JP2013126937A - 光学部材、撮像装置及び光学部材の製造方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 基材2と、基材2上に配置された多孔質ガラス膜6と、を備える光学部材であって、基材2と多孔質ガラス膜6との界面領域4で、基材2から多孔質ガラス膜6に向かう方向に空孔率が増加し、光学部材において基材2から多孔質ガラス層6の表面にわたって、膜厚方向で空孔率が連続的である。
【選択図】 図1
Description
図1は、本発明の光学部材の断面模式図を示している。本発明の光学部材は、基材2上に、連続した孔であるスピノーダル型の相分離由来の多孔質構造を有する多孔質ガラス膜6を備えている。多孔質ガラス膜6は低屈折率な膜であるので、多孔質ガラス膜6と空気との界面(多孔質ガラス膜6の表面)での反射が抑制されて光学部材として利用が期待される。しかし、基材2の上に多孔質ガラス膜を備える光学部材では、多孔質ガラス膜6の表面での反射光と基材2と多孔質ガラス膜6との界面における反射光とで干渉効果によって反射光に干渉縞が現れるリップルという現象が生じてしまう。特に、多孔質ガラス膜6の厚みが光の波長以上数十μm以下である場合に、この干渉効果が強まるため顕著に表れる。リップルは、反射率を測定し、波長を横軸に、反射率を縦軸にとってグラフを作製した場合に、正弦波のように強弱を周期的に繰り返す形で表される(図7の比較例参照)。このようなリップルがあると反射率の波長依存性が強くなり、光学部材として適さない場合がある。
図5は、本発明の光学部材の製造方法を示す模式図である。本発明の光学部材は、基材上に多孔質ガラス膜を有する構成であり、以下のように形成される。すなわち、基材上にガラス粉体を含むガラス粉体膜が形成され、ガラス粉体が加熱・融着されて母体ガラス膜とされ、母体ガラス膜が相分離処理、エッチング処理されて、基材上に多孔質ガラス膜が形成される。そして、本発明の製造方法では、ガラス粉体膜の中心より基材側の温度の方がガラス粉体膜の中心より基材とは反対側の温度よりも高くなるようにガラス粉体を加熱・融着している。光学部材の製造方法の詳細な説明は、図5を用いて以下で述べる。
まず、図5(a)で示すように、基材2上にガラス粉体を含むガラス粉体膜1を形成する。本発明では、基材2上の多孔質ガラス膜6にスピノーダル型の相分離由来の孔構造を形成することが必須である。このためには、ガラスの緻密な組成制御が必要であり、一度ガラス組成を確定したのちに、相分離性を有するガラス粉体を作製し、そのガラス粉体を基材2上に塗布し、溶融して膜形成を行う方法が好ましい。
続いて、図5(b)で示すように、ガラス粉体膜1のガラス粉体どうしを加熱・融着させて、基材2上に相分離性の母体ガラス膜3を形成する。この融着工程において、ガラス粉体膜1の中心より基材側の温度の方がガラス粉体膜の中心より基材2とは反対側の温度よりも高くなるように加熱する。
次に、図5(c)に示すように、基材2上に形成された相分離性の母体ガラス膜3を加熱して相分離ガラス膜5を形成する。ここでいう相分離ガラス膜5とは、酸化ケイ素リッチ相と非酸化ケイ素リッチ相とに相分離されたガラス膜のことである。
次に、図5(d)で示すように、基材2上に形成された相分離ガラス膜5をエッチング処理して、連続した孔を有する多孔質ガラス膜6を基材2上に形成する。エッチング処理によって、相分離ガラス膜5の酸化ケイ素リッチ相を残しながら、非酸化ケイ素リッチ相を除去することができ、残った部分が多孔質ガラス膜6の骨格に、除去された部分が多孔質ガラス膜6の孔になる。
基材Aとしては石英基材(株式会社飯山特殊硝子社製、軟化点1700℃、ヤング率72GPa)を用い、50mm×50mmの大きさに切断した厚さ0.5mmのもので、鏡面研磨したものを使用した。
仕込み組成が、SiO2 64重量%、B2O3 27重量%、Na2O 6重量%、Al2O3 3重量%になるように酸化ケイ素粉体、酸化ホウ素、炭酸ナトリウム、及び酸化アルミニウムの混合粉体を白金るつぼ内で、1500℃で24時間溶融した。その後、溶融した原料の温度を1300℃に下げてからグラファイトの型に流し込んだ。その後、空気中で約20分間放冷した後、500℃の徐冷炉で5時間保持し、最後に24時間かけて冷却させてホウケイ酸塩ガラスを得た。このホウケイ酸塩ガラスのブロックをジェットミルを使用して、平均粒径が4.5μmになるまで粉砕し、ガラス粉体Aを得た。なお、ガラス粉体Aの結晶化温度は800℃であった。
ガラス粉体A 60質量部
α−ターピネオール 44質量部
