JP3054073B2 - 回転数検出装置 - Google Patents
回転数検出装置Info
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- JP3054073B2 JP3054073B2 JP8094994A JP9499496A JP3054073B2 JP 3054073 B2 JP3054073 B2 JP 3054073B2 JP 8094994 A JP8094994 A JP 8094994A JP 9499496 A JP9499496 A JP 9499496A JP 3054073 B2 JP3054073 B2 JP 3054073B2
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は回転数検出装置に関
し、より詳細には、欠け歯部を備えた複数の歯を有する
ロ−タを用いてエンジン等の回転数を検出する回転数検
出装置に関する。
し、より詳細には、欠け歯部を備えた複数の歯を有する
ロ−タを用いてエンジン等の回転数を検出する回転数検
出装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】図５は従来のこの種の回転数検出装置１
００を概略的に示したブロック図である。回転数検出装
置１００は欠け歯部１０２を備えたロ−タ１０１と、コ
イル１０４、マグネット１０５及びヨ−ク１０６等で構
成された回転数センサ１０３と、回転数センサ１０３か
ら受信した信号を所定のしきい値と比較し波形整形を施
してロ−タ１０１の回転数を算出する電子制御装置１０
７等で構成されている。
００を概略的に示したブロック図である。回転数検出装
置１００は欠け歯部１０２を備えたロ−タ１０１と、コ
イル１０４、マグネット１０５及びヨ−ク１０６等で構
成された回転数センサ１０３と、回転数センサ１０３か
ら受信した信号を所定のしきい値と比較し波形整形を施
してロ−タ１０１の回転数を算出する電子制御装置１０
７等で構成されている。
【０００３】ロ−タ１０１が回転することでヨ−ク１０
６を通過する磁束が変化し、該磁束の変化量に応じた電
圧ＶOUT （図６（ａ）参照）が、回転数センサ１０３か
ら電子制御装置１０７に対して出力される。回転数セン
サ１０３の出力電圧ＶOUT は、電子制御装置１０７にお
いて所定のしきい値１に基づいて図６（ｂ）に示した波
形整形信号ＶECU に波形整形される。そして、電子制御
装置１０７において、波形整形信号ＶECU のパルス数が
計数され、ロ−タ１０１の回転数が算出される。
６を通過する磁束が変化し、該磁束の変化量に応じた電
圧ＶOUT （図６（ａ）参照）が、回転数センサ１０３か
ら電子制御装置１０７に対して出力される。回転数セン
サ１０３の出力電圧ＶOUT は、電子制御装置１０７にお
いて所定のしきい値１に基づいて図６（ｂ）に示した波
形整形信号ＶECU に波形整形される。そして、電子制御
装置１０７において、波形整形信号ＶECU のパルス数が
計数され、ロ−タ１０１の回転数が算出される。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記した従来
の回転数検出装置１００には以下に示す課題があった。
ロ−タ１０１が高速で回転すると、欠け歯部１０２のエ
ッジＢにおける磁束の変化量が大きくなり、回転数セン
サ１０３から出力される電圧ＶOUTBが大きくなる。その
影響を受けて、欠け歯部１０２のエッジＡにおける磁束
の変化量が小さくなり、回転数センサ１０３から出力さ
れる電圧ＶOUTAが所定のしきい値１以下にならなくなっ
てしまう場合がある（図６（ａ）参照）。そうすると、
図６（ｂ）に示したように、本来出力されるべきパルス
１０９が出力されなくなり、波形整形信号ＶECU に波形
抜けが発生してしまう。波形整形信号ＶECU に波形抜け
