JP2013053955A - 導電セグメント - Google Patents
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Abstract
【解決手段】抵抗板上に、少なくとも銀(Ag)とパラジウム(Pd)とを含むAg−Pd導体ペーストを印刷後乾燥、又は更に焼成して形成した第1導体領域に、金(Au)を主成分とするAu導体ペーストを印刷して第2導体領域を形成した後、乾燥、更に焼成する、あるいは、金(Au)を主成分とするAu導体ペーストを印刷後乾燥、又は更に焼成して形成した第1導体領域に、少なくとも銀(Ag)とパラジウム(Pd)とを含むAg−Pd導体ペーストを印刷して第2導体領域を形成した後、乾燥、更に焼成することにより、各導体ペーストの金属がそれぞれ他方の導体領域に拡散し、導電セグメントの表面層から中間層付近まで、金(Au)含有率が30%以上の範囲でほぼ均一である導電セグメント。
【選択図】図4
Description
液面レベル検出装置1のセンサ2は、耐密容器内部Tの液体面の高さ推移に連動して後述する接点19,20が移動する過程で抵抗値を変化させる可変抵抗器3を備え、この可変抵抗器3は固定抵抗器7に直列につながれ、可変抵抗器3と固定抵抗器7に所定の電圧を印加する電源回路4に接続されている。
(1) 複数の長尺状の導電セグメントを配置した抵抗板と、測定すべき液面レベルの変位に応じて上下移動するフロートと、一端を該フロートに取付けられ、他端を前記フロートの上下移動に伴い回転するように回動自在に支持されたフロートアームと、前記液面レベルに応じた前記フロートアームの回転に連動して前記複数の導電セグメント上を摺動する接点と、を備えた液面レベル検出装置の導電セグメントであって、
前記抵抗板上に、
少なくとも銀(Ag)とパラジウム(Pd)とを含むAg−Pd導体ペーストを印刷後乾燥、又は更に焼成して形成した第1導体領域に、金(Au)を主成分とするAu導体ペーストを印刷して第2導体領域を形成した後、乾燥、更に焼成する、あるいは、
金(Au)を主成分とするAu導体ペーストを印刷後乾燥、又は更に焼成して形成した第1導体領域に、少なくとも銀(Ag)とパラジウム(Pd)とを含むAg−Pd導体ペーストを印刷して第2導体領域を形成した後、乾燥、更に焼成する
ことにより、各導体ペーストの金属がそれぞれ他方の導体領域に拡散し、
導電セグメントの表面層から中間層付近まで、金(Au)含有率が30%以上の範囲でほぼ均一であることを特徴とする導電セグメント。
(2) 前記Au導体ペーストにより形成した領域の乾燥後の膜厚は、前記第1導体領域および前記第2導体領域の乾燥後の合計膜厚に対して、膜厚比率20%以上であることを特徴とする上記(1)に記載の導電セグメント。
(3) 前記Au導体ペースト中の金(Au)の含有量が95質量%以上であることを特徴とする上記(1)又は(2)に記載の導電セグメント。
それ故、導電セグメント全体の導電性、耐摩耗性が向上し、たとえ導電セグメント自体の硫化や、導電セグメントと接点との摺動により生じた摩耗粉の硫化により絶縁物が生成しても、抵抗値の増加や出力波形の乱れを抑制することができる。
したがって、例えば該導電セグメントを液面レベル検出装置に使用した場合、高い信頼性でもって検出値を得ることができる。また、硫黄成分を多量に含有するガソリンや、様々な配合処方を有する燃料の使用であっても十分な耐劣化性、耐腐食性を有する。さらに、金(Au)を多量に使用する必要はなく、低コストを図れる。
図1に示したように、液面レベル検出装置1のセンサ2は、耐密容器内部Tの液体面の高さ推移に連動して後述する接点19,20が移動する過程で抵抗値を変化させる可変抵抗器3を備え、この抵抗器3は固定抵抗器7に直列につながれ、可変抵抗器3と固定抵抗器7に所定の電圧を印加する電源回路4に接続されている。
検出しその出力信号を処理回路5に出力し、処理回路5は前記センサ2の出力信号に基づ
き液体の残量をメータ6などの表示器にアナログ又はバーグラフ表示する。尚、メータ6
内には処理回路5との配線上に固定抵抗器を配置してもよい。
