JP2018169236A - 光パルス試験装置及び光パルス試験方法 - Google Patents

Abstract

【課題】多心の光ファイバケーブルに備わる各光ファイバを接続して１本の光ファイバとして光パルス試験を行った場合、光パルス試験装置からの距離と各光ファイバの測定波形との対応関係を分かりやすくする。【解決手段】複数の光ファイバがそれぞれ近端と遠端とを持って並んで敷設され、複数の光ファイバのうちの第１の光ファイバの近端を除く各光ファイバの近端同士又は遠端同士が接続されてなる被測定光ファイバにおける後方散乱光を測定する測定部１１と、測定波形から光損失地点を検出する反射検出部２３と、距離の等しい第１区間と第２区間とを検出し、第１区間から第２区間に向って位置する距離と、第２区間から第１区間に向って位置する距離とが互いに等しい場合、第１区間と第２区間の中間点を複数の光ファイバの折り返し点であると判定する折り返し点検出部２５と、を備える。【選択図】図１５

Description

本開示は、光パルス試験装置及び光パルス試験方法に関する。

近年の通信需要の拡大により、通信を支える媒体の主役は同軸ケーブルから光ファイバケーブルに取って代わってきた。光ファイバケーブルは、幹線系からアクセス系まで用いられており、あらゆる場所に敷設されている。

最近では、データセンタ内の通信配線やモバイルアクセスの通信装置とアンテナの配線に用いられる媒体は光ファイバケーブルが主流となっている。これらの光ファイバケーブルは敷設効率を上げて大容量通信を実現するため、単心ではなく多心の光ファイバケーブルが敷設されている。工事時には、すべての光ファイバケーブルの敷設状態を光パルス試験装置で測定しなければならないため、測定の効率化が求められている。

光ファイバケーブルに備わる各光ファイバを一度に測定するためのコネクタが提案されている（例えば、特許文献１参照。）。特許文献１のコネクタは、光ファイバケーブルに備わる光ファイバ同士を１本に接続する。これにより、多心の光ファイバケーブルを１本の光ファイバとして光パルス試験装置で測定可能になる。

特開２０１３−２３８５９２号公報

光ファイバ同士を１本に接続した場合、光パルス試験装置からの距離と各光ファイバの測定波形との対応関係が分かりにくくなる問題があった。そこで、本開示は、多心の光ファイバケーブルに備わる各光ファイバを接続して１本の光ファイバとして光パルス試験を行った場合であっても、光パルス試験装置からの距離と各光ファイバの測定波形との対応関係を分かりやすくすることを目的とする。

具体的には、本開示の光パルス試験装置（１０）は、
複数の光ファイバ（３１，３２，３３，３４）がそれぞれ近端と遠端とを持って並んで敷設され、前記複数の光ファイバのうちの第１の光ファイバの前記近端を除く各光ファイバの前記近端同士又は前記遠端同士が接続されてなる１の被測定光ファイバにおける、前記第１の光ファイバの前記近端を光パルスの入射端に用い、前記被測定光ファイバにおける後方散乱光を測定する測定部（１１）と、
前記測定部が測定した測定波形から光損失地点を検出する反射検出部（２３）と、
各光損失地点間の区間の中から距離の等しい第１区間と第２区間とを検出し、前記第１区間から前記第２区間側に向って順に位置する各区間の各距離と、前記第２区間から前記第１区間側に向って順に位置する各区間の各距離とが互いに等しい場合、前記第１区間と前記第２区間の中間点を前記複数の光ファイバの折り返し点であると判定する折り返し点検出部（２５）と、
を備える。

本開示の光パルス試験装置では、前記測定部が測定した測定波形のうち、前記折り返し点検出部の検出した奇数番目の折り返し点を始点とする偶数番目の光ファイバの測定波形について、前記遠端に位置する始点と前記近端に位置する終点とを相互に反転させ、第１の反転波形を生成する波形反転部（２１）と、前記波形反転部の生成した波形を表示する表示部（１３）と、をさらに備えていてもよい。
前記波形反転部は、前記偶数番目の光ファイバの前記遠端での光強度が前記偶数番目の光ファイバの前記近端での光強度に一致し、前記偶数番目の光ファイバの前記近端での光強度が前記偶数番目の光ファイバの前記遠端での光強度に一致するように、前記第１の反転波形をさらに反転させ、第２の反転波形を生成してもよい。
また、前記表示部に表示されている波形の少なくとも一部を、光強度軸において平行移動させる波形移動部（２２）をさらに備えていてもよい。

