JP2013195479A - 光偏向器、光走査装置、画像形成装置及び画像投影装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】光を反射する反射手段の位置を検出することができる光偏向器を提供すること。
【解決手段】反射手段を用いて光を反射する光偏向器であって、前記反射手段を回転させる偏向手段と、前記反射手段の位置を検出する検出手段と、前記偏向手段と前記検出手段の位置を固定する固定手段とを有し、前記検出手段は、一端は前記固定手段に固定され、他端は前記反射手段に連結されている連結部材と、前記連結部材の表面に配置され、該反射手段の回転位置を検出する位置検出部材と、を含み、前記連結部材は、前記反射手段の回転に伴い変形し、前記位置検出部材は、前記連結部材の変形に伴って変形することにより、前記反射手段の前記回転位置を検出する、ことを特徴とする。
【選択図】図1
【解決手段】反射手段を用いて光を反射する光偏向器であって、前記反射手段を回転させる偏向手段と、前記反射手段の位置を検出する検出手段と、前記偏向手段と前記検出手段の位置を固定する固定手段とを有し、前記検出手段は、一端は前記固定手段に固定され、他端は前記反射手段に連結されている連結部材と、前記連結部材の表面に配置され、該反射手段の回転位置を検出する位置検出部材と、を含み、前記連結部材は、前記反射手段の回転に伴い変形し、前記位置検出部材は、前記連結部材の変形に伴って変形することにより、前記反射手段の前記回転位置を検出する、ことを特徴とする。
【選択図】図1
Description
本発明は、光偏向器に関する。
光(光ビーム)の進行方向を偏向する装置には、圧電素子(ピエゾ素子)を用いて光を反射するミラー(反射手段)を移動(回転)する光偏向器がある。
圧電素子を用いた光偏向器は、小型化が容易である。また、印加する電圧を制御することにより高応答性を実現することができる。
特許文献1では、ミラー部(反射手段)の駆動状態を検出して制御するために、一端がトーションバー(支持部材)に連結され、他端が支持部(固定部材)に連結された第1の圧電アクチュエータと、一端がトーションバーに連結され、他端がミラー部に連結された第2の圧電アクチュエータとを備える光偏向器に関する技術を開示している。
しかしながら、特許文献1の技術では、第1の圧電アクチュエータ及び第2の圧電アクチュエータがトーションバーに連結されているため、第1の圧電アクチュエータの圧電駆動の影響を受けて、第2の圧電アクチュエータがミラー部の回転角度を検出できない場合があった。
本発明は、光を反射する反射手段の位置を検出することができる光偏向器を提供することを課題とする。
本発明の一の態様によれば、反射手段を用いて光を反射する光偏向器であって、前記反射手段を回転させる偏向手段と、前記反射手段の位置を検出する検出手段と、前記偏向手段と前記検出手段の位置を固定する固定手段とを有し、前記検出手段は、一端は前記固定手段に固定され、他端は前記反射手段に連結されている連結部材と、前記連結部材の表面に配置され、該反射手段の回転位置を検出する位置検出部材と、を含み、前記連結部材は、前記反射手段の回転に伴い変形し、前記位置検出部材は、前記連結部材の変形に伴って変形することにより、前記反射手段の前記回転位置を検出する、ことを特徴とする光偏向器が提供される。
本発明の光偏向器によれば、光を反射する反射手段の位置を検出することができる。
添付の図面を参照しながら、本発明の限定的でない例示の実施形態について、光ビーム(光)の進行方向を偏向する光偏向器を用いて、説明する。本発明は、光偏向器以外でも、偏向ミラー、光走査装置、光書込ユニット、画像形成装置、画像投影装置、被写機、プリンタ、スキャナ、ファックス、バーコードスキャナ、車載用レーザレーダ、波長可変レーザ及びメディカル用レーザ、並びに、その他圧電効果を用いて光の進行方向を変更するものであれば、いずれのものにも用いることができる。
なお、添付の全図面の中の記載で、同一又は対応する部材又は部品には、同一又は対応する参照符号を付し、重複する説明を省略する。また、図面は、部材もしくは部品間の相対比を示すことを目的としない。したがって、具体的な寸法は、以下の限定的でない実施形態に照らし、当業者により決定することができる。
(光偏向器の構成)
図1を用いて、本発明の実施形態に係る光偏向器100の概略構成を説明する。
図1を用いて、本発明の実施形態に係る光偏向器100の概略構成を説明する。
図1に示すように、光偏向器100は、光偏向器100の動作を制御する制御手段11と、光ビームを反射する反射手段12と、反射手段12を回転する偏向手段13と、回転した反射手段12の位置を検出する検出手段14と、偏向手段13と検出手段14の位置を固定する固定手段15とを有する。
光偏向器100は、本実施形態では、光ビームを反射する反射手段12を回転することによって、光ビームの進行方向を変更(以下、「偏向」という)する。また、光偏向器100は、偏向手段13を用いて、反射手段12を回転する。更に、光偏向器100は、制御手段11を用いて、偏向手段13(後述する駆動部材13M)に印加する電圧を制御する。このとき、偏向手段13は、圧電効果を用いて、印加された電界強度に対応して、偏向手段13(後述する支持部材13S)を弾性変形する。これにより、光偏向器100は、支持部材13Sに連結された反射手段12を回転することができる。
なお、圧電効果(piezo electric effect)とは、物質に力(圧力)を負荷すると負荷した力に対応した分極が現れ、電圧を印加すると物質自体が電界強度に対応して変形する効果をいう。
制御手段11は、光偏向器100の各構成に動作を指示し、各構成の動作を制御する手段である。制御手段11は、本実施形態では、偏向手段13(駆動部材13M)に印加する電圧を制御する。これにより、制御手段11は、反射手段12の回転を制御することができる。
反射手段12は、光ビームを反射することによって、光ビームの方向を変更する手段である。反射手段12は、本実施形態では、光ビームを反射するミラー部(例えば図2の12M)を有する。ここで、ミラー部のミラーは、シリコン基板の表面に金属(アルミニウムなど)の薄膜を形成することによって製造してもよい。
