JP2013219734A - 撮像装置、撮像方法、及びプログラム - Google Patents

Abstract

【課題】撮像装置自体の発熱量の増加や、電池寿命の低下を防止する撮像装置を提供すること。
【解決手段】撮像装置１は、アナログブロック１１と、撮影条件決定部５１と、アナログゲイン制御部５２とを備える。アナログブロック１１は、撮像素子４５の出力の増幅比であるアナログゲインに応じて消費電流が変化する。撮影条件決定部５１は、被写体の明るさに応じてアナログゲインを含む撮影条件を決定する。アナログゲイン制御部５２は、撮像装置１の状態に応じて、アナログブロック１１の消費電流を低減させるように、撮影条件決定部５１で決定されるアナログゲインを変化させる。従って、このような撮像装置１では、撮像装置１の状態に応じて、アナログゲインを変化させる制御を行うことによりアナログブロック１１の消費電流を低減させることで、撮像装置１の状態を制御できる。
【選択図】図２

Description

本発明は、撮像装置、撮像方法、及びプログラムに関する。

従来より、撮像装置のＣＰＵの画像処理能力が高性能化し、これに伴い演算処理等が多くなり撮像装置全体の消費電流が増加している。その結果、撮像装置の発熱量の増加や、電池寿命の低下が起きている。このような発熱量の増加への対策として、特許文献１には、冷却部材や冷却構造を採用することで、撮像装置を冷却する技術が開示されている。

特開２００８−１３１２５１号公報

しかしながら、撮像装置を冷却する際に、特許文献１に開示された技術を適用すると、冷却に適した部材や構造を採用する必要があるため、撮像装置自体のサイズが限定されるという問題や、コストが高くなるという問題があった。また、特許文献１の技術は、撮像装置を冷却するための技術であるため、電池寿命の低下を防止することは困難である。

本発明は、このような状況に鑑みてなされたものであり、撮像装置自体の発熱量の増加や、電池寿命の低下を防止する撮像装置を提供することを目的とする。

上記目的を達成するため、本発明の一態様の撮像装置は、
撮像素子の出力の増幅比であるアナログゲインに応じて消費電流が変化するアナログブロックを有する撮像装置であって、
被写体の明るさに応じて前記アナログゲインを含む撮影条件を決定する決定手段と、
前記撮像装置の状態に応じて、前記アナログブロックの消費電流を低減させるように、前記決定手段で決定される前記アナログゲインを変化させるアナログゲイン制御手段と、
を備えることを特徴とする。

本発明によれば、撮像装置自体の発熱量の増加や、電池寿命の低下を防止する撮像装置を提供することができる。

本発明の一実施形態に係る撮像装置のハードウェアの構成を示すブロック図である。 図１の撮像装置の機能的構成のうち、アナログゲイン調整処理を実行するための機能的構成を示す機能ブロック図である。 図２の機能的構成を有する図１の撮像装置が実行するアナログゲイン調整処理の流れを説明するフローチャートである。 図３のアナログゲイン調整処理のうちゲイン上限設定処理の詳細な流れを説明するフローチャートである。 図２の撮像装置の表示制御部が表示するライブビュー画像の一例を示す図である。 図２の撮像装置の露出設定部による露出設定に用いられるプログラム線図を示す図である。 図１の撮像装置の機能的構成のうち、画像記録用アナログゲイン調整処理を実行するための機能的構成を示す機能ブロック図である。 図７の機能的構成を有する図１の撮像装置が実行する画像記録用アナログゲイン調整処理の流れを説明するフローチャートである。

以下、本発明の実施形態について、図面を用いて説明する。

［第１実施形態］
図１は、本発明の第１実施形態に係る撮像装置１のハードウェアの構成を示すブロック図である。撮像装置１は、例えばデジタルカメラにより構成することができる。

撮像装置１は、アナログブロック１１と、信号処理部１２と、ＤＲＡＭ（Ｄｙｎａｍｉｃ Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）１３と、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）１４と、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）１５と、ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）１６と、表示制御部１７と、表示部１８と、操作部１９と、通信部２０と、ドライブ２１と、記憶部２２と、温度測定部２３と、電池残量測定部２４と、ゲイン設定部２５と、を備える。

アナログブロック１１は、光学レンズ４１と、レンズ駆動機構４２と、絞り機構４３と、アクチュエータ４４と、撮像素子４５と、ＡＦＥ（Ａｎａｌｏｇ Ｆｒｏｎｔ Ｅｎｄ）４６と、ＴＧ（Ｔｉｍｉｎｇ Ｇｅｎｅｒａｔｏｒ）４７と、電源部４８と、を備える。

光学レンズ４１は、例えばフォーカスレンズやズームレンズ等で構成される。フォーカスレンズは、撮像素子４５の受光面に被写体像を結像させる。ズームレンズは、焦点距離を一定の範囲で自在に変化させる。

レンズ駆動機構４２は、ＣＰＵ１４の制御に従って各種レンズを駆動させる。例えば、レンズ駆動機構４２は、ＣＰＵ１４の制御に従ってフォーカスレンズを移動させることで、ＡＦ（Ａｕｔｏｍａｔｉｃ Ｆｏｃｕｓ）処理を実現させる。

絞り機構４３は、例えば複数枚の絞り羽根等から構成され、絞り羽根の開閉の度合い（絞り値）を変更することにより、撮像素子４５へ入射する光量を調節する。即ち、絞り値と後述のシャッタ速度とが調整されることによって、露出が調整される。
アクチュエータ４４は、ＣＰＵ１４の制御に従って、絞り機構４３の絞り羽根を開閉させる。

撮像素子４５は、例えばＣＭＯＳ（Ｃｏｍｐｌｅｍｅｎｔａｒｙ Ｍｅｔａｌ Ｏｘｉｄｅ Ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ）型の光電変換素子等から構成される。撮像素子４５には、光学レンズ４１から絞り機構４３を介して被写体像が入射される。そこで、撮像素子４５は、ＴＧ４７から供給されるクロックパルスに従って、一定時間毎に被写体像を光電変換（撮影）して画像信号を画素毎に蓄積し、蓄積した画像信号をアナログ信号として出力する。この画像信号が蓄積される一定時間が、シャッタ速度に相当する。従って、上述した絞り値とともに、当該一定時間（シャッタ速度）が制御されることで、露出が調整される。

