JP2013187607A - 固体撮像装置および駆動方法、並びに、電子機器 - Google Patents

固体撮像装置および駆動方法、並びに、電子機器 Download PDF

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Abstract

【課題】イメージセンサにおける回路規模と消費電力を抑制し、かつ、高速化を実現することができるようにする。
【解決手段】複数の画素が2次元の行列状に配置される画素アレイに配置された各画素を、それぞれ行単位で順次垂直方向に選択走査する2つの垂直走査回路と、撮像のモードに応じたモード信号に基づいて、2つの垂直走査回路のいずれか一方の駆動を停止させる駆動切り替え信号を生成する制御部とを備える。
【選択図】図1

Description

本技術は、固体撮像装置および駆動方法、並びに、電子機器に関し、特に、イメージセンサにおける回路規模と消費電力を抑制し、かつ、高速化を実現することができるようにする固体撮像装置および駆動方法、並びに、電子機器に関する。
近年、撮像素子としてCMOSイメージセンサが広く用いられている。しかしながら、CMOSイメージセンサは、一般に画素ごとに順次読み出しされるため、画像全体の同時性を実現できない。
すなわち、CMOSイメージセンサでは、光電変換部で生成しかつ蓄積した光電荷を、画素毎または行毎に順次走査して読み出す動作が行われる。この順次走査の場合、つまり、電子シャッタとしてローリングシャッタを採用した場合は、光電荷を蓄積する露光の開始、および終了を全ての画素で一致させることができない。そのため、順次走査の場合、動被写体の撮像時に撮像画像に歪みが生じるという問題がある。
この種の画像歪みが許容できない、高速に動く被写体の撮像や、撮像画像の同時性を必要とするセンシング用途では、電子シャッタとして、画素アレイの中の全画素に対して同一のタイミングで露光開始と露光終了とを実行するグローバルシャッタが採用される。
電子シャッタとしてグローバルシャッタを採用したイメージセンサは、画素内に、例えば、半導体メモリによる電荷蓄積部が設けられている。グローバルシャッタを採用したイメージセンサでは、フォトダイオードから電荷を一斉に半導体メモリに転送して蓄積し、そののち順次読みだすことにより、画像全体の同時性を確保している(例えば、特許文献1参照)。
また、CMOSイメージセンサに対しては、近年、多画素化と高速化の要求が高まっており、それに応じて画素を駆動する垂直走査回路も高速化対応が必要となっている。例えば、高速化のために画素の片側にのみ配置された垂直走査回路を、画素の両側に配置することで駆動能力を向上させることができる(例えば、特許文献2、特許文献3参照)。
特開2008−103647号公報 特開2005−333265号公報 特開2000−209503号公報
しかしながら、高速化のために、画素の両側に垂直走査回路を配置すると、当然、その分の面積が増加し、垂直回路を駆動する電源のPAD、GNDのPADを両側に配置すると、さらに面積が増加する。
また、垂直走査回路の数が2倍となることから、当然、消費電力が増加する。
本技術はこのような状況に鑑みて開示するものであり、イメージセンサにおける回路規模と消費電力を抑制し、かつ、高速化を実現することができるようにするものである。
本技術の第1の側面は、複数の画素が2次元の行列状に配置される画素アレイに配置された各画素を、それぞれ行単位で順次垂直方向に選択走査する2つの垂直走査回路と、撮像のモードに応じたモード信号に基づいて、前記2つの垂直走査回路のいずれか一方の駆動を停止させる駆動切り替え信号を生成する制御部とを備える固体撮像素子である。
前記制御部はさらに、前記画素アレイに配置された各画素を行単位で順次垂直方向に選択走査する画素駆動パルスを生成して出力し、前記2つの垂直走査回路のいずれか一方に、前記画素の光電変換部に蓄積された電荷を転送する転送トランジスタのドライバへの前記画素駆動パルスの供給を、前記モード信号に基づいて停止させる回路が設けられるようにすることができる。