なお、反射手段12のミラー部は、光ビームを反射するものをミラーに限定するものではない。すなわち、本発明に用いる反射手段12は、ミラー以外の光ビームを反射することができるものを用いることができる。
偏向手段13は、反射手段12を回転する手段である。偏向手段13は、本実施形態では、反射手段12を支持する支持部材13Sと、支持部材13Sを弾性変形する駆動部材13Mとを有する。
支持部材13Sは、一端は固定手段15に固定され、他端は反射手段12を支持する部材である。支持部材13Sは、本実施形態では、複数の梁部13Saと複数の折返し部13Sbとからなる蛇行形状(例えば図2の13S)を有する。
ここで、梁部13Sa及び折返し部13Sbは、6個以上であることが好ましい。また、梁部13Sa及び折返し部13Sbは、10個であることが更に好ましい。更に、梁部13Sa及び折返し部13Sbは、梁部13Saの両端の振幅量を同じにするために、偶数個であることが好ましい。
駆動部材13Mは、支持部材13Sを弾性変形する部材である。駆動部材13Mは、支持部材13Sを弾性変形することによって、支持部材13Sで支持された反射手段12を回転することができる。駆動部材13Mは、本実施形態では、第2の圧電部材13Meを用いる。
第2の圧電部材13Meは、複数の梁部13Sa(支持部材13S)の長手方向に直交する方向の表面に夫々配置されている。ここで、第2の圧電部材13Meは、モノモルフ構造又はバイモルフ構造とすることができる。これにより、第2の圧電部材13Meは、圧電効果による駆動力を維持しつつ、圧電効果による圧電部材の変形を用いて、支持部材13Sの弾性変形の変形量を増加することができる。
支持部材13S及び駆動部材13Mの動作の詳細は、後述する(光偏向器の偏向する動作)で説明する。
なお、モノモルフ(ユニモルフ)構造とは、薄手の圧電部材(第2の圧電部材13Me)を被変形部材(支持部材13S)の表面に配置した構造である。モノモルフ構造は、圧電部材が伸縮することによって、被変形部材に反りを発生させることができる。バイモルフ構造とは、2枚以上の圧電素子(第2の圧電部材13Me)を被変形部材(支持部材13S)の表面に積層して配置した構造である。バイモルフ構造は、圧電素子の夫々に異なる電界を印加することで、圧電素子自体に反りを発生させることができる。このため、バイモルフ構造は、モノモルフ構造と比較して、大きな変位を得ることができる。
検出手段14は、反射手段12の位置を検出する手段である。検出手段14は、本実施形態では、反射手段12に連結された連結部材14S(例えば図4)と、反射手段12の回転位置を検出する位置検出部材14Pとを有する。
連結部材14Sは、本実施形態では、反射手段12に連結される片持梁形状の部材を用いる。ここで、連結部材14Sは、一端を固定手段15に固定され、他端を反射手段12に連結されている。
ここで、支持部材14Sの他端の位置は、本実施形態では、反射手段12の副走査回転軸R2から、支持部材14Sの一端から離間する方向に、所定の距離(例えば図4のOS)を離間した位置である。
位置検出部材14Pは、偏向手段13によって回転された反射手段12の位置を検出する部材である。位置検出手段14Pは、本実施形態では、圧電部材(例えば図4の圧電部材14Pe)を用いることができる。位置検出部材14Pは、回転した反射手段12の回転位置に対応する圧電部材の変形(弾性変形)に基づいて、反射手段12の位置を検出することができる。
連結部材14S及び位置検出部材14Pの動作の詳細は、後述する(光偏向器の偏向を検出する動作)で説明する。
なお、本発明に係る光偏向器100では、反射手段12の位置を検出するものは、圧電部材(圧電部材14Pe)に限定されるものではない。すなわち、本発明に係る光偏向器100は、ピエゾ抵抗素子、歪みゲージ又はその他圧電部材(圧電素子)以外の被変形部材(連結部材14S)の変形量を検出することができるセンサを用いることができる。
固定手段15は、偏向手段13と検出手段14の位置(相対的な位置関係)を固定する手段である。固定手段15は、本実施形態では、偏向手段13及び検出手段14を囲繞する枠部(例えば図2の15)を用いることができる。また、固定手段15は、本実施形態では、偏向手段13の支持部材13Sの一端及び検出手段14の連結部材14Sの一端を保持(固定)する。
なお、上記の光偏向器100の各構成は、MEMS(Micro Electro Mechanical Systems)製造プロセス又は半導体製造プロセスなどを用いて、反射手段12、偏向手段13、検出手段14及び固定手段15を一体で成形(加工)してもよい。
(光偏向器の偏向する動作)
図2及び図3を用いて、本発明の実施形態に係る光偏向器100が光ビームを偏向する動作を説明する。
図2及び図3を用いて、本発明の実施形態に係る光偏向器100が光ビームを偏向する動作を説明する。
なお、以下の説明においては、偏向手段13の駆動部材13Mを用いて、光偏向器100が1軸方向(例えば副走査方向、図2の副走査回転軸R2の回転方向)に回転する実施形態を説明する。しかしながら、本発明に係る光偏向器の光の偏向方向は、1軸方向に限定されるものではない。すなわち、本発明を用いることができる光偏向器は、以後に示す反射手段12の回転方向と異なる方向(例えば主走査方向、図2の主走査回転軸R1の回転方向)に反射手段12を回転することができる第2の駆動部材を更に含んでもよい。
また、本実施形態では、光偏向器100の2軸走査の構成における副走査(低速)側に本発明を適用した実施の形態を説明する。このため、反射手段12と主走査(高速側)の構造部分を便宜的に一つの可動部M1(図2、図3(a))として説明する。
図2に示すように、光偏向器100は、光ビームを反射する反射手段12として、本実施形態では、ミラー部12Mを備える。ここで、ミラー部12Mの両端(図中のミラー部12Mの重心を通る主走査回転軸R1方向の両端部)は、支持バネ(トーションバースプリング)Sで支持されている。また、光偏向器100は、ミラー部12Mを支持している端部に対して反対側の支持バネSの端部を、(主走査用)駆動梁部Mを介して、可動部M1に連結している。更に、光偏向器100は、蛇行形状の支持部材13S(図3(a))を介して、可動部M1を固定手段15(固定ベース)に連結している。
