JP2013048236A - GaNLED用高速熱アニール - Google Patents
GaNLED用高速熱アニール Download PDFInfo
- Publication number
- JP2013048236A JP2013048236A JP2012179993A JP2012179993A JP2013048236A JP 2013048236 A JP2013048236 A JP 2013048236A JP 2012179993 A JP2012179993 A JP 2012179993A JP 2012179993 A JP2012179993 A JP 2012179993A JP 2013048236 A JP2013048236 A JP 2013048236A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- gan
- layer
- type
- rapid thermal
- type contact
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000000137 annealing Methods 0.000 title claims abstract description 53
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 60
- 238000004151 rapid thermal annealing Methods 0.000 claims description 56
- 239000002019 doping agent Substances 0.000 claims description 25
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 21
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 abstract description 5
- 229910002601 GaN Inorganic materials 0.000 description 169
- JMASRVWKEDWRBT-UHFFFAOYSA-N Gallium nitride Chemical compound [Ga]#N JMASRVWKEDWRBT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 169
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 13
- 238000001994 activation Methods 0.000 description 13
- 230000008569 process Effects 0.000 description 10
- 239000011777 magnesium Substances 0.000 description 8
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 7
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 7
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N Magnesium Chemical compound [Mg] FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 230000008859 change Effects 0.000 description 5
- 229910052749 magnesium Inorganic materials 0.000 description 5
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 4
- 238000006731 degradation reaction Methods 0.000 description 4
- 230000006870 function Effects 0.000 description 4
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 description 4
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000005275 alloying Methods 0.000 description 3
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 3
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000007725 thermal activation Methods 0.000 description 3
- 229910000881 Cu alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 2
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 2
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 2
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000012299 nitrogen atmosphere Substances 0.000 description 2
- 238000002161 passivation Methods 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- 230000007480 spreading Effects 0.000 description 2
- 238000003892 spreading Methods 0.000 description 2
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 description 1
- 230000002776 aggregation Effects 0.000 description 1
- 238000004220 aggregation Methods 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 1
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010432 diamond Substances 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 229910001873 dinitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000010494 dissociation reaction Methods 0.000 description 1
- 230000005593 dissociations Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 238000007373 indentation Methods 0.000 description 1
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical compound [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005224 laser annealing Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 229910003465 moissanite Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 description 1
