JP2013131390A - 圧着端子のクリンプハイト測定装置 - Google Patents

Abstract

【課題】圧着端子が搬送されてくるときに圧着端子と干渉せず、測定誤差が生じにくいクリンプハイト測定装置を提供する。
【解決手段】クリンプハイト測定装置５は、圧着端子の裏面を支える測定位置と、測定位置よりも下方に位置する待避位置との間を昇降するスピンドル１１と、測定時に圧着端子を左右から挟み込むことによって中央位置に保持するクランプ部材３１Ｌ，３１Ｒと、圧着端子の表面に押し当てられるアンビル１２と、アンビル１２の位置を検出する位置センサ１５と、アンビル１２が圧着端子に接触したときの接触位置から原点位置を引くことによって、クリンプハイトを測定するコンピュータ５０とを備えている。
【選択図】図２

Description

本発明は、圧着端子のクリンプハイト測定装置に関する。

従来から、ワイヤハーネスの構成部品等として、先端に圧着端子が圧着された電線が用いられている。この種の電線は、例えば、電線の切断、被覆部の剥ぎ取り、および端子の圧着を自動的に連続して行う電線処理装置によって製作される。

加工された電線は、その端末部の被覆が剥ぎ取られ、剥ぎ取られた電線端末部に、圧着端子がかしめて固定されている。電線にかしめられた端子は規定力以下の力で抜けてはならないため、正常にかしめられているかを検査する必要がある。圧着端子が正常にかしめられていない電線は不良品となる。従来から、圧着端子の圧着状態を検査する装置の一つとして、圧着端子のクリンプハイトを測定するクリンプハイト測定装置が知られている。ここで、クリンプハイトとは、電線に端子をかしめた部分の高さのことである。

クリンプハイトは、各端子において許容範囲が定められており、かしめ後のクリンプハイトの測定値が許容範囲内であれば、端子と電線との間に所望の接合力が得られていることが確認できる。このため、クリンプハイトの測定値が端子圧着状態の良否を判定する検査に利用されている。

従来のクリンプハイト測定装置として、例えば下記特許文献１〜４に記載されたようなクリンプハイト測定装置が知られている。

特許文献１に記載されたクリンプハイト測定装置では、測定台の上に置かれた圧着端子に対して上方から測定子を押し当て、その測定子の位置に基づいてクリンプハイトを測定する。

特許文献２に記載されたクリンプハイト測定装置では、端子チャック爪の上に置かれた圧着端子に対して上方から端子押さえを押し付け、その端子押さえの移動変位量を測定することによって、クリンプハイトを測定する。

引用文献３に記載されたクリンプハイト測定装置では、芯線かしめ部固定台の上に置かれた圧着端子に対して、上方から高さ測定子を押し当て、その高さ測定子の位置に基づいてクリンプハイトを測定する。

特許文献４に記載されたクリンプハイト測定装置では、刃形状の上側の測定子と、ピン形状の下側の測定子とを備え、上側の測定子を上方から圧着端子に押し当て、下側の測定子を下方から圧着端子に押し当て、上側および下側のそれぞれの測定子の位置に基づいて、クリンプハイトを測定する。

特開平７−２２６２７８号公報 特開２００１−１７６６３５号公報 特開平２−２５７００１号公報 欧州特許出願公開第１７８０８４６号明細書

このように、特許文献１および２に記載されたクリンプハイト測定装置は、移動不能な固定台等の上に圧着端子を載せ、その圧着端子に上方から測定子を押し付けるものである。クリンプハイトの測定に先だって、圧着端子は固定台等の上に搬送される。ところが、圧着端子によっては、ランスと称される下方に突出する突出部を有するものがある。また、圧着時に、下方に突出するバリが発生する場合がある。特許文献１および２に記載されたクリンプハイト測定装置では、圧着端子を固定台等の上に搬送する際に、ランスやバリが固定台等と干渉するおそれがあった。そのため、例えば圧着端子の姿勢がずれてしまい、圧着端子を的確に支持できない場合があった。さらに、固定台の上に乗せられた端子を測定する際、バリを含めた高さを測定することになるため、正確な測定ができない場合があった。

また、特許文献３に記載されたクリンプハイト測定装置では、突当てストッパやサイドガイドの端子位置決め部が固定的に配置されているため、多種多様な端子の形状・寸法に対応できなかった。

特許文献４に記載されたクリンプハイト測定装置では、下側の測定子が昇降可能であり、測定前は圧着端子の下方に位置づけられるので、圧着端子を測定位置に搬送する際に、ランスやバリが下側の測定子と干渉することを避けることができる。また、ランスの変形や傷による不具合も防止できる。しかし、クリンプハイトの測定に際して、上側の測定子の位置と下側の測定子の位置との両方を検出しなければならない。二つの測定子の位置を同時に検出しなければならないため、測定の処理の負担が大きかった。また、位置の検出に誤差が生じた場合、それが倍増される可能性がある。そのため、測定精度が低下するおそれがあった。さらに、測定のための動作が多く、測定に手間がかかるという問題があった。すなわち、特許文献４に記載されたクリンプハイト測定装置では、測定ヘッドが鉛直方向の矯正後、力が０になるまで退避した後、センタリング装置が水平方向に矯正後、力が０になるまで退避してから、測定ヘッドが再度閉じて、測定を行う。このように、測定に手間がかかるものであった。

本発明はかかる点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、圧着端子が搬送されてくるときに圧着端子と干渉せず、測定誤差が生じにくいクリンプハイト測定装置を提供することにある。

本発明に係る圧着端子のクリンプハイト測定装置は、電線に圧着された圧着端子のクリンプハイトを測定するクリンプハイト測定装置であって、前記圧着端子の表面および裏面のうちの一方の面を支える支持部材と、前記支持部材が前記圧着端子の一方の面と接触する測定位置と、前記測定位置よりも前記圧着端子から離れた側に位置する待避位置との間で前記支持部材を移動させる支持部材駆動機構と、前記圧着端子を所定の中央位置に保持するように、前記圧着端子を両側方から挟み込む一対のクランプ部材と、前記両クランプ部材を互いに接近および離反させるように移動させるクランプ部材駆動機構と、前記支持部材に支えられた前記圧着端子の他方の面に押し当てられる測定子と、前記測定子を前記支持部材に接近させる方向および前記支持部材から離反させる方向に移動させる測定子駆動機構と、前記測定子の位置を検出する位置センサと、前記測定位置にある前記支持部材に前記測定子を押し当て、そのときの測定子の位置を原点位置として取得し、前記測定位置にある前記支持部材に支えられた前記圧着端子に前記測定子を押し当て、そのときの測定子の位置と前記原点位置とに基づいて前記圧着端子のクリンプハイトを測定する測定手段と、を備えたものである。

上記クリンプハイト測定装置によれば、支持部材は待避位置と測定位置との間で移動可能である。支持部材を待避位置に待避させた状態で圧着端子を搬送し、その後、支持部材を測定位置に移動させることにより、圧着端子と支持部材との干渉を避けつつ、圧着端子を支持部材で支えることができる。また、測定子は、測定前は圧着端子から離反しており、測定時に圧着端子に押し当てられるように構成されている。そのため、圧着端子の裏面にバリが発生していたり、ランスが設けられていたとしても、圧着端子の搬送の際に、圧着端子と支持部材または測定子との干渉を防止することができる。測定時には測定子が支持部材側に移動し、圧着端子と接触したときの測定子の位置に基づいて、クリンプハイトが測定される。一つの測定子の位置のみに基づいてクリンプハイトを測定することができるため、測定誤差が少なく、さらに、測定精度をより向上させることができる。

前記測定手段は、前記支持部材の前記測定位置と前記待避位置との間の移動速度、前記支持部材の前記測定位置および／または前記待避位置からの移動開始時期、前記クランプ部材の移動速度、前記クランプ部材の移動量、前記クランプ部材の移動開始時期、前記測定子の移動速度、前記測定子の移動量、および前記測定子の移動開始時期のうちの一または二以上を調整可能に構成されていてもよい。