光偏向器100は、副走査方向に対応する偏向動作として、副走査回転軸R2を回転軸にミラー部12Mを回転する。具体的には、光偏向器100は、第2の圧電部材13Meに電圧を印加して変形することによって、複数の梁部13Sa(支持部材13S)を交互に反対方向に反り変形する。このとき、光偏向器100は、蛇行形状の支持部材13Sを弾性変形する。これにより、光偏向器100は、副走査回転軸R2を回転軸に(副走査回転軸R2に垂直方向の変位を相殺しながら)、ミラー部12Mを回転することができる。
図3(a)及び(b)に、光偏向器100がミラー部12Mを回転した一例を示す。
図3(a)及び(b)に示すように、光偏向器100は、複数の梁部13Saを夫々変形して、可動部M1(ミラー部12M)を回転方向Mrで回転する。すなわち、光偏向器100は、1個の梁部を変形して可動部M1(反射手段12)を回転する場合と比較して、回転できる角度Mrを増加することができる。
光偏向器100は、本実施形態では、反射手段12(ミラー部12M)を非共振動作で回転する。具体的には、光偏向器100は、光偏向器100の固有の共振周波数より低い領域の周波数で、ミラー部12Mの回転(偏向)動作を行う。これにより、光偏向器100は、光偏向器100の固有の共振周波数に限定されることなく、偏向方向及び動作(例えば制御手段11が第2の圧電部材13Meに入力する駆動信号)に対応した回転動作を行うことができる。
なお、光偏向器100は、共振動作で、反射手段12(ミラー部12M)を回転してもよい。
ここで、共振動作とは、デバイス(光偏向器100)の固有の共振周波数を利用することによって、大きな振幅(振幅角)を得る動作である。共振動作では、正弦波の波形で動作をすることができる。
非共振動作(ラスタスキャン)とは、デバイス(光偏向器100)の固有の共振周波数より低い領域の周波数で、所望の振幅(振幅角)を得る動作である。非共振動作は、共振動作と比較して、大きな振幅を得にくい。また、非共振動作は、駆動周波数及び波形に限定されない。すなわち、非共振動作は、任意の周波数及び波形で偏向動作をすることができる。
(光偏向器の偏向を検出する動作)
図4及び図5を用いて、本発明の実施形態に係る光偏向器100が偏向(反射手段12の回転位置)を検出する動作を説明する。
図4及び図5を用いて、本発明の実施形態に係る光偏向器100が偏向(反射手段12の回転位置)を検出する動作を説明する。
図4に示すように、光偏向器100は、検出手段14として、圧電部材14Pe(位置検出部材14P)を用いる。光偏向器100は、回転されたミラー部12M(反射手段12)の回転位置に対応する連結部材14Sの変形(弾性変形)を圧電部材14Peで検出することによって、ミラー部12Mの回転位置を検出する。
具体的には、光偏向器100は、反射手段12を支持する片持梁形状の連結部材14Sの長手方向に直交する方向の表面に配置された圧電部材14Pe(図5(a))の変形量を検出する。
より具体的には、光偏向器100は、圧電部材14Peの変形に伴って発生する起電力(圧電起電力)を検出する。これにより、光偏向器100は、検出した起電力に基づいて、連結部材14Sの変形量を検出(算出)することができる。次いで、光偏向器100は、検出した連結部材14Sの変形量に基づいて、ミラー部12Mの位置(回転位置)を検出(算出)することができる。
ここで、連結部材14Sの他端(可動部M1(反射手段12)と連結している端面)の位置は、反射手段12の副走査回転軸R2から、連結部材14Sの一端(固定手段15と連結している端面)から離間する方向に、所定の距離OSを離間した位置である。このため、光偏向器100は、他端の位置を副走査回転軸R2上とした場合と比較して、連結部材14Sの変形量を増加することができる。これにより、光偏向器100は、検出手段14の圧電部材14Peの変形量を増加することができ、検出手段14の検出感度(検出精度)を高めることができる。
また、光偏向器100は、連結部材14Sを長手方向に拡張することで、連結部材14Sのバネ定数を小さくすることができる。これにより、光偏向器100は、偏向手段13の偏向動作(駆動)に影響する連結部材14Sの反力を低減することができる。
ここで、所定の距離OSとは、連結部材14S、圧電部材14Pe及び光偏向器100の仕様、並びに、光偏向器100の動作状態及び使用状態に対応した距離とすることができる。また、所定の距離OSを、実験又は数値計算等で予め定められる値とすることができる。
なお、本発明に係る光偏向器100は、予め記憶してある連結部材14Sの変形量と反射手段12の回転位置との相関図(又は、表、数式など)を用いて、反射手段12の回転位置を算出してもよい。
図5(b)に示すように、光偏向器100は、連結部材14S(検出手段14)の長手方向に直交する方向の大きさ(以下、「厚さ」という。)D2を、支持部材13S(偏向手段13)の長手方向に直交する方向の厚さDより小さくしてもよい。
これにより、光偏向器100は、連結部材14Sの厚さD1を支持部材13Sの厚さDと同じ大きさにした場合(図5(a))と比較して、連結部材14Sの変形(反力)が偏向手段12の駆動に与える影響を低減することができる。また、光偏向器100は、連結部材14Sの変形(反力)の影響を低減することができるので、圧電部材14Pe(検出手段14)の検出精度(検出感度)を向上することができる。更に、光偏向器100は、連結部材14Sを経由せずに、支持部材13Sを用いて反射手段12を支持しているので、連結部材14Sの厚さを小さくしても、反射手段12を支持することができる。すなわち、光偏向器100は、連結部材14Sの厚さを小さくしても、支持部材13Sを用いて反射手段12の平面精度を確保することができる。
以上により、本発明の実施形態に係る光偏向器100は、一端が固定手段15に固定され、他端が反射手段12に連結された検出手段14を用いて、反射手段12の位置を検出することができるので、光ビームを偏向した方向を検出することができる。また、光偏向器100は、連結部材14S(検出手段14)の厚さを小さくすることができるので、圧電部材14Pe(検出手段14)の検出精度を向上することができる。更に、光偏向器100は、支持部材13Sを用いて反射手段12を支持することができるので、支持される反射手段12の平面精度を向上することができる。
