JP2013154179A5 - - Google Patents
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- 測定光を照射した被検査物からの戻り光と、該測定光に対応する参照光とを合波した光に基づいて前記被検査物の断層画像を取得する光断層撮像装置であって、
前記測定光の光路長を変更する測定光光路長変更手段と、
前記断層画像の撮像範囲の大きさの指示を受け付ける表示形態を表示手段に表示させる表示制御手段と、
前記表示形態が受け付けた指示に応じて、前記測定光光路長変更手段を制御する制御手段と、
を有することを特徴とする光断層撮像装置。 - 前記表示形態は、操作手段に対する操作による前記指示を受け付けることを特徴とする請求項1に記載の光断層撮像装置。
- 前記操作手段は、マウスであることを特徴とする請求項2に記載の光断層撮像装置。
- 前記表示形態は、スライダであり、
前記制御手段が、前記スライダの移動に応じて、前記測定光光路長変更手段を制御することを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の光断層撮像装置。 - 前記表示形態は、選択が可能な複数のボタンであり、
前記制御手段は、前記複数のボタンのうちいずれか一つの選択に応じて、前記測定光光路長変更手段を制御することを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の光断層撮像装置。 - 前記測定光光路長変更手段は、前記測定光の光路を含む光学部を前記被検査物に対して移動する光学部移動機構を有し、
前記制御手段が、前記表示形態が受け付けた指示に応じて、前記光学部移動機構を制御することを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載の光断層撮像装置。 - 前記参照光の光路長を変更する参照光光路長変更手段を更に有し、
前記制御手段が、前記表示形態が受け付けた指示に応じて、前記測定光光路長変更手段と前記参照光光路長変更手段とを連動させて制御することを特徴とする請求項1乃至6の何れか一項に記載の光断層撮像装置。 - 前記被検査物に対して前記測定光を合焦する合焦レンズを光路に沿って移動する移動手段を更に有し、
前記制御手段が、前記表示形態が受け付けた指示に応じて、前記測定光光路長変更手段と前記移動手段とを連動させて制御することを特徴とする請求項1乃至7の何れか一項に記載の光断層撮像装置。 - 前記被検査物は、被検眼の前眼部であることを特徴とする請求項1乃至8の何れか一項に記載の光断層撮像装置。
- 前記前眼部に対して前眼部観察光を合焦する前眼部観察用の合焦レンズと、前記前眼部観察用の合焦レンズを光路に沿って移動する前眼部観察用の移動手段とを有し、前記前眼部を観察する前眼部観察手段を有し、
前記制御手段は、前記表示形態が受け付けた指示に応じて、前記測定光光路長変更手段と前記前眼部観察用の移動手段とを連動させて制御することを特徴とする請求項9に記載の光断層撮像装置。 - 測定光を照射した被検査物からの戻り光と、該測定光に対応する参照光とを合波した光に基づいて前記被検査物の断層画像を取得する光断層撮像装置であって、
前記測定光の光路長を変更する測定光光路長変更手段と、
前記断層画像の撮像範囲の大きさを指示する指示手段と、
前記指示手段による指示に応じて、前記測定光光路長変更手段を制御する制御手段と、
を有することを特徴とする光断層撮像装置。 - 前記制御手段は、前記撮像範囲を狭くする指示の場合には前記測定光の光路長を短くするように、前記撮像範囲を広くする場合には前記測定光の光路長を長くするように、前記測定光光路長変更手段を制御する、ことを特徴とする請求項1乃至11の何れか一項に記載の光断層撮像装置。
- 測定光を照射した被検査物からの戻り光と、該測定光に対応する参照光とを合波した光に基づいて前記被検査物の断層画像を取得する光断層撮像装置の制御方法であって、
前記断層画像の撮像範囲の大きさの指示を受け付ける表示形態を表示手段に表示させる工程と、
前記表示形態が受け付けた指示に応じて、前記測定光の光路長を変更する工程と、
を有することを特徴とする光断層撮像装置の制御方法。 - 前記表示形態は、操作手段に対する操作による前記指示を受け付けることを特徴とする請求項13に記載の光断層撮像装置の制御方法。
- 前記操作手段は、マウスであることを特徴とする請求項14に記載の光断層撮像装置の制御方法。
- 前記表示形態は、スライダであり、
前記測定光の光路長の変更は、前記スライダの移動に応じて行なわれることを特徴とする請求項13乃至15の何れか一項に記載の光断層撮像装置の制御方法。 - 前記表示形態は、選択が可能な複数のボタンであり、
前記測定光の光路長を変更は、前記複数のボタンのうちいずれか一つの選択に応じて行なわれることを特徴とする請求項13乃至15の何れか一項に記載の光断層撮像装置の制御方法。 - 前記測定光の光路長の変更は、前記測定光の光路を含む光学部を前記被検査物に対して移動することで行なわれ、
前記光学部を移動する工程は、前記表示形態が受け付けた指示に応じて行われることを特徴とする請求項13乃至17の何れか一項に記載の光断層撮像装置の制御方法。 - 前記測定光の光路長を変更する工程において、前記表示形態が受け付けた指示に応じて、前記測定光の光路長の変更と前記参照光の光路長の変更とが連動させて行なわれることを特徴とする請求項13乃至18の何れか一項に記載の光断層撮像装置の制御方法。
- 前記測定光の光路長を変更する工程において、前記表示形態が受け付けた指示に応じて、前記測定光の光路長の変更と前記被検査物に対して前記測定光を合焦する合焦レンズを光路に沿った移動とが連動させて行われることを特徴とする請求項13乃至19の何れか一項に記載の光断層撮像装置の制御方法。
- 前記被検査物は、被検眼の前眼部であることを特徴とする請求項13乃至20の何れか一項に記載の光断層撮像装置の制御方法。
- 前記前眼部に対して前眼部観察光を合焦する前眼部観察用の合焦レンズを光路に沿って移動させて、前記前眼部を観察する工程を有し、
前記測定光の光路長を変更する工程において、前記表示形態が受け付けた指示に応じて、前記測定光の光路長の変更と前記前眼部観察用の合焦レンズの移動とが連動させて行われることを特徴とする請求項21に記載の光断層撮像装置の制御方法。 - 測定光を照射した被検査物からの戻り光と、該測定光に対応する参照光とを合波した光に基づいて前記被検査物の断層画像を取得する光断層撮像装置の制御方法であって、
前記断層画像の撮像範囲の大きさの指示を受け付ける工程と、
前記指示に応じて、前記測定光の光路長を変更する工程と、
を有することを特徴とする光断層撮像装置の制御方法。 - 前記光路長を変更する工程は、前記撮像範囲を狭くする指示を受け付けた場合には前記測定光の光路長を短くするように、前記撮像範囲を広くする指示を受け付けた場合には前記測定光の光路長を長くするように、行われる、ことを特徴とする請求項13乃至23の何れか一項に記載の光断層撮像装置。
- 請求項13乃至24の何れか一項に記載の光断層撮像装置の制御方法の各工程をコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。
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