ＡＦＥ４６は、ＣＤＳ（Ｃｏｒｒｅｌａｔｅｄ Ｄｏｕｂｌｅ Ｓａｍｐｌｉｎｇ）回路（相関２重サンプリング回路）やアナログアンプ等から構成される増幅回路（図示せず）と、Ａ／Ｄ（Ａｎａｌｏｇ／Ｄｉｇｉｔａｌ）変換器（図示せず）とから構成される。増幅回路は、撮像素子４５から供給されるアナログの画像信号を撮像感度に応じて増幅（ゲイン調整）を行い、Ａ／Ｄ（Ａｎａｌｏｇ／Ｄｉｇｉｔａｌ）変換器は、ＴＧ４７から供給されるクロックパルスに従って、撮像素子４５から供給されるアナログの画像信号に対してＡ／Ｄ変換処理等の各種信号処理を施すことで、ディジタルの画像信号（以下、「撮像画像のデータ」と呼ぶ）を生成する。

ＴＧ４７は、ＣＰＵ１４の制御に従って、一定時間毎にクロックパルスを撮像素子４５とＡＦＥ４６とに夫々供給する。

電源部４８は、電源回路（図示せず）を介して、撮像装置１の駆動源としての電流を撮像装置１の各構成へ供給する。

信号処理部１２は、例えばＤＳＰ（Ｄｉｇｉｔａｌ Ｓｉｇｎａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｏｒ）等で構成され、ＣＰＵ１４の制御に従って、ＡＦＥ４６から供給された撮像画像のデータ等に対して、ガンマ補正等の各種信号処理を施す。

ＤＲＡＭ１３は、信号処理部１２により信号処理が施された撮像画像のデータ等を一時的に記憶する。

ＣＰＵ１４は、撮像装置１全体の動作の制御、例えば露出調整の制御等を行うべく、ＲＯＭ１５に記録されているプログラムに従って各種処理を実行する。ＣＰＵ１４の処理の具体例については、図２等を参照して後述する。
ＲＡＭ１６には、ＣＰＵ１４が各種処理を実行する上において必要なデータ等が適宜記憶される。

表示制御部１７は、ＣＰＵ１４の制御に従って、ＤＲＡＭ１３やリムーバブルメディア３１に記憶されている撮像画像のデータ等を取得し、当該撮像画像を表示部１８に表示させる。
即ち、表示部１８は、液晶ディスプレイ等で構成され、撮像画像等の各種画像を表示する。

操作部１９は、各種釦等で構成され、ユーザの指示操作に応じて各種情報を入力する。
通信部２０は、インターネットを含むネットワークを介して他の装置（図示せず）との間で行う通信を制御する。

ドライブ２１は、装着されたリムーバブルメディア３１に対する読み書きを制御する。リムーバブルメディア３１は、磁気ディスク、光ディスク、光磁気ディスク、或いは半導体メモリ等よりなり、撮像画像のデータ等各種データを記憶する。

記憶部２２は、ハードディスク或いはＤＲＡＭ（Ｄｙｎａｍｉｃ Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）等で構成され、各種画像のデータを記憶する。

温度測定部２３は、撮像装置１、撮像素子４５、及び電源部４８夫々の温度を測定する。また、電池残量測定部２４は、電源部４８の電池残量を測定する。

ゲイン設定部２５は、各種釦等で構成され、ユーザの指示操作に応じて撮像素子４５のアナログゲイン（以下、「アナログゲイン」と呼ぶ）の設定情報を入力する。このアナログゲインの設定情報には、アナログゲインを変更する際の変更値、及びアナログゲインの上限値を設定する際の上限値等が含まれる。

図２は、このような撮像装置１の機能的構成のうち、アナログゲイン調整処理を実行するための機能的構成を示す機能ブロック図である。
アナログゲイン調整処理とは、撮像装置１による被写体の撮像が開始されてから、撮像装置の撮影環境を測定し、測定結果に応じてアナログゲインが調整され、露出設定が行われるまでの一連の処理をいう。

ＣＰＵ１４においては、アナログゲイン調整処理が実行される場合、撮影条件決定部５１と、アナログゲイン制御部５２と、ゲイン設定制御部５３と、電池寿命算出部５４と、露出制御部５５と、が機能する。

アナログゲイン調整処理の実行が開始されると、撮影条件決定部５１は、ＡＦＥ４６からデータを受信して、受信したデータに基づいてアナログゲインを決定する。また、撮影条件決定部５１は、受信したデータに基づいて、撮影条件としての絞り値及びシャッタ速度を決定する。

アナログゲイン制御部５２は、温度測定部２３が測定した撮像装置１、撮像素子４５、及び電源部４８夫々の温度、及び、電池残量測定部２４が測定した電源部４８の電池残量に応じて、アナログゲインを制御することでアナログブロック１１の消費電流を変化させる。ここで、固体撮像素子において、アナログゲインを変化させるとＡ／Ｄ変換に用いている基準信号の動作状態が変化するため、アナログゲインを大きくすると電流が減る動作となる。一方、アナログゲインを大きくすると撮像画像上のノイズが増える。
また、アナログゲイン制御部５２は、変化させたアナログゲインをＡＦＥ４６に出力することにより、ＡＦＥ４６が備える増幅回路において、撮像素子４５から供給されるアナログの画像信号の増幅比を変化させる。
また、アナログゲイン制御部５２は、変化させたアナログゲインを表示制御部１７及び露出制御部５５に出力する。

更に、アナログゲイン制御部５２は、温度測定部２３が測定した撮像装置１、撮像素子４５、及び電源部４８夫々の温度が高い程、アナログゲインを上げ、電池残量測定部２４が測定した電源部４８の電池残量が少なくなる程、アナログゲインを上げる。なお、アナログゲイン制御部５２は、アナログゲインを上げることによって発生するノイズ量が所定の閾値を超えた場合には、所定の閾値以下となるようにアナログゲインを下げる制御を行うようにしてもよい。

ゲイン設定制御部５３は、ゲイン設定部２５が入力したアナログゲインの設定情報をアナログゲイン制御部５２に出力する。これにより、アナログゲイン制御部５２は、ゲイン設定部２５が入力したアナログゲインの変更値を出力できる。また、これにより、アナログゲイン制御部５２は、ゲイン設定部２５が入力したアナログゲインの上限値を出力できる。したがって、アナログゲイン制御部５２は、アナログゲインの上限値を超えない範囲でアナログゲインを調整できる。