少なくとも銀(Ag)とパラジウム(Pd)とを含む金属導体材料(以下、Ag−Pd導体ペーストという)における各種金属の添加量は、最終的に得られる導電セグメント中の金属量の設計値を勘案して適宜決定することができるが、例えばAg−Pd導体ペースト中、銀(Ag)は50〜80質量%、パラジウム(Pd)は20〜50質量%含有されることが好ましく、銀(Ag)は60〜70質量%、パラジウム(Pd)は30〜40質量%含有されることがより好ましい。銀(Ag)を上記範囲とすることで、導電セグメントの電気的導通を良好にすることができ、パラジウム(Pd)を上記範囲とすることで、耐磨耗性を向上させることができる。
例えば、導電セグメント中、金(Au)は30〜90質量%となるように設計することが好ましく、40〜70質量%がより好ましい。金(Au)の含有量が前記範囲であると、コストを低く抑えつつ、耐腐食性に優れた導電セグメントを得ることができる。
また、銀(Ag)は、導電セグメント中、40質量%以下となるように設計することが好ましい。銀(Ag)の含有量が前記範囲であると、十分な導電性が確保できる。
また、パラジウム(Pd)は、導電セグメント中、20〜50質量%となるように設計することが好ましく、30〜40質量%がより好ましい。パラジウム(Pd)の含有量が前記範囲であると、優れた耐磨耗性を有することができる。
したがって、本発明の導電セグメントは、導電セグメント自体の硫化や、導電セグメントと接点との摺動により生じた摩耗粉の硫化により絶縁物が生成しても、抵抗値の増加や出力波形の乱れを抑制することができる。
(導電セグメントA〜Dの作製)
酸化アルミニウム基板上に、まずAg−Pd導体ペーストを(Ag:60質量%、Pd:20質量%、ペーストとしてガラスを20質量%含有し、全体で100質量%となる)、スクリーン印刷により幅0.2mmで約0.2mm間隔で表1に記載した乾燥厚み(概算値)となるように円弧状に印刷し、第1導体領域を形成した。その後、160℃で加熱し、乾燥させた。
次に、Ag−Pd導体ペーストの上面に、Au導体ペーストを(Au:93質量%、ペーストとしてガラスを7質量%含有し、全体で100質量%となる)スクリーン印刷により幅0.15mm、表1に記載した乾燥厚み(概算値)となるように印刷して第2導体領域を形成し、160℃で加熱し、乾燥させた。
その後、焼成炉により800〜900℃で10〜15時間焼成して本発明の導電セグメントA〜Dを作製した。
酸化アルミニウム基板上に、まずAg−Pd導体ペーストを(Ag:60質量%、Pd:20質量%、ペーストとしてガラスを20質量%含有し、全体で100質量%となる)、スクリーン印刷により幅0.2mmで約0.2mm間隔で乾燥厚み7μm(概算値)となるように円弧状に印刷し、第1導体領域を形成した。その後、160℃で加熱し、乾燥させた。
次に、Ag−Pd導体ペーストの上面に、Au導体ペーストを(Au:93質量%、ペーストとしてガラスを7質量%含有し、全体で100質量%となる)スクリーン印刷により幅0.15mm、乾燥厚み1μm(概算値)となるように印刷して第2導体領域を形成し、160℃で加熱し、乾燥させた。
その後、焼成炉により800〜900℃で10〜15時間焼成して導電セグメントEを作製した。
図5からわかるように、焼成前にはAg−Pd導体ペースト402とAu導体ペースト404とが積層されていることが確認でき、焼成後は、図6に示したように、Ag−Pd導体ペーストにより形成した領域とAu導体ペーストにより形成した領域のそれぞれの金属元素、特に境界領域における金属元素が燃焼により他方の領域に拡散し、合金化していることが確認できた。
導電セグメントA〜Dについて、第2導体領域の最厚膜(中央部)の位置におけるAu導体ペーストの膜厚値を測定した。金(Au)の含有率は、質量でA:65%、B:60%、C:50%、D:40%であった。第2導体領域の膜厚比率に対するAu含有率の関係を図7に示す。
また、Ag−Pd導体ペーストとAu導体ペーストとを積層した領域(図4中、Xで示す領域、以下、「領域X」ともいう。)における焼成後の導電セグメントの厚さ方向における金(Au)の分布について、基板側から導電セグメントの表面側までの5点のAu含有率を、元素定量分析(EDX)により測定した。結果を図8に示す。
次に、導電セグメント上に接点を実用接点圧印加の条件で摺動させて、接点へのAu付着量を面分析(マッピング)及びEDX元素定量分析で観察した。結果を図9及び図10に示す。