が発生すると、ロ−タ１０１の歯数を正確に計数するこ
とができなくなってしまう。
の回転数検出装置１００には以下に示す課題があった。
ロ−タ１０１が高速で回転すると、欠け歯部１０２のエ
ッジＢにおける磁束の変化量が大きくなり、回転数セン
サ１０３から出力される電圧ＶOUTBが大きくなる。その
影響を受けて、欠け歯部１０２のエッジＡにおける磁束
の変化量が小さくなり、回転数センサ１０３から出力さ
れる電圧ＶOUTAが所定のしきい値１以下にならなくなっ
てしまう場合がある（図６（ａ）参照）。そうすると、
図６（ｂ）に示したように、本来出力されるべきパルス
１０９が出力されなくなり、波形整形信号ＶECU に波形
抜けが発生してしまう。波形整形信号ＶECU に波形抜け
が発生すると、ロ−タ１０１の歯数を正確に計数するこ
とができなくなってしまう。
【０００５】本発明は上記課題に鑑みなされたものであ
り、波形整形信号に波形抜けが発生するのを防止するこ
とができ、ロ−タの歯数を正確に計数することができる
回転数検出装置を提供することを目的としている。
り、波形整形信号に波形抜けが発生するのを防止するこ
とができ、ロ−タの歯数を正確に計数することができる
回転数検出装置を提供することを目的としている。
【０００６】
【課題を解決するための手段及びその効果】上記目的を
達成するために本発明に係る回転数検出装置（１）は、
欠け歯部を備えた複数の歯を有するロータと、該歯の凹
凸を検出しその検出値に応じた信号を出力する検出部と
で構成された回転数センサと、該回転数センサから受信
した信号を所定のしきい値と比較し波形整形を施して前
記ロータの回転数を算出する電子制御装置とを備えた回
転数検出装置において、前記電子制御装置は、波形整形
された信号の時間間隔に基づいて欠け歯部を認識する欠
け歯部認識手段と、該欠け歯部認識手段により欠け歯部
と認識された波形整形信号の次の波形整形信号のデュー
ティ比を算出するデューティ比算出手段と、該デューテ
ィ比算出手段により算出されたデューティ比が所定値以
下になると、前記しきい値を変更させる第１のしきい値
変更手段とを備えていることを特徴としている。
達成するために本発明に係る回転数検出装置（１）は、
欠け歯部を備えた複数の歯を有するロータと、該歯の凹
凸を検出しその検出値に応じた信号を出力する検出部と
で構成された回転数センサと、該回転数センサから受信
した信号を所定のしきい値と比較し波形整形を施して前
記ロータの回転数を算出する電子制御装置とを備えた回
転数検出装置において、前記電子制御装置は、波形整形
された信号の時間間隔に基づいて欠け歯部を認識する欠
け歯部認識手段と、該欠け歯部認識手段により欠け歯部
と認識された波形整形信号の次の波形整形信号のデュー
ティ比を算出するデューティ比算出手段と、該デューテ
ィ比算出手段により算出されたデューティ比が所定値以
下になると、前記しきい値を変更させる第１のしきい値
変更手段とを備えていることを特徴としている。
【０００７】上記回転数検出装置（１）において、波形
整形信号とは、前記電子制御装置により、波形整形用の
所定のしきい値に基づいて前記回転数センサから受信し
た信号に波形整形が施された後の信号を意味している。
整形信号とは、前記電子制御装置により、波形整形用の
所定のしきい値に基づいて前記回転数センサから受信し
た信号に波形整形が施された後の信号を意味している。
【０００８】欠け歯部と認識された波形整形信号の次の
波形整形信号のデュ−ティ比が所定値以下になるという
ことは、欠け歯部の次の波形整形信号の出力時間が短く
なり、波形整形に際して波形抜けが生じやすくなってい
ることを意味している。したがってその場合、上記回転
数検出装置（１）にあっては、前記第１のしきい値変更
手段により前記所定のしきい値を所定値上昇させ、波形
整形時における波形抜けの発生を防止する。
波形整形信号のデュ−ティ比が所定値以下になるという