電池寿命算出部５４は、アナログゲイン制御部５２により制御されたアナログゲインにより変化したアナログブロック１１に流れる電流値を、アナログブロック１１から取得し、表示制御部１７に出力する。

露出制御部５５は、アナログゲイン制御部５２により制御されたアナログゲインを取得し、絞り機構４３（図１参照）及び撮像素子４５に出力することで、絞り値及びシャッタ速度を制御する。
また、露出制御部５５は、アナログゲイン制御部５２により制御されたアナログゲインを取得し、取得したアナログゲインに基づいて、記憶部２２に記憶された露出制御用のプログラム線図を変更して露出設定を制御する。

表示制御部１７は、アナログゲイン制御部５２が出力したアナログゲインを受信し、受信したアナログゲインに応じたノイズのサンプル画像（図５（ａ），（ｂ），（ｃ）参照）をＤＲＡＭ１３から取得して、表示部１８に表示する。
また、表示制御部１７は、電池寿命算出部５４により算出された電源部４８の電池残量を受信し、受信した電池残量の値に応じた電池寿命の画像（図５（ｄ），（ｅ），（ｆ）参照）をＤＲＡＭ１３から取得して、表示部１８に表示する。

次に、図３及び図４を参照して、このような図２の機能的構成の撮像装置１が実行するアナログゲイン調整処理について説明する。
図３及び図４は、図２の機能的構成を有する撮像装置１が実行するアナログゲイン調整処理の流れを説明するフローチャートである。

ステップＳ１１において、ゲイン設定制御部５３及び表示制御部１７は、アナログゲインの上限値を設定するというゲイン上限設定処理を実行する。ゲイン上限設定処理の詳細については、図４を参照して後述する。

ステップＳ１２において、アナログゲイン制御部５２は、撮影環境測定値を取得する。詳細には、アナログゲイン制御部５２は、温度測定部２３により測定された、撮像装置１、撮像素子４５、及び電源部４８夫々の温度、及び電池残量測定部２４により測定された、電源部４８の電池残量を取得する。

ステップＳ１３において、アナログゲイン制御部５２は、アナログゲインを変更するか否かを判断する。詳細には、アナログゲイン制御部５２は、ステップＳ１２でアナログゲイン制御部５２が取得した撮像装置１、撮像素子４５、及び電源部４８夫々の温度のいずれかが所定の閾値より高いか否か、及び、電源部４８の電池残量が所定の閾値より少ないか否か、を判断する。
撮像装置１、撮像素子４５、及び電源部４８夫々の温度のいずれかが所定の閾値より高い、又は、電源部４８の電池残量が所定の閾値より少ない、と判断された場合には、ステップＳ１３においてＹＥＳと判断されて、処理はステップＳ１４に進む。
撮像装置１、撮像素子４５、及び電源部４８夫々の温度のいずれも所定の閾値より高くない、かつ、電源部４８の電池残量が所定の閾値より少なくないと判断された場合には、ステップＳ１３においてＮＯと判断されて、処理はステップＳ１５に進む。

ステップＳ１４において、アナログゲイン制御部５２は、アナログゲインを大きくする。詳細には、アナログゲイン制御部５２は、撮影条件決定部５１により決定されたアナログゲインを大きくする。

ステップＳ１５において、露出制御部５５は、露出設定を行う。詳細には、露出制御部５５は、アナログゲイン及び明るさに基づいて、絞り値及びシャッタ速度を設定する。
例えば、図６に示すプログラム線図に示されているように、明るさが１３（ｌｖ）の場合、アナログゲインが０（ｄＢ）のときは、シャッタ速度は１／５００（ｓ）であり、アナログゲインが３６（ｄＢ）のときは、シャッタ速度は１／３２０００（ｓ）である。要するに、明るさが同じ場合、アナログゲインを上げる程、シャッタ速度は速くなる。一方、絞り値は、最初に撮影条件決定部５１により決定されたものと同様である。
なお、アナログゲインに応じてプログラム線図を変更して絞り値及びシャッタ速度を制御してもよい。
ステップＳ１５の処理が終了すると、アナログゲイン調整処理は終了する。

更に以下、図３のアナログゲイン調整処理のうち、ステップＳ１１のゲイン上限設定処理の詳細について説明する。
図４は、図３のアナログゲイン調整処理のうち、ステップＳ１１のゲイン上限設定処理を説明するフローチャートである。

ステップＳ２１において、表示制御部１７は、アナログゲインが０（ｄＢ）である場合のライブビュー表示を行う。詳細には、表示制御部１７は、ライブビュー撮像処理及びライブビュー表示処理を開始する。
即ち、ＣＰＵ１４は、撮像素子４５による撮像動作を開始させて、当該撮像動作を継続させる。その間、当該撮像素子４５から順次出力される撮像画像のデータは、ＤＲＡＭ１３に一時的に記憶される。このような一連の処理が、ここでいう「ライブビュー撮像処理」である。
また、表示制御部１７は、ライブビュー撮像処理時にＤＲＡＭ１３に一時的に記録された各撮像画像のデータを順次読み出して、各々に対応する撮像画像を表示部１８に順次表示させる。このような一連の処理が、ここでいう「ライブビュー表示処理」である。そして、ライブビュー表示処理により表示部１８に表示されている撮像画像が、ここでいう「ライブビュー画像」である。
具体的に表示されるライブビュー画像は、図５（ａ）及び（ｄ）に示すように、アナログゲインは０（ｄＢ）であるので、ノイズは出現していない。図５（ｄ）では、電池寿命算出部５４により算出された電池残量が表示されている。

ステップＳ２２において、ゲイン設定制御部５３は、ゲイン変更操作がされたか否かを判断する。詳細には、ゲイン設定制御部５３は、ゲイン設定部２５にアナログゲインを変更する際の変更値の入力があったか否かを判断する。
当該変更値の入力があったと判断した場合には、ステップＳ２２でＹＥＳと判断されて、処理はステップＳ２３に進む。
当該変更値の入力がなかったと判断した場合には、ステップＳ２２でＮＯと判断されて、処理はステップＳ２４に進む。

