JPH06102421A - 光ファイバの測定方法及びその装置 - Google Patents
光ファイバの測定方法及びその装置Info
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- JPH06102421A JPH06102421A JP25287792A JP25287792A JPH06102421A JP H06102421 A JPH06102421 A JP H06102421A JP 25287792 A JP25287792 A JP 25287792A JP 25287792 A JP25287792 A JP 25287792A JP H06102421 A JPH06102421 A JP H06102421A
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- optical
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 光ファイバの測定をより簡略に行う。
【構成】 図１は、本発明にて光ファイバの測定を行う
場合の光回路を示したものである。この光ファイバの測
定においては、ＯＴＤＲ１１０の光パルスの出力にダミ
ーの光ファイバ１２０を介して光スイッチ１３０をつな
ぎ、複数のＶ溝をもつＶ溝プライス１４０，１４２で多
芯の光ファイバケーブル２１０の各芯線ｎ1 〜ｎn （或
いは多数の光ファイバｎ1 〜ｎn ）を直列に接続してな
される。図２は、多芯の光ファイバケーブルの測定の場
合についてそのセットアップの概略を示したもので、多
数の光ファイバｎ1 〜ｎn を測定する際はこれらを直列
に接続して行われる。
場合の光回路を示したものである。この光ファイバの測
定においては、ＯＴＤＲ１１０の光パルスの出力にダミ
ーの光ファイバ１２０を介して光スイッチ１３０をつな
ぎ、複数のＶ溝をもつＶ溝プライス１４０，１４２で多
芯の光ファイバケーブル２１０の各芯線ｎ1 〜ｎn （或
いは多数の光ファイバｎ1 〜ｎn ）を直列に接続してな
される。図２は、多芯の光ファイバケーブルの測定の場
合についてそのセットアップの概略を示したもので、多
数の光ファイバｎ1 〜ｎn を測定する際はこれらを直列
に接続して行われる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光パルス試験器（Opti
cal Time Domain Reflectmetry，通称ＯＴＤＲ）を用
い、光ファイバ内で生じる後方散乱光を時間軸上で観測
することによって光ファイバの測定を行う光ファイバの
測定方法及びその装置に関する。
cal Time Domain Reflectmetry，通称ＯＴＤＲ）を用
い、光ファイバ内で生じる後方散乱光を時間軸上で観測
することによって光ファイバの測定を行う光ファイバの
測定方法及びその装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】光ファイバの伝送損失測定及び破断など
の障害の測定の方法に、後方散乱光を時間軸上で観測す
ることによって測定するものがある。図７は、この測定
法の概略を示したものである。この測定法では、光パル
ス試験器（以下、ＯＴＤＲとする）１１０にダミーの光
ファイバ１２０を介してＶ溝プライス９３０にて被測定
光ファイバ９１０を接続する。図８（ａ）は、接続用の
Ｖ溝プライス９３０を示したものである。Ｖ溝基板９３
０ａのＶ溝に光ファイバ１２０，２１０を配置してクラ
ンプ９３０ｂ，ｃをねじで押さえる。そして、光ファイ
バ１２０，２１０の接続点近傍にマッチングオイルを塗
り、透明カバー９３０ｄをねじで押さえて接続がなされ
る。図８（ｂ）は、接続用のＶ溝プライス９３０の断面
の様子を示したものである。
の障害の測定の方法に、後方散乱光を時間軸上で観測す
ることによって測定するものがある。図７は、この測定
法の概略を示したものである。この測定法では、光パル
ス試験器（以下、ＯＴＤＲとする）１１０にダミーの光
ファイバ１２０を介してＶ溝プライス９３０にて被測定
光ファイバ９１０を接続する。図８（ａ）は、接続用の
Ｖ溝プライス９３０を示したものである。Ｖ溝基板９３
０ａのＶ溝に光ファイバ１２０，２１０を配置してクラ
ンプ９３０ｂ，ｃをねじで押さえる。そして、光ファイ