本開示の光パルス試験装置では、前記折り返し点検出部の検出した奇数番目の折り返し点を始点とする偶数番目の光ファイバの前記遠端及び前記近端を特定し、前記偶数番目の光ファイバの前記遠端から前記近端までの光損失地点の配列を、前記偶数番目の光ファイバの前記近端から前記遠端までの光損失地点の配列に反転させるアイコン反転部（２４）と、前記複数の光ファイバの前記近端での光損失地点を一方に、前記複数の光ファイバの前記遠端での光損失地点を他方にして、前記複数の光ファイバの前記近端から前記遠端までの光損失地点が配列されたアイコンを表示する表示部（１３）と、をさらに備えていてもよい。

本開示の光パルス試験方法は、
測定部（１１）が、複数の光ファイバ（３１，３２，３３，３４）がそれぞれ近端と遠端とを持って並んで敷設され、前記複数の光ファイバのうちの第１の光ファイバの前記近端を除く各光ファイバの前記近端同士又は前記遠端同士が接続されてなる１の被測定光ファイバにおける、前記第１の光ファイバの前記近端を光パルスの入射端に用い、前記被測定光ファイバにおける後方散乱光を測定する測定手順と、
反射検出部（２３）が、前記測定部が測定した測定波形から光損失地点を検出する反射検出手順と、
折り返し点検出部（２５）が、各光損失地点間の区間の中から距離の等しい第１区間と第２区間とを検出し、前記第１区間から前記第２区間側に向って順に位置する各区間の各距離と、前記第２区間から前記第１区間側に向って順に位置する各区間の各距離とが互いに等しい場合、前記第１区間と前記第２区間の中間点を前記複数の光ファイバの折り返し点であると判定する折り返し点検出手順と、
を実行する。

なお、上記各開示は、可能な限り組み合わせることができる。

本開示によれば、複数の光ファイバの折り返し点を判定するため、多心の光ファイバケーブルに備わる各光ファイバを接続して１本の光ファイバとして光パルス試験を行った場合であっても、光パルス試験装置からの距離と各光ファイバの測定波形との対応関係を分かりやすくすることができる。

本開示に係る光パルス試験方法の適用例を示す。 光ファイバケーブルの第１例を示す。 実施形態１に係る光パルス試験装置の構成例である。 測定波形の第１例である。 第１の反転波形の１例である。 第２の反転波形の１例である。 実施形態２に係る光パルス試験装置の構成例である。 第２の反転波形の移動例である。 実施形態３に係る光パルス試験装置の構成例である。 光損失地点の第１の検出例である。 光損失地点の配置の調整における光ファイバの分離例である。 光損失地点の配置の調整における光ファイバの反転例である。 光ファイバケーブルの第２例を示す。 光ファイバケーブルの第３例を示す。 実施形態４に係る光パルス試験装置の構成例である。 測定波形の第２例である。 測定波形の第３例である。

以下、本開示の実施形態について、図面を参照しながら詳細に説明する。なお、本開示は、以下に示す実施形態に限定されるものではない。これらの実施の例は例示に過ぎず、本開示は当業者の知識に基づいて種々の変更、改良を施した形態で実施することができる。なお、本明細書及び図面において符号が同じ構成要素は、相互に同一のものを示すものとする。

本開示は、複数の光ファイバを備える光ファイバケーブルを効率的に測定するためになされたものである。本実施形態では、光ファイバケーブルに備わる光ファイバが２本の場合で説明する。光パルス試験装置は、ＯＴＤＲ（Ｏｐｔｉｃａｌ Ｔｉｍｅ Ｄｏｍａｉｎ Ｒｅｆｌｅｃｔｏｍｅｔｅｒ）波形を測定することで光ファイバケーブルの特性を測定する装置である。ＯＴＤＲ波形は、光ファイバの入射端から光パルスを入射し、光ファイバ中で散乱する後方散乱光の光強度を入射端で測定することで得られる。

（実施形態１）
図１は、本開示に係る光パルス試験方法の適用例を示す。鉄塔４２の上のアンテナ４１があり、アンテナ４１まで多心の光ファイバケーブルである光ファイバケーブル３が敷設されている。この場合、複数のうちの２本を送信と受信で用いるケースが多い。本開示の光パルス試験方法は、端部３６にて２本の光ファイバをパッチコードで接続した光ファイバケーブル３を被測定光ファイバとし、光ファイバケーブル３に備わる１本の光ファイバの端部３５に光パルス試験装置１０を接続して、光ファイバケーブル３の光パルス試験を行う。