例えば、圧着端子の寸法や形状等に応じて、支持部材の移動速度、クランプ部材の移動速度または移動量、測定子の移動速度または移動量などを適宜調整することにより、圧着端子の変形や傷付きを防止することができる。また、圧着端子の変形等を招かない範囲で支持部材、クランプ部材、または測定子の移動速度を高速化することにより、処理時間を短縮することが可能となる。また、例えば、圧着端子の寸法に応じて支持部材の移動開始時期、クランプ部材の移動開始時期、または測定子の移動開始時期を調整することにより、支持部材、クランプ部材、または測定子の到達時期を統一化することができ、圧着端子の姿勢矯正の安定化を行い、より正確な測定が可能となる。

前記測定手段は、前記支持部材駆動機構と前記クランプ部材駆動機構と前記測定子駆動機構とを制御可能に構成されていてもよい。前記測定手段は、前記支持部材の前記測定位置と前記待避位置との間の移動速度、前記支持部材の前記測定位置および／または前記待避位置からの移動開始時期、前記クランプ部材の移動速度、前記クランプ部材の移動量、前記クランプ部材の移動開始時期、前記測定子の移動速度、前記測定子の移動量、および前記測定子の移動開始時期を一組の設定データとして、複数組の設定データを記憶する設定データ記憶部と、前記設定データ記憶部に記憶されているいずれか一組の設定データに基づいて、前記支持部材駆動機構、前記クランプ部材駆動機構、および前記測定子駆動機構を制御する駆動制御部と、を備えていてもよい。

このことにより、使用する設定データを適宜変更することにより、仕様の異なる複数種類の圧着端子に対して、最適な測定条件でクリンプハイトを測定することができる。また、例えば、複数組の設定データを適宜切り替えて用いることにより、同一の圧着端子における複数のかしめ部（例えば、ワイヤバレルおよびインシュレーションバレル）に対して、最適な測定条件でクリンプハイトを測定することができる。

前記測定手段は、前記原点位置の取得時における前記測定子の前記支持部材に対する接近速度が調整可能なように構成されていてもよい。

このことにより、原点位置の取得時の接近速度を適当な速度にすることにより、例えば測定子と支持部材との接触時の衝撃を緩和し、測定子や支持部材の損傷を防ぐことができる。

前記クリンプハイト測定装置は、前記測定子の前記圧着端子に対する押し付け力を調整する押し付け力調整装置を備えていてもよい。

このことにより、圧着端子の種類に応じて押し付け力を調整することによって、圧着端子の姿勢が安定し、精度のよい測定が可能となる。また、押し付け過ぎによる変形や傷付きを防止することが容易となる。

前記クリンプハイト測定装置は、前記クランプ部材の前記圧着端子を挟み込む力を調整するクランプ力調整装置を備えていてもよい。

このことにより、圧着端子の種類に応じた力で圧着端子を挟み込むことにより、複数種類の圧着端子を良好に保持することができる。また、圧着端子の変形や傷付きを防止することが容易となる。

前記クリンプハイト測定装置は、前記クランプ部材が前記圧着端子を挟み込んだ後に前記圧着端子に弾性力が付与されるように、前記クランプ部材を直接または間接的に前記圧着端子側に付勢する弾性部材を有した機構を備えていてもよい。

このことにより、クランプ部材が圧着端子を挟み込んだときに圧着端子が多少傾いた状態で保持されてしまったとしても、その後、測定子が押し当てられた際に、圧着端子をしっかりと保持しながら、圧着端子の姿勢を矯正することができる。さらに、圧着端子を挟み込む際の衝撃を緩和し、圧着端子の変形を防ぐことができる。

前記クリンプハイト測定装置は、前記支持部材と共に移動するように前記支持部材に設けられた第１スライダと、前記測定子と共に移動するように前記測定子に設けられた第２スライダと、前記第１スライダおよび前記第２スライダをスライド自在に支持するレールと、を備えていてもよい。

このことにより、支持部材および測定子の組立が容易となる。また、組立後の支持部材および測定子の相対位置がずれにくくなる。

前記クリンプハイト測定装置は、前記第２スライダの前記第１スライダ側と反対の側に配置され、前記レールにスライド自在に支持された第３スライダと、一端が前記第２スライダに取り付けられ、他端が前記第３スライダに取り付けられ、前記第２スライダと前記第３スライダとの間に介在するばねと、を備え、前記測定子駆動機構は、前記レール上を移動するように前記第３スライダを駆動する機構からなっていてもよい。

このことにより、原点位置の取得時における測定子と支持部材との接触、およびクリンプハイトの測定時における測定子と圧着端子との接触に際して、衝撃を緩和しやすくなる。また、ばねを調整することにより、測定子の押し付け力を調整することが可能となる。

前記クリンプハイト測定装置は、前記測定手段によって測定されたクリンプハイトを予め定められた数値範囲と比較し、その比較結果を出力する比較手段を備えていてもよい。

このことにより、比較手段の比較結果に基づいて、圧着端子の圧着状態の良否を判定することができる。

前記支持部材は、前記圧着端子の裏面を支えるように形成され、前記測定子は、前記圧着端子の表面に押し当てられるように形成され、前記支持部材は、直径が前記圧着端子の横幅よりも小さなスピンドルからなっていてもよい。

このことにより、圧着端子の裏面の両側にバリが生じていたとしても、スピンドルが圧着端子の裏面の中央部を支持することにより、圧着端子を安定して支持することができる。したがって、バリによる測定誤差の発生を抑制することができる。

前記支持部材と前記測定子と前記位置センサとは、前記測定子の移動方向に延びる同一直線上に配置されていてもよい。

このことにより、アッベの原理に則った高精度な測定が可能となる。

本発明によれば、圧着端子が搬送されてくるときに圧着端子と干渉せず、測定誤差が生じにくいクリンプハイト測定装置を提供することができる。

第１実施形態に係る電線処理装置の全体構成を示す平面図である。 アンビルが原点位置にあるときのクリンプハイト測定装置の正面図である。 アンビルが原点位置にあるときのクリンプハイト測定装置の側面図である。 （ａ）は電線および端子の平面図、（ｂ）は電線および端子の側面図である。 スピンドルが待避位置にあるときのクリンプハイト測定装置の要部の正面図である。 スピンドルが待避位置にあるときのクリンプハイト測定装置の要部の側面図である。 開いた状態のセンタリング機構の正面図である。 センタリング機構の側面図である。 閉じた状態のセンタリング機構の正面図である。 他のセンタリング機構の開いた状態の正面図である。 コンピュータの構成図である。 スピンドルに支持されたバリを有する端子の横断面図である。 第２実施形態に係るクリンプハイト測定装置の要部の側面図である。 第２実施形態における端子、クランプ部材、およびアンビルの位置関係を示す平面図である。 第４実施形態に係る電線処理装置の全体構成を示す平面図である。

＜第１実施形態＞
図１に示すように、本実施形態に係るクリンプハイト測定装置５Ｆ，５Ｒは、電線処理装置１に組み込まれている。始めに電線処理装置１について説明し、その後、クリンプハイト測定装置５Ｆ，５Ｒの詳細を説明する。

（電線処理装置）
電線処理装置１は、芯線とその芯線の周りを覆う被覆部とを備えた長尺の電線２から、両端に圧着端子９（以下、単に端子という）が圧着された所定長さの電線２を自動的かつ連続的に製作する装置である。電線処理装置１は、電線２の切断および被覆部の剥ぎ取りを行うカッターユニット３と、電線２の前端部に端子９を圧着するフロント側の端子圧着ユニット４Ｆと、電線２の前端部に圧着された端子９のクリンプハイトを測定するフロント側のクリンプハイト測定装置５Ｆと、電線２の後端部に端子９を圧着するリア側の端子圧着ユニット４Ｒと、電線２の後端部に圧着された端子９のクリンプハイトを測定するリア側のクリンプハイト測定装置５Ｒと、不良の端子９を除去するチョッパ６と、処理後の電線２（すなわち、両端に端子９が圧着された電線２）を回収するトレイ７とを備えている。

