JP2013098262A5 - 光学装置、位置検出装置、顕微鏡装置、露光装置及びデバイスの製造方法 - Google Patents

光学装置、位置検出装置、顕微鏡装置、露光装置及びデバイスの製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2013098262A5
JP2013098262A5 JP2011237966A JP2011237966A JP2013098262A5 JP 2013098262 A5 JP2013098262 A5 JP 2013098262A5 JP 2011237966 A JP2011237966 A JP 2011237966A JP 2011237966 A JP2011237966 A JP 2011237966A JP 2013098262 A5 JP2013098262 A5 JP 2013098262A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
condition
opening
light shielding
region
light
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Abandoned
Application number
JP2011237966A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2013098262A (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP2011237966A priority Critical patent/JP2013098262A/ja
Priority claimed from JP2011237966A external-priority patent/JP2013098262A/ja
Priority to US13/648,356 priority patent/US20130107279A1/en
Priority to KR1020120116477A priority patent/KR20130047587A/ko
Priority to CN201210405108XA priority patent/CN103091840A/zh
Publication of JP2013098262A publication Critical patent/JP2013098262A/ja
Publication of JP2013098262A5 publication Critical patent/JP2013098262A5/ja
Abandoned legal-status Critical Current

Links

Description

上記目的を達成するために、本発明の一側面としての光学装置は、光源からの光で被照明面を照明する照明光学系と、前記被照明面を照明する際の照明条件を、第1条件に規定するための第1開口と、前記第1条件とは異なる第2条件に規定するための第2開口とを含み、前記照明光学系の瞳面に配置された開口絞りと、遮光領域を有する遮光板と、前記遮光板を駆動する駆動部と、を有し、前記駆動部は、前記照明条件を前記第1条件に設定する場合には、前記遮光領域が前記光源から前記第2開口を通して前記被照明面に至る第2経路を遮るように前記遮光板を位置決めし、前記照明条件を前記第2条件に設定する場合には、前記遮光領域が前記光源から前記第1開口を通して前記被照明面に至る第1経路を遮るように前記遮光板を位置決めすることを特徴とする。

Claims (15)