図２に、光ファイバケーブル３の一例を示す。２本の光ファイバ３１及び３２のうち光ファイバ３１の端部３５に光パルス試験装置１０を接続し、光ファイバ３１の端部３６と光ファイバ３２の端部３６を光ファイバパッチコード５で接続する。この状態で光パルス試験を実施することで、光ファイバケーブル３に備わる全ての光ファイバの光パルス試験を連続的に一度に測定することが出来る。

以下の本実施形態において、端部３５を近端と呼び、端部３６を遠端と呼び、光ファイバ３１及び３２が２か所の接続点Ｃ_Ａ及びＣ_Ｂで接続されている場合を示す。また、光ファイバパッチコード５の長さは任意であるが、例えば１ｍ程度のパッチコードを用いることができる。

図３は、本実施形態に係る光パルス試験装置の一例を示す。光パルス試験装置１０は、測定部１１と、信号処理部１２と、表示部１３と、を備える。信号処理部１２は、波形反転部２１を備える。

本実施形態に係る光パルス試験方法は、光パルス試験装置１０が、測定手順と、波形反転手順と、表示手順と、を順に実行する。測定手順では、測定部１１が光ファイバケーブル３のＯＴＤＲ波形を測定する。波形反転手順では、波形反転部２１が、光パルス試験装置１０からの現実の距離に一致するよう、各光ファイバ３１及び３２のＯＴＤＲ波形を調整する。

図４に、測定手順で得られるＯＴＤＲ波形の一例を示す。距離Ｐ１〜Ｐ４が光ファイバ３１の測定結果を、距離Ｐ４〜Ｐ７が光ファイバ３２の測定結果を示す。ここでは、光ファイバパッチコードが１ｍと短いために、反射が距離Ｐ４の１カ所しか見えていないものとする。ＯＴＤＲ波形では、光ファイバ３２の近端での反射が距離Ｐ７に位置し、光ファイバ３１の遠端での反射が距離Ｐ４に位置する。このため、このＯＴＤＲ波形では、光ファイバ３２の近端が光ファイバ３１の遠端よりも遠方に存在するように、表示部１３に表示されることになる。

波形反転手順では、波形反転部２１が、光ファイバ３２のＯＴＤＲ波形の距離軸上で近端と遠端とを相互に鏡面反転させた第１の反転波形を生成する。光ファイバ３２の始点は、光ファイバ３２の遠端に位置する距離Ｐ４である。光ファイバ３２の終点は、光ファイバ３２の近端に位置する距離Ｐ７である。そこで、波形反転部２１は、測定部１１が測定したＯＴＤＲ波形のうちの光ファイバ３２に該当する部位の始点と終点、つまりは光ファイバ３２の遠端と近端とで相互に反転させる。図５に、第１の反転波形の一例を示す。第１の反転波形は、距離Ｐ４〜Ｐ７のうちの距離Ｐ７での反射位置が距離Ｐ１と一致し、かつ、距離Ｐ４〜Ｐ７のうちの距離Ｐ４での反射位置を折り返し点として折り返されている。このように、第１の反転波形における光ファイバ３２のＯＴＤＲ波形は、光ファイバ３２の現実の位置と一致している。

ここで、光ファイバ３２の近端及び遠端すなわち光ファイバパッチコード５の位置は、後述する実施形態４の方法を用いて特定する。

第１の反転波形の光強度は、距離Ｐ４からＰ１にかけて光強度がΔＬ減少するため、光ファイバ３２の近端から光パルスを入射した場合のＯＴＤＲ波形とは光強度の減少向きが異なる。そこで、波形反転手順では、さらに、波形反転部２１が、第１の反転波形をさらに光強度軸上で鏡面反転させた第２の反転波形を生成するようにしてもよい。図６に、第２の反転波形の一例を示す。

