JP5050990B2 - 線材自動引張試験装置 - Google Patents

Description

本発明は、線材の試験片を引張試験機本体に自動的に供給する線材自動引張試験装置に関する。

従来より、オートハンド装置を用いて線材の試験片を試験機本体に供給し、試験機本体でこの試験片をチャッキングして引張力を負荷するようにした装置が知られている（例えば特許文献１参照）。この特許文献１記載の装置では、上下一対のオートハンドつかみ具により線材試験片を把持し、試験機本体に供給する。

特開平７−３３３１２４号公報

しかしながら、例えばコイル状に巻回された線材を所定長さに切断して試験片を得る場合、試験片に曲がりが発生し、試験片を良好に把持できないおそれがある。

本発明による線材自動引張試験装置は、曲がり状態の線材試験片を保持する線材保持手段と、保持手段により保持された線材試験片を曲がり矯正手段に供給する線材供給手段と、線材試験片に張力を付与して線材試験片の曲がりを矯正する曲がり矯正手段と、曲がり矯正手段により曲がりが矯正された線材試験片を試験機本体に搬送する搬送手段と、搬送手段により搬送された線材試験片に引張試験力を負荷する負荷手段と、を備え、曲がり矯正手段は、線材試験片の両端部を把持する第１の把持装置と、線材試験片の長さ方向に第１の把持装置を移動して、線材試験片に張力を付与する移動手段とを有し、搬送手段は、第１の把持装置により線材試験片を把持したまま第１の把持装置を試験機本体側に搬送し、負荷手段は、試験機本体に設けられた第２の把持装置を介して線材試験片に引張試験力を負荷することを特徴とする。

本発明によれば、線材試験片に張力を付与して曲がりを矯正するとともに、曲がりが矯正された線材試験片を試験機本体に搬送し、引張試験力を負荷するようにしたので、曲がり状態の線材試験片の引張試験を良好に行うことができる。

以下、図面を参照して本発明による線材自動引張試験装置の一実施の形態について説明する。
図１は、本発明の実施の形態に係る線材自動引張試験装置の全体構成を示す正面図であり、図２は平面図（図１の矢視II図）である。なお、説明の便宜上、図示のように前後左右方向を定義し、以下ではこの定義にしたがって各部の構成を説明する。試験対象である試験片ＴＰは、例えばコイル状の線材を切断して得られた線材試験片であり、本実施の形態では、この試験片ＴＰの曲がりを自動的に矯正して引張試験を行う。

図１，２に示すように線材自動引張試験装置は、線材試験片ＴＰをストックするマガジンラック１と、マガジンラック１を所定の試験片供給位置に移動するラック移動装置２と、試験片供給位置に移動されたマガジンラック１から線材試験片ＴＰを取り出し、試験片ＴＰに張力を付与して試験片ＴＰの曲がりを矯正する曲がり矯正装置３と、曲がり矯正装置３により曲がりが矯正された試験片ＴＰを図の左方向に搬送する搬送装置４と、搬送装置４により搬送された試験片ＴＰの引張試験を行う試験機本体５とを備える。

まず、マガジンラック１の構成を説明する。図３（ａ），（ｂ）は、マガジンラック１の全体構成を示す側面図および正面図であり、図４は要部斜視図である。マガジンラック１は、複数本のパイプ１０をケース１１内に立設してなる。ケース１１は、左右方向に延設された下部支持部材１２と、下部支持部材１２の左右両端部に立設された一対の支柱１３，１４と、支柱１３，１４の上端部に架設された上部支持部材１５とにより構成される。パイプ１０は左右の支柱１３，１４の間に並設され、各パイプ１０の上下端部は、それぞれ上部支持部材１５および下部支持部材１２を貫通して支持されている。パイプ１０の上端は開放され、パイプ１０の下端は閉塞されている。

図３（ｂ）に示すように下部支持部材１２の左右両端部には、それぞれ上下方向に向けて一対のピン孔１２ａが開口され、さらにこのピン孔１２ａの左右内側にも上下方向に向けて一対のピン孔１２ｂが開口されている。ピン孔１２ａおよび１２ｂには、それぞれ後述（図６）のチェーンコンベヤ２０のピン２１１およびリフター２５のピン２６２が挿入される。支柱１３の右側面には、上下方向にわたって複数のねじ穴１６が穿設されている。ねじ穴１６には、マガジンラック１を識別するための識別用ネジ１７が取り付けられる。