また、電線処理装置１は、少なくとも電線２の前端部を搬送可能なフロント側の電線搬送機構８Ｆと、少なくとも電線２の後端部を搬送可能なリア側の電線搬送機構８Ｒとを備えている。電線搬送機構８Ｆ，８Ｒの具体的構成は何ら限定されず、従来から電線処理装置１に用いられている各種の機構を用いることができる。例えば、電線搬送機構８Ｆ，８Ｒは、電線２を左右から挟み込むクランプ機構や電線２が挿通されることによって当該電線２を保持するノズルなどの把持機構と、その把持機構を移動させるモータ等を備えたものであってもよい。

本実施形態では、電線搬送機構８Ｆ，８Ｒは、電線２の前端部および後端部を鉛直軸８ａの周りに旋回させるように構成されている。ただし、電線２の搬送方向は特に限定されない。例えば、電線搬送機構８Ｆ，８Ｒは、電線２の長手方向と直交する方向に移動するもの等であってもよい。

ここでは、電線２が真っ直ぐに延びているときの旋回角度を０度とし、カッターユニット３側から端子圧着ユニット４Ｆ，４Ｒ側に向かう方向を正回転方向とし、その逆を逆回転方向と称する。クリンプハイト測定装置５Ｆは端子圧着ユニット４Ｆよりも正回転方向側に配置され、クリンプハイト測定装置５Ｒは端子圧着ユニット４Ｒよりも正回転方向側に配置されている。ただし、クリンプハイト測定装置５Ｆ，５Ｒの位置は、特に限定される訳ではない。クリンプハイト測定装置５Ｆは、端子圧着ユニット４Ｆよりも逆回転方向側に配置されていてもよい。また、クリンプハイト測定装置５Ｒは、端子圧着ユニット４Ｒよりも逆回転方向側に配置されていてもよい。

次に、電線処理装置１が行う処理について説明する。図１の左側から右側に送り出された電線２は、カッターユニット３によって切断され、先端の被覆部が剥ぎ取られる。被覆部が剥ぎ取られた電線２の前端部は、電線搬送機構８Ｆによって正回転方向に旋回され、端子圧着ユニット４Ｆの手前の位置に搬送される。端子圧着ユニット４Ｆは、電線２の前端部に端子９を圧着する。前端部に端子９が圧着された電線２は、電線搬送機構８Ｆによって更に正回転方向に旋回され、クリンプハイト測定装置５Ｆに搬送される。クリンプハイト測定装置５Ｆは、電線２の前端部に圧着された端子９のクリンプハイトを測定する。測定後、電線搬送機構８Ｆは逆回転方向に旋回し、電線２は旋回角度が０度の基準位置に戻される。基準位置に戻った電線２は前方（図１の右方）に送り出され、フロント側の電線搬送機構８Ｆからリア側の電線搬送機構８Ｒに受け渡される。

次に、カッターユニット３によって、再び電線２の切断および被覆部の剥ぎ取りが行われる。前端部に端子９が圧着された電線２は、後端部の被覆部が剥ぎ取られた状態となる。この電線２の後端部は、電線搬送機構８Ｒによって正回転方向に旋回され、端子圧着ユニット４Ｒの手前の位置に搬送される。端子圧着ユニット４Ｒは、電線２の後端部に端子９を圧着する。後端部に端子９が圧着された電線２は、電線搬送機構８Ｒによって更に正回転方向に旋回され、クリンプハイト測定装置５Ｒに搬送される。クリンプハイト測定装置５Ｒは、電線２の後端部に圧着された端子９のクリンプハイトを測定する。測定後、電線２は図示しない他の搬送機構によって、チョッパ６の手前に搬送される。電線搬送機構８Ｒは逆回転方向に旋回し、基準位置に戻る。クリンプハイトの測定結果等に基づいて不良と判定された端子９は、チョッパ６によって除去される。端子９の圧着不良が生じていないと判定された電線２は、トレイ７に回収される。

以後、上述の動作と同様の動作が繰り返される。これにより、両端に端子９が圧着された電線２が順次製作される。

（クリンプハイト測定装置）
次に、クリンプハイト測定装置５Ｆ，５Ｒの構成を説明する。フロント側のクリンプハイト測定装置５Ｆとリア側のクリンプハイト測定装置５Ｒとは、同一の構成を有している。以下の説明では、両クリンプハイト測定装置５Ｆ，５Ｒに同一の符号５を付し、一方のクリンプハイト測定装置５のみを説明することとする。

図２はクリンプハイト測定装置５の正面図であり、図３はその側面図である。図２に示すように、クリンプハイト測定装置５は、端子９を下方から支える支持部材の一例としてのスピンドル１１と、端子９に上方から押し当てられる測定子の一例としてのアンビル１２とを備えている。詳細は後述するが、スピンドル１１は昇降自在に構成されている。スピンドル１１は、端子圧着ユニット４Ｆ，４Ｒから電線２と共に搬送されてくる端子９との干渉を避ける待避位置と、測定のために端子９を支持する測定位置との間を移動可能である。アンビル１２も昇降自在に構成されている。

スピンドル１１の上に端子９が載せられていないとき（このとき、スピンドル１１は上記測定位置にある）にアンビル１２を下降させると、アンビル１２はスピンドル１１に接触する。このときのアンビル１２の位置を原点位置とする。原点位置は、測定位置にあるときのスピンドル１１の上端位置でもある。スピンドル１１の上に端子９を載せ、アンビル１２を下降させると、アンビル１２は端子９に接触する。このときのアンビル１２の位置を接触位置と称する。すると、端子９のクリンプハイトは、アンビル１２の接触位置から原点位置を引いた長さとなる。クリンプハイト測定装置５は、アンビル１２の位置を検出する位置センサ１５を備えている。クリンプハイト測定装置５は、位置センサ１５によって検出した上記接触位置および上記原点位置に基づいて、端子９のクリンプハイトを測定する。

図４（ａ）は端子９の平面図、図４（ｂ）は端子９の側面図である。端子９の形状および寸法は何ら限定されないが、本実施形態に係る端子９は、電線２の芯線２ａにかしめられるワイヤバレル９ａと、被覆部２ｂにかしめられるインシュレーションバレル９ｂとを備えている。クリンプハイト測定装置５は、ワイヤバレル９ａおよびインシュレーションバレル９ｂのいずれか一方または両方のクリンプハイトを測定することが可能である。以下の説明では、クリンプハイト測定装置５は、ワイヤバレル９ａのクリンプハイトＨ（図４（ｂ）参照）を測定することとする。

図５は、スピンドル１１が待避位置にあり、アンビル１２が上昇位置にあるときのクリンプハイト測定装置５の正面図であり、図６はその側面図である。なお、前述の図２、図３は、スピンドル１１が測定位置にあり、アンビル１２が原点位置にあるときのクリンプハイト測定装置５の正面図、側面図である。

図２および図３示すように、スピンドル１１は細長い棒状に形成されている。スピンドル１１の横幅は、ワイヤバレル９ａの横幅Ｗ（図４（ａ）参照）よりも小さくなっている。本実施形態では、スピンドル１１は、直径がワイヤバレル９ａの横幅よりも小さな円柱状に形成されている。ただし、スピンドル１１の形状は特に限定される訳ではない。スピンドル１１は他の形状、例えば直方体形状等であってもよい。

スピンドル１１は、昇降台１３に固定されており、昇降台１３から上方に突出している。図３に示すように、フレーム１６には、鉛直方向に延びるガイドレール１７が固定されている。ガイドレール１７には、第１スライダ１４がスライド自在に係合している。昇降台１３は、第１スライダ１４の前端部の上面に固定されている。第１スライダ１４の前端部の下面には、エアシリンダ１８のロッド１８ａが取り付けられている。第１スライダ１４はエアシリンダ１８によって駆動され、ガイドレール１７に沿って昇降する。エアシリンダ１８は、第１スライダ１４および昇降台１３を介して、スピンドル１１を昇降させる。

エアシリンダ１８の駆動速度は、注入される空気流量により決められる。そのため、エアー注入側の配管に、電動式スピードコントローラ（図示せず）を配置し、エアシリンダ１８の速度調整をするようにしてもよい。これにより、スピンドル１１が端子９に接触するときの速度を調整し、衝撃を緩和することができる。