バ１２０，２１０の接続点近傍にマッチングオイルを塗
り、透明カバー９３０ｄをねじで押さえて接続がなされ
る。図８（ｂ）は、接続用のＶ溝プライス９３０の断面
の様子を示したものである。
【０００３】ＯＴＤＲ１１０から光ファイバに光パルス
を入射し、光ファイバ内で生じる後方散乱光を時間軸上
で観測することによって光ファイバの測定が行われる。
図９は、その後方散乱光の観測波形の一例を示したもの
である。この図の横軸は、光パルスが入射される光ファ
イバの端面からの距離を示しているのであるが、光ファ
イバ内を後方散乱光は一定時間で伝搬するので、横軸は
時間軸と等価である。破断点があれば、波形の乱れＡが
観測される。光ファイバ９１０の伝送損失は、この波形
の領域Ｂの部分の傾きで観測され、光ファイバ９１０の
伝送損失が測定される。
を入射し、光ファイバ内で生じる後方散乱光を時間軸上
で観測することによって光ファイバの測定が行われる。
図９は、その後方散乱光の観測波形の一例を示したもの
である。この図の横軸は、光パルスが入射される光ファ
イバの端面からの距離を示しているのであるが、光ファ
イバ内を後方散乱光は一定時間で伝搬するので、横軸は
時間軸と等価である。破断点があれば、波形の乱れＡが
観測される。光ファイバ９１０の伝送損失は、この波形
の領域Ｂの部分の傾きで観測され、光ファイバ９１０の
伝送損失が測定される。
【０００４】この観測波形についてＯＴＤＲ１１０から
の各長さ方向の伝送損失の値の平均化処理がなされ、数
十秒の処理時間を要する。また、接続点（Ｖ溝プライス
９３０）においてフレネル反射による波形の乱れＡが光
ファイバ９１０側の数ｍから数１０ｍの範囲に生じ、デ
ッドゾーンとなっている。この範囲の測定を行うために
光ファイバ９１０の反対側の端面をＶ溝プライス９３０
につなぎなおしてもう一度測定を行うことを要してい
る。
の各長さ方向の伝送損失の値の平均化処理がなされ、数
十秒の処理時間を要する。また、接続点（Ｖ溝プライス
９３０）においてフレネル反射による波形の乱れＡが光
ファイバ９１０側の数ｍから数１０ｍの範囲に生じ、デ
ッドゾーンとなっている。この範囲の測定を行うために
光ファイバ９１０の反対側の端面をＶ溝プライス９３０
につなぎなおしてもう一度測定を行うことを要してい
る。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】光通信用の光ファイバ
は、より多くの情報を伝送するために多芯のものが用い
られている。この光ファイバの製品出荷の際、或いは、
ユーザのメンテナンスの際、良好な品質が保たれている
のを確認するために光ファイバの測定方法を行うことを
要する。上述の測定方法は、実験室などにおいて試験的
に１芯の光ファイバの測定を行うには問題はないが、多
芯の光ファイバケーブルの測定を行う場合、１芯ごとに
つなぎかえて測定を行なわねばならない。そのため、芯
線の数が多くなればなるほど測定に手間がかかり、時間
がかかることになる。このことは、製品出荷の際では製
品コストに跳ね返り、ユーザのメンテナンスの際では通
信回線を停止させておく時間が長くなる、という問題が
ある。そのため、光ファイバの測定をより簡略に行う事
が望まれていた。
は、より多くの情報を伝送するために多芯のものが用い
られている。この光ファイバの製品出荷の際、或いは、
ユーザのメンテナンスの際、良好な品質が保たれている
のを確認するために光ファイバの測定方法を行うことを
要する。上述の測定方法は、実験室などにおいて試験的
に１芯の光ファイバの測定を行うには問題はないが、多
芯の光ファイバケーブルの測定を行う場合、１芯ごとに
つなぎかえて測定を行なわねばならない。そのため、芯
線の数が多くなればなるほど測定に手間がかかり、時間
がかかることになる。このことは、製品出荷の際では製
品コストに跳ね返り、ユーザのメンテナンスの際では通
信回線を停止させておく時間が長くなる、という問題が
ある。そのため、光ファイバの測定をより簡略に行う事
が望まれていた。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明の光ファイバの測定方法は、光ファイバに光
パルスを入射し、光ファイバ内で生じる後方散乱光を時
間軸上で観測することによって光ファイバの測定を行う
