WO2018207255A1 - 合焦機能を備えた標本観察装置 - Google Patents
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Definitions
- the present invention relates to a specimen observation apparatus having a focusing function.
- contrast AF method As an autofocus method, for example, there is a contrast AF method.
- a contrast value is calculated based on an observation image captured by an image sensor.
- the contrast value can be obtained, for example, from the sum of squared differences of adjacent pixels in the image area to be focused.
- the contrast value is evaluated at each interval while changing the interval between the specimen and the microscope objective lens. Then, when the contrast value becomes maximum, it is determined that the in-focus state.
- a focusing device based on the contrast AF method is disclosed in Patent Document 1.
- the contrast value is calculated from all or some of the pixels of the image obtained by imaging.
- a colorless and transparent specimen for example, a living cell is observed.
- the observation is performed through a culture solution. At this time, if suspended matter such as dust is mixed in the culture solution, an image of the suspended matter is also observed together with the living cells.
- the brightness of the floating object image is always smaller than the brightness of the live cell image, there is no major problem even when focusing by the contrast AF method.
- the brightness of the suspended matter image may be May be larger than brightness.
- the contrast value is calculated from the image including the floating object image. Therefore, the calculated contrast value is larger than the contrast value in the image that does not include the floating object image. As a result, the in-focus state is determined in spite of being out of focus. The same applies when a foreign object image is included.
- the image of the foreign matter is observed together with the sample.
- the brightness of the foreign object image may be larger than the brightness of the live cell image. In this case as well, it is determined to be in focus even though it is out of focus.
- phase difference observation there is phase difference observation as observation with a microscope.
- a microscope objective lens for phase difference observation is used.
- a microscope objective lens for phase difference observation is provided with a phase plate.
- halo a unique bright border generated on the edge of the sample image.
- the halo is generated when a part of the zero-order light generated at the edge of the specimen does not pass through the phase plate.
- the brightness of the halo is bright even when out of focus.
- a contrast value is calculated from an image including halo. Therefore, the calculated contrast value is larger than the contrast value in an image that does not include halo. As a result, the in-focus state is determined in spite of being out of focus.
- the contrast AF method when a pixel having brightness that causes an error in detecting the in-focus state is included in all the pixels used for detecting the in-focus state, the in-focus state is detected. It becomes difficult.
- the present invention has been made in view of the above, and even if pixels having brightness that causes an error in detecting the in-focus state are included in all the pixels used for detecting the in-focus state, It is an object of the present invention to provide a specimen observation apparatus having a focusing function capable of detecting a focused state.
- the sample observation apparatus provided with the focusing function of the present invention, A light source, an illumination optical system, an observation optical system, a detection element, a processing device, and a drive control device,
- the illumination optical system has a condenser lens and an aperture member
- the observation optical system has an objective lens and a light reducing member
- the aperture member is disposed at the pupil position of the illumination optical system or at a position conjugate with the pupil of the illumination optical system
- the dimming member is disposed at a position conjugate with the opening member,
- the opening member has an opening region;
- the dimming member has a dimming region,
- the determination area is an area that includes both the image of the aperture area and the dimming area.
- the predetermined state is a state in which the image of the opening area is located only in the area of the dimming area in the determination area, The size of the opening area, the position of the opening area, the size of the dimming area, and the position of the dimming area are set so that a predetermined state occurs,
- the illumination light applied to the specimen by the illumination optical system passes through the specimen and then enters the observation optical system.
- the detection element receives the light emitted from the observation optical system,
- the processing device obtains the amount of light received by the detection element,
- the drive control device is characterized in that the interval between the specimen and the objective lens is changed based on the light amount so that the light amount is minimized.
- a specimen observation device having a focusing function can be provided.
- a specimen observation apparatus having a focusing function includes a light source, an illumination optical system, an observation optical system, a detection element, a processing device, and a drive control device.
- the illumination optical system includes a condenser.
- the observation optical system includes an objective lens and a light reduction member, and the aperture member is disposed at a pupil position of the illumination optical system or the illumination optical system.
- the dimming member is arranged at a position conjugate with the aperture member, the aperture member has an aperture region, the dimming member has a dimming region, and the determination region is ,
- An area including both the image of the opening area and the dimming area, and the predetermined state is a state where the image of the opening area is located only in the area of the dimming area in the determination area, The size of the opening area, the position of the opening area, the size of the dimming area, and the dimming so that a predetermined state occurs.
- the position of the area is set, the illumination light irradiated to the specimen by the illumination optical system is transmitted through the specimen and then incident on the observation optical system, and the detection element receives the light emitted from the observation optical system,
- the processing device obtains the amount of light received by the detection element, and the drive control device changes the interval between the specimen and the objective lens based on the amount of light so that the amount of light is minimized.
- FIG. 1 is a diagram illustrating a main configuration of the sample observation device of the present embodiment.
- the specimen observation apparatus 1 is, for example, an upright microscope, and includes an illumination optical system 2 and an observation optical system 3.
- the sample observation device 1 further includes a light source, a detection element, a processing device, and a drive control device.
- the light source, the detection element, the processing device, and the drive control device are not illustrated.
- the light source, the detection element, the processing device, and the drive control device are shown in a specimen observation device described later.
- the illumination optical system 2 includes a condenser lens 4 and an aperture member 5.
- the condenser lens 4 includes a lens 4a and a lens 4b.
- the observation optical system 3 includes an objective lens 6 and a light reducing member 7. The structure of the opening member 5 and the structure of the light reducing member 7 will be described later.
- Objective lenses include infinity corrected objective lenses and finite corrected objective lenses.
- the infinity corrected objective lens alone does not form a sample image.
- An imaging lens is used to form an image of the specimen.
- the objective lens 6 is an infinity corrected objective lens. Therefore, the observation optical system 3 has the imaging lens 9.
- the imaging lens 9 may or may not be used.
- the aperture member 5 is disposed at the pupil position of the illumination optical system 2. More specifically, the aperture member 5 is disposed at the pupil position of the condenser lens 4, that is, at the focal position of the condenser lens 4. The aperture member 5 may be disposed at a position conjugate with the pupil of the illumination optical system 2. Therefore, the opening member 5 may be disposed at a position conjugate with the pupil of the condenser lens 4.
- the opening member 5 has an opening region 5a.
- An image of the light source is formed at the position of the opening member 5. Therefore, divergent light is emitted from each point of the opening region 5a.
- the divergent light is converted into a parallel light beam by the condenser lens 4.
- the specimen S is irradiated with illumination light of a parallel light flux. In this way, the illumination light is irradiated onto the specimen S from the illumination optical system 2.
- the opening area 5a is located so as not to include the optical axis AX. Therefore, the illumination light applied to the specimen S does not include a parallel light beam parallel to the optical axis. In other words, the specimen S is illuminated with only parallel light beams that intersect the optical axis AX.
- imaging light is emitted from the sample S.
- the imaging light is incident on the observation optical system 3.
- the imaging light emitted from one point of the sample S will be described.
- divergent light is incident on the objective lens 6.
- the divergent light incident on the objective lens 6 is condensed on the image plane IM by the objective lens 6 and the imaging lens 9. Therefore, an image of the sample S is formed on the image plane IM.
- the imaging light emitted from a wide range of the specimen S will be described.
- the specimen S is illuminated with a parallel light beam. Therefore, a parallel light beam enters the objective lens 6.
- the parallel light beam incident on the objective lens 6 is condensed by the objective lens 6.
- the light condensed by the objective lens 6 enters the imaging lens 9 while diverging.
- the light emitted from the imaging lens 9 reaches the image plane IM.
- the light reducing member 7 is located at the condensing position of the parallel light flux.
- the light reducing member 7 has a light reducing region 7a.
- the parallel light flux is condensed at the position of the dimming region 7a.
- the divergent light emitted from each point in the opening area 5 a is collected by the condenser lens 4 and the objective lens 6. Therefore, the condensing point of the dimming area 7a is an image of the emission point of the opening area 5a.
- the dimming region 7a is conjugate with the opening region 5a.
- the dimming member 7 is disposed at a position conjugate with the opening member 5. Therefore, an image 8 of the opening member is formed at the position of the dimming member 7.
- the image 8 of the aperture member is drawn at a position slightly away from the dimming member 7. This is for easy understanding of the position of the image 8 of the aperture member. Actually, the position of the dimming member 7 and the position of the image 8 in the opening area are coincident.
- the objective lens 6 is an infinity-corrected objective lens.
- the condensing position of the parallel light beam is the pupil of the objective lens 6. Therefore, the dimming member 7 is disposed at the pupil position of the objective lens 6.
- the opening member 5 is disposed at the pupil position of the condenser lens 4.
- the dimming member 7 is disposed at the pupil position of the objective lens 6.
- the dimming member 7 is disposed at a position conjugate with the opening member 5. Therefore, in the sample observation apparatus 1, the condenser lens 4 and the objective lens 6 are positioned so that the pupil of the condenser lens 4 and the pupil of the objective lens 6 are conjugate.
- the observation optical system 3 includes an objective lens 6 and an imaging lens 9.
- the pupil position of the objective lens 6 can be regarded as the pupil position of the observation optical system 3. Therefore, in the sample observation device 1, the dimming member 7 is disposed at the pupil position of the observation optical system 3.
- the dimming member 7 may be disposed at a position conjugate with the pupil of the objective lens 6. That is, the dimming member 7 may be arranged at a position conjugate with the pupil of the observation optical system 3.
- the opening member 5 has an opening region 5a.
- the opening area 5a is an area through which illumination light passes as it is. “As it is” means a state in which almost no light reduction or light shielding occurs.
- the shape of the opening region 5a is a ring.
- the opening member 5 can be an opaque plate or a colorless and transparent plate.
- the opaque plate include a metal plate and an opaque resin plate.
- the colorless and transparent plate include a glass plate and a transparent resin plate.
- a through hole may be formed in the opaque plate.
- the portion of the through hole becomes the opening region 5a.
- a shading paint may be applied to a part of the colorless and transparent plate. In this way, a region where the light-shielding paint is not applied and a region where the light-shielding paint is applied are formed. In this case, the area where the light-shielding paint is not applied becomes the opening area 5a.
- the light reducing member 7 has a light reducing region 7a.
- the dimming region 7a is a region through which the imaging light is attenuated.
- the shape of the dimming region 7a is a ring.
- Dimming can be performed by reflection only, absorption only, or both reflection and absorption.
- a dielectric multilayer filter may be used.
- a colored glass filter or an absorption ND filter may be used.
- the dielectric multilayer filter a multilayer film is formed on the surface of a colorless and transparent member.
- the reflectance characteristic (or transmittance characteristic) is determined by the multilayer structure (thin film thickness, thin film material, total number of thin films, etc.).
- the absorptance is determined by the color density of the colorless and transparent member.
- the absorption rate is determined by the absorption action of the substrate.
- the light reducing member 7 can be an opaque plate or a colorless and transparent plate. Examples of the opaque plate and the colorless and transparent plate are as described above.
- a through hole may be formed in the opaque plate.
- the portion of the through hole becomes the dimming region 7a.
- a dielectric multilayer film is formed on a colorless and transparent plate, and the colorless and transparent plate may be positioned in the through hole.
- the colored glass may be positioned in the through hole.
- the light reduction region 7a may be formed on a part of the colorless and transparent plate.
- a dielectric multilayer film When dimming by reflection, a dielectric multilayer film may be formed on a part of a colorless and transparent plate. Thus, a region where the dielectric multilayer film is formed and a region where the dielectric multilayer film is not formed are formed. The region where the dielectric multilayer film is formed becomes the dimming region 7a.
- colored glass may be placed on a part of a colorless and transparent plate. Alternatively, a part of the colorless and transparent plate may be replaced with colored glass. If it does in this way, the area
- the dimming region 7a is disposed at a position conjugate with the opening region 5a. Therefore, an image of the opening region 5a is formed at the position of the dimming region 7a.
- the size of the opening region 5a, the position of the opening region 5a, the size of the dimming region 7a, and the position of the dimming region 7a are set so that a predetermined state occurs.
- the predetermined state is a state in which the image of the opening region 5a is located only in the dimming region 7a in the determination region.
- the determination area is an area including both the image of the opening area 5a and the dimming area 7a.
- the aperture area, the dimming area, the in-focus position, the specimen position, and the specimen surface inclination will be described. It is assumed that the size of the dimming area and the position of the dimming area are determined in advance.
- the specimen examples include living cells in a culture solution.
- the shape of the living cells in the culture solution can be simplified to a shape obtained by cutting a part of a sphere with a flat surface (hereinafter referred to as “plano-convex shape”).
- plano-convex shape a shape obtained by cutting a part of a sphere with a flat surface
- the plano-convex sample can be regarded as a lens.
- plano-convex sample When a plano-convex sample is positioned between the illumination optical system and the observation optical system, it may or may not function as a lens depending on the position of the sample. When acting as a lens, the magnitude of the lens action varies depending on the position of the specimen.
- the illumination optical system, the observation optical system, and the plano-convex sample are replaced with a condenser lens, an objective lens, and a plano-convex lens, respectively. Further, the condenser lens, the objective lens, and the plano-convex lens are regarded as thin lenses.
- fcom (flen ⁇ fob) / (flen + fob ⁇ d) (A) here, flen is the focal length of the plano-convex lens, fob is the focal length of the objective lens, d is the distance between the objective lens and the plano-convex lens; It is.
- FIG. 2 is a graph showing the relationship between the distance between two lenses and the combined focal length.
- the focal length is the distance from the principal point to the focal position.
- the distance between the two thin lenses is the distance from the principal point of one lens to the other principal point.
- the combined focal length is 15 mm. Since the focal length of the objective lens is 15 mm, when the distance between the objective lens and the plano-convex lens is 15 mm, the combined focal length is equal to the focal length of the objective lens. This means that the plano-convex lens does not act as a lens when the distance between the objective lens and the plano-convex lens is 15 mm.
- the focus position can be replaced with the focus position.
- the focal length of the objective lens is 15 mm
- a position 15 mm away from the principal point of the objective lens is the in-focus position. Therefore, when the distance between the objective lens and the plano-convex lens is 15 mm, the plano-convex lens coincides with the in-focus position of the objective lens.
- the plano-convex lens does not act as a lens. Therefore, the plano-convex lens does not act as a lens when the plano-convex lens is coincident with the in-focus position of the objective lens.
- the combined focal length is shorter than the focal length of the objective lens.
- the combined focal length is longer than the focal length of the objective lens.
- the plano-convex lens does not coincide with the in-focus position of the objective lens.
- the plano-convex lens acts as a lens. Therefore, in a state where the plano-convex lens does not coincide with the in-focus position of the objective lens, the plano-convex lens acts as a lens.
- the pupil magnification in this case is equal to the lateral magnification of the optical system composed of the condenser lens and the objective lens.
- the pupil magnification is equal to the lateral magnification of the optical system including the condenser lens, the objective lens, and the plano-convex lens.
- the pupil magnification ⁇ ′ is expressed by the following formula (C).
- the combined focal length is shorter or longer than the focal length of the objective lens.
- ⁇ ′ is larger than ⁇ . Therefore, ⁇ p> 1.
- the image 8 of the aperture member is formed at the position of the light reducing member 7.
- the image 8 of the aperture member is formed through a condenser lens, a plano-convex lens (specimen), and an objective lens. Therefore, the size of the image 8 of the aperture member is determined by the lateral magnification of the optical system including the condenser lens, the plano-convex lens (specimen), and the objective lens, that is, ⁇ ′.
- ⁇ ′ is the product of ⁇ and ⁇ p. Since ⁇ is a constant, the size of the image 8 of the aperture member is determined by ⁇ p.
- ⁇ p differs depending on the degree of coincidence between the plano-convex lens and the in-focus position of the objective lens. This degree of coincidence can be expressed by the amount of deviation between the in-focus position of the objective lens and the position of the plano-convex lens.
- the objective lens can be replaced with an observation optical system, and the plano-convex lens can be replaced with a specimen. Therefore, ⁇ p differs depending on the amount of deviation between the focus position of the observation optical system and the position of the sample.
- the size of the image 8 of the aperture member is determined by ⁇ p
- the size of the image 8 of the aperture member is determined by the amount of deviation between the focusing position of the observation optical system and the position of the sample.
- the change in the size and the change in the position of the image 8 of the aperture member will be described using the amount of deviation between the focus position of the observation optical system and the position of the sample.
- the position of the image in the aperture area varies depending on the inclination of the specimen surface.
- a case where the sample surface is flat and a case where the sample surface is inclined will be described.
- the case where the sample surface is inclined the case where the inclination of the sample surface is small and the case where the inclination of the sample surface is large will be described.
- the position of the sample and the in-focus position of the observation optical system are the same.
- the amount of deviation is not zero, the position of the sample does not match the in-focus position of the observation optical system.
- the out-of-focus state includes a first non-focus state and a second non-focus state.
- ⁇ p is 1.
- the specimen acts as a plano-convex lens. Therefore, ⁇ p is smaller than 1 or larger than 1.
- FIG. 3 is a diagram illustrating the relationship between the in-focus position and the sample position, and the diagram illustrating the relationship between the image of the aperture region and the dimming region.
- description will be made in the order of the in-focus state, the first non-focus state, and the second non-focus state.
- the focus position of the objective lens is used as the focus position of the observation optical system.
- FIGS. 3 (d), 3 (e), and 3 (f) show the in-focus state.
- FIG. 3 (e) is a diagram showing an image 8 of the aperture region in the focused state.
- the shape of the image 8 in the opening area is a ring.
- FIG. 3 (f) is a diagram showing the image 8 of the aperture area and the dimming area 7a in the focused state.
- the shape of the dimming region 7a is a ring.
- the shape of the image 8 in the aperture region and the shape of the dimming region 7a are the same.
- the determination region is “a region including both the image of the aperture region and the dimming region”. Therefore, the determination region is between the inner edge 7ai of the dimming region and the outer edge 7ao of the dimming region.
- Both the inner edge 8i of the image of the opening area and the outer edge 8o of the image of the opening area are located between the inner edge 7ai of the dimming area and the outer edge 7ao of the dimming area. Therefore, the image 8 of the opening area is located only in the area of the dimming area 7a.
- the predetermined state is “a state in which the image of the aperture region is located only in the region of the dimming region in the determination region”. Therefore, the in-focus state in a sample with a flat sample surface corresponds to a predetermined state.
- FIGS. 3A, 3B, and 3C show the first out-of-focus state.
- FIG. 3A shows the relationship between the focus position F and the position of the sample S.
- the amount of deviation is not zero, so the position of the sample S and the focus position F do not match.
- the distance from the objective lens 6 to the sample S is shorter than the distance from the objective lens 6 to the in-focus position F.