エアシリンダ１８は、支持部材たるスピンドル１１を移動させる支持部材駆動機構の一例である。ただし、支持部材駆動機構はエアシリンダ１８に限定される訳ではない。支持部材駆動機構の他の例として、例えば、サーボモータを使用してもよい。この場合は、例えば昇降機構として、第１スライダ１４にナットを取り付け、そのナットに通したボールネジをサーボモータで回転させることにより、昇降台１３やスピンドル１１を昇降させるようにすればよい。また、スピンドル１１の昇降速度は、サーボモータの回転速度を調整することにより調整することができる。

図２および図３に示すように、アンビル１２は、左右方向に細長い平板状に形成されている。言い換えると、アンビル１２は刃形状に形成されている。アンビル１２の横幅は、端子９のワイヤバレル９ａの横幅Ｗ（図４（ａ）参照）よりも大きくなっている。ただし、アンビル１２の板厚は、ワイヤバレル９ａの前後方向（図４（ａ）の左右方向）の長さＬよりは小さくなっている。アンビル１２は、スピンドル１１の真上に配置されている。言い換えると、アンビル１２とスピンドル１１とは、同一鉛直線上に配置されている。

アンビル１２は、支持ブロック１９に一体的に形成されている。アンビル１２は、支持ブロック１９から下方に突出している。図３に示すように、支持ブロック１９は、第２スライダ２０の前端部に固定されている。第２スライダ２０の後端部は、ガイドレール１７にスライド自在に係合している。第２スライダ２０は、第１スライダ１４の上方に配置されている。

位置センサ１５は、フレーム１６に取り付けられている。位置センサ１５は、支持ブロック１９の上面位置を検出する。上述の通り、アンビル１２と支持ブロック１９とは一体的に形成されている。このため、位置センサ１５は、支持ブロック１９の位置を検出することで、アンビル１２の下面と端子９の上端とが接する位置を検出することができる。ここでは、位置センサ１５には、接触式センサを使用しているが、レーザ変位計などの非接触式センサを使用してもよい。位置センサ１５は、アンビル１２およびスピンドル１１の真上に配置されている。言い換えると、位置センサ１５とアンビル１２とスピンドル１１とは、同一鉛直線上に配置されている。

第２スライダ２０の上方には、第３スライダ２３が配置されている。第３スライダ２３の後端部は、ガイドレール１７にスライド自在に係合している。第２スライダ２０には、上方に延びるシャフト４０が固定されている。シャフト４０の上部には、ストッパ４１が設けられている。シャフト４０は第３スライダ２３を貫通している。第２スライダ２０は、ストッパ４１およびシャフト４０によって吊り下げられている。第２スライダ２０と第３スライダ２３との間には、シャフト４０が挿通されたばね２２が設けられている。

図２に示すように、第３スライダ２３には、内周面に螺旋溝が形成された第４スライダ２４が固定されている。第４スライダ２４には、鉛直方向に延びるボールねじ２８が係合している。ボールねじ２８が回転すると、第４スライダ２４は昇降する。第３スライダ２３は第４スライダ２４に固定されているので、ボールねじ２８の回転に伴って第３スライダ２３は昇降する。

フレーム１６の上端部には、モータ２５が取り付けられている。モータ２５の種類は特に限定されないが、ここではモータ２５はサーボモータによって構成されている。ボールねじ２８は、モータ２５の回転軸２５ａに固定されている。ボールねじ２８は、モータ２５によって駆動される。モータ２５が駆動してボールねじ２８が回転すると、第４スライダ２４と共に第３スライダ２３が昇降する。第２スライダ２０は、シャフト４０およびばね２２を介して第３スライダ２３と連結しているので、第３スライダ２３の昇降に伴って昇降する。その結果、第２スライダ２０に固定されたアンビル１２も昇降することになる。アンビル１２の昇降速度は、モータ２５の回転速度を調整することによって、自在に設定できる。また、昇降速度を昇降の途中で変更することもできる。例えば、アンビル１２の下降速度を２段階に制御することとし、初期の下降速度は速くし、停止位置に接近したときの速度を遅くすることができる。これにより、測定時に測定位置よりも上方に浮いた状態にある端子９との接触や、原点位置取得時のスピンドル１１との接触の衝撃を緩和することができる。モータ２５は、アンビル１２をスピンドル１１に対して接近および離反させる測定子駆動機構の一例である。

アンビル１２がスピンドル１１またはスピンドル１１上の端子９に接触するまで第２スライダ２０が下降すると、その後の第２スライダ２０の下降は規制される。一方、第３スライダ２３は更に下降可能であり、第３スライダ２３の下降に伴ってばね２２は収縮する。第２スライダ２０はばね２２から、その収縮量に応じた下向きの力を受ける。この力は、アンビル１２がスピンドル１１または端子９を上方から押さえつける力となる。第３スライダ２３の下降量またはばね２２の仕様（ばね定数等）を調整することにより、アンビル１２の押し付け力を任意に調整することができる。

アンビル１２は、測定する端子９の種類によって下降停止位置が設定されている。端子９の種類毎のデータは、あらかじめコンピュータ５０に登録されている。この場合、端子９のワイヤバレル９ａおよびインシュレーションバレル９ｂの高さをデータとしてコンピュータ５０に登録しておき、原点位置データと、その両バレル９ａ，９ｂの高さデータと、ばね２２が収縮して測定のために最適な押し付け力を発生させるときのばね２２の長さとを加算したデータを下降停止位置として予め記憶しておけば、精度の高い測定ができる。

クリンプハイト測定装置５は、測定時に端子９を左右方向の中央の位置に保持するセンタリング機構３０を備えている。センタリング機構３０は、端子９を左右から狭持するように構成されている。次に、センタリング機構３０について説明する。

図７および図８に示すように、センタリング機構３０は、端子９を狭持可能な左右一対のクランプ部材３１Ｌ，３１Ｒを備えている。両クランプ部材３１Ｌ，３１Ｒは、互いに接近および離反可能に構成されている。クランプ部材３１Ｌ，３１Ｒは、正面から見て略Ｌ字状に形成されており、アーム部３２Ｌ，３２Ｒと、アーム部３２Ｌ，３２Ｒと略直交する保持部３３Ｌ，３３Ｒとを有している。クランプ部材３１Ｌ，３１Ｒの下端部（詳しくは、アーム部３２Ｌ，３２Ｒの下端部）は、フレーム３４に回転可能に支持されている。クランプ部材３１Ｌ，３１Ｒは、下端部を中心に回転可能である。図７はクランプ部材３１Ｌ，３１Ｒが開いた状態を示し、図９はクランプ部材３１Ｌ，３１Ｒが閉じた状態を示す。クリンプハイトの測定時には、両クランプ部材３１Ｌ，３１Ｒは互いに接近し、端子９を左右から挟み込む。

図８に示すように、フレーム３４の上には、エアシリンダ３６が固定されている。エアシリンダ３６のロッド３６ａは上方に延びており、このロッド３６ａには下ストッパ４３、シャフト４５、上ストッパ４４が締結されている。下ストッパ４３および上ストッパ４４は、シャフト４５よりも大径に形成されている。下ストッパ４３の上には、ブロック４７が支持されている。シャフト４５はブロック４７を貫通しており、ブロック４７はシャフト４５に対して摺動自在に構成されている。ブロック４７と上ストッパ４４との間には、シャフト４５に挿通されたばね４６が設けられている。

アーム部３２Ｌ，３２Ｒの中途部には、それぞれリンクバー３５Ｌ，３５Ｒの一端が回転自在に支持されている。リンクバー３５Ｌ，３５Ｒの他端は、ブロック４７に回転自在に支持されている。図７に示すように、エアシリンダ３６のロッド３６ａが上方に伸びると、両クランプ部材３１Ｌ，３１Ｒは互いに離反し、開いた状態となる。図９に示すように、エアシリンダ３６のロッド３６ａが下方に縮むと、両クランプ部材３１Ｌ，３１Ｒは互いに接近し、閉じた状態となる。このように、クランプ部材３１Ｌ，３１Ｒはエアシリンダ３６によって駆動される。エアシリンダ３６は、クランプ部材駆動機構の一例である。