また、本発明の実施形態に係る光偏向器100は、複数の梁部13Saを夫々変形して反射手段12を回転することができるので、複数の梁部13Saの夫々の変形を累積して回転することができ、反射手段12を回転できる角度Mrを増加することができる。すなわち、光偏向器100は、偏向することができる角度を増加することができる。また、光偏向器100は、偏向することができる角度を増加することができるので、光偏向器100の小型化及び応答性の向上を実現することができる。
更に、本発明の実施形態に係る光偏向器100は、連結部材14Sの他端の位置を副走査回転軸R2から離間した位置とすることで、他端の位置を副走査回転軸R2上とした場合と比較して、連結部材14Sの変形量を増加することができる。これにより、光偏向器100は、検出手段14(圧電部材14Pe)の検出感度(検出精度)を高めることができる。また、光偏向器100は、反射手段12等を一体で成形することができるので、製造が容易であり、生産性の向上及びコストの低減について、従来技術と比較して有利な効果を有する。
本発明に係る光偏向器を有する実施例を用いて、本発明を説明する。
(実施例1)
本発明の実施例1に係る光偏向器100Eを用いて、本発明を説明する。
本発明の実施例1に係る光偏向器100Eを用いて、本発明を説明する。
(光偏向器の構成)
図1に、本実施例に係る光偏向器100Eの概略構成を示す。本実施例に係る光偏向器100Eの構成は、実施形態に係る光偏向器100の構成と基本的に同様のため、異なる部分のみを説明する。
図1に、本実施例に係る光偏向器100Eの概略構成を示す。本実施例に係る光偏向器100Eの構成は、実施形態に係る光偏向器100の構成と基本的に同様のため、異なる部分のみを説明する。
図1に示すように、本実施例に係る光偏向器100Eは、反射手段12を回転する駆動部材13M(偏向手段13)の第2の圧電部材13Meと、回転した反射手段12の回転位置を検出する位置検出部材14P(検出手段14)の圧電部材14Peと、を含む。
ここで、第2の圧電部材13Meの構造及び製造方法を、図6を用いて説明する。なお、圧電部材14Peの構造及び製造方法は、第2の圧電部材13Meの構造及び製造方法と基本的に同様のため、説明を省略する。
図6(a)及び図6(b)に示すように、本実施例に係る光偏向器100Eは、支持梁(支持部材13S)の片面に、平板形状のユニモルフ構造(又はバイモルフ構造)の圧電材料(第2の圧電部材13Me)を積層している。以下に、具体的に説明する。
本実施例に係る光偏向器100Eの第2の圧電部材13Me(偏向手段13)は、支持部材13S(例えばシリコン部材)の長手方向に直交する方向の表面に配置される。更に具体的には、第2の圧電部材13Meは、接着層13P及び下部電極13Edと上部電極13Euとの間隙に配置される。
なお、接着層13Pの材料は、チタン(Ti)を用いることができる。上部電極13Eu及び下部電極13Edの材料は、白金(Pt)を用いることができる。第2の圧電部材13Meの圧電材料は、チタン酸ジルコン酸鉛(PZT)を用いることができる。ここで、接着層13P等の材料は、上記材料に限定されるものではない。
光偏向器100Eの第2の圧電部材13Me等は、スパッタにより接着層13P等を成膜して積層し、必要な部分だけが残るようにエッチング加工することができる。
図6(a)及び図6(c)に示すように、ランド部13Ld、13Luから配線を引き出し、上部電極13Euと下部電極13Edとの間隙に電圧を印加することができる。これにより、光偏向器100Eは、上部電極13Euと下部電極13Edとの間隙に配置された第2の圧電部材13Meに電界を印加することができる。
第2の圧電部材13Meは、圧電効果(圧電特性)によって、印加された電界強度に対応して伸縮する。このとき、第2の圧電部材13Meは、固定している支持梁(支持部材13S)を伸縮(反り変形)する。このため、光偏向器100Eは、支持梁の反り変形に対応して、反射手段12を移動(回転)することができる。
(光偏向器の偏向する動作)及び(光偏向器の偏向を検出する動作)
本発明の実施例1に係る光偏向器100Eが光ビームを偏向する動作及び偏向(反射手段12の回転位置)を検出する動作は、実施形態に係る光偏向器100の動作と同様のため、説明を省略する。
本発明の実施例1に係る光偏向器100Eが光ビームを偏向する動作及び偏向(反射手段12の回転位置)を検出する動作は、実施形態に係る光偏向器100の動作と同様のため、説明を省略する。
以上により、本発明の実施例1に係る光偏向器100Eは、実施形態に係る光偏向器100と同様の効果を得ることができる。
(実施例2)
本発明の実施例2に係る光偏向器200を用いて、本発明を説明する。
本発明の実施例2に係る光偏向器200を用いて、本発明を説明する。
(光偏向器の構成)
図1に、本実施例に係る光偏向器200の概略構成を示す。本実施例に係る光偏向器200の構成は、実施形態に係る光偏向器100の構成と基本的に同様のため、異なる部分のみを説明する。
図1に、本実施例に係る光偏向器200の概略構成を示す。本実施例に係る光偏向器200の構成は、実施形態に係る光偏向器100の構成と基本的に同様のため、異なる部分のみを説明する。
図1に示すように、本実施例に係る光偏向器200は、回転した反射手段12の位置を検出する検出手段14として、位置検出部材14Pを含む。位置検出部材14Pは、本実施例では、ピエゾ抵抗素子を用いる。
ここで、ピエゾ抵抗素子とは、ピエゾ抵抗効果(機械的応力によって金属や半導体の抵抗値が変化する効果)を用いて、物体に作用する応力を抵抗値の変化から測定する素子である。
(光偏向器の偏向する動作)
本発明の実施例2に係る光偏向器200が光ビームを偏向する動作は、実施形態に係る光偏向器100の動作と同様のため、説明を省略する。
本発明の実施例2に係る光偏向器200が光ビームを偏向する動作は、実施形態に係る光偏向器100の動作と同様のため、説明を省略する。
(光偏向器の偏向を検出する動作)
図7及び図8を用いて、本発明の実施例2に係る光偏向器200が偏向(反射手段12の回転位置)を検出する動作を説明する。
図7及び図8を用いて、本発明の実施例2に係る光偏向器200が偏向(反射手段12の回転位置)を検出する動作を説明する。