- 238000003672 processing method Methods 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 229910052594 sapphire Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010980 sapphire Substances 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000002195 synergetic effect Effects 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/005—Processes
- H01L33/0095—Post-treatment of devices, e.g. annealing, recrystallisation or short-circuit elimination
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/005—Processes
- H01L33/0062—Processes for devices with an active region comprising only III-V compounds
- H01L33/0066—Processes for devices with an active region comprising only III-V compounds with a substrate not being a III-V compound
- H01L33/007—Processes for devices with an active region comprising only III-V compounds with a substrate not being a III-V compound comprising nitride compounds
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/02—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
- H01L33/04—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a quantum effect structure or superlattice, e.g. tunnel junction
- H01L33/06—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a quantum effect structure or superlattice, e.g. tunnel junction within the light emitting region, e.g. quantum confinement structure or tunnel barrier
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/02—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
- H01L33/26—Materials of the light emitting region
- H01L33/30—Materials of the light emitting region containing only elements of Group III and Group V of the Periodic Table
- H01L33/32—Materials of the light emitting region containing only elements of Group III and Group V of the Periodic Table containing nitrogen
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Led Devices (AREA)
- Semiconductor Lasers (AREA)
Abstract
【解決手段】活性層60を挟むn型GaN層40とp型GaN層50とを有するGaN多層構造30を形成する工程を備える。また、レーザーあるいはフラッシュランプを用いてp型GaN層50への10秒あるいはそれよりも短い時間の高速熱アニールを実行する工程を備える。さらに、GaN多層構造30上に透明導電層70を形成する工程と、透明導電層70にp型コンタクト90pを追加するとともにn型GaN層40にn型コンタクト90nを追加する工程とを備える。
【選択図】図1
Description
本出願は、2009年11月6日に出願された米国出願12/590,360(発明の名称:GaN LED用レーザースパイクアニール)の一部継続出願であり、原出願の内容は本出願に援用される。
(a)p型GaN層50におけるドーパント活性化の程度が高い。
(b)n型コンタクト90nがレーザスパイクアニール(LSA)の使用により合金化されている。
(c)p型コンタクト90pがLSAの使用により合金化されている。
以下、上記相違点を実現するためのGaN LED10の処理方法を詳細に説明する。
p型GaN層50における活性化を高めるためには、アニールを高温で短期間実施することが望ましい。従来のアニールを採用した場合、適用可能な最高温度は、GaN材料の特性劣化により制限される。MOCVD成長過程において(例えば、Mgの使用により)ドープされたp型GaN層50が分解されることが、そのような劣化のメカニズムの一つとして挙げられる。Mgを効果的に活性化させるためには比較的高いアニール温度が必要となるが、高温で長期間アニールを実行した場合、窒素の外方拡散によりGaNが分解されると共に、p型GaN中の自由正孔濃度が減少する。従来の非高速熱アニール過程では、基板が窒素雰囲気下700℃で数十秒から数分の間保持される。
図5は、GaN LED10の形成過程において形成されるGaN LED構造100に適用されるLSAの第1の方法例に関する模式図である。GaN LED構造100は、基板20及びGaN多層構造30を備えている。走査レーザ光120は、p型GaN層50の表面52上に入射される。レーザ光120の走査は、レーザ光120の走査またはGaN LED構造100の走査、例えば、GaN LED10の形成過程で使用されるウエハ(図示せず)の走査により実現される。滞留時間td=W/VSは、例えば、約10マイクロ秒(μs)から約10ミリ秒(ms)の範囲である。最大アニール温度TAMは、例えば、約700℃から約1500℃の範囲である。最大アニール温度TAMは、GaN LED構造100におけるGaN解離量、格子不整合による歪み緩和及び転位によって決定される。アニールの深さは、滞留時間とレーザ光の強度とに依存する。レーザ光の強度は、例えば、400W/mm2である。GaN多層構造30は、例えば、数μmから約10μmの厚みを有し、アニールは、典型的には10μmから100μmに達する(つまり、アニールは、一般的には、GaN多層構造100の全厚みに施され、場合によっては基板20まで達する)。このようにしてp型GaN層50のドーパント活性化が高められるが、実施形態の一例では、下層のn型GaN層40のドーパント活性化も高められるという点でさらに有利である。