- ⁇ p is less than 1.
- FIG. 3B is a diagram showing an image 8 of the opening area in the first out-of-focus state.
- the shape of the image 8 in the opening area is a ring.
- ⁇ p is less than 1. Therefore, the size of the image 8 of the opening area in the first out-of-focus state is smaller than the size of the image 8 of the opening area in the in-focus state.
- FIG. 3C is a diagram showing the image 8 of the aperture area and the dimming area 7a in the first out-of-focus state.
- the shape of the dimming region 7a is a ring.
- the shape of the image 8 in the aperture region and the shape of the dimming region 7a are the same.
- the size of the image 8 in the aperture region is smaller than the size of the dimming region 7a.
- the determination area is between the inner edge 8i of the image of the aperture area and the outer edge 7ao of the dimming area.
- the inner edge 8i of the image of the opening area is located on the inner side (optical axis side) than the inner edge 7ai of the dimming area.
- the outer edge 8o of the image of the aperture area is located between the inner edge 7ai of the dimming area and the outer edge 7ao of the dimming area.
- the image 8 of the aperture area is located not only in the area of the dimming area 7a but also outside the area of the dimming area 7a. Therefore, the first out-of-focus state in a sample with a flat sample surface does not correspond to a predetermined state.
- FIGS. 3 (g), 3 (h), and 3 (i) show the second out-of-focus state.
- FIG. 3G is a diagram showing the relationship between the in-focus position F and the position of the specimen S.
- the amount of deviation is not zero, so the position of the sample S and the focus position F do not match.
- the distance from the objective lens 6 to the sample S is shorter than the distance from the objective lens 6 to the in-focus position F.
- ⁇ p is greater than 1.
- FIG. 3 (h) is a diagram showing an image 8 of the opening area in the second out-of-focus state.
- the shape of the image 8 in the opening area is a ring.
- ⁇ p is greater than 1. Therefore, the size of the image 8 of the opening area in the second out-of-focus state is larger than the size of the image 8 of the opening area in the in-focus state.
- FIG. 3 (i) is a diagram showing the image 8 of the aperture area and the dimming area 7a in the second out-of-focus state.
- the shape of the dimming region 7a is a ring.
- the shape of the image 8 in the aperture region and the shape of the dimming region 7a are the same.
- the size of the image 8 in the aperture region is larger than the size of the dimming region 7a.
- the determination area extends from the inner edge 7ai of the dimming area to the outer edge 8o of the image of the opening area.
- the inner edge 8i of the image of the opening area is located between the inner edge 7ai of the dimming area and the outer edge 7ao of the dimming area.
- the outer edge 8o of the image of the opening area is located outside the outer edge 7ao of the dimming area.
- the image 8 of the aperture area is located not only in the area of the dimming area 7a but also outside the area of the dimming area 7a. Therefore, the second out-of-focus state in a sample with a flat sample surface does not correspond to a predetermined state.
- a predetermined state and a state that is not the predetermined state occur depending on the position of the sample S with respect to the in-focus position F.
- the size of the opening region, the position of the opening region, the size of the dimming region, and the position of the dimming region are set so that a predetermined state and a state that is not the predetermined state occur. Has been.
- the image 8 of the opening area is located only within the area of the dimming area 7a.
- FIG. 3F there is a gap between the inner edge 8i of the image of the opening area and the inner edge 7ai of the dimming area.
- the image 8 in the aperture area is in a state where the outer edge 8o of the image in the aperture area does not reach the outer edge 7ao of the dimming area. Is located only in the area of the dimming area 7a.
- the image 8 of the opening area does not reach the inner edge 7ai of the dimming area when the inner edge 8i of the image of the opening area does not reach the inner edge 7ai. It is located only in the area of the dimming area 7a.
- the position of the image 8 of the opening area in the above two states is different from the position of the image 8 of the opening area in the focused state. Therefore, the two states are out-of-focus states. However, the image 8 of the opening area is located only in the area of the dimming area 7a. Therefore, the above two states correspond to predetermined states although they are out of focus.
- ⁇ p is not 1 because the above two states are out of focus. However, ⁇ p in the above two states is close to 1. Thus, when the size of the image 8 in the aperture region is smaller than the size of the dimming region 7a, if ⁇ p is close to 1, the out-of-focus state may correspond to a predetermined state.
- the light passing through the dimming area 7a will be described.
- the light passing through the dimming region 7a can be regarded as illumination light or imaging light as follows.
- the opening area is an area through which illumination light passes. Therefore, the image 8 of the aperture region can be regarded as an illumination light image.
- the illumination light that has passed through the aperture region passes through the sample S.
- the illumination light that has passed through the sample S is emitted from the sample S as imaging light. Therefore, the image 8 of the aperture region can be regarded as an image of the imaging light.
- imaging light a description will be given using imaging light.
- the image 8 of the opening area is located only in the area of the dimming area 7a. Therefore, in a predetermined state, all the imaging light passes through the dimming region 7a.
- the image 8 of the opening area is located inside and outside the dimming area 7a. Therefore, in this case, part of the imaging light passes through the dimming region 7a, and the rest does not pass through the dimming region 7a.
- the dimming area is provided in the dimming member.
- the light-reducing member is further provided with a region other than the light-reducing region (hereinafter referred to as “non-light-reducing region”). If it is not in the predetermined state, a part of the imaging light passes through the dimming region, and the rest passes through the non-dimming region.
- the light transmittance in the dimming region is smaller than the light transmittance in the non-dimming region. Therefore, if the amount of light incident on the dimming region is the same as the amount of light incident on the non-dimming region, the amount of light emitted from the dimming region is smaller than the intensity of light exiting from the non-dimming region. .
- the light amount of the imaging light emitted from the light reducing member in a predetermined state is smaller than the light amount of the imaging light emitted from the light reducing member when not in the predetermined state.
- the range of the imaging light that passes through the non-dimming region changes according to the position of the sample with respect to the in-focus position. Therefore, the amount of the imaging light emitted from the light reducing member changes according to the position of the sample with respect to the in-focus position.
- FIG. 4 is a diagram showing simulation results of the image of the aperture region, the dimming region, and the emitted light amount.
- 4A is a diagram showing an image of the aperture region
- FIG. 4B is a diagram showing the dimming region
- FIG. 4C is a graph showing the amount of emitted light when the sample surface is flat. .
- the amount of imaging light emitted from the light reducing member (hereinafter referred to as “outgoing light amount”) is a light amount calculated by simulation.
- the horizontal axis represents pupil magnification, and the vertical axis represents the amount of emitted light.
- the shape of the image of the aperture region and the shape of the dimming region are both circular.
- the inner edge diameter is 0.78 and the outer edge diameter is 0.96.
- the inner edge diameter is 0.71 and the outer edge diameter is 1.00.
- the value of each diameter is a value when normalized by the diameter of the outer edge of the dimming region.
- the amount of emitted light I varies depending on the value of ⁇ p.
- ⁇ p is in the range of about 0.92 to about 1.05, the amount of emitted light I is minimized. This point will be described later.
- the emitted light quantity I increases as ⁇ p decreases. In the range where ⁇ p is greater than about 1.05, the amount of emitted light I increases as ⁇ p increases.
- the horizontal axis of FIG. 4C represents the amount of deviation of the sample position with respect to the in-focus position.
- the position indicated by the broken line is the position when ⁇ p is 1.
- the range in which the amount of emitted light I is minimized includes a state where ⁇ p is 1, that is, a state where the position of the sample coincides with the in-focus position. Therefore, it is possible to detect a state in which the position of the sample and the in-focus position are coincident with each other by detecting a range where the amount of emitted light I is minimized.
- the size of the image in the aperture region is smaller than the size of the dimming region, if ⁇ p is close to 1, it corresponds to a predetermined state even in the out-of-focus state. In a predetermined state, the amount of emitted light I is minimized. Therefore, in such a case, when ⁇ p is close to 1, the amount of emitted light is minimized.
- the diameter of the inner edge (0.78) of the image of the opening area is larger than the diameter (0.71) of the inner edge of the dimming area. Further, the diameter (0.96) of the outer edge of the image of the opening area is smaller than the diameter (1.00) of the outer edge of the dimming area.
- the detection of the range in which the amount of emitted light is minimized that is, the detection of the state in which the position of the sample coincides with the in-focus position can be performed by the detection element, the processing device, and the drive control device.
- the specimen In specimen observation and specimen imaging, the specimen is placed on the stage. Usually, when a sample is first placed, the position of the sample and the in-focus position do not match. As a result, the image of the specimen is unclear. In order to obtain a clear image of the specimen, the position of the specimen and the in-focus position must be matched.
- the relative position between the sample position and the in-focus position can be changed. It ’s fine.
- a change in the relative position between the position of the sample and the in-focus position is caused by changing the distance between the sample and the objective lens.
- the sample observation device 1 includes a drive control device. Therefore, the distance between the sample and the objective lens can be changed by the drive control device.
- the amount of emitted light changes. Changes in the amount of emitted light can be captured by the detection element and the processing device.
- Detecting elements are arranged at the position of the image plane IM.
- the detection element receives light emitted from the observation optical system.
- the imaging light emitted from the light reducing member is light emitted from the observation optical system. Therefore, the imaging light is received by the detection element.
- the amount of light (imaging light) received by the detection element is determined by the processing device. Since the emitted light is light received by the detection element, the amount of emitted light can be obtained by the processing device. By obtaining the amount of emitted light, a change in the amount of emitted light can be captured. If the change in the amount of emitted light can be captured, the minimum value of the amount of emitted light can be detected.
- the drive control device changes the interval between the specimen and the objective lens based on the light amount obtained by the processing device so that the light amount obtained by the processing device is minimized.
- the minimum value of the amount of emitted light indicates a state where the position of the sample and the in-focus position are the same. Therefore, the interval between the sample and the objective lens is changed based on the amount of emitted light so that the amount of emitted light is minimized. By doing so, it is possible to determine a state in which the position of the sample matches the in-focus position, that is, the in-focus position.
- the determination area is determined by the vertical range and the horizontal range. However, there is no vertical shift between the position of the image in the aperture area and the position of the dimming area. Therefore, in the description of the determination area, the description of the range in the vertical direction is omitted, and only the horizontal direction is described.
- FIG. 5 is a diagram showing the relationship between the in-focus position and the sample position, and a diagram showing the relationship between the image of the aperture area and the dimming area.
- the in-focus state, the first non-focus state, and the second non-focus state will be described in this order.
- FIGS. 5 (d), 5 (e), and 5 (f) show the in-focus state.
- FIG. 5D is a diagram showing the relationship between the in-focus position F and the position of the specimen S.
- the amount of deviation is zero, so the position of the sample S coincides with the in-focus position F.
- ⁇ p 1.
- FIG. 5 (e) is a diagram showing an image 8 of the aperture region in the focused state.
- the shape of the image 8 in the opening area is a ring.
- FIG. 5F is a diagram showing the image 8 of the aperture area and the dimming area 7a in the focused state.
- the shape of the dimming region 7a is a ring.
- the shape of the image 8 in the aperture region and the shape of the dimming region 7a are the same.
- the exit direction of the imaging light emitted from the sample S is different from that when the sample surface is flat. For this reason, the entire ring showing the image 8 of the opening area does not overlap with the ring showing the dimming area 7a. That is, only a part of the ring showing the image 8 of the aperture region overlaps with the ring showing the dimming region 7a.
- the determination area extends from the left end of the outer edge 7ao of the dimming area to the right end of the outer edge 8o of the image of the opening area.
- Part of the inner edge 8i of the image of the opening area is located inside the inner edge 7ai of the dimming area.
- a part of the outer edge 8o of the image of the opening area is located outside the inner edge 7ai of the dimming area.
- the image 8 of the opening area is located not only in the area of the dimming area 7a but also outside the area of the dimming area 7a. Therefore, the in-focus state in the sample whose sample surface is inclined does not correspond to the predetermined state.
- FIGS. 5 (a), 5 (b), and 5 (c) are diagrams showing the first out-of-focus state.
- FIG. 5A is a diagram showing the relationship between the focus position F and the position of the specimen S.
- the amount of deviation is not zero, so the position of the sample S does not coincide with the in-focus position F.
- the distance from the objective lens 6 to the sample S is longer than the distance from the objective lens 6 to the in-focus position F.
- ⁇ p is less than 1.
- FIG. 5B is a diagram showing an image 8 of the opening area in the first out-of-focus state.
- the shape of the image 8 in the opening area is a ring.
- ⁇ p is less than 1. Therefore, the size of the image 8 of the opening area in the first out-of-focus state is smaller than the size of the image 8 of the opening area in the in-focus state.
- FIG. 5C is a diagram showing the image 8 of the aperture area and the dimming area 7a in the first out-of-focus state.
- the shape of the dimming region 7a is a ring.
- the shape of the image 8 in the aperture region and the shape of the dimming region 7a are the same.
- the size of the image 8 in the aperture region is smaller than the size of the dimming region 7a.
- the determination area is inside the outer edge 7ao of the dimming area.
- a part of the inner edge 8i of the image of the opening area and a part of the outer edge 8o of the image of the opening area are located inside the inner edge 7ai of the dimming area.
- the image 8 of the aperture area is located not only in the area of the dimming area 7a but also outside the area of the dimming area 7a. Therefore, the first out-of-focus state in the sample whose sample surface is inclined does not correspond to the predetermined state.
- FIGS. 5 (g), 5 (h), and 5 (i) show the second out-of-focus state.
- FIG. 5G is a diagram showing the relationship between the focus position F and the position of the sample S.
- the amount of deviation is not zero, so the position of the sample S and the focus position F do not match.
- the distance from the objective lens 6 to the sample S is shorter than the distance from the objective lens 6 to the in-focus position F.
- ⁇ p is greater than 1.
- FIG. 5H is a diagram showing an image 8 of the opening area in the second out-of-focus state.
- the shape of the image 8 in the opening area is a ring.
- ⁇ p is greater than 1. Therefore, the size of the image 8 of the opening area in the second out-of-focus state is larger than the size of the image 8 of the opening area in the in-focus state.
- FIG. 5 (i) is a diagram showing the image 8 of the aperture area and the dimming area 7a in the second out-of-focus state.
- the shape of the dimming region 7a is a ring.
- the shape of the image 8 in the aperture region and the shape of the dimming region 7a are the same.
- the size of the image 8 in the aperture region is larger than the size of the dimming region 7a.
- the determination area extends from the left end of the outer edge 7ao of the dimming area to the right end of the outer edge 8o of the image of the opening area.
- the inner edge 8i of the image of the opening area is located between the inner edge 7ai of the dimming area and the outer edge 7ao of the dimming area.
- a part of the outer edge 8o of the image of the opening area is located outside the outer edge 7ao of the dimming area.
- the image 8 of the aperture area is located not only in the area of the dimming area 7a but also outside the area of the dimming area 7a. Therefore, the second out-of-focus state in the sample whose sample surface is inclined does not correspond to the predetermined state.
- the range of the imaging light that passes through the non-dimming region changes according to the position of the sample with respect to the in-focus position. Therefore, the amount of the imaging light emitted from the light reducing member changes according to the position of the sample with respect to the in-focus position.
- FIG. 6 is a graph showing the amount of emitted light when the sample surface is inclined slightly.
- the amount of emitted light is the amount of light calculated by simulation.
- the image of the aperture region and the dimming region used in the simulation are the same as those of the simulation performed with the sample having a flat sample surface.
- the emitted light quantity I is minimized when ⁇ p is in the vicinity of 1, that is, where ⁇ p is slightly smaller than 1. In a range other than the vicinity of ⁇ p of 1, the emitted light amount I increases as ⁇ p decreases, or the emitted light amount I increases as ⁇ p increases.
- the position indicated by the broken line is the position when ⁇ p is 1.
- the range in which the amount of emitted light I is minimized includes a state where ⁇ p is 1, that is, a state where the position of the sample coincides with the in-focus position. Therefore, by detecting a range where the amount of emitted light I is minimized, it is possible to detect a state in which the position of the sample and the in-focus position are coincident.
- the minimum light quantity does not change so much as compared with the case where the sample surface is flat.
- FIG. 7 is a diagram illustrating the relationship between the in-focus position and the sample position, and a diagram illustrating the relationship between the image of the aperture region and the dimming region.
- the sample surface is greatly inclined as compared with FIG.
- the in-focus state, the first non-focus state, and the second non-focus state will be described in this order.
- FIGS. 7 (d), 7 (e), and 7 (f) show the in-focus state.
- FIG. 7D is a diagram showing the relationship between the in-focus position F and the position of the specimen S.
- the amount of deviation is zero, so the position of the sample S coincides with the in-focus position F.
- ⁇ p 1.
- FIG. 7E is a diagram showing an image 8 of the opening area in the focused state.
- the shape of the image 8 in the opening area is a ring.
- FIG. 7F is a diagram showing the image 8 of the aperture area and the dimming area 7a in the focused state.
- the shape of the dimming region 7a is a ring.
- the shape of the image 8 in the aperture region and the shape of the dimming region 7a are the same.
- the entire ring showing the image 8 of the opening area does not overlap with the ring showing the dimming area 7a. That is, only a part of the ring showing the image 8 of the aperture region overlaps with the ring showing the dimming region 7a.
- the determination area extends from the left end of the outer edge 7ao of the dimming area to the right end of the outer edge 8o of the image of the opening area.
- Part of the inner edge 8i of the image of the opening area is located inside the inner edge 7ai of the dimming area.
- a part of the outer edge 8o of the image of the opening area is located outside the inner edge 7ai of the dimming area.
- the image 8 of the opening area is located not only in the area of the dimming area 7a but also outside the area of the dimming area 7a. Therefore, the in-focus state in the sample whose sample surface is inclined does not correspond to the predetermined state.
- FIGS. 7 (a), 7 (b), and 7 (c) show the first out-of-focus state.
- FIG. 7A shows the relationship between the focus position F and the position of the sample S.
- the amount of deviation is not zero, so the position of the sample S does not coincide with the in-focus position F.
- the distance from the objective lens 6 to the sample S is longer than the distance from the objective lens 6 to the in-focus position F.
- ⁇ p is less than 1.
- FIG. 7B is a diagram showing an image 8 of the opening area in the first out-of-focus state.
- the shape of the image 8 in the opening area is a ring.
- ⁇ p is less than 1. Therefore, the size of the image 8 of the opening area in the first out-of-focus state is smaller than the size of the image 8 of the opening area in the in-focus state.
- FIG. 7C is a diagram showing the image 8 of the aperture area and the dimming area 7a in the first out-of-focus state.
- the shape of the dimming region 7a is a ring.
- the shape of the image 8 in the aperture region and the shape of the dimming region 7a are the same.
