JP2013221907A5 - - Google Patents
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 21
- 230000000903 blocking Effects 0.000 claims 2
- 238000007599 discharging Methods 0.000 claims 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 230000000875 corresponding Effects 0.000 description 2
- 230000036760 body temperature Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000006011 modification reaction Methods 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 230000001629 suppression Effects 0.000 description 1
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特に、第1スイッチング素子4が図2の時刻t1にてオンされて遮断解除されたときに発生するノイズが問題となる。ソースフォロワー回路3が動作状態となり、ノイズが重畳された電荷に基づく検出信号SDが、ソースフォロワー回路3のトランジスターTNのゲートに供給された状態で検出動作が実施されてしまうからである。従って、本実施形態では、図2に示すように、時刻t1にて信号XONをLOWにして第1スイッチング素子4により遮断解除する時には、第2スイッチング素子5のゲートに供給される信号CNCTをLOWとして、第2スイッチング素子5により焦電素子2とトランジスターTNのゲートとの接続を遮断している。
図4は、図3に示す画素回路1Bのタイミングチャートであり、信号XONのLOW期間t1−t6と、信号CNCTのHIGH期間t3−t5は、図2と同様に設定されている。
放電スイッチ6による放電動作は、図4に示す時刻t1の前から実施され、時刻t1と時刻t3との間の時刻t2に終了させることができる。つまり、放電スイッチ6による放電動作は、第1スイッチング素子4がトランジスターTNに流れる電流の遮断を解除する時(図4の時刻t1)の後であって、かつ、第2スイッチング素子5が焦電素子2とトランジスターTNのゲートとの接続の遮断を解除する時(図4の時刻t3)よりも前の時刻t2に終了させることができる。
P型トランジスターTP1とTP2とは、そのゲート長及びゲート幅の両方を同一にして、P型トランジスターTP1、TP2のしきい値電圧等の素子特性を近づけることが可能になる。こうして、製造プロセス変動等に起因する出力電圧Voの変動を抑制できる。
一方、トランジスターTP1はトランジスターTP2に直列接続されているため、TP1には同じ電流が流れる。そしてトランジスターTP1の基板電位は、トランジスターTP2と同様にソース電位に設定されている。従って、トランジスターTP1のしきい値電圧とトランジスターTP2のしきい値電圧を等しくできる。更にトランジスターTP1は飽和領域で動作し、トランジスターTP1とTP2が同一のトランジスタサイズ(ゲート幅、ゲート長が同一)であるとすると、TP1のゲート・ソース間電圧は、TP2のゲート・ソース間電圧であるVcc/2とほぼ同じ電圧になる。また、トランジスターTP1のゲートは第2スイッチング素子5を介して焦電素子2に接続され、TP1のゲートのノードNDとGNDの間には焦電素子10の抵抗RPが存在するため、ノードNDは定常的にはほぼ0Vに設定される。より正確には、放電スイッチ6がオンしているときにはノードNDは0Vであり、第2スイッチング素子5を介して焦電素子2がノードNDと接続された場合も、焦電素子2に蓄積された電荷は非常に小さいので、それが充電されたノードNDの電位はほぼ0Vである。従って、トランジスターTP1のソースノードである検出回路の出力ノードNQの電圧Voは、定常的にはVcc/2とほぼ同じ電圧に設定される。
センサーアレイ101(焦点面アレイ)には、複数の行線(ワード線、走査線)WLと複数の列線(データ線)DLとが設けられる。なお、図1、図3及び図5に示す信号XON、CNCT及びRSTの信号線は、図6(A)(B)では省略されている。
画素駆動回路130は、図1、図3及び図5に示す信号XON、CNCT及びRSTの信号線を駆動する。
一水平走査期間(1H)は一垂直期間(1V)に含まれるので図6(A)のセンサーアレイ101に光が入射されており、しかも一水平走査期間(1H)中では対応する画素回路1の画素選択スイッチSW1がオンされて、出力電圧VOを対応する列線DL0に出力することができる。
ここで、信号XONは例えば水平走査信号WLの反転信号とすることができる。また、アンプスイッチASWのオフ期間の開始時期は、信号CNCTがHIGHとなる時刻t3の後に設定され、アンプスイッチASWのオフ期間の終了時期は、信号CNCTのHIGH期間が終了する時刻t5と一致させることができる。
図9に示すように、アンプスイッチASWは、一水平走査期間(1H)内であって放電スイッチ6がオンされる前にオフされる。信号CNCTがHIGHとなって第2スイッチング素子5がオンしてから放電スイッチ6がオンされるまでの第1期間T1に、焦電素子2に電荷がチャージされた光照射後の焦電流を反映した電圧が出力される。その後放電スイッチ6がオンされた後の第2期間T2では照射前の焦電流を反映した電圧が出力される。図8に示すアンプOPは、上述した第1,第2期間T1+T2ではアンプスイッチASWがオフとなって動作状態であり、この期間の途中にて放電スイッチ6がオンされる。アンプOPは第1期間T1での光照射時の焦電流に伴う電圧と第2期間T2での光照射前の焦電流に伴う電圧との差分(電圧変化)ΔV1を増幅する。
Claims (13)
- 焦電素子と、
前記焦電素子からの検出信号がゲートに入力されるトランジスターを含むソースフォロワー回路と、
前記トランジスターに流れる電流を遮断する第1スイッチング素子と、