導電セグメントA〜Eについて、Ag−Pd導体ペーストとAu導体ペーストとを積層した領域(図4中の領域X)における金(Au)の含有率と導電セグメントの抵抗値変化量を測定した。結果を図11に示す。
図11から耐硫化性の指標である出力波形の乱れ(ギザギザ状度合い)は、導電セグメントEが激しいのに比べ、本発明の導電セグメントDの乱れは減少し、有効である。導電セグメントA〜Cは、波形の乱れが全く無く、更に良好であった。出力波形の乱れが減少又は全く無い原因は、第2の導体領域に含まれた金(Au)が、接点との摺動による摩耗粉となり、接点に付着した事による。金(Au)は腐食が発生し難い金属であり導電性を保つ事から、その金(Au)の付着量が多い程、付着摩耗粉の導電性が高まる。
2 センサ
3 可変抵抗器
4 電源回路
5 処理回路
6 メータ
7 固定抵抗器
10 フロート
11 フロートアーム
12 本体フレーム
13 抵抗板
14 摺動体接触子
15 第1導電パターン
15a 導電セグメント
15b 抵抗体
16 第2導電パターン
16a 導電セグメント
17 入出力用導電部
18 入出力用導電部
19,20 接点
40 基板(抵抗板)
402 Ag−Pd導体ペースト
404 Au導体ペースト
Claims (3)
- 複数の長尺状の導電セグメントを配置した抵抗板と、測定すべき液面レベルの変位に応じて上下移動するフロートと、一端を該フロートに取付けられ、他端を前記フロートの上下移動に伴い回転するように回動自在に支持されたフロートアームと、前記液面レベルに応じた前記フロートアームの回転に連動して前記複数の導電セグメント上を摺動する接点と、を備えた液面レベル検出装置の導電セグメントであって、
前記抵抗板上に、
少なくとも銀(Ag)とパラジウム(Pd)とを含むAg−Pd導体ペーストを印刷後乾燥、又は更に焼成して形成した第1導体領域に、金(Au)を主成分とするAu導体ペーストを印刷して第2導体領域を形成した後、乾燥、更に焼成する、あるいは、
金(Au)を主成分とするAu導体ペーストを印刷後乾燥、又は更に焼成して形成した第1導体領域に、少なくとも銀(Ag)とパラジウム(Pd)とを含むAg−Pd導体ペーストを印刷して第2導体領域を形成した後、乾燥、更に焼成する
ことにより、各導体ペーストの金属がそれぞれ他方の導体領域に拡散し、
導電セグメントの表面層から中間層付近まで、金(Au)含有率が30%以上の範囲でほぼ均一であることを特徴とする導電セグメント。 - 前記Au導体ペーストにより形成した領域の乾燥後の膜厚は、前記第1導体領域および前記第2導体領域の乾燥後の合計膜厚に対して、膜厚比率20%以上であることを特徴とする請求項1に記載の導電セグメント。
- 前記Au導体ペースト中の金(Au)の含有量が95質量%以上であることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の導電セグメント。
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Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003287456A (ja) * | 2002-03-28 | 2003-10-10 | Nippon Seiki Co Ltd | 液面検出装置 |
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JP2009162694A (ja) * | 2008-01-09 | 2009-07-23 | Yazaki Corp | 摺動式液面レベルセンサ及びその製造方法 |
-
2011
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Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003287456A (ja) * | 2002-03-28 | 2003-10-10 | Nippon Seiki Co Ltd | 液面検出装置 |
JP2007027501A (ja) * | 2005-07-19 | 2007-02-01 | Tateyama Kagaku Kogyo Kk | チップ抵抗器 |
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