ばね４６は、クランプ部材３１Ｌ，３１Ｒが端子９を保持したときに、端子９を押し付ける方向に力が働く。そのため、例えば、端子９が傾斜した状態で測定位置に搬送されてきて、クランプ部材３１Ｌ，３１Ｒにより端子９が傾いた状態で保持された場合、クリンプハイト測定時にアンビル１２が下降して端子９の上面に押し付ける力が加わることにより、端子９の姿勢を矯正することができる。すなわち、クランプ部材３１Ｌ，３１Ｒは、ばね４６によって端子９側に付勢されているので、クランプ部材３１Ｌ，３１Ｒに対して開く方向の力が加わった場合、クランプ部材３１Ｌ，３１Ｒは保持力を弛めることなく、開く方向に微小移動が可能である。端子９が傾いた状態で保持されていた場合、アンビル１２が下降して端子９の上面に接触すると、端子９は適正な姿勢に戻ろうとするので、その端子９に押されることによって、クランプ部材３１Ｌ，３１Ｒに開く方向の力が発生する。言い換えると、ばね４６を縮める方向の力が発生する。ばね４６を縮めるのに十分な力が端子９の上面に付与されると、クランプ部材３１Ｌ，３１Ｒは保持力を弛めることなく端子９を保持したまま、開く方向に移動する。その結果、端子９の姿勢は適正な姿勢となる。これにより、端子９をしっかりと保持したまま端子９の姿勢を矯正するため、クリンプハイトの測定を正確に行なうことができる。

クランプ部材３１Ｌ，３１Ｒは、ばね４６から付勢力を受けることによってクランプ力を発生させる。そのため、エアシリンダ３６のロッド３６ａが瞬時に伸縮したとしても、クランプ部材３１Ｌ，３１Ｒが端子９を挟み込む際の衝撃は緩和される。このように、センタリング機構３０は、端子９を挟み込む際の衝撃を緩和する緩衝機能も有している。

また、クランプ部材３１Ｌ，３１Ｒにより端子９を保持したときに、端子９が多少傾いた状態で保持されていても、アンビル１２が下降して端子９の上面に押し付ける力が加わったときに、この付勢力がクッションの役割を行い、端子９の姿勢を矯正する働きをする。そのため、クリンプハイト測定を正確に行うことができる。

また、クランプ部材３１Ｌ，３１Ｒのクランプ力は、ばね４６の伸縮長さを調整することによって調整することができる。例えば、上ストッパ４４と下ストッパ４３との間隔を変更することにより、クランプ力を変更することができる。例えば、シャフト４５の少なくとも上側に雄ねじ部を形成し、上ストッパ４４を上記雄ねじ部に螺合するナットで形成することとすれば、上ストッパ４４を適宜に回転させることにより、上ストッパ４４と下ストッパ４３との間隔を自在に調整することができる。これにより、クランプ部材３１Ｌ，３１Ｒのクランプ力を調整することが可能となる。このように、センタリング機構３０は、クランプ部材３１Ｌ，３１Ｒのクランプ力を調整可能なクランプ力調整装置３９を備えている。

なお、センタリング機構は上記構成に限らず、他に種々の形態のセンタリング機構を用いることができる。他のセンタリング機構として、例えば、図１０に示すようなセンタリング機構３０Ｂを利用してもよい。このセンタリング機構３０Ｂは、上述のセンタリング機構３０において、上ストッパ４４、シャフト４５、下ストッパ４３、およびばね４６を省略し、代わりに、クランプ部材３１Ｌ，３１Ｒ（詳しくは保持部３３Ｌ，３３Ｒ）の先端に、ばね４６Ｂに付勢された保持具３８Ｌ，３８Ｒを設けたものである。センタリング機構３０Ｂでは、リンクバー３５Ｌ，３５Ｒを介してクランプ部材３１Ｌ，３１Ｒに連結されたブロック４７は、エアシリンダ３６のロッド３６ａに固定されている。

このセンタリング機構３０Ｂにおいても、クランプ部材３１Ｌ，３１Ｒは、ばね４６Ｂから付勢力を受けてクランプ力を発生させる。そのため、センタリング機構３０Ｂによっても、端子９を挟み込む際の衝撃を緩和する緩衝機能を発揮することができる。また、保持具３８Ｌ、３８Ｒを保持部３３Ｌ、３３Ｒにねじ式に取り付ければ、ねじ深さを調整することにより、ばね４６Ｂの付勢力を調整し、クランプ力を調整することができる。

なお、上述のセンタリング機構３０，３０Ｂにおいて、クランプ部材３１Ｌ，３１Ｒを駆動する駆動源はエアシリンダ３６に限定されない。エアシリンダ３６の代わりに、サーボモータ等の他の駆動装置を用いることができる。特に、サーボモータを用いることとすれば、クランプ部材３１Ｌ，３１Ｒの位置の制御を容易に行うことができる。

図３に示すように、エアシリンダ３６はエアシリンダ１８の後方に配置されている。アーム部３２Ｌ，３２Ｒはエアシリンダ１８よりも後方に配置されている。保持部３３Ｌ，３３Ｒは、アーム部３２Ｌ，３２Ｒから前方に突出している。

クリンプハイト測定装置５は、測定手段の一例としてコンピュータ５０（図２参照）を備えている。コンピュータ５０は、フレーム１６の内部に配置された専用のコンピュータであってもよく、フレーム１６の外部に配置された汎用的なコンピュータ等であってもよい。図１１に示すように、コンピュータ５０は、エアシリンダ１８とモータ２５とエアシリンダ３６とを制御する駆動制御部５１と、比較結果出力部５５とを有している。

ところで、クリンプハイト測定装置５は、仕様の異なる複数種類の端子９のクリンプハイトを測定することができる。ここで、センタリング機構３０のクランプ部材３１Ｌ，３１Ｒにおいて、端子９を挟持するための好適な間隔は、端子９の横幅によって異なる。すなわち、端子９の種類が異なると、好適な間隔が異なる場合がある。そこで例えば、エアシリンダ３６の代わりにサーボモータを用い、端子９の種類に応じてクランプ時のクランプ部材３１Ｌ，３１Ｒの間隔を変更するようにしてもよい。

次に、その一例について説明する。本例では、コンピュータ５０は、駆動制御部５１の制御に用いられる設定データを記憶する設定データ記憶部５２を有している。設定データ記憶部５２は、設定データの一つとして、端子９の種類に応じたクランプ部材３１Ｌ，３１Ｒの好適な間隔を予め記憶している。また、クリンプハイト測定装置５は、同一の端子９に対して、ワイヤバレル９ａおよびインシュレーションバレル９ｂの両方のクリンプハイトを測定することができる。同一の端子９であっても、ワイヤバレル９ａの横幅とインシュレーションバレル９ｂの横幅とは異なる。そこで、設定データ記憶部５２は、設定データの一つとして、バレルの種類に応じたクランプ部材３１Ｌ，３１Ｒの好適な間隔を予め記憶している。

設定データの数および内容は特に限定されない。本実施形態では、設定データ記憶部５２は、少なくとも、スピンドル１１の測定位置と待避位置との間の移動速度、スピンドル１１の測定位置および／または待避位置からの移動開始時期、クランプ部材３１Ｌ，３１Ｒの移動速度、クランプ部材３１Ｌ，３１Ｒの移動量、クランプ部材３１Ｌ，３１Ｒの移動開始時期、アンビル１２の移動速度、アンビル１２の移動量、およびアンビル１２の移動開始時期を一組の設定データとして、複数組の設定データを記憶している。

使用する設定データを切り替えることにより、スピンドル１１の測定位置と待避位置との間の移動速度、スピンドル１１の測定位置および／または待避位置からの移動開始時期、クランプ部材３１Ｌ，３１Ｒの移動速度、クランプ部材３１Ｌ，３１Ｒの移動量、クランプ部材３１Ｌ，３１Ｒの移動開始時期、アンビル１２の移動速度、アンビル１２の移動量、およびアンビル１２の移動開始時期のうちの一または二以上を調整することができる。なお、これらを調整する方法は、使用する設定データを切り替える方法に限られない。例えば、ユーザがコンピュータ５０に対して入力操作を行い、上記の一または二以上を調整することも可能である。