このように構成されたマガジンラック１のパイプ１０内には、図４に示すようにそれぞれ所定長さの線材試験片ＴＰが収容支持される。試験片ＴＰの長さはパイプ１０の全長よりも長く形成されており、試験片ＴＰをパイプ１０の上端面から最下部に至るまで挿入したとき、試験片ＴＰの上端部は、図示のように湾曲した状態でパイプ１０の上端面から突出する。なお、パイプ１０は、上部支持部材１５に設けられた貫通穴に挿入されて固定されるが、パイプ抜け防止のため貫通穴は途中で細くなり、パイプ１０の上端部は貫通穴の途中に位置する。貫通穴から挿入された試験片ＴＰがパイプ１０の上端部に引っ掛からないようにパイプ１０の内径は貫通穴の内径よりも大きい。

ラック移動装置２の構成を説明する。図５（ａ）は、ラック移動装置２の構成を示す平面図であり、図５（ｂ）は、側面図（図１の矢視V図）、図６は、図５（ｂ）のVI-VI線断面図である。図５に示すようにラック移動装置２は、ラック１を前方に移動するチェーンコンベヤ２０と、ラック１を昇降するリフター２５とを有する。なお、図５（ａ）ではラック１およびチェーンコンベヤ２０のチェーン２１の図示を省略している。

チェーンコンベヤ２０は、ベースフレーム２００（図１）上に搭載され、モータ２２の駆動によりチェーン２１が移動する。図６に示すようにチェーン２１の表面には左右一対のピン２１１が突設され、ピン２１１がラック１のピン孔１２ａに挿入され、ピン２１１を介してチェーン２１上にラック１が立設されている。図５（ｂ）に示すようにピン２１１は、前後方向にかけて複数本突設され、これらピン２１１を介してチェーン上に複数のラック１が並設されている。なお、図５（ｂ）では、リフター２５の前方および後方にラック１を示しているが、初期状態ではリフター２５の後方にラック１が配置される。

リフター２５は、チェーンコンベヤ２０の前後方向中央部に設けられている。図６に示すようにリフター２５は、エアシリンダ２６と、エアシリンダ２６の上端部に設けられたブラケット２６１と、ブラケット２６１の上面に突設された左右一対のピン２６２と、エアシリンダ２６の左右両側に配設された左右一対のガイドロッド２６３とを有する。ガイドロッド２６３は、ブラケット２６１を介しエアシリンダ２５に追随して上下動し、ブラケット２６１の傾きを防止する。エアシリンダ２６が伸張すると、ラック１底面のピン孔１２ｂにピン２６２が挿入され、ラック１が所定量ΔＬだけ上昇（リフトアップ）する。

リフター２５の左右両側には、ラック１を挟むように支柱２７，２８が立設されている。支柱２７，２８はフレーム２００上に立設され、支柱２７，２８の高さは、ラック１が所定量ΔＬだけ上昇したときの高さにほぼ等しい。各支柱２７，２８の上端部にはそれぞれガイド部２７１，２８１が設けられている。図７（ａ）はガイド部２８１の構成を示す平面図（図６の矢視VII図）であり、図７（ｂ）は図７（ａ）のｂ−ｂ線断面図である。なお、ガイド部２７１の構成はガイド部２８１の構成と同様であり、図示を省略する。

図７（ａ）に示すようにガイド部２８１は上方から見ると略コ字形状をなしている。図７（ａ）の点線は、ガイド部２８１の下端角部の形状を示しており、ガイド部２８１の内側面には下方から上方にかけてテーパ面２８２，２８３が形成されている。これによりガイド部２８１の内側の空間２８４は下方では広く、上方にいくほど狭くなる。このため、ラック１を上昇させると、ラック１はガイド部２８１で前後左右方向の位置が規制され、ラック１を精度よく試験片供給位置に配置できる。

図５（ａ）に示すように支柱２８には、チェーンコンベヤ２０により前方移動するラック１の通過を検出する透過型のマガジン通過センサ２９１が装着されている。マガジン通過センサ２９１がオンしたときに、エアシリンダ２６を伸張すると、ピン孔１２ｂにピン２６２が挿入され、ラック１がリフトアップする。