図7及び図8に示すように、本実施例に係る光偏向器200は、回転されたミラー部12M(反射手段12)の回転位置に対応するピエゾ抵抗素子14Pr(検出手段14)の変形(作用する応力)に基づいて、偏向方向(ミラー部12Mの回転位置)を検出する。
具体的には、光偏向器200(検出手段14)は、反射手段12に連結された片持梁形状の連結部材14Sの他端の変形量を検出する。次いで、光偏向器200は、検出した連結部材14Sの他端の変形量に基づいて、ミラー部12Mの回転位置(偏向方向)を検出する。
より具体的には、光偏向器200は、ピエゾ抵抗素子14Prの曲げ変形に対応して変化するピエゾ抵抗素子14Prの抵抗値の変化量を検出する。これにより、光偏向器200は、検出した抵抗値(変化量)に基づいて、連結部材14Sの変形量を検出することができる。次いで、光偏向器200は、検出した連結部材14Sの変形量に基づいて、ミラー部12Mの回転位置(偏向方向)を検出(算出)することができる。
なお、光偏向器200は、ホイーストン・ブリッジ(Wheatstone Bridge)回路などを用いて、ピエゾ抵抗素子14Prの抵抗値の変化量を出力電気信号から算出することができる。また、光偏向器200は、ブリッジ回路などに流れる電流値の変化を検出することで、ピエゾ抵抗素子14Prの抵抗値の変化量を検出することができる。更に、光偏向器200は、予め記憶してあるピエゾ抵抗素子14Prの抵抗値の変化量(連結部材14Sの変形量)と反射手段12の回転位置との相関図(又は、表、数式など)を用いて、反射手段12の回転位置を算出してもよい。
以上により、本発明の実施例2に係る光偏向器200は、実施形態に係る光偏向器100と同様の効果を得ることができる。
(実施例3)
本発明の実施例3に係る光偏向器300を用いて、本発明を説明する。
本発明の実施例3に係る光偏向器300を用いて、本発明を説明する。
(光偏向器の構成)
図1に、本実施例に係る光偏向器300の概略構成を示す。本実施例に係る光偏向器300の構成は、実施例2に係る光偏向器200の構成と基本的に同様のため、異なる部分のみを説明する。
図1に、本実施例に係る光偏向器300の概略構成を示す。本実施例に係る光偏向器300の構成は、実施例2に係る光偏向器200の構成と基本的に同様のため、異なる部分のみを説明する。
図1に示すように、本実施例に係る光偏向器300は、回転した反射手段12の位置を検出する検出手段14として、位置検出部材14Pを含む。位置検出部材14Pは、本実施例では、ピエゾ抵抗素子を用いる。
本実施例に用いるピエゾ抵抗素子14Prの配置を、図9及び図10を用いて説明する。
図9及び図10に示すように、本実施例に係る光偏向器300は、ピエゾ抵抗素子14Pr(位置検出部材14P)を、反射手段12に連結された片持梁形状の連結部材14Sの長手方向に直交する方向の表面で、回転する反射手段12の副走査回転軸R2上(以下、本実施例において「連結部材14Sの他端」という。)に配置する。
(光偏向器の偏向する動作)
本発明の実施例3に係る光偏向器300が光ビームを偏向する動作は、実施例2に係る光偏向器200の動作と同様のため、説明を省略する。
本発明の実施例3に係る光偏向器300が光ビームを偏向する動作は、実施例2に係る光偏向器200の動作と同様のため、説明を省略する。
(光偏向器の偏向を検出する動作)
図10(a)及び図10(b)を用いて、本発明の実施例3に係る光偏向器300が偏向(反射手段12の回転位置)を検出する動作を説明する。
図10(a)及び図10(b)を用いて、本発明の実施例3に係る光偏向器300が偏向(反射手段12の回転位置)を検出する動作を説明する。
図10(a)及び図10(b)に示すように、本実施例に係る光偏向器300は、回転されたミラー部12M(反射手段12)の回転位置に対応するピエゾ抵抗素子14Pr(検出手段14)の変形(作用する応力)に基づいて、偏向方向(ミラー部12Mの回転位置)を検出する。
具体的には、光偏向器300(検出手段14)は、反射手段12に連結された片持梁形状の連結部材14Sの他端の変形量を検出する。次いで、光偏向器300は、検出した連結部材14Sの他端の変形量に基づいて、ミラー部12Mの回転位置を検出する。
より具体的には、光偏向器300は、ピエゾ抵抗素子14Prの捻り変形に対応して変化する抵抗値(変化量)を検出する。これにより、光偏向器300は、検出した抵抗値(変化量)に基づいて、連結部材14Sの変形量を検出する。次いで、光偏向器300は、検出した連結部材14Sの変形量に基づいて、ミラー部12Mの回転位置(偏向方向)を検出(算出)することができる。
以上により、本発明の実施例3に係る光偏向器300は、実施形態に係る光偏向器100と同様の効果を得ることができる。
(実施例4)
実施形態に係る光偏向器100、実施例1に係る光偏向器100E、実施例2に係る光偏向器200又は実施例3に係る光偏向器300を備える光走査装置400(光書込ユニット)の実施例を用いて、本発明を説明する。
実施形態に係る光偏向器100、実施例1に係る光偏向器100E、実施例2に係る光偏向器200又は実施例3に係る光偏向器300を備える光走査装置400(光書込ユニット)の実施例を用いて、本発明を説明する。
ここで、光走査装置とは、光源から発せられた光ビームの進行方向を偏向し、偏向後の光ビームを走査光として出射(以下、「光走査」という。)する装置である。
なお、本発明の実施例4に係る光走査装置400は、画像形成装置、画像投影装置、被写機、プリンタ、スキャナ、ファックス、バーコードスキャナ、車載用レーザレーダ、波長可変レーザ及びメディカル用レーザ、並びに、その他圧電効果を用いて光の進行方向を変更し、進行方向を変更した光を用いて光を走査するものであれば、いずれのものにも用いることができる。
(光走査装置の構成)
図11を用いて、本発明の実施例4に係る光走査装置400の概略構成を説明する。なお、本実施例に係る光走査装置400の構成は、実施形態に係る光偏向器100等の構成を含む。このため、以下の光走査装置400の構成の説明では、実施形態に係る光偏向器100等の構成と異なる部分のみを説明する。
図11を用いて、本発明の実施例4に係る光走査装置400の概略構成を説明する。なお、本実施例に係る光走査装置400の構成は、実施形態に係る光偏向器100等の構成を含む。このため、以下の光走査装置400の構成の説明では、実施形態に係る光偏向器100等の構成と異なる部分のみを説明する。