光ファイバの測定方法であって、複数の光ファイバを直
列に接続し、直列に接続された複数の光ファイバの両端
面に光スイッチの出力ポートをつなぎ、光パルスを光ス
イッチの入力ポートに入力して両端面のいずれかから複
数の光ファイバに入射させ、後方散乱光を時間軸上で観
測して光ファイバの測定を行う。
に、本発明の光ファイバの測定方法は、光ファイバに光
パルスを入射し、光ファイバ内で生じる後方散乱光を時
間軸上で観測することによって光ファイバの測定を行う
光ファイバの測定方法であって、複数の光ファイバを直
列に接続し、直列に接続された複数の光ファイバの両端
面に光スイッチの出力ポートをつなぎ、光パルスを光ス
イッチの入力ポートに入力して両端面のいずれかから複
数の光ファイバに入射させ、後方散乱光を時間軸上で観
測して光ファイバの測定を行う。
【０００７】光スイッチで光パルスが入射される端面を
切り替えることを特徴としても良い。
切り替えることを特徴としても良い。
【０００８】複数の光ファイバは、多芯の光ファイバケ
ーブルの各芯線であることを特徴としても良い。
ーブルの各芯線であることを特徴としても良い。
【０００９】また、本発明の光ファイバの測定装置は、
光ファイバに光パルスを入射し、光ファイバ内で生じる
後方散乱光を検出する光パルス試験器を有し、後方散乱
光を時間軸上で観測することによって光ファイバの測定
を行うための光ファイバの測定装置であって、光パルス
試験器からの光パルスの出力がその入力ポートに接続さ
れた光スイッチと、光ファイバ複数を直列に接続する接
続手段とを有し、直列に接続された複数の光ファイバの
両端面に光スイッチの出力ポートが接続される。
光ファイバに光パルスを入射し、光ファイバ内で生じる
後方散乱光を検出する光パルス試験器を有し、後方散乱
光を時間軸上で観測することによって光ファイバの測定
を行うための光ファイバの測定装置であって、光パルス
試験器からの光パルスの出力がその入力ポートに接続さ
れた光スイッチと、光ファイバ複数を直列に接続する接
続手段とを有し、直列に接続された複数の光ファイバの
両端面に光スイッチの出力ポートが接続される。
【００１０】接続手段は、光ファイバ同士をそのＶ溝で
接続するＶ溝プライスと、Ｖ溝プライスにて、光ファイ
バ複数のうち１の端面にその１端が接続され、１の端面
とは異なる他の端面にその他端が接続された折り返し用
光ファイバで構成されていることを特徴としても良い。
接続するＶ溝プライスと、Ｖ溝プライスにて、光ファイ
バ複数のうち１の端面にその１端が接続され、１の端面
とは異なる他の端面にその他端が接続された折り返し用
光ファイバで構成されていることを特徴としても良い。
【００１１】Ｖ溝プライスのＶ溝は、多芯の光ファイバ
ケーブルの芯線に対応する位置に設けられていることを
特徴としても良い。
ケーブルの芯線に対応する位置に設けられていることを
特徴としても良い。
【００１２】
【作用】本発明の光ファイバの測定方法では、複数の光
ファイバが直列に接続され、そ端面のひとつから光スイ
ッチを介して光パルスが光ファイバに入射される。光パ
ルスは、直列に接続された複数の光ファイバを順次通過
し、これらの光ファイバ内部で後方散乱光を生じさせ
る。そして、後方散乱光による伝送損失波形を時間軸上
で観測することで、複数の光ファイバの測定が一度に一
括してなされる。
ファイバが直列に接続され、そ端面のひとつから光スイ
ッチを介して光パルスが光ファイバに入射される。光パ
ルスは、直列に接続された複数の光ファイバを順次通過
し、これらの光ファイバ内部で後方散乱光を生じさせ
る。そして、後方散乱光による伝送損失波形を時間軸上
で観測することで、複数の光ファイバの測定が一度に一
括してなされる。
【００１３】光ファイバの接続点では波形の乱れが生
じ、この接続点近傍はデッドゾーンとなっているが、光
スイッチで光パルスが入射される端面を切り替えること
で、接続点近傍についても複数の光ファイバの測定が一
度に一括してなされる。
じ、この接続点近傍はデッドゾーンとなっているが、光
スイッチで光パルスが入射される端面を切り替えること
で、接続点近傍についても複数の光ファイバの測定が一
度に一括してなされる。
【００１４】また、本発明の光ファイバの測定装置で
は、接続手段で光ファイバ複数が直列に接続され、光パ
ルス試験器の光パルスの出力は、光スイッチで直列に接