  1. 光源からの光で被照明面を照明する照明光学系と、
    前記被照明面を照明する際の照明条件を、第1条件に規定するための第1開口と、前記第1条件とは異なる第2条件に規定するための第2開口とを含み、前記照明光学系の瞳面に配置された開口絞りと、
    遮光領域を有する遮光板と、
    前記遮光板を駆動する駆動部と、
    を有し、
    前記駆動部は、
    前記照明条件を前記第1条件に設定する場合には、前記遮光領域が前記光源から前記第2開口を通して前記被照明面に至る第2経路を遮るように前記遮光板を位置決めし、
    前記照明条件を前記第2条件に設定する場合には、前記遮光領域が前記光源から前記第1開口を通して前記被照明面に至る第1経路を遮るように前記遮光板を位置決めすることを特徴とする光学装置。
  2. 前記遮光板は、第1遮光領域と、第2遮光領域とを有し、
    前記駆動部は、
    前記照明条件を前記第1条件に設定する場合には、前記第1遮光領域が前記第2経路を遮るように前記遮光板を位置決めし、
    前記照明条件を前記第2条件に設定する場合には、前記第2遮光領域が前記第1経路を遮るように前記遮光板を位置決めすることを特徴とする請求項1に記載の光学装置。
  3. 前記遮光板は、第1開口領域と前記第1遮光領域とを含む第1領域と、第2開口領域と前記第2遮光領域とを含む第2領域とを有し、
    前記遮光板は、前記開口絞りよりも前記被照明面側に配置され、
    前記照明条件を前記第1条件に設定する際には、前記第1開口領域は前記第1開口を通過した光を通過させ、前記第1遮光領域は前記第2開口を通過した光を遮光し、
    前記照明条件を前記第2条件に設定する際には、前記第2開口領域は前記第2開口を通過した光を通過させ、前記第2遮光領域は前記第1開口を通過した光を遮光することを特徴とする請求項2に記載の光学装置。
  4. 前記遮光板は、第1開口領域と前記第1遮光領域とを含む第1領域と、第2開口領域と前記第2遮光領域とを含む第2領域とを有し、
    前記遮光板は、前記開口絞りよりも前記光源側に配置され、
    前記照明条件を前記第1条件に設定する際には、前記第1開口領域は、前記光源からの光のうち前記第1開口に到達する光を通過させ、前記第1遮光領域は、前記光源からの光のうち前記第2開口に到達する光を遮光し、
    前記照明条件を前記第2条件に設定する際には、前記第2開口領域は、前記光源からの光のうち前記第2開口に到達する光を通過させ、前記第2遮光領域は、前記光源からの光のうち前記第1開口に到達する光を遮光することを特徴とする請求項2に記載の光学装置。
  5. 前記第1開口領域の大きさは、前記第1開口の大きさよりも大きく、
    前記第2開口領域の大きさは、前記第2開口の大きさよりも大きいことを特徴とする請求項3又は4のうちいずれか1項に記載の光学装置。
  6. 前記遮光板は、第1遮光領域を有する第1遮光板と、第2遮光領域を有する第2遮光板とを有し、
    前記駆動部は、
    前記照明条件を前記第1条件に設定する場合には、前記第1遮光領域が前記第2経路を遮るように前記第1遮光板を位置決めし、
    前記照明条件を前記第2条件に設定する場合には、前記第2遮光領域が前記第1経路を遮るように前記第2遮光板を位置決めすることを特徴とする請求項1に記載の光学装置。
  7. 前記照明光学系、前記開口絞り、前記遮光板及び前記駆動部は、真空環境下に配置されていることを特徴とする請求項1乃至6のうちいずれか1項に記載の光学装置。
  8. 前記第1条件は、明視野照明であり、
    前記第2条件は、暗視野照明であることを特徴とする請求項1乃至7のうちいずれか1項に記載の光学装置。
  9. 光源からの光で被検体を照明する照明光学系と、前記被検体からの光を検出面に結像する結像光学系とを備え、前記被検体の位置を検出する位置検出装置であって、
    前記照明光学系は、
    前記被検体を照明する際の照明条件を、第1条件に規定するための第1開口と、前記第1条件とは異なる第2条件に規定するための第2開口とを含み、前記照明光学系の瞳面に配置された開口絞りと、
    第1開口領域と第1遮光領域とを含む第1領域と、第2開口領域と第2遮光領域とを含む第2領域とを有する遮光板と、
    前記遮光板を駆動する駆動部と、
    を有し、
    前記駆動部は、
    前記照明条件を前記第1条件に設定する際には、前記第1開口領域が前記光源から前記第1開口を通して前記被検体に至る第1経路を遮断せず、前記第1遮光領域が前記光源から前記第2開口を通して前記被検体に至る第2経路を遮断するように前記第1領域を位置決めし、
    前記照明条件を前記第2条件に設定する際には、前記第2開口領域が前記第2経路を遮断せず、前記第2遮光領域が前記第1経路を遮断するように前記第2領域を位置決めすることを特徴とする位置検出装置。
  10. 光源からの光で被検体を照明する照明光学系と、前記被検体からの光を検出面に結像する結像光学系とを備え、前記被検体の位置を検出する位置検出装置であって、
    前記結像光学系は、
    前記被検体からの光を前記検出面で検出する際の検出条件を、第1条件に規定するための第1開口と、前記第1条件とは異なる第2条件に規定するための第2開口とを含み、前記結像光学系の瞳面に配置された開口絞りと、