ステップＳ２３において、表示制御部１７は、変更操作に応じたアナログゲインのサンプル画像を表示する。詳細には、表示制御部１７は、変更操作に応じたアナログゲインに基づいてＤＲＡＭ１３に一時的に記録された各撮像画像のデータを順次読み出して、表示部１８にライブビュー表示を行う。
具体的に表示されるライブビュー画像は、図５（ｂ）及び（ｅ）に示す、アナログゲインが１８（ｄＢ）である場合の画像や、図５（ｃ）及び（ｆ）に示す、アナログゲインが３６（ｄＢ）である場合の画像であり、アナログゲインが高いほどノイズが多く表示されている。また、図５（ｅ）、（ｆ）では、電池寿命算出部５４により算出された電池残量が表示されている。電池残量は、アナログゲインが高いほど多く表示されている。
ユーザは、これらのサンプル画像を見ることで、アナログゲインとノイズ量との関係、アナログゲインと電池残量との関係、及びノイズ量と電池残量との関係を把握できる。よって、ユーザは、後述するステップＳ２４の処理が実行されることにより、これらのサンプル画像を見ながら、アナログゲインの上限値を所望の値に設定できる。

ステップＳ２４において、ゲイン設定制御部５３は、アナログゲインの上限設定操作がされたか否かを判断する。詳細には、ゲイン設定制御部５３は、ゲイン設定部２５にアナログゲインの上限値を設定する際の上限値の入力があったか否かを判断する。
当該上限値の入力があったと判断した場合には、ステップＳ２４でＹＥＳと判断されて、処理はステップＳ２５に進む。
当該上限値の入力がなかったと判断した場合には、ステップＳ２４でＮＯと判断されて、処理はステップＳ２６に進む。

ステップＳ２５において、ゲイン設定制御部５３は、アナログゲインの上限設定をする。詳細には、ゲイン設定制御部５３は、ステップＳ２４において入力された、アナログゲインの上限値を設定する。その後、ゲイン上限設定処理は終了する。

ステップＳ２６において、ゲイン設定制御部５３は、上限設定終了操作がされたか否かを判断する。詳細には、ゲイン設定制御部５３は、ゲイン設定部２５にアナログゲインの上限値の設定を終了させるコマンドの入力があったか否かを判断する。
当該コマンドの入力があったと判断した場合には、ステップＳ２６でＹＥＳと判断されて、ゲイン上限設定処理は終了する。
当該コマンドの入力がなかったと判断した場合には、ステップＳ２６でＮＯと判断されて、処理はステップＳ２２に戻る。

以上、本発明の第１実施形態について説明した。
以上のようなアナログゲイン調整処理を実行する撮像装置１は、アナログブロック１１と、撮影条件決定部５１と、アナログゲイン制御部５２とを備える。
アナログブロック１１は、撮像素子４５の出力の増幅比であるアナログゲインに応じて消費電流が変化する。
撮影条件決定部５１は、被写体の明るさに応じてアナログゲインを含む撮影条件を決定する。
アナログゲイン制御部５２は、撮像装置１の状態に応じて、アナログブロック１１の消費電流を低減させるように、撮影条件決定部５１で決定されるアナログゲインを変化させる。
従って、このような撮像装置１では、撮像装置１の状態に応じて、アナログゲインを変化させる制御を行うことによりアナログブロック１１の消費電流を低減させることで、撮像装置１の状態を制御できる。特に、撮像装置１の発熱量を減少させる制御や、電源部４８の電池寿命を長くさせる制御を行うことができる。

また、撮像装置１は、温度測定部２３を更に備える。
温度測定部２３は、温度を測定する。
アナログゲイン制御部５２は、温度測定部２３により測定された温度に応じて撮像素子４５のアナログゲインを変化させる。
従って、温度に応じて撮像素子４５のアナログゲインを制御することで、アナログブロック１１の消費電流を制御できる。

この場合、撮像素子４５はアナログゲインが高くなるほど消費電流が低くなり、アナログゲイン制御部５２は、温度測定部２３により測定された温度が高くなる程、撮像素子４５のアナログゲインを上げる。
従って、温度が上がる程、撮像素子４５のアナログゲインを上げることで、アナログブロック１１の電流を減少させ、撮像装置１の発熱を減少できる。

また、温度測定部２３は、撮像装置１、撮像素子４５、又は電源部４８の温度を測定する。
アナログゲイン制御部５２は、温度測定部２３により測定された温度に応じて撮像素子４５のアナログゲインを変化させる。
従って、撮像装置１、撮像素子４５、又は電源部４８の温度に応じて撮像素子４５のアナログゲインを制御することで、アナログブロック１１の消費電流を制御できる。

また、撮像装置１は、電池残量測定部２４を更に備える。
電池残量測定部２４は、電源部４８の電池残量を測定する。
アナログゲイン制御部５２は、電池残量測定部２４により測定された電池残量に応じて撮像素子４５のアナログゲインを変化させる。
従って、電源部４８の電池残量に応じて撮像素子４５のアナログゲインを制御することで、アナログブロック１１の消費電流を制御できる。

この場合、アナログゲイン制御部５２は、電池残量測定部２４により測定された電池残量が少なくなる程、撮像素子４５のアナログゲインを上げる。
従って、電源部４８の電池残量が少なくなる程、撮像素子４５のアナログゲインを上げることで、アナログブロック１１の電流を減少させ、電池寿命を長くすることができる。

また、アナログゲイン制御部５２は、撮像素子４５のアナログゲインを上げることによって増加するノイズ量と低減する消費電流との関係に応じて、アナログゲインを制御する。
従って、アナログゲインを上げることによって増加するノイズ量と低減する消費電流との関係に応じて、アナログゲインを制御することで、バランスの適切なアナログゲイン制御ができる。

また、撮像装置１は、ゲイン設定部２５を備えている。
ゲイン設定部２５は、アナログゲイン制御部５２により制御される撮像素子４５のアナログゲインの上限を設定する。
従って、アナログゲイン制御の上限を設定可能とすることで、ノイズ発生の許容範囲を設定できる。

