D5/2013Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage by varying inductance, e.g. by a movable armature by influencing the self-induction of one or more coils by a movable ferromagnetic element, e.g. a core
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B7/00Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
    • G01B7/30Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D5/00Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
    • G01D5/12Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01PMEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
    • G01P3/00Measuring linear or angular speed; Measuring differences of linear or angular speeds
    • G01P3/42Devices characterised by the use of electric or magnetic means
    • G01P3/44Devices characterised by the use of electric or magnetic means for measuring angular speed
    • G01P3/48Devices characterised by the use of electric or magnetic means for measuring angular speed by measuring frequency of generated current or voltage
    • G01P3/481Devices characterised by the use of electric or magnetic means for measuring angular speed by measuring frequency of generated current or voltage of pulse signals
    • G01P3/488Devices characterised by the use of electric or magnetic means for measuring angular speed by measuring frequency of generated current or voltage of pulse signals delivered by variable reluctance detectors
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01PMEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
    • G01P3/00Measuring linear or angular speed; Measuring differences of linear or angular speeds
    • G01P3/42Devices characterised by the use of electric or magnetic means
    • G01P3/44Devices characterised by the use of electric or magnetic means for measuring angular speed
    • G01P3/48Devices characterised by the use of electric or magnetic means for measuring angular speed by measuring frequency of generated current or voltage
    • G01P3/481Devices characterised by the use of electric or magnetic means for measuring angular speed by measuring frequency of generated current or voltage of pulse signals
    • G01P3/489Digital circuits therefor
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R33/00Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F21/00Security arrangements for protecting computers, components thereof, programs or data against unauthorised activity
    • G06F21/70Protecting specific internal or peripheral components, in which the protection of a component leads to protection of the entire computer
    • G06F21/71Protecting specific internal or peripheral components, in which the protection of a component leads to protection of the entire computer to assure secure computing or processing of information
    • G06F21/77Protecting specific internal or peripheral components, in which the protection of a component leads to protection of the entire computer to assure secure computing or processing of information in smart cards

Abstract

【課題】可変リラクタンス・センサからの電気信号を使用して正確な測定を行う。
【解決手段】アーミング比較器108と、アーミング回路112とを含む、可変リラクタンスセンサ信号を処理するための可変リラクタンス・センサ・システム。アーミング比較器は、可変リラクタンスセンサ信号を、所定の最大レベルから1/tに比例して減少するアーミング閾値と比較し、可変リラクタンスセンサ信号がアーミング閾値に達するとアーミングされた信号をアサートする。アーミング閾値は、可変リラクタンスセンサ信号の各パルスを確実に検出するために、1/tを乗算した倍率に基づいて低減され得る。アーミング閾値は、可変リラクタンスセンサ信号に交差するのに十分低く、かつ予測されるノイズレベルに対して十分高い所定の最小レベルまで減少し得る。アーミング閾値は、可変リラクタンスセンサ信号のゼロ交差のようなタイミング事象に応答してリセットされる。
【選択図】 図1