- the size of the image 8 in the aperture region is smaller than the size of the dimming region 7a.
- the determination area is inside the outer edge 7ao of the dimming area.
- a part of the inner edge 8i of the image of the opening area and a part of the outer edge 8o of the image of the opening area are located inside the inner edge 7ai of the dimming area.
- the image 8 of the aperture area is located not only in the area of the dimming area 7a but also outside the area of the dimming area 7a. Therefore, the first out-of-focus state in the sample whose sample surface is inclined does not correspond to the predetermined state.
- FIGS. 7 (g), 7 (h), and 7 (i) show the second out-of-focus state.
- FIG. 7G is a diagram showing the relationship between the in-focus position F and the position of the sample S.
- the amount of deviation is not zero, so the position of the sample S and the focus position F do not match.
- the distance from the objective lens 6 to the sample S is shorter than the distance from the objective lens 6 to the in-focus position F.
- ⁇ p is greater than 1.
- FIG. 7 (h) is a diagram showing an image 8 of the opening area in the second out-of-focus state.
- the shape of the image 8 in the opening area is a ring.
- ⁇ p is greater than 1. Therefore, the size of the image 8 of the opening area in the second out-of-focus state is larger than the size of the image 8 of the opening area in the in-focus state.
- FIG. 7 (i) is a diagram showing the image 8 of the aperture area and the dimming area 7a in the second out-of-focus state.
- the shape of the dimming region 7a is a ring.
- the shape of the image 8 in the aperture region and the shape of the dimming region 7a are the same.
- the size of the image 8 in the aperture region is larger than the size of the dimming region 7a.
- the determination area extends from the left end of the outer edge 7ao of the dimming area to the right end of the outer edge 8o of the image of the opening area.
- Part of the inner edge 8i of the image of the opening area is located inside the inner edge 7ai of the dimming area and outside the outer edge 7ao of the dimming area.
- a part of the outer edge 8o of the image of the opening area is located outside the outer edge 7ao of the dimming area.
- the image 8 of the aperture area is located not only in the area of the dimming area 7a but also outside the area of the dimming area 7a. Therefore, the second out-of-focus state in the sample whose sample surface is inclined does not correspond to the predetermined state.
- the range of the imaging light that passes through the non-dimming region changes according to the position of the sample with respect to the in-focus position. Therefore, the amount of the imaging light emitted from the light reducing member changes according to the position of the sample with respect to the in-focus position.
- FIG. 8 is a graph showing the amount of emitted light when the sample surface is greatly inclined.
- the amount of emitted light is the amount of light calculated by simulation.
- the image of the aperture region and the dimming region used in the simulation are the same as those of the simulation performed with the sample having a flat sample surface.
- the emitted light quantity I is minimized when ⁇ p is in the vicinity of 1, that is, where ⁇ p is slightly smaller than 1. In a range other than the vicinity of ⁇ p of 1, the emitted light amount I increases as ⁇ p decreases, or the emitted light amount I increases as ⁇ p increases.
- the position indicated by the broken line is the position when ⁇ p is 1.
- the range in which the amount of emitted light I is minimized includes a state where ⁇ p is 1, that is, a state where the position of the sample coincides with the in-focus position. Therefore, by detecting a range where the amount of emitted light I is minimized, it is possible to detect a state in which the position of the sample and the in-focus position are coincident.
- the minimum light quantity I is larger than when the sample surface is flat or when the sample surface has a small inclination.
- the graph shown in FIG. 6 and the graph shown in FIG. 8 are generally focused at a position where the amount of emitted light is minimum, regardless of whether the slope of the specimen surface is small or the slope of the specimen surface is large. It represents the state. Therefore, the interval between the sample and the objective lens is changed based on the amount of emitted light so that the amount of emitted light is minimized. By doing so, it is possible to determine a state in which the position of the sample matches the in-focus position, that is, the in-focus position.
- the sample observation device of the present embodiment by changing the interval between the sample and the objective lens so that the amount of emitted light is minimized regardless of whether the sample surface is inclined or not.
- the in-focus position can be determined.
- the specimen observation apparatus 1 uses all the information of all pixels of the acquired image, that is, all of the light amount received by the detection element, for detecting the in-focus state.
- area A a bright area generated by dust or the like in the acquired image
- the ratio of the light quantity of the area A to the total light quantity is small. Therefore, it is difficult to be affected by the area A.
- the position of the sample is aligned by changing the distance between the sample and the objective lens based on the amount of emitted light so that the amount of emitted light is minimized. It is possible to determine a state that matches the focus position, that is, the focus position.
- the sample observation apparatus 1 even if pixels having brightness that causes an error in detecting the in-focus state are included in all the pixels used for detecting the in-focus state, the in-focus state Can be detected.
- FIG. 9 is a graph showing the amount of emitted light.
- the horizontal axis represents the amount of deviation ⁇ Z between the in-focus position and the sample position, and the vertical axis represents the amount of emitted light I.
- FIG. 9A is a graph showing the amount of emitted light when only the lens action occurs.
- FIG. 9B is a graph showing the amount of emitted light when only the defocusing action occurs.
- FIG. 9C is a graph showing the amount of emitted light when the lens action and the defocus action occur.
- the magnitude of the lens action by the specimen changes according to the amount of deviation ⁇ Z between the in-focus position and the specimen position (including the case where there is no lens action).
- the value of ⁇ p changes.
- the amount of emitted light I changes.
- the amount of emitted light I changes according to the change in the shift amount ⁇ Z between the in-focus position and the position of the sample.
- the shift amount ⁇ Z between the in-focus position and the sample position is related to the emitted light amount I.
- the shift amount ⁇ Z between the in-focus position and the sample position represents the defocus amount.
- defocusing action occurs. Therefore, when there is no specimen in the optical path, the lens action by the specimen does not occur, but the magnitude of the defocusing action changes according to the shift amount ⁇ Z between the in-focus position and the specimen position (no defocusing action) Also included).
- the in-focus position can be determined by changing the interval between the sample and the objective lens so that the amount of emitted light is minimized.
- FIG. 10 is a diagram illustrating a specific example of the sample observation device of the present embodiment.
- the specimen observation apparatus 100 is an apparatus in which an upright microscope has a focusing function.
- the specimen observation device 100 includes a main body unit 10, an illumination unit 20, an observation unit 30, and a processing device 40.
- the illumination unit 20 and the observation unit 30 are attached to the main body unit 10.
- the main body 10 and the processing device 40 are connected by wire or wirelessly.
- the sample observation device 100 may include a display device 50.
- the display device 50 is connected to the processing device 40 by wire or wireless.
- the main body 10 has a stage 11.
- the stage 11 is a holding member.
- a specimen S is placed on the stage 11.
- the sample S is moved by an operation knob (not shown) or a focusing knob (not shown) attached to the stage 11. By operating the operation knob, the sample S moves in a plane perpendicular to the optical axis. The sample S moves along the optical axis by operating the focusing knob.
- the illumination unit 20 includes a light source 21 and an illumination optical system 22.
- the illumination optical system 22 includes a condenser lens 23 and an opening member 24. As shown in FIG. 10, the illumination optical system 22 may include a lens 25, a mirror 26, and a lens 27. In FIG. 10, the condenser lens 23 and the opening member 24 are held on the stage 11.
- the illumination optical system 22 is disposed in the optical path from the light source 21 to the stage 11.
- the observation unit 30 includes an observation optical system 31 and an imaging device 32.
- the observation unit 30 may include a revolver 33 and an observation barrel 34.
- the observation optical system 31 includes a microscope objective lens 35, a light reducing member 60, and an imaging lens 36.
- the imaging device 32 has a detection element 39.
- a photodiode is used as the detection element 39.
- the light reducing member 60 is disposed inside the microscope objective lens 35.
- the observation optical system 31 may include an imaging lens 37 and a prism 38.
- the observation optical system 31 is disposed in the optical path from the stage 11 to the imaging device 32.
- the illumination unit 20 is disposed on the side facing the observation unit 30 with the stage 11 in between. Therefore, in the specimen observation apparatus 100, the specimen S is illuminated with transmitted illumination.
- Illumination light is emitted from the light source 21.
- the illumination light passes through the illumination optical system 22 and reaches the stage 11.
- the specimen S is illuminated by this illumination light.
- the light from the sample S is collected by the observation optical system 31, thereby forming an image (optical image) of the sample S at the condensing position.
- the light emitted from the observation optical system 31 is received by the detection element 39.
- the amount of light received by the detection element 39 that is, the amount of emitted light can be obtained by the processing device 40.
- the specimen observation apparatus 100 includes an opening member 24 and a light reduction member 60. Therefore, the amount of emitted light gradually decreases as the position of the sample S and the in-focus position approach from the state in which the position of the sample S does not coincide with the in-focus position.
- the amount of emitted light changes by changing the distance between the sample S and the microscope objective lens 35. Therefore, the focusing knob is operated to change the distance between the sample S and the microscope objective lens 35. Thereby, the amount of emitted light changes. A change in the amount of emitted light can be captured by the detection element 39 and the processing device 40.
- the main body 10 may include a motor 12 (drive control device).
- the motor 12 is connected to the stage 11.
- the distance between the sample S and the microscope objective lens 35 can be changed without using the focusing knob. Then, the movement of the stage 11 is stopped when the amount of emitted light is minimized.
- the focal position can be determined by changing the distance between the sample and the objective lens so that the amount of emitted light is minimized regardless of whether the sample surface is inclined or not. Can be determined.
- FIG. 11 is a diagram showing the amount of emitted light and the in-focus state.
- FIG. 11A is a graph showing the amount of emitted light.
- FIG. 11B is a diagram showing the relationship between the position of the sample and the in-focus position.
- the amount of emitted light changes as shown in the graph of FIG. In FIG. 11A, the amount of emitted light is substantially minimized within the range indicated by the arrow. Therefore, the in-focus state exists within the range of the arrow. The reason why the amount of emitted light is not minimized at one point is as described above.
- the range indicated by the arrow is replaced with the interval between the specimen S and the microscope objective lens 35, for example, the range is from H1 to H2 as shown in FIG. H1 is the bottom surface of the specimen, and H2 is the highest point of the specimen.
- the specimen is placed on the stage in the specimen observation or specimen imaging.
- the position of the sample and the in-focus position do not match.
- the image of the specimen is unclear.
- the observer operates the focusing knob to move the sample S toward the in-focus position.
- the stage 11 is moved by the motor 12, and the specimen S is moved toward the in-focus position.
- the stage 11 When the position of the specimen S is very close to the microscope objective lens 35, the stage 11 may be moved in a direction in which the specimen S moves away from the microscope objective lens 35. On the other hand, when the position of the specimen S is far away from the microscope objective lens 35, the stage 11 may be moved in a direction in which the specimen S approaches the microscope objective lens 35.
- the specimen observation apparatus 100 can focus near the specimen S by changing the distance between the specimen S and the objective lens 6 so that the amount of emitted light is minimized.
- the position determined as the in-focus position is between H1 and H2, as shown in FIG. 11B. Suitable for scorching.
- the focus for coarse adjustment it is possible to focus near the sample S. Therefore, the focus for coarse adjustment is used, for example, for focusing performed when the sample is first placed.
- the prism 38 can be inserted into the optical path of the observation optical system 31. In this way, the light from the specimen S is guided to the eyepiece lens of the observation barrel 34. The observer can observe the optical image of the specimen S through the eyepiece.
- the shape of the opening region and the shape of the dimming region are both circular.
- the shape of the opening region and the shape of the dimming region are not limited to the circular ring.
- the shape of the opening region and the shape of the dimming region may not be the same shape or similar shapes.
- FIG. 12 is a diagram showing the shape of the opening region and the shape of the dimming region.
- the shape of the opening region and the shape of the dimming region are different.
- 12A is a diagram showing a first example of the shape of the opening region
- FIG. 12B is a diagram showing a first example of the shape of the dimming region and the shape of the image of the opening region
- FIG. ) Is a diagram showing a second example of the shape of the opening region
- FIG. 12D is a diagram showing a second example of the shape of the dimming region and the shape of the image of the opening region.
- the shape of the opening region 110 is a shape in which an annular ring is halved.
- region 111 is a ring.
- the shape of the image 112 of the opening area is a shape obtained by halving the ring.
- the dimming region 111 has an annular shape. Therefore, even if the opening area 110 rotates around the optical axis, the image 112 of the opening area can be positioned in the area of the dimming area 111.
- the shape of the opening region 120 is a ring.
- region 121 is a shape which made the ring a half.
- the shape of the image 122 of the opening area is a ring.
- the shape of the dimming region 111 is a shape obtained by removing about 1/4 of the ring. In this case, since the light passing through the non-dimming area increases, a bright optical image can be obtained. However, since the change in the amount of emitted light is reduced, it is preferable to increase the dimming area.
- FIG. 13 is a diagram showing the shape of the opening region and the shape of the dimming region.
- the shape of the opening region and the shape of the dimming region are the same.
- FIG. 13A is a diagram showing a third example of the shape of the opening region
- FIG. 13B is a diagram showing a third example of the shape of the dimming region and the shape of the image of the opening region
- FIG. ) Is a diagram showing a fourth example of the shape of the opening region
- FIG. 13D is a diagram showing a fourth example of the shape of the dimming region and the shape of the image of the opening region
- FIG. 13F is a diagram showing a fifth example of the shape of the region
- FIG. 13F is a diagram showing a fifth example of the shape of the image of the opening region.
- the shape of the opening region 130 is a quadrangle and a frame shape as a whole. Further, as shown in FIG. 13B, the dimming area 131 and the opening area image 132 are both square and frame-shaped as a whole.
- the shape of the opening region 140 is semicircular as a whole and has a frame shape.
- the dimming area 141 and the opening area image 142 are both semicircular and frame-shaped as a whole.
- the shape of the opening region 150 is a star shape as a whole and a frame shape. Further, as shown in FIG. 13 (f), the dimming area 151 and the opening area image 152 both have a star shape and a frame shape.
- the detection element has a minute light receiving element arranged two-dimensionally.
- minute light receiving elements are two-dimensionally arranged.
- the amount of light received by the detection element 39 that is, the amount of emitted light is the sum of the amounts of light received by the respective light receiving elements. Therefore, when a CCD or CMOS is used as the detection element 39, the in-focus position is determined by changing the interval between the sample and the objective lens so that the amount of emitted light is minimized based on the total amount of light. be able to.
- the in-focus position may be determined based on the average value of the amount of light received by each light receiving element.
- the average value can be obtained by dividing the total amount of light received by each light receiving element by the number of pixels.
- an image of the sample S can be taken by the detection element 39.
- the image of the sample S is converted into an electronic image (digital data).
- the electronic image is sent to the processing device 40.
- the processing device 40 performs various processes.
- the specimen observation apparatus 100 includes the display device 50
- the electronic image is displayed on the display device 50.
- the observer can observe the sample S (image of the sample S) by looking at the electronic image displayed on the display device 50.
- both the shape of the opening region and the shape of the dimming region are annular.
- the shape of the opening region and the shape of the dimming region are rotationally symmetrical with respect to the optical axis. Therefore, the position of the opening member and the position of the light reducing member can be easily determined.
- the sample observation device of the present embodiment preferably satisfies the following conditional expression (1).
- RILin is the distance from the optical axis of the illumination optical system to the inner edge of the aperture region
- RILout is the distance from the optical axis of the illumination optical system to the outer edge of the aperture region
- ROBin is the distance from the optical axis of the observation optical system to the inner edge of the dimming region
- ROBout is the distance from the optical axis of the observation optical system to the outer edge of the dimming region
- ⁇ is the value obtained by dividing the focal length of the objective lens by the focal length of the condenser lens, It is.
- the in-focus position can be determined with high accuracy.
- the dimming member has a phase region, and at least a part of the phase region overlaps at least a part of the dimming region.
- FIG. 14 is a diagram showing a main configuration of another sample observation apparatus of the present embodiment.
- the optical system of the sample observation apparatus of the present embodiment is an optical system capable of phase difference observation.
- the specimen observation apparatus 200 includes an illumination optical system 201 and an observation optical system 202.
- the sample observation device 200 further includes a light source, a detection element, a processing device, and a drive control device. In FIG. 14, the light source, the detection element, the processing device, and the drive control device are not shown.
- the illumination optical system 201 includes a condenser lens 203 and an opening member 204.
- the condenser lens 203 includes a lens 203a and a lens 203b.
- the observation optical system 202 includes an objective lens 205, a light reducing member 206, and an imaging lens 207.
- the condenser lens 203 and the objective lens 205 are positioned so that the pupil of the condenser lens 203 and the pupil of the objective lens 205 are conjugate.
- the opening member 204 is disposed at the pupil position of the illumination optical system 201. More specifically, the aperture member 204 is disposed at the pupil position of the condenser lens 203, that is, at the focal position of the condenser lens 203.
- the opening member 204 has an opening region 204a.
- the structure of the opening member 204 is the same as the structure of the opening member 5. Therefore, the description of the opening member 204 is omitted.
- the specimen S is illuminated in the same manner as the specimen observation apparatus 1. Therefore, description of illumination in the specimen observation apparatus 200 is omitted.
- the light reduction member 206 has a light reduction region 206a and a phase region 206b.
- the dimming area 206a is an area through which the imaging light is attenuated.
- the phase region 206b is a region that modulates the phase of the imaging light.
- the shape of the dimming region 206a and the shape of the phase region 206b are both circular.
- the phase region 206b is disposed so as to overlap the dimming region 206a.
- a phase plate is used in a microscope objective lens for phase difference observation.
- the dimming member 206 is the same as this phase plate.
- the sample S is irradiated with illumination light of a parallel light flux.
- the illumination light is indicated by a single solid line.
- primary light zero-order imaging light
- primary light ⁇ first-order imaging light
- the zero-order light is indicated by a solid line
- the primary light is indicated by a broken line.
- Both the 0th order light and the primary light are incident on the light reducing member 206.
- the zero-order light passes through the dimming area 206a, and the primary light passes through the non-dimming area.
- the zero-order light further passes through the phase region 206b.
- phase of the zero-order light advances by 1 ⁇ 4 wavelength or is delayed by 1 ⁇ 4 wavelength.
- no change occurs in the phase of the primary light.
- a 1 ⁇ 4 wavelength shift occurs between the phase of the 0th-order light and the phase of the 1st-order light.
- the zero-order light passes through the phase region 206b, the difference between the phase of the next light and the phase of the first-order light becomes zero or 1 ⁇ 2 wavelength.
- halo a unique bright border formed on the edge of the sample S image. This is because a part of the 0th-order light generated at the edge of the sample S does not pass through the dimming region 206a and the phase region 206b. Halo is bright even when out of focus.