第２の反転波形では、光ファイバ３２の遠端での光強度が光ファイバ３２の近端での光強度に一致し、光ファイバ３２の近端での光強度が光ファイバ３２の遠端での光強度に一致する。すなわち、第１の反転波形における光ファイバ３１と３２との折り返し点での光強度Ｌ１を光強度Ｌ２とし、第１の反転波形における距離Ｐ１での光強度Ｌ２を光強度Ｌ１とする。これにより、第２の反転波形は、距離Ｐ１からＰ４にかけて光強度がΔＬ減少する、光ファイバ３２の近端から光パルスを入射したものと同様のＯＴＤＲ波形となる。

表示手順では、表示部１３に、光パルス試験の結果として、第１の反転波形又は第２の反転波形のいずれかを表示する。これにより、光パルス試験装置１０は、光ファイバ３１と光ファイバ３２をそれぞれ一回ずつ測定したかのように半分の位置（光ファイバパッチコード５の位置）で分割した第１の反転波形を測定結果として表示する。第１の反転波形における光ファイバ３２のＯＴＤＲ波形は、光ファイバ３２の現実の位置と一致している。このため、光パルス試験装置１０は、測定時間を半減し、測定結果は所望のものを得ることが可能である。

さらに、第２の反転波形は、光ファイバ３１及び光ファイバ３２のＯＴＤＲ測定を個別に実施したものと同様の波形である。このため、光ファイバ３１と光ファイバ３２のＯＴＤＲ波形を比較することが容易になる。なお、光パルス試験装置１０は、図４に示す処理前のＯＴＤＲ波形を表示部１３に表示可能であってもよい。

なお、表示部１３は、ＯＴＤＲ波形、第１の反転波形又は第２の反転波形を表示部１３に表示する際に、各光ファイバ３１−１、３１−２、３１−３、３２−１、３２−２、３２−３での損失を表示してもよい。

（実施形態２）
図７に、本実施形態に係る光パルス試験装置の一例を示す。本実施形態に係る光パルス試験装置１０は、信号処理部１２が波形移動部２２をさらに備える。また、本実施形態に係る光パルス試験方法は、波形反転手順の後に波形移動手順をさらに備える。

波形移動手順では、波形移動部２２が、表示部１３に表示されている波形の少なくとも一部を平行移動させる。表示部１３に表示されている波形は、例えば、第１又は第２の反転波形である。波形の少なくとも一部は、例えば、光ファイバ３１又は３２のＯＴＤＲ波形、或いは、これらの一部である。平行移動は、距離軸方向であってもよいし、光強度軸方向であってもよいし、これらの両方であってもよい。移動方法は、任意であるが、例えば、表示部１３に表示されている光ファイバ３２のＯＴＤＲ波形を選択し、スライドさせることで行う。

例えば、図８に示すように、第２の反転波形を光強度軸上で平行移動させる。これにより、光ファイバ３１のＯＴＤＲ波形と光ファイバ３２のＯＴＤＲ波形とを重ね合わせて傾きを比較することで、光ファイバ３１における光損失の状態と光ファイバ３２における光損失の状態との比較を容易にすることができる。

上述の実施形態において説明したように、本開示に係る光パルス試験装置１０及び光パルス試験方法は、多心の光ファイバケーブル３を構成する各光ファイバ３１及び３２を接続して１本の光ファイバとして光パルス試験を行った場合であっても、光パルス試験装置１０からの距離と各光ファイバ３１及び３２のＯＴＤＲ波形との対応関係が一致するよう表示可能にすることができる。

なお、３本以上の場合でも、それぞれの光ファイバの端部３５及び３６を光ファイバパッチコード５で接続することで、一本のファイバとし、測定を一回で実施し、形態情報を光パルス試験装置１０に入力することで測定結果をそれぞれの光ファイバケーブル３の結果と分割し、保存、レポートすることで効率の良い工事を実施することが可能となる。

また、以上の実施形態では、光ファイバ３１及び３２を含んでなる多心の光ファイバケーブル３を敷設するとして説明してきたが、これに限定されるものではなく、本開示は各個独立した光ファイバ２本を並べて敷設した場合であっても、適用可能であることは言うまでもない。

（実施形態３）
図９は、本実施形態に係る光パルス試験装置の一例を示す。光パルス試験装置１０は、測定部１１と、信号処理部１２と、表示部１３と、を備える。信号処理部１２は、反射検出部２３と、アイコン反転部２４と、を備える。

本実施形態に係る光パルス試験方法は、光パルス試験装置１０が、測定手順と、反射検出手順と、アイコン反転手順と、表示手順と、を順に実行する。測定手順では、測定部１１が光ファイバケーブル３のＯＴＤＲ波形を測定する。図４に、測定手順で得られるＯＴＤＲ波形の一例を示す。これを基に、以下処理を行ったものとする。