Description

本発明は、一般的には可変リラクタンスセンサに関し、より詳細には、1/tタイミング関数に比例するアーミング関数(arming function)を有する可変リラクタンス・センサ・インタフェースに関する。
可変リラクタンス(VR)センサは、運動または回転する強磁性物体の角位置および速度を測定するのに使用される。1つのこのような用途は、自動車のクランクシャフトである。たとえば、磁性(鉄ベース)歯車がクランクシャフトに取り付けられ、クランクシャフトの回転中に、VRセンサが通過する各歯を検知するのに使用される。点火および燃料噴射のタイミングなどを含む電子エンジン制御に関するエンジンのタイミングをセットするのにクランクシャフトの位置および上死点(Top Dead Center:TDC)が使用される。TDCは通常、歯車の歯のない部分に対して確立される。VRセンサは一般的に、歯車付近に位置するコイルおよびバイアス用磁石を含み、VRセンサの側を通過する各歯が磁束を変化させ、この磁束はコイル内で誘導される電圧に変換される。VRセンサ(Variable Reluctance Sensor:VRS)インタフェースは、電気信号を検知および調整してタイミングパラメータを導出する。このようにして、クランクシャフトの回転運動が、クランクシャフトの位置および速度を求めるのに使用される電子信号に変換される。
米国特許第5015878号明細書 米国特許第5451867号明細書
周波数−電圧変換器(Frequency to Voltage Converter), LM2907/LM2917 National Semiconductor、DS007942、2003年5月、p.1−21 差動入力及び適応ピーク閾値を有する可変リラクタンスセンサインタフェース(Variable Reluctance Sensor Interface with Differential Input and Adaptive Peak Threshold),Maxim Integrated Products、p.1-23 19-4283;Rev.3;3/11 MAX9924-MAX9927
本発明は例として示されており、添付の図面によって限定されない。図面において、同様の参照符号は類似の要素を示す。図面内の要素は簡潔かつ明瞭にするために示されており、必ずしも原寸に比例して描かれてはいない。
VRセンサをインタフェースするための1つの実施形態に従って具体化されたVRSインタフェースの簡略化された概略ブロック図。 図1のVRSインタフェースの動作を示すタイミング図。 種々の回転速度に関する、対応するVRSパルス信号の持続時間と最大振幅との間の関係を示す、時間に対してプロットされた一セットのVRS信号曲線C1〜C6およびATH信号を含むタイミング図。 VRセンサをインタフェースするための別の実施形態に従って具体化されたVRSインタフェースの簡略化された概略ブロック図。 デジタル変換実施形態による図4の閾値ブロックの簡略化されたブロック図。 図5の閾値ブロックの1つの実施形態による、離散時間(T)、ATH電圧および対応するデジタルコード値をリストした表。 図6の表に従って具体化された、図5の閾値ブロックに関する、ミリ秒単位の時間に対してATHをボルト単位でプロットしたタイミング図。
以下の説明は、当業者が本発明を、特定の用途およびその要件の文脈内で提供されるように作成および使用することを可能にするために提示される。しかしながら、好ましい実施形態に対するさまざまな改変が当業者には明らかであり、本明細書において定義される一般原則は他の実施形態にも適用され得る。それゆえ、本発明は、本明細書において示され説明される特定の実施形態に限定されることは意図されておらず、本明細書において開示される原則および新規の特徴と一致する最も広い範囲が与えられるべきである。
VRセンサからの電気信号を使用した正確な測定は、同期および非同期ノイズ、入力信号のダイナミックレンジ、および、エージングによって引き起こされる信号変化のような、電気機械システムのさまざまな物理的特性、ならびに、歯のばらつき、センサと歯の配置との間の相対的配置などのような機械公差によって、より困難になる。
図1は、VRセンサ102をインタフェースするための1つの実施形態に従って具体化されたVRSインタフェース100の簡略化された概略ブロック図である。示されている構成において、VRセンサ102は、クランクシャフト(図示せず)に取り付けられるトリガホイールまたは他の回転部材に対して直角に位置付けられるコイルとバイアス用磁石とを含む。トリガホイールは、多くの異なる方法のうちのいずれか1つにおいて作成され得る。この示されている構成において、トリガホイールは歯車104として構成され、VRセンサ102は通過する各歯を検知する。歯車104が回転すると、通過する各歯がコイルを通じてバイアス用磁石の磁束を変化させ、コイルは変化する磁束を電磁信号VRSに変換する。
電気信号VRSの形は正弦波パルスのおおよその形で図示されている。しかしながら、VRS信号の実際の形は、歯の形状および構成、VRセンサ102の位置および向きなどのようなさまざまなシステムパラメータによって決まり、正弦波形には限定されない。コイル、およびしたがってVRS信号は、基準電圧レベルREFを基準としている。REFは、任意の適切な、正、負または接地(たとえば、0ボルト)の電圧レベルであってよい。VRS信号は調整回路106の入力に提供され、調整回路106は、アーミング比較器108の非反転(+)入力および検出比較器110の反転(−)入力に、VRSSとして図示されている調整または調節されたVRS信号を提供する。調整回路106は、VRSインタフェース100の回路用のVRS信号を調整するための、本明細書において以下に説明される、フィルタリングおよびクランプデバイスのような適切な構成要素を含み得る。
アーミング閾値回路112は、アーミング閾値信号ATHをアーミング比較器108の反転入力に提供し、アーミング比較器108は、アーミングされた信号ARMを検出回路114の一方の入力に出力する。ARM信号は、アサートまたは他の様態で提供されると、アーミングされた状態を示す。REFは検出比較器110の非反転入力に提供され、検出比較器110は、検出信号ZDを検出回路114のもう一方の入力に出力する。検出回路114は、ARM信号がアーミングされた状態を指示した後に、ZDに応答して検出出力信号CDをアサートするか、または他の様態で遷移する。リセット信号RSTがアーミング閾値回路112の入力に提供されて、(VRSS信号を介して)VRS信号の次の事象またはサイクルを検出するためにATHがリセットされる。RSTは、検出回路114によって、または別のタイミング制御回路(図示せず)によってアサートされ得る。CDは、回転歯車104の位置および速度を求めるのに使用される出力信号である。
図2は、VRSインタフェース100の動作を示すタイミング図であり、信号CD、ZD、ARM、VRS、およびFLUXが時間に対してプロットされている。VRSSは破線によって表されており、調整回路106によるVRSの修正を示している。FLUXは、示されている実施形態に関する、回転中の歯の通過に応答したVRセンサ102の磁束の変化を示す。VRS信号は、基準電圧レベルREFをほぼ中心とする、正パルスと直後に続く負パルスとを含む、FLUXの変化度を示すパルス信号として図示されている。パルス信号の形状は、例示を目的として、ほぼ正弦波パルスとして図示されている。FLUX信号の実際の形状およびVRS上の正および負パルスの対応する形状は、種々の構成によって変化し、必ずしも正弦波であるとは限らない。VRSの各パルスは、歯の端部がVRセンサ102に接近するとREFを上回って、歯の端部がVRセンサ102とほぼ位置整合するときの最大磁束変化を示す最大振幅に達するまで増大する。その後、VRSの各パルスは低減し、歯がVRセンサ102と位置整合すると最大磁束レベルにおいてREFと交差し、その後、歯がVRセンサ102から遠ざかり始めて負のピークに向かうとREFを下回って下降する。歯が通過すると、パルスは最終的にREFに戻る。連続する歯の間の任意の不感時間期間の後に、次の歯がREFに対して同様に正および負パルスを生成する。上記のようにREFは任意の適切な電圧レベルであり、1つの実施形態では共通モード電圧レベルを表してもよい。