- the specimen observation apparatus 200 information on all pixels of the acquired image, that is, all of the light amount received by the detection element is used for detecting the in-focus state.
- region B a bright region caused by halo in the acquired image
- the amount of light before and after the in-focus position is greater than the in-focus position.
- the amount of light is smaller.
- the interval between the sample and the objective lens is changed based on the amount of emitted light so that the amount of emitted light is minimized even when halo is generated.
- FIG. 15 shows an in-focus image and an out-of-focus image.
- FIGS. 15A, 15B, 15D, and 15E are images out of focus
- FIG. 15C is an image in focus.
- Each image is acquired by the specimen observation apparatus 200.
- a phase difference image is formed. Therefore, each image is an image obtained by phase difference observation.
- An iPS cell image is located at the center of the image, and feeder cells are located around the iPS cell image.
- FIG. 15 is a graph showing the amount of emitted light and the in-focus state.
- the emitted light quantity I can be obtained from an image acquired by the sample observation device 200.
- the value of each pixel constituting the image corresponds to the amount of emitted light. By summing the values of all the pixels, the emitted light quantity I can be obtained.
- halo is generated in the iPS cell image.
- the brightness of the halo is very bright compared to the image in the out-of-focus state.
- the distance between the sample and the objective lens is changed so that the emitted light amount I is minimized, so that the sample is in the in-focus position or the in-focus position. It can be located in the vicinity.
- the illumination optical system and the observation optical system are arranged so that the optical axis of the illumination optical system and the optical axis of the observation optical system intersect.
- FIG. 17 is a diagram showing a main configuration of another sample observation apparatus of the present embodiment.
- the optical system of the sample observation apparatus of the present embodiment is an optical system capable of phase difference observation.
- the specimen observation apparatus 300 includes an illumination optical system 301 and an observation optical system 302.
- the sample observation device 300 further includes a light source, a detection element, a processing device, and a drive control device. In FIG. 17, the light source, the detection element, the processing device, and the drive control device are not shown.
- the illumination optical system 301 includes a condenser lens 303 and an opening member 304.
- the observation optical system 302 includes an objective lens 305, a light reducing member 306, and an imaging lens 308.
- the condenser lens 303 and the objective lens 305 are positioned so that the pupil of the condenser lens 303 and the pupil of the objective lens 305 are conjugate.
- the opening member 304 is disposed at the pupil position of the illumination optical system 301. More specifically, the aperture member 304 is disposed at the pupil position of the condenser lens 303, that is, at the focal position of the condenser lens 303.
- the opening member 304 has an opening region 304a.
- the structure of the opening member 304 is the same as the structure of the opening member 5. Therefore, the description of the opening member 304 is omitted.
- the light reducing member 306 includes a light reducing region 306a and a phase region 306b.
- the structure of the dimming member 306 is the same as the structure of the dimming member 206. Therefore, the description of the dimming member 306 is omitted.
- the specimen S is held in the container 307.
- the cell is held in a container 307 together with a liquid such as a culture solution.
- the container 307 include a petri dish and a microwell plate.
- the sample S is irradiated with illumination light of a parallel light flux.
- the illumination optical system 2 and the observation optical system 3 are arranged so that the optical axis of the illumination optical system 2 and the optical axis of the observation optical system 3 coincide.
- the illumination light applied to the specimen S from the illumination optical system 2 passes through the specimen S.
- the observation optical system 3 is located in the traveling direction of the illumination light that has passed through the sample S. Therefore, the illumination light that has passed through the specimen S enters the observation optical system 3.
- the illumination optical system 301 and the observation optical system 302 are arranged with respect to the specimen S in the downward direction in the drawing. That is, the illumination optical system 301 and the observation optical system 302 are arranged so that the optical axis of the illumination optical system 301 and the optical axis of the observation optical system 302 intersect.
- the illumination light irradiated to the specimen S from the illumination optical system 301 passes through the specimen S.
- the observation optical system 302 is not positioned in the traveling direction of the illumination light that has passed through the sample S. Therefore, if there is nothing in the traveling direction of the illumination light, the illumination light that has passed through the sample S does not enter the observation optical system 302.
- a reflective film 307a is formed on the container 307.
- the reflective film 307a is located on the specimen S.
- the container 307 is arranged so that the surface on which the reflective film 307a is formed faces the sample S side. Therefore, the illumination light transmitted through the sample S is reflected by the reflection film 307a, and the reflected illumination light is irradiated again on the sample S. As a result, transmitted illumination is performed on the specimen S.
- the specimen observation apparatus 300 can perform transmission illumination on the specimen S in the same manner as the transmission illumination in the specimen observation apparatus 1.
- the total light amount of the image of the specimen S is used to detect the in-focus state.
- the proportion of the halo light amount in the total light amount is small. Therefore, it is not easily affected by halo.
- the interval between the specimen and the objective lens is changed based on the amount of emitted light so that the amount of emitted light is minimized even when halo is generated. By doing so, it is possible to determine a state in which the position of the sample matches the in-focus position, that is, the in-focus position.
- the illumination optical system 301 and the observation optical system 302 are both located on one side of the specimen S. Therefore, the apparatus can be reduced in size.
- the sample observation device of the present embodiment preferably satisfies the following conditional expression (2).
- ROBin is the distance from the optical axis of the observation optical system to the inner edge of the dimming region
- ROBout is the distance from the optical axis of the observation optical system to the outer edge of the dimming region, It is.
- the in-focus position can be determined more accurately.
- the sample observation device of the present embodiment preferably satisfies the following conditional expression (3).
- RILout is the distance from the optical axis of the illumination optical system to the outer edge of the aperture region
- ROBout is the distance from the optical axis of the observation optical system to the outer edge of the dimming region
- ⁇ is the value obtained by dividing the focal length of the objective lens by the focal length of the condenser lens, It is.
- the in-focus position can be determined more accurately.
- the sample observation device of the present embodiment preferably satisfies the following conditional expression (4).
- ROBin ⁇ ⁇ RILin ⁇ 1.2 ⁇ ROBin (4) RILin is the distance from the optical axis of the illumination optical system to the inner edge of the aperture region, ROBin is the distance from the optical axis of the observation optical system to the inner edge of the dimming region, ⁇ is the value obtained by dividing the focal length of the objective lens by the focal length of the condenser lens, It is.
- the in-focus position can be determined more accurately.
- the light reducing member is arranged in the observation optical system.
- the light reducing member is formed with a light reducing region and a non-light reducing region.
- the light-reducing region has a ring-shaped portion as a light-reducing region.
- the inner side of the ring and the outer side of the ring are non-dimming regions.
- the ring portion may be a non-dimming area.
- the inner side of the ring and the outer side of the ring are dimming regions.
- the present invention detects the in-focus state even if pixels having brightness that causes an error in detecting the in-focus state are included in all the pixels used for detecting the in-focus state. It is suitable for a specimen observation apparatus having a focusing function that can be used.
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Abstract
誤差要因となる明るさを持つ画素が含まれていても、合焦状態を検出することができる合焦機能を備えた標本観察装置を提供する。 標本観察装置1は、光源と、照明光学系2と、観察光学系3と、検出素子と、処理装置と、駆動制御装置と、を備え、照明光学系2は、コンデンサレンズ4と、開口部材5と、を有し、観察光学系3は、対物レンズ6と、減光部材7と、を有し、減光部材7は、開口部材5と共役な位置に配置され、開口部材5は、開口領域5aを有し、減光部材7は、減光領域7aを有し、所定の状態が生じるように、開口領域5aの大きさ、開口領域5aの位置、減光領域7aの大きさ、及び減光領域7aの位置が設定されており、処理装置は、検出素子が受光した光の光量を求め、駆動制御装置は、光量が最小となるように、光量に基づいて標本Sと対物レンズ6との間隔を変える。