なお、リフトアップ状態では、後述するように試験片ＳＰが順次ラック１から取り出され、試験片ＳＰが全て取り出されると、エアシリンダ２６が縮退して空のラック１がリフトダウンする。この空ラック１はチェーンコンベヤ２０によりリフター２５の前方に搬送される。図５（ａ）に示すようにチェーンコンベヤ２０の前端部には、全ての試験片ＴＰがラック１から取り出されてリフター２５の前方にラック１が移動した状態、すなわち空ラック２１の満杯状態を検出する空ラック満杯センサ２９２が装着されている。

図６に示すように支柱２７には、ラック１に設けたねじ穴１６に対応して、識別用ネジ１７の有無を検出する近接センサ２９３がそれぞれ装着されている。本実施の形態では、線径や材質が等しい同一種類の試験片ＴＰをそれぞれ同一のラック１内に収容する。したがって、例えばラック１毎に識別用ネジ１７の取付位置を異なったものとすれば、あるいは同一種類の試験片ＴＰが複数のラック１に収容されている場合には、試験片の種類毎に識別用ネジ１７の取付位置を異なったものとすれば、近接センサ２９３からの信号によりラック毎の試験片ＴＰの種類を識別できる。

曲がり矯正装置３の構成を説明する。図８は、曲がり矯正装置３の構成を示す図１の要部拡大図であり、図９は平面図（図８の矢視IX図）である。曲がり矯正装置３は、試験片ＴＰの上下両端部を把持する上把持装置３１および下把持装置３２と、上把持装置３１を下把持装置３２に対し相対的に昇降させる第１昇降シリンダ３３と、上把持装置３１と下把持装置３２を一体に昇降させる第２昇降シリンダ３４とを有する。

図８に示すように第１昇降シリンダ３３のシリンダチューブ３３１の下端部は支持ブラケット３５に固定されている。第１昇降シリンダ３３のシリンダロッド３３２の下端部には上把持装置３１が取り付けられ、支持ブラケット３５の下端部には下把持装置３２が取り付けられている。第１昇降シリンダ３３を最大に伸張させた状態では、上把持装置３１は下把持装置３２に近接した下端位置（実線）にあり、第１昇降シリンダ３４を最大に縮退した状態では、上把持装置３１は下把持装置３２から最大に離間した上端位置（鎖線）にある。把持装置３１，３２の先端部は、左方にかけて水平に延設されている。

支持ブラケット３５の前方には、ベースフレーム２００上に立設された支柱４１０（図１１）を介して支持フレーム４０が立設されている。支持ブラケット３５は第２昇降シリンダ３４により支持され、第２昇降シリンダ３４は支持フレーム４０から支持されている。これにより第２昇降シリンダ３４を伸縮すると、支持ブラケット３５と第１シリンダ３３が支持フレーム４０に対して一体に昇降する。

支持フレーム４０の後面には、上下一対のレール４１が左右方向にわたって延設されている。図９に示すように支持ブラケット３５の前方には、上下のレール４１に沿ってスライド可能なスライド部材３６が設けられ、上下の把持装置３１，３２と昇降シリンダ３３，３４は、スライド部材３６を介し一体となって左右方向に移動可能である。

把持装置３１，３２の構成について説明する。図１０（ａ）は下把持装置３２の概略構成を示す正面図であり、図１０（ｂ）は平面図である。なお、上把持装置３１の構成も下把持装置３１の構成と同様であり、図示を省略する。把持装置３２は、前後方向に拡縮可能に設けられた前フィンガ３１１および後フィンガ３１２と、フィンガ３１１，３１２を前後方向に拡縮駆動するエアチャック３１３とを有する。

後フィンガ３１２の上面および下面には、それぞれ前方に突出した突起部３１４、３１５が設けられ、突起部３１４と３１５の間に凹部３１６が形成されている。前フィンガ３１１の後面には、凹部３１６に嵌合するように凸部３１７が形成されている。突起部３１４，３１５の前面にはそれぞれＶ字状の溝３１８が形成されている。なお、上把持装置３１のフィンガ３１１，３１２には、滑り止め用のＶ溝加工が施されている。下把持装置３２の把持力は、レギュレータにより調整可能であり、上把持装置３１の把持力よりも弱く設定されている。