続された複数の光ファイバの両端面に切り替えて出力し
得るようになっている。そのため、上述の光ファイバの
測定方法にて複数の光ファイバの測定が一度になされ
る。
は、接続手段で光ファイバ複数が直列に接続され、光パ
ルス試験器の光パルスの出力は、光スイッチで直列に接
続された複数の光ファイバの両端面に切り替えて出力し
得るようになっている。そのため、上述の光ファイバの
測定方法にて複数の光ファイバの測定が一度になされ
る。
【００１５】また、接続手段をＶ溝プライスなどを用い
て構成し、Ｖ溝プライスのＶ溝を多芯の光ファイバケー
ブルの芯線の位置に対応してその位置を設けることで、
多芯の光ファイバケーブルの付け替えのしやすいものに
なる。
て構成し、Ｖ溝プライスのＶ溝を多芯の光ファイバケー
ブルの芯線の位置に対応してその位置を設けることで、
多芯の光ファイバケーブルの付け替えのしやすいものに
なる。
【００１６】
【実施例】本発明の実施例を図面を参照して説明する。
前述の従来例と同一または同等のものについてはその説
明を簡略化し若しくは省略するものとする。
前述の従来例と同一または同等のものについてはその説
明を簡略化し若しくは省略するものとする。
【００１７】図１は、本発明にて光ファイバの測定を行
う場合の光回路を示したものである。この光ファイバの
測定においては、ＯＴＤＲ１１０の光パルスの出力にダ
ミーの光ファイバ１２０を介して光スイッチ１３０をつ
なぎ、複数のＶ溝をもつＶ溝プライス１４０，１４２で
多芯の光ファイバケーブル２１０の各芯線ｎ1 〜ｎ
n（或いは多数の光ファイバｎ1 〜ｎn ）を直列に接続
してなされる。図２は、多芯の光ファイバケーブルの測
定の場合についてそのセットアップの概略を示したもの
で、多数の光ファイバｎ1 〜ｎn を測定する際はこれら
を直列に接続して行われる。この各部について説明する
とつぎのようになる。
う場合の光回路を示したものである。この光ファイバの
測定においては、ＯＴＤＲ１１０の光パルスの出力にダ
ミーの光ファイバ１２０を介して光スイッチ１３０をつ
なぎ、複数のＶ溝をもつＶ溝プライス１４０，１４２で
多芯の光ファイバケーブル２１０の各芯線ｎ1 〜ｎ
n（或いは多数の光ファイバｎ1 〜ｎn ）を直列に接続
してなされる。図２は、多芯の光ファイバケーブルの測
定の場合についてそのセットアップの概略を示したもの
で、多数の光ファイバｎ1 〜ｎn を測定する際はこれら
を直列に接続して行われる。この各部について説明する
とつぎのようになる。
【００１８】ＯＴＤＲ１１０は、前述の従来例と同様の
ものを用い得るが、より測定感度の良いものが望まし
い。図３は、ＯＴＤＲ１１０の基本構成の一例に付いて
その概略を示したもので、パルス幅の短い光パルスをパ
ルス発生器１１０ａ，光送信部１１０ｂで発生し、光方
向性結合器１１０ｃ及び光コネクタ１１０ｄを介して光
ファイバに入射する。光ファイバ内の各部で発生した後
方散乱光は光ファイバを伝搬して光受信部１１０ｅで検
出され、平均化処理回路１１０ｆで長さ方向の伝送損失
の値の平均化処理がなされて表示装置１１０ｇで観測波
形が表示される。
ものを用い得るが、より測定感度の良いものが望まし
い。図３は、ＯＴＤＲ１１０の基本構成の一例に付いて
その概略を示したもので、パルス幅の短い光パルスをパ
ルス発生器１１０ａ，光送信部１１０ｂで発生し、光方
向性結合器１１０ｃ及び光コネクタ１１０ｄを介して光
ファイバに入射する。光ファイバ内の各部で発生した後
方散乱光は光ファイバを伝搬して光受信部１１０ｅで検
出され、平均化処理回路１１０ｆで長さ方向の伝送損失
の値の平均化処理がなされて表示装置１１０ｇで観測波
形が表示される。
【００１９】ダミーの光ファイバ１２０も、前述の従来
例と同様のものを用い、予め伝送損失などの特性が分か
っているものが望ましい。光スイッチ１３０は、１：２
のものであれば十分であり、機械式のもの、或いは、基
板上に形成した光導波路式のものなどを用い得る。
例と同様のものを用い、予め伝送損失などの特性が分か
っているものが望ましい。光スイッチ１３０は、１：２
のものであれば十分であり、機械式のもの、或いは、基
板上に形成した光導波路式のものなどを用い得る。
【００２０】Ｖ溝プライス１４０は、光スイッチ１３０
と光ファイバケーブル２１０の各芯線ｎ1 〜ｎn とを接
続するもので、図４は、芯線をリボン状に束ねたフラッ