    第1開口領域と第1遮光領域とを含む第1領域と、第2開口領域と第2遮光領域とを含む第2領域とを有する遮光板と、
    前記遮光板を駆動する駆動部と、
    を有し、
    前記駆動部は、
    前記検出条件を前記第1条件に設定する際には、前記第1開口領域が前記被検体から前記第1開口を通して前記検出面に至る第1経路を遮断せず、前記第1遮光領域が前記被検体から前記第2開口を通して前記検出面に至る第2経路を遮断するように前記第1領域を位置決めし、
    前記検出条件を前記第2条件に設定する際には、前記第2開口領域が前記第2経路を遮断せず、前記第2遮光領域が前記第1経路を遮断するように前記第2領域を位置決めすることを特徴とする位置検出装置。
  11. 被検体に電子線を照射する照射系と、前記被検体を透過した電子線を検出面に導く検出系とを備え、前記被検体を観察する顕微鏡装置であって、
    前記検出系は、
    前記被検体を透過した電子線を前記検出面で検出する際の検出条件を、第1条件に規定するための第1開口と、前記第1条件とは異なる第2条件に規定するための第2開口とを含み、前記検出系の瞳面に配置された開口絞りと、
    第1開口領域と第1遮光領域とを含む第1領域と、第2開口領域と第2遮光領域とを含む第2領域とを有する遮光板と、
    前記遮光板を駆動する駆動部と、
    を有し、
    前記駆動部は、
    前記検出条件を前記第1条件に設定する際には、前記第1開口領域が前記被検体から前記第1開口を通して前記検出面に至る第1経路を遮断せず、前記第1遮光領域が前記被検体から前記第2開口を通して前記検出面に至る第2経路を遮断するように前記第1領域を位置決めし、
    前記検出条件を前記第2条件に設定する際には、前記第2開口領域が前記第2経路を遮断せず、前記第2遮光領域が前記第1経路を遮断するように前記第2領域を位置決めすることを特徴とする顕微鏡装置。
  12. 基板を露光する露光装置であって、
    物体の位置として基板上のマークの位置を検出する位置検出装置と、
    前記位置検出装置によって検出された前記マークの位置に基づいて前記基板を位置決めする位置決め機構と、を備え、
    前記位置検出装置は、
    光源からの光で前記マークを照明する照明光学系と、
    前記マークからの光を検出面に結像する結像光学系と、を備え、
    前記照明光学系は、
    前記マークを照明する際の照明条件を、第1条件に規定するための第1開口と、前記第1条件とは異なる第2条件に規定するための第2開口とを含み、前記照明光学系の瞳面に配置された開口絞りと、
    第1開口領域と第1遮光領域とを含む第1領域と、第2開口領域と第2遮光領域とを含む第2領域とを有する遮光板と、
    前記遮光板を駆動する駆動部と、を有し、
    前記駆動部は、
    前記照明条件を前記第1条件に設定する際には、前記第1開口領域が前記光源から前記第1開口を通して前記マークに至る第1経路を遮断せず、前記第1遮光領域が前記光源から前記第2開口を通して前記マークに至る第2経路を遮断するように前記第1領域を位置決めし、
    前記照明条件を前記第2条件に設定する際には、前記第2開口領域が前記第2経路を遮断せず、前記第2遮光領域が前記第1経路を遮断するように前記第2領域を位置決めすることを特徴とする露光装置。
  13. 前記露光装置は、EUV光を用いて、レチクルのパターンを前記基板に転写することを特徴とする請求項12に記載の露光装置。
  14. 前記露光装置は、荷電粒子線を用いて前記基板にパターンを描画することを特徴とする請求項12に記載の露光装置。
  15. 請求項12乃至14のうちいずれか1項に記載の露光装置が備える位置検出装置で基板上のマークを検出する工程と、
    前記工程で検出された前記マークの位置に基づいて前記基板を位置決めして当該基板を前記露光装置で露光する工程と、
    を含むことを特徴とするデバイスの製造方法。
JP2011237966A 2011-10-28 2011-10-28 光学装置、位置検出装置及び顕微鏡装置 Abandoned JP2013098262A (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011237966A JP2013098262A (ja) 2011-10-28 2011-10-28 光学装置、位置検出装置及び顕微鏡装置
US13/648,356 US20130107279A1 (en) 2011-10-28 2012-10-10 Optical apparatus, position detection apparatus, microscope apparatus, and exposure apparatus
KR1020120116477A KR20130047587A (ko) 2011-10-28 2012-10-19 광학 장치, 위치 검출 장치, 현미경 장치, 및 노광 장치
CN201210405108XA CN103091840A (zh) 2011-10-28 2012-10-23 光学设备、位置检测设备、显微镜设备以及曝光设备