ATH信号は、VRS信号と重ね合わされた一定の電圧レベルにある破線として図示されており、本明細書においてさらに記載されるように、実際の動作においては、ATHは時間とともに変化することが理解される。VRSは最初はローであり、ZDは不確定であり、ARMはローである。VRSが時間t0においてATHを上回って上昇すると、アーミング比較器108は、検出回路114に、検出事象が起ころうとしていることを指示すべくARMをアサートする。検出回路114は時間t0においてARMがハイになるのを検出し、CD信号をハイにアサートする。VRSはREFを上回るため、検出比較器110はZDをローにアサートする。VRSは既に記載されたようにピークまで上昇し下降する(一方でVRSSは所定値で制限される)。VRSがATHを下回って下降し戻ると、ARMはローに戻る。
時間t1においてFLUXの最大振幅と一致してVRSがREFを交差して下回ると、検出比較器110はZDをハイにアサートする。それに応答して、検出回路114は時間t1においてCDをローにアサートする。時間t1におけるこの「ゼロ検出」事象は、歯の中心がVRセンサ102と位置整合するときに発生し、各サイクル中の重要なタイミング事象を示す。したがって、CD信号がハイになることはアーミングされた状態を示し、CD信号がローになることは、各サイクル中にパルスのゼロ交差と(即ち、通過する歯の中心に)一致するゼロ交差事象を示す。なお、ゼロ検出事象は、VRSがサイクルの中央においてREFと交差するときに発生し、これは、REFの実際の電圧レベル(0Vであってもよいし、そうでなくてもよい)にかかわりなく歯の中心が位置整合することを示す。VRSは、時間t2においてREFに戻り、一般的に、次のサイクリが開始するまでREFに維持される。斜交平行模様によって指示されているように、ZDはサイクル中は不確定または「無関係」であり得る。
図2に示されているように、VRセンサ102によって生成されるパルスは、通過する各歯によって生じる磁束の変化に応答して生成される。各パルスのピーク振幅または最大振幅は、歯がVRセンサ102の側を通過する速度とともに変化し、この速度は、回転歯車105の毎分回転数(RPM)で測定され得る。VRセンサ102によって生成される起電力(EMF)は経時的な磁束の変化、すなわちd(flux)/dtに応じて決まるため、パルス信号の最大振幅は速度に応じて決まる。各VRSパルスの持続時間または周期も速度とともに変化し、パルスの周期は速度が高くなると短くなる。したがって、VRSのパルスは、より速い速度では、ピークが早く発生してより大きくなり、かつ周波数が大きくなり、より遅い速度では、ピークが遅く発生してより小さくなり、周波数が小さくなる。
VRSおよびVRSS信号は、ホワイトノイズ、ランダムまたは非同期ノイズ、相関または同期ノイズ、ノイズバースト、入力の頂点に乗るリップルノイズなどのような、さまざまなタイプのノイズを含む。したがって、VRSおよびVRSS信号は、信号対雑音比(SNR)パラメータに関連付けられる。最適なアーミング閾値は速度とともに変化するものでもあることが分かっている。アーミング閾値回路112は、ホイール104の速度の変化量にかかわりなく、アーミング閾値ATHを予測される入力信号に対して自動的に調整する。特に、アーミング閾値ATHは、任意のホイール速度において予測される信号振幅を自動的にトラッキングするために、k/tで自動的に減衰する。ここで、「t」は時間を示し、「k」は比例定数または倍率(scaling factor)を示す。この1/t関数は、ヒステリシス減衰率を、VRセンサ102の振幅対周波数にマッチングすることによって、SNRを動的に最大化する。本明細書において記載されているようなアーミング閾値の自動調整によって、歯が誤って検出されるか、または見過ごされる確率が有効に減少する。
図3は、種々の回転速度に関する、対応するVRSパルス信号の持続時間と最大振幅との間の関係を示す、時間に対してプロットされた一セットのVRS信号曲線C1〜C6およびATH信号を含むタイミング図である。各VRS信号曲線は、共通開始時間t0において開始するとともにREFを基準とする、異なる複数の回転速度のうちの対応するものにおける正弦波パルスのおおよその形として示されている。また、各パルスは最初は負に向かい、その後、正に向かうように図示されており、これは図2に示されているパルスに対して反転して見える。本明細書においてさらに記載されるように、ATH信号は、次の歯の捕捉を確実にするために、先行する歯の先行するサイクルからのゼロ交差検出において開始する。図示されているように、第1のVRS信号曲線C1は第1のピークレベルP1に達し、その後下降して時間t1においてREFに戻る。次のVRS信号曲線C2は第2のピークレベルP2に達し、その後下降して時間t2においてREFに戻る。VRS信号曲線C2はVRS信号曲線C1と比較してより遅い速度を表し、P2はP1よりも小さく、t0とt2との間の周期(t2−t0)は周期t1−t0よりも長い。同様に、それぞれのピークレベルP3〜P6およびそれぞれ対応する周期t3−t0、t4−t0、t5−t0、およびt6−t0を有する残りのVRS信号曲線C3〜C6は、速度レベルが低減していくことを表す。最大振幅包絡線302は、速度の低減に伴う最大振幅の減衰を表す。
一セットのVRS信号曲線C1〜C6によって表されるダイナミックレンジは、相対的に狭く、かつスペクトルの下端における速度を表す。クランクシャフトの速度を表す自動車の実施形態では、ダイナミックレンジは非常に大きく、数ミリボルト(mV)から数百ボルト(V)などである。1つの具体的な実施形態では、たとえば、ダイナミックレンジは約50mV〜約200Vである。より速い速度においてはVRSパルスは大きく、それによって、ATHは相対的に大きくなり得る。アイドルを含むより低い速度においてはVRSパルスは小さく、ATHは、一切のパルスの見過ごしを回避するために、高くなりすぎることなく、可能な限り長きにわたって可能な限り高いことが望ましい。速度はいつでも変化し得るため、ATHのレベルはそれに従って、各パルスの検出を確実にするために変化する。しかしながら、ATHは、誤トリガを引き起こす可能性があるスプリアス・ノイズ・スパイクなどによって影響を受けることになるため、それほど低くなるべきではない。
本明細書において記載されているように、アーミング閾値ATHは、予測される信号振幅をトラッキングして適切なアーミングを確実にするとともに歯の遷移の見逃しを回避するため、VRS信号に自動的に適応する。VRS信号がより高い速度において生成され、結果として最大振幅値がATHMAXとして図示されているような特定の最大閾値を上回るとき、ATHMAXにおけるアーミング閾値ATHは、大きさにかかわらずパルスの捕捉を確実にするのに十分高くなっている。たとえば、1つの実施形態では、ATHMAXは約3〜5Vであり、これは最大200V以上のパルスを確実に検出するのに十分な高さである。このように、ATHは最初はATHMAXにある。ピークレベルがATHMAXを下回るようなより低い速度では、ATHは適切な割合で低減し、速度にかかわりなくパルスが確実に検出される。