トタイプの場合についての構成例を示したものである。
この図のＶ溝プライスは、芯線に対応して設けられた多
数のＶ溝をもつＶ溝基板１４０ａ、この基板にとり付け
られるクランプ１４０ｂ，ｃ、透明カバー１４０ｄ及び
折り返しループを形成するための光ファイバ１４０ｅで
構成される。Ｖ溝基板１４０ａのＶ溝に、光スイッチ１
３０との接続用の光ファイバ１３２，１３４と光ファイ
バケーブル２１０の各芯線ｎ1 〜ｎn とを配置してクラ
ンプ１４０ｂ，ｃをとり付ける。そして、接続点近傍に
マッチングオイルを塗り、透明カバー１４０ｄをとり付
けて接続がなされる。測定する光ファイバケーブル２１
０を交換する際は、クランプ１４０ｃ，透明カバー１４
０ｄをはずすだけでできるようになっている。
と光ファイバケーブル２１０の各芯線ｎ1 〜ｎn とを接
続するもので、図４は、芯線をリボン状に束ねたフラッ
トタイプの場合についての構成例を示したものである。
この図のＶ溝プライスは、芯線に対応して設けられた多
数のＶ溝をもつＶ溝基板１４０ａ、この基板にとり付け
られるクランプ１４０ｂ，ｃ、透明カバー１４０ｄ及び
折り返しループを形成するための光ファイバ１４０ｅで
構成される。Ｖ溝基板１４０ａのＶ溝に、光スイッチ１
３０との接続用の光ファイバ１３２，１３４と光ファイ
バケーブル２１０の各芯線ｎ1 〜ｎn とを配置してクラ
ンプ１４０ｂ，ｃをとり付ける。そして、接続点近傍に
マッチングオイルを塗り、透明カバー１４０ｄをとり付
けて接続がなされる。測定する光ファイバケーブル２１
０を交換する際は、クランプ１４０ｃ，透明カバー１４
０ｄをはずすだけでできるようになっている。
【００２１】Ｖ溝プライス１４２は、光ファイバケーブ
ル２１０の他端で折り返しループを作り、各芯線ｎ1 〜
ｎn を直列に接続するためのものである。図５は、図４
と同様、芯線をリボン状に束ねたフラットタイプの場合
についての構成例を示したものである。この図のＶ溝プ
ライスは、芯線に対応して設けられた多数のＶ溝をもつ
Ｖ溝基板１４２ａ、この基板にとり付けられるクランプ
１４２ｂ，ｃ、透明カバー１４２ｄ及び光ファイバ１４
２ｅで構成される（光ファイバ１４２ｅのＶ溝基板１４
２ａのＶ溝への配置は、図４のものと若干異なる）。Ｖ
溝基板１４２ａのＶ溝に光ファイバケーブル２１０の各
芯線ｎ1 〜ｎn を配置してクランプ１４２ｂ，ｃをとり
付ける。そして、接続点近傍にマッチングオイルを塗
り、透明カバー１４２ｄをとり付けて接続がなされる。
測定する光ファイバケーブル２１０を交換する際は、ク
ランプ１４２ｃ，透明カバー１４２ｄをはずすだけでで
きるようになっている。これらの点は、図４と同様であ
る。
ル２１０の他端で折り返しループを作り、各芯線ｎ1 〜
ｎn を直列に接続するためのものである。図５は、図４
と同様、芯線をリボン状に束ねたフラットタイプの場合
についての構成例を示したものである。この図のＶ溝プ
ライスは、芯線に対応して設けられた多数のＶ溝をもつ
Ｖ溝基板１４２ａ、この基板にとり付けられるクランプ
１４２ｂ，ｃ、透明カバー１４２ｄ及び光ファイバ１４
２ｅで構成される（光ファイバ１４２ｅのＶ溝基板１４
２ａのＶ溝への配置は、図４のものと若干異なる）。Ｖ
溝基板１４２ａのＶ溝に光ファイバケーブル２１０の各
芯線ｎ1 〜ｎn を配置してクランプ１４２ｂ，ｃをとり
付ける。そして、接続点近傍にマッチングオイルを塗
り、透明カバー１４２ｄをとり付けて接続がなされる。
測定する光ファイバケーブル２１０を交換する際は、ク
ランプ１４２ｃ，透明カバー１４２ｄをはずすだけでで
きるようになっている。これらの点は、図４と同様であ
る。
【００２２】上記セッティングにおいて光ファイバの測
定はつぎのようにしてなされる。
定はつぎのようにしてなされる。
【００２３】まず、光ファイバケーブル２１０の芯線ｎ
1 の側がオンになるように光スイッチ１３０をセット
し、ＯＴＤＲ１１０で計測を行う。ＯＴＤＲ１１０から
所定のタイミングで順次光パルスを出力させる。ＯＴＤ
Ｒ１１０から光パルスは、ダミーの光ファイバ１２０及
び光ファイバケーブル２１０の各芯線ｎ1 〜ｎn を順次
透過し、これらの各部で後方散乱光を発生させる。後方
散乱光は、光ファイバを伝搬してＯＴＤＲ１１０の光受
信部１１０ｅで検出され、ＯＴＤＲ１１０で伝送損失波
形が観測される。図６はこの波形の一例を示したもの