Description
本発明は、合焦機能を備えた標本観察装置に関するものである。
オートフォーカスの方式として、例えば、コントラストAF方式がある。コントラストAF方式では、撮像素子で撮像された観察像の画像に基づいて、コントラストの値が算出される。コントラストの値は、フォーカシングする画像領域において、例えば、隣接する画素の差分二乗和から求めることができる。
コントラストAF方式を備えた顕微鏡では、標本と顕微鏡対物レンズとの間隔を変えながら、各間隔でコントラストの値が評価される。そして、コントラストの値が最大となったときが、合焦状態と判定される。
コントラストAF方式による合焦装置が、特許文献1に開示されている。特許文献1に開示された合焦装置では、撮像によって得られた画像の全画素、又は、一部の画素によりコントラストの値を算出している。
顕微鏡による観察では、無色透明な標本の観察、例えば、生細胞の観察が行われる。生細胞の観察では、培養液を介して観察が行われる。このとき、培養液中にゴミなどの浮遊物が混ざっていると、浮遊物の像も生細胞と一緒に観察されることになる。
浮遊物の像の明るさが生細胞の像の明るさよりも常に小さい場合は、コントラストAF方式による合焦でも大きな問題は生じない。しかしながら、浮遊物の大きさ、浮遊物の表面の形状、及び浮遊物と生細胞との距離等によっては、非合焦状態であっても、浮遊物の像の明るさが生細胞の像の明るさよりも大きくなることがある。
コントラストAF方式による合焦だと、浮遊物の画像が含まれた画像からコントラストの値が算出される。そのため、浮遊物の画像が含まれていない画像におけるコントラストの値に比べると、算出されたコントラストの値は大きくなる。その結果、非合焦状態であるにも関わらず、合焦状態と判定されてしまう。異物の画像が含まれている場合も、同様である。
また、スライドガラスを使った標本の観察では、スライドガラスの表面やカバーガラスの表面にゴミなどの異物が付着する。この場合も、異物の像が標本と一緒に観察されることになる。この場合も、異物の像の明るさが生細胞の像の明るさよりも大きくなることがある。この場合も、非合焦状態であるにも関わらず、合焦状態と判定されてしまう。
また、顕微鏡による観察として、位相差観察がある。位相差観察では、位相差観察用の顕微鏡対物レンズが用いられる。位相差観察用の顕微鏡対物レンズは、位相板を供えている。
位相差観察では、標本の像の縁に、ハロと呼ばれる独特の明るい縁取りができる。ハロは、標本の縁で生じた0次光の一部が位相板を通過しなくなることで生じる。ハロの明るさは、非合焦状態でも明るい。
コントラストAF方式による合焦だと、ハロが含まれた画像からコントラストの値が算出される。そのため、ハロが含まれていない画像におけるコントラストの値に比べると、算出されたコントラストの値は大きくなる。その結果、非合焦状態であるにも関わらず、合焦状態と判定されてしまう。
このように、コントラストAF方式では、合焦状態の検出の誤差要因となる明るさを持つ画素が、合焦状態の検出に用いる全画素の中に含まれていると、合焦状態を検出することが困難になる。
本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、合焦状態の検出の誤差要因となる明るさを持つ画素が、合焦状態の検出に用いる全画素の中に含まれていても、合焦状態を検出することができる合焦機能を備えた標本観察装置を提供することを目的とする。
上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明の合焦機能を備えた標本観察装置は、
光源と、照明光学系と、観察光学系と、検出素子と、処理装置と、駆動制御装置と、を備え、
照明光学系は、コンデンサレンズと、開口部材と、を有し、
観察光学系は、対物レンズと、減光部材と、を有し、
開口部材は、照明光学系の瞳位置に配置されるか、又は、照明光学系の瞳と共役な位置に配置され、
減光部材は、開口部材と共役な位置に配置され、
開口部材は、開口領域を有し、
減光部材は、減光領域を有し、
判定領域は、開口領域の像と減光領域の両方が含まれている領域であり、
所定の状態は、判定領域において、開口領域の像が減光領域の領域内のみに位置している状態であり、
所定の状態が生じるように、開口領域の大きさ、開口領域の位置、減光領域の大きさ、及び減光領域の位置が設定されており、
照明光学系により標本に照射された照明光は、標本を透過してから観察光学系に入射し、
検出素子は、観察光学系から出射した光を受光し、
処理装置は、検出素子が受光した光の光量を求め、
駆動制御装置は、光量が最小となるように、光量に基づいて標本と対物レンズとの間隔を変えることを特徴とする。
光源と、照明光学系と、観察光学系と、検出素子と、処理装置と、駆動制御装置と、を備え、
照明光学系は、コンデンサレンズと、開口部材と、を有し、
観察光学系は、対物レンズと、減光部材と、を有し、
開口部材は、照明光学系の瞳位置に配置されるか、又は、照明光学系の瞳と共役な位置に配置され、
減光部材は、開口部材と共役な位置に配置され、
開口部材は、開口領域を有し、
減光部材は、減光領域を有し、
判定領域は、開口領域の像と減光領域の両方が含まれている領域であり、
所定の状態は、判定領域において、開口領域の像が減光領域の領域内のみに位置している状態であり、
所定の状態が生じるように、開口領域の大きさ、開口領域の位置、減光領域の大きさ、及び減光領域の位置が設定されており、
照明光学系により標本に照射された照明光は、標本を透過してから観察光学系に入射し、
検出素子は、観察光学系から出射した光を受光し、
処理装置は、検出素子が受光した光の光量を求め、
駆動制御装置は、光量が最小となるように、光量に基づいて標本と対物レンズとの間隔を変えることを特徴とする。
本発明によれば、合焦状態の検出の誤差要因となる明るさを持つ画素が、合焦状態の検出に用いる全画素の中に含まれていても、合焦状態を検出することができる合焦機能を備えた標本観察装置を提供できる。
本発明のある態様にかかる実施形態の作用効果を説明する。なお、本実施形態の作用効果を具体的に説明するに際しては、具体的な例を示して説明することになる。しかし、それらの例示される態様はあくまでも本発明に含まれる態様のうちの一部に過ぎず、その態様には数多くのバリエーションが存在する。したがって本発明は例示される態様に限定されるものではない。
本実施形態の合焦機能を備えた標本観察装置は、光源と、照明光学系と、観察光学系と、検出素子と、処理装置と、駆動制御装置と、を備え、照明光学系は、コンデンサレンズと、開口部材と、を有し、観察光学系は、対物レンズと、減光部材と、を有し、開口部材は、照明光学系の瞳位置に配置されるか、又は、照明光学系の瞳と共役な位置に配置され、減光部材は、開口部材と共役な位置に配置され、開口部材は、開口領域を有し、減光部材は、減光領域を有し、判定領域は、開口領域の像と減光領域の両方が含まれている領域であり、所定の状態は、判定領域において、開口領域の像が減光領域の領域内のみに位置している状態であり、所定の状態が生じるように、開口領域の大きさ、開口領域の位置、減光領域の大きさ、及び減光領域の位置が設定されており、照明光学系により標本に照射された照明光は、標本を透過してから観察光学系に入射し、検出素子は、観察光学系から出射した光を受光し、処理装置は、検出素子が受光した光の光量を求め、駆動制御装置は、光量が最小となるように、光量に基づいて標本と対物レンズとの間隔を変えることを特徴とする。
本実施形態の合焦機能を備えた標本観察装置(以下、「本実施形態の標本観察装置」という)における合焦原理について説明する。図1は、本実施形態の標本観察装置の主要な構成を示す図である。
標本観察装置1は、例えば、正立型顕微鏡であって、照明光学系2と、観察光学系3と、を有する。標本観察装置1は、更に、光源と、検出素子と、処理装置と、駆動制御装置と、を備えている。図1では、光源、検出素子、処理装置及び駆動制御装置は図示されていない。光源、検出素子、処理装置及び駆動制御装置は、後述の標本観察装置に示されている。
照明光学系2は、コンデンサレンズ4と、開口部材5と、を有する。コンデンサレンズ4は、レンズ4aと、レンズ4bと、を有する。観察光学系3は、対物レンズ6と、減光部材7と、を有する。開口部材5の構造と減光部材7の構造については、後述する。
対物レンズには、無限遠補正対物レンズと有限補正対物レンズとがある。無限遠補正対物レンズでは、それ単体で標本の像は形成されない。標本の像を形成するために結像レンズが用いられる。対物レンズ6は、無限遠補正対物レンズである。よって、観察光学系3は、結像レンズ9を有している。対物レンズ6が有限補正対物レンズの場合、結像レンズ9は、用いられても、用いられなくても良い。
開口部材5は、照明光学系2の瞳位置に配置されている。より具体的には、開口部材5は、コンデンサレンズ4の瞳位置、すなわち、コンデンサレンズ4の焦点位置に配置されている。開口部材5は、照明光学系2の瞳と共役な位置に配置されていても良い。よって、開口部材5は、コンデンサレンズ4の瞳と共役な位置に配置されていても良い。
開口部材5は、開口領域5aを有する。開口部材5の位置には、光源の像が形成されている。よって、開口領域5aの各点から、発散光が出射する。発散光は、コンデンサレンズ4によって平行光束に変換される。その結果、標本Sには、平行光束の照明光が照射される。このように、照明光学系2から、標本Sに照明光が照射される。
開口領域5aは、光軸AXを含まないように位置している。よって、標本Sに照射される照明光には、光軸と平行な平行光束は含まれていない。すなわち、光軸AXと交差する平行光束だけで、標本Sの照明が行われる。
標本Sが照明されることで、標本Sから結像光が出射する。結像光は、観察光学系3に入射する。標本Sの一点から出射した結像光について説明する。この場合、対物レンズ6には、発散光が入射する。対物レンズ6に入射した発散光は、対物レンズ6と結像レンズ9とによって、像面IMに集光される。よって、像面IMに標本Sの像が形成される。
標本Sの広い範囲から出射した結像光について説明する。標本Sの照明は、平行光束で行われている。よって、対物レンズ6には、平行光束が入射する。対物レンズ6に入射した平行光束は、対物レンズ6で集光される。対物レンズ6で集光された光は、発散しながら結像レンズ9に入射する。結像レンズ9から出射した光は、像面IMに到達する。
平行光束の集光位置には、減光部材7が位置している。減光部材7は、減光領域7aを有する。平行光束は、減光領域7aの位置で集光している。開口領域5aの各点から出射した発散光は、コンデンサレンズ4と対物レンズ6によって集光される。したがって、減光領域7aの集光点は、開口領域5aの出射点の像である。
これは、減光領域7aが、開口領域5aと共役であることを意味している。このように、標本観察装置1では、減光部材7は、開口部材5と共役な位置に配置されている。よって、減光部材7の位置に、開口部材の像8が形成される。
図1では、開口部材の像8は、減光部材7から少し離れた位置に、描かれている。これは、開口部材の像8の位置を分かりやすくするためである。実際には、減光部材7の位置と開口領域の像8の位置は、一致している。
上述のように、対物レンズ6は、無限遠補正対物レンズである。この場合、平行光束の集光位置は、対物レンズ6の瞳になる。よって、減光部材7は、対物レンズ6の瞳位置に配置されていることになる。
開口部材5は、コンデンサレンズ4の瞳位置に配置されている。減光部材7は、対物レンズ6の瞳位置に配置されている。そして、減光部材7は、開口部材5と共役な位置に配置されている。よって、標本観察装置1では、コンデンサレンズ4と対物レンズ6は、コンデンサレンズ4の瞳と対物レンズ6の瞳が共役となるように、各々が位置決めされている。
標本観察装置1では、観察光学系3は、対物レンズ6と結像レンズ9とで構成されている。この場合、対物レンズ6の瞳位置は、観察光学系3の瞳位置と見なすことができる。よって、標本観察装置1では、減光部材7は、観察光学系3の瞳位置に配置されていることになる。減光部材7は、対物レンズ6の瞳と共役な位置に配置されていても良い。すなわち、減光部材7は、観察光学系3の瞳と共役な位置に配置されていても良い。
開口部材5は、開口領域5aを有する。開口領域5aは、照明光がそのまま通過する領域である。「そのまま」とは、減光や遮光が、ほとんど生じていない状態を意味する。開口領域5aの形状は、円環である。
開口部材5には、不透明な板、又は、無色透明な板を用いることができる。不透明な板としては、例えば、金属板や不透明な樹脂板がある。無色透明な板としては、例えば、ガラス板や透明な樹脂板がある。
不透明な板を用いる場合は、不透明な板に貫通孔を形成すれば良い。この場合、貫通孔の部分が、開口領域5aになる。
無色透明な板を用いる場合は、無色透明な板の一部に遮光塗料を塗布すれば良い。このようにすると、遮光塗料が塗布されていない領域と、遮光塗料が塗布されている領域と、が形成される。この場合、遮光塗料が塗布されていない領域が、開口領域5aになる。
減光部材7は、減光領域7aを有する。減光領域7aは、結像光が減光されて通過する領域である。減光領域7aの形状は、円環である。
減光は、反射のみ、吸収のみ、又は、反射と吸収の両方によって行うことができる。反射による減光では、例えば、誘電体多層膜フィルタを用いれば良い。吸収による減光では、例えば、色ガラスフィルタや吸収型NDフィルタを用いれば良い。
誘電体多層膜フィルタでは、無色透明な部材の表面に、多層膜が形成されている。誘電体多層膜フィルタでは、多層膜の構造(薄膜の厚み、薄膜の材料、薄膜の総数等)によって、反射率特性(又は透過率特性)が決まる。色ガラスフィルタでは、無色透明な部材に着色した色の濃度によって、吸収率が決まる。吸収型NDフィルタでは、基板の吸収作用によって吸収率が決まる。
減光部材7には、不透明な板、又は、無色透明な板を用いることができる。不透明な板と無色透明な板の例は、上述したとおりである。
不透明な板を用いる場合は、不透明な板に貫通孔を形成すれば良い。この場合、貫通孔の部分が、減光領域7aになる。ただし、貫通孔で減光を行う必要がある。
反射による減光を貫通孔で行う場合は、無色透明な板に誘電体多層膜を形成し、この無色透明な板を貫通孔に位置させれば良い。貫通孔で吸収による減光を行う場合は、色ガラスを貫通孔に位置させれば良い。
無色透明な板を用いる場合は、無色透明な板の一部に減光領域7aを形成すれば良い。
反射による減光を行う場合は、無色透明な板の一部に誘電体多層膜を形成すれば良い。このようにすると、誘電体多層膜が形成されている領域と、誘電体多層膜が形成されていない領域と、が形成される。誘電体多層膜が形成されている領域が、減光領域7aになる。
吸収による減光を行う場合は、無色透明な板の一部に色ガラスを載置すれば良い。又は、無色透明な板の一部を色ガラスに置換すれば良い。このようにすると、色ガラスが存在する領域と、色ガラスが存在しない領域と、が形成される。色ガラスが存在する領域が、減光領域7aになる。
上述のように、減光領域7aは、開口領域5aと共役な位置に配置されている。よって、減光領域7aの位置に、開口領域5aの像が形成される。標本観察装置1では、所定の状態が生じるように、開口領域5aの大きさ、開口領域5aの位置、減光領域7aの大きさ、及び減光領域7aの位置が設定されている。
所定の状態は、判定領域において、開口領域5aの像が減光領域7a内のみに位置している状態である。また、判定領域は、開口領域5aの像と減光領域7aの両方が含まれている領域である。
以下、開口領域、減光領域、合焦位置、標本の位置及び標本面の傾きについて、説明する。減光領域の大きさと減光領域の位置は、予め決まっているものとする。
標本について説明する。標本としては、例えば、培養液中の生細胞がある。培養液中の生細胞の形状は、球の一部を平面で切り取った形状(以下、「平凸形状」という)に単純化することができる。この場合、平凸形状の標本は、レンズと見なすことができる。
照明光学系と観察光学系との間に平凸形状の標本が位置する場合、標本の位置によって、レンズとして作用したり、作用しなかったりする。レンズとして作用する場合、レンズ作用の大きさは、標本の位置によって変化する。
この点について説明する。以下の説明では、照明光学系、観察光学系及び平凸形状の標本を、各々、コンデンサレンズ、対物レンズ及び平凸レンズに置き換えている。また、コンデンサレンズ、対物レンズ及び平凸レンズを、薄肉レンズと見なしている。
照明光学系と観察光学系との間に平凸形状の標本が存在する場合について説明する。この場合、コンデンサレンズと対物レンズとの間に、平凸レンズが位置している。対物レンズと平凸レンズとの合成焦点距離fcomは、以下の式(A)で表される。
fcom=(flen×fob)/(flen+fob-d) (A)
ここで、
flenは、平凸レンズの焦点距離、
fobは、対物レンズの焦点距離、
dは、対物レンズと平凸レンズとの間隔、
である。
fcom=(flen×fob)/(flen+fob-d) (A)
ここで、
flenは、平凸レンズの焦点距離、
fobは、対物レンズの焦点距離、
dは、対物レンズと平凸レンズとの間隔、
である。
図2は、2つのレンズの間隔と合成焦点距離との関係を示すグラフである。図2は、式(A)をグラフで表したもので、fob=15mm、flen=25mmとしている。
薄肉レンズでは、焦点距離は、主点から焦点位置までの距離になる。また、2つの薄肉レンズの間隔は、一方のレンズの主点から他方の主点までの距離になる。
図2に示すように、対物レンズと平凸レンズとの間隔が15mmのとき、合成焦点距離は15mmとなっている。対物レンズの焦点距離は15mmであるから、対物レンズと平凸レンズとの間隔が15mmのとき、合成焦点距離は対物レンズの焦点距離と等しくなる。これは、対物レンズと平凸レンズとの間隔が15mmのとき、平凸レンズがレンズとして作用しないことを意味している。
無限遠補正対物レンズでは、合焦位置は焦点位置に置き換えることができる。対物レンズの焦点距離が15mmのとき、対物レンズの主点から15mm離れた位置が合焦位置になる。よって、対物レンズと平凸レンズとの間隔が15mmのとき、平凸レンズは対物レンズの合焦位置と一致していることになる。
上述のように、対物レンズと平凸レンズとの間隔が15mmのとき、平凸レンズはレンズとして作用しない。よって、平凸レンズが対物レンズの合焦位置と一致している状態では、平凸レンズはレンズとして作用しない。
対物レンズと平凸レンズとの間隔が15mmよりも小さいとき、合成焦点距離は対物レンズの焦点距離よりも短くなる。対物レンズと平凸レンズとの間隔が15mmよりも大きいとき、合成焦点距離は対物レンズの焦点距離よりも長くなる。これらは、平凸レンズがレンズとして作用することを意味している。
対物レンズと平凸レンズとの間隔が15mmよりも小さいとき、又は、対物レンズと平凸レンズとの間隔が15mmよりも大きいとき、平凸レンズが対物レンズの合焦位置と一致していないことになる。
上述のように、対物レンズと平凸レンズとの間隔が15mmよりも小さいとき、又は、対物レンズと平凸レンズとの間隔が15mmよりも大きいとき、平凸レンズはレンズとして作用する。よって、平凸レンズが対物レンズの合焦位置と一致していない状態では、平凸レンズはレンズとして作用する。
照明光学系と観察光学系との間に何も存在していない場合について説明する。この場合、コンデンサレンズと対物レンズとの間に、平凸レンズは位置していない。この場合の瞳倍率は、コンデンサレンズと対物レンズとで構成される光学系の横倍率と等しい。瞳倍率βは、以下の式(B)で表される。
β=fob/fc (B)
ここで、
fobは、対物レンズの焦点距離、
fcは、コンデンサレンズの焦点距離、
である。
β=fob/fc (B)
ここで、
fobは、対物レンズの焦点距離、
fcは、コンデンサレンズの焦点距離、
である。
照明光学系と観察光学系の間に平凸レンズが存在する場合、瞳倍率は、コンデンサレンズ、対物レンズ及び平凸レンズで構成される光学系の横倍率と等しい。瞳倍率β’は以下の式(C)で表される。
β’=fcom/fc
={(flen×fob)/(flen+fob-d)}/fc
=(flen×fob)/{fc×(flen+fob-d)}
=β×βp (C)
ここで、
βp=flen/(flen+fob-d)、
βpは、瞳倍率の変化率、
である。
β’=fcom/fc
={(flen×fob)/(flen+fob-d)}/fc
=(flen×fob)/{fc×(flen+fob-d)}
=β×βp (C)
ここで、
βp=flen/(flen+fob-d)、
βpは、瞳倍率の変化率、
である。
平凸レンズが対物レンズの合焦位置と一致している状態では、合成焦点距離は、対物レンズの焦点距離と等しい。この場合、β’はβと等しくなる。よって、βp=1になる。
fcom/fc=fob/fc
β’=β’
fcom/fc=fob/fc
β’=β’
平凸レンズが対物レンズの合焦位置と一致していない状態では、合成焦点距離は、対物レンズの焦点距離よりも短いか、又は長い。
合成焦点距離が対物レンズの焦点距離よりも短い場合、β’はβよりも小さくなる。よって、βp<1になる。
fcom/fc<fob/fc
β’<β
fcom/fc<fob/fc
β’<β
合成焦点距離が対物レンズの焦点距離よりも長い場合、β’はβよりも大きくなる。よって、βp>1になる。
fcom/fc>fob/fc
β’>β
fcom/fc>fob/fc
β’>β
上述のように、減光部材7の位置には、開口部材の像8が形成される。開口部材の像8は、コンデンサレンズ、平凸レンズ(標本)及び対物レンズを介して形成される。よって、開口部材の像8の大きさは、コンデンサレンズ、平凸レンズ(標本)及び対物レンズで構成される光学系の横倍率、すなわち、β’によって決まる。