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011237966A JP2013098262A (ja) 2011-10-28 2011-10-28 光学装置、位置検出装置及び顕微鏡装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2013098262A JP2013098262A (ja) 2013-05-20
JP2013098262A5 true JP2013098262A5 (ja) 2015-02-19

Family

ID=48172120

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2011237966A Abandoned JP2013098262A (ja) 2011-10-28 2011-10-28 光学装置、位置検出装置及び顕微鏡装置

Country Status (4)

Country Link
US (1) US20130107279A1 (ja)
JP (1) JP2013098262A (ja)
KR (1) KR20130047587A (ja)
CN (1) CN103091840A (ja)

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101520636B1 (ko) * 2014-06-24 2015-05-18 주식회사 에프에스티 불규칙 표면의 영상 취득을 위한 광학적 조명 방법 및 장치
JP6596492B2 (ja) 2014-10-14 2019-10-23 ナノトロニクス イメージング インコーポレイテッド 明視野暗視野対物レンズを使用する独自の斜角照明法及びそれに関連した撮像方法
CN106569392B (zh) * 2015-10-08 2019-01-29 上海微电子装备(集团)股份有限公司 一种光刻装置和方法
JP7008029B2 (ja) * 2016-03-01 2022-01-25 モレキュラー デバイシーズ, エルエルシー 源自己蛍光を低減させ、均一性を改良するための散乱を伴う撮像システムおよび方法
CN106768333B (zh) * 2016-12-29 2018-04-10 中国科学院西安光学精密机械研究所 水下高灵敏光谱成像装置及成像方法
WO2018207255A1 (ja) * 2017-05-09 2018-11-15 オリンパス株式会社 合焦機能を備えた標本観察装置
CN111598058A (zh) * 2020-06-24 2020-08-28 无锡市科德科技有限公司 一种基于单一光源的明场和暗场定向反射光源总成
CN111598057B (zh) * 2020-06-24 2024-07-23 无锡市科德科技有限公司 一种基于组合光源的明场和暗场定向反射光源总成
US20240012228A1 (en) * 2020-12-28 2024-01-11 Bioaces (Shanghai) Life Science Co., Ltd Light source apparatus, microscopic device, optical detection device and optical detection method
CN113533352B (zh) * 2021-08-20 2023-02-10 合肥御微半导体技术有限公司 一种表面缺陷的检测系统及检测方法

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4585315A (en) * 1984-11-13 1986-04-29 International Business Machines Corporation Brightfield/darkfield microscope illuminator
JPH07169429A (ja) * 1993-11-05 1995-07-04 Hitachi Ltd 走査透過電子顕微鏡
WO1999012068A1 (fr) * 1997-08-29 1999-03-11 Olympus Optical Co., Ltd. Dispositif d'eclairage a emission pour microscopes
JPH1187222A (ja) * 1997-09-10 1999-03-30 Nikon Corp 位置検出装置、該装置を備えた露光装置、及び該装置を用いたデバイスの製造方法
DE19903486C2 (de) * 1999-01-29 2003-03-06 Leica Microsystems Verfahren und Vorrichtung zur optischen Untersuchung von strukturierten Oberflächen von Objekten
JP2003511174A (ja) * 1999-10-13 2003-03-25 ライカ ミクロジュステムス(シュヴァイツ)アーゲー 情報差込入射装置を有するステレオ手術顕微鏡
EP1395856A4 (en) * 2001-05-14 2006-01-18 Arryx Inc APPARATUS, SYSTEM AND ENHANCED METHODS FOR APPLYING OPTICAL GRADIENT FORCES
GB0119176D0 (en) * 2001-08-06 2001-09-26 Ocuity Ltd Optical switching apparatus
WO2008140585A1 (en) * 2006-11-22 2008-11-20 Nexgen Semi Holding, Inc. Apparatus and method for conformal mask manufacturing
JP5189966B2 (ja) * 2008-11-28 2013-04-24 株式会社ミツトヨ オートフォーカス装置
CN202008549U (zh) * 2010-10-22 2011-10-12 浙江大学 一种超高分辨率的光学显微成像装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2013098262A5 (ja) 光学装置、位置検出装置、顕微鏡装置、露光装置及びデバイスの製造方法
JP2012138619A5 (ja) 液浸露光装置、液浸露光方法、デバイス製造方法、及び液浸露光装置の製造方法
JP5224341B2 (ja) 露光装置及びフォトマスク
JP2013034013A5 (ja)
EP1855103A3 (en) Image inspection device and image inspection method using the image inspection device
JP2008171960A5 (ja)
JP2017504001A5 (ja)
JP2012089852A5 (ja)
TW201033606A (en) Pattern inspection method, pattern inspection device, photomask manufacturing method, and pattern transfer method
EP1569033A3 (en) Exposure apparatus and method
JP2012080004A5 (ja) 露光装置、露光方法、基板、及びデバイス製造方法
TW201714018A (zh) 接著劑去除裝置及方法
JP2007299993A5 (ja)
JP2015511405A5 (ja)
JP2005109304A5 (ja)
KR20160088801A (ko) 이물 검사 장치, 노광 장치 및 디바이스 제조 방법
KR101660918B1 (ko) 노광 장치 및 포토 마스크
JP2013088338A (ja) 検査用照明装置
KR20110080725A (ko) 결점 검사장치
TW200619784A (en) Apparatus for inspecting backlight unit
JP2012014170A5 (ja)
JP2014085295A5 (ja)
JP2010109220A5 (ja)
JP6381865B2 (ja) 検査装置及び検査方法
TW200914817A (en) Pattern defect inspecting method and pattern defect inspecting apparatus