前記モード信号は、画素信号の高速読み出しを必要とする高速読み出しモード、または、画素信号の高速読み出しを必要となしない低速読み出しモードのいずれかを表す信号とされ、前記高速読み出しモードを表す前記モード信号が供給された場合、前記2つの垂直走査回路の双方が駆動され、前記低速読み出しモードを表す前記モード信号が供給された場合、前記2つの垂直走査回路のいずれか一方の駆動が停止させられるようにすることができる。
前記2つの垂直走査回路のそれぞれに接続される電源端子、および、GND端子が前記画素アレイの水平方向における左右両端のいずれか一方に設けられるようにすることができる。
本発明の第1の側面は、複数の画素が2次元の行列状に配置される画素アレイに配置された各画素を、それぞれ行単位で順次垂直方向に選択走査する2つの垂直走査回路と、制御部が、撮像のモードに応じたモード信号に基づいて、前記2つの垂直走査回路のいずれか一方の駆動を停止させる駆動切り替え信号を生成する駆動方法である。
本発明の第2の側面は、複数の画素が2次元の行列状に配置される画素アレイに配置された各画素を、それぞれ行単位で順次垂直方向に選択走査する2つの垂直走査回路と、撮像のモードに応じたモード信号に基づいて、前記2つの垂直走査回路のいずれか一方の駆動を停止させる駆動切り替え信号を生成する制御部とを有する固体撮像素子を備える電子機器である。
本技術の第1の側面および第2の側面においては、複数の画素が2次元の行列状に配置される画素アレイに配置された各画素を、それぞれ行単位で順次垂直方向に選択走査する2つの垂直走査回路について、撮像のモードに応じたモード信号に基づいて、いずれか一方の駆動を停止させる駆動切り替え信号が生成される。
本技術によれば、イメージセンサにおける回路規模と消費電力を抑制し、かつ、高速化を実現することができる。
本技術を適用した固体撮像素子の構成例を示すブロック図である。 垂直走査回路を駆動する電源のPADとGNDのPADの配置例を示す図である。 垂直走査回路を駆動する電源のPADとGNDのPADの別の配置例を示す図である。 従来の垂直走査回路の内部構成例を示す図である。 図4の垂直走査回路における各信号の波形を示す図である。 本技術を適用した垂直走査回路の内部構成例を示す図である。 本技術を適用した電子機器としての、撮像装置の構成例を示すブロック図である。
以下、図面を参照して、ここで開示する技術の実施の形態について説明する。
図1は、本技術を適用した固体撮像素子の構成例を示すブロック図である。同図に示される固体撮像素子10は、例えば、CMOSイメージセンサとして構成される。このCMOSイメージセンサ10は、電子シャッタのモードとしてローリングシャッタモードと、グローバルシャッタモードを切り替えることができるようになされている。
ローリングシャッタモードにおいては、フォトダイオードなどの光電変換部で生成し蓄積した光電荷が、画素毎または行毎に順次走査して読み出される。グローバルシャッタモードにおいては、画素アレイの中の全画素に対して同一のタイミングで露光開始と露光終了とが実行される。
ローリングシャッタモードは、例えば、動画の撮影の際に用いられるモードであり、一回にリセットする画素が少ないため、リセットの負荷は少なく、消費電流も少ないが、高速読み出しを要求される。
一方、グローバルシャッタモードは、例えば、静止画の撮影の際に用いられるモードであり、一回のリセットで全画素をリセットするため、リセットの負荷は増大し消費電流も増加するが、このモードでの駆動においては、高速読み出しを必要としない。
図1に示されるCMOSイメージセンサ10は、画素アレイ11、ADコンバータ(ADCと記載されている)12−1乃至ADコンバータ12−n、ラッチ回路(Latchと記載されている)13−1乃至ラッチ回路13−n、および水平走査回路を有する構成とされている。
画素アレイ11には、2次元の行列状に複数の画素が配置される。画素アレイに配置された各画素は、光を受光して光電変換を行うことにより、受光量に対応する電圧値を出力する。画素アレイ11において行列状に配置された画素の各列に対応して垂直信号線が設けられている。