ことは、欠け歯部の次の波形整形信号の出力時間が短く
なり、波形整形に際して波形抜けが生じやすくなってい
ることを意味している。したがってその場合、上記回転
数検出装置（１）にあっては、前記第１のしきい値変更
手段により前記所定のしきい値を所定値上昇させ、波形
整形時における波形抜けの発生を防止する。
【０００９】
【００１０】
【００１１】
【００１２】
【００１３】以上説明したように、上記回転数検出装置
（１）を用いて波形整形時における波形抜けを防止する
ことができ、ロ−タの歯数を正確に計数することがで
き、回転数を正しく算出することができる。
（１）を用いて波形整形時における波形抜けを防止する
ことができ、ロ−タの歯数を正確に計数することがで
き、回転数を正しく算出することができる。
【００１４】
【発明の実施の形態】以下、本発明に係る回転数検出装
置の実施の形態を図面に基づいて説明する。
置の実施の形態を図面に基づいて説明する。
【００１５】実施の形態１ 図１（ａ）は実施の形態１に係る回転数検出装置１０を
概略的に示したブロック図であり、図１（ａ）に示した
回転数検出装置１０の構成が図５に示した従来の回転数
検出装置１００の構成と異なっているのは、電子制御装
置１０７が電子制御装置１１となっている点である。そ
の他の構成は同じである。図１（ａ）において、電子制
御装置１１はマイクロコンピュ−タ１２、しきい値変更
回路１３及び波形整形回路１４等を含んで構成されてい
る。
概略的に示したブロック図であり、図１（ａ）に示した
回転数検出装置１０の構成が図５に示した従来の回転数
検出装置１００の構成と異なっているのは、電子制御装
置１０７が電子制御装置１１となっている点である。そ
の他の構成は同じである。図１（ａ）において、電子制
御装置１１はマイクロコンピュ−タ１２、しきい値変更
回路１３及び波形整形回路１４等を含んで構成されてい
る。
【００１６】回転数検出装置１０の動作を図１（ｂ）及
び（ｃ）に基づいて説明する。図１（ｂ）はマイクロコ
ンピュ−タ１２の動作を示したフロ−チャ−トであり、
図１（ｃ）における（ｃ１）は回転数センサ１０３の出
力電圧ＶOUT を示し、（ｃ２）は出力電圧ＶOUT が電子
制御装置１１で波形整形された波形整形信号ＶECU を示
している。
び（ｃ）に基づいて説明する。図１（ｂ）はマイクロコ
ンピュ−タ１２の動作を示したフロ−チャ−トであり、
図１（ｃ）における（ｃ１）は回転数センサ１０３の出
力電圧ＶOUT を示し、（ｃ２）は出力電圧ＶOUT が電子
制御装置１１で波形整形された波形整形信号ＶECU を示
している。
【００１７】まず、ステップ１において波形整形信号Ｖ
ECU の出力時間の長さから、欠け歯部１０２の部分に相
当する波形整形信号ＶECU0を認識する（欠け歯部認識手
段）。次に、波形整形信号ＶECU0の次の波形整形信号で
あるＶECU1のデュ−ティ比（＝ｔ1 ／ｔ）を算出し（デ
ューティ比算出手段）、該デュ−ティ比が所定値ｋ（例
えば、１０％）以下であるかどうかを判断する（ステッ
プ２）。波形整形信号ＶECU1のデュ−ティ比が所定値ｋ
を超えている場合、波形抜けが生じる可能性はないの
で、波形整形における所定のしきい値１は変更しない
（ステップ４）。これに対して、波形整形信号ＶECU1の
デュ−ティ比が所定値ｋ以下である場合、図１（ｃ）の
（ｃ１）に示したように、回転数センサ１０３の出力電
圧ＶOUT の欠け歯部１０２のエッジＢに相当する部分の
電圧ＶOUTBが上昇し、それにつれて欠け歯部１０２のエ
ッジＡに相当する部分の電圧ＶOUTAも上昇する方向にあ
るとみなすことができるので、ステップ３においてマイ
クロコンピュ−タ１２により、しきい値変更回路１３を
介して波形整形回路１４に対して所定のしきい値１を所
定値上昇させる制御を行う（第１のしきい値変更手
段）。
ECU の出力時間の長さから、欠け歯部１０２の部分に相