前記焦電素子と前記トランジスターのゲートとの接続を遮断する第2スイッチング素子と、
を有することを特徴とする検出回路。 - 請求項1において、
前記第1スイッチング素子が前記トランジスターに流れる電流の遮断を解除する前に、前記第2スイッチング素子が前記焦電素子と前記トランジスターのゲートとの接続を遮断することを特徴とする検出回路。 - 請求項2において、
前記第2スイッチング素子と前記トランジスターのゲートとを接続する配線の電荷を放電させる放電スイッチをさらに有することを特徴とする検出回路。 - 請求項3において、
前記第1スイッチング素子が前記トランジスターに流れる電流の遮断を解除する後であって、かつ、前記第2スイッチング素子が前記焦電素子と前記トランジスターのゲートとの接続の遮断を解除する前に、前記放電スイッチによる放電が終了することを特徴とする検出回路。 - 請求項4において、
前記第2スイッチング素子により前記ゲートと前記焦電素子との接続が解除される前に、前記放電スイッチが放電動作を開始することを特徴とする検出回路。 - 請求項1乃至5のいずれか1項において、
前記ソースフォロア回路は、
前記検出回路の出力ノードと低電位電源ノードとの間に設けられ、前記焦電素子からの検出信号がゲートに入力される第1のP型トランジスターと、
高電位電源ノードと前記出力ノードとの間に設けられ、ゲートが基準電圧に設定される第2のP型トランジスターと、
を有することを特徴とする検出回路。 - 請求項6において、
前記第2のP型トランジスターのゲートに前記基準電圧を供給する基準電圧生成回路がさらに設けられ、
前記基準電圧生成回路は、前記高電位電源ノードと前記低電位電源ノードとの間に直列接続された第3のP型トランジスターと第4のP型トランジスターとを有し、
前記低電位電源ノードがドレインに接続された前記第3のP型トランジスターのソースと、前記高電位電源ノードがソースに接続された前記第4のP型トランジスターのドレインとの接続ノードが、前記基準電圧発生回路の出力ノードとされ、
前記第3のP型トランジスターは、前記低電位電源ノードがゲートに接続され、
前記第4のP型トランジスターは、前記基準電圧発生回路の出力ノードがゲートに接続されることを特徴とする検出回路。 - 請求項7において、
前記第1スイッチング素子は、前記第1のP型トランジスター及び前記第2のP型トランジスターに流れる電流を遮断する第5のP型トランジスターであり、
前記基準電圧生成回路は、前記第3のP型トランジスター及び前記第4のP型トランジスターに流れる電流を遮断する第6のP型トランジスターを有し、
前記第5のP型トランジスター及び前記第6のP型トランジスターのゲートに同一信号が供給されることを特徴とする検出回路。 - 請求項1乃至8のいずれか1項に記載の検出回路を含むことを特徴とするセンサーデバイス。
- 複数の行線と、
複数の列線と、
前記複数の行線と前記複数の列線の各1本に接続される複数の画素回路と、
を有し、
前記複数の画素回路の各々は、
焦電素子と、
前記焦電素子からの検出信号がゲートに入力されるトランジスターを含むソースフォロワー回路と、
前記トランジスターに流れる電流を遮断する第1スイッチング素子と、
前記第1スイッチング素子が前記トランジスターに流れる電流の遮断を解除する前に、前記焦電素子と前記トランジスターのゲートとの間を遮断する第2スイッチング素子と、
前記複数の行線の1本が駆動される期間に、前記焦電素子の電荷の変化に基づく信号を、前記複数の列線の1本に供給する画素選択スイッチと、
前記第2スイッチング素子と前記トランジスターのゲートとを接続する配線の電荷を放電させる放電スイッチと、
を含み、
駆動された前記1本の行線に接続された画素回路では、前記第1スイッチング素子が前記トランジスターに流れる電流の遮断を解除した後であって、かつ、前記第2スイッチング素子が前記焦電素子と前記トランジスターのゲートとの接続の遮断を解除する前に、前記放電スイッチによる放電を終了することを特徴とするセンサーデバイス。 - 請求項10において、
前記第1スイッチング素子は、前記1本の行線に接続された画素回路に共用されることを特徴とするセンサーデバイス。 - 請求項1乃至8のいずれか1項に記載の検出回路を含むことを特徴とする電子機器。
- 請求項9乃至11のいずれか1項に記載のセンサーデバイスを含むことを特徴とする電子機器。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012095353A JP5962167B2 (ja) | 2012-04-19 | 2012-04-19 | 検出回路、センサーデバイス及び電子機器 |
US13/848,358 US9052237B2 (en) | 2012-04-19 | 2013-03-21 | Detection circuit, sensor device and electronic apparatus |
CN2013100971612A CN103376161A (zh) | 2012-04-19 | 2013-03-25 | 检测电路、传感器器件以及电子设备 |
US14/725,144 US9222839B2 (en) | 2012-04-19 | 2015-05-29 | Detection circuit, sensor device and electronic apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012095353A JP5962167B2 (ja) | 2012-04-19 | 2012-04-19 | 検出回路、センサーデバイス及び電子機器 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013221907A JP2013221907A (ja) | 2013-10-28 |
JP2013221907A5 true JP2013221907A5 (ja) | 2015-05-14 |
JP5962167B2 JP5962167B2 (ja) | 2016-08-03 |
Family
ID=49379230