反射検出手順では、反射検出部２３が、測定部１１の測定したＯＴＤＲ波形から光損失地点であるイベント発生地点を検出する。図１０に、変換前の全体配列として、検出した各イベントをアイコンで示した一例を示す。右に向うほど遠方となる表示となっており、Ｎｏ．１と７のアイコンが光ファイバの“端”を表わし、Ｎｏ．２〜６のアイコンがコネクタ接続点などの“フレネル反射”を表わしている。光ファイバ３２の近端での反射がＮｏ．７に位置し、光ファイバ３１の遠端での反射がＮｏ．４に位置する。このため、光ファイバ３２の近端が光ファイバ３１の遠端よりも遠方に存在するように、表示部１３に表示されることになる。

アイコン反転手順では、アイコン反転部２４が、光パルス試験装置１０からの現実の距離に一致するよう、各光ファイバ３１及び３２の光損失地点の配置を調整する。例えば、検出したＮｏ．１〜Ｎｏ．７の光損失地点のなかから光ファイバ３２の遠端に位置するＮｏ．４及び近端に位置するＮｏ．７を特定し、図１１に示すように、これらを分離する。そして、図１２に示すように、Ｎｏ．５からＮｏ．７までのイベントの配列を、Ｎｏ．７からＮｏ．５の配列に反転させる。これにより、光ファイバ３２のイベント発生地点のアイコンの配列を、光ファイバ３２の現実の位置と一致させることができる。

ここで、光ファイバ３２の近端及び遠端すなわち光ファイバパッチコード５の位置は、後述する実施形態４の方法を用いて特定する。

表示手順では、図１２に示すように、表示部１３は、光ファイバ３１のイベント発生地点を示すＮｏ．１からＮｏ．４のアイコンと、光ファイバ３２のイベント発生地点を示すＮｏ．７からＮｏ．５のアイコンと、を変換後の分離配列として表示する。表示部１３には、光ファイバ３１と光ファイバ３２をそれぞれ一回ずつ測定したかのように半分の位置（光ファイバパッチコード５の位置）で分割したイベント発生地点が測定結果として表示されている。Ｎｏ．７からＮｏ．５のアイコンの配列は現実の距離に一致する。このため、光パルス試験装置１０は、測定時間を半減し、測定結果は所望のものを得ることが可能である。ここで、光ファイバ３１が送信用であり、光ファイバ３２が受信用である場合、表示部１３は、Ｎｏ．１からＮｏ．４のアイコンは送信側（Ｔｘ）であり、Ｎｏ．７からＮｏ．５のアイコンは受信側（Ｒｘ）である旨を表示することが好ましい。

また、図１２において、Ｎｏ．４のアイコンを光ファイバの“端”を表わすアイコンに変えて表示させるようにしてもよい。これにより、操作者は各光ファイバの区切りであることがよりイメージしやすくなる。さらには、図１０に示す変換前の全体配列と図１２に示す変換後の分離配列とを一緒に表示させるようにしてもよい。

表示部１３は、Ｎｏ．１〜Ｎｏ．７のイベント発生地点の間に、各光ファイバ３１−１、３１−２、３１−３、３２−１、３２−２、３２−３での損失を表示してもよい。

また、前述の実施形態において、光ファイバケーブル３を構成する光ファイバの数は任意である。例えば、図１３に示すように、４本の光ファイバ３１、３２、３３、３４が共に近端と遠端とを持って並んで敷設される場合、光ファイバ３１は第１の光ファイバとして機能し、光ファイバ３１及び３２の遠端を光ファイバパッチコード５−１で接続し、光ファイバ３２及び３３の近端を光ファイバパッチコード５−２で接続し、光ファイバ３３及び３４の遠端を光ファイバパッチコード５−３で接続すればよい。この場合、実施形態１及び実施形態２における波形反転手順では、波形反転部２１が、光パルス試験装置１０から奇数番目に接続されている光ファイバ３１及び３３のＯＴＤＲ波形は反転させず、偶数番目に接続されている光ファイバ３２及び３４のＯＴＤＲ波形を反転させる。実施形態３における反転手順では、アイコン反転部２４が、光パルス試験装置１０から奇数番目に接続されている光ファイバ３１及び３３のアイコンの配置は反転させず、偶数番目に接続されている光ファイバ３２及び３４のアイコンの配置を反転させる。