図８に示すようにラック１がリフター２５により上昇されると、ラック１の上端面が下把持装置３２に近接する。このため、試験片ＴＰの上端部が曲がっていても、試験片ＴＰの上端部は図１０（ｂ）に示すように前フィンガ３１１と後フィンガ３１８の間に位置する。この状態で、エアチャック３１３の駆動により後フィンガ３１２の凹部３１６に前フィンガ３１１の凸部３１７を嵌合させると、図１０（ｃ）に示すように試験片ＴＰは凸部３１７によって溝３１８の奥方に押し込まれ、前後のフィンガ３１１，３１２の間に挟持される。この場合、試験片ＴＰの上端部はそれぞれ上下２カ所の突起部３１４，３１５に押し込まれて挟持され、これにより試験片ＴＰを上下方向にまっすぐに把持できる。

図１１に示すように第１昇降シリンダ３３のシリンダチューブ３１１の表面には、シリンダロッド３３２の伸縮位置を検出する位置検出センサ３９１〜３９３が装着されている。位置検出センサ３９１〜３９３は、それぞれ上把持装置３１の下端位置、上端位置、および上端位置よりやや下方の把持位置に対応して設けられ、これにより上把持装置３１の位置が検出される。

ここで、把持位置とは、下把持装置３２により試験片ＴＰを把持する位置である。本実施の形態では、下端位置で試験片ＴＰの上端部を把持して上把持装置３１を把持位置まで上昇させた後、下把持装置３２により試験片ＴＰの下端部を把持し、さらに上把持装置３１を上端位置まで上昇させる。これにより、下把持装置３２の把持力は上把持装置３１の把持力よりも弱いため、試験片ＴＰは上把持装置３１が把持位置から上端位置まで上昇する間に、下把持装置３２のフィンガ間を滑りながら上把持装置３１により引っ張られる。その結果、試験片ＴＰに張力が付与され、試験片ＴＰの曲がりが矯正される。

搬送装置４の構成について説明する。図１１に示すように上下のレール４１の間には、左右方向にボールねじ４２が延設されている。曲がり矯正装置３には上下のスライド部材３６の間にナット３７が設けられ、ボールねじ４２にナット３７が取り付けられている。ボールねじ４２の端部にはプーリ４３が連結され、図９に示すようにプーリ４３はチェーン４４を介してサーボモータ４５に連結されている。これによりサーボモータ４５が回転すると、チェーン４４およびプーリ４３を介してボールねじ４２が回転し、ボールねじ４２の回転によりナット３７を介して曲がり矯正装置３（把持装置３１，３２や昇降シリンダ３３，３４）が左右方向にスライド移動する。なお、サーボモータ４５にはモータ４５の回転量を検出するエンコーダが組み込まれ、エンコーダからの信号により把持装置３１，３２の移動量が制御される。

試験機本体５の構成について説明する。図１２は試験機本体５の正面図である。試験機本体５は、試験片ＴＰの上端部および下端部を把持する上把持装置５１および下把持装置５２と、一方の把持装置（例えば下把持装置５２）を介して試験片ＴＰに引張力を負荷する負荷アクチュエータ５３とを有する。負荷アクチュエータ５３は例えばサーボモータにより構成され、サーボモータの回転に応じて下把持装置５２が昇降する。なお、負荷アクチュエータ５３をエアシリンダ等により構成することもできる。

図１３は把持装置５１，５２の拡大図である。把持装置５１，５２はそれぞれ前フィンガ５０１および後フィンガ５０２を有し、これらフィンガ５０１，５０２はエアチャック５０３によりアーム５０４を介して前後方向に拡縮可能とされている。アーム５０４の内側にはフィンガ挿入空間ＳＰが形成され、各空間ＳＰには、搬送装置４により搬送された把持装置３１，３２の先端部が挿入される。これにより試験片ＴＰの両端部は、把持装置３１，３２の上下方向内側で、把持装置５１，５２により把持される。

図１４は、本実施の形態に係る線材自動引張試験装置の構成を示すブロック図である。コントローラ６０は、ＣＰＵ，ＲＯＭ，ＲＡＭ，その他の周辺回路を含んで構成される。コントローラ６０には、マガジン通過センサ２９１と、空ラック満杯センサ２９２と、近接センサ２９３と、位置検出センサ３９１〜３９３と、チェーンコンベヤ用モータ２２と、エアシリンダ２６と、第１昇降シリンダ３３と、第２昇降シリンダ３４と、エアチャック３１３，３２３と、サーボモータ４５と、エアチャック５０３と、負荷アクチュエータ５３とが接続されている。