エチルセルロース(商標 ETHOCEL Std 200(ダウ・ケミカル社製))2質量部
上記原材料を撹拌混合し、ガラスペーストAを得た。ガラスペーストAの粘度は31300mPa・sであった。
ガラスペーストAを基材A上にスクリーン印刷により塗布した。印刷機はマイクロテック社製、MT−320TVを使用した。また、#500の30mm×30mmの版を使用した。次いで、100℃の乾燥炉に10分間静置し、溶剤分を乾燥させた。ガラス粉体膜Aを形成した。
まず、基材Aの下にSiCを接するように敷き、ガラス粉体膜Aを10℃/minで800℃まで昇温し、1時間熱処理して融着させ、基材A上に母体ガラス膜を形成した。焼成炉としてアルバック理工製、赤外線ゴールドイメージ炉QHC−P610を使用した。また、焼成雰囲気を酸素濃度50%以上にするため酸素フローを昇温前に10分行い、酸素フローした状態で熱処理した。続いて、室温まで冷却した後600℃で50時間、相分離処理を行った。そして、最表面を研磨し相分離ガラス膜を形成した。
本実施例は、融着時の熱処理温度を900℃にした以外は実施例1と同様の工程を行い、サンプル2を得た。図6は、サンプル2の基材と多孔質ガラス膜の断面の一部の電子顕微鏡観察図(SEM像)である。
サンプル2をSEMで観察したところ、基材上に膜厚が4.0μmの多孔質ガラス膜が形成されていた。また、図6に示すように、基材と多孔質ガラス膜との界面領域において凹凸が形成されていることが確認された。これは融着工程において、高温による熱処理により基材Aとガラス粉体膜がなじみ、界面領域に凹凸が形成されたと考えられる。そのため、界面領域で空孔率の傾斜が生じたと考えられる。
本実施例は、融着時に熱処理温度を1000℃、熱処理時間を5分とし、それ以外は実施例1と同様の工程を行い、サンプル3を得た。サンプル3をSEMで観察したところ、基材上に膜厚が4.0μmの多孔質ガラス膜が形成されていた。また、基材と多孔質ガラス膜との界面領域において凹凸が形成されていることが確認された。さらに、基材と多孔質ガラス膜との界面領域は、サンプル2より広いことが確認された。
本比較例は、融着時の熱処理温度を700℃にした以外は実施例1と同様の工程を行いサンプル4を得た。サンプル4をSEMで観察したところ、基材上に膜厚が4.0μmの多孔質ガラス膜が形成されていた。しかし、基材と多孔質ガラス膜との界面領域において凹凸は確認されなかった。
続いて、実施例1乃至3、比較例1について反射率の測定を行った。測定には、レンズ反射率測定機(USPM−RU、オリンパス製)を用いて、基材上の多孔質ガラス膜が存在する側から光を入射させてその反射光の量を測定した。測定波長領域は400nmから750nmであった。
本比較例は、焼成炉としてマッフル炉を用い、ガラス粉体膜A全体を均一に昇温させたこと以外は、実施例2と同じ工程を行い、サンプル5を作製した。サンプル5は外観を目視で観察すると白色となり、失透が起こっていることが分かった。これは相分離ガラス膜の表面の温度が上昇し、揮発成分であるナトリウム、ホウ素が揮発し、シリカが結晶化してしまったことが原因と考えられる。
2 基材
3 母体ガラス膜
4 界面領域
5 相分離ガラス膜
6 多孔質ガラス膜
Claims (4)
- 基材と、前記基材の上に配置された多孔質ガラス膜と、を備える光学部材であって、
前記基材と前記多孔質ガラス膜との界面領域で、前記基材から前記多孔質ガラス膜に向かう方向に空孔率が増加し、
光学部材において前記基材から前記多孔質ガラス層の表面にわたって、膜厚方向で空孔率が連続的であることを特徴とする光学部材。 - 請求項1に記載の光学部材と、撮像素子と、を備えた撮像装置。
- 基材の上に多孔質ガラス膜を備える光学部材の製造方法であって、
基材の上にガラス粉体を含むガラス粉体膜を形成する工程と、
前記ガラス粉体膜の中心より前記基材側の温度の方が前記ガラス粉体膜の中心より前記基材とは反対側の温度よりも高くなるように加熱して、前記ガラス粉体を融着し、前記基材の上に相分離性の母体ガラス膜を形成する工程と、
前記母体ガラス膜を加熱して、前記基材の上に相分離ガラス膜を形成する工程と、
前記相分離ガラス膜をエッチング処理して前記基材の上に多孔質ガラス膜を形成する工程と、
を有することを特徴とする光学部材の製造方法。 - 前記母体ガラス膜を形成する工程は、赤外線を吸収する部材と前記基材とを接触させ、赤外線で加熱して前記ガラス粉体膜を融着する工程を含むことを特徴とする請求項3に記載の光学部材の製造方法。
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