ここで開示される実施形態の一例では、フラッシュランプからの閃光を用いて高速熱アニールが実行される。図10は、表面202を有するLEDウエハ200の一例を示す模式図である。LEDウエハ200は、ウエハステージ206に支持されている。LEDウエハ200は、図11および図12に示されるようなGaN LED10、または図13および図14に示されるような、GaN LED10を製造する過程で形成されるGaN LED構造100を有している。LEDウエハ200およびウエハステージ206は、チャンバ220のチャンバ内部空間210に収容されている。フラッシュランプ250は、チャンバ内部空間210において、ウエハ表面202の近くに設けられている。フラッシュランプ250は、1つまたは複数のフラッシュランプエレメント252を含んでいてもよい。フラッシュランプ250は、ミリ秒単位の長さ(例えば、0.1から100ミリ秒の間)の閃光260を発するようになっている。閃光260は、ウエハ表面202全体を露光して、フラッシュランプによるLEDウエハ200の高速熱アニールを実行する。フラッシュランプによる高速熱アニールシステムおよび方法の例は、米国特許番号7,015,422および米国特許出願公報US2008/0008460に開示されており、これらに記載された内容は本明細書に援用される。
Claims (21)
- 活性層を挟むn型GaN層とp型GaN層とを有するGaN多層構造を基板上に形成する工程と、
前記p型GaN層に対して、約10秒あるいはそれよりも短い時間で高速熱アニールを実行する工程と、
前記GaN多層構造上に透明導電層を形成する工程と、
前記透明導電層にp型コンタクトを追加すると共に前記n型GaN層にn型コンタクトを追加する工程と
を備える、GaN発光ダイオード(LED)の形成方法。 - 前記透明導電層を介して前記高速熱アニールを実行する工程をさらに備える
請求項1に記載のGaN LEDの形成方法。 - 前記p型コンタクトに対して前記高速熱アニールを実行する工程をさらに備える
請求項1または2に記載のGaN LEDの形成方法。 - 前記p型コンタクトは、p型コンタクト抵抗を有し、
前記p型コンタクト抵抗は、前記p型コンタクトに対する高速熱アニールの実行により約4x10−4Ω-cm2から約1x10−6Ω-cm2の範囲となる
請求項3に記載のGaN LEDの形成方法。 - 前記n型コンタクトに対して高速熱アニールを実行する工程をさらに備える
請求項1から3のいずれかに記載のGaN LEDの形成方法。 - 前記GaN多層構造と前記透明導電層とを切り欠いて前記n型GaN層を露出させる工程と、
前記露出されたGaN層上に前記n型コンタクトを形成する工程と
をさらに備える、請求項1から5のいずれかに記載のGaN LEDの形成方法。 - 前記高速熱アニールは、約700℃から約1500℃の範囲の最大アニール温度TAMを有する
請求項1から6のいずれかに記載のGaN LEDの形成方法。 - 前記高速熱アニールにはレーザーまたはフラッシュランプが使用される
請求項1から7のいずれかに記載のGaN LEDの形成方法。 - 高速熱アニールは、1回で前記p型GaN層の全体を照射するフラッシュランプを用いて実行される
請求項1から8のいずれかに記載のGaN LEDの形成方法。 - 前記p型GaN層は、高速熱アニール実行後において約5x1017cm−3から約5x1019cm−3の範囲の活性化ドーパント濃度を有する
請求項1から9のいずれかに記載のGaN LEDの形成方法。 - 前記活性層を形成して多量子井戸構造を構成する工程をさらに備える
請求項1からの10のいずれかに記載のGaN LEDの形成方法。 - 活性層を挟むn型GaN層とp型GaN層とを有するGaN多層構造を形成する工程と、
前記p型GaN層に隣接するようにp型コンタクト層を形成する工程と、
前記n型GaN層上にn型コンタクトを形成する工程と、
前記n型コンタクトに対して、約10秒あるいはそれよりも短い時間で高速熱アニールを実行する工程と
を備える、GaN発光ダイオード(LED)の形成方法。 - 前記高速熱アニールは、レーザーあるいはフラッシュランプを用いて実行される
請求項12に記載のGaN LEDの形成方法。 - 前記n型コンタクトは、n型コンタクト抵抗を有し、
前記n型コンタクトに対する高速熱アニールの実行により、前記n型コンタクト抵抗は約1x10−4Ω-cm2から約1x10−6Ω-cm2の範囲となる
請求項12または13に記載のGaN LEDの形成方法。 - 約700℃から約1500℃の範囲の最大アニール温度TAMを有するように前記高速熱アニールを実行する
請求項12から14のいずれかに記載のGaN LEDの形成方法。 - 基板と、
活性層を挟むn型GaN層とp型GaN層とを有しており、前記基板上に形成されるGaN多層構造であって、活性化ドーパント濃度が約5x1017cm−3超約5x1019cm−3以下となるように高速熱アニールが実行された層を有するGaN多層構造と、
前記GaN多層構造上に形成された透明導電層と、
前記透明導電層上に形成されたp型コンタクトと、
前記n型GaN層の露出部分上に形成されたn型コンタクトと
を備えており、
前記高速熱アニールが実行された層は、10秒あるいはそれよりも短い時間で高速熱アニールされている
GaN発光ダイオード(LED)。 - 前記p型コンタクトは、約4x10−4Ω-cm2から約1x10−6Ω-cm2の範囲のオーム接点抵抗を有する
請求項16に記載のGaN LED。 - 前記n型コンタクトは、約1x10−4Ω-cm2から約1x10−6Ω-cm2の範囲のn型コンタクト抵抗を有する
請求項15または16に記載のGaN LED。 - 基板と、
前記基板上に形成されたp型コンタクト層と、
前記p型コンタクト層上に形成され、活性層を挟むn型GaN層とp型GaN層とを有するGaN多層構造とを備え、
前記p型GaN層は、前記p型コンタクト層に隣接し、
前記n型GaN層は、活性化ドーパント濃度が約3x1019cm−3から約3x1021cm−3である高速熱アニールが実行された層を有し、
前記n型GaN層上に形成されたn型コンタクトをさらに備えており、
前記高速熱アニールが実行された層は、10秒あるいはそれよりも短い時間で高速熱アニールされている
GaN発光ダイオード(LED)。 - 前記高速熱アニールが実行された層は、フラッシュランプで高速熱アニールされた層およびレーザーで高速熱アニールされた層の一方である
請求項19に記載のGaN LED。 - 前記n型コンタクトは、約1x10−4Ω-cm2から約1x10−6Ω-cm2の範囲のn型コンタクト抵抗を有する
請求項19または20に記載のGaN LED。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US13/199,276 | 2011-08-24 | ||
US13/199,276 US8460959B2 (en) | 2009-11-06 | 2011-08-24 | Fast thermal annealing of GaN LEDs |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013048236A true JP2013048236A (ja) | 2013-03-07 |
Family
ID=47765132
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012179993A Pending JP2013048236A (ja) | 2011-08-24 | 2012-08-15 | GaNLED用高速熱アニール |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2013048236A (ja) |
KR (1) | KR20130023069A (ja) |
CN (1) | CN102956476B (ja) |
TW (1) | TW201310538A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2020035823A (ja) * | 2018-08-28 | 2020-03-05 | 株式会社Screenホールディングス | 熱処理方法 |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7228976B2 (ja) * | 2018-08-27 | 2023-02-27 | 株式会社Screenホールディングス | p型窒化ガリウム系半導体の製造方法および熱処理方法 |
CN109346562A (zh) * | 2018-08-30 | 2019-02-15 | 华灿光电(浙江)有限公司 | 一种发光二极管外延片的制备方法及发光二极管外延片 |