本実施の形態に係る線材自動引張試験装置の主要な動作を説明する。
まず、図４に示すように所定長さの複数の試験片ＴＰをラック１のパイプ内にそれぞれ挿入する。各ラック１の側面には識別用ネジ１７を取り付け、ネジ１７と試験片ＴＰの種類との関係を予めコントローラ６０に記憶しておく。次いで、図５（ｂ）に示すようにピン２１１を介してリフター２５よりも後方のチェーンコンベヤ２０上に、複数のラック１を配設する。なお、初期状態では、図８に示すように把持装置３１，３２は最も右側かつ下側に位置する。

この状態で、図示しない試験開始スイッチがオンされると、コントローラ６０はチェーンコンベヤ用モータ２２を駆動し、チェーンコンベヤ２０によりラック１が前方に搬送される。マガジン通過センサ２９１によりリフター２５の上方のラック１の通過が検出されると、コントローラ６０はモータ２２の駆動を停止し、エアシリンダ２６を伸張する。これによりラック１が押し上げられ、ラック１は試験片供給位置に移動する。この際、ラック１はガイド部２７１，２８１に沿って上昇するため、ラック１を曲げ矯正装置３に対して精度良く位置決めできる。

ラック１が試験片供給位置まで上昇すると、コントローラ６０はエアチャック３２３を駆動し、試験片ＴＰの上端部を下把持装置３２で把持する。この際、試験片ＴＰは下把持装置３２の上下２カ所の突起部３１４，３１５を介して挟持されるため、試験片ＴＰをまっすぐにして把持できる。次いで、コントローラ６０はエアチャック３１３を駆動し、上把持装置３１により試験片ＴＰの上端部を把持した後、エアチャック３２３を駆動し、下把持装置３２を開放する。この場合、下把持装置３２を開放する前にエアチャック３１３を駆動するため、上把持装置３１は試験片ＴＰをまっすぐな状態で把持することができ、試験片ＴＰの把持が容易である。

その後、コントローラ６０は、第１昇降シリンダ３３を駆動し、上把持装置３１を上昇させる。位置検出センサ３９３により上把持装置３１の把持位置までの上昇が検出されると、コントローラ６０はエアチャック３２３を駆動し、下把持装置３２により試験片ＴＰを把持する。この状態でさらに上把持装置３１を上端位置まで上昇させる。これにより試験片ＴＰに張力が付与され、試験片ＴＰの曲がりを矯正できる。

位置検出センサ３９２により上把持装置３１の上端位置までの上昇が検出されると、コントローラ６０は第１昇降シリンダ３３の駆動を停止するとともに、第２昇降シリンダ３４を駆動し、上把持装置３１と下把持装置３２を一体に所定量上昇させる。これにより試験片ＴＰが完全にパイプ１０から抜き出され、試験片ＴＰの上下端部がそれぞれ把持装置３１，３２により把持される。

第２昇降シリンダ３４により把持装置３１，３２が所定量上昇すると、コントローラ６０はサーボモータ４５を駆動する。これによりボールねじ４２が回転し、試験片ＴＰは把持装置３１，３２により把持されたままレール４１に沿って左側に搬送される。コントローラ６０には、予め把持装置３１，３２から把持装置５１，５２内の空間ＳＰまでの距離とサーボモータ４５の回転量との関係が記憶されており、図１３に示すように試験片ＴＰが空間ＳＰ内に挿入すると、コントローラ６０はサーボモータ４５の駆動を停止する。

次いで、コントローラ６０はエアチャック５０３を駆動し、把持装置３１，３２の上下内側で、把持装置５１，５２により試験片ＴＰの両端部を把持する。把持装置５１，５２により試験片ＴＰが把持されると、コントローラ６０は把持装置３１，３２を開放し、サーボモータ４５の駆動により把持装置３１，３２を試験機本体５の右側に退避させる。この場合、把持装置３１，３２を元の位置まで退避させるのではなく、次の試験片ＴＰの取り出し位置、つまり元の位置よりもパイプ１ピッチ分だけ左側に退避させる。これにより左隣のパイプ１０から順次試験片ＴＰを取り出すことができる。

把持装置３１，３２の退避が終了すると、コントローラ６０は負荷アクチュエータ５３を駆動し、試験片ＴＰに所定の引張試験力を負荷する。この際の試験データはコントローラ６０に記憶される。試験片ＴＰが破断すると、コントローラ６０は把持装置５１，５２を開放するとともに、図示しない試験片回収装置を駆動し、引張試験終了後の試験片ＴＰを回収する。