また、撮像装置１は、表示制御部１７を備えている。
表示制御部１７は、アナログゲイン制御部５２により制御される撮像素子４５のアナログゲインを上げることによって発生するノイズのサンプルを表示部１８に表示する。
従って、アナログゲインを上げることによって発生するノイズのサンプルを表示部１８に表示することで、ノイズ量を確認しながらアナログゲイン制御の上限を設定できる。

また、撮像装置１は、電池寿命算出部５４及び表示制御部１７を備えている。
電池寿命算出部５４は、アナログゲイン制御部５２により制御される撮像素子４５のアナログゲインを上げることによって変化するアナログブロックの電流から電池寿命を算出する。
従って、アナログゲインを上げることによって変化する電池寿命を表示部１８に表示することで、電池寿命を確認しながらアナログゲイン制御の上限を設定できる。

また、撮像装置１は、露出制御部５５を備えている。
露出制御部５５は、アナログゲイン制御部５２により制御されたアナログゲインの変化に応じて露出設定を制御する。
従って、アナログゲイン制御に応じて露出制御を行うので、常に適正露出に設定できる。

この場合、露出制御部５５は、アナログゲイン制御部５２により制御された撮像素子４５のアナログゲインに応じて露出制御用のプログラム線図を変更して露出設定を制御する。
従って、プログラム線図を変更して露出設定を制御することで、簡略な処理で露出制御が可能となる。

［第２実施形態］
次に、本発明の第２実施形態について説明する。
第１実施形態では、アナログゲイン調整処理として、撮像装置１による被写体の撮像が開始されてから、撮像装置１の撮影環境が測定され、測定結果に応じてアナログゲインが調整され、露出設定が行われるまでの一連の処理について説明した。これに対して、第２実施形態では、撮像装置１による被写体の撮像が開始されてから、撮像装置１の撮影環境が測定され、測定結果に応じてアナログゲインが調整される点については、第１実施形態と同様である。さらに、第２実施形態では、所定の撮影動作として、撮像画像のデータ（動画像のデータ又は静止画像のデータ）が記憶される動作が実行される時点において、アナログゲインの調整が停止されることにより、撮像画像におけるノイズが低減され、動画像及び静止画像の画質が劣化されないようにする処理が実行される。このような処理を、第２実施形態において、「画像記録用アナログゲイン調整処理」と呼ぶ。

本発明の第２実施形態に係る撮像装置１は、第１実施形態と同様のハードウェア構成を有している。即ち、図１は、第２実施形態に係る撮像装置１のハードウェア構成も示している。なお、図１のハードウェア構成は説明済みであるので、ここではその説明は省略する。

図７は、図１に示した撮像装置１の機能的構成のうち、第２実施形態に係る画像記録用アナログゲイン調整処理を実行するための機能的構成を示す機能ブロック図である。
第２実施形態に係る画像記録用アナログゲイン調整処理を実行するための機能的構成には、図２に示す第１実施形態における機能的構成に加えて、操作部１９及び撮影制御部５６が追加される。
そこで、以下においては、撮像装置１の機能的構成のうち、第１実施形態とは異なる点について主に説明し、第１実施形態と同一の点については適宜その説明は省略する。

ＣＰＵ１４においては、画像記録用アナログゲイン調整処理が実行される場合、撮影条件決定部５１と、アナログゲイン制御部５２と、ゲイン設定制御部５３と、電池寿命算出部５４と、露出制御部５５と、撮影制御部５６とが機能する。

画像記録用アナログゲイン調整処理の実行が開始されると、撮影条件決定部５１は、第１実施形態と同様に、ＡＦＥ４６からデータを受信して、受信したデータに基づいてアナログゲインを決定する。また、撮影条件決定部５１は、受信したデータに基づいて、撮影条件としての絞り値及びシャッタ速度を決定する。

アナログゲイン制御部５２は、第１実施形態と同様に、温度測定部２３が測定した温度が高い程、具体的には、撮像装置１、撮像素子４５、及び電源部４８（図１参照）夫々の温度が高い程、アナログゲインを上げ、電池残量測定部２４が測定した電源部４８（図１参照）の電池残量が少なくなる程、アナログゲインを上げる。
次に、アナログゲイン制御部５２は、操作部１９から受信したユーザの指示操作に基づく信号に応じて撮影動作モードを判別する。ここで、撮影動作モードには、静止画記録モード、動画記録モード、及びライブビュー表示モードが含まれる。
静止画記録モードとは、ユーザによる撮影操作時に単一の撮像画像のデータが記憶されるモードをいう。動画記録モードとは、ユーザによる撮影操作時に複数の撮像画像からなる動画像のデータが記憶されるモードをいう。ライブビュー表示モードとは、第１実施形態において説明したライブビュー表示処理が実行されるモードをいう。
アナログゲイン制御部５２は、撮影動作モードが静止画記録モード又は動画記録モードである場合に、アナログゲインの調整を停止することにより、アナログゲインを上げる前の状態に戻す。
また、アナログゲイン制御部５２は、調整が停止されたアナログゲインをＡＦＥ４６に出力することにより、ＡＦＥ４６が備える増幅回路において、撮像素子４５から供給されるアナログの画像信号の増幅比を変化させる。

露出制御部５５は、第１実施形態と同様に、アナログゲイン制御部５２により制御されたアナログゲインを取得し、絞り機構４３（図１参照）及び撮像素子４５に出力することで、絞り値及びシャッタ速度を制御する。
絞り値及びシャッタ速度が制御されると、撮影条件決定部５１は、ＡＦＥ４６からデータを受信して、撮影条件としての絞り値及びシャッタ速度を決定する。撮影条件としての絞り値は、最初に撮影条件決定部５１により決定されたものと同様である。

撮影制御部５６は、撮影条件決定部５１により決定された絞り値及びシャッタ速度をアナログブロック１１に供給し、アナログブロック１１から撮像画像のデータ（静止画像のデータ又は動画像のデータ）を受信する。その後、撮影制御部５６は、受信した撮像画像のデータを記憶部２２に記憶する。

次に、図８を参照して、このような図７の機能的構成の撮像装置１が実行するアナログゲイン調整処理について説明する。
図８は、図７の機能的構成を有する撮像装置１が実行する画像記録用アナログゲイン調整処理の流れを説明するフローチャートである。