また別の態様として、例えば、図１４に示すように、３本の光ファイバ３１、３２、３３が共に近端と遠端とを持って並んで敷設される場合、光ファイバ３１は第１の光ファイバとして機能し、光ファイバ３１及び３２の遠端を光ファイバパッチコード５−１で接続し、光ファイバ３２及び３３の近端を光ファイバパッチコード５−２で接続すればよい。この場合、実施形態１及び実施形態２における波形反転手順では、波形反転部２１が、光パルス試験装置１０から奇数番目に接続されている光ファイバ３１及び３３のＯＴＤＲ波形は反転させず、偶数番目に接続されている光ファイバ３２のＯＴＤＲ波形を反転させる。実施形態３における反転手順では、アイコン反転部２４が、光パルス試験装置１０から奇数番目に接続されている光ファイバ３１及び３３のアイコンの配置は反転させず、偶数番目に接続されている光ファイバ３２のアイコンの配置を反転させる。

（実施形態４）
図１５に、本実施形態に係る光パルス試験装置の一例を示す。本実施形態に係る光パルス試験装置１０は、実施形態１で説明した信号処理部１２が反射検出部２３及び折り返し点検出部２５をさらに備える。また、本実施形態に係る光パルス試験方法は、実施形態１及び２の測定手順と波形反転手順との間に、反射検出手順と、折り返し点検出手順とをさらに備える。

まず、図１３に示すような、偶数本の光ファイバが共に近端と遠端とを持って並んで敷設され、各光ファイバの近端又は遠端が互いに接続されてなる被測定光ファイバへの適用例について説明する。図１６は、図１３に示す光ファイバケーブルの例を被測定光ファイバとして測定されたＯＴＤＲ波形の一例を示す。

反射検出手順では、反射検出部２３が、測定部１１の測定したＯＴＤＲ波形から光損失地点であるイベント発生地点を検出する。これにより、イベント発生地点である距離Ｐ１〜Ｐ１３が検出される。そして、折り返し点検出手順では、折り返し点検出部２５が、イベント発生地点Ｐ１〜Ｐ１３同士の区間Ｄ１〜Ｄ１２を用いて、光ファイバパッチコードで接続されている折り返し点を検出する。

折り返し点検出部２５は、区間Ｄ１〜Ｄ１２の中から距離の等しい第１区間及び第２区間を検出する。例えば、入射端の区間Ｄ１を第１の区間として、区間Ｄ１と区間Ｄ２が等しいか否かを判定する。区間Ｄ１と区間Ｄ２が異なる場合、区間Ｄ１と区間Ｄ３が等しいか否かを判定する。このように、区間の等しいイベント発生地点が検出されるまで、入射端の区間とイベント発生地点間の距離が等しいか否かを順に判定する。

区間Ｄ１と距離が等しい区間Ｄ６が検出された場合、区間Ｄ１の１つ後の区間Ｄ２と区間Ｄ６の１つ前の区間Ｄ５とが等しく、区間Ｄ２の１つ後の区間Ｄ３と区間Ｄ５の１つ前の区間Ｄ４とが等しいかを判定する。図１６に示す構成では、区間Ｄ２と区間Ｄ５とが等しく、区間Ｄ３と区間Ｄ４とが等しい。これにより、折り返し点検出部２５は、区間Ｄ１から区間Ｄ６側に順に位置する各区間（Ｄ２、Ｄ３）の距離と区間Ｄ６から区間Ｄ１側に順に位置する各区間（Ｄ５、Ｄ４）の距離とが互いに等しいかを判定する。

各区間（Ｄ２、Ｄ３）の距離と各区間（Ｄ５、Ｄ４）の距離とが互いに等しい場合、区間Ｄ１と区間Ｄ６の中間点、すなわち距離Ｐ２と距離Ｐ６の中間のイベント発生地点である距離Ｐ４を折り返し点と判定する。

つまり、距離Ｐ４は、距離Ｐ１から距離Ｐ７までをなす光ファイバの折り返し点である。引き続き、折り返し点検出部２５は、区間Ｄ７以降について、前の距離Ｐ４〜Ｐ７との距離が等しいか否かを判定する。例えば、区間Ｄ４を新たな第１の区間として設定する。