以上の手順を繰り返し、ラック１内の全ての試験片ＴＰの試験が終了すると、コントローラ６０はリフター２５を下降する。これによりチェーンコンベヤ２０上には、試験片ＴＰが全て取り出された空のラック１が載置される。次いで、チェーンコンベヤ２０を駆動し、ラック１を前進させる。マガジン通過センサ２９１により次のラック１の通過が検出されると、リフター２５を駆動し、上述したのと同様な手順でラック内の試験片ＴＰを試験機本体５に供給する。

全てのラック１から試験片ＴＰが取り出された後、チェーンコンベヤ２を駆動すると、空ラック満杯センサ２９２により空ラック１の満杯状態が検出される。これによりコントローラ１はモータ２２の駆動を停止する。以上の一連の手順により、線材自動引張試験装置による試験が終了する。

本実施の形態によれば以下のような作用効果を奏することができる。
（１）試験片ＴＰに張力を付与して試験片ＴＰの曲がりを矯正する曲がり矯正装置３と、曲がり矯正装置３により曲がりが矯正された試験片ＴＰを試験機本体５に搬送する搬送装置４とを備え、搬送装置４により搬送された線材試験片ＴＰを試験機本体５の把持装置５１，５２で把持し、負荷アクチュエータ５３により引張試験力を負荷するようにしたので、曲がった状態の線材試験片ＴＰであっても、その曲がりを矯正して良好な引張試験を行うことができる。
（２）曲がり状態の線材試験片ＴＰをラック１に設けたパイプ１０内にて保持し、チェーンコンベヤ２０とリフター２５を介して試験片ＴＰを試験片供給位置に移動するようにしたので、曲がった状態の試験片ＴＰを曲がり矯正装置３に容易に自動供給することができる。

（３）試験片ＴＰの両端部を把持装置３１，３２により把持するとともに、昇降シリンダ３３、３４により試験片ＴＰの長さ方向に把持装置３１，３２を移動して試験片ＴＰに張力を付与するようにした。さらに、把持装置３１，３２により試験片ＴＰを把持したままボールねじ４２の駆動により把持装置３１，３２を試験機本体５側に搬送し、試験機本体５に設けられた把持装置５１，５２で試験片ＴＰを把持するようにした。これにより試験片ＴＰをまっすぐに伸ばした状態で、試験機本体５まで試験片ＴＰを自動的に供給することができ、試験片ＴＰをまっすぐにした状態で試験機本体５側で把持できる。
（４）把持装置３１，３２で把持装置５１，５２よりも試験片ＴＰの長さ方向外側で試験片ＴＰを把持するようにしたので、把持装置５１，５２は試験片ＴＰの曲がりが矯正された部分を把持することとなり、把持装置５１，５２で試験片ＴＰがまっすぐに把持され、精度よく引張試験を行うことができる。
（５）把持装置５１，５２により試験片ＴＰが把持されると、把持装置３１，３２を開放して試験機本体５側から把持装置３１，３２を退避させるようにしたので、把持装置３１，３２と試験機本体５とが接触することなく試験機本体５に試験片ＴＰを受け渡すことができる。
（６）把持装置３１，３２にそれぞれ前フィンガ３１１と後フィンガ３１２を設け、後フィンガ３１２の上下の突起部３１４，３１５に溝３１８を形成し、試験片ＴＰを溝３１８に押し込んで、フィンガ３１１，３１２により試験片ＴＰの周面を挟持するようにしたので、試験片ＴＰをまっすぐにして把持できる。
（７）ラック１内に左右方向に複数の試験片ＴＰを配設し、把持装置３１，３２を左右方向に移動して試験片ＴＰを順次取り出すとともに、チェーンコンベヤ２０を前後方向に駆動してラック１を試験供給装置に順次移動するようにした。これにより少ないスペースで多数の試験片ＴＰを効率よく試験することができる。

なお、上記実施の形態では、曲がり矯正装置３により試験片ＴＰの曲がりを矯正するようにしたが、試験片ＴＰに張力を付与して曲がりを矯正するのであれば、曲がり矯正手段としての曲がり矯正装置３の構成は上述したものに限らない。曲がり矯正装置３により曲がりが矯正された試験片ＴＰを試験機本体５に搬送するのであれば、搬送手段としての搬送装置４の構成は上述したものに限らない。搬送装置４により搬送された試験片ＴＰに引張試験力を負荷するのであれば、負荷手段の構成もいかなるものでもよい。曲がり状態の線材試験片ＴＰをラック１内で保持するようにしたが、線材保持手段の構成も上述したものに限らない。ラック１内で保持した試験片ＴＰをチェーンコンベヤ２０とリフター２５を介して曲がり矯正装置３に供給するようにしたが、線材供給手段の構成もこれに限らない。