ADコンバータ12−1乃至ADコンバータ12−n、および、ラッチ回路13−1乃至ラッチ回路13−nは、それぞれ垂直信号線に対応して設けられる。
ADコンバータ12−1乃至ADコンバータ12−nは、例えば、画素アレイ11の各列の画素から出力される電圧値を、参照電圧と比較することによりデジタル化し、ラッチ回路13−1乃至ラッチ回路13−nは、そのデジタル化された値を保持する。
水平走査回路14は、例えばシフトレジスタによって構成され、水平走査パルスを順次出力することによって、ラッチ回路13−1乃至ラッチ回路13−nの各々を順番に選択し、画素信号を制御部22に出力させる。
また、CMOSイメージセンサ10には、垂直走査回路21−1および垂直走査回路21−2が設けられている。
垂直走査回路21−1および垂直走査回路21−2は、例えばシフトレジスタによって構成され、画素駆動配線を選択し、選択された画素駆動配線に画素を駆動するためのパルスを印加し、行単位で画素を駆動させる。すなわち、垂直走査回路21−1および垂直走査回路21−2は、画素アレイ11に配置された各画素を行単位で順次垂直方向に選択走査する。
例えば、垂直走査回路21−1および垂直走査回路21−2によって、画素アレイ11に配置された複数の画素を駆動するためのパルスを同時に印加することで、各画素のトランジスタをより高速に駆動させることが可能となる。このようにすることで、例えば、1つの垂直走査回路のみで各画素を選択走査する場合と比較して高速な選択走査を実現することができる。
さらに、CMOSイメージセンサ10には、制御部22が設けられている。制御部22には、タイミング制御回路31、および、信号処理回路32が設けられている。制御部22は、同期信号とモード信号の供給を受けて動作する。
タイミング制御回路31は、画素アレイ11に配置された各画素を駆動させるための画素駆動パルスを出力し、これにより垂直走査回路21−1および垂直走査回路21−2を制御する。また、タイミング制御回路31は、垂直走査回路21−1および垂直走査回路21−2のうち、垂直走査回路21−1を駆動させるか否かを制御するための駆動切り替え信号を出力するようになされている。
駆動切り替え信号は、「H」または「L」のいずれかが出力されるようになされており、例えば、駆動切り替え信号として「H」が出力されている場合、垂直走査回路21−1が画素駆動配線に画素を駆動するためのパルスを出力しないように制御される。駆動切り替え信号は、例えば、ユーザの操作などに対応して出力されるモード信号に基づいて出力される。
例えば、CMOSイメージセンサ10が、高速読み出しが要求されるローリングシャッタモードで動作する場合、駆動切り替え信号として「L」が出力され、垂直走査回路21−1および垂直走査回路21−2の両方が駆動される。一方、高速読み出しが要求されないグローバルシャッタモードで動作する場合、駆動切り替え信号として「H」が出力され、2つの垂直走査回路のうちのいずれか一方(例えば、垂直走査回路21−2)のみが駆動される。
信号処理回路32は、ラッチ回路13−1乃至ラッチ回路13−nのそれぞれから供給される画素信号に所定の処理を施して画像データを生成し、その画像データを出力するようになされている。
このように、垂直走査回路が2つ設けられたCMOSイメージセンサにおいては、両方の垂直走査回路から同時に画素を駆動させるための電流を供給することができるため、垂直走査回路が1つの場合と比較して画素信号をより高速に読み出すことが可能となる。一方で、垂直走査回路が2つ設けられたCMOSイメージセンサにおいては、消費電力の増加が懸念されるとともに、回路規模の増大を招きやすい。
例えば、図2に示されるように、垂直回路を駆動する電源のPAD、GNDのPADを図中の左右両側に配置すると、CMOSイメージセンサ10全体の回路面積が増大してしまう。図2の例では、図中左側に、垂直走査回路21−1のための電源のPAD41−1、およびGNDのPAD42−1が設けられており、図中右側に、垂直走査回路21−2のための電源のPAD41−2、およびGNDのPAD42−2が設けられている。