示されている実施形態では、振幅包絡線302は、j/tの割合で減衰し、「j」は所与の電気機械システムの変数に基づく倍率を表す。図示されているように、時間t0の後の初期時間tINITにおいて、ATHはATHMAXからk/tの割合で減衰し、「k」も、所与の電気機械システムの変数に基づく倍率を表し、k<jである。倍率kは、システムの予測されるダイナミックレンジ内の任意の速度においてVRSパルスを確実に検出するように、所与のシステムについて経験的に求められる。ノイズ(ホワイト、同期、非同期、バースト、リップルなど)、および歯のばらつきおよび他のシステムパラメータのような任意の予測される信号変動性を計上するのに十分高いものでありながら、予測される最小のピークでパルスを補足するのを確実にするために、ATHは所定の最小値ATHMINにおいて下端でクランプされる。
概念的には、ATHは、予測される最高速度における予測最大ピークレベルよりも大きい(たとえば、200Vよりも大きい)値において開始し得る。各サイクルの初期リセット時間は、先行するサイクルのゼロ検出事象である。その後、ATHはk/tの割合で減衰し、その時点において発生し得るいかなるパルスのレベルも下回ることが確実になる。このように、予測されるダイナミックレンジ内のいかなる速度においていかなるパルスも捕捉するために、ATHは適切な割合で変化する。示されているATH曲線は、一般的に同じk/t減衰パターンに従うが、上端においてATHMAXによって制限され、下端においてATHMINによって制限される。
図1に戻って参照すると、アーミング閾値回路112は、ATHMAXおよびATHMINの範囲内でk/tに追従するために、アーミング閾値信号ATHを生成する。各サイクルについてATH信号を開始するためにRST信号がアサートされる。1つの実施形態では、RSTは各サイクルにおいてローに向かうCDと同期してアサートされ、それによって、ATHは最近のサイクルからのゼロ検出において開始される。調整回路106は、VRSパルスのピーク値(正および負)をクリップして現在のレベルを低減し得、それによって、VRSSは比較器回路にとって適切な値内に保持されつつ、パルスタイミングを維持する。
図4は、VRセンサ102をインタフェースするための別の実施形態に従って具体化されるVRSインタフェース400の簡略化された概略ブロック図である。この事例においては、VRセンサ102は、フィルタ回路402の入力に差動的に結合される差分信号(正および負の極性を有する)としてVRS信号を提供する。フィルタ回路402は、検出回路404の対応する入力ノード401および403に結合される差動出力を有する。検出回路404内で、ツェナーダイオードZ1およびZ2の対が、正および負のピークを所定の電圧レベルに制限するために差動入力ノード401と403との間に結合される。ノード401は、可変オフセット比較器408の非反転入力、およびゼロオフセット比較器410の反転入力に結合され、ノード403は、比較器408の反転入力、および比較器410の非反転入力に結合される。ノード401と403との間の差動電圧は、フィルタリングおよびクリップされた差分信号VRSSである。比較器408の出力は、セット−リセットラッチ414のセット(S)入力にARM信号を提供し、比較器410の出力は、ラッチ414のリセット(R)入力にZD信号を提供する。ラッチ414のQ出力はCD信号を提供する。CD信号は閾値ブロック412の反転リセット(RST)入力に提供され、閾値ブロック412は、ATH信号を比較器408のオフセット入力に提供する。
フィルタ回路402は、並列フィルタコンデンサCに結合される直列抵抗R1およびR2を含む。R1、R2およびCの値は、入力電流を制限するとともにVRS信号をフィルタリングして対応するVRSS信号を提供するために、VRセンサ102の特定の実施態様および構成に基づいて選択される。検出回路404は別個の集積回路(IC)などの上に実装され得、ノード401および403はVRセンサ・インタフェース・チップの差動入力を形成する。ツェナーダイオードZ1およびZ2は、VRSSの電圧レベルを検出回路400にとって許容可能な最大範囲内に制限するように構成される。
VRSインタフェース400の動作は、VRSインタフェース100のもの、および図2に示されているようなものと実質的に同様である。この実施形態においては、VRS信号は、フィルタリングおよびクリップされる差分信号である。CDが先行するサイクルからローでアサートされるとき、閾値ブロックはリセットされ、ATHはその最大レベルATHMAXを初期値とされる。VRS信号の(フィルタリングおよびクリップされる)負のピークは、アーミング比較器408を作動させない。次の歯がVRセンサ102に接近するときの続くサイクルにおいて、正のピークがVRS上に発生する。速度が十分に高い場合、VRSSはATHMAXを上回って上昇し、ARMはハイになってラッチ414をセットし、それによって、CDがハイになる。速度が比較的低い場合、アイドルと同程度に遅い(たとえば、100RPMなどのような、比較的低いRPM)場合であっても、閾値ブロック412はATHをk/tで低減して比較器408のオフセットを低減し、それによって、オフセットは次のパルスを検出してラッチ414をセットするのに十分低くなる。VRS、およびしたがってVRSSがゼロを通過すると、ゼロ検出比較器410がZDをアサートし、これは、ラッチ414をリセットし、CDがローに引き戻される。また、閾値ブロック412は、CDがローになるのに応答して次のサイクルのためにATHをハイにリセットする。
図5は、デジタル変換実施形態による閾値ブロック412の簡略化されたブロック図である。示されている閾値ブロック412は、タイマブロック502と、カウンタ504と、デジタル−アナログ変換器(DAC)506とを含む。タイマブロック502は、そのクロック入力においてクロック信号CLKを受信し、CD信号を受信する反転リセット(RST)入力を有する。CLKは、所与の構成のための任意の適切な周波数においてトグルされる。1つの実施形態では、CLKは1メガヘルツ(MHz)以上の周波数を有する。タイマブロック502は、デクリメント信号DECをカウンタ504の入力に出力する。カウンタ504は、CDを受信する反転セット入力を有し、デジタルCODE値をDAC506の入力に出力する。1つの実施形態では、カウンタ504は、CODEをDAC506への4ビットデジタル入力としてアサートする4ビットカウンタである。4ビットシステムは実際的な構成を提供するが、ビット数は特定の構成に従って決定されてよく、4ビットより大きくても小さくてもよい。DAC506はCODEをATHにアナログ電圧として変換し、これは既に記載されたようにアーミング比較器408のオフセット入力に提供される。
閾値ブロック412は一般的に式ATH=k/tを実装し、「k」は特定のシステムパラメータに関して求められる倍率であり、「t」は時間を示す。アーミングサイクルの開始時にtがゼロである場合、k/tは無限大となる。実際の構成では、k/t関数がATHMAXに下降するまで、ATHは代わりにこの最大値においてクランプされ、その後、ATHは、所定の最小値ATHMINに達するまで、k/t関数に従う。その後、ATHは、回路が次のサイクルのためにリセットされるまで、ATHMINに留まる。閾値ブロック412はk/t関数を実装するためのデジタル構成である。
動作時、CDはローにアサートされ、タイマブロック502は動作をリセットし、カウンタ504はCODEを1111bの二値にアサートするようにセットされる(「b」は二値を示す)。DAC506はCODE=1111bを受信し、ATHMAXに対応する電圧を出力する。タイマブロック502はCLKを使用して時間を決定し、これは、1つの実施形態では所定の周波数にセットされる。最初の時間遅延の後、タイマブロック502はDEC上にパルスをアサートし、カウンタ504はCODEを1110bにデクリメントする。DAC506は、ATHを対応する量だけ低減することによって応答する。第2の時間遅延の後、タイマブロック502はDEC上に別のパルスをアサートし、カウンタ504はCODEを1101bにデクリメントし、DAC506はATHを別の対応する量だけ低減することによって応答する。動作は、CODEがゼロすなわち0000bに達し、DAC506がATHMINに対応する電圧を出力するまで、このように継続する。タイマブロック502はそれ以上のパルスをDEC上に一切提供せず、それによって、ATHは、先行するサイクルにおいて事象が検出されてCDがローでアサートされて、次のサイクルのために回路がリセットされるまで、ATHMINに留まる。