図11に示すように、本実施例に係る光走査装置400は、実施形態に係る光偏向器100、実施例1に係る光偏向器100E、実施例2に係る光偏向器200又は実施例3に係る光偏向器300(以下、本実施例では「光偏向器401」という。)を備える。また、光走査装置400は、光を発する光源410と、偏向した光を被照射物(感光ドラム430のビーム走査面など)に照射する走査レンズ系420とを更に備える。
(光を走査する動作)
本発明の実施例4に係る光走査装置400が光ビームを走査する動作を、図11及び図12を用いて、説明する。
本発明の実施例4に係る光走査装置400が光ビームを走査する動作を、図11及び図12を用いて、説明する。
図11に示すように、先ず、光走査装置400は、光源410が発するレーザ光を、コリメータレンズ系411を介して、光偏向器401に入射する。
次に、光走査装置400は、光偏向器401を用いて、入射されたレーザ光を所望の方向に偏向する。
次いで、光走査装置400は、第1レンズ421及び第2レンズ422等(走査レンズ系420)を介して、光偏向器401によって偏向された光を被照射物430に照射する。
ここで、本実施例に係る光走査装置400は、制御手段11(不図示)を用いて、光走査する走査光の方向を制御する。
具体的には、図12に示すように、本実施例に係る光走査装置400は、制御手段11を用いて、光偏向器401の偏向手段13(不図示)を用いて、光偏向器401の偏向方向(偏向角)を制御する。また、光走査装置400は、光偏向器401の検出手段14(不図示)を用いて、光偏向器401の偏向方向を検出する。これにより、光走査装置400は、光走査する光の方向を制御することができる。
ここで、光偏向器401が光ビームを偏向する動作は、実施形態に係る光偏向器100等の動作と同様のため、説明を省略する。
(実施例5)
実施例4に係る光走査装置400を備える画像形成装置500の実施例を用いて、本発明を説明する。
実施例4に係る光走査装置400を備える画像形成装置500の実施例を用いて、本発明を説明する。
ここで、画像形成装置とは、本実施例では、感光体ドラムの表面上にトナー像を現像し、現像したトナー像を記録媒体の表面に転写することによって、記録媒体上に画像を形成する装置である。
なお、本発明に係る画像形成装置500は、被写機、プリンタ、スキャナ、ファックス、及び、その他圧電効果を用いて光を走査し、走査した光を用いて画像を形成するものであれば、いずれのものにも用いることができる。
(画像形成装置の構成)
図13を用いて、本発明の実施例5に係る画像形成装置500の概略構成を説明する。なお、本実施例に係る画像形成装置500の構成は、実施例4に係る光走査装置400の構成を含む。このため、以下の画像形成装置500の構成の説明では、実施例4に係る光走査装置400の構成と異なる部分のみを説明する。
図13を用いて、本発明の実施例5に係る画像形成装置500の概略構成を説明する。なお、本実施例に係る画像形成装置500の構成は、実施例4に係る光走査装置400の構成を含む。このため、以下の画像形成装置500の構成の説明では、実施例4に係る光走査装置400の構成と異なる部分のみを説明する。
図13に示すように、本実施例に係る画像形成装置500は、実施例4に係る光走査装置400(以下、本実施例では「光書込ユニット400」という。)を備える。ここで、光偏向器521は、その駆動のための集積回路524とともに回路基板525に実装した状態で成形してもよい。
また、画像形成装置500は、画像形成手段501として、光を走査される被走査面を有する感光体ドラム(像担持体)502と、感光体ドラム502の表面を帯電する帯電手段504と、感光体ドラム502の表面上にトナー像を現像する現像手段505と、感光体ドラム502表面上の現像されたトナー像を記録媒体507上に転写する転写手段506と、記録媒体507上の転写されたトナー像を定着する定着手段508と、転写後の感光体ドラム502の表面の残留トナーを除去するクリーニング手段509などを更に備える。
なお、本実施例に係る画像形成装置500は、感光体ドラム502に代えて、ベルト状の感光体を用いることができる。また、画像形成装置500は、トナー像を記録媒体以外の転写媒体に一旦転写し、この転写媒体を用いて、トナー像を記録媒体上に転写してもよい。
(画像を形成する動作)
本発明の実施例5に係る画像形成装置500が画像を形成する動作を、図13を用いて、説明する。
本発明の実施例5に係る画像形成装置500が画像を形成する動作を、図13を用いて、説明する。
図13に示すように、先ず、画像形成装置500は、光源駆動手段526を用いて、制御手段11(不図示)から入力された記録信号に基づいて、光源520が発するレーザ光を変調する。次いで、画像形成装置500は、光源520を用いて、変調された1本又は複数本のレーザ光を結像光学系522に照射する。
次に、画像形成装置500は、結像光学系522を用いて、光偏向器521(ミラー基板のミラー面)に変調されたレーザ光を結像する。このとき、画像形成装置500は、光偏向器521を用いて、結像されたレーザ光を偏向する。ここで、光偏向器521が光ビームを偏向する動作は、実施形態に係る光偏向器100等の動作と同様のため、説明を省略する。
次いで、画像形成装置500は、走査レンズ系523を用いて、偏向したレーザ光を感光体ドラム502の軸方向に走査し、その表面に偏向したレーザ光を結像する。このとき、感光体ドラム502は(図中のR5方向に)回転され、帯電手段504によってその表面を帯電される。このため、感光体ドラム502は、その表面上にレーザ光を走査されることによって、静電潜像を形成することができる。
その後、画像形成装置500は、現像手段505を用いて、形成された静電潜像をトナー像に顕像化(現像)する。次いで、画像形成装置500は、転写手段506を用いて、このトナー像を記録媒体507上に転写する。また、画像形成装置500は、定着手段508を用いて、記録媒体507上に転写されたトナー像を定着(固定)する。
更にその後、画像形成装置500は、クリーニング手段509を用いて、転写手段506の対向部を通過した感光体ドラムの表面上の残留トナーを除去する。