例えば、図3に示されるように、垂直回路を駆動する電源のPAD、GNDのPADを片側にのみ配置することで、CMOSイメージセンサ10全体の回路面積の増大を抑制することが可能である。図3の例では、図中右側に設けられた電源のPAD41−2、およびGNDのPAD42−2を、垂直走査回路21−1および垂直走査回路21−2が共有している。
しかしながら、図3のようにCMOSイメージセンサ10を構成した場合、垂直走査回路21−1とPADを接続する配線の距離が長くなり、配線抵抗が増加する。この場合、例えば、垂直走査回路21−1が正常に動作しなくなることがある。
図4は、従来の垂直走査回路の内部構成例を示す図である。同図は、垂直走査回路の内部において、1行分の選択走査を行うための部分のみを拡大して記載したものであり、実際には、ここに示される構成と同様のものが画素アレイ11に配置される画素の行数分設けられる。
図4の構成の場合、電源配線、GND配線、および画素駆動パルス用の配線がそれぞれレベルシフタ61−1およびレベルシフタ61−2に接続されている。レベルシフタ61−1およびレベルシフタ61−2は、それぞれ駆動パルスが供給されると出力電圧が「L」となるようになされている。
レベルシフタ61−1には、PMOSトランジスタ62−1が接続される。レベルシフタ61−2には、NMOSトランジスタ62−2が接続される。レベルシフタ61−1の出力は、PMOSトランジスタ62−1の駆動トリガ(TRGP)とされ、レベルシフタ61−2の出力は、NMOSトランジスタ62−2の駆動トリガ(TRGN)とされる。
PMOSトランジスタ62−1がオンされると、画素アレイ11に配置された画素の転送トランジスタ91がオンされる。転送トランジスタ91がオンされることにより、画素内のフォトダイオードにおいて蓄積された電荷がフローティングディフュージョンに転送される。一方、NMOSトランジスタ62−2がオンされると、転送トランジスタ91がオフされる。
PMOSトランジスタ62−1、および、NMOSトランジスタ62−2は、上述のように転送トランジスタ91の駆動を制御するものであり、ドライバとも称される。
PMOSトランジスタ62−1は、レベルシフタ61−1の出力電圧が「L」である場合にオンされて、レベルシフタ61−1の出力電圧が「H」である場合にオフされる。NMOSトランジスタ62−2は、レベルシフタ61−2の出力電圧が「H」である場合にオンされて、レベルシフタ61−2の出力電圧が「L」である場合にオフされる。
つまり、PMOSトランジスタ62−1およびNMOSトランジスタ62−2は、常にいずれか一方がオンされ、他方がオフされるようになされている。しかし、上述したように、垂直走査回路21−1とPADを接続する配線の距離が長くなって配線抵抗が増加すると、レベルシフタ61−1とレベルシフタ61−2の動作が不安定になり、一時的にPMOSトランジスタ62−1およびNMOSトランジスタ62−2の両方がオンされる状態が発生する。
図5は、図4の垂直走査回路における各信号の波形を示す図である。同図は、横軸が時間とされ、上から順番に、画素駆動パルス、TRGP、TRGNの波形が示されている。同図の例では、画素駆動パルスが「H」となったタイミングで、TRGPおよびTRGNが「L」となっている。
しかし、レベルシフタ61−1とレベルシフタ61−2の動作が不安定になった場合、TRGP、TRGNの波形は、画素駆動パルスが「H」となったタイミングで、「L」にならないことがある。例えば、図5において、TRGNの立ち上がり/立ち下りが、図中の点線で示されるように、画素駆動パルスの立ち上がり/立ち下りと同期しなくなることがある。
例えば、図5のTRGNの波形が図中の点線で示されるようになった場合、画素駆動パルスの立ち上がり時点および立ち下り時点において、PMOSトランジスタ62−1とNMOSトランジスタ62−2が両方ともオンされた状態となってしまう。
このように、PMOSトランジスタ62−1とNMOSトランジスタ62−2が両方ともオンされた状態となった場合、図4の電源配線とGND配線が接続された状態となり、貫通電流が流れることになる。図5において、図中最も下側に貫通電流の波形が示されている。