閾値ブロック412は、k/t関数を実装するためのいくつかの異なる様式のうちのいずれか1つにおいて動作するようにプログラムされ得る。たとえば、タイマブロック502は、等しい時間間隔においてDECをアサートし得、その事例では、DAC506は、k/t関数を組み込むように構成またはプログラムされる。別の構成では、タイマブロック502は、k/t関数を実装するために連続する遅延期間を変化させ、DAC506は一次である。しかしながら、これらの事例のいずれにおいても、DAC506の分解能は、より大きなビット数を備えるなどのように、相対的に高いものである必要があり得る。別の実施形態では、k/t関数は、本明細書においてさらに記載されるようにタイマブロック502とDAC506との間に分散され、それによって、DAC506がより低い分解能、およびしたがって、低減されたビット数を有することが可能になる(たとえば、図示されるような4ビットが可能になる)。
倍率kは、VRセンサ102の回転部と検出コイルとの間の結合における磁束の変化を表す。倍率kは、時間tを電圧ATHに変換するためのボルト秒(またはV・s)の単位を有する固定値である。ATHMINは、所与のシステムに関して、ノイズおよび誤検出を回避するのに十分高いものの、予測される最小のVRSパルスを確実に検出するのに十分低く選択される。ATHMAXは、より大きなパルスを確実に検出するのに十分高いものの、より高いパルスレベルにおいてより高いレベルのノイズを回避するのに十分低く選択される。タイマインクリメントおよびDAC分解能はこれらの因子に基づいて選択される。
より具体的な構成では、kは、示されている実施形態については1mV・s(ミリボルトに秒を乗算したもの)の一般的な値を有するものと仮定される。ATHMINは10mVであるように選択され、DAC506は、以下の式1に従ってATHを提供する4ビット指数DACとして構成される:
式中、CODEは1111b=15の高い値から0000b=0の低い値まで変化する。ATHの最大値はCODE=15を使用して求められ、それによって、ATHMAX=1.8Vである。タイマブロック502の最初の遅延期間T0は、以下の式2に従って、CODE=15を使用して式1から導出される:
各後続の時間期間は、n=0によって開始する以下の式3に従って選択される:
nは、nに対する所定の最大値まで、次の時間期間を求めるためにインクリメントされる。CODEはnに対応するデジタル値であり、CODEは、後続のタイミングステップ毎に15から0までデクリメントされる。
図6は、図5の閾値ブロックの1つの実施形態による、離散時間(T)、ATH電圧および対応するデジタルコード値(CODE)をリスト化した表である。ATHの値(V)は、k=1mV・sについて、式(2)および(3)によるマイクロ秒(μs)単位の時間値T(k/tの「t」に対応する)について、および、15〜0に及ぶCODEについて、式(1)に従って求められる。図示されているように、ATHMAXは、CODE=1111b=15である場合の、0〜約552μsまでの最初の時間期間の間の1.8Vである。約552μs後、タイマブロック502はDECをアサートし、それによって、カウンタ504はCODEを1110b=14にデクリメントし、ATHは約1.273Vに減少する。さらに229μs後のおよその時間781μsにおいて、タイマブロック502はDECをアサートし、それによって、カウンタ504はCODEを1101b=13にデクリメントし、ATHは約0.9Vに減少する。さらに324μs後のおよその時間1,105μsにおいて、タイマブロック502はDECをアサートし、それによって、カウンタ504はCODEを1100b=12にデクリメントし、ATHは約0.636Vに減少する。CODEが70,711μs後に0000b=0にデクリメントするまで、動作はこのように継続し、ATHは約10mVのATHMINまで減少する。表記70,711+によって指示されるように、DAC506は、CODEがリセットされて1111bに戻るまで10mVを出力し続ける。
図7は、図6の表に従って具体化される閾値ブロック412に関する、ミリ秒(ms)単位の時間に対してATHをボルト単位でプロットしたタイミング図である。デジタル階段関数(digital stair−step function)が、サイクル毎の経時的なk/t関数をシミュレートしている。このようにして、ATHのレベルは、各パルスが予測される速度のダイナミックレンジ内の任意の所与の速度において確実に検出されるように、任意の所与の時点において予測されるパルス振幅に従って自動的に適応する。
1つの実施形態による可変リラクタンスセンサ信号を処理するための可変リラクタンス・センサ・インタフェースは、アーミング比較器と、当該アーミング比較器にアーミング閾値を提供するアーミング回路とを含む。アーミング比較器は、可変リラクタンスセンサ信号を受信するための第1の入力と、アーミング閾値を受信する第2の入力と、可変リラクタンスセンサ信号がアーミング閾値に達するとアーミングされた信号を提供する出力とを含む。アーミング回路は、リセット信号のアサートに応答してアーミング閾値を所定の最大レベルにリセットし、リセットされた後に、アーミング閾値を1/tに比例して低減する。
交差信号を提供するとともに、アーミングされた信号がアーミングされた状態を指示した後に交差信号が提供されると検出信号を提供するための、検出比較器および検出回路を含むような、検出システムが提供され得る。検出信号はリセット信号として使用され得る。
1つの実施形態による可変リラクタンスセンサ信号を処理する方法は、所定の最大レベルから1/tに比例して所定の最小レベルまで減衰するアーミング閾値を提供することであって、tは経過時間を示す、提供することと、可変リラクタンスセンサ信号をアーミング閾値と比較するとともに、可変リラクタンスセンサ信号の振幅がアーミング閾値よりも大きくなるとアーミングされた信号を提供することとを含む。方法は、可変リラクタンスセンサ信号を基準レベルと比較するとともに、可変リラクタンスセンサ信号の振幅が基準レベルと交差すると交差信号を提供することと、アーミングされた信号が提供されている間に交差信号がアサートされると検出信号を提供することと、検出信号が提供されるとアーミング閾値を所定の最大レベルにリセットすることとをさらに含み得る。
本明細書において、具体的な実施形態を参照して本発明を説明したが、添付の特許請求の範囲に明記されているような本発明の範囲から逸脱することなくさまざまな改変および変更を為すことができる。従って、本明細書および図面は限定的な意味ではなく例示とみなされるべきであり、すべてのこのような改変が本発明の範囲内に含まれることが意図されている。本明細書において具体的な実施形態に関して記載されているいかなる利益、利点、または問題に対する解決策も、任意のまたはすべての請求項の重要な、必要とされる、または基本的な特徴または要素として解釈されるようには意図されていない。別途記載されない限り、「第1の」および「第2の」のような用語は、そのような用語が説明する要素間で適宜区別するように使用される。従って、これらの用語は必ずしも、このような要素の時間的なまたは他の優先順位付けを示すようには意図されていない。
108…アーミング比較器、112…アーミング閾値回路、114…検出回路、408…可変オフセット比較器、412…閾値ブロック、414…ラッチ。