当する波形整形信号ＶECU0を認識する（欠け歯部認識手
段）。次に、波形整形信号ＶECU0の次の波形整形信号で
あるＶECU1のデュ−ティ比（＝ｔ1 ／ｔ）を算出し（デ
ューティ比算出手段）、該デュ−ティ比が所定値ｋ（例
えば、１０％）以下であるかどうかを判断する（ステッ
プ２）。波形整形信号ＶECU1のデュ−ティ比が所定値ｋ
を超えている場合、波形抜けが生じる可能性はないの
で、波形整形における所定のしきい値１は変更しない
（ステップ４）。これに対して、波形整形信号ＶECU1の
デュ−ティ比が所定値ｋ以下である場合、図１（ｃ）の
（ｃ１）に示したように、回転数センサ１０３の出力電
圧ＶOUT の欠け歯部１０２のエッジＢに相当する部分の
電圧ＶOUTBが上昇し、それにつれて欠け歯部１０２のエ
ッジＡに相当する部分の電圧ＶOUTAも上昇する方向にあ
るとみなすことができるので、ステップ３においてマイ
クロコンピュ−タ１２により、しきい値変更回路１３を
介して波形整形回路１４に対して所定のしきい値１を所
定値上昇させる制御を行う（第１のしきい値変更手
段）。
【００１８】以上説明したように、実施の形態１に係る
回転数検出装置１０にあっては、欠け歯部１０２に相当
する波形整形信号ＶECU0を認識し、波形整形信号ＶECU0
の次の信号ＶECU1のデュ−ティ比が所定値ｋ以下であれ
ば波形抜けが生じる可能性があるとみなし、所定のしき
い値１を上昇方向に変更するので、波形整形に際し、波
形抜けが生じるのを防止することができる。
回転数検出装置１０にあっては、欠け歯部１０２に相当
する波形整形信号ＶECU0を認識し、波形整形信号ＶECU0
の次の信号ＶECU1のデュ−ティ比が所定値ｋ以下であれ
ば波形抜けが生じる可能性があるとみなし、所定のしき
い値１を上昇方向に変更するので、波形整形に際し、波
形抜けが生じるのを防止することができる。
【００１９】実施の形態２ 図２（ａ）は実施の形態２に係る回転数検出装置２０を
概略的に示したブロック図であり、図２（ａ）に示した
回転数検出装置２０の構成が図１（ａ）に示した回転数
検出装置１０の構成と異なっているのは、電子制御装置
１１が電子制御装置２１となっている点である。その他
の構成は同じである。図２（ａ）において、電子制御装
置２１は、マイクロコンピュ−タ２２、しきい値変更回
路１３、波形整形回路１４及び比較回路２５等を含んで
構成されている。
概略的に示したブロック図であり、図２（ａ）に示した
回転数検出装置２０の構成が図１（ａ）に示した回転数
検出装置１０の構成と異なっているのは、電子制御装置
１１が電子制御装置２１となっている点である。その他
の構成は同じである。図２（ａ）において、電子制御装
置２１は、マイクロコンピュ−タ２２、しきい値変更回
路１３、波形整形回路１４及び比較回路２５等を含んで
構成されている。
【００２０】回転数検出装置２０の動作を図２（ｂ）及
び（ｃ）に基づいて説明する。図２（ｂ）はマイクロコ
ンピュ−タ２２の動作を示したフロ−チャ−トであり、
図２（ｃ１）は回転数センサ１０３の出力電圧ＶOUT を
示し、図２（ｃ２）は波形整形信号ＶECU を示してい
る。
び（ｃ）に基づいて説明する。図２（ｂ）はマイクロコ
ンピュ−タ２２の動作を示したフロ−チャ−トであり、
図２（ｃ１）は回転数センサ１０３の出力電圧ＶOUT を
示し、図２（ｃ２）は波形整形信号ＶECU を示してい
る。
【００２１】まず、ステップ１１で、回転数センサ１０
３の出力電圧ＶOUT において、欠け歯部１０２のエッジ
Ｂの部分に相当する電圧ＶOUTBが所定のしきい値Ｖth以
上であるかどうかを判断する。電圧ＶOUTBが所定のしき
い値Ｖth以上であれば、それにつれてエッジＡの部分に
相当する電圧ＶOUTAも高くなっており、電圧ＶOUTAが所
定のしきい値１以上となって波形整形時に波形抜けが生