以上により、本発明の実施例5に係る画像形成装置500は、光偏向器521を用いて光走査することができるので、回転多面鏡を用いて光走査する場合と比較して、画像形成に要する消費電力を低減することができる。このため、画像形成装置500は、省電力化、小型化に有利な効果を有する。また、画像形成装置500は、光偏向器521を用いて光走査することができるので、回転多面鏡を用いて光走査する場合と比較して、ミラー基板の振動時の風切り音を小さくすることができる。このため、画像形成装置500は、静粛性の改善に有利な効果を有する。更に、画像形成装置500は、光偏向器521を用いて光走査することができるので、回転多面鏡を用いて光走査する場合と比較して、発熱量を低減することができる。このため、画像形成装置500は、小型化に有利な効果を有する。
(実施例6)
実施例4に係る光走査装置400を備える画像投影装置600の実施例を用いて、本発明を説明する。
実施例4に係る光走査装置400を備える画像投影装置600の実施例を用いて、本発明を説明する。
ここで、画像投影装置とは、本実施例では、投影対象物に画像(映像を含む)を投影する装置である。
なお、本発明に係る画像投影装置600は、投影装置、投射装置、プロジェクタ、及び、その他圧電効果を用いて光を走査し、走査した光を用いて画像を投影対象物に投影するものであれば、いずれのものにも用いることができる。
(画像投影装置の構成)
図14を用いて、本発明の実施例6に係る画像投影装置600の概略構成を説明する。なお、本実施例に係る画像投影装置600の構成は、実施例4に係る光走査装置400の構成を含む。このため、以下の画像投影装置600の構成の説明では、実施例4に係る光走査装置400の構成と異なる部分のみを説明する。
図14を用いて、本発明の実施例6に係る画像投影装置600の概略構成を説明する。なお、本実施例に係る画像投影装置600の構成は、実施例4に係る光走査装置400の構成を含む。このため、以下の画像投影装置600の構成の説明では、実施例4に係る光走査装置400の構成と異なる部分のみを説明する。
図14に示すように、本実施例に係る画像投影装置600は、実施例4に係る光走査装置400を備える。また、画像投影装置600は、投影する画像に関するデータを生成する画像生成手段601と、3つの波長のレーザ光を夫々照射する3つの光源602と、3つの波長のレーザ光を合成する合成手段603を更に備える。ここで、画像投影装置600は、本実施例では、合成手段603として、合成プリズム603pを用いる。
画像投影装置600は、本実施例では、3つの光源602から発したレーザ光を合成し、合成した光ビーム(以下、「合成光」という。)を光走査装置400に照射する。また、画像投影装置600は、合成光を光走査装置400で光走査しながら投影対象物610に照射することで、投影対象物上に画像を投影する。
(画像を投影する動作)
本発明の実施例6に係る画像投影装置600が画像を投影する動作を、図15を用いて、説明する。
本発明の実施例6に係る画像投影装置600が画像を投影する動作を、図15を用いて、説明する。
図15に示すように、先ず、画像投影装置600は、画像生成手段601(図14)を用いて、投影する画像に関するデータを生成する。具体的には、画像生成手段601は、異なる3つの波長のレーザ光に関するデータを生成する。
次に、画像投影装置600は、光源602を用いて、画像生成手段601が生成した3つの画像に関するデータに基づいて、3つの波長のレーザ光を夫々出射する。このとき、画像生成手段601は、異なる3つ波長のレーザ光を夫々出射する光源の出射端近傍に配置された集光レンズ601Lを用いて、レーザ光源からの発散光を略平行光にする集光する。また、画像投影装置600は、合成プリズム603を用いて、出射した3つの波長のレーザ光(平行光)を合成し、合成光を光走査装置400に照射する。
次いで、画像投影装置600は、光走査装置400を用いて、合成光を偏向する。また、画像投影装置600は、光走査装置400を用いて、偏向した合成光を投影対象物610(投影面)に照射(投影)する。ここで、光走査装置400の光偏向器が光ビームを偏向する動作は、実施形態に係る光偏向器100等の動作と同様のため、説明を省略する。
なお、画像投影装置600は、二次元の偏向方向に合成光を偏向する構成としてもよい。また、画像投影装置600は、直交した2つの方向に所定の角度(例えば10度)の振幅で共振振動して、画像を投影してもよい。更に、画像投影装置600は、一次元の光走査装置を二つ組み合わせて、二次元の光走査を行ってもよい。
また、画像投影装置600は、3つ波長のレーザ光の光源をそれぞれ反射角度可変ミラーによって走査し、任意のタイミングで強度変調し、投影面に二次元の画像情報を投影してもよい。また、画像投影装置600は、パルス幅若しくは振幅を変調して、強度変調してもよい。
以上により、本発明の実施例6に係る画像投影装置600は、光偏向器を用いて光走査することができるので、回転多面鏡を用いて光走査する場合と比較して、画像投影に要する消費電力を低減することができる。このため、画像投影装置600は、省電力化、小型化に有利な効果を有する。また、画像投影装置600は、光偏向器を用いて光走査することができるので、回転多面鏡を用いて光走査する場合と比較して、ミラー基板の振動時の風切り音を小さくすることができる。このため、画像投影装置600は、静粛性の改善に有利な効果を有する。更に、画像投影装置600は、光偏向器を用いて光走査することができるので、回転多面鏡を用いて光走査する場合と比較して、発熱量を低減することができる。このため、画像投影装置600は、小型化に有利な効果を有する。
以上により、本発明の好ましい実施形態及び実施例について説明したが、本発明は、上述した実施形態及び実施例に制限されるものではない。また、本発明は、添付の特許請求の範囲に照らし、種々に変形又は変更することが可能である。
100,100E,200,300:光偏向器
400 : 光走査装置(光書込ユニット)
500 : 画像形成装置
600 : 画像投影装置
11 : 制御手段
12 : 反射手段
13 : 偏向手段
13S: 支持部材
13Sa:梁部, 13Sb: 折返し部
13M: 駆動部材
14 : 検出手段
14S: 連結部材
14P: 位置検出部材
14Pe:圧電部材, 14Pr:ピエゾ抵抗素子
15 : 固定手段(固定ベース)