Claims (20)

  1. 可変リラクタンスセンサ信号を処理するための可変リラクタンス・センサ・インタフェースであって、
    前記可変リラクタンスセンサ信号を受信するための第1の入力を含み、アーミング閾値を受信する第2の入力を含み、前記可変リラクタンスセンサ信号が前記アーミング閾値に達するとアーミングされた信号を提供する出力を含む、アーミング比較器と、
    前記アーミング比較器に前記アーミング閾値を提供するためのアーミング回路であって、該アーミング回路は、リセット信号のアサートに応答して前記アーミング閾値を所定の最大レベルにリセットし、該アーミング回路は、リセットされた後に、前記アーミング閾値を1/tに比例して低減し、tは経過時間を示す、アーミング回路とを備える、可変リラクタンス・センサ・インタフェース。
  2. 前記アーミング回路は、関数k/tに従って前記アーミング閾値を低減し、kは、前記可変リラクタンスセンサ信号を提供する可変リラクタンスセンサの特性に基づいて決定される倍率を含む、請求項1に記載の可変リラクタンス・センサ・インタフェース。
  3. 前記可変リラクタンスセンサ信号は、パルス開始からの時間の逆関数である最大振幅を有する少なくとも1つのパルスを含み、前記倍率は、前記アーミング閾値が、発生するときは前記最大振幅を確実に下回るように決定される、請求項2に記載の可変リラクタンス・センサ・インタフェース。
  4. 前記アーミング回路は、前記リセット信号をアサートした後で前記アーミング閾値を低減する前に、所定の遅延期間にわたって前記アーミング閾値を前記所定の最大レベルに維持する、請求項1に記載の可変リラクタンス・センサ・インタフェース。
  5. 前記アーミング回路は、前記可変リラクタンスセンサ信号に交差するのに十分低く、かつ予測されるノイズレベルに対して十分高い所定の最小レベルまで前記アーミング閾値を低減する、請求項1に記載の可変リラクタンス・センサ・インタフェース。
  6. 前記可変リラクタンスセンサ信号は、基準レベルに対しての振幅を有する少なくとも1つのパルスを含み、前記振幅はパルス開始からの時間の逆関数であり、前記可変リラクタンス・センサ・インタフェースは、
    前記アーミングされた信号がアーミングされた状態を指示した後に前記可変リラクタンスセンサ信号が基準レベルに達すると、前記リセット信号をアサートする出力を有する検出回路をさらに備える、請求項1に記載の可変リラクタンス・センサ・インタフェース。
  7. 前記アーミング回路は、
    カウント制御信号を提供するタイミングブロックと、
    前記カウント制御信号を受信し、対応するデジタルコード値を提供するカウンタと、
    前記デジタルコード値を受信し、前記アーミング閾値を提供するデジタル−アナログ変換器とを備える、請求項1に記載の可変リラクタンス・センサ・インタフェース。
  8. 前記タイミングブロックは、前記リセット信号のアサート後の複数の所定の時間期間の各々の後に、前記カウント制御信号上でパルスをアサートし、
    前記カウンタは、前記リセット信号がアサートされると前記デジタルコード値を所定の最大値にリセットし、前記カウント制御信号上のパルスに応答して前記デジタルコード値をデクリメントし、
    前記デジタル−アナログ変換器は、前記デジタルコード値の関数として前記アーミング閾値を提供する、請求項7に記載の可変リラクタンス・センサ・インタフェース。
  9. 前記複数の所定の時間期間の各後続の時間期間は、先行する時間期間に一定の係数を乗算することによって求められ、前記デジタル−アナログ変換器は、前記デジタルコード値の指数関数として前記アーミング閾値をアサートする、請求項8に記載の可変リラクタンス・センサ・インタフェース。
  10. 前記可変リラクタンスセンサ信号は差分信号を含み、前記アーミング比較器は、前記可変リラクタンスセンサ信号を受信するための差動入力を含む、請求項1に記載の可変リラクタンス・センサ・インタフェース。
  11. 前記可変リラクタンスセンサ信号の最大振幅を制限するためのクランプ回路をさらに備える、請求項1に記載の可変リラクタンス・センサ・インタフェース。
  12. 前記可変リラクタンスセンサ信号を受信するための入力と、前記可変リラクタンスセンサ信号が基準レベルに達すると交差信号を提供する出力とを有する検出比較器と、
    前記アーミングされた信号がアーミングされた状態を指示した後に前記交差信号が提供されると検出信号を提供する検出回路とをさらに備える、請求項1に記載の可変リラクタンス・センサ・インタフェース。
  13. 前記検出信号は前記リセット信号として使用される、請求項12に記載の可変リラクタンス・センサ・インタフェース。
  14. 可変リラクタンスセンサ信号を処理する方法であって、
    所定の最大レベルから1/tに比例して所定の最小レベルまで減衰するアーミング閾値を提供することであって、tは経過時間を示す、提供することと、
    前記可変リラクタンスセンサ信号を前記アーミング閾値と比較するとともに、前記可変リラクタンスセンサ信号の振幅が前記アーミング閾値よりも大きくなるとアーミングされた信号を提供することとを含む、方法。
  15. 前記可変リラクタンスセンサ信号は差分信号を含み、前記比較することは、差動入力において前記可変リラクタンスセンサ信号を受信することを含む、請求項14に記載の方法。
  16. 前記アーミング閾値を提供することは、関数k/tに従って前記アーミング閾値を減衰させることを含み、kは、前記可変リラクタンスセンサ信号を提供する可変リラクタンスセンサの特性に基づいて決定される倍率を含む、請求項14に記載の方法。
  17. 前記アーミング閾値を提供することは、リセットされた後に、前記アーミング閾値が前記所定の最大レベルまで減衰することになるという時期に基づき、遅延期間にわたって、前記アーミング閾値を前記所定の最大レベルに維持することを含む、請求項15に記載の方法。
  18. 前記可変リラクタンスセンサ信号を基準レベルと比較するとともに、前記可変リラクタンスセンサ信号の振幅が前記基準レベルと交差すると交差信号を提供することと、
    前記アーミングされた信号が提供されている間に前記交差信号が提供されると検出信号を提供することと、
    前記検出信号が提供されると前記アーミング閾値を前記所定の最大レベルにリセットすることとをさらに含む、請求項14に記載の方法。
  19. 前記アーミング閾値を提供することは、
    前記検出信号が提供された後の複数の所定の時間期間の各々の後にカウント制御信号をアサートすることと、
    前記検出信号が提供されるとデジタルコード値を所定の最大レベルにリセットするとともに、前記カウント信号がアサートされる度毎に応答して前記デジタルコード値をデクリメントすることと、
    前記デジタルコード値を前記アーミング閾値に変換することとを含む、請求項18に記載の方法。
  20. 前記所定の時間期間の後続の時間期間を、前記所定の時間期間のうちの現在の時間期間に対して一定の係数だけ増大させることをさらに含み、前記デジタルコード値を前記アーミング閾値に前記変換することは、前記デジタルコード値に基づいて各後続のアーミング閾値レベルを指数関数的に低減することを含む、請求項19に記載の方法。
JP2013113109A 2012-06-12 2013-05-29 1/tアーミング関数を用いたvrsインタフェース Expired - Fee Related JP6452217B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US13/494,501 2012-06-12
US13/494,501 US8970209B2 (en) 2012-06-12 2012-06-12 VRS interface with 1/T arming function