じる可能性があるので、ステップ１２において所定のし
きい値１を所定値上昇させる。一方、電圧ＶOUTBが所定
のしきい値Ｖthを超えていなければ、波形整形時に波形
抜けが生じる可能性はないので、所定のしきい値１は変
更せずそのままのレベルで保持する（ステップ１３）
（第２のしきい値変更手段）。
３の出力電圧ＶOUT において、欠け歯部１０２のエッジ
Ｂの部分に相当する電圧ＶOUTBが所定のしきい値Ｖth以
上であるかどうかを判断する。電圧ＶOUTBが所定のしき
い値Ｖth以上であれば、それにつれてエッジＡの部分に
相当する電圧ＶOUTAも高くなっており、電圧ＶOUTAが所
定のしきい値１以上となって波形整形時に波形抜けが生
じる可能性があるので、ステップ１２において所定のし
きい値１を所定値上昇させる。一方、電圧ＶOUTBが所定
のしきい値Ｖthを超えていなければ、波形整形時に波形
抜けが生じる可能性はないので、所定のしきい値１は変
更せずそのままのレベルで保持する（ステップ１３）
（第２のしきい値変更手段）。
【００２２】以上説明したように実施の形態２に係る回
転数検出装置２０にあっては、欠け歯部１０２のエッジ
Ｂの部分に相当する電圧ＶOUTBがあらかじめ設定された
所定のしきい値Ｖth以上であるかどうかで波形整形時に
波形抜けが生じるかどうかを判断する。エッジＡに相当
する電圧ＶOUTAはエッジＢに相当する電圧ＶOUTBと連動
して同方向に変化するので、電圧ＶOUTBの変化を見るこ
とで波形抜けが生じるかどうかを判断することができ
る。したがって、実施の形態２に係る回転数検出装置２
０を用いれば、波形整形時における波形抜けの発生を防
止することができる。
転数検出装置２０にあっては、欠け歯部１０２のエッジ
Ｂの部分に相当する電圧ＶOUTBがあらかじめ設定された
所定のしきい値Ｖth以上であるかどうかで波形整形時に
波形抜けが生じるかどうかを判断する。エッジＡに相当
する電圧ＶOUTAはエッジＢに相当する電圧ＶOUTBと連動
して同方向に変化するので、電圧ＶOUTBの変化を見るこ
とで波形抜けが生じるかどうかを判断することができ
る。したがって、実施の形態２に係る回転数検出装置２
０を用いれば、波形整形時における波形抜けの発生を防
止することができる。
【００２３】実施の形態３ 図３（ａ）及び（ｂ）は実施の形態３に係る回転数検出
装置で用いられるロ−タの構造を概略的に示した部分拡
大側面図である。実施の形態３に係る回転数検出装置の
場合、欠け歯部１０２における段差が低く設定されたロ
−タが用いられている。図３（ａ）に示したロ−タ３１
は、欠け歯部１０２全体にわたって段差Ｄ1 が通常歯に
おける段差Ｄ0 に比べて低く設定された例を示したもの
であり、図３（ｂ）に示したロ−タ３２は、欠け歯部１
０２のうち、エッジＢ近傍の段差Ｄ2 が通常歯における
段差Ｄ0 に比べて低く設定された例を示したものであ
る。
装置で用いられるロ−タの構造を概略的に示した部分拡
大側面図である。実施の形態３に係る回転数検出装置の
場合、欠け歯部１０２における段差が低く設定されたロ
−タが用いられている。図３（ａ）に示したロ−タ３１
は、欠け歯部１０２全体にわたって段差Ｄ1 が通常歯に
おける段差Ｄ0 に比べて低く設定された例を示したもの
であり、図３（ｂ）に示したロ−タ３２は、欠け歯部１
０２のうち、エッジＢ近傍の段差Ｄ2 が通常歯における
段差Ｄ0 に比べて低く設定された例を示したものであ
る。
【００２４】ロ−タ３１あるいはロ−タ３２のように欠
け歯部１０２における段差を低く設定すると、エッジＢ
における磁束の変化量が小さくなるので、上記した実施
の形態２の場合で言えば、回転数センサ１０３の出力電
圧ＶOUT におけるＶOUTBの電圧を低く抑えることができ
る。したがって、エッジＡの部分に相当する電圧ＶOUTA
も低く抑えることができるので、電圧ＶOUTAが所定のし
きい値１以上となることを防止することができ、波形整