16、16m:光源
17 : 照射手段
18 : 画像形成手段
19 : 合成手段
OS : オフセット
400 : 光走査装置(光書込ユニット)
500 : 画像形成装置
600 : 画像投影装置
11 : 制御手段
12 : 反射手段
13 : 偏向手段
13S: 支持部材
13Sa:梁部, 13Sb: 折返し部
13M: 駆動部材
14 : 検出手段
14S: 連結部材
14P: 位置検出部材
14Pe:圧電部材, 14Pr:ピエゾ抵抗素子
15 : 固定手段(固定ベース)
16、16m:光源
17 : 照射手段
18 : 画像形成手段
19 : 合成手段
OS : オフセット
Claims (10)
- 反射手段を用いて光を反射する光偏向器であって、
前記反射手段を回転させる偏向手段と、
前記反射手段の位置を検出する検出手段と、
前記偏向手段と前記検出手段の位置を固定する固定手段と
を有し、
前記検出手段は、一端は前記固定手段に固定され、他端は前記反射手段に連結されている連結部材と、前記連結部材の表面に配置され、該反射手段の回転位置を検出する位置検出部材と、を含み、
前記連結部材は、前記反射手段の回転に伴い変形し、
前記位置検出部材は、前記連結部材の変形に伴って変形することにより、前記反射手段の前記回転位置を検出する、
ことを特徴とする光偏向器。 - 前記偏向手段は、一端は前記固定手段に固定され、他端は前記反射手段を支持する支持部材と、前記支持部材を弾性変形する駆動部材と、を含み、
前記支持部材は、複数の梁部と複数の折返し部とからなる蛇行形状を有し、
前記駆動部材は、前記蛇行形状を弾性変形することによって、前記反射手段を回転する、
ことを特徴とする、請求項1に記載の光偏向器。 - 前記連結部材の長手方向に直交する方向の大きさは、前記支持部材の長手方向に直交する方向の大きさより小さい、ことを特徴とする、請求項2に記載の光偏向器。
- 前記位置検出部材は、圧電部材又はピエゾ抵抗素子を含み、前記圧電部材の変形量又は前記ピエゾ抵抗素子の抵抗値を検出することによって、前記回転位置を検出する、ことを特徴とする、請求項1乃至請求項3のいずれか一項に記載の光偏向器。
- 前記連結部材の前記他端の位置は、回転する前記反射手段の回転軸上に位置し、
前記圧電部材又は前記ピエゾ抵抗素子は、前記他端に配置され、
前記位置検出部材は、前記反射手段の回転によって変形する前記圧電部材の捻り変形又は前記ピエゾ抵抗素子の捻り変形に対応する前記変形量又は前記抵抗値を検出する、
ことを特徴とする、請求項4に記載の光偏向器。 - 前記連結部材の前記他端の位置は、該連結部材の前記一端から離間する方向に、前記反射手段の回転軸から所定の距離を離間した位置であり、
前記圧電部材又は前記ピエゾ抵抗素子は、該連結部材の前記他端に配置され、
前記位置検出部材は、前記反射手段の回転によって変形する前記圧電部材の曲げ変形又は前記ピエゾ抵抗素子の曲げ変形に対応する前記変形量又は前記抵抗値を検出する、
ことを特徴とする、請求項4に記載の光偏向器。 - 前記偏向手段は、前記駆動部材が回転する前記反射手段の回転方向と異なる方向に該反射手段を回転する第2の駆動部材を更に含む、
ことを特徴とする、請求項1乃至請求項6のいずれか一項に記載の光偏向器。 - 請求項1乃至請求項7のいずれか一項に記載の光偏向器を有する光走査装置であって、
前記光を発する光源と、
前記光偏向器で偏向された前記光を所定の方向に照射する照射手段と
を更に備える、
ことを特徴とする光走査装置。 - 請求項1乃至請求項7のいずれか一項に記載の光偏向器を有する画像形成装置であって、
前記光を発する光源と、
前記光偏向器で偏向された前記光を用いて、画像を形成する画像形成手段と
を更に備える、
ことを特徴とする画像形成装置。 - 請求項1乃至請求項7のいずれか一項に記載の光偏向器を有する画像投影装置であって、
複数の光を発する複数の光源と、
前記複数の光源から発した前記複数の光を合成する合成手段と
を更に備え、
前記光偏向器は、合成された前記複数の光を偏向して投影する、
ことを特徴とする画像投影装置。
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JP2012059718A Pending JP2013195479A (ja) | 2012-03-16 | 2012-03-16 | 光偏向器、光走査装置、画像形成装置及び画像投影装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2013195479A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2015129801A (ja) * | 2014-01-06 | 2015-07-16 | 株式会社リコー | 光偏向装置、光走査装置、画像表示装置及び画像形成装置 |
US9448402B2 (en) | 2012-11-15 | 2016-09-20 | Ricoh Company, Ltd. | Optical deflection device and image forming apparatus |
JP2017207630A (ja) * | 2016-05-18 | 2017-11-24 | スタンレー電気株式会社 | 光偏向器 |
-
2012
- 2012-03-16 JP JP2012059718A patent/JP2013195479A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9448402B2 (en) | 2012-11-15 | 2016-09-20 | Ricoh Company, Ltd. | Optical deflection device and image forming apparatus |
JP2015129801A (ja) * | 2014-01-06 | 2015-07-16 | 株式会社リコー | 光偏向装置、光走査装置、画像表示装置及び画像形成装置 |
JP2017207630A (ja) * | 2016-05-18 | 2017-11-24 | スタンレー電気株式会社 | 光偏向器 |
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