図１６では、区間Ｄ４と区間Ｄ９とが等しい。この場合、区間Ｄ５と区間Ｄ８とが等しく、区間Ｄ６と区間Ｄ７とが等しいか否かを判定する。図１６に示す構成では、区間Ｄ４と区間Ｄ９とが等しく、区間Ｄ５と区間Ｄ８とが等しく、区間Ｄ６と区間Ｄ７とが等しい。これにより、折り返し点検出部２５は、区間Ｄ４と区間Ｄ９の中間点、すなわち距離Ｐ５と距離Ｐ９の中間のイベント発生地点である距離Ｐ７を折り返し点と判定する。

つまり、距離Ｐ７は、距離Ｐ４から距離Ｐ１０までをなす光ファイバの折り返し点である。引き続き、折り返し点検出部２５は、区間Ｄ１０以降について、前の距離Ｐ７〜Ｐ１０との距離が等しいか否かを判定する。

例えば、区間Ｄ７と区間Ｄ１２とが等しく、区間Ｄ８と区間Ｄ１１とが等しく、区間Ｄ９と区間Ｄ１０とが等しいか否かを判定する。図１６に示す構成では、区間Ｄ７と区間Ｄ１２とが等しく、区間Ｄ８と区間Ｄ１１とが等しく、区間Ｄ９と区間Ｄ１０とが等しい。これにより、折り返し点検出部２５は、区間７と区間Ｄ１２の中間点、すなわち距離Ｐ８と距離Ｐ１２の中間のイベント発生地点である距離Ｐ１０を折り返し点と判定する。

このように、距離の等しい区間Ｄ１及び区間Ｄ６、区間Ｄ４及び区間Ｄ９、区間Ｄ７及び区間Ｄ１２が検出されたとき、区間Ｄ１〜Ｄ３と区間Ｄ４〜Ｄ６の距離が等しいか否か、区間Ｄ４〜Ｄ６と区間Ｄ７〜Ｄ９の距離が等しいか否か、区間Ｄ７〜Ｄ９と区間Ｄ１０〜Ｄ１２の距離が等しいか否か、に基づいて、折り返し点であるか否かを判定する。

最後の区間である区間Ｄ１２の判定を行った後、折り返し点検出部２５は、特定した折り返し点を用いて、偶数番目の光ファイバを特定する。例えば、図１６では、距離Ｐ４，Ｐ７，Ｐ１０が折り返し点と判定されている。奇数番目である１番目の折り返し点を始点とする距離Ｐ４から距離Ｐ７、すなわち区間Ｄ４〜Ｄ６までを２番目の光ファイバ３２−３，３２−２，３２−１と判定し、奇数番目である３番目の折り返し点を始点とする距離Ｐ１０から距離Ｐ１３、すなわち区間Ｄ１０〜Ｄ１２までを４番目の光ファイバ３４−３，３４−２，３４−１と判定する。

次に、図１４に示すような、奇数本の光ファイバが共に近端と遠端とを持って並んで敷設され、各光ファイバの近端又は遠端が互いに接続されてなる被測定光ファイバへの適用例について説明する。図１７は、図１４に示す光ファイバケーブルの例を被測定光ファイバとして測定されたＯＴＤＲ波形の一例を示す。この場合も、距離の等しい区間Ｄ１及び区間Ｄ６、区間Ｄ４及び区間Ｄ９が検出され、その間の区間Ｄ１〜Ｄ３と区間Ｄ４〜Ｄ６の距離が等しいか否か、区間Ｄ４〜Ｄ６と区間Ｄ７〜Ｄ９の距離が等しいか否か、に基づいて、折り返し点であるか否かを判定する。

この場合、折り返し点検出部２５は、距離Ｐ４及びＰ７を折り返し点と判定する。奇数番目である１番目の折り返し点を始点とする距離Ｐ４から距離Ｐ７、すなわち区間Ｄ４〜Ｄ６までを２番目の光ファイバ３２−３，３２−２，３２−１と判定することができる。

本実施形態は、実施形態１に記載の信号処理部１２が反射検出部２３と折り返し点検出部２５を備える例を示したが、本開示はこれに限定されない。例えば、実施形態２で説明した信号処理部１２が反射検出部２３と折り返し点検出部２５をさらに備えていてもよいし、実施形態３で説明した信号処理部１２が折り返し点検出部２５をさらに備えていてもよい。