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2013257318A true JP2013257318A (ja) 2013-12-26
JP6452217B2 JP6452217B2 (ja) 2019-01-16

Family

ID=48607021

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2013113109A Expired - Fee Related JP6452217B2 (ja) 2012-06-12 2013-05-29 1/tアーミング関数を用いたvrsインタフェース

Country Status (4)

Country Link
US (1) US8970209B2 (ja)
EP (1) EP2674726B1 (ja)
JP (1) JP6452217B2 (ja)
BR (1) BR102013014679B1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10822105B2 (en) 2018-07-04 2020-11-03 Pratt & Whitney Canada Corp. Method and system for controlling a crossing threshold used in determining rotational speed of a propeller

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101394053B1 (ko) * 2012-12-28 2014-05-09 현대자동차 주식회사 차속 검출 시스템 및 이를 이용한 차속 검출 방법
US9176159B2 (en) 2013-10-03 2015-11-03 Freescale Semiconductor Inc. Variable reluctance sensor interfaces with signal pre-processing and methods of their operation
US9366548B2 (en) 2013-10-03 2016-06-14 Freescale Semiconductor, Inc. Variable reluctance sensor interfaces and methods of their operation
US9726519B2 (en) 2014-01-15 2017-08-08 Nxp Usa, Inc. Variable reluctance sensor interfaces with clearing and methods of their operation
US9506979B2 (en) 2014-04-02 2016-11-29 Freescale Semiconductor, Inc. Test mode entry interlock
US10323962B2 (en) * 2016-02-24 2019-06-18 Infineon Technologies Ag Using a variable switching threshold for providing an output
US11592455B2 (en) * 2020-01-13 2023-02-28 Woodward, Inc. Adaptive voltage threshold for turbine engine

