JP2012518556A - 自動スクリーン印刷プロセス - Google Patents
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Abstract
Description
動作614では、位置「1」に隣接して配置された光学検査組立体200により、堆積された層のスクリーン印刷パターンの位置合わせを解析する。一実施形態では、第1の基板150の前面155上に印刷されている少なくとも2個の位置合わせマーク160の画像を、光学検査デバイス200が捕捉する。その画像は、システムコントローラ101内の画像認識ソフトウェアによって解析される。次いで、システムコントローラ101は、システムコントローラ101のメモリに記憶されるスクリーン印刷パターンの予測される位置(X,Y)及び予測される角の向きRからの、位置オフセット(ΔX,ΔY)及び角度オフセットΔRを、基板150の1のフィーチャ、例えばそこに形成された一又は複数の端部150A−150D又は隅に対する少なくとも2個の位置合わせマーク160を解析することにより、計算する。このとき、位置のオフセット(ΔX,ΔY)及び角度オフセットΔRのデータをシステムコントローラ101のメモリに記憶させることができる。次いで、システムコントローラ101は、この解析から得られた位置オフセット(ΔX,ΔY)及び角度オフセットΔR情報を使用して、印刷ネスト131A上に配置されて後で処理される基板にスクリーン印刷されるパターンの位置決め精度を向上させるために、スクリーン印刷チャンバ102内のスクリーン印刷マスクの位置を調整する。
図1A及び図1Bに示す本発明の実施形態は、単一の入力と単一の出力を有するシステム100に関連しているが、本発明の実施形態は、図7に示すような二重の入力と二重の出力を有するシステム700にも等しく適用可能である。
Claims (25)
- 基板支持体の上に少なくとも1つのフィーチャを有する第1の基板を配置することと、
第1の基板の表面上において、少なくとも2個の位置合わせマークを含むパターンに材料層を堆積させることと
システムコントローラを使用して、前記第1の基板の少なくとも1つのフィーチャに対する前記少なくとも2個の位置合わせマークの実際の位置を決定することと、
前記少なくとも2個の位置合わせマークの実際の位置を決定する間に、システムコントローラが受け取った情報を使用して、第2の基板の表面上において、第2の基板の少なくとも1つのフィーチャに対して調整された方向又は調整された位置に、1のパターンに材料層を堆積させることであって、第2の基板上に堆積される材料の方向又は位置が、予測される方向又は予測される位置に対する第1の基板上に堆積された材料の方向又は位置よりも、予測される方向又は予測される位置に近くなることと
を含む、自動堆積プロセス。 - 前記材料が導電材料のラインを含む、請求項1に記載の自動堆積プロセス。
- 前記基板が多角形であり、前記少なくとも2個のマークのそれぞれが異なる隅の領域に印刷される、請求項2に記載の自動堆積プロセス。
- 前記少なくとも2個の位置合わせマークの実際の方向及び位置を決定することが、前記位置合わせマークの光学像を捕捉すること、及び前記光学像上の位置合わせマークの物理的な特徴を認識することを含む、請求項1に記載の自動堆積プロセス。
- 前記位置合わせマークの前記予測される方向又は前記予測される位置が、前記第1の層を印刷する前に、前記基板の少なくとも1つのフィーチャに対して決定される、請求項4に記載の自動堆積プロセス。
- 前記基板の前記表面上に少なくとも3個の位置合わせマークが印刷される、請求項4に記載の自動堆積プロセス。
- 前記少なくとも2個の位置合わせマークの実際の方向及び位置を決定することが、前記2個の位置合わせマークの間に第1の基準線を引くこと、及び第3の位置合わせマークと前記第1の基準線の間に第2の基準線を引くことを含み、前記第2の基準線が前記第1の基準線に対して垂直である、請求項6に記載の自動堆積プロセス。
- 基板支持体の上に少なくとも1つのフィーチャを有する第1の基板を配置することと、
システムコントローラを使用して、前記基板支持体上における第1の基板の方向及び位置を解析することと、
第1の基板の表面上において、少なくとも2個の位置合わせマークを含むパターンであって、基板の方向及び位置を解析する間にシステムコントローラが受け取るデータを使用して第1の基板の少なくとも1のフィーチャに位置合わせされる前記パターンに材料層を堆積させることと、
システムコントローラを使用して、前記第1の基板上に堆積された層の実際の方向及び実際の位置を決定することと、
前記堆積された材料層の前記実際の方向及び前記実際の位置と、予測される方向及び予測される位置との間のオフセットを計算することと、
第2の基板上に堆積された材料の方向又は位置が、予測される方向又は予測される位置に対する第1の基板上に堆積された材料の方向又は位置よりも、予測される方向又は予測される位置に近くなるように、前記計算されたオフセットを使用して、第2の基板上に1のパターンに材料層を堆積させることと
を含む、自動堆積プロセス。 - 前記材料が、導電材料のラインを含む、請求項8に記載の自動堆積プロセス。
- 前記基板が多角形であり、前記少なくとも2個のマークのそれぞれが異なる隅の領域に印刷される、請求項9に記載の自動堆積プロセス。
- 前記少なくとも2個の位置合わせマークの実際の方向及び実際の位置を決定することが、前記位置合わせマークの光学像を捕捉すること、及び前記光学像上の位置合わせマークの物理的な特徴を認識することを含む、請求項8に記載の自動堆積プロセス。
- 前記位置合わせマークの前記予測される方向又は前記予測される位置が、第1の層を印刷する前に、前記基板の少なくとも1つのフィーチャに対して決定される、請求項8に記載の自動堆積プロセス。