曲がり矯正装置３に設けられた把持装置３１，３２（第１の把持装置）の構成、および試験機本体５に設けられた把持装置５１，５２（第２の把持装置）の構成も上述したものに限らない。第１昇降シリンダ３３の駆動により上把持装置３１を移動して試験片ＴＰに張力を付与するようにしたが、他の移動手段を用いてもよい。後フィンガ３１２（第１の把持部材）の先端部にＶ字状の溝３１８を設けたが、溝形状はこれに限らない。前フィンガ３１１（第２の把持部材）の先端凸部３１７により試験片ＴＰを溝３１８の奥方に押し当てるようにしたが、当接部の構成はこれに限らない。すなわち、本発明の特徴、機能を実現できる限り、本発明は実施の形態の線材自動引張試験装置に限定されない。

本発明の実施の形態に係る線材自動引張試験装置の全体構成を示す正面図。 図１の矢視II図。 （ａ）、（ｂ）はそれぞれ図１のマガジンラックの全体構成を示す側面図および正面図。 図３のマガジンラックの要部斜視図。 （ａ）、（ｂ）はそれぞれ図１のラック移動装置の構成を示す平面図および側面図。 図５（ｂ）のVI-VI線断面図。 （ａ）は図６の矢視VII図、（ｂ）は図７（ａ）のｂ−ｂ線断面図。 図１の要部拡大図。 図８の矢視IX図。 （ａ）は下把持装置の概略構成を示す正面図、（ｂ）、（ｃ）はそれぞれ平面図。 搬送装置の全体を構成を示す正面図。 試験機本体の全体を構成を示す正面図。 図１２の要部拡大図。 本実施の形態に係る線材自動引張試験装置の構成を示すブロック図。

符号の説明

１ マガジンラック
２ ラック移動装置
３ 曲がり矯正装置
４ 搬送装置
５ 試験機本体
１０ パイプ
２０ チェーンコンベヤ
２５ リフター
３１ 上把持装置
３２ 下把持装置
３３ 第１昇降シリンダ
３４ 第２昇降シリンダ
５１ 上把持装置
５２ 下把持装置
５３ 負荷アクチュエータ
６０ コントローラ
３１１ 前フィンガ
３１２ 後フィンガ
３１７ 凸部
３１８ 溝

Claims (3)

1. 曲がり状態の線材試験片を保持する線材保持手段と、
   前記保持手段により保持された線材試験片を曲がり矯正手段に供給する線材供給手段と、
   線材試験片に張力を付与して線材試験片の曲がりを矯正する曲がり矯正手段と、
   前記曲がり矯正手段により曲がりが矯正された線材試験片を試験機本体に搬送する搬送手段と、
   前記搬送手段により搬送された線材試験片に引張試験力を負荷する負荷手段と、を備え、
   前記曲がり矯正手段は、
   線材試験片の両端部を把持する第１の把持装置と、
   線材試験片の長さ方向に前記第１の把持装置を移動して、線材試験片に張力を付与する移動手段とを有し、
   前記搬送手段は、前記第１の把持装置により線材試験片を把持したまま前記第１の把持装置を試験機本体側に搬送し、
   前記負荷手段は、試験機本体に設けられた第２の把持装置を介して線材試験片に引張試験力を負荷することを特徴とする線材自動引張試験装置。
2. 請求項１に記載の線材自動引張試験装置において、
   前記第１の把持装置は、前記第２の把持装置よりも線材試験片の長さ方向外側で線材試験片の両端部を把持し、
   前記搬送手段は、前記第２の把持装置により線材試験片が把持されると、前記第１の把持装置の把持力を解放して前記第１の把持装置を試験機本体側から退避させることを特徴とする線材自動引張試験装置。
3. 請求項１または２に記載の線材自動引張試験装置において、
   前記第１の把持装置は、線材試験片の周面を挟持する第１の把持部材および第２の把持部材を有し、
   前記第１の把持部材の先端部には、線材試験片の位置を規制する溝部が設けられ、
   前記第２の把持部材の先端部には、線材試験片を前記溝部の奥方に押し当てる当接部が設けられることを特徴とする線材自動引張試験装置。

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