ステップＳ３１〜Ｓ３５の処理については、図３のステップＳ１１〜Ｓ１５と同様であるので、説明は省略する。よって、ステップＳ３６以降について以下説明する。

ステップＳ３６において、アナログゲイン制御部５２は、ライブビュー表示処理を実行する。
ステップＳ３７において、アナログゲイン制御部５２は、操作部１９からライブビュー表示処理を終了させる信号を受信したか否かを判別する。
アナログゲイン制御部５２が当該信号を受信した場合、ステップＳ３７でＹＥＳと判別されて、画像記録用アナログゲイン調整処理は終了される。一方、アナログゲイン制御部５２が当該信号を受信しない場合、ステップＳ３７でＮＯと判別されて、ステップＳ３８に処理が移行される。

ステップＳ３８において、アナログゲイン制御部５２は、撮影指示がなされたか否か、即ち、撮影動作モードが、静止画記録モード又は動画記録モードであるか否かを判別する。静止画記録モード又は動画記録モードである場合、ステップＳ３８において、ＹＥＳであると判別されて、処理がステップＳ３９に移行される。
ステップＳ３９において、アナログゲイン制御部５２は、アナログゲインの調整を停止することにより、アナログゲインを上げる前の状態に戻す。その後、アナログゲイン制御部５２は、処理をステップＳ４０に移行させる。
ステップＳ４０において、露出制御部５５は、露出の再設定を行う。即ち、露出制御部５５は、ステップＳ３９で制御されたアナログゲインと、明るさと、に基づいて、絞り値及びシャッタ速度を再設定する。
例えば、図６に示すプログラム線図に示されているように、明るさが１３（ｌｖ）の場合、アナログゲインが３６（ｄＢ）のときは、シャッタ速度は１／３２０００（ｓ）であり、アナログゲインが０（ｄＢ）のときは、シャッタ速度は１／５００（ｓ）である。要するに、明るさが同じ場合、アナログゲインを下げる程、シャッタ速度は遅くなる。一方、絞り値は、最初に撮影条件決定部５１により決定されたものと同様である。

一方、ステップＳ３８において、撮影指示がなされたと判別されない場合、ステップＳ３８において、ＮＯであると判別されて、処理がステップＳ３２に戻される。
その結果、アナログゲイン制御部５２が、操作部１９からライブビュー表示処理を終了させる信号を受信するまで、即ち、ステップＳ３７においてＹＥＳと判別されるまで、ステップＳ３２〜Ｓ３８の処理（ステップＳ３８でＮＯと判別される場合）又はステップＳ３２〜Ｓ４１の処理（ステップＳ３８でＹＥＳと判別される場合）が繰り返し実行される。

ステップＳ４１において、撮影制御部５６は、ＡＦＥ４６から送信されたデータに基づいて撮影条件決定部５１により決定された、絞り値及びシャッタ速度をアナログブロック１１に供給し、アナログブロック１１から撮像画像のデータ（静止画像のデータ又は動画像のデータ）を受信する。その後、撮影制御部５６は、受信した撮像画像のデータを記憶部２２に記憶する。
ステップＳ４１の処理が終了すると、撮影制御部５６は、処理をステップＳ３２に戻す。
その結果、アナログゲイン制御部５２が、操作部１９からライブビュー表示処理を終了させる信号を受信するまで、即ち、ステップＳ３７においてＹＥＳと判別されるまで、ステップＳ３２〜Ｓ３８の処理（ステップＳ３８でＮＯと判別される場合）又はステップＳ３２〜Ｓ４１の処理（ステップＳ３８でＹＥＳと判別される場合）が繰り返し実行される。

以上、本発明の第２実施形態について説明した。
以上のような画像記録用アナログゲイン調整処理を実行する撮像装置１は、アナログブロック１１と、撮影条件決定部５１と、アナログゲイン制御部５２とを備える。
アナログブロック１１は、撮像素子４５の出力の増幅比であるアナログゲインに応じて消費電流が変化する。
撮影条件決定部５１は、被写体の明るさに応じてアナログゲインを含む撮影条件を決定する。
アナログゲイン制御部５２は、所定の撮影動作の待機中には、撮像装置１の状態に応じて、アナログブロック１１の消費電流を低減させるように、撮影条件決定部５１で決定されるアナログゲインを変化させる特定処理を行うと共に、当該所定の撮影動作時には、当該特定処理を停止させる。
従って、このような撮像装置１では、所定の撮影動作の待機中には、撮像装置１の状態に応じて、アナログゲインを変化させる特定処理を行うことにより、アナログブロック１１の消費電流の低減を可能とし、特に、撮像装置１の発熱量を減少させる制御や、電源部４８の電池寿命を長くさせる制御を行うことができる。その結果、撮像装置１による撮像画像の撮像量を増加させることができる。
しかしながら、この場合、撮像画像においてノイズが増加してしまう。そこで、所定の撮影動作時には、特定処理を停止させることにより、撮像画像におけるノイズが低減され、撮像画像の画質が劣化されないようにすることができる。

また、所定の撮影動作とは、記憶部２２への記憶用の撮影をし、その撮影により得られる撮像画像のデータを記憶部２２へ記憶するまでの動作である。
従って、撮像画像のデータが記憶される動作時には、特定処理を停止させることにより、撮像画像におけるノイズが低減され、撮像画像の画質が劣化されないようにすることができる。

なお、本発明は、上述の第１及び第２実施形態に限定されるものではなく、本発明の目的を達成できる範囲での変形、改良等は本発明に含まれるものである。

また、上述の第１及び第２実施形態では、本発明が適用される撮像装置１は、デジタルカメラを例として説明したが、特にこれに限定されない。
例えば、本発明は、撮像装置１に限らず、撮像記録機能を有する携帯電話機やスマートフォンに適用することができ、更に、撮像記録機能を有する電子機器一般に適用することができる。具体的には、例えば、本発明は、ノート型のパーソナルコンピュータ、プリンタ、テレビジョン受像機、ビデオカメラ、携帯型ナビゲーション装置、ポータブルゲーム機等に適用可能である。

上述した一連の処理は、ハードウェアにより実行させることもできるし、ソフトウェアにより実行させることもできる。
換言すると、図２及び図７の機能的構成は例示に過ぎず、特に限定されない。即ち、上述した一連の処理を全体として実行できる機能が撮像装置１に備えられていれば足り、この機能を実現するためにどのような機能ブロックを用いるのかは特に図２及び図７の例に限定されない。
また、１つの機能ブロックは、ハードウェア単体で構成してもよいし、ソフトウェア単体で構成してもよいし、それらの組み合わせで構成してもよい。