β’は、βとβpとの積である。βは定数であるから、開口部材の像8の大きさは、βpによって決まることになる。
βpは、平凸レンズと対物レンズの合焦位置との一致度合いで異なる。この一致度合いは、対物レンズの合焦位置と平凸レンズの位置とのずれ量で表すことができる。また、対物レンズは観察光学系、平凸レンズは標本に置き換えることができる。よって、βpは、観察光学系の合焦位置と標本の位置とのずれ量によって異なる。
開口部材の像8の大きさはβpによって決まるので、開口部材の像8の大きさは、観察光学系の合焦位置と標本の位置とのずれ量によって決まる。以下、観察光学系の合焦位置と標本の位置とのずれ量を用いて、開口部材の像8の大きさの変化と位置の変化について説明する。
開口領域の像の位置は、標本の標本面の傾きによって変化する。以下の説明では、標本面が平坦な場合と、標本面が傾斜している場合について説明する。標本面が傾斜している場合については、標本面の傾斜が小さい場合と、標本面の傾斜が大きい場合と、について説明する。
ずれ量がゼロの場合、標本の位置と観察光学系の合焦位置とは一致している。ずれ量がゼロでない場合、標本の位置と観察光学系の合焦位置とは一致していない。以下の説明では、ずれ量がゼロの場合を合焦状態、ずれ量がゼロでない場合を非合焦状態という。非合焦状態には、第1の非合焦状態と、第2の非合焦状態と、がある。
合焦状態では、標本は平凸レンズとして作用しない。そのため、βpは1である。非合焦状態では、標本は平凸レンズとして作用する。そのため、βpは1よりも小さくなるか、又は1よりも大きくなる。
標本面が平坦な場合について説明する。図3は、合焦位置と標本の位置との関係を示す図、及び、開口領域の像と減光領域との関係を示す図である。図2では、以下、合焦状態、第1の非合焦状態、第2の非合焦状態の順で説明する。観察光学系の合焦位置として、対物レンズの合焦位置を用いる。
合焦状態を示す図は、図3(d)、図3(e)、図3(f)である。
図3(d)は、合焦位置Fと標本Sの位置との関係を示す図である。合焦状態では、ずれ量がゼロなので、標本Sの位置と合焦位置Fとは一致している。合焦状態では、βp=1である。
図3(e)は、合焦状態における開口領域の像8を示す図である。開口領域の像8の形状は、円環である。
図3(f)は、合焦状態における開口領域の像8と減光領域7aを示す図である。減光領域7aの形状は円環である。開口領域の像8の形状と減光領域7aの形状は、同一である。
開口領域の像8を示す円環の全体は、減光領域7aを示す円環と重なっている。上述のように、判定領域は「開口領域の像と減光領域の両方が含まれている領域」である。よって、判定領域は、減光領域の内縁7aiから減光領域の外縁7aoまでの間になる。
開口領域の像の内縁8iと開口領域の像の外縁8oは、共に、減光領域の内縁7aiから減光領域の外縁7aoまでの間に位置している。よって、開口領域の像8は、減光領域7aの領域内のみに位置している。
上述のように、所定の状態は「判定領域において、開口領域の像が減光領域の領域内のみに位置している状態」である。よって、標本面が平坦な標本における合焦状態は、所定の状態に該当する。
第1の非合焦状態を示す図は、図3(a)、図3(b)、図3(c)である。
図3(a)は、合焦位置Fと標本Sの位置との関係を示す図である。第1の非合焦状態では、ずれ量がゼロではないので、標本Sの位置と合焦位置Fとは一致していない。対物レンズ6から標本Sまでの距離は、対物レンズ6から合焦位置Fまでの距離よりも短い。第1の非合焦状態では、βpは1よりも小さい。
図3(b)は、第1の非合焦状態における開口領域の像8を示す図である。開口領域の像8の形状は、円環である。第1の非合焦状態では、βpは1よりも小さい。よって、第1の非合焦状態における開口領域の像8の大きさは、合焦状態における開口領域の像8の大きさよりも小さい。
図3(c)は、第1の非合焦状態における開口領域の像8と減光領域7aを示す図である。減光領域7aの形状は円環である。開口領域の像8の形状と減光領域7aの形状は、同一である。ただし、開口領域の像8の大きさは、減光領域7aの大きさよりも小さい。
開口領域の像8を示す円環の一部が、減光領域7aを示す円環と重なっている。判定領域は、開口領域の像の内縁8iから減光領域の外縁7aoまでの間になる。
開口領域の像の内縁8iは、減光領域の内縁7aiよりも内側(光軸側)に位置している。開口領域の像の外縁8oは、減光領域の内縁7aiから減光領域の外縁7aoまでの間に位置している。
このように、第1の非合焦状態では、開口領域の像8は、減光領域7aの領域内だけでなく、減光領域7aの領域外にも位置している。よって、標本面が平坦な標本における第1の非合焦状態は、所定の状態に該当しない。
第2の非合焦状態を示す図は、図3(g)、図3(h)、図3(i)である。
図3(g)は、合焦位置Fと標本Sの位置との関係を示す図である。第2の非合焦状態では、ずれ量がゼロではないので、標本Sの位置と合焦位置Fとは一致していない。対物レンズ6から標本Sまでの距離は、対物レンズ6から合焦位置Fまでの距離よりも短い。第2の非合焦状態では、βpは1よりも大きい。
図3(h)は、第2の非合焦状態における開口領域の像8を示す図である。開口領域の像8の形状は、円環である。第2の非合焦状態では、βpは1よりも大きい。よって、第2の非合焦状態における開口領域の像8の大きさは、合焦状態における開口領域の像8の大きさよりも大きい。
図3(i)は、第2の非合焦状態における開口領域の像8と減光領域7aを示す図である。減光領域7aの形状は円環である。開口領域の像8の形状と減光領域7aの形状は、同一である。ただし、開口領域の像8の大きさは、減光領域7aの大きさよりも大きい。
開口領域の像8を示す円環の一部が、減光領域7aを示す円環と重なっている。判定領域は、減光領域の内縁7aiから開口領域の像の外縁8oまでの間になる。
開口領域の像の内縁8iは、減光領域の内縁7aiから減光領域の外縁7aoまでの間に位置している。開口領域の像の外縁8oは、減光領域の外縁7aoよりも外側に位置している。
このように、第2の非合焦状態では、開口領域の像8は、減光領域7aの領域内だけでなく、減光領域7aの領域外にも位置している。よって、標本面が平坦な標本における第2の非合焦状態は、所定の状態に該当しない。
以上説明したように、標本観察装置1では、合焦位置Fに対する標本Sの位置に応じて、所定の状態と、所定の状態ではない状態と、が生じる。言い換えると、標本観察装置1では、所定の状態と所定の状態ではない状態が生じるように、開口領域の大きさ、開口領域の位置、減光領域の大きさ、及び減光領域の位置が設定されている。
合焦状態では、図3(f)に示すように、開口領域の像8は、減光領域7aの領域内のみに位置している。ただし、図3(f)では、開口領域の像の内縁8iと減光領域の内縁7aiとの間には、隙間が生じている。また、開口領域の像の外縁8oと減光領域の外縁7aoとの間にも、隙間が生じている。
この場合、開口領域の像の内縁8iが減光領域の内縁7aiと一致したときに、開口領域の像の外縁8oが減光領域の外縁7aoに到達していない状態では、開口領域の像8は減光領域7aの領域内のみに位置する。
あるいは、開口領域の像の外縁8oが減光領域の外縁7aoと一致したときに、開口領域の像の内縁8iが減光領域の内縁7aiに到達していない状態では、開口領域の像8は減光領域7aの領域内のみに位置する。
上記2つの状態における開口領域の像8の位置は、合焦状態における開口領域の像8の位置と異なる。よって、上記2つの状態は、非合焦状態である。ただし、開口領域の像8は、減光領域7aの領域内のみに位置している。よって、上記2つの状態は非合焦状態であるにもかかわらず、所定の状態に該当している。
上記2つの状態は非合焦状態なので、βpは1ではない。ただし、上記2つの状態でのβpは1に近い。このように、開口領域の像8の大きさが減光領域7aの大きさよりも小さい場合、βpが1に近いと、非合焦状態が所定の状態に該当することがある。
図3(f)において、開口領域の像の内縁8iと減光領域の内縁7aiとが一致し、且つ、開口領域の像の外縁8oと減光領域の外縁7aoとが一致していると、βpが1に近い場合であっても、非合焦状態が所定の状態に該当することはない。
言い換えると、開口領域の像の大きさと減光領域の大きさが同じで、且つ、開口領域の像の位置と減光領域の位置が一致している場合は、βpが1に近い場合であっても、非合焦状態が所定の状態に該当することはない。
減光領域7aを通過する光について説明する。減光領域7aを通過する光は、以下のように、照明光又結像光と見なすことができる。
開口領域は、照明光が通過する領域である。よって、開口領域の像8は、照明光の像と見なすことができる。また、開口領域を通過した照明光は、標本Sを通過する。標本Sを通過した照明光は、結像光となって標本Sから出射する。よって、開口領域の像8は、結像光の像と見なすことができる。以下、結像光を用いて説明する。
上述のように、所定の状態では、開口領域の像8は、減光領域7aの領域内のみに位置している。よって、所定の状態では、結像光は、全て、減光領域7aを通過することになる。
一方、所定の状態ではない場合、開口領域の像8は、減光領域7aの領域内と領域外に位置している。よって、この場合、結像光の一部は減光領域7aを通過し、残りは、減光領域7aを通過しないことになる。
減光領域は、減光部材に設けられている。減光部材には、更に、減光領域以外の領域(以下、「非減光領域」という)が設けられている。所定の状態ではない場合、結像光の一部は減光領域を通過し、残りは、非減光領域を通過することになる。
減光領域における光透過率は、非減光領域における光透過率よりも小さい。よって、減光領域に入射する光量と、非減光領域に入射する光量と、が同じだとすると、減光領域から出射する光の光量は、非減光領域から出射する光の強度よりも小さくなる。
上述のように、所定の状態では、結像光は、全て、減光領域を通過する。一方、所定の状態でない場合、結像光の一部は減光領域を通過し、残りは非減光領域を通過する。よって、所定の状態で減光部材から出射する結像光の光量は、所定の状態でない場合に減光部材から出射する結像光の光量よりも小さくなる。
所定の状態でない場合、非減光領域を通過する結像光の範囲は、合焦位置に対する標本の位置に応じて変化する。よって、合焦位置に対する標本の位置に応じて、減光部材から出射する結像光の光量が変化する。
図4は、開口領域の像、減光領域及び出射光量のシミュレーション結果を示す図である。図4(a)は、開口領域の像を示す図、図4(b)は、減光領域を示す図、図4(c)は、標本面が平坦な場合の出射光量を示すグラフである。
減光部材から出射する結像光の光量(以下、「出射光量」という)は、シミュレーションによって算出された光量である。横軸は瞳倍率を表し、縦軸は出射光量を表している。図4(a)、図4(b)に示すように、シミュレーションでは、開口領域の像の形状と減光領域の形状を、共に円環としている。
開口領域の像については、内縁の直径を0.78、外縁の直径を0.96としている。減光領域については、内縁の直径を0.71、外縁の直径を1.00としている。各直径の値は、減光領域の外縁の直径で規格化したときの値である。
図4(c)に示すように、出射光量Iは、βpの値によって変化する。βpが約0.92から約1.05の範囲では、出射光量Iは最少になる。この点については、後述する。
βpが約0.92よりも小さい範囲では、βpが小さくになるにつれて、出射光量Iは大きくなる。また、βpが約1.05よりも大きい範囲では、βpが大きくなるにつれて、出射光量Iは大きくなる。
βpが1のとき、標本の位置と合焦位置とは一致している。βpが1ではないとき、標本の位置と合焦位置とは一致していない。よって、図4(c)の横軸は、合焦位置に対する標本の位置のずれ量を表していることになる。
破線で示す位置は、βpが1のときの位置である。出射光量Iが最少になる範囲には、βpが1の状態、すなわち、標本の位置と合焦位置とが一致している状態が含まれている。よって、出射光量Iが最少になる範囲を検出することで、標本の位置と合焦位置とが一致している状態を検出することができる。
上述のように、開口領域の像の大きさが減光領域の大きさよりも小さい場合、βpが1に近いと、非合焦状態であっても所定の状態に該当する。所定の状態では、出射光量Iは最少になる。そのため、このような場合、βpが1に近いと、出射光量は最少になる。
図4(a)、図4(b)に示すように、開口領域の像の内縁の直径(0.78)は、減光領域の内縁の直径(0.71)よりも大きい。また、開口領域の像の外縁の直径(0.96)は、減光領域の外縁の直径(1.00)よりも小さい。
そのため、開口領域の像の内縁と減光領域の内縁との間、及び、開口領域の像の外縁と減光領域の外縁との間に隙間が生じている。このように、図4(c)におけるシミュレーションは、開口領域の像の大きさが減光領域の大きさよりも小さい状態で行っている。そのため、βpが約0.92から約1.05の範囲では、出射光量は最少になっている。
出射光量が最少になる範囲の検出、すなわち、標本の位置が合焦位置と一致している状態の検出は、検出素子、処理装置及び駆動制御装置によって行うことができる。
標本の観察や標本の撮像では、標本がステージ上に載置される。通常、最初に標本が載置された時点では、標本の位置と合焦位置とは一致していない。そのため、標本の像は不鮮明になっている。標本の鮮明な像を得るためには、標本の位置と合焦位置とを一致させなくてはならない。
標本の位置と合焦位置とが一致していない状態から、標本の位置と合焦位置とが一致している状態にするには、標本の位置と合焦位置との相対位置を変化させれば良い。標本の位置と合焦位置との相対位置の変化は、標本と対物レンズとの間隔を変化させることで生じる。
標本観察装置1は、駆動制御装置を備えている。よって、標本と対物レンズとの間隔は、駆動制御装置で変化させることができる。
標本と対物レンズとの間隔が変化すると、出射光量が変化する。出射光量の変化は、検出素子と処理装置で捉えることができる。
像面IMの位置には、検出素子が配置されている。検出素子は、観察光学系から出射した光を受光する。減光部材から出射する結像光は、観察光学系から出射した光である。よって、結像光が検出素子で受光される。
検出素子で受光した光(結像光)の光量は、処理装置で求まる。出射光は検出素子で受光された光なので、出射光量は処理装置で求めることができる。出射光量が求まることで、出射光量の変化を捉えることができる。出射光量の変化を捉えることができると、出射光量の最小値を検出することができる。
駆動制御装置は、処理装置で求めた光量が最小となるように、処理装置で求めた光量に基づいて標本と対物レンズとの間隔を変える。
出射光量の最小値は、標本の位置と合焦位置が一致している状態を表している。よって、出射光量が最小となるように、出射光量に基づいて標本と対物レンズとの間隔を変える。このようにすることで、標本の位置が合焦位置と一致している状態、すなわち、合焦位置を決定することができる。
次に、標本面が傾斜している場合について説明する。標本面が傾斜している場合、開口領域の像の位置と減光領域の位置との間に、ずれが生じる。以下の説明では、開口領域の像が減光領域に対して右方向にずれているものと仮定する。左右方向は、紙面内の水平方向である。
判定領域は、上下方向の範囲と左右方向の範囲で決まる。ただし、開口領域の像の位置と減光領域の位置との間で、上下方向にずれは生じない。よって、判定領域の説明では、上下方向の範囲については説明を省略し、左右方向のみを使って説明する。
標本面の傾斜が小さい場合について説明する。図5は、合焦位置と標本の位置との関係を示す図、及び、開口領域の像と減光領域との関係を示す図である。以下、合焦状態、第1の非合焦状態、第2の非合焦状態の順で説明する。
合焦状態を示す図は、図5(d)、図5(e)、図5(f)である。
図5(d)は、合焦位置Fと標本Sの位置との関係を示す図である。合焦状態では、ずれ量がゼロなので、標本Sの位置は合焦位置Fと一致している。合焦状態では、βp=1である。
図5(e)は、合焦状態における開口領域の像8を示す図である。開口領域の像8の形状は、円環である。
図5(f)は、合焦状態における開口領域の像8と減光領域7aを示す図である。減光領域7aの形状は円環である。開口領域の像8の形状と減光領域7aの形状は、同一である。
標本面が傾斜している場合、標本Sから出射する結像光の出射方向が、標本面が平坦な場合と異なる。そのため、開口領域の像8を示す円環の全体は、減光領域7aを示す円環と重ならない。すなわち、開口領域の像8を示す円環の一部しか、減光領域7aを示す円環と重ならない。判定領域は、減光領域の外縁7aoの左端から開口領域の像の外縁8oの右端までの間になる。
開口領域の像の内縁8iの一部は、減光領域の内縁7aiよりも内側に位置している。開口領域の像の外縁8oの一部は、減光領域の内縁7aiよりも外側に位置している。
このように、合焦状態では、開口領域の像8は、減光領域7aの領域内だけでなく、減光領域7aの領域外にも位置している。よって、標本面が傾斜している標本における合焦状態は、所定の状態に該当しない。
第1の非合焦状態を示す図は、図5(a)、図5(b)、図5(c)である。
図5(a)は、合焦位置Fと標本Sの位置との関係を示す図である。第1の非合焦状態では、ずれ量がゼロではないので、標本Sの位置は合焦位置Fと一致していない。対物レンズ6から標本Sまでの距離は、対物レンズ6から合焦位置Fまでの距離よりも長い。第1の非合焦状態では、βpは1よりも小さい。
図5(b)は、第1の非合焦状態における開口領域の像8を示す図である。開口領域の像8の形状は、円環である。第1の非合焦状態では、βpは1よりも小さい。よって、第1の非合焦状態における開口領域の像8の大きさは、合焦状態における開口領域の像8の大きさよりも小さい。
図5(c)は、第1の非合焦状態における開口領域の像8と減光領域7aを示す図である。減光領域7aの形状は円環である。開口領域の像8の形状と減光領域7aの形状は、同一である。ただし、開口領域の像8の大きさは、減光領域7aの大きさよりも小さい。
開口領域の像8を示す円環の一部が、減光領域7aを示す円環と重なっている。判定領域は、減光領域の外縁7aoの内側になる。
開口領域の像の内縁8iの一部と開口領域の像の外縁8oの一部は、減光領域の内縁7aiよりも内側に位置している。
このように、第1の非合焦状態では、開口領域の像8は、減光領域7aの領域内だけでなく、減光領域7aの領域外にも位置している。よって、標本面が傾斜している標本における第1の非合焦状態は、所定の状態に該当しない。
第2の非合焦状態を示す図は、図5(g)、図5(h)、図5(i)である。
図5(g)は、合焦位置Fと標本Sの位置との関係を示す図である。第2の非合焦状態では、ずれ量がゼロではないので、標本Sの位置と合焦位置Fとは一致していない。対物レンズ6から標本Sまでの距離は、対物レンズ6から合焦位置Fまでの距離よりも短い。第2の非合焦状態では、βpは1よりも大きい。
図5(h)は、第2の非合焦状態における開口領域の像8を示す図である。開口領域の像8の形状は、円環である。第2の非合焦状態では、βpは1よりも大きい。よって、第2の非合焦状態における開口領域の像8の大きさは、合焦状態における開口領域の像8の大きさよりも大きい。
図5(i)は、第2の非合焦状態における開口領域の像8と減光領域7aを示す図である。減光領域7aの形状は円環である。開口領域の像8の形状と減光領域7aの形状は、同一である。ただし、開口領域の像8の大きさは、減光領域7aの大きさよりも大きい。
開口領域の像8を示す円環の一部が、減光領域7aを示す円環と重なっている。判定領域は、減光領域の外縁7aoの左端から開口領域の像の外縁8oの右端までの間になる。
開口領域の像の内縁8iは、減光領域の内縁7aiから減光領域の外縁7aoまでの間に位置している。開口領域の像の外縁8oの一部は、減光領域の外縁7aoよりも外側に位置している。
このように、第2の非合焦状態では、開口領域の像8は、減光領域7aの領域内だけでなく、減光領域7aの領域外にも位置している。よって、標本面が傾斜している標本における第2の非合焦状態は、所定の状態に該当しない。
標本面が傾斜している場合、合焦状態、第1の非合焦状態及び第2の合焦状態は、いずれも、所定の状態に該当しない。結像光の一部は減光領域を通過し、残りは非減光領域を通過する。
上述のように、非減光領域を通過する結像光の範囲は、合焦位置に対する標本の位置に応じて変化する。よって、合焦位置に対する標本の位置に応じて、減光部材から出射する結像光の光量が変化する。
図6は、標本面が小さく傾斜している場合の出射光量を示すグラフである。出射光量は、シミュレーションによって算出された光量である。シミュレーションに用いた開口領域の像と減光領域は、標本面が平坦な標本で行ったシミュレーションと同じである。
出射光量Iは、βpが1の近傍、すなわち、βpが1よりもわずかに小さいところで最少になる。βpが1の近傍以外の範囲では、βpが小さくになるにつれて、出射光量Iは大きくなるか、又は、βpが大きくなるにつれて、出射光量Iは大きくなる。
破線で示す位置は、βpが1のときの位置である。出射光量Iが最少になる範囲には、βpが1の状態、すなわち、標本の位置と合焦位置が一致している状態が含まれている。よって、出射光量Iが最少になる範囲を検出することで、標本の位置と合焦位置が一致している状態を検出することができる。
図6に示すグラフを図4(c)に示すグラフと比較すると、βpが1の付近でのグラフの形が異なる。