形時における波形抜けの発生を防止することができる。
け歯部１０２における段差を低く設定すると、エッジＢ
における磁束の変化量が小さくなるので、上記した実施
の形態２の場合で言えば、回転数センサ１０３の出力電
圧ＶOUT におけるＶOUTBの電圧を低く抑えることができ
る。したがって、エッジＡの部分に相当する電圧ＶOUTA
も低く抑えることができるので、電圧ＶOUTAが所定のし
きい値１以上となることを防止することができ、波形整
形時における波形抜けの発生を防止することができる。
【００２５】図４に欠け歯部段差Ｄ1 （あるいは段差Ｄ
2 ）と波形抜け発生回転数との関係のグラフを示す。横
軸は欠け歯部段差Ｄ1(2)（ｍｍ）を示し、縦軸は波形抜
け発生回転数（ｒｐｍ）を示している。また、図中に示
したＥＣＵＡ、ＥＣＵＢ、ＥＣＵＣはそれぞれフィルタ
等の違いによる電子制御装置の種類を示している。ま
た、ＥＣＵＣにおいて、破線部は予測を示している。例
えば、下記の表１に示したように、ＥＣＵＣの場合、段
差Ｄ1(2)が０．２１ｍｍの場合、波形抜けが発生する回
転数は８０００ｒｐｍであり、段差Ｄ1(2)が０．５５の
場合、回転数は７０００ｒｐｍであり、段差Ｄ1(2)が
０．７８ｍｍの場合、回転数は６５００ｒｐｍとなって
いる。このように、欠け歯部段差Ｄ1 （あるいは段差Ｄ
2 ）を低く設定するほど波形抜け発生回転数を高めるこ
とができる。
2 ）と波形抜け発生回転数との関係のグラフを示す。横
軸は欠け歯部段差Ｄ1(2)（ｍｍ）を示し、縦軸は波形抜
け発生回転数（ｒｐｍ）を示している。また、図中に示
したＥＣＵＡ、ＥＣＵＢ、ＥＣＵＣはそれぞれフィルタ
等の違いによる電子制御装置の種類を示している。ま
た、ＥＣＵＣにおいて、破線部は予測を示している。例
えば、下記の表１に示したように、ＥＣＵＣの場合、段
差Ｄ1(2)が０．２１ｍｍの場合、波形抜けが発生する回
転数は８０００ｒｐｍであり、段差Ｄ1(2)が０．５５の
場合、回転数は７０００ｒｐｍであり、段差Ｄ1(2)が
０．７８ｍｍの場合、回転数は６５００ｒｐｍとなって
いる。このように、欠け歯部段差Ｄ1 （あるいは段差Ｄ
2 ）を低く設定するほど波形抜け発生回転数を高めるこ
とができる。
【００２６】
【表１】
【図面の簡単な説明】
【図１】（ａ）は本発明の実施の形態１に係る回転数検
出装置を概略的に示したブロック図であり、（ｂ）はマ
イクロコンピュ−タの動作を示したフロ−チャ−トであ
り、（ｃ１）は回転数センサの出力電圧を示したもので
あり、（ｃ２）は波形整形信号を示したものである。
出装置を概略的に示したブロック図であり、（ｂ）はマ
イクロコンピュ−タの動作を示したフロ−チャ−トであ
り、（ｃ１）は回転数センサの出力電圧を示したもので
あり、（ｃ２）は波形整形信号を示したものである。
【図２】（ａ）は本発明の実施の形態２に係る回転数検
出装置を概略的に示したブロック図であり、（ｂ）はマ
イクロコンピュ−タの動作を示したフロ−チャ−トであ
り、（ｃ１）は回転数センサの出力電圧を示したもので
あり、（ｃ２）は波形整形信号を示したものである。
出装置を概略的に示したブロック図であり、（ｂ）はマ
イクロコンピュ−タの動作を示したフロ−チャ−トであ
り、（ｃ１）は回転数センサの出力電圧を示したもので
あり、（ｃ２）は波形整形信号を示したものである。
【図３】（ａ）及び（ｂ）は本発明の実施の形態３に係
る回転数検出装置で用いられるロ−タの一例を示した概
略部分拡大側面図である。
る回転数検出装置で用いられるロ−タの一例を示した概
略部分拡大側面図である。
【図４】欠け歯部段差と波形抜け発生回転数との関係を
示したグラフ（例）である。
示したグラフ（例）である。
【図５】従来の回転数検出装置を概略的に示したブロッ
ク図である。
ク図である。
【図６】（ａ）は回転数センサの出力電圧を示し、
（ｂ）は波形整形信号を示している。