- 前記基板の前記表面上に少なくとも3個の位置合わせマークが印刷される、請求項8に記載の自動堆積プロセス。
- 前記少なくとも2個の位置合わせマークの実際の方向及び位置を決定することが、前記2個の位置合わせマークの間に第1の基準線を引くこと、及び第3の位置合わせマークと前記第1の基準線の間に第2の基準線を引くことを含み、前記第2の基準線が前記第1の基準線に対して垂直である、請求項8に記載の自動堆積プロセス。
- 基板支持体上に配置された第1基板であって、少なくとも1つのフィーチャを含む第1の基板を、第1の位置に配置することと、
光学検査システム及びシステムコントローラを使用して、第1の位置に配置された基板支持体上の第1の基板の方向及び位置を解析することと、
第2位置で基板支持体上に載置された第1基板の表面上において、少なくとも2個の位置合わせマークを含むパターンであって、前記第1の基板の方向及び位置を解析する間にシステムコントローラが受け取ったデータを使用して前記第1の基板の前記少なくとも1つフィーチャに位置合わせされるパターンに、材料層を堆積させることと、
前記第1の基板及び前記基板支持体を前記第1の位置に配置することと、
光学検査システム及びシステムコントローラを使用して、前記第1の位置に配置された前記第1の基板上における前記堆積された層の実際の方向及び実際の位置を決定することと、
前記堆積された材料層の前記実際の方向及び前記実際の位置と、前記予測される方向及び予測される位置との間のオフセットを計算することと、
第2の基板上に配置される材料の方向又は位置が、予測される方向又は予測される位置に対する第1の基板上に堆積された材料の方向又は位置よりも、予測される方向又は予測される位置に近くなるように、前記計算されたオフセットを使用して、第2の位置にある基板支持体上に配置された第2の基板上において、1のパターンに材料層を堆積させることと
を含む、自動堆積プロセス。 - さらに、
基板支持体上に順番に配置された少なくとも一又は複数の基板上において1のパターンに材料層を堆積させることと、
少なくとも一又は複数の基板上に1の材料層を堆積させた後で、追加の基板上において1のパターンに材料層を堆積させることと、
前記追加基板及び前記基板支持体を第1の位置に配置することと、
前記光学検査システム及び前記システムコントローラを使用して、第1の位置に配置された追加基板上における堆積された層の実際の方向及び実際の位置を決定することと、
前記堆積された材料層の実際の方向及び実際の位置と、予測される方向及び予測される位置との間のオフセットを計算することと、
第2の追加基板上に堆積される材料の方向又は位置が、予測される方向又は予測される位置に対する前記追加基板上に堆積された材料の方向又は位置よりも、予測される方向又は予測される位置に近くなるように、前記計算されたオフセットを用いて、第2の位置にある基板支持体上に配置された第2の追加基板上において、別のパターンに材料層を堆積させることと
を含む、請求項15に記載の自動堆積プロセス。 - 基板が多角形であり、少なくとも2個のマークのそれぞれが、異なる隅の領域に印刷される、請求項16に記載の自動堆積プロセス。
- 前記少なくとも2個の位置合わせマークの実際の方向及び実際の位置を決定することが、前記位置合わせマークの光学像を捕捉すること、及び前記光学像上の位置合わせマークの物理的特徴を認識することを含む、請求項15に記載の自動堆積プロセス。
- 前記位置合わせマークの予測される方向又は予測される位置が、前記第1の層を印刷する前に、前記基板の前記少なくとも1つのフィーチャに対して決定される、請求項15に記載の自動堆積プロセス。
- 前記基板の前記表面上に少なくとも3個の位置合わせマークが印刷される、請求項15に記載の自動堆積プロセス。
- 前記少なくとも2個の位置合わせマークの実際の方向及び実際の位置を決定することが、前記2個の位置合わせマークの間に第1の基準線を引くこと、及び第3の位置合わせマークと前記第1の基準線の間に第2の基準線を引くことを含み、前記第2の基準線が前記第1の基準線に対して垂直である、請求項15に記載の自動堆積プロセス。
- 第1の位置と第2の位置との間で移動可能な基板支持体が上に配置されている回転アクチュエータと、
前記第1の位置にある前記基板支持体上に第1の基板を装填するように配置されている投入コンベアと、
調整可能なスクリーン印刷デバイスが内部に配置されているスクリーン印刷チャンバであって、前記基板支持体が前記第2の位置にあるとき前記第1の基板上にパターンを印刷するように配置されているスクリーン印刷チャンバと、
カメラ及びランプを有し、前記基板支持体が前記第1の位置にあるとき第1の層のパターンの光学像を捕捉するように配置されている光学検査組立体と、
前記位置合わせマークの予測される位置に対する前記第1の層のパターンの前記光学像に捕捉された前記位置合わせマークの実際の位置のオフセットを決定し、第2の基板の上に第2の層のパターンを印刷する前に、前記決定されたオフセットを補うように前記スクリーン印刷デバイスを調整するように構成されたソフトウェアを含むシステムコントローラと
を備える、自動堆積処理システム。 - 前記光学検査組立体が複数のカメラをさらに備えており、前記ランプが、前記光学検査組立体の下に配置された前記基板の表面に対して実質的に直角に光線を向けるように構成されている、請求項22に記載の自動堆積処理システム。
- 前記システムコントローラが、前記基板の少なくとも1つのフィーチャに対する前記位置合わせマークの実際の位置を特定するように構成されたソフトウェアをさらに含んでいる、請求項23に記載の自動堆積処理システム。
- 前記スクリーン印刷パターンが少なくとも3個の位置合わせマークを含んでいる、請求項22に記載の自動堆積処理システム。
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