CN111081830A (zh) * | 2019-12-21 | 2020-04-28 | 华南理工大学 | 一种嵌入式电极结构led退火的方法 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009188378A (ja) * | 2007-11-08 | 2009-08-20 | Applied Materials Inc | パルス列アニーリング方法および装置 |
JP2011101000A (ja) * | 2009-11-06 | 2011-05-19 | Ultratech Inc | GaNLED用レーザスパイクアニール |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100286699B1 (ko) * | 1993-01-28 | 2001-04-16 | 오가와 에이지 | 질화갈륨계 3-5족 화합물 반도체 발광디바이스 및 그 제조방법 |
US6291840B1 (en) * | 1996-11-29 | 2001-09-18 | Toyoda Gosei Co., Ltd. | GaN related compound semiconductor light-emitting device |
US6639354B1 (en) * | 1999-07-23 | 2003-10-28 | Sony Corporation | Light emitting device, production method thereof, and light emitting apparatus and display unit using the same |
TW451504B (en) * | 2000-07-28 | 2001-08-21 | Opto Tech Corp | Compound semiconductor device and method for making the same |
JP2002158403A (ja) * | 2000-11-20 | 2002-05-31 | Hamamatsu Photonics Kk | 半導体レーザダイオード |
JP5047508B2 (ja) * | 2006-02-27 | 2012-10-10 | シャープ株式会社 | 窒化物半導体発光素子の製造方法 |
US7968438B2 (en) * | 2006-08-08 | 2011-06-28 | Stc.Unm | Ultra-thin high-quality germanium on silicon by low-temperature epitaxy and insulator-capped annealing |
-
2012
- 2012-07-26 KR KR1020120081752A patent/KR20130023069A/ko not_active Application Discontinuation
- 2012-08-15 JP JP2012179993A patent/JP2013048236A/ja active Pending
- 2012-08-22 CN CN201210300599.1A patent/CN102956476B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2012-08-22 TW TW101130495A patent/TW201310538A/zh unknown
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009188378A (ja) * | 2007-11-08 | 2009-08-20 | Applied Materials Inc | パルス列アニーリング方法および装置 |
JP2011101000A (ja) * | 2009-11-06 | 2011-05-19 | Ultratech Inc | GaNLED用レーザスパイクアニール |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2020035823A (ja) * | 2018-08-28 | 2020-03-05 | 株式会社Screenホールディングス | 熱処理方法 |
WO2020044775A1 (ja) * | 2018-08-28 | 2020-03-05 | 株式会社Screenホールディングス | 熱処理方法 |
TWI728352B (zh) * | 2018-08-28 | 2021-05-21 | 日商斯庫林集團股份有限公司 | 熱處理方法 |
JP7303615B2 (ja) | 2018-08-28 | 2023-07-05 | 株式会社Screenホールディングス | 熱処理方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW201310538A (zh) | 2013-03-01 |
CN102956476A (zh) | 2013-03-06 |
CN102956476B (zh) | 2015-06-03 |
KR20130023069A (ko) | 2013-03-07 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5969656B2 (ja) | 窒化ガリウム発光ダイオード | |
US8460959B2 (en) | Fast thermal annealing of GaN LEDs | |
US20090114940A1 (en) | Light-Emitting Device | |
KR100910964B1 (ko) | 오믹 전극 및 이의 형성 방법 | |
JP2004266258A (ja) | 半導体発光素子 | |
JP2013048236A (ja) | GaNLED用高速熱アニール | |
US9190570B2 (en) | Laser annealing of GaN LEDs with reduced pattern effects | |
US20050191179A1 (en) | Structure and manufacturing of gallium nitride light emitting diode | |
JP2013038417A (ja) | GaNLED用高速アニール | |
KR101025948B1 (ko) | 질화물 반도체 발광소자 및 그 제조방법 | |
KR100751632B1 (ko) | 발광 소자 | |
TW201511042A (zh) | 透明導電膜用組成物、透明電極、半導體發光元件、太陽電池 | |
JP2008187033A (ja) | 窒化物半導体発光素子 | |
US8658451B2 (en) | Activating GaN LEDs by laser spike annealing and flash annealing | |
TW201705534A (zh) | 氮化物半導體發光元件 | |
KR20160117182A (ko) | 반도체 발광소자 및 그 제조 방법 | |
TWI535062B (zh) | LED components | |
KR20100039927A (ko) | 수직구조 질화물계 발광다이오드 소자 및 이의 제조방법 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20130710 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20140131 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20140225 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20140508 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20140722 |