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07287025A (ja) * 1994-04-18 1995-10-31 Mitsubishi Electric Corp 磁気センサおよび信号検出用プレート
JPH09113527A (ja) * 1995-10-17 1997-05-02 Fujitsu Ten Ltd 周期測定装置
JPH09133697A (ja) * 1995-10-19 1997-05-20 General Motors Corp <Gm> 可変リラクタンス回転センサ
JPH1194588A (ja) * 1997-09-17 1999-04-09 Hirose Cherry Precision:Kk パルス信号発生方法および装置
JP2000516725A (ja) * 1997-04-01 2000-12-12 プレシジョン・ナビゲーション・インコーポレーテッド 常温および高透磁率コアを有する磁力計
JP2003287439A (ja) * 2002-03-27 2003-10-10 Denso Corp 回転検出装置
JP2003337050A (ja) * 2002-05-17 2003-11-28 Nsk Ltd 回転検出装置および転動装置
JP2008199164A (ja) * 2007-02-09 2008-08-28 Nikon Corp ノイズ低減の画像処理方法とそれを用いた撮像装置
JP2012503324A (ja) * 2008-09-19 2012-02-02 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ 電子織物及び電子織物の機能領域を決定する方法

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
IT1223867B (it) 1988-10-25 1990-09-29 Marelli Autronica Circuito per il trattamento del segnale generato da un sensore elettromagnetico di rotazione del tipo a riluttanza variabile
WO1992008137A1 (de) 1990-10-24 1992-05-14 Alfred Teves Gmbh Schaltungsanordnung zur aufbereitung des ausgangssignals eines drehzahlsensors
US5084696A (en) * 1991-01-24 1992-01-28 Aritech Corporation Signal detection system with dynamically adjustable detection threshold
US5477142A (en) * 1994-02-22 1995-12-19 Delco Electronics Corporation Variable reluctance sensor interface using a differential input and digital adaptive control
US7362094B2 (en) * 2006-01-17 2008-04-22 Allegro Microsystems, Inc. Methods and apparatus for magnetic article detection

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07287025A (ja) * 1994-04-18 1995-10-31 Mitsubishi Electric Corp 磁気センサおよび信号検出用プレート
JPH09113527A (ja) * 1995-10-17 1997-05-02 Fujitsu Ten Ltd 周期測定装置
JPH09133697A (ja) * 1995-10-19 1997-05-20 General Motors Corp <Gm> 可変リラクタンス回転センサ
JP2000516725A (ja) * 1997-04-01 2000-12-12 プレシジョン・ナビゲーション・インコーポレーテッド 常温および高透磁率コアを有する磁力計
JPH1194588A (ja) * 1997-09-17 1999-04-09 Hirose Cherry Precision:Kk パルス信号発生方法および装置
JP2003287439A (ja) * 2002-03-27 2003-10-10 Denso Corp 回転検出装置
JP2003337050A (ja) * 2002-05-17 2003-11-28 Nsk Ltd 回転検出装置および転動装置
JP2008199164A (ja) * 2007-02-09 2008-08-28 Nikon Corp ノイズ低減の画像処理方法とそれを用いた撮像装置
JP2012503324A (ja) * 2008-09-19 2012-02-02 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ 電子織物及び電子織物の機能領域を決定する方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10822105B2 (en) 2018-07-04 2020-11-03 Pratt & Whitney Canada Corp. Method and system for controlling a crossing threshold used in determining rotational speed of a propeller

Also Published As

Publication number Publication date
EP2674726A3 (en) 2016-03-16
BR102013014679A2 (pt) 2015-08-11
BR102013014679A8 (pt) 2017-10-10
JP6452217B2 (ja) 2019-01-16
BR102013014679B1 (pt) 2021-05-18
US20130328554A1 (en) 2013-12-12
EP2674726A2 (en) 2013-12-18
US8970209B2 (en) 2015-03-03
EP2674726B1 (en) 2017-10-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6452217B2 (ja) 1/tアーミング関数を用いたvrsインタフェース
JP6271179B2 (ja) 積分に基づくアーミング閾値を用いる可変磁気抵抗センサインターフェース及び方法
US8324941B2 (en) Method and apparatus for time-differential comparison of an analog signal
US6798192B2 (en) Speed sensing system with automatic sensitivity adjustment
RU2399154C1 (ru) Формирователь импульсов из сигналов индукционных датчиков частоты вращения
US6885186B2 (en) Resonant circuit for increasing variable reluctance sensor output
US9176159B2 (en) Variable reluctance sensor interfaces with signal pre-processing and methods of their operation
RU2399153C1 (ru) Способ формирования импульсов из сигналов индукционных датчиков частоты вращения
US9366548B2 (en) Variable reluctance sensor interfaces and methods of their operation
JP2005300441A (ja) タコパルス検出回路
RU2459351C1 (ru) Формирователь импульсов из сигналов индукционных датчиков частоты вращения
CN109668735B (zh) 一种发动机转子相位基准确定方法、装置和电路
KR101908136B1 (ko) 모터 구동 제어 회로
JP2006117225A (ja) センサの信号処理システム、及び挟み込み検出システム
SU1667171A1 (ru) Устройство дл определени параметров переходного процесса
JPS6040901A (ja) エンジン回転角センサ信号処理回路
JP3054073B2 (ja) 回転数検出装置
CN117595583A (zh) 一种磁悬浮分子泵的测速系统及磁悬浮分子泵
Kotowski et al. Control of Sequential Fuel Injection and Distributorless Ignition for Modern SI Engines
JPH0641235U (ja) トリガ検出回路
JPH02204658A (ja) 回転位置検出装置
JPH0854405A (ja) 動体検出方法及びその装置
JPS63191915A (ja) センサ信号の所定トリガ点を定める装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20160513

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20170215

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20170307

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20170605

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20171114

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20180213

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20180619

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20180727

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20181113

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20181210

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6452217

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees