JP2013238592A - シングルエンド光学テスト機器用アレイ・コネクタ・テスト・ハーネス - Google Patents

Abstract

【課題】シングルエンド光学テスト機器用アレイ・コネクタ・テスト・ハーネスを提供する。
【解決手段】ファイバ・システムにおけるファイバ・セットを一緒にループする近端部ハーネス３０および遠端部ハーネス３２を設けることによって、光ファイバ・システムをテストするためのシステム、装置、および方法である。近端部ハーネスは、テスタに接続するインターフェースを有する。次に、テスタは、ファイバの全セットに対してテストを遂行し、ファイバは、ネットワークにおけるファイバの全セットまたはサブセットを横断する単一光学経路を生成する２つのハーネスの構成によって一緒にループされ、したがって、発射されたテスト信号は、ループされたファイバの全セットを通って伝播し、ファイバ用の測定結果を提供する。
【選択図】図３

Description

本発明は、光学テスト機器に関し、特に、シングルエンド光学テスト機器用アレイ・コネクタ・テスト・ハーネスに関する。

ＭＰＯ／ＭＴＲ（登録商標）コネクタ（ＭＰＯは、マルチファイバ・プッシュ・オン・コネクタ用の業界の頭字語であり、ＭＴＲ（登録商標）は、ＭＰＯコネクタの商標である）などのアレイ・コネクタには、アレイに整列された多数のファイバが含まれる。最も一般的なのは、１×１２であるが、２×１２および他の構成も利用可能である。しかしながら、テスト機器は、単一ファイバ・コネクタにインターフェースするように設計される。これらの単一ファイバ・コネクタは、時には、二重リンクにまとめられ、いくつかのテスト機器は、これらにインターフェースするように設計される。テスト機器は、アレイ・コネクタにインターフェースするようには構成されていない。

アレイ・コネクタに対するインターフェースのこの欠陥に対処するために、先行技術は、アレイ・コネクタ・インターフェースを単一コネクタにブレークアウトするカスタム・ハーネスを必要とする（図１を参照）。次に、テスタを第１の単一コネクタに接続し、第１のファイバをテストしてもよい。次に、テスタは、切り離され、続いて、アレイにおける次および後続のファイバをテストするために、次続および後続のコネクタに接続されなければならない。理想的には、ブレークアウト・ハーネスにおけるファイバの長さは、テスタの不感帯（刺激後に反射が速く戻りすぎてテスタによって検出されない長さ）の影響を抑制するほど十分に長い。

ハーネスには、それぞれのアレイ・コネクタ１６、１６’に接続する励振コード端部ハーネスおよびテールコード端部ハーネス１２、１４が含まれ、アレイ・コネクタは、テスト中のファイバ・ネットワーク１８にインターフェースする。ファイバ・ネットワークには複数のファイバが含まれ、それらのファイバにおけるファイバが、アレイ・コネクタ接続部における接続部に対応することが注目される。近端部ハーネス１２には、複数の励振コード接続ファイバ２０、２０’、２０’’等が含まれ、インターフェース・コネクタ２２、２２’等が、テスト機器２４への接続用に適合される。テールコード・ブレークアウト・ハーネス１４は、テスト機器への接続用のコネクタ２８、２８’を備えた、対応するブレークアウト・ファイバ２６、２６’のセットを有する。

図２は、先行技術によるテストに関連するテスト・ステップを示す。ファイバ・リンクのテストを遂行するために、ステップ１において、ファイバ・セットの第１のファイバが選択され、そのファイバの（例えば）励振コード・ブレークアウト・コネクタ２０が、テスト機器に接続され、テールコード・ブレークアウト・コネクタ２６が、ファイバの遠端部に接続され、テスト・シーケンスが実行される。次に、テスト機器は、異なる励振コード・ブレークアウト・ファイバ２０’に接続され、テールコード・ブレークアウト・コネクタ２６’は、ファイバの遠端部に接続され（ステップ２）、テスト・シーケンスが実行される。ファイバの完全なセット（または所望のサブセット）がテストされるまで、後続の励振コード・ブレークアウト・ファイバ２０’’、２０’’’、２６’’、２６’’’等が接続され、テストが実行される。

次に、テスト機器は、ファイバ・ネットワークの遠端部に移動され、テールコードおよび励振コード・ブレークアウト・ファイバ・コネクタは、ファイバの反対端部に移動され、テールコード・ブレークアウト・ファイバ２６は、遠隔部に接続され、励振コード・ブレークアウト・ファイバ２０は、近端部（以前は遠隔部だった）に接続され、それからテスト・シーケンスが開始される（ステップ３）。ひとたびそのテストが完了すると、テスト機器は、異なる励振コード・ブレークアウト・ファイバ２０’およびテールコード・ブレークアウト・ファイバ２６’に接続され（ステップ４）、テスト・シーケンスが実行される。再びファイバの完全なセット（または所望のサブセット）がテストされるまで、後続のテールコード／励振コード・ブレークアウト・ファイバ２０’’／２６’’、２０’’’／２６’’’等が接続され、テストが実行される。

上記のステップは、ファイバ・ネットワークの完全な双方向テストを達成するが、しかし、全てのファイバが適切にテストされることを保証するために、テスト・シーケンスおよびステップの注意深い監視を必要とする。また、テスト機器をネットワークの反対端部に移動させる必要性を含むテスト・ステップは、時間を浪費する可能性がある。

本発明によれば、光学ハーネス・システムが、ファイバ・セットを一緒にループする近端部および遠端部ハーネスを設ける。近端部ハーネスは、テスタに接続するインターフェースを有する。次に、テスタは、ファイバの全セットに対するテストを遂行し、ファイバは、ネットワークにおけるファイバの全セットまたはサブセットを横断する単一光学経路を生成する２つのハーネスの構成によって一緒にループされ、したがって、発射されたテスト信号は、ループされたファイバの全セットを通って伝播し、ソフトウェア解析は、テスト中のファイバが解析され、かつ、別々に解析および表示されてファイバ用の測定結果を提供するように、ハーネスを認識して、ハーネスを排除する。

したがって、本発明の目的は、ファイバ・システムをテストするための改善されたシステム、方法、および装置を提供することである。

本発明のさらなる目的は、アレイ・コネクタを用いるファイバ・システムをテストする際に使用するための改善されたテスト・ハーネス・システムを提供することである。

本発明のさらに別の目的は、アレイ・コネクタとインターフェースされたファイバ・システムをテストするための改善された方法を提供することである。

本発明は、この明細書の最終部分で特に指摘され、明瞭に主張される。しかしながら、動作の構成および方法の両方とも、そのさらなる利点および目的と共に、添付の図面に関連して得られた以下の説明を参照することによって、最もよく理解され得る。添付の図面において、類似の参照文字は、類似の構成要素を指す。

先行技術による、アレイ・コネクタを用いたファイバ・システム用のテスト構成の概略図である。 アレイ・コネクタを用いたファイバ・ネットワークの、先行技術によるテスト方法の図である。 本開示による、アレイ・コネクタ・テスト・ハーネスを用いたファイバ・システム用のテスト構成の概略図である。 本開示によるテスト方法の図である。

本発明の好ましい実施形態によるシステムには、近端部および遠端部ハーネスが含まれ、２つのハーネスは、接続の手段となるファイバ用ループ接続部を提供し、その後、テスト可能な単一光学経路を提供する。近端部コネクタは、単一光学経路のそれぞれの端部をテスト機器に装着するための２つのピグテール接続ファイバを提供し、ファイバ・ネットワークの双方向テストを可能にする。

光ファイバ・ハーネスによって、単一ファイバ・テスト機器（ＯＴＤＲなど）は、単一インターフェースを移動する必要も再配置する必要もなく、アレイ・コネクタにインターフェースして、コネクタのリンクにおける全てのファイバを直ちにテストすることが可能になる。光ファイバ・ハーネスはまた、より普及している二重リンクにインターフェースする方法を提供する。二重リンク・インターフェースは、また、テスタをリンクの反対端部に移す必要なしに、双方向の平均化を可能にすることによって、テスト時間を短縮する。テスト時間短縮による省力化の実現可能な向上は、かなり期待し得る。

システムには、２つの光学ハーネスが含まれる（図３を参照）。第１の近端部ハーネス３０は、近端部におけるアレイ・コネクタに接続し、第２の遠端部ハーネス３２は、遠端部におけるアレイ・コネクタに接続する。近端部ハーネスには、テスト機器２４（ＲＡＭ、ＲＯＭ、１つまたは複数のＣＰＵ、光信号発生器および受信装置、ユーザインターフェース、コンピュータ／通信インターフェース等を含む、テストを遂行するハードウェアを含む）をアレイにおける第１のファイバに接続する引き込みファイバ３４が含まれる。それにはまた、ファイバ２を３に、４を５に、６を７に接続するなど、最後のファイバまでパターンを継続するループバック・ファイバが含まれる。偶数のファイバを備えたアレイを仮定すると、最後のファイバは、ループバックを有さないが、しかし、テールコード３６として働くファイバ長さを有する。遠端部ハーネス３２には、ファイバ１を２に、３を４に、５を６に接続するなど、最後のファイバまでパターンを継続するループバック・ファイバが含まれる。両方のハーネスにおける各ファイバは、テスタの不感帯を抑制して、各ファイバのコネクタ・インターフェースを測定できるように十分に長くすべきである。

使用時に、典型的なシングルエンド・テスト機器は、そのテスト・ポートから引き込みファイバに光パルスを送信する。パルスは、ファイバ１から下流に移動し、ファイバ２にループバックし、ファイバ３にループバックし、テールコードの端部に達するまで継続する。全てのイベントおよびファイバの後方散乱および反射は、テスタのテスト・ポートへと、逆方向に後ろへ伝播される。したがって、アレイにおける全てのファイバは、単一テストのインスタンス化でテストされる。

このシステムの特定の実施形態において、ソフトウェアは、テスタおよび／または測定データを解析して、テスト・ハーネス内のファイバからテスト中のファイバを分離するコンピュータ・ソフトウェア・アプリケーション内に含まれる。したがって、自動測定解析が行われ、極度に単純化された実例となるグラフィックスが、テスト中のファイバの視覚表現を単純化するために利用可能である。

近端部および遠端部ハーネス両方の内部におけるループバックは、それぞれを一義的に識別可能にするような方法で構成してもよい。これは、テスト中のファイバが、一意に識別可能なループバックの支援なしには解析を困難または不可能にする欠陥を含む場合に、ソフトウェア解析を支援し得る。ループバックを一義的に識別可能にする方法は、多くの異なる形態を取り得る。１つの形態は、各ループバックの長さを一義的にすることであってもよい。別の形態は、非反射損失などのイベントをループバック内の一意の位置に追加することであってもよい。別の形態は、多数のイベントおよび一義的な位置をループバック内に追加することであってもよい。多数のイベントは、各ループバックを一義的に識別するための２進コードとして用いてもよい。または、言及したこれらの形態の任意の組み合わせまたは言及しなかった多くの他のものを利用してもよい。

一義的な識別は、ソフトウェアまたはユーザが、ファイバ特性を測定し得るように、ループバック・ファイバの仮想減算を可能にする。それはまた、極性テストを可能にする。

ハーネスは、全てのループバック・ファイバを保護し、かつ、コネクタに接続するファイバを保護するために外装ケーブルを提供する堅牢で使い易い機械的なパッケージにパッケージ化してもよい。

このシステムおよび方法がまた、他のマルチファイバ・コネクタ・システムに加えて、二重ファイバ・リンクとして構成された単一ファイバ・コネクタに有用であり得ることに留意されたい。今日のファイバ・リンクのほとんどは、単一ファイバ・コネクタを備えた二重リンクとして構成される。このシステムおよび方法は、ファイバの反対端部にテスタを物理的に移動させる必要なしに、双方向テストおよび平均化を可能にすることによって、テスト時間における大きな改善を可能にする。図４に示すように、本開示によるアレイ・コネクタ・テスト・ハーネスを用いれば、テスト方法は、以下のとおりである。第１に、近端部ハーネス３０がファイバ・ネットワークの一端部に接続され、一方で遠端部ハーネス３２が、反対端部に接続され、ファイバ端から端までループバックを形成する。次に、テスト機器が、引き込みファイバ３４に接続され、テストが実行される。双方向テスト用に、次にテスト機器が、テールコード３６に接続され（またはファイバの数が奇数である場合には、接続は、別に、ループにおける最後のファイバに対してなされる）、さらなるテストが実行される。

テストのより広範な説明は、以下のとおりである。第１に、ループバック・ファイバ長さおよびループバック内のどんなイベントも識別するために、近端部励振コード端部ハーネス３０および遠端部テールコード端部ループバック・ハーネス３２が、一緒に、しかしテスト中のファイバなしに、各ファイバを一義的に識別するために用いられる。このステップは、ＭＰＯコネクタが、それらが物理的に結合しないような方法で極性化された場合に、ループバック・ハーネスの２つの端部を一緒に結合するためにジャンパ・ケーブルを用いることができる。このジャンパ・ケーブルにおけるファイバのそれぞれは、互いに同じ長さに非常に近づくように（０．５メートル内）適切に選択されるべきである。二重ファイバ実施形態に関して、近端部ハーネスは、励振およびテールコードへの２つのファイバのブレークアウトとして実現してもよい。

次に、既存の解析ソフトウェアを用いて、全長にわたるイベントを識別することができる。各ループバック・セグメントは、少なくともテスタの不感帯を超える最小長さであると予想される。ジャンパ・ケーブルは、これより短くてもよく、それは、これらのセグメントをループバック・ファイバから区別するために好ましくなり得る。代替として、ジャンパ・ケーブルは、最長ループバック・セグメントより長くてもよい。各ループバック・セグメントの長さが一義的であり、かつ内部イベントを有しない場合に、最小長さより長い全てのセグメントの中間長さは、典型的なループバック・セグメント長さの推定値を提供することができる。見い出されるセグメントの数は、ほぼ、中間長さで割られた全体長さ（どんなジャンパ・ケーブルもマイナスし、第１の励振セグメントをマイナスする）になるはずである。または数は、ユーザが提供する値にすることができる。最長ループバック長さが、最短ループバック長さの２倍未満であるように構築される場合に、これは、接続がなされず、今までのところは参照ステップにおいて識別するのを支援することができる。

各ループバックが、位置および／または損失において一義的な非反射イベントを有し、ならびにイベントのいずれかの側におけるファイバ・セグメントが、テスタの不感帯用に必要とされる最小長さより長い場合に、中間長さの２倍は、ループバックの典型的な長さを示すはずである。各ループバック・セグメント用の損失は、ファイバを機械的に曲げることによって、調整可能にさえすることができる。実時間追跡と組み合わせると、損失を調整することは、ループバック・ファイバが、総ファイバ・スパン内のどこに位置するかを明白に示して、クロスコネクト問題の修正を支援する。しかしながら、これは、マルチモード・ファイバ用の励振状態に影響を及ぼす可能性がある。

２進コード化形態が用いられ、離間されたイベントが、イベントの２進識別コードを生成するように提供される場合に、各ループバック・セグメントは、最小長さと少なくとも同じくらいの長さのセグメントによって囲まれた、一連の比較的密に離間されたイベントによって識別することが可能である。他の非２進コード化を用いることができる。

さらに、代替として、ユーザは、また、各ループバックの長さを手動で入力することが可能である。

別のアプローチは、製造中にループバック・ハーネスを較正することと、手動によってか、または機器からの接続もしくはセットアップ問い合わせに基づいて、ハーネスによって機器に提供される情報をコード化することによって、機器に入力可能な長さおよびハーネスを用いた識別イベント情報を提供することと、である。

さらに、全てのループバック・ハーネスは、各ループバック・ファイバの長さにおける許容誤差が、各ループバックの長さ間の差より小さいように製造することができ、かつ、この情報はテスタに記録することができ、その結果、各ループバックの長さは、各一義的なループバック・セグメントを識別する助けとなる狭い範囲で一致するはずである。各イベントに関して、アルゴリズムは、続くイベントが、許容誤差内で予想パターンと一致することをチェックすることができる。パターンの順方向および逆方向両方をチェックすることができる。なぜなら、近端部ハーネスの両端部が接続可能であるからである。

テスト動作は、以下のように継続する。

ＭＰＯおよび二重リボン・ケーブル用のテスト中のファイバは、各セグメント上のほぼ同じ長さを測定すべきである。この情報は、絶対に必要な条件でないが、セグメントの識別を支援することができる。

既存の解析ソフトウェアを用いて、全長にわたってイベントを識別することができる。

全長−（マイナス）励振、テール、およびループバックを、予想されるＭＰＯファイバ数で割って、テスト中のファイバの典型的な長さを提供することができる。

励振時にイベントの位置を特定し、次に、テスト中のファイバの典型的な長さを追加した後で、次に、測定信号に沿って、この位置における測定許容誤差内のイベントを、予想されるループバックのそれぞれと比較することができる（なぜなら、ファイバのいくつかをクロス接続することが可能であるからである）。この一致は、各長さに対して繰り返すことができる。

例えば、ファイバの区別を支援するために異なる長さを用いる特定の使用構成において、引き込みファイバ３４’には、９０メートルの励振ファイバを含んでもよく、一方でテールコード３６’には、１１０メートルの励振ファイバを含んでもよい。遠端部ハーネス３２’には、９０メートルのファイバ３８および１１０メートルのファイバ４０を含んでもよい。

本明細書における本開示によれば、光学ネットワーク・テスト用のアレイ・コネクタハーネスを提供するための改善された方法、装置、およびシステムが提供される。このシステム、方法、および装置は、マルチファイバ・ネットワーク接続のより容易で、より迅速なテストを提供する。さらに、それによって、極性テストおよび識別が可能になる。

本発明の好ましい実施形態を図示し説明したが、本発明のより広い態様において、本発明から逸脱することなく、多くの変更および修正をなし得ることが、当業者には明白であろう。したがって、添付の特許請求の範囲は、本発明の真の趣旨および範囲内に入る全てのかかる変更および修正をカバーするように意図されている。

１２ 励振コード端部ハーネス
１４ テールコード端部ハーネス
１６、１６’ アレイ・コネクタ
１８ テスト中のファイバ・ネットワーク
２０、２０’、２０’’、２０’’’ 励振コード・ブレークアウト・ファイバ
２２、２２’ インターフェース・コネクタ
２４ テスト機器
２６、２６’２６’’２６’’’ ブレークアウト・ファイバ
２８、２８’ コネクタ
３０ 近端部ハーネス
３２、３２’ 遠端部ハーネス
３４、３４’ 引き込みファイバ
３６、３６’ テールコード
３８ ファイバ
４０ ファイバ

Claims (34)

1. テスト中のファイバに、その第１の端部で接続するための近端部ハーネスと、
   テスト中の前記ファイバに、その第２の端部で接続するための遠端部ハーネスと、
   を含む、光学ネットワーク・テスト用のアレイ・コネクタ・ハーネス・システムであって、
   前記近端部および遠端部ハーネスが、端部から端部への単一光学経路を形成するために、テスト中の前記ファイバに接続するように協働するアレイ・コネクタ・ハーネス・システム。
2. 前記近端部ハーネスが、アレイ・コネクタを含む、請求項１に記載のアレイ・コネクタ・ハーネス・システム。
3. 前記近端部ハーネスが、ＭＴＰコネクタを含む、請求項１に記載のアレイ・コネクタ・ハーネス・システム。
4. 前記遠端部ハーネスが、ＭＰＯコネクタを含む、請求項１に記載のアレイ・コネクタ・ハーネス・システム。
5. 前記遠端部ハーネスが、ＭＴＰコネクタを含む、請求項１に記載のアレイ・コネクタ・ハーネス・システム。
6. テスト中の前記ファイバが、複数のファイバ経路を含み、前記近端部ハーネスが、前記複数のファイバにおけるファイバを相互接続するループバック・インターフェースを含む、請求項１に記載のアレイ・コネクタ・ハーネス・システム。
7. テスト中の前記ファイバが、複数のファイバ経路を含み、前記遠端部ハーネスが、前記複数のファイバにおけるファイバを相互接続するループバック・インターフェースを含む、請求項１に記載のアレイ・コネクタ・ハーネス・システム。
8. テスト中の前記ファイバが、複数のファイバ経路を含み、前記近端部および遠端部ハーネスの少なくとも１つが、前記複数のファイバにおけるファイバを相互接続するループバック・インターフェースを含み、前記ループバック・インターフェースが、前記複数のファイバのループバックにおけるループバック用に一義的な長さを含む、請求項１に記載のアレイ・コネクタ・ハーネス・システム。
9. テスト中の前記ファイバが、複数のファイバ経路を含み、前記近端部および遠端部ハーネスの少なくとも１つが、前記複数のファイバにおけるファイバを相互接続するループバック・インターフェースを含み、前記ループバック・インターフェースが、ループバック内の一意の位置に非反射損失要素を含む、請求項１に記載のアレイ・コネクタ・ハーネス・システム。
10. テスト中の前記ファイバが、複数のファイバ経路を含み、前記近端部および遠端部ハーネスの少なくとも１つが、前記複数のファイバにおけるファイバを相互接続するループバック・インターフェースを含み、前記ループバック・インターフェースが、各ループバックを一義的に識別するコードとして用いられる多数のイベントを含む、請求項１に記載のアレイ・コネクタ・ハーネス・システム。
11. マルチファイバ光学リンクをテストする方法であって、
    前記マルチファイバ・リンクにおける個別ファイバの複数のファイバを相互接続して単一光学経路を形成することと、
    前記単一光学経路に対してテストを実行することと、
    を含む方法。
12. 前記相互接続が、前記ファイバ・リンクの第１の端部における第１のループバック・コネクタ、および前記ファイバ・リンクの第２の端部における対応する第２のループバック・コネクタを設けることを含み、前記第１および第２のループバック・コネクタが、前記マルチファイバ光学リンクの個別ファイバにおけるファイバを連結し、そこを通る単一光学経路を形成するように協働する、請求項１１に記載の方法。
13. テスト機器と、
    テスト中のファイバに、その第１の端部で接続するための近端部ハーネスと、
    テスト中の前記ファイバに、その第２の端部で接続するための遠端部ハーネスと、
    を含む光ファイバ・テスト・システムであって、
    前記近端部および遠端部ハーネスが、テスト中の前記ファイバに接続して、端から端までの単一光学経路を前記テスト機器への接続のために形成し、テスト中の前記ファイバのテストを遂行するように協働する光ファイバ・テスト・システム。
14. 前記近端部ハーネスが、ＭＰＯコネクタを含む、請求項１３に記載の光ファイバ・テスト・システム。
15. 前記近端部ハーネスが、ＭＴＰコネクタを含む、請求項１３に記載の光ファイバ・テスト・システム。
16. 前記遠端部ハーネスが、ＭＰＯコネクタを含む、請求項１３に記載の光ファイバ・テスト・システム。
17. 前記遠端部ハーネスが、ＭＴＰコネクタを含む、請求項１３に記載の光ファイバ・テスト・システム。
18. テスト中の前記ファイバが、複数のファイバ経路を含み、前記近端部ハーネスが、前記複数のファイバにおけるファイバを相互接続するループバック・インターフェースを含む、請求項１４に記載の光ファイバ・テスト・システム。
19. テスト中の前記ファイバが、複数のファイバ経路を含み、前記遠端部ハーネスが、前記複数のファイバにおけるファイバを相互接続するループバック・インターフェースを含む、請求項１３に記載の光ファイバ・テスト・システム。
20. マルチファイバ光学リンクをテストする方法であって、
    前記マルチファイバ光学リンクの一端部に第１のループバック・インターフェースを設けて、前記マルチファイバ光学リンクの個別ファイバにおける複数のファイバのループ接続部を形成することと、
    前記マルチファイバ光学リンクのもう一方の端部に第２のループバック・インターフェースを設け、前記第１のループバック・インターフェースと一緒に前記マルチファイバ・リンクの個別ファイバにおける複数のファイバを相互接続して、個別ファイバにおける前記複数のファイバを通る単一光学経路を形成し、そして前記単一光学経路の両端部へのアクセス用に２つのテール接続部を設けることと、
    前記単一光学経路に対してテストを実行することと、
    を含む方法。
21. 前記マルチファイバ光学長さが、二重ファイバ経路を含む、請求項２０に記載の方法。
22. 前記テストが較正動作を含み、前記較正動作が、
    テスト中のファイバがない状態で、前記第１および第２のループバック・インターフェースを一緒に接続して、互いを一義的に識別するために用いられる、前記ループバック内のループバック・ファイバ長さおよびイベントを識別することと、
    テスト結果を解析して、全長にわたるイベントを識別することと、
    を含む、請求項２０に記載の方法。
23. 最小長さより長い全てのセグメントの中間長さを用いて、ループバック・セグメント長さの推定値を提供することを含む、請求項２２に記載の方法。
24. 各個別ループバックのテスト中の識別を可能にするために、各ループバックに一義的な非反射イベントを提供することを含む、請求項２０に記載の方法。
25. クロスコネクト問題の修正を支援するために、前記ループバック・ファイバが全ファイバ・スパン内のどこに位置するかの指摘を提供して、前記ファイバを機械的に曲げることによって、各ループバック・セグメントの損失値を調整することを含む、請求項２４に記載の方法。
26. 各ループバック・インターフェースが、複数のループバック・ファイバを含み、かつ各ファイバの一義的な識別のために、前記ループバック・インターフェースにおける各ファイバの長さのユーザ提供値を用いることを含む、請求項２０に記載の方法。
27. 各ループバック・インターフェースが、複数のループバック・ファイバを含み、かつ前記ループバック・インターフェースにおける各ループバック・ファイバの長さのユーザ提供値を用いることを含む、請求項２０に記載の方法。
28. 前記テストが、前記ループ・ファイバ・セグメントの全長にわたる検出されたイベントを識別することを含む、請求項２０に記載の方法。
29. 前記テストが、テスト中の前記ファイバの典型的な長さを提供するために、長さ測定値をファイバ数で割ることを含む、請求項２０に記載の方法。
30. マルチファイバ・ネットワークをテストする方法であって、
    ループ・テスト・ファイバを生成するために、前記マルチファイバ・ネットワークの少なくとも２つのファイバのループバックを提供することと、
    前記ループ・テストへのテスト刺激を生成し、かつ、それに基づいた応答測定値を取得することと、
    前記少なくとも２つのファイバの個別ファイバ用に測定イベントを決定することと、
    を含む方法。
31. 前記測定イベントの決定が、前記少なくとも２つのファイバの個別ファイバに測定イベントを相関させるために、前記少なくとも２つのファイバの個別ファイバにおける予想されるファイバ長さを用いることを含む、請求項３０に記載の方法。
32. 前記予想されるファイバ長さが、ユーザ提供値である、請求項３１に記載の方法。
33. 前記予想されるファイバ長さが、全ファイバ長さ−（マイナス）励振ファイバ長さ、テール・ファイバ長さ、および前記ファイバ数で割られた前記ループバック・セグメント長さに基づいて決定される、請求項３１に記載の方法。
34. 個別測定イベントが、前記少なくとも２つのファイバのどちらのファイバに属するかを決定するために長さ値を用いる、請求項３０に記載の方法。