上述のように、標本面が平坦な場合、合焦状態では、開口領域の像の内縁と減光領域の内縁との間、及び、開口領域の像の外縁と減光領域の外縁との間に隙間が生じている。一方、標本面の傾斜が小さい場合、合焦状態であっても、このような隙間は生じていない。
そのため、標本面の傾斜が小さい場合では、標本面が平坦な場合と比べると、βpがより1に近いところから出射光量Iが変化し始める。このような理由から、βpが1の付近でのグラフの形が、図4(c)と図6とで異なっている。
また、標本面の傾斜が小さい場合では、合焦状態でも、開口領域の像の一部は、減光領域7aの領域外に位置している。ただし、減光領域の領域外に位置している開口領域の像の割合は少ない。そのため、最小光量は、標本面が平坦な場合と比べてそれほど変わらない。
標本面の傾斜が大きい場合について説明する。図7は、合焦位置と標本の位置との関係を示す図、及び、開口領域の像と減光領域との関係を示す図である。図7では、図5に比べて標本面は大きく傾斜している。以下、合焦状態、第1の非合焦状態、第2の非合焦状態の順で説明する。
合焦状態を示す図は、図7(d)、図7(e)、図7(f)である。
図7(d)は、合焦位置Fと標本Sの位置との関係を示す図である。合焦状態では、ずれ量がゼロなので、標本Sの位置は合焦位置Fと一致している。合焦状態では、βp=1である。
図7(e)は、合焦状態における開口領域の像8を示す図である。開口領域の像8の形状は、円環である。
図7(f)は、合焦状態における開口領域の像8と減光領域7aを示す図である。減光領域7aの形状は円環である。開口領域の像8の形状と減光領域7aの形状は、同一である。
上述のように、標本面が傾斜している場合、標本Sから出射する結像光の出射方向が、標本面が平坦な場合と異なる。そのため、開口領域の像8を示す円環の全体は、減光領域7aを示す円環と重ならない。すなわち、開口領域の像8を示す円環の一部しか、減光領域7aを示す円環と重ならない。判定領域は、減光領域の外縁7aoの左端から開口領域の像の外縁8oの右端までの間になる。
開口領域の像の内縁8iの一部は、減光領域の内縁7aiよりも内側に位置している。開口領域の像の外縁8oの一部は、減光領域の内縁7aiよりも外側に位置している。
このように、合焦状態では、開口領域の像8は、減光領域7aの領域内だけでなく、減光領域7aの領域外にも位置している。よって、標本面が傾斜している標本における合焦状態は、所定の状態に該当しない。
第1の非合焦状態を示す図は、図7(a)、図7(b)、図7(c)である。
図7(a)は、合焦位置Fと標本Sの位置との関係を示す図である。第1の非合焦状態では、ずれ量がゼロではないので、標本Sの位置は合焦位置Fと一致していない。対物レンズ6から標本Sまでの距離は、対物レンズ6から合焦位置Fまでの距離よりも長い。第1の非合焦状態では、βpは1よりも小さい。
図7(b)は、第1の非合焦状態における開口領域の像8を示す図である。開口領域の像8の形状は、円環である。第1の非合焦状態では、βpは1よりも小さい。よって、第1の非合焦状態における開口領域の像8の大きさは、合焦状態における開口領域の像8の大きさよりも小さい。
図7(c)は、第1の非合焦状態における開口領域の像8と減光領域7aを示す図である。減光領域7aの形状は円環である。開口領域の像8の形状と減光領域7aの形状は、同一である。ただし、開口領域の像8の大きさは、減光領域7aの大きさよりも小さい。
開口領域の像8を示す円環の一部が、減光領域7aを示す円環と重なっている。判定領域は、減光領域の外縁7aoの内側になる。
開口領域の像の内縁8iの一部と開口領域の像の外縁8oの一部は、減光領域の内縁7aiよりも内側に位置している。
このように、第1の非合焦状態では、開口領域の像8は、減光領域7aの領域内だけでなく、減光領域7aの領域外にも位置している。よって、標本面が傾斜している標本における第1の非合焦状態は、所定の状態に該当しない。
第2の非合焦状態を示す図は、図7(g)、図7(h)、図7(i)である。
図7(g)は、合焦位置Fと標本Sの位置との関係を示す図である。第2の非合焦状態では、ずれ量がゼロではないので、標本Sの位置と合焦位置Fとは一致していない。対物レンズ6から標本Sまでの距離は、対物レンズ6から合焦位置Fまでの距離よりも短い。第2の非合焦状態では、βpは1よりも大きい。
図7(h)は、第2の非合焦状態における開口領域の像8を示す図である。開口領域の像8の形状は、円環である。第2の非合焦状態では、βpは1よりも大きい。よって、第2の非合焦状態における開口領域の像8の大きさは、合焦状態における開口領域の像8の大きさよりも大きい。
図7(i)は、第2の非合焦状態における開口領域の像8と減光領域7aを示す図である。減光領域7aの形状は円環である。開口領域の像8の形状と減光領域7aの形状は、同一である。ただし、開口領域の像8の大きさは、減光領域7aの大きさよりも大きい。
開口領域の像8を示す円環の一部が、減光領域7aを示す円環と重なっている。判定領域は、減光領域の外縁7aoの左端から開口領域の像の外縁8oの右端までの間になる。
開口領域の像の内縁8iの一部は、減光領域の内縁7aiよりも内側と、減光領域の外縁7aoよりも外側に位置している。開口領域の像の外縁8oの一部は、減光領域の外縁7aoよりも外側に位置している。
このように、第2の非合焦状態では、開口領域の像8は、減光領域7aの領域内だけでなく、減光領域7aの領域外にも位置している。よって、標本面が傾斜している標本における第2の非合焦状態は、所定の状態に該当しない。
標本面が傾斜している場合、合焦状態、第1の非合焦状態及び第2の合焦状態は、いずれも、所定の状態に該当しない。結像光の一部は減光領域を通過し、残りは非減光領域を通過する。
上述のように、非減光領域を通過する結像光の範囲は、合焦位置に対する標本の位置に応じて変化する。よって、合焦位置に対する標本の位置に応じて、減光部材から出射する結像光の光量が変化する。
図8は、標本面が大きく傾斜している場合の出射光量を示すグラフである。出射光量は、シミュレーションによって算出された光量である。シミュレーションに用いた開口領域の像と減光領域は、標本面が平坦な標本で行ったシミュレーションと同じである。
出射光量Iは、βpが1の近傍、すなわち、βpが1よりもわずかに小さいところで最少になる。βpが1の近傍以外の範囲では、βpが小さくになるにつれて、出射光量Iは大きくなるか、又は、βpが大きくなるにつれて、出射光量Iは大きくなる。
破線で示す位置は、βpが1のときの位置である。出射光量Iが最少になる範囲には、βpが1の状態、すなわち、標本の位置と合焦位置が一致している状態が含まれている。よって、出射光量Iが最少になる範囲を検出することで、標本の位置と合焦位置が一致している状態を検出することができる。
図8に示すグラフを、図4(c)に示すグラフや図6に示すグラフと比較すると、βpが1の付近でのグラフの形が異なる。この点については、標本面の傾斜が小さい場合で説明したとおりである。
ただし、標本面の傾斜が大きい場合では、標本面の傾斜が小さい場合に比べると、減光領域の領域外に位置している開口領域の像の割合は多い。そのため、最小光量Iは、標本面が平坦な場合や標本面の傾斜が小さい場合と比べると大きくなる。
図6に示すグラフや図8に示すグラフは、標本面の傾斜が小さい場合であっても、標本面の傾斜が大きい場合であっても、出射光量が最小となる位置で概ね合焦している状態を表している。よって、出射光量が最小となるように、出射光量に基づいて標本と対物レンズとの間隔を変える。このようにすることで、標本の位置が合焦位置と一致している状態、すなわち、合焦位置を決定することができる。
以上説明したように、本実施形態の標本観察装置によれば、標本面の傾斜の有無や傾斜の大小に関係なく、出射光量が最小となるように標本と対物レンズとの間隔を変えることで、合焦位置を決定することができる。
また、標本観察装置1では、合焦状態を検出に、取得した画像の全画素の情報、すなわち、検出素子で受光した光の光量の全てを用いている。この場合、取得した画像の中に、例えば、ゴミなどによって生じた明るい領域(以下、「領域A」という)が存在していたとしても、光量の総和に占める領域Aの光量の割合は小さい。そのため、領域Aの影響を受けにくい。
その結果、ゴミなどによって明るい光が発生している状態であっても、出射光量が最小となるように、出射光量に基づいて標本と対物レンズとの間隔を変えることで、標本の位置が合焦位置と一致している状態、すなわち、合焦位置を決定することができる。このように、標本観察装置1によれば、合焦状態の検出の誤差要因となる明るさを持つ画素が、合焦状態の検出に用いる全画素の中に含まれていても、合焦状態を検出することができる。
出射光量について、更に説明する。図9は、出射光量を示すグラフである。横軸は、合焦位置と標本の位置とのずれ量ΔZを表し、縦軸は出射光量Iを表している。
図9(a)は、レンズ作用のみが生じたときの出射光量を示すグラフである。図9(b)は、デフォーカス作用のみが生じたとき出射光量を示すグラフである。図9(c)は、レンズ作用とデフォーカス作用が生じたときの出射光量を示すグラフである。
上述のように、光路中に標本が存在すると、合焦位置と標本の位置とのずれ量ΔZに応じて、標本によるレンズ作用の大きさが変化する(レンズ作用なしの場合も含む)。レンズ作用の大きさが変化すると、βpの値が変化する。その結果、図9(a)に示すように、出射光量Iが変化する。このように、光路中に標本が存在する場合、合焦位置と標本の位置とのずれ量ΔZの変化に応じて、出射光量Iが変化する。
ただし、光路中に標本が存在しない場合でも、合焦位置と標本の位置とのずれ量ΔZは出射光量Iに関係する。
合焦位置と標本の位置とのずれ量ΔZは、デフォーカス量を表している。デフォーカス量がゼロでない場合、デフォーカス作用が生じる。よって、光路中に標本が存在しない場合、標本によるレンズ作用は生じないが、合焦位置と標本の位置とのずれ量ΔZに応じて、デフォーカス作用の大きさが変化する(デフォーカス作用なしの場合も含む)。
デフォーカス作用の大きさが変化すると、像のコントラストや像全体の明るさが変化する。その結果、図9(b)に示すように、出射光量Iが変化する。このように、光路中に標本が存在しない場合であっても、合焦位置と標本の位置とのずれ量ΔZの変化に応じて、出射光量Iが変化する。
実際の測定では、レンズ作用とデフォーカス作用が同時に発生する。よって、出射光量Iの変化は、図9(c)に示すグラフのようになる。
図9(c)に示すグラフにおいても、出射光量が最小になる状態を捉えることができる。よって、本実施形態の標本観察装置によれば、出射光量が最小となるように標本と対物レンズとの間隔を変えることで、合焦位置を決定することができる。
本実施形態の標本観察装置の具体例について説明する。図10は、本実施形態の標本観察装置の具体例を示す図である。
標本観察装置100は、正立型顕微鏡に合焦機能を持たせた装置である。標本観察装置100は、本体部10と、照明部20と、観察部30と、処理装置40と、を備える。ここで、照明部20と観察部30とは、本体部10に取り付けられている。また、本体部10と処理装置40とは、有線または無線で接続されている。
標本観察装置100は、表示装置50を備えていても良い。表示装置50は、有線または無線で処理装置40に接続されている。
本体部10はステージ11を有する。ステージ11は保持部材である。このステージ11には、標本Sが載置される。標本Sの移動はステージ11に取り付けられた操作ノブ(不図示)や焦準ノブ(不図示)で行われる。操作ノブの操作により、光軸と垂直な面内で、標本Sが移動する。焦準ノブの操作により、光軸に沿って標本Sが移動する。
照明部20は、光源21と照明光学系22とを有する。照明光学系22は、コンデンサレンズ23と開口部材24とを有する。なお、図10に示すように、照明光学系22は、レンズ25と、ミラー26と、レンズ27とを備えていても良い。図10では、コンデンサレンズ23と開口部材24はステージ11に保持されている。照明光学系22は、光源21からステージ11までの間の光路中に配置されている。
観察部30は、観察光学系31と撮像装置32とを有する。観察部30は、レボルバ33と観察鏡筒34とを備えていても良い。
観察光学系31は、顕微鏡対物レンズ35と、減光部材60と、撮像レンズ36と、を有する。撮像装置32は検出素子39を有する。検出素子39には、例えば、フォトダイオードが用いられている。
減光部材60は、顕微鏡対物レンズ35の内部に配置されている。観察光学系31は、結像レンズ37とプリズム38とを備えていても良い。観察光学系31は、ステージ11から撮像装置32までの間の光路中に配置されている。
標本観察装置100では、照明部20は、ステージ11を挟んで観察部30と対向する側に配置されている。よって、標本観察装置100では、標本Sは透過照明で照明される。
光源21から照明光が出射する。照明光は照明光学系22を通過して、ステージ11に到達する。この照明光によって、標本Sが照明される。標本Sからの光は観察光学系31によって集光され、これにより、集光位置に標本Sの像(光学像)が形成される。
観察光学系31の光路中にプリズム38がない場合、観察光学系31から出射した光が、検出素子39によって受光される。検出素子39によって受光した光の光量、すなわち、出射光量は、処理装置40で求めることができる。
標本観察装置100は、開口部材24と、減光部材60と、を備えている。そのため、標本Sの位置と合焦位置とが一致していない状態から、標本Sの位置と合焦位置とが一致している状態に近づくにつれて、出射光量は、徐々に小さくなる。
出射光量は、標本Sと顕微鏡対物レンズ35との間隔を変えることで変化する。そこで、焦準ノブを操作して、標本Sと顕微鏡対物レンズ35との間隔を変化させる。これにより、出射光量が変化する。出射光量の変化は、検出素子39と処理装置40で捉えることができる。
出射光量の変化を捉えながら、出射光量が最小となるように焦準ノブを操作する。そして、出射光量が最小となったときに、焦準ノブによる操作を終了する。
本体部10は、モータ12(駆動制御装置)を備えていても良い。図10では、モータ12はステージ11に接続されている。モータ12によって、ステージ11を光軸に沿って移動させることで、焦準ノブを使用せずに、標本Sと顕微鏡対物レンズ35との間隔を変えることができる。そして、出射光量が最小となったときに、ステージ11の移動を停止する。
このように、標本観察装置100によれば、標本面の傾斜の有無や傾斜の大小に関係なく、出射光量が最小となるように標本と対物レンズとの間隔を変えることで、合焦位置を決定することができる。
出射光量が最小となる範囲と、合焦状態との関係について説明する。図11は、出射光量と合焦状態を示す図である。図11(a)は、出射光量を示すグラフである。図11(b)は、標本の位置と合焦位置との関係を示す図である。
標本Sと顕微鏡対物レンズ35との間隔を変えることで、出射光量は、図11(a)に示すグラフのように変化する。図11(a)において、矢印で示す範囲で、出射光量がほぼ最小になる。よって、合焦状態は矢印の範囲内に存在する。出射光量が一点で最小にならない理由は、上述の通りである。
矢印で示す範囲を、標本Sと顕微鏡対物レンズ35との間隔に置き換えると、例えば、図11(b)に示すようにH1からH2までの範囲になる。H1は標本の底面、H2は標本の最高点である。
上述のように、標本の観察や標本の撮像では、標本がステージ上に載置される。通常、最初に標本が載置された時点では、標本の位置と合焦位置とは一致していない。そのため、標本の像は不鮮明になっている。
そこで、観察者が焦準ノブを操作して、標本Sを合焦位置に向けて移動させる。又は、モータ12によってステージ11を移動させ、標本Sを合焦位置に向けて移動させる。
標本Sの位置が顕微鏡対物レンズ35に非常に近い場合、標本Sが顕微鏡対物レンズ35から離れる方向にステージ11を移動させれば良い。一方、標本Sの位置が顕微鏡対物レンズ35から大きく離れている場合、標本Sが顕微鏡対物レンズ35に近づく方向にステージ11を移動させれば良い。
標本Sの位置が顕微鏡対物レンズ35に非常に近い状態では、デフォーカス量が多いので出射光量は小さく、また、βpは1よりも小さい。この状態は、例えば、P1の位置に対応する。
この状態から、標本Sを顕微鏡対物レンズ35から離れる方向に移動させると、出射光量が徐々に大きくなる。その後、出射光量は徐々に小さくなる。そして、P2の位置で、出射光量が最小に近い状態になる。この状態での合焦位置は、H1の位置である。
一方、標本Sの位置が顕微鏡対物レンズ35から大きく離れている状態では、デフォーカス量が多いので出射光量は小さく、また、βpは1よりも大きい。この状態は、例えば、P4の位置に対応する。
この状態から、標本Sを顕微鏡対物レンズ35に近づく方向に移動させると、出射光量が徐々に大きくなる。その後、出射光量は徐々に小さくなる。そして、P3の位置で、出射光量が最小に近い状態になる。この状態での合焦位置は、H2の位置である。
このように、標本観察装置100では、出射光量が最小になるように標本Sと対物レンズ6との間隔を変えることで、標本Sの近くで合焦することができる。ただし標本観察装置100では、合焦位置と判断した位置は、図11(b)に示すように、H1からH2までの間になる、よって、本実施形態の標本観察装置は、粗調用の合焦に適している。粗調用の合焦では、標本Sの近くに合焦させることができる。よって、粗調用の合焦は、例えば、最初に標本が載置された時点で行う合焦に用いられる。
標本観察装置100では、観察光学系31の光路中に、プリズム38を挿入することもできる。このようにすることで、標本Sからの光は、観察鏡筒34の接眼レンズに導かれる。観察者は、接眼レンズを介して、標本Sの光学像を観察できる。
以上の説明では、開口領域の形状と減光領域の形状は、共に円環であった。しかしながら、開口領域の形状と減光領域の形状は、円環に限られない。また、開口領域の形状と減光領域の形状は、同一形状又は相似形状でなくても良い。
図12は、開口領域の形状と減光領域の形状を示す図である。開口領域の形状と減光領域の形状は、異なる。図12(a)は、開口領域の形状の第1例を示す図、図12(b)は、減光領域の形状と開口領域の像の形状の第1例を示す図、図12(c)は、開口領域の形状の第2例を示す図、図12(d)は、減光領域の形状と開口領域の像の形状の第2例を示す図である。
図12(a)に示すように、第1例では、開口領域110の形状は、円環を半分にした形状である。また、図12(b)に示すように、減光領域111の形状は、円環である。開口領域の像112の形状は、円環を半分にした形状である。
第1例では、減光領域111の形状が円環である。そのため、開口領域110が光軸の周りに回転しても、開口領域の像112を減光領域111の領域内に位置させることができる。
図12(c)に示すように、第2例では、開口領域120の形状は、円環である。また、図12(d)に示すように、減光領域121の形状は、円環を半分にした形状である。開口領域の像122の形状は、円環である。
第2例では、減光領域111の形状が、円環の約1/4を取り除いた形状である。この場合、非減光領域を通過する光が増加するので、明るい光学像が得られる。ただし、出射光量の変化が少なくなるので、減光領域を多くすることが好ましい。
図13は、開口領域の形状と減光領域の形状を示す図である。開口領域の形状と減光領域の形状が、同一形状になっている。図13(a)は、開口領域の形状の第3例を示す図、図13(b)は、減光領域の形状と開口領域の像の形状の第3例を示す図、図13(c)は、開口領域の形状の第4例を示す図、図13(d)は、減光領域の形状と開口領域の像の形状の第4例を示す図、図13(e)は、開口領域の形状の第5例を示す図、図13(f)は、減光領域の形状と開口領域の像の形状の第5例を示す図である。
図13(a)に示すように、第3例では、開口領域130の形状は、全体が四角形で、枠状になっている。また、図13(b)に示すように、減光領域131の形状と開口領域の像132の形状は、共に、全体が四角形で、枠状になっている。
図13(c)に示すように、第4例では、開口領域140の形状は、全体が半円形で、枠状になっている。また、図13(d)に示すように、減光領域141の形状と開口領域の像142の形状は、共に、全体が半円形で、枠状になっている。
図13(e)に示すように、第5例では、開口領域150の形状は、全体が星形で、枠状になっている。また、図13(f)に示すように、減光領域151の形状と開口領域の像152の形状は、共に、全体が星形で、枠状になっている。
本実施形態の標本観察装置では、検出素子は、2次元に配列された微小な受光素子を有することが好ましい。
CCD又はCMOSでは、微小な受光素子が2次元配列されている。検出素子39にCCD又はCMOSが用いられた場合、検出素子39で受光した光の光量、すなわち、出射光量は、各受光素子で受光した光の光量の総和になる。よって、検出素子39にCCD又はCMOSが用いられた場合は、この総和した光量に基づいて、出射光量が最小となるように標本と対物レンズとの間隔を変えることで、合焦位置を決定することができる。
合焦位置の決定は、各受光素子で受光した光の光量の平均値で行っても良い。平均値は、各受光素子で受光した光の光量の総和を画素数で割ることで得ることができる。
また、検出素子39にCCD又はCMOSが用いられた場合、検出素子39によって標本Sの像の撮像が行える。撮像によって、標本Sの像は電子画像(デジタルデータ)に変換される。電子画像は処理装置40に送られる。処理装置40では各種の処理が行われる。
標本観察装置100が表示装置50を備えている場合、電子画像は表示装置50に表示される。観察者は表示装置50に表示された電子画像を見ることで、標本S(標本Sの像)を観察できる。