図１１は、コンピュータ５０の構成図である。駆動制御部５１がエアシリンダ１８とモータ２５とエアシリンダ３６とを制御し、位置センサ１５がアンビル１２の位置を検出することにより、アンビル位置取得部５６は、原点位置の測定時は原点位置を原点位置記憶部５３に記憶させ、クリンプハイト測定時は原点位置とクリンプハイト接触測定位置との差を端子９のクリンプハイト値としてクリンプハイト記憶部５４に記憶させる。

比較結果出力部５５（図１１参照）は、クリンプハイト記憶部５４に記憶されたクリンプハイト値と、予め定められた数値範囲とを比較し、その比較結果を出力する。比較結果出力部５５は、クリンプハイト記憶部５４に記憶されたクリンプハイト値（すなわち、クリンプハイトの測定値）が上記数値範囲内にあれば、その端子９の圧着状態を良好と判定し、その結果を出力する。

原点位置の測定は、クリンプハイトの測定に先立って予め行われる。ただし、原点位置の測定の時期および回数は何ら限定されない。原点位置の測定は、クリンプハイトの測定を所定回数行う毎に行ってもよい。また、原点位置の測定をクリンプハイトの測定の度に行うことも可能である。原点位置の測定時には、アンビル１２はスピンドル１１に接触するまで下降する。アンビル１２の下降速度は任意に調整可能である。原点位置の測定時とクリンプハイトの測定時とにおいて、アンビル１２の下降速度は同一であってもよいが、本実施形態では、原点位置の測定時のアンビル１２の下降速度は、クリンプハイトの測定時のアンビル１２の下降速度よりも遅く設定されている。これにより、アンビル１２とスピンドル１１とが接触するときの衝撃を緩和することができ、アンビル１２およびスピンドル１１の損傷を防止することができる。

クリンプハイトの測定前は、端子９とスピンドル１１との干渉を避けるために、スピンドル１１は待避位置に位置付けられている（図５参照）。この状態において、端子９が圧着された電線２は、クリンプハイト測定装置５の手前の位置に搬送される。端子９は、スピンドル１１の真上の位置に搬送される。本実施形態では、端子９は、側方からクリンプハイト測定装置５に搬送される。ただし、クリンプハイト測定装置５に対する電線２および端子９の搬送方向は特に限定されず、例えば、端子９はクリンプハイト測定装置５に前方から搬送されてもよい。

端子９および電線２がクリンプハイト測定装置５に搬送されると、エアシリンダ１８が作動し、スピンドル１１が上昇する。これにより、端子９の裏面がスピンドル１１によって支持される。なお、このときのスピンドル１１の上端の位置が、アンビル１２の原点位置となる。

次に、エアシリンダ３６が作動し、センタリング機構３０のクランプ部材３１Ｌ，３１Ｒが閉じられる。これにより、端子９は、クランプ部材３１Ｌ，３１Ｒの保持部３３Ｌ，３３Ｒに保持され、中央位置に位置付けられる。端子９が左方または右方にずれていた場合、端子９の位置が中央位置に矯正される。

次に、クランプ部材３１Ｌ，３１Ｒが保持力を弛めることなく端子９を保持した状態のまま、モータ２５が駆動し、アンビル１２が端子９に接触するまで下降する。アンビル１２が端子９に接触すると、アンビル１２は停止する。第３スライダ２３は、設定停止位置までさらに下降し、モータ２５は停止する。そして、位置センサ１５によって、このときのアンビル１２の位置（すなわち、接触位置）が検出される。

前述したように、コンピュータ５０のアンビル位置取得部５６（図１１参照）は、アンビル１２の接触位置から原点位置を引くことによりクリンプハイトの値を取得し、その値をクリンプハイト記憶部５４に記憶させる。

その後、モータ２５が逆回転し、アンビル１２が上昇する。次に、エアシリンダ３６が作動し、センタリング機構３０のクランプ部材３１Ｌ，３１Ｒが開かれる。これにより、端子９の保持は解除される。次に、エアシリンダ１８が作動し、スピンドル１１は待避位置にまで下降する。その後、端子９は電線２と共に、クリンプハイト測定装置５の外部に搬送される。

以上がクリンプハイトの測定手順の一例である。なお、スピンドル１１、センタリング機構３０、アンビル１２の測定および退避動作の順序は、特に限定されるものではない。それらの順序は適宜変更が可能である。

（実施形態の効果）
以上のように、本実施形態に係るクリンプハイト測定装置５によれば、スピンドル１１を待避位置に待避させた状態で端子９を電線２と共に搬送し、その後、スピンドル１１を測定位置に移動させる。そのため、端子９とスピンドル１１との干渉を避けつつ、端子９をスピンドル１１上に支持することができる。したがって、端子９の裏面にバリが発生していたり、あるいはランスが設けられていたとしても、端子９とスピンドル１１との干渉を防止することができる。また、クリンプハイトの測定の際には、スピンドル１１を移動させず、アンビル１２のみを昇降させる。そのため、アンビル１２の位置のみに基づいて、クリンプハイトを測定することができる。よって、２つの測定子のそれぞれの位置に基づいてクリンプハイトを測定する従来技術に比べて、コンピュータ５０の処理負担を少なく抑えることができ、また、測定精度の向上を図ることができる。

また、クリンプハイト測定装置５によれば、スピンドル１１の測定位置と待避位置との間の移動速度、スピンドル１１の測定位置および／または待避位置からの移動開始時期、クランプ部材３１Ｌ，３１Ｒの移動速度、クランプ部材３１Ｌ，３１Ｒの移動量、クランプ部材３１Ｌ，３１Ｒの移動開始時期、アンビル１２の移動速度、アンビル１２の移動量、およびアンビル１２の移動開始時期のうちの一または二以上を調整することができる。

例えば、スピンドル１１が待避位置から測定位置に向かうときの移動速度を、測定位置から待避位置に向かうときの移動速度よりも遅くしてもよい。これにより、スピンドル１１が端子９と接触するときの衝撃を小さく抑えることができる。そのため、端子９の変形や傷付きを抑制することができる。また、スピンドル１１が待避位置に向かうときの移動速度が相対的に速いので、スピンドル１１を測定位置から待避位置に迅速に移動させることができ、全体の処理速度を高速化することができる。

また、アンビル１２が端子９に向かうときの移動速度を、端子９から離れるときの移動速度よりも遅くしてもよい。これにより、アンビル１２が端子９と接触するときの衝撃を小さく抑えることができ、端子９の変形や傷付きを抑制することができる。また、アンビル１２を迅速に端子９から離反させることができ、全体の処理速度を高速化することができる。

また、クランプ部材３１Ｌ，３１Ｒの端子９に接近するときの速度を、端子９から離反するときの速度よりも遅くしてもよい。これにより、クランプ部材３１Ｌ，３１Ｒが端子９と接触するときの衝撃を小さく抑えることができ、端子９の変形や傷付きを抑制することができる。また、クランプ部材３１Ｌ，３１Ｒを迅速に離反させることができ、全体の処理速度を高速化することができる。

また、端子９の寸法に応じて、スピンドル１１の移動開始時期、アンビル１２の移動開始時期、およびクランプ部材３１Ｌ，３１Ｒの移動開始時期を調整してもよい。これにより、寸法の異なる複数種類の端子９に対して、スピンドル１１、アンビル１２、およびクランプ部材３１Ｌ，３１Ｒの到達時期を同一にすることができる。例えば、横幅が小さい端子９に対しては、クランプ部材３１Ｌ，３１Ｒの移動開始時期を早め、逆に、横幅が大きい端子９に対しては、クランプ部材３１Ｌ，３１Ｒの移動開始時期を遅らせることにより、横幅の異なる複数種類の端子９に対し、クランプ部材３１Ｌ，３１Ｒの挟持タイミングを統一することができる。このように移動開始時期を調整することによって、複数種類の端子９に対して、同じタイミングで測定動作を行うことができる。また、端子９に対するスピンドル１１、アンビル１２、およびクランプ部材３１Ｌ，３１Ｒの到達時期を統一することにより、端子９の姿勢矯正の安定化を図ることができる。

