JP2012517035A - レーザ走査顕微鏡法における信号取得の方法及びデバイス - Google Patents
レーザ走査顕微鏡法における信号取得の方法及びデバイス Download PDFInfo
- Publication number
- JP2012517035A JP2012517035A JP2011548748A JP2011548748A JP2012517035A JP 2012517035 A JP2012517035 A JP 2012517035A JP 2011548748 A JP2011548748 A JP 2011548748A JP 2011548748 A JP2011548748 A JP 2011548748A JP 2012517035 A JP2012517035 A JP 2012517035A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- excitation beam
- path
- acquisition
- optical
- excitation
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
- G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
- G02B21/0036—Scanning details, e.g. scanning stages
- G02B21/0048—Scanning details, e.g. scanning stages scanning mirrors, e.g. rotating or galvanomirrors, MEMS mirrors
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Abstract
集束された光学的励起ビームを測定すべき対象物に対して移動させて、前記ビームの焦点が前記対象物の容積内の既定の経路の少なくとも1つを進むようにする段階と;
取得パラメータの少なくとも1つに従って前記経路に沿って光学的測定信号を取得する段階と;
を含む、レーザ走査顕微鏡法による信号の取得方法であって、
連続的な取得の間、前記励起ビームによる通過を受ける媒体の少なくとも一部の光学的特性の変化が実質的に最小化されるように励起ビームの経路を決定すること、及び
前記励起ビームの移動の間に、前記取得パラメータのうちの少なくとも1つの取得パラメータを調節すること、
を特徴とする前記方法に関する。本発明は、前記方法を実施するデバイスにも関する。
Description
本発明は、測定すべき対象物に応じて取得の最適化を可能にする光学走査顕微鏡法における信号取得の方法及びデバイスに関する。
光学走査顕微鏡法又はレーザ走査顕微鏡法という用語は、集束された光線束(faisceau de lumiere)による対象物の容積(volume)の走査に基づいて対象物の構造についての情報を得るという共通した特徴を有する一連のイメージング技術を含む。これらの技術は、特に、共焦点顕微鏡法、蛍光顕微鏡法、及び非線形又は多光子顕微鏡法を含む。
−測定深度につれて指数関数的に増加する、試料中の光子の吸収及び拡散による光学的損失。これらの損失は変動するものであり、検出の力学的(dynamique)要件を相当に増加させることがある;
−特に、試料と集束レンズの浸漬媒体との間の屈折率の差異に関連づけられる、試料中の測定深度につれた収差の変化を含む、励起ビームの空間的散逸(degradations spatiales)。これらの空間的散逸はビームの集束範囲の大きさを実質的に広げるので、測定の分解能及び非線形顕微鏡法プロセスの効果に無視できない影響を及ぼすことがある;
−イメージングされる範囲又は深度によって変化することがある、検出信号の原点における媒体の局在的な光学的又は分光学的特性。
本発明の目的は、以下の段階:
−集束された光学的励起ビームと測定すべき対象物との相対的移動を行なって、前記ビームの焦点が前記対象物の容積内の規定の経路の少なくとも1つを進む(parcoure)ようにする段階と;
−取得パラメータの少なくとも1つに従って前記経路に沿って光学的測定信号を取得する段階と;
を含むレーザ走査顕微鏡法における信号の取得方法であって、
−連続的な取得の間に、前記励起ビームによる通過を受ける媒体の少なくとも一部の光学的特性の変化が実質的に最小化されるように励起ビームの経路を決定すること、及び
−前記励起ビームの移動の間に、前記取得パラメータのうちの少なくとも1つの取得パラメータを調節すること、
を特徴とする、前記方法により達成される。
−励起ビームは、定系の軸に対して実質的に垂直な平均平面に位置した経路の少なくとも1つに沿って進む(parcourir)ことができ、そして測定すべき対象物の表面の等高線(courbes de niveau)が、前記平均平面に投射される(projetees)ように前記等高線に実質的に従うように前記経路を決定することができる。このようにして、連続的な取得の間に、対象物内のビームの焦点の深度の変化を実質的に低減し又は最小化さえして、特に、測定の間、前記深度に依存する取得パラメータを適合させることができる;