本実施形態の標本観察装置では、開口領域の形状と減光領域の形状が、共に、円環であることが好ましい。
このようにすると、開口領域の形状や減光領域の形状が、光軸に対して回転対称な形状になる。よって、開口部材の位置や、減光部材の位置を容易に決めることができる。
本実施形態の標本観察装置は、以下の条件式(1)を満足することが好ましい。
ROBin<β×RILin<β×RILout<ROBout (1)
ここで、
RILinは、照明光学系の光軸から開口領域の内縁までの距離、
RILoutは、照明光学系の光軸から開口領域の外縁までの距離、
ROBinは、観察光学系の光軸から減光領域の内縁までの距離、
ROBoutは、観察光学系の光軸から減光領域の外縁までの距離、
βは、対物レンズの焦点距離をコンデンサレンズの焦点距離で割った値、
である。
ROBin<β×RILin<β×RILout<ROBout (1)
ここで、
RILinは、照明光学系の光軸から開口領域の内縁までの距離、
RILoutは、照明光学系の光軸から開口領域の外縁までの距離、
ROBinは、観察光学系の光軸から減光領域の内縁までの距離、
ROBoutは、観察光学系の光軸から減光領域の外縁までの距離、
βは、対物レンズの焦点距離をコンデンサレンズの焦点距離で割った値、
である。
条件式(1)を満足することで、精度良く合焦位置を決定することができる。
本実施形態の標本観察装置では、減光部材は、位相領域を有し、位相領域の少なくとも一部と、減光領域の少なくとも一部と、が重なっていることが好ましい。
図14は、本実施形態の別の標本観察装置の主要な構成を示す図である。本実施形態の標本観察装置の光学系は、位相差観察が可能な光学系になっている。
標本観察装置200は、照明光学系201と、観察光学系202と、を有する。標本観察装置200は、更に、光源と、検出素子と、処理装置と、駆動制御装置と、を備えている。図14では、光源、検出素子、処理装置及び駆動制御装置は図示されていない。
照明光学系201は、コンデンサレンズ203と、開口部材204と、を有する。コンデンサレンズ203は、レンズ203aと、レンズ203bと、を有する。観察光学系202は、対物レンズ205と、減光部材206と、結像レンズ207と、を有する。
コンデンサレンズ203と対物レンズ205は、コンデンサレンズ203の瞳と対物レンズ205の瞳が共役となるように、各々が位置決めされている。
開口部材204は、照明光学系201の瞳位置に配置されている。より具体的には、開口部材204は、コンデンサレンズ203の瞳位置、すなわち、コンデンサレンズ203の焦点位置に配置されている。
開口部材204は、開口領域204aを有する。開口部材204の構造は、開口部材5の構造と同じである。よって、開口部材204の説明は省略する。また、標本観察装置200では、標本Sは、標本観察装置1と同様に照明が行われる。よって、標本観察装置200における照明の説明は省略する。
減光部材206は、減光領域206aと、位相領域206bと、を有する。減光領域206aは、結像光が減光されて通過する領域である。位相領域206bは、結像光の位相を変調する領域である。
減光領域206aの形状と位相領域206bの形状は、共に円環である。位相領域206bは、減光領域206aと重なるように配置されている。位相差観察用の顕微鏡対物レンズでは、位相板が用いられる。減光部材206は、この位相板と同じである。
標本観察装置200においても、標本Sには、平行光束の照明光が照射される。図14では、照明光が一本の実線で示されている。標本Sからは、0次の結像光(以下、「1次光」という)と、±1次の結像光(以下、「1次光」という)とが出射する。図14では、0次光が実線で示され、1次光が破線で示されている。
0次光と1次光は、共に、減光部材206に入射する。0次光は減光領域206aを通過し、1次光は非減光領域を通過する。0次光は、更に、位相領域206bを通過する。
0次光が位相領域206bを通過することで、0次光の位相は1/4波長だけ進むか、又は、1/4波長だけ遅れる。一方、1次光の位相に変化が生じない。
減光部材206に入射する前では、0次光の位相と1次光の位相との間には、1/4波長のずれが生じている。0次光が位相領域206bを通過することで、次光の位相と1次光の位相との差が、ゼロ、又は、1/2波長になる。その結果、通常では見えない位相の差を、光の明暗として観察すること、すなわち、位相差観察を行うことができる。
上述のように、位相差観察では、標本Sの像の縁に、ハロと呼ばれる独特の明るい縁取りができる。これは、標本Sの縁で生じた0次光の一部が、減光領域206aと位相領域206bを通過しなくなることによる。ハロは、非合焦状態でも明るい。
標本観察装置200では、合焦状態を検出に、取得した画像の全画素の情報、すなわち、検出素子で受光した光の光量の全てを用いている。この場合、取得した画像の中に、例えば、ハロによって生じた明るい領域(以下、「領域B」という)が存在していたとしても、合焦位置の前後での光量よりは、合焦位置での光量の方が小さい。
その結果、ハロが発生している状態であっても、出射光量が最小となるように、出射光量に基づいて標本と対物レンズとの間隔を変える。このようにすることで、標本の位置が合焦位置と一致している状態、すなわち、合焦位置を決定することができる。このように、標本観察装置200によれば、合焦状態の検出の誤差要因となる明るさを持つ画素が、合焦状態の検出に用いる全画素の中に含まれていても、合焦状態を検出することができる
図15は、合焦状態の画像と非合焦状態の画像である。図15(a)、(b)、(d)、(e)は非合焦状態の画像、図15(c)は、合焦状態の画像である。
各画像は、標本観察装置200によって取得している。標本観察装置200では、位相差像が形成される。よって、各画像は位相差観察による画像である。画像の中央部にiPS細胞の画像が位置し、iPS細胞の画像の周囲にフィーダー細胞が位置している。
各画像におけるずれ量ΔZは、以下の通りである。
画像 ずれ量ΔZ
図15(a) 200μm
図15(b) 100μm
図15(c) 0μm
図15(d) -100μm
図15(e) -200μm
図16は、出射光量と合焦状態を示すグラフである。出射光量Iは、標本観察装置200によって取得した画像から求めることができる。画像を構成する各画素の値は、出射光量に対応する。全画素の値を総和することで、出射光量Iを求めることができる。
画像 ずれ量ΔZ
図15(a) 200μm
図15(b) 100μm
図15(c) 0μm
図15(d) -100μm
図15(e) -200μm
図16は、出射光量と合焦状態を示すグラフである。出射光量Iは、標本観察装置200によって取得した画像から求めることができる。画像を構成する各画素の値は、出射光量に対応する。全画素の値を総和することで、出射光量Iを求めることができる。
各画像から分かるように、iPS細胞の画像ではハロが生じている。特に、合焦状態での画像、すなわち、ΔZ=0μmのときの画像(図15(c))では、非合焦状態での画像に比べると、ハロの明るさが、非常に明るい。
一方、図16に示すグラフでは、出射光量Iは、合焦状態、すなわち、ΔZ=0μmのときに最小になっている。これは、ハロの明るさが明るくても、出射光量Iを検出する方法では、ハロの影響を受けにくいことを意味している。
このように、本実施形態の標本観察装置における合焦方法では、出射光量Iが最小となるように、標本と対物レンズとの間隔を変えることで、標本を合焦位置、又は合焦位置の近傍に位置させることができる。
本実施形態の標本観察装置では、照明光学系と観察光学系は、照明光学系の光軸と観察光学系の光軸が交差するように配置されていることが好ましい。
図17は、本実施形態の別の標本観察装置の主要な構成を示す図である。本実施形態の標本観察装置の光学系は、位相差観察が可能な光学系になっている。
標本観察装置300は、照明光学系301と、観察光学系302と、を有する。標本観察装置300は、更に、光源と、検出素子と、処理装置と、駆動制御装置と、を備えている。図17では、光源、検出素子、処理装置及び駆動制御装置は図示されていない。
照明光学系301は、コンデンサレンズ303と、開口部材304と、を有する。観察光学系302は、対物レンズ305と、減光部材306と、結像レンズ308と、を有する。
コンデンサレンズ303と対物レンズ305は、コンデンサレンズ303の瞳と対物レンズ305の瞳が共役となるように、各々が位置決めされている。
開口部材304は、照明光学系301の瞳位置に配置されている。より具体的には、開口部材304は、コンデンサレンズ303の瞳位置、すなわち、コンデンサレンズ303の焦点位置に配置されている。
開口部材304は、開口領域304aを有する。開口部材304の構造は、開口部材5の構造と同じである。よって、開口部材304の説明は省略する。減光部材306は、減光領域306aと、位相領域306bと、を有する。減光部材306の構造は、減光部材206の構造と同じである。よって、減光部材306の説明は省略する。
標本観察装置300では、標本Sは容器307に保持されている。標本Sが生細胞の場合、細胞は培養液のような液体と共に容器307で保持されている。容器307としては、シャーレやマイクロウェルプレートがある。標本観察装置300においても、標本Sには、平行光束の照明光が照射される。
標本観察装置1では、照明光学系2の光軸と観察光学系3の光軸が一致するように、照明光学系2と観察光学系3が配置されている。この場合、照明光学系2から標本Sに照射された照明光は、標本Sを通過する。標本Sを通過した照明光の進行方向には、観察光学系3が位置している。よって、標本Sを通過した照明光は、観察光学系3に入射する。
これに対して、標本観察装置300では、照明光学系301と観察光学系302は、標本Sに対して、紙面内の下方向に配置されている。すなわち、照明光学系301の光軸と観察光学系302の光軸が交差するように、照明光学系301と観察光学系302が配置されている。
この場合も、照明光学系301から標本Sに照射された照明光は、標本Sを通過する。ただし、標本Sを通過した照明光の進行方向には、観察光学系302が位置していない。よって、照明光の進行方向に何も無いと、標本Sを通過した照明光は、観察光学系302に入射しない。
標本観察装置300では、容器307に反射膜307aが形成されている。標本Sが無色透明な場合、標本Sに照射され照明光は標本Sを透過する。標本Sを透過した照明光は、容器307に入射する。
反射膜307aは、標本Sの上に位置している。容器307は、反射膜307aが形成された面が標本S側に向くように配置されている。よって、標本Sを透過した照明光は反射膜307aで反射され、反射された照明光が標本Sに再び照射される。その結果、標本Sに対して透過照明が行われる。
このように、標本観察装置300では、標本観察装置1における透過照明と同様に、標本Sに対して透過照明を行うことができる。
標本観察装置300では、合焦状態を検出に、標本Sの像の光量の総和を用いている。この場合、光量の総和に占めるハロの光量の割合は、小さい。そのため、ハロの影響を受けにくい。その結果、ハロが発生している状態でも、出射光量が最小となるように、出射光量に基づいて標本と対物レンズとの間隔を変える。このようにすることで、標本の位置が合焦位置と一致している状態、すなわち、合焦位置を決定することができる。
また、標本観察装置300では、照明光学系301と観察光学系302は、共に、標本Sの一方の側に位置している。そのため、装置を小型化することができる。
本実施形態の標本観察装置は、以下の条件式(2)を満足することが好ましい。
0.6×ROBout<ROBin<0.9×ROBout (2)
ここで、
ROBinは、観察光学系の光軸から減光領域の内縁までの距離、
ROBoutは、観察光学系の光軸から減光領域の外縁までの距離、
である。
0.6×ROBout<ROBin<0.9×ROBout (2)
ここで、
ROBinは、観察光学系の光軸から減光領域の内縁までの距離、
ROBoutは、観察光学系の光軸から減光領域の外縁までの距離、
である。
条件式(2)を満足することで、より精度良く合焦位置が決定できる。
本実施形態の標本観察装置は、以下の条件式(3)を満足することが好ましい。
0.8×ROBout<β×RILout<ROBout (3)
ここで、
RILoutは、照明光学系の光軸から開口領域の外縁までの距離、
ROBoutは、観察光学系の光軸から減光領域の外縁までの距離、
βは、対物レンズの焦点距離をコンデンサレンズの焦点距離で割った値、
である。
0.8×ROBout<β×RILout<ROBout (3)
ここで、
RILoutは、照明光学系の光軸から開口領域の外縁までの距離、
ROBoutは、観察光学系の光軸から減光領域の外縁までの距離、
βは、対物レンズの焦点距離をコンデンサレンズの焦点距離で割った値、
である。
条件式(3)を満足することで、より精度良く合焦位置が決定できる。
本実施形態の標本観察装置は、以下の条件式(4)を満足することが好ましい。
ROBin<β×RILin<1.2×ROBin (4)
ここで、
RILinは、照明光学系の光軸から開口領域の内縁までの距離、
ROBinは、観察光学系の光軸から減光領域の内縁までの距離、
βは、対物レンズの焦点距離をコンデンサレンズの焦点距離で割った値、
である。
ROBin<β×RILin<1.2×ROBin (4)
ここで、
RILinは、照明光学系の光軸から開口領域の内縁までの距離、
ROBinは、観察光学系の光軸から減光領域の内縁までの距離、
βは、対物レンズの焦点距離をコンデンサレンズの焦点距離で割った値、
である。
条件式(4)を満足することで、より精度良く合焦位置が決定できる。
上述のように、本実施形態の標本観察装置では、観察光学系に減光部材が配置されている。減光部材には、減光領域と非減光領域が形成されている。減光領域は、例えば、図3(c)に示すように、円環の部分が減光領域になっている。この場合、円環の内側と円環の外側が、非減光領域になる。
しかしながら、円環の部分を非減光領域にしても良い。この場合、円環の内側と円環の外側が、減光領域になる。このようにすると、光量が最大となるように、光量に基づいて標本と対物レンズとの間隔を変えることで、標本の位置が合焦位置と一致している状態、すなわち、合焦位置を決定することができる。
以上のように、本発明は、合焦状態の検出の誤差要因となる明るさを持つ画素が、合焦状態の検出に用いる全画素の中に含まれていても、合焦状態を検出することができる合焦機能を備えた標本観察装置に適している。
1 標本観察装置
2 照明光学系
3 観察光学系
4 コンデンサレンズ
4a、4b レンズ
5 開口部材
5a 開口領域
6 対物レンズ
7 減光部材
7a 減光領域
7ai 減光領域の内縁
7ao 減光領域の外縁
8 開口領域の像
8i 開口領域の像の内縁
8o 開口領域の像の外縁
9 結像レンズ
100 標本観察装置
10 本体部
11 ステージ
12 モータ
20 照明部
21 光源
22 照明光学系
23 コンデンサレンズ
24 開口部材
25、27 レンズ
26 ミラー
30 観察部
31 観察光学系
32 撮像装置
33 レボルバ
34 観察鏡筒
35 顕微鏡対物レンズ
36 撮像レンズ
37 結像レンズ
38 プリズム
39 検出素子
40 処理装置
50 表示装置
60 減光部材
110、120、130、140、150 開口領域
111、121、131、141、151 減光領域
112、122、132、142、152 開口領域の像
200、300 標本観察装置
201、301 照明光学系
202、302 観察光学系
203、303 コンデンサレンズ
203a、203b レンズ
204、304 開口部材
204a、304a 開口領域
205、305 対物レンズ
206、306 減光部材
206a、306a 減光領域
206b、306b 位相領域
207、308 結像レンズ
307 容器
307a 反射膜
S 標本
AX 光軸
IM 像面
F 合焦位置
βp 瞳倍率
ΔZ ずれ量
H1 標本の底面
H2 標本の最高点
2 照明光学系
3 観察光学系
4 コンデンサレンズ
4a、4b レンズ
5 開口部材
5a 開口領域
6 対物レンズ
7 減光部材
7a 減光領域
7ai 減光領域の内縁
7ao 減光領域の外縁
8 開口領域の像
8i 開口領域の像の内縁
8o 開口領域の像の外縁
9 結像レンズ
100 標本観察装置
10 本体部
11 ステージ
12 モータ
20 照明部
21 光源
22 照明光学系
23 コンデンサレンズ
24 開口部材
25、27 レンズ
26 ミラー
30 観察部
31 観察光学系
32 撮像装置
33 レボルバ
34 観察鏡筒
35 顕微鏡対物レンズ
36 撮像レンズ
37 結像レンズ
38 プリズム
39 検出素子
40 処理装置
50 表示装置
60 減光部材
110、120、130、140、150 開口領域
111、121、131、141、151 減光領域
112、122、132、142、152 開口領域の像
200、300 標本観察装置
201、301 照明光学系
202、302 観察光学系
203、303 コンデンサレンズ
203a、203b レンズ
204、304 開口部材
204a、304a 開口領域
205、305 対物レンズ
206、306 減光部材
206a、306a 減光領域
206b、306b 位相領域
207、308 結像レンズ
307 容器
307a 反射膜
S 標本
AX 光軸
IM 像面
F 合焦位置
βp 瞳倍率
ΔZ ずれ量
H1 標本の底面
H2 標本の最高点
Claims (9)
- 光源と、照明光学系と、観察光学系と、検出素子と、処理装置と、駆動制御装置と、を備え、
前記照明光学系は、コンデンサレンズと、開口部材と、を有し、
前記観察光学系は、対物レンズと、減光部材と、を有し、
前記開口部材は、前記照明光学系の瞳位置に配置されるか、又は、前記照明光学系の瞳と共役な位置に配置され、
前記減光部材は、前記開口部材と共役な位置に配置され、
前記開口部材は、開口領域を有し、
前記減光部材は、減光領域を有し、
判定領域は、前記開口領域の像と前記減光領域の両方が含まれている領域であり、
所定の状態は、前記判定領域において、前記開口領域の像が前記減光領域の領域内のみに位置している状態であり、
前記所定の状態が生じるように、前記開口領域の大きさ、前記開口領域の位置、前記減光領域の大きさ、及び前記減光領域の位置が設定されており、
前記照明光学系により標本に照射された照明光は、前記標本を透過してから前記観察光学系に入射し、
前記検出素子は、前記観察光学系から出射した光を受光し、
前記処理装置は、前記検出素子が受光した光の光量を求め、
前記駆動制御装置は、前記光量が最小となるように、前記光量に基づいて前記標本と前記対物レンズとの間隔を変えることを特徴とする合焦機能を備えた標本観察装置。 - 前記検出素子は、2次元に配列された微小な受光素子を有することを特徴とする請求項1に記載の合焦機能を備えた標本観察装置。
- 前記開口領域の形状と前記減光領域の形状が、共に、円環であることを特徴とする請求項1に記載の合焦機能を備えた標本観察装置。
- 以下の条件式(1)を満足することを特徴とする請求項2に記載の合焦機能を備えた標本観察装置。
ROBin<β×RILin<β×RILout<ROBout (1)
ここで、
RILinは、前記照明光学系の光軸から前記開口領域の内縁までの距離、
RILoutは、前記照明光学系の光軸から前記開口領域の外縁までの距離、
ROBinは、前記観察光学系の光軸から前記減光領域の内縁までの距離、
ROBoutは、前記観察光学系の光軸から前記減光領域の外縁までの距離、
βは、前記対物レンズの焦点距離を前記コンデンサレンズの焦点距離で割った値、
である。 - 前記減光部材は、位相領域を有し、
前記位相領域の少なくとも一部と、前記減光領域の少なくとも一部と、が重なっていることを特徴とする請求項1に記載の合焦機能を備えた標本観察装置。 - 前記照明光学系と前記観察光学系は、前記照明光学系の光軸と前記観察光学系の光軸が交差するように配置されていることを特徴とする請求項1に記載の合焦機能を備えた標本観察装置。
- 以下の条件式(2)を満足することを特徴とする請求項2に記載の合焦機能を備えた標本観察装置。
0.6×ROBout<ROBin<0.9×ROBout (2)
ここで、
ROBinは、前記観察光学系の光軸から前記減光領域の内縁までの距離、
ROBoutは、前記観察光学系の光軸から前記減光領域の外縁までの距離、
である。 - 以下の条件式(3)を満足することを特徴とする請求項2に記載の合焦機能を備えた標本観察装置。
0.8×ROBout<β×RILout<ROBout (3)
ここで、
RILoutは、前記照明光学系の光軸から前記開口領域の外縁までの距離、
ROBoutは、前記観察光学系の光軸から前記減光領域の外縁までの距離、
βは、前記対物レンズの焦点距離を前記コンデンサレンズの焦点距離で割った値、
である。 - 以下の条件式(4)を満足することを特徴とする請求項2に記載の合焦機能を備えた標本観察装置。
ROBin<β×RILin<1.2×ROBin (4)
ここで、
RILinは、前記照明光学系の光軸から前記開口領域の内縁までの距離、
ROBinは、前記観察光学系の光軸から前記減光領域の内縁までの距離、
βは、前記対物レンズの焦点距離を前記コンデンサレンズの焦点距離で割った値、
である。
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2019
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