上述のように、貫通電流が発生すると、当然消費電力が増加し、また、CMOSイメージセンサ10内の他の部位の動作などにも影響を与える可能性がある。
そこで、本技術では、高速読み出しの必要がない場合、2つの垂直走査回路のうち、いずれか一方は駆動されないようにする。この場合、例えば、図6に示されるように垂直走査回路を構成する。
図6は、本技術を適用した垂直走査回路の内部構成例を示す図である。同図は、垂直走査回路の内部において、1行分の選択走査を行うための部分のみを拡大して記載したものであり、実際には、ここに示される構成と同様のものが画素アレイ11に配置される画素の行数分設けられる。この例では、駆動切り替え信号として「H」が出力されている場合、2つの垂直走査回路のうち、垂直走査回路21−1は駆動されないようになされている。
図6の構成の場合、垂直走査回路21−1では、駆動切り替え信号用の配線と画素駆動パルス用の配線がそれぞれNORゲート63−1、および、ORゲート63−2に接続されている。なお、画素駆動パルス用の配線については、インバータを介してNORゲート63−1に接続されている。そして、NORゲート63−1、および、ORゲート63−2の出力が、それぞれレベルシフタ61−1、および、レベルシフタ61−2に供給される。図6においては図示が省略されているが、レベルシフタ61−1、および、レベルシフタ61−2には、図2の場合と同様に電源の配線とGNDの配線が接続される。
図6の構成の場合、駆動切り替え信号として「H」が出力されているとき、NORゲート63−1の出力は常に「L」となり、レベルシフタ61−1の出力は、画素駆動パルスの如何に係らず、常に「H」となる。従って、図6の構成の場合、駆動切り替え信号として「H」が出力されているとき、PMOSトランジスタ62−1は常にオフされていることになる。
また、図6の構成の場合、駆動切り替え信号として「H」が出力されているとき、ORゲート63−2の出力は常に「H」となり、レベルシフタ61−2の出力は、画素駆動パルスの如何に係らず、常に「L」となる。従って、図6の構成の場合、駆動切り替え信号として「H」が出力されているとき、NMOSトランジスタ62−2は常にオフされていることになる。
すなわち、図6の構成の場合、駆動切り替え信号として「H」が出力されているとき、PMOSトランジスタ62−1とNMOSトランジスタ62−2は常にオフされているので、貫通電流が発生することはない。
また、図6の構成の場合、駆動切り替え信号として「L」が出力されているとき、NORゲート63−1の出力は、画素駆動パルスとともに「L」または「H」に変化する。そして、レベルシフタ61−1の出力は、常に画素駆動パルスと逆の極性となるように「H」または「L」に変化する。従って、図6の構成の場合、駆動切り替え信号として「L」が出力されているとき、PMOSトランジスタ62−1は画素駆動パルスによってオンまたはオフされるように制御される。
さらに、図6の構成の場合、駆動切り替え信号として「L」が出力されているとき、ORゲート63−2の出力は、画素駆動パルスとともに「L」または「H」に変化する。そして、レベルシフタ61−2の出力は、常に画素駆動パルスと逆の極性となるように「H」または「L」に変化する。従って、図6の構成の場合、駆動切り替え信号として「H」が出力されているとき、NMOSトランジスタ62−2は画素駆動パルスによってオフまたはオンされるように制御される。
一方、図6の構成の場合、垂直走査回路21−2では、画素駆動パルス用の配線がそれぞれレベルシフタ71−1、および、レベルシフタ71−2に供給される。レベルシフタ71−1の出力は、PMOSトランジスタ72−1の駆動トリガ(TRGP)とされ、レベルシフタ71−2の出力は、NMOSトランジスタ72−2の駆動トリガ(TRGN)とされる。なお、図6においては図示が省略されているが、レベルシフタ71−1、および、レベルシフタ71−2には、図2のレベルシフタ61−1、および、レベルシフタ61−2と同様に電源の配線とGNDの配線が接続される。