一連の処理をソフトウェアにより実行させる場合には、そのソフトウェアを構成するプログラムが、コンピュータ等にネットワークや記録媒体からインストールされる。
コンピュータは、専用のハードウェアに組み込まれているコンピュータであってもよい。また、コンピュータは、各種のプログラムをインストールすることで、各種の機能を実行することが可能なコンピュータ、例えば汎用のパーソナルコンピュータであってもよい。

このようなプログラムを含む記録媒体は、ユーザにプログラムを提供するために装置本体とは別に配布される図１のリムーバブルメディア３１により構成されるだけでなく、装置本体に予め組み込まれた状態でユーザに提供される記録媒体等で構成される。リムーバブルメディア３１は、例えば、磁気ディスク（フロッピディスクを含む）、光ディスク、又は光磁気ディスク等により構成される。光ディスクは、例えば、ＣＤ−ＲＯＭ（Ｃｏｍｐａｃｔ Ｄｉｓｋ−Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ），ＤＶＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ Ｄｉｓｋ）等により構成される。光磁気ディスクは、ＭＤ（Ｍｉｎｉ−Ｄｉｓｋ）等により構成される。また、装置本体に予め組み込まれた状態でユーザに提供される記録媒体は、例えば、プログラムが記録されている図１のＲＯＭ１５や、図１には図示せぬハードディスク等で構成される。

なお、本明細書において、記録媒体に記録されるプログラムを記述するステップは、その順序に沿って時系列的に行われる処理はもちろん、必ずしも時系列的に処理されなくとも、並列的或いは個別に実行される処理をも含むものである。
また、本明細書において、システムの用語は、複数の装置や複数の手段等より構成される全体的な装置を意味するものとする。

以上、本発明のいくつかの実施形態について説明したが、これらの実施形態は、例示に過ぎず、本発明の技術的範囲を限定するものではない。本発明はその他の様々な実施形態を取ることが可能であり、更に、本発明の要旨を逸脱しない範囲で、省略や置換等種々の変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、本明細書等に記載された発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。

以下に、本願の出願当初の特許請求の範囲に記載された発明を付記する。
［付記１］
撮像素子の出力の増幅比であるアナログゲインに応じて消費電流が変化するアナログブロックを有する撮像装置であって、
被写体の明るさに応じて前記アナログゲインを含む撮影条件を決定する決定手段と、
前記撮像装置の状態に応じて、前記アナログブロックの消費電流を低減させるように、前記決定手段で決定される前記アナログゲインを変化させるアナログゲイン制御手段と、
を備えることを特徴とする撮像装置。
［付記２］
温度を測定する温度測定手段を更に備え、
前記アナログゲイン制御手段は、前記温度測定手段により測定された温度に応じて前記撮像素子のアナログゲインを変化させることを特徴とする付記１に記載の撮像装置。
［付記３］
前記撮像素子はアナログゲインが高くなるほど消費電流が低くなり、
前記アナログゲイン制御手段は、前記温度測定手段により測定された温度が高くなる程、前記撮像素子のアナログゲインを上げることを特徴とする付記２に記載の撮像装置。
［付記４］
前記温度測定手段は、当該撮像装置、撮像素子、又は電池の温度を測定し、
前記アナログゲイン制御手段は、前記温度測定手段により測定された温度に応じて前記撮像素子のアナログゲインを変化させることを特徴とする付記２に記載の撮像装置。
［付記５］
電池残量を測定する電池残量測定手段を更に備え、
前記アナログゲイン制御手段は、前記電池残量測定手段により測定された電池残量に応じて前記撮像素子のアナログゲインを変化させることを特徴とする付記１に記載の撮像装置。
［付記６］
前記アナログゲイン制御手段は、前記電池残量測定手段により測定された電池残量が少なくなる程、前記撮像素子のアナログゲインを上げることを特徴とする付記５に記載の撮像装置。
［付記７］
前記アナログゲイン制御手段は、前記撮像素子のアナログゲインを上げることによって増加するノイズ量と低減する消費電流との関係に応じて、アナログゲインを制御することを特徴とする付記１、２、又は５のいずれかに記載の撮像装置。
［付記８］
前記アナログゲイン制御手段により制御される前記撮像素子のアナログゲインの上限を設定する設定手段を更に備えることを特徴とする付記７に記載の撮像装置。
［付記９］
前記アナログゲイン制御手段により制御される前記撮像素子のアナログゲインを上げることによって発生するノイズのサンプルを表示部に表示する表示制御手段を更に備えることを特徴とする付記８に記載の撮像装置。
［付記１０］
前記アナログゲイン制御手段により制御される前記撮像素子のアナログゲインを上げることによって変化するアナログブロックの電流から電池寿命を算出する算出手段と、
前記算出手段により算出された電池寿命を表示部に表示する表示制御手段を更に備えることを特徴とする付記８に記載の撮像装置。
［付記１１］
前記アナログゲイン制御手段により制御されたアナログゲインの変化に応じて露出設定を制御する露出制御手段を更に備えることを特徴とする付記１、２又は５のいずれかに記載の撮像装置。
［付記１２］
前記露出制御手段は、前記アナログゲイン制御手段により制御された前記撮像素子のアナログゲインに応じて露出制御用のプログラム線図を変更して露出設定を制御することを特徴とする付記１１に記載の撮像装置。
［付記１３］
前記アナログゲイン制御手段は、所定の撮影動作の待機中には、前記アナログブロックの消費電流を低減させるように、前記決定手段で決定される前記アナログゲインを変化させる特定処理を行うと共に、前記所定の撮影動作時には、前記特定処理を停止させることを特徴とする付記１に記載の撮像装置。
［付記１４］
前記所定の撮影動作とは、記憶媒体への記憶用の撮影をし、その撮影により得られる撮像画像のデータを前記記憶媒体へ記憶するまでの動作である、ことを特徴とする付記１３に記載の撮像装置。
［付記１５］
撮像素子の出力の増幅比であるアナログゲインに応じて消費電流が変化するアナログブロックを有する撮像装置の撮像方法であって、
被写体の明るさに応じて前記アナログゲインを含む撮影条件を決定する決定ステップと、
前記撮像装置の状態に応じて、前記アナログブロックの消費電流を低減させるように、前記決定ステップで決定される前記アナログゲインを変化させるアナログゲイン制御ステップと、
を含むことを特徴とする撮像方法。
［付記１６］
撮像素子の出力の増幅比であるアナログゲインに応じて消費電流が変化するアナログブロックを有する撮像装置を制御するコンピュータを、
被写体の明るさに応じて前記アナログゲインを含む撮影条件を決定する決定手段、
前記撮像装置の状態に応じて、前記アナログブロックの消費電流を低減させるように、前記決定手段で決定される前記アナログゲインを変化させるアナログゲイン制御手段、
として機能させることを特徴とするプログラム。