（ｂ）は波形整形信号を示している。
１０、２０ 回転数検出装置 １１、２１ 電子制御装置 １２、２２ マイクロコンピュ−タ １３ しきい値変更回路 １４ 波形整形回路 ２５ 比較回路 ３１、３２、１０１ ロ−タ １０２ 欠け歯部 １０３ 回転数センサ １０４ コイル １０５ マグネット Ａ、Ｂ エッジ Ｄ1 、Ｄ2 欠け歯部段差 Ｖth 所定のしきい値
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平６−300584（ＪＰ，Ａ) 特開 昭59−614（ＪＰ，Ａ) 特開 平８−101043（ＪＰ，Ａ) 特開 平９−257817（ＪＰ，Ａ) 特開 平６−194188（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01P 3/481 - 3/489
Claims (1)
- 【請求項１】 欠け歯部を備えた複数の歯を有するロー
タと、該歯の凹凸を検出しその検出値に応じた信号を出
力する検出部とで構成された回転数センサと、該回転数
センサから受信した信号を所定のしきい値と比較し波形
整形を施して前記ロータの回転数を算出する電子制御装
置とを備えた回転数検出装置において、 前記電子制御装置は、波形整形された信号の時間間隔に
基づいて欠け歯部を認識する欠け歯部認識手段と、該欠
け歯部認識手段により欠け歯部と認識された波形整形信
号の次の波形整形信号のデューティ比を算出するデュー
ティ比算出手段と、該デューティ比算出手段により算出
されたデューティ比が所定値以下になると、前記しきい
値を変更させる第１のしきい値変更手段とを備えている
ことを特徴とする回転数検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8094994A JP3054073B2 (ja) | 1996-04-17 | 1996-04-17 | 回転数検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8094994A JP3054073B2 (ja) | 1996-04-17 | 1996-04-17 | 回転数検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09281129A JPH09281129A (ja) | 1997-10-31 |
| JP3054073B2 true JP3054073B2 (ja) | 2000-06-19 |
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ID=14125428
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8094994A Expired - Fee Related JP3054073B2 (ja) | 1996-04-17 | 1996-04-17 | 回転数検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3054073B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN112727600B (zh) * | 2021-01-13 | 2022-05-03 | 重庆隆鑫通航发动机制造有限公司 | 一种无人机、发动机、控制装置及缺齿识别方法 |
-
1996
- 1996-04-17 JP JP8094994A patent/JP3054073B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH09281129A (ja) | 1997-10-31 |
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