で、ダミーの光ファイバ１２０及び光ファイバケーブル
２１０の各芯線ｎ1 〜ｎn の接続点（Ｖ溝プライス１４
０，１４２）に対応する位置では波形の乱れが生じ、ま
た、これらの光ファイバからの後方散乱光が、光ファイ
バの伝送損失によりその発生した位置からの距離に対応
した減衰をもって観測される。
1 の側がオンになるように光スイッチ１３０をセット
し、ＯＴＤＲ１１０で計測を行う。ＯＴＤＲ１１０から
所定のタイミングで順次光パルスを出力させる。ＯＴＤ
Ｒ１１０から光パルスは、ダミーの光ファイバ１２０及
び光ファイバケーブル２１０の各芯線ｎ1 〜ｎn を順次
透過し、これらの各部で後方散乱光を発生させる。後方
散乱光は、光ファイバを伝搬してＯＴＤＲ１１０の光受
信部１１０ｅで検出され、ＯＴＤＲ１１０で伝送損失波
形が観測される。図６はこの波形の一例を示したもの
で、ダミーの光ファイバ１２０及び光ファイバケーブル
２１０の各芯線ｎ1 〜ｎn の接続点（Ｖ溝プライス１４
０，１４２）に対応する位置では波形の乱れが生じ、ま
た、これらの光ファイバからの後方散乱光が、光ファイ
バの伝送損失によりその発生した位置からの距離に対応
した減衰をもって観測される。
【００２４】前述したように、光ファイバケーブル２１
０の芯線ｎ1 〜ｎn のいずれかに破断点があれば、そこ
で波形の乱れが観測され波形が切れたようになる。ま
た、光ファイバケーブル２１０の各芯線ｎ1 〜ｎn の伝
送損失は、ＯＴＤＲ１１０の伝送損失波形の傾いた部分
で観測され、ファイバケーブル２１０の各芯線ｎ1 〜ｎ
n の伝送損失が測定される。
０の芯線ｎ1 〜ｎn のいずれかに破断点があれば、そこ
で波形の乱れが観測され波形が切れたようになる。ま
た、光ファイバケーブル２１０の各芯線ｎ1 〜ｎn の伝
送損失は、ＯＴＤＲ１１０の伝送損失波形の傾いた部分
で観測され、ファイバケーブル２１０の各芯線ｎ1 〜ｎ
n の伝送損失が測定される。
【００２５】つぎに、光ファイバケーブル２１０の芯線
ｎn の側がオンになるように光スイッチ１３０をセット
し、同様にしてＯＴＤＲ１１０で伝送損失波形の計測を
行う。このときの波形は、図６において光ファイバケー
ブル２１０の各芯線ｎ1 〜ｎn に対応した位置が逆のも
のが得られる。この波形から同様に光ファイバケーブル
２１０の破断および各芯線ｎ1 〜ｎn の伝送損失が測定
される。
ｎn の側がオンになるように光スイッチ１３０をセット
し、同様にしてＯＴＤＲ１１０で伝送損失波形の計測を
行う。このときの波形は、図６において光ファイバケー
ブル２１０の各芯線ｎ1 〜ｎn に対応した位置が逆のも
のが得られる。この波形から同様に光ファイバケーブル
２１０の破断および各芯線ｎ1 〜ｎn の伝送損失が測定
される。
【００２６】このように光パルスが入射される端面を切
り替えることで、接続点での波形の乱れによってデッド
ゾーンとなっている部分についても光ファイバの測定を
行い、光ファイバケーブル２１０の破断および各芯線ｎ
1 〜ｎn の伝送損失の測定を行っている。そして、破断
や伝送損失があれば、その部分が伝送損失波形にあらわ
れ、異常箇所が特定される。
り替えることで、接続点での波形の乱れによってデッド
ゾーンとなっている部分についても光ファイバの測定を
行い、光ファイバケーブル２１０の破断および各芯線ｎ
1 〜ｎn の伝送損失の測定を行っている。そして、破断
や伝送損失があれば、その部分が伝送損失波形にあらわ
れ、異常箇所が特定される。
【００２７】ここで、光パルスが入射される端面の切り
替えは、Ｖ溝プライス１４０を取り外してセッティング
し直すことはなく、光スイッチ１３０で行っている。こ
のため、その手間が省け、光ファイバの測定が迅速に行
うことができる。特に、Ｖ溝プライスのＶ溝を芯線に対
応して設けた構造になっているので、芯線をリボン状に
束ねたフラットタイプの構造の光ファイバケーブルの測
定の場合、クランプ１４２ｃ，透明カバー１４２ｄをは
ずすだけで芯線ｎ1 〜ｎn の取換えができ、特に効果的
である。
替えは、Ｖ溝プライス１４０を取り外してセッティング
し直すことはなく、光スイッチ１３０で行っている。こ
のため、その手間が省け、光ファイバの測定が迅速に行
うことができる。特に、Ｖ溝プライスのＶ溝を芯線に対
応して設けた構造になっているので、芯線をリボン状に