本実施形態によれば、コンピュータ５０は、複数組の設定データを記憶した設定データ記憶部５２と、設定データ記憶部５２に記憶されたいずれか一組の設定データに基づいて、スピンドル１１を駆動するエアシリンダ１８と、アンビル１２を駆動するモータ２５と、クランプ部材３１Ｌ，３１Ｒを駆動するエアシリンダ３６とを制御する駆動制御部５１とを備えている。使用する設定データを変更することにより、仕様の異なる複数種類の端子９に対し、あるいは、同一の端子９における異なるかしめ部分に対し、同一の処理にてクリンプハイトを測定することが可能となる。

本実施形態によれば、原点位置の測定時のアンビル１２の下降速度を任意に設定できる。例えば、原点位置の測定時のアンビル１２の下降速度をクリンプハイトの測定時のアンビル１２の下降速度よりも遅く設定することができる。そのため、アンビル１２とスピンドル１１とが接触するときの衝撃を緩和することができる。したがって、上記速度をより遅い速度にすることで、アンビル１２およびスピンドル１１の損傷を防止することができる。また、位置センサ１５に衝撃が加わることを防止することができる。

クリンプハイト測定装置５によれば、ばね２２を調整することにより、アンビル１２の押し付け力を調整することができる。ばね２２は、アンビル１２の押し付け力を調整する押し付け力調整装置を構成している。アンビル１２の押し付け力を調整することにより、端子９の変形や傷付きを防止することが容易となる。また、押し付け力を調整することにより、アンビル１２を端子９に十分に押し付けることができ、精度のよい測定が可能となる。

なお、押し付け力調整装置は、アンビル１２の押し付け力を調整できる装置であれば、その構成は何ら限定されない。例えば、アンビル１２を駆動するモータ２５のトルクを自動調整する装置を設けてもよい。また、例えば、アンビル１２の駆動機構として流体圧シリンダ（例えば、エアシリンダ、油圧シリンダなど）を用い、流体圧シリンダの上流側に作動流体の圧力を調整する圧力調整装置を設け、流体圧シリンダの作動流体の圧力を自動調整するようにしてもよい。また、アンビル１２の駆動機構としてソレノイドを用い、そのソレノイドの上流側に電流調整装置を設け、ソレノイドの吸引力を自動調整するようにしてもよい。

また、クリンプハイト測定装置５によれば、クランプ部材３１Ｌ，３１Ｒの端子９を挟み込む力を調整するクランプ力調整装置３９を備えている。端子９の種類に応じた力で端子９を挟み込むことにより、様々な種類の端子９を良好に保持することができる。また、端子９の変形や傷付きを容易に防止することができる。

なお、クランプ力調整装置３９の構成は、特に限定されない。例えば、クランプ部材３１Ｌ，３１Ｒの駆動機構としてモータを用い、そのモータのトルクまたは速度を自動調整する装置を設けてもよい。また、クランプ部材３１Ｌ，３１Ｒの駆動機構として流体圧シリンダ（例えば、エアシリンダ、油圧シリンダなど）を用い、流体圧シリンダの上流側に作動流体の圧力を調整する圧力調整装置を設け、流体圧シリンダの作動流体の圧力を自動調整するようにしてもよい。また、クランプ部材３１Ｌ，３１Ｒの駆動機構としてソレノイドを用い、そのソレノイドの上流側に電流調整装置を設け、ソレノイドの吸引力を自動調整するようにしてもよい。

また、クリンプハイト測定装置５によれば、クランプ部材３１Ｌ，３１Ｒが端子９を挟み込んだ後に端子９に弾性力が付与されるように、クランプ部材３１Ｌ，３１Ｒを直接または間接的に端子９側に付勢するばね４６（またはばね４６Ｂ）を備えている。これにより、クランプ部材３１Ｌ，３１Ｒにより端子９を保持したときに、端子９が傾いた状態で保持されていたとしても、クリンプハイト測定時に、端子９をしっかりと保持しながら、端子９の姿勢を矯正することができる。さらに、端子９を挟み込む際の衝撃を緩和し、端子９の変形を防ぐことができる。

クリンプハイト測定装置５によれば、スピンドル１１の昇降を案内する第１スライダ１４と、アンビル１２の昇降を案内する第２スライダ２０とは、同一のガイドレール１７に取り付けられている。そのため、スピンドル１１とアンビル１２とを、互いの相対位置を高精度に保った状態に容易に組み立てることができる。

また、クリンプハイト測定装置５によれば、測定されたクリンプハイトの値を予め定めた数値範囲と比較し、その比較結果を出力する比較結果出力部５５（図１１参照）を備えている。そのため、クリンプハイトの測定結果に基づいて、端子９の圧着状態の良否を判定することができる。

スピンドル１１の直径は、端子９の横幅よりも小さくなっている。そのため、図１２に示すように、端子９の両側の裏面にバリ９ｃが発生していた場合でも、スピンドル１１が端子９の裏面の中央部を支持することにより、端子９を安定して支持することができる。したがって、バリ９ｃによる測定誤差の発生を抑制することができる。

クリンプハイト測定装置５によれば、スピンドル１１とアンビル１２と位置センサ１５とは、同一鉛直線上に配置されている。そのため、アッベの原理に則った高精度な測定が可能となる。

＜第２実施形態＞
第１実施形態では、端子９を支える支持部材はスピンドル１１によって構成され、端子９に押し当てられる測定子はアンビル１２によって構成されていた。しかし、それらの関係は逆であってもよい。図１３に示すように、第２実施形態では、端子９を支える支持部材はアンビル１２によって構成され、端子９に押し当てられる測定子はスピンドル１１によって構成されている。本実施形態では、アンビル１２は端子９を上方から支え、スピンドル１１は下方から端子９に押し当てられる。このように、支持部材が端子９を支える方向は特に限定されず、測定子が端子９に押し当てられる方向も特に限定されない。

本実施形態では、アンビル１２は、待避位置と測定位置との間で昇降する。原点位置の測定の際には、端子９がない状態でスピンドル１１を上昇させ、スピンドル１１をアンビル１２と接触させる。アンビル１２と接触した位置がスピンドル１１の原点位置となる。クリンプハイトの測定の際には、スピンドル１１が上昇し、端子９と接触する。そのときのスピンドル１１の位置が接触位置となる。第１実施形態と同様、スピンドル１１の接触位置と原点位置との差がクリンプハイトとなる。

第１実施形態と同様、図１４に示すように、アンビル１２と保持部３３Ｌ，３３Ｒとの干渉を避けるため、アンビル１２と保持部３３Ｌ，３３Ｒとは、前後（図１４の左右）にずれた位置に配置されている。

その他については、第１実施形態と同様である。本実施形態においても、第１実施形態と同様の効果を得ることができる。

＜第３実施形態＞
前述の通り、第１実施形態に係るクリンプハイト測定装置５では、第３スライダ２３を昇降させる駆動機構はサーボモータ２５である。サーボモータ２５により、第３スライダ２３の位置を任意に調整することができる。端子９の寸法に応じて、第３スライダ２３の下降位置を自由に調整することが可能である。例えば、大きな端子９に対しては、第３スライダ２３の下降位置を高めに設定し、逆に、小さな端子９に対しては、第３スライダ２３の下降位置を低めに設定することができる。

ところで、第３スライダ２３の下降位置が一定であるとすると、大きな端子９では、ばね２２の縮み量が大きくなるため、端子９には比較的大きな押し付け力が加わる。逆に、小さな端子９では、ばね２２の縮み量が小さくなるため、端子９には比較的小さな押し付け力が加わる。ところが、測定対象となる端子９の寸法の差が小さい場合、端子９の種類による押し付け力の相違は、それほど大きくはない。また、ばね２２の特性によっては、端子９の寸法が多少異なっていても、押し付け力はそれほど相違しない。