垂直走査回路21−2には、垂直走査回路21−1において点線で示されたNORゲート63−1、および、ORゲート63−2が設けられていない。すなわち、図6の構成の場合、垂直走査回路21−2については、従来の垂直駆動回路と同様に動作する。ただし、垂直走査回路21−2は、図3に示されるように、PAD41−2およびPAD42−2に近いため、垂直走査回路21−2とPADを接続する配線の距離は短く、配線抵抗も小さい。従って、垂直走査回路21−2においては、レベルシフタ71−1、および、レベルシフタ71−2の動作が不安定になることはなく、貫通電流が発生する可能性も低い。
駆動切り替え信号は、例えば、制御部22にグローバルシャッタモードに対応するモード信号が供給されている場合、「H」とされ、ローリングシャッタモードに対応するモード信号が供給されている場合、「L」とされる。このようにすることで、グローバルシャッタモードの場合、2つの垂直駆動回路のうちの一方のみが駆動され、高速読み出しを要求されるローリングシャッタモードの場合、2つの垂直駆動回路が両方とも駆動されるようにすることができる。
このように、本技術を適用したCMOSイメージセンサ10では、例えば、高速読み出しを要求されないグローバルシャッタモードの場合、垂直走査回路21−2のみが駆動される。上述したように、垂直走査回路21−2においては、レベルシフタ71−1、および、レベルシフタ71−2の動作が不安定になることはなく、貫通電流が発生する可能性も低いからである。
一方、本技術を適用したCMOSイメージセンサ10では、例えば、高速読み出しを要求されるローリングシャッタモードの場合、垂直走査回路21−1および垂直走査回路21−2の両方が駆動される。
ローリングシャッタモードの場合、1回のリセット動作において1行分の画素のリセットが行われる。一方、グローバルシャッタモードの場合、1回のリセット動作において画素アレイ11に配置された全ての画素のリセットが行われる。つまり、ローリングシャッタモードの場合、1回のリセット動作に要する電力は小さくなり、垂直走査回路21−1とPADを接続する配線の抵抗値が大きいものであっても、レベルシフタ61−1、および、レベルシフタ61−2の動作が不安定になることは極稀である。このため、ローリングシャッタモードの場合、垂直走査回路21−1を駆動させたとしても貫通電流が発生する可能性は低い。
従って、本技術を適用したCMOSイメージセンサ10では、グローバルシャッタモードの場合でも、ローリングシャッタモードの場合でも、貫通電流はほとんど発生せず、消費電力を抑制することができる。
また、本技術を適用したCMOSイメージセンサ10では、例えば、図3を参照して上述したように、電源のPAD、GNDのPADを片側にのみ配置することができるので、CMOSイメージセンサ10全体の回路面積の増大を抑制することが可能である。
このように、本技術によれば、イメージセンサにおける回路規模と消費電力を抑制し、かつ、高速化を実現することができる。
なお、本技術は、例えば、CMOSイメージセンサのような固体撮像素子への適用に限られるものではない。即ち、本技術は、デジタルスチルカメラやビデオカメラ等の撮像装置や、撮像機能を有する携帯端末装置や、画像読取部に固体撮像素子を用いる複写機など、画像取込部(光電変換部)に固体撮像素子を用いる電子機器全般に対して適用可能である。固体撮像素子は、ワンチップとして形成された形態であってもよいし、複数チップを積層したり隣接させた形態であってもよいし、撮像部と信号処理回路または光学系とがまとめてパッケージングされた撮像機能を有するモジュール状の形態であってもよい。
図7は、本技術を適用した電子機器としての、撮像装置の構成例を示すブロック図である。
図7の撮像装置600は、レンズ群などからなる光学部601、上述した画素2の各構成が採用される固体撮像素子(撮像デバイス)602、およびカメラ信号処理回路であるDSP回路603を備える。また、撮像装置600は、フレームメモリ604、表示部605、記録部606、操作部607、および電源部608も備える。DSP回路603、フレームメモリ604、表示部605、記録部606、操作部607および電源部608は、バスライン609を介して相互に接続されている。