１・・・撮像装置，１１・・・アナログブロック，１２・・・信号処理部，１３・・・ＤＲＡＭ，１４・・・ＣＰＵ，１５・・・ＲＯＭ，１６・・・ＲＡＭ，１７・・・表示制御部，１８・・・表示部，１９・・・操作部，２０・・・通信部，２１・・・ドライブ，２２・・・記憶部，２３・・・温度測定部，２４・・・電池残量測定部，２５・・・ゲイン設定部，３１・・・リムーバブルメディア，４１・・・光学レンズ，４２・・・レンズ駆動機構，４３・・・絞り機構，４４・・・アクチュエータ，４５・・・撮像装置４６・・・ＡＦＥ，４７・・・ＴＧ，４８・・・電源部，５１・・・撮影条件決定部，５２・・・アナログゲイン制御部，５３・・・ゲイン設定制御部，５４・・・電池寿命算出部，５５・・・露出制御部，５６・・・撮影制御部

Claims (16)

1. 撮像素子の出力の増幅比であるアナログゲインに応じて消費電流が変化するアナログブロックを有する撮像装置であって、
   被写体の明るさに応じて前記アナログゲインを含む撮影条件を決定する決定手段と、
   前記撮像装置の状態に応じて、前記アナログブロックの消費電流を低減させるように、前記決定手段で決定される前記アナログゲインを変化させるアナログゲイン制御手段と、
   を備えることを特徴とする撮像装置。
2. 温度を測定する温度測定手段を更に備え、
   前記アナログゲイン制御手段は、前記温度測定手段により測定された温度に応じて前記撮像素子のアナログゲインを変化させることを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
3. 前記撮像素子はアナログゲインが高くなるほど消費電流が低くなり、
   前記アナログゲイン制御手段は、前記温度測定手段により測定された温度が高くなる程、前記撮像素子のアナログゲインを上げることを特徴とする請求項２に記載の撮像装置。
4. 前記温度測定手段は、当該撮像装置、撮像素子、又は電池の温度を測定し、
   前記アナログゲイン制御手段は、前記温度測定手段により測定された温度に応じて前記撮像素子のアナログゲインを変化させることを特徴とする請求項２に記載の撮像装置。
5. 電池残量を測定する電池残量測定手段を更に備え、
   前記アナログゲイン制御手段は、前記電池残量測定手段により測定された電池残量に応じて前記撮像素子のアナログゲインを変化させることを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
6. 前記アナログゲイン制御手段は、前記電池残量測定手段により測定された電池残量が少なくなる程、前記撮像素子のアナログゲインを上げることを特徴とする請求項５に記載の撮像装置。
7. 前記アナログゲイン制御手段は、前記撮像素子のアナログゲインを上げることによって増加するノイズ量と低減する消費電流との関係に応じて、アナログゲインを制御することを特徴とする請求項１、２、又は５のいずれかに記載の撮像装置。
8. 前記アナログゲイン制御手段により制御される前記撮像素子のアナログゲインの上限を設定する設定手段を更に備えることを特徴とする請求項７に記載の撮像装置。
9. 前記アナログゲイン制御手段により制御される前記撮像素子のアナログゲインを上げることによって発生するノイズのサンプルを表示部に表示する表示制御手段を更に備えることを特徴とする請求項８に記載の撮像装置。
10. 前記アナログゲイン制御手段により制御される前記撮像素子のアナログゲインを上げることによって変化するアナログブロックの電流から電池寿命を算出する算出手段と、
    前記算出手段により算出された電池寿命を表示部に表示する表示制御手段を更に備えることを特徴とする請求項８に記載の撮像装置。
11. 前記アナログゲイン制御手段により制御されたアナログゲインの変化に応じて露出設定を制御する露出制御手段を更に備えることを特徴とする請求項１、２又は５のいずれかに記載の撮像装置。
12. 前記露出制御手段は、前記アナログゲイン制御手段により制御された前記撮像素子のアナログゲインに応じて露出制御用のプログラム線図を変更して露出設定を制御することを特徴とする請求項１１に記載の撮像装置。
13. 前記アナログゲイン制御手段は、所定の撮影動作の待機中には、前記アナログブロックの消費電流を低減させるように、前記決定手段で決定される前記アナログゲインを変化させる特定処理を行うと共に、前記所定の撮影動作時には、前記特定処理を停止させることを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
14. 前記所定の撮影動作とは、記憶媒体への記憶用の撮影をし、その撮影により得られる撮像画像のデータを前記記憶媒体へ記憶するまでの動作である、ことを特徴とする請求項１３に記載の撮像装置。
15. 撮像素子の出力の増幅比であるアナログゲインに応じて消費電流が変化するアナログブロックを有する撮像装置の撮像方法であって、
    被写体の明るさに応じて前記アナログゲインを含む撮影条件を決定する決定ステップと、
    前記撮像装置の状態に応じて、前記アナログブロックの消費電流を低減させるように、前記決定ステップで決定される前記アナログゲインを変化させるアナログゲイン制御ステップと、
    を含むことを特徴とする撮像方法。
16. 撮像素子の出力の増幅比であるアナログゲインに応じて消費電流が変化するアナログブロックを有する撮像装置を制御するコンピュータを、
    被写体の明るさに応じて前記アナログゲインを含む撮影条件を決定する決定手段、
    前記撮像装置の状態に応じて、前記アナログブロックの消費電流を低減させるように、前記決定手段で決定される前記アナログゲインを変化させるアナログゲイン制御手段、
    として機能させることを特徴とするプログラム。

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