押し付け力の相違が測定誤差を招かない程度に小さい場合には、第３スライダ２３の下降位置を常に一定の位置としてもよい。これにより、位置調整が困難な駆動機構を利用することが可能となる。例えば、サーボモータ２５の代わりに、エアシリンダやソレノイドなどを利用することができる。本実施形態に係るクリンプハイト測定装置は、第１実施形態において、第３スライダ２３を昇降させる駆動機構として、第３スライダ２３の下降位置の調整が自由なサーボモータ２５の代わりに、エアシリンダやソレノイド等のように、第３スライダ２３を常に一定の位置に下降させるものを用いたものである。

通常、エアシリンダやソレノイドはサーボモータ２５よりも安価である。したがって、本実施形態によれば、クリンプハイト測定装置５の低コスト化を図ることができる。

＜第４実施形態＞
図１に示すように、第１実施形態に係る電線処理装置１では、クリンプハイト測定装置５Ｆ，５Ｒは、端子圧着ユニット４Ｆ．４Ｒに対して、正回転方向側に配置されていた。これに対し、図１５に示すように、第４実施形態に係る電線処理装置１は、クリンプハイト測定装置５Ｆ，５Ｒが端子圧着ユニット４Ｆ，４Ｒに対して、逆回転方向側に配置されているものである。

図示は省略するが、フロント側のクリンプハイト測定装置５Ｆが端子圧着ユニット４Ｆに対して逆回転方向側に配置され、リア側のクリンプハイト測定装置５Ｒが端子圧着ユニット４Ｒに対して正回転方向側に配置されていてもよい。フロント側の端子圧着ユニット４Ｆで端子９が圧着された電線２は、基準位置に戻される。そのため、クリンプハイト測定装置５Ｆを端子圧着ユニット４Ｆとカッターユニット３との間に配置することにより、電線２を端子圧着ユニット４Ｆから更に正回転方向側に余分に搬送する必要がなくなる。したがって、フロント側の電線２の移動距離を短くすることができ、移動時間を短縮することができる。一方、リア側の端子圧着ユニット４Ｒで端子９が圧着された電線２は、トレイ７に向かって搬送される。そのため、クリンプハイト測定装置５Ｒを端子圧着ユニット４Ｒとトレイ７との間に配置することにより、電線を端子圧着ユニット４Ｒから逆回転方向側にいったん戻す必要がなくなる。したがって、リア側においても、電線２の移動距離を短くすることができ、移動時間を短縮することができる。したがって、電線処理装置１の処理時間を短縮することが可能となる。

１ 電線処理装置
２ 電線
５，５Ｆ，５Ｒ クリンプハイト測定装置
１１ スピンドル（支持部材）
１２ アンビル（測定子）
１５ 位置センサ
１８ エアシリンダ（支持部材駆動機構）
２５ モータ（測定子駆動機構）
３１Ｌ，３１Ｒ クランプ部材
３６ エアシリンダ（クランプ部材駆動機構）
５０ コンピュータ（測定手段）

Claims (12)

1. 電線に圧着された圧着端子のクリンプハイトを測定するクリンプハイト測定装置であって、
   前記圧着端子の表面および裏面のうちの一方の面を支える支持部材と、
   前記支持部材が前記圧着端子の一方の面と接触する測定位置と、前記測定位置よりも前記圧着端子から離れた側に位置する待避位置との間で前記支持部材を移動させる支持部材駆動機構と、
   前記圧着端子を所定の中央位置に保持するように、前記圧着端子を両側方から挟み込む一対のクランプ部材と、
   前記両クランプ部材を互いに接近および離反させるように移動させるクランプ部材駆動機構と、
   前記支持部材に支えられた前記圧着端子の他方の面に押し当てられる測定子と、
   前記測定子を前記支持部材に接近させる方向および前記支持部材から離反させる方向に移動させる測定子駆動機構と、
   前記測定子の位置を検出する位置センサと、
   前記測定位置にある前記支持部材に前記測定子を押し当て、そのときの測定子の位置を原点位置として取得し、前記測定位置にある前記支持部材に支えられた前記圧着端子に前記測定子を押し当て、そのときの測定子の位置と前記原点位置とに基づいて前記圧着端子のクリンプハイトを測定する測定手段と、
   を備えた圧着端子のクリンプハイト測定装置。
2. 前記測定手段は、前記支持部材の前記測定位置と前記待避位置との間の移動速度、前記支持部材の前記測定位置および／または前記待避位置からの移動開始時期、前記クランプ部材の移動速度、前記クランプ部材の移動量、前記クランプ部材の移動開始時期、前記測定子の移動速度、前記測定子の移動量、および前記測定子の移動開始時期のうちの一または二以上を調整可能に構成されている、請求項１に記載の圧着端子のクリンプハイト測定装置。
3. 前記測定手段は、前記支持部材駆動機構と前記クランプ部材駆動機構と前記測定子駆動機構とを制御可能に構成され、
   前記支持部材の前記測定位置と前記待避位置との間の移動速度、前記支持部材の前記測定位置および／または前記待避位置からの移動開始時期、前記クランプ部材の移動速度、前記クランプ部材の移動量、前記クランプ部材の移動開始時期、前記測定子の移動速度、前記測定子の移動量、および前記測定子の移動開始時期を一組の設定データとして、複数組の設定データを記憶する設定データ記憶部と、
   前記設定データ記憶部に記憶されているいずれか一組の設定データに基づいて、前記支持部材駆動機構、前記クランプ部材駆動機構、および前記測定子駆動機構を制御する駆動制御部と、を備えている、請求項１または２に記載のクリンプハイト測定装置。
4. 前記測定手段は、前記原点位置の取得時における前記測定子の前記支持部材に対する接近速度が調整可能なように構成されている、請求項１〜３のいずれか一つに記載の圧着端子のクリンプハイト測定装置。
5. 前記測定子の前記圧着端子に対する押し付け力を調整する押し付け力調整装置を備えている、請求項１〜４のいずれか一つに記載の圧着端子のクリンプハイト測定装置。
6. 前記クランプ部材の前記圧着端子を挟み込む力を調整するクランプ力調整装置を備えている、請求項１〜５のいずれか一つに記載の圧着端子のクリンプハイト測定装置。
7. 前記クランプ部材が前記圧着端子を挟み込んだ後に前記圧着端子に弾性力が付与されるように、前記クランプ部材を直接または間接的に前記圧着端子側に付勢する弾性部材を有する機構を備えている、請求項１〜６のいずれか一つに記載の圧着端子のクリンプハイト測定装置。
8. 前記支持部材と共に移動するように前記支持部材に設けられた第１スライダと、
   前記測定子と共に移動するように前記測定子に設けられた第２スライダと、
   前記第１スライダおよび前記第２スライダをスライド自在に支持するレールと、を備えている、請求項１〜７のいずれか一つに記載の圧着端子のクリンプハイト測定装置。
9. 前記第２スライダの前記第１スライダ側と反対の側に配置され、前記レールにスライド自在に支持された第３スライダと、
   一端が前記第２スライダに取り付けられ、他端が前記第３スライダに取り付けられ、前記第２スライダと前記第３スライダとの間に介在する弾性体と、を備え、
   前記測定子駆動機構は、前記レール上を移動するように前記第３スライダを駆動する機構からなっている、請求項８に記載の圧着端子のクリンプハイト測定装置。
10. 前記測定手段によって測定されたクリンプハイトを予め定められた数値範囲と比較し、その比較結果を出力する比較手段を備えている、請求項１〜９のいずれか一つに記載の圧着端子のクリンプハイト測定装置。
11. 前記支持部材は、前記圧着端子の裏面を支えるように形成され、
    前記測定子は、前記圧着端子の表面に押し当てられるように形成され、
    前記支持部材は、直径が前記圧着端子の横幅よりも小さなスピンドルからなっている、請求項１〜１０のいずれか一つに記載の圧着端子のクリンプハイト測定装置。
12. 前記支持部材と前記測定子と前記位置センサとは、前記測定子の移動方向に延びる同一直線上に配置されている、請求項１〜１１のいずれか一つに記載の圧着端子のクリンプハイト測定装置。

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