光学部601は、被写体からの入射光(像光)を取り込んで固体撮像素子602の撮像面上に結像する。固体撮像素子602は、光学部601によって撮像面上に結像された入射光の光量を画素単位で電気信号に変換して画素信号として出力する。この固体撮像素子602として、上述した実施の形態に係るCMOSイメージセンサ10等の固体撮像素子、即ちグローバル露光によって歪みのない撮像を実現できる固体撮像素子を用いることができる。
表示部605は、例えば、液晶パネルや有機EL(Electro Luminescence)パネル等のパネル型表示装置からなり、固体撮像素子602で撮像された動画または静止画を表示する。記録部606は、固体撮像素子602で撮像された動画または静止画を、ビデオテープやDVD(Digital Versatile Disk)等の記録媒体に記録する。
操作部607は、ユーザによる操作の下に、撮像装置600が有する様々な機能について操作指令を発する。電源部608は、DSP回路603、フレームメモリ604、表示部605、記録部606および操作部607の動作電源となる各種の電源を、これら供給対象に対して適宜供給する。
上述したように、固体撮像素子602として、上述した実施の形態に係るCMOSイメージセンサ10を用いることで、信号の加算を行うことなく、第1の画素信号を抽出する際にも、第2の画素信号を抽出する際にも、正確にリセットノイズを除去することが可能となるので、ビデオカメラやデジタルスチルカメラ、さらには携帯電話機等のモバイル機器向けカメラモジュールなどの撮像装置600において、撮像画像の高画質化を図ることができる。
また、上述した実施形態においては、可視光の光量に応じた信号電荷を物理量として検知する単位画素が行列状に配置されてなるCMOSイメージセンサに適用した場合を例に挙げて説明した。しかしながら、本技術はCMOSイメージセンサへの適用に限られるものではなく、画素アレイ部の画素列ごとにカラム処理部を配置してなるカラム方式の固体撮像素子全般に対して適用可能である。
また、本技術は、可視光の入射光量の分布を検知して画像として撮像する固体撮像素子への適用に限らず、赤外線やX線、あるいは粒子等の入射量の分布を画像として撮像する固体撮像素子や、広義の意味として、圧力や静電容量など、他の物理量の分布を検知して画像として撮像する指紋検出センサ等の固体撮像素子(物理量分布検知装置)全般に対して適用可能である。
なお、本明細書において上述した一連の処理は、記載された順序に沿って時系列的に行われる処理はもちろん、必ずしも時系列的に処理されなくとも、並列的あるいは個別に実行される処理をも含むものである。
また、本技術の実施の形態は、上述した実施の形態に限定されるものではなく、本技術の要旨を逸脱しない範囲において種々の変更が可能である。
なお、本技術は以下のような構成も取ることができる。
(1)
複数の画素が2次元の行列状に配置される画素アレイに配置された各画素を、それぞれ行単位で順次垂直方向に選択走査する2つの垂直走査回路と、
撮像のモードに応じたモード信号に基づいて、前記2つの垂直走査回路のいずれか一方の駆動を停止させる駆動切り替え信号を生成する制御部と
を備える固体撮像素子。
(2)
前記制御部はさらに、前記画素アレイに配置された各画素を行単位で順次垂直方向に選択走査する画素駆動パルスを生成して出力し、
前記2つの垂直走査回路のいずれか一方に、前記画素の光電変換部に蓄積された電荷を転送する転送トランジスタのドライバへの前記画素駆動パルスの供給を、前記モード信号に基づいて停止させる回路が設けられる
(1)に記載の固体撮像素子。
(3)
前記モード信号は、
画素信号の高速読み出しを必要とする高速読み出しモード、または、画素信号の高速読み出しを必要となしない低速読み出しモードのいずれかを表す信号とされ、
前記高速読み出しモードを表す前記モード信号が供給された場合、前記2つの垂直走査回路の双方が駆動され、