束ねたフラットタイプの構造の光ファイバケーブルの測
定の場合、クランプ１４２ｃ，透明カバー１４２ｄをは
ずすだけで芯線ｎ1 〜ｎn の取換えができ、特に効果的
である。
【００２８】また、製品出荷時の品質検査に用いうるだ
けでなく、あらかじめ付設された光ファイバケーブルの
メンテナンス時においても、一方にＶ溝プライス１４２
を取付け、他方にＶ溝プライス１４２を取付けること
で、光ファイバケーブルの端が離れた位置にあっても光
ファイバの測定をしうる。
けでなく、あらかじめ付設された光ファイバケーブルの
メンテナンス時においても、一方にＶ溝プライス１４２
を取付け、他方にＶ溝プライス１４２を取付けること
で、光ファイバケーブルの端が離れた位置にあっても光
ファイバの測定をしうる。
【００２９】なお、光ファイバケーブル２１０の芯線ｎ
1 〜ｎn を直列につなぐのに、図４，５に示したような
Ｖ溝プライスを用いる例を示したが、同等の光回路を持
つものであれば良く、例えば、Ｓｉ基板上にＳｉＯ2 を
形成して作成した光導波路を用いても良い。
1 〜ｎn を直列につなぐのに、図４，５に示したような
Ｖ溝プライスを用いる例を示したが、同等の光回路を持
つものであれば良く、例えば、Ｓｉ基板上にＳｉＯ2 を
形成して作成した光導波路を用いても良い。
【００３０】
【発明の効果】以上の通り本発明の光ファイバの測定方
法及び装置によれば、複数の光ファイバが直列に接続し
て複数の光ファイバの測定を一度に一括して行うことが
可能になるので、光ファイバの測定が簡単にかつ手早く
行うことができる。特に、多芯の光ファイバケーブルの
芯線の測定を容易なものにすることができる。
法及び装置によれば、複数の光ファイバが直列に接続し
て複数の光ファイバの測定を一度に一括して行うことが
可能になるので、光ファイバの測定が簡単にかつ手早く
行うことができる。特に、多芯の光ファイバケーブルの
芯線の測定を容易なものにすることができる。
【図１】本発明にて光ファイバの測定を行う場合の光回
路を示した図。
路を示した図。
【図２】多芯の光ファイバケーブルの測定の場合につい
ての概略を示した図。
ての概略を示した図。
【図３】ＯＴＤＲの基本構成の一例を示した図。
【図４】Ｖ溝プライスの構成の一例を示した図。
【図５】Ｖ溝プライスの構成の一例を示した図。
【図６】伝送損失波形の一例を示した図。
【図７】従来例における光ファイバの測定を示した図。
【図８】従来例におけるＶ溝プライスを示した図。
【図９】従来例における後方散乱光の観測波形の一例を
示した図。
示した図。
１１０…ＯＴＤＲ、１３０…光スイッチ、１４０，１４
２…Ｖ溝プライス、２１０…光ファイバケーブル、ｎ1
〜ｎn …芯線。
２…Ｖ溝プライス、２１０…光ファイバケーブル、ｎ1
〜ｎn …芯線。
Claims (6)
- 【請求項１】 光ファイバに光パルスを入射し、前記光
ファイバ内で生じる後方散乱光を時間軸上で観測するこ
とによって光ファイバの測定を行う光ファイバの測定方
法であって、 複数の光ファイバを直列に接続し、 直列に接続された前記複数の光ファイバの両端面に光ス
イッチの出力ポートをつなぎ、前記光パルスを前記光ス
イッチの入力ポートに入力して前記両端面のいずれかか
ら前記複数の光ファイバに入射させ、 前記後方散乱光を時間軸上で観測して光ファイバの測定
をする光ファイバの測定方法。 - 【請求項２】 前記光スイッチで前記光パルスが入射さ
れる前記端面を切り替えることを特徴とする請求項１記
載の光ファイバの測定方法。 - 【請求項３】 前記複数の光ファイバは、多芯の光ファ
イバケーブルの各芯線であることを特徴とする請求項１
記載の光ファイバの測定方法。 - 【請求項４】 光ファイバに光パルスを入射し、前記光
ファイバ内で生じる後方散乱光を検出する光パルス試験
器を有し、前記後方散乱光を時間軸上で観測することに
よって光ファイバの測定を行うための光ファイバの測定
装置であって、 前記光パルス試験器からの光パルスの出力がその入力ポ
ートに接続された光スイッチと、 前記光ファイバ複数を直列に接続する接続手段とを有
し、 直列に接続された前記複数の光ファイバの両端面に光ス
イッチの出力ポートが接続された光ファイバの測定装
置。 - 【請求項５】 前記接続手段は、 光ファイバ同士をそのＶ溝で接続するＶ溝プライスと、 前記Ｖ溝プライスにて、前記光ファイバ複数のうち１の