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012095353A Expired - Fee Related JP5962167B2 (ja) | 2012-04-19 | 2012-04-19 | 検出回路、センサーデバイス及び電子機器 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US9052237B2 (ja) |
JP (1) | JP5962167B2 (ja) |
CN (1) | CN103376161A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7148986B2 (ja) | 2017-05-09 | 2022-10-06 | 学校法人 中央大学 | テラヘルツ波検出装置およびテラヘルツ波検出システム |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP3324609A4 (en) * | 2015-07-13 | 2018-08-01 | Sharp Kabushiki Kaisha | Radiation detector |
FR3044443B1 (fr) * | 2015-11-30 | 2018-12-07 | Commissariat A L'energie Atomique Et Aux Energies Alternatives | Procede de capture de motif thermique |
JP7230528B2 (ja) * | 2018-01-30 | 2023-03-01 | 京セラドキュメントソリューションズ株式会社 | 画像形成装置 |
CN109061431B (zh) * | 2018-08-22 | 2020-11-13 | 徐州中矿大传动与自动化有限公司 | 一种基于栅极电荷的SiC MOSFET栅极故障诊断系统及诊断方法 |
CN109541712B (zh) * | 2018-11-30 | 2020-07-28 | 天津大学 | 基于周期性光栅化栅极金属栅mosfet太赫兹探测器 |
CN109581530A (zh) * | 2018-12-28 | 2019-04-05 | 同方威视技术股份有限公司 | 便携式太赫兹安检设备 |
CN114402191A (zh) * | 2019-10-09 | 2022-04-26 | 松下知识产权经营株式会社 | 摄影装置 |
KR102471024B1 (ko) * | 2021-05-24 | 2022-11-25 | (주)아이엠티 | 이중구조 스위치 및 이를 구비한 위성 전력제어 장치 |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB2186146B (en) * | 1984-04-16 | 1988-06-22 | Secr Defence | Thermal detector |
JPH073362B2 (ja) * | 1984-06-14 | 1995-01-18 | 株式会社村田製作所 | 一次元焦電型センサアレイ |
JPH05145853A (ja) * | 1991-11-22 | 1993-06-11 | Hamamatsu Photonics Kk | 赤外線撮像装置 |
JP3731750B2 (ja) * | 2002-06-24 | 2006-01-05 | 松下電器産業株式会社 | 赤外線センサの製造方法 |
JP3782095B2 (ja) * | 2002-06-24 | 2006-06-07 | 松下電器産業株式会社 | 赤外線センサの製造方法 |
JP2008017288A (ja) * | 2006-07-07 | 2008-01-24 | Rohm Co Ltd | 光電変換回路及びこれを用いた固体撮像装置 |
JP5022789B2 (ja) * | 2007-06-27 | 2012-09-12 | ザインエレクトロニクス株式会社 | 信号変換回路及びレール・ツー・レール回路 |
JP2009068863A (ja) | 2007-09-10 | 2009-04-02 | Toshiba Corp | 赤外線検出素子及びそれを用いた赤外線イメージセンサ |
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US8654110B2 (en) * | 2008-07-11 | 2014-02-18 | Sharp Kabushiki Kaisha | Display device and method for driving display device |
JP5178394B2 (ja) * | 2008-08-20 | 2013-04-10 | キヤノン株式会社 | 撮像装置及びその制御方法 |
JP5747498B2 (ja) * | 2010-01-06 | 2015-07-15 | セイコーエプソン株式会社 | センサーデバイス及び電子機器 |
JP5736744B2 (ja) * | 2010-01-26 | 2015-06-17 | セイコーエプソン株式会社 | 熱センサーデバイス及び電子機器 |
-
2012
- 2012-04-19 JP JP2012095353A patent/JP5962167B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2013
- 2013-03-21 US US13/848,358 patent/US9052237B2/en active Active
- 2013-03-25 CN CN2013100971612A patent/CN103376161A/zh active Pending
-
2015
- 2015-05-29 US US14/725,144 patent/US9222839B2/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7148986B2 (ja) | 2017-05-09 | 2022-10-06 | 学校法人 中央大学 | テラヘルツ波検出装置およびテラヘルツ波検出システム |
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