前記低速読み出しモードを表す前記モード信号が供給された場合、前記2つの垂直走査回路のいずれか一方の駆動が停止させられる
(1)または(2)に記載の固体撮像素子。
(4)
前記2つの垂直走査回路のそれぞれに接続される電源端子、および、GND端子が前記画素アレイの水平方向における左右両端のいずれか一方に設けられる
(1)乃至(3)のいずれかに記載の固体撮像素子。
(5)
複数の画素が2次元の行列状に配置される画素アレイに配置された各画素を、それぞれ行単位で順次垂直方向に選択走査する2つの垂直走査回路と、
制御部が、撮像のモードに応じたモード信号に基づいて、前記2つの垂直走査回路のいずれか一方の駆動を停止させる駆動切り替え信号を生成する
駆動方法。
(6)
複数の画素が2次元の行列状に配置される画素アレイに配置された各画素を、それぞれ行単位で順次垂直方向に選択走査する2つの垂直走査回路と、
撮像のモードに応じたモード信号に基づいて、前記2つの垂直走査回路のいずれか一方の駆動を停止させる駆動切り替え信号を生成する制御部とを有する固体撮像素子を備える
電子機器。
10 CMOSイメージセンサ, 21−1 垂直走査回路, 21−2 垂直走査回路, 22 制御部, 31 タイミング制御回路, 32 信号処理回路, 41−2 PAD, 42−2 PAD, 61−1 レベルシフタ, 61−2 レベルシフタ, 62−1 PMOSトランジスタ, 62−2 NMOSトランジスタ, 71−1 レベルシフタ, 71−2 レベルシフタ, 72−1 PMOSトランジスタ, 72−2 NMOSトランジスタ, 600 撮像装置, 602 固体撮像素子

Claims (6)

  1. 複数の画素が2次元の行列状に配置される画素アレイに配置された各画素を、それぞれ行単位で順次垂直方向に選択走査する2つの垂直走査回路と、
    撮像のモードに応じたモード信号に基づいて、前記2つの垂直走査回路のいずれか一方の駆動を停止させる駆動切り替え信号を生成する制御部と
    を備える固体撮像素子。
  2. 前記制御部はさらに、前記画素アレイに配置された各画素を行単位で順次垂直方向に選択走査する画素駆動パルスを生成して出力し、
    前記2つの垂直走査回路のいずれか一方に、前記画素の光電変換部に蓄積された電荷を転送する転送トランジスタのドライバへの前記画素駆動パルスの供給を、前記モード信号に基づいて停止させる回路が設けられる
    請求項1に記載の固体撮像素子。
  3. 前記モード信号は、
    画素信号の高速読み出しを必要とする高速読み出しモード、または、画素信号の高速読み出しを必要となしない低速読み出しモードのいずれかを表す信号とされ、
    前記高速読み出しモードを表す前記モード信号が供給された場合、前記2つの垂直走査回路の双方が駆動され、
    前記低速読み出しモードを表す前記モード信号が供給された場合、前記2つの垂直走査回路のいずれか一方の駆動が停止させられる
    請求項1に記載の固体撮像素子。
  4. 前記2つの垂直走査回路のそれぞれに接続される電源端子、および、GND端子が前記画素アレイの水平方向における左右両端のいずれか一方に設けられる
    請求項1に記載の固体撮像素子。
  5. 複数の画素が2次元の行列状に配置される画素アレイに配置された各画素を、それぞれ行単位で順次垂直方向に選択走査する2つの垂直走査回路と、
    制御部が、撮像のモードに応じたモード信号に基づいて、前記2つの垂直走査回路のいずれか一方の駆動を停止させる駆動切り替え信号を生成する
    駆動方法。
  6. 複数の画素が2次元の行列状に配置される画素アレイに配置された各画素を、それぞれ行単位で順次垂直方向に選択走査する2つの垂直走査回路と、
    撮像のモードに応じたモード信号に基づいて、前記2つの垂直走査回路のいずれか一方の駆動を停止させる駆動切り替え信号を生成する制御部とを有する固体撮像素子を備える
    電子機器。
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