端面にその１端が接続され、前記１の端面とは異なる他
の端面にその他端が接続された折り返し用光ファイバで
構成されていることを特徴とする請求項４記載の光ファ
イバの測定装置。 - 【請求項６】 前記Ｖ溝プライスのＶ溝は、多芯の光フ
ァイバケーブルの芯線に対応する位置に設けられている
ことを特徴とする請求項５記載の光ファイバの測定装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25287792A JPH06102421A (ja) | 1992-09-22 | 1992-09-22 | 光ファイバの測定方法及びその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25287792A JPH06102421A (ja) | 1992-09-22 | 1992-09-22 | 光ファイバの測定方法及びその装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06102421A true JPH06102421A (ja) | 1994-04-15 |
Family
ID=17243408
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25287792A Pending JPH06102421A (ja) | 1992-09-22 | 1992-09-22 | 光ファイバの測定方法及びその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06102421A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013238592A (ja) * | 2012-05-08 | 2013-11-28 | Fluke Corp | シングルエンド光学テスト機器用アレイ・コネクタ・テスト・ハーネス |
| CN104104433A (zh) * | 2014-06-18 | 2014-10-15 | 国网山东省电力公司青岛供电公司 | 光缆光纤串接检测装置与方法 |
| JP2018169233A (ja) * | 2017-03-29 | 2018-11-01 | アンリツ株式会社 | 光パルス試験装置及び光パルス試験方法 |
| JP2018169234A (ja) * | 2017-03-29 | 2018-11-01 | アンリツ株式会社 | 光パルス試験装置及び光パルス試験方法 |
-
1992
- 1992-09-22 JP JP25287792A patent/JPH06102421A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013238592A (ja) * | 2012-05-08 | 2013-11-28 | Fluke Corp | シングルエンド光学テスト機器用アレイ・コネクタ・テスト・ハーネス |
| CN104052543A (zh) * | 2012-05-08 | 2014-09-17 | 弗兰克公司 | 用于单端光学测试仪器的阵列连接器测试线束 |
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| EP2662680B1 (en) * | 2012-05-08 | 2019-09-04 | Fluke Corporation | Array connector test harness for single-ended optical test instruments |
| CN104104433A (zh) * | 2014-06-18 | 2014-10-15 | 国网山东省电力公司青岛供电公司 | 光缆光纤串接检测装置与方法 |
| JP2018169233A (ja) * | 2017-03-29 | 2018-11-01 | アンリツ株式会社 | 光パルス試験装置及び光パルス試験方法 |
| JP2018169234A (ja) * | 2017-03-29 | 2018-11-01 | アンリツ株式会社 | 光パルス試験装置及び光パルス試験方法 |
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