本開示の情報通信産業に適用することができる。

１０：光パルス試験装置
１１：測定部
１２：信号処理部
１３：表示部
２１：波形反転部
２２：波形移動部
２３：反射検出部
２４：アイコン反転部
２５：折り返し点検出部
３：光ファイバケーブル
３１−１、３１−２、３１−３、３２−１、３２−２、３２−３、３３−１、３３−２、３３−３、３４−１、３４−２、３４−３：光ファイバ
３５、３６：端部
４１：アンテナ
４２：鉄塔
５、５−１、５−２、５−３：光ファイバパッチコード

Claims (6)

1. 複数の光ファイバ（３１，３２，３３，３４）がそれぞれ近端と遠端とを持って並んで敷設され、前記複数の光ファイバのうちの第１の光ファイバの前記近端を除く各光ファイバの前記近端同士又は前記遠端同士が接続されてなる１の被測定光ファイバにおける、前記第１の光ファイバの前記近端を光パルスの入射端に用い、前記被測定光ファイバにおける後方散乱光を測定する測定部（１１）と、
   前記測定部が測定した測定波形から光損失地点を検出する反射検出部（２３）と、
   各光損失地点間の区間の中から距離の等しい第１区間と第２区間とを検出し、前記第１区間から前記第２区間側に向って順に位置する各区間の各距離と、前記第２区間から前記第１区間側に向って順に位置する各区間の各距離とが互いに等しい場合、前記第１区間と前記第２区間の中間点を前記複数の光ファイバの折り返し点であると判定する折り返し点検出部（２５）と、
   を備える光パルス試験装置（１０）。
2. 前記測定部が測定した測定波形のうち、前記折り返し点検出部の検出した奇数番目の折り返し点を始点とする偶数番目の光ファイバの測定波形について、前記遠端に位置する始点と前記近端に位置する終点とを相互に反転させ、第１の反転波形を生成する波形反転部（２１）と、
   前記波形反転部の生成した波形を表示する表示部（１３）と、
   をさらに備える請求項１に記載の光パルス試験装置。
3. 前記波形反転部は、前記偶数番目の光ファイバの前記遠端での光強度が前記偶数番目の光ファイバの前記近端での光強度に一致し、前記偶数番目の光ファイバの前記近端での光強度が前記偶数番目の光ファイバの前記遠端での光強度に一致するように、前記第１の反転波形をさらに反転させ、第２の反転波形を生成する、
   請求項２に記載の光パルス試験装置。
4. 前記表示部に表示されている波形の少なくとも一部を、光強度軸において平行移動させる波形移動部（２２）をさらに備える、
   請求項３に記載の光パルス試験装置。
5. 前記折り返し点検出部の検出した奇数番目の折り返し点を始点とする偶数番目の光ファイバの前記遠端及び前記近端を特定し、前記偶数番目の光ファイバの前記遠端から前記近端までの光損失地点の配列を、前記偶数番目の光ファイバの前記近端から前記遠端までの光損失地点の配列に反転させるアイコン反転部（２４）と、
   前記複数の光ファイバの前記近端での光損失地点を一方に、前記複数の光ファイバの前記遠端での光損失地点を他方にして、前記複数の光ファイバの前記近端から前記遠端までの光損失地点が配列されたアイコンを表示する表示部（１３）と、
   をさらに備える請求項１に記載の光パルス試験装置。
6. 測定部（１１）が、複数の光ファイバ（３１，３２，３３，３４）がそれぞれ近端と遠端とを持って並んで敷設され、前記複数の光ファイバのうちの第１の光ファイバの前記近端を除く各光ファイバの前記近端同士又は前記遠端同士が接続されてなる１の被測定光ファイバにおける、前記第１の光ファイバの前記近端を光パルスの入射端に用い、前記被測定光ファイバにおける後方散乱光を測定する測定手順と、
   反射検出部（２３）が、前記測定部が測定した測定波形から光損失地点を検出する反射検出手順と、
   折り返し点検出部（２５）が、各光損失地点間の区間の中から距離の等しい第１区間と第２区間とを検出し、前記第１区間から前記第２区間側に向って順に位置する各区間の各距離と、前記第２区間から前記第１区間側に向って順に位置する各区間の各距離とが互いに等しい場合、前記第１区間と前記第２区間の中間点を前記複数の光ファイバの折り返し点であると判定する折り返し点検出手順と、
   を実行する光パルス試験方法。

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