−励起ビームの経路は、前記励起ビームのコンディショニングの光学系の対称性に実質的に従うように決定することができる。このようにして、連続的な取得の間に、ビームによって受けた光学的収差の変化を実質的に低減し又は最小化さえして、特に、測定の間、前記光学的収差に依存する取得パラメータを適合させることができる;
−測定信号の原点(origine)において通過を受ける媒体の光学的特性及び特に分光学的特性の分布に実質的に従うように励起ビームの経路を決定することができる。このようにして、例えば、連続的な取得の間に蛍光信号の変化を最小化して、特に、測定の間、前記蛍光信号に依存する取得パラメータを適合させることができる;
−励起ビームの経路の決定は、測定すべき対象物の形状についての先験的知識(connaissances a priori)の利用を含むことができる;
−励起ビームの経路の決定は、測定すべき対象物の形状を決定するために得られた予備データの利用を含んでいることができる;
−励起ビームの経路の決定は、測定すべき対象物の光学的特性及び特に分光学的特性の分布を決定するために得られた予備データの利用を含んでいることができる;
−励起ビームの経路は実質的に螺旋状の形状であることができる;
−調節される取得パラメータは:励起出力、励起ビームの空間的成形、励起ビームのスペクトル的成形、励起ビームの時間的成形、励起ビームの偏光(polarisation)、励起ビームの移動速度、及び測定の取得時間、のうちの少なくとも1つのパラメータを含むことができる;
−励起出力、励起ビームの移動速度、励起ビームの時間的成形及び測定の取得時間のうちの少なくとも1つの取得パラメータを調節して、測定すべき対象物における光学的損失を実質的に補正することができる;
−励起ビームの空間的成形を調節して、励起ビームによって受けた収差を実質的に補正することができる;
−空間的成形、スペクトル的成形及び時間的成形のうちの少なくとも1つの取得パラメータを調節して、通過を受ける媒体の光学的特性及び特に分光学的特性の局在的変化を実質的に補正することができる。
−光学的励起ビームを生成する手段と;
−対象物内部に前記ビームを集束させる手段と;
−規定の経路の少なくとも1つに従って前記集束されたビームを移動させる手段と;
−取得パラメータの少なくとも1つに従って、前記経路に沿って光学的測定信号を取得する手段と;
を含むレーザ走査顕微鏡法における信号を取得するデバイスであって、更に:
−前記励起ビームの移動の間に、前記取得パラメータのうちの少なくとも1つのパラメータを調節する手段と;
−連続的な取得の間に、前記励起ビームによる通過を受ける媒体の少なくとも一部の光学的特性の変化が実質的に最小化されるように決定される前記励起ビームの経路と;
を含むことを特徴とする、前記デバイスを提供する。
−ビームの移動手段は、少なくとも1つの方向に励起ビームを偏向させる手段を含むことができる;
−励起ビームの前記偏向手段は、ミラースキャナ及び音響光学素子のうちの少なくとも1つの素子を含むことができる;
−本発明によるデバイスは、少なくとも1つの方向に従って測定すべき対象物を移動させる手段を更に含むことができる;
−本発明によるデバイスは、測定すべき対象物に対する励起ビームの位置及び瞬間速度のうちの少なくとも1つのパラメータを測定する手段を更に含むことができる;
−本発明によるデバイスは、励起ビームを成形する手段を更に含むことができる;
−励起ビームを成形する手段は、液晶デバイス、変形ミラー、空間光モジュレータ(modulateur spatial de lumiere)、マイクロミラーデバイス、液体レンズ及び可変焦点レンズのうちの少なくとも1つの素子を含むことができる。
−光学系内に挿入される空間フィルタの活用によって高い空間解像度が得られる、蛍光を用いない又は用いた、共焦点顕微鏡;及び
−測定原理が、いくつかの光子と試料構造との同時相互作用によって引き起こされる放射又は拡散の現象に基づく、非線形又は多光子顕微鏡;
のレーザ走査顕微鏡に統合させることができる。
−試料による吸収又はインコヒーレントな拡散。これは、焦点での励起ビームの強度における、深度に応じた指数関数的な減少をもたらすことがある。その結果、検出の力学的問題そして更に非線形顕微鏡法の場合には伝達された強度の不足を生ずることがある;
−試料内部の又は試料と浸漬媒体との間の屈折率の不均一性(heterogeneities)。これは、集束ビームの波の前面に収差を引き起こし、そして、このようにして集束範囲の拡大を惹起することがある。その結果、測定における空間分解能の損失を生じさせ、そして、更に、非線形顕微鏡法の場合には伝達される強度の不足を生じさせることもある。
−励起及び検出の連鎖の光子バランス。これに対して、例えば:光源出力の調節、光パルスの速度(cadence)の調節、可変光学素子(例えば、液晶デバイス)の伝達の調節、ビームの走査速度の調節、又は測定の集積時間、のうちの1つ又は2つ以上の方法を用いることができる;
−受けた光学的収差を修正するための、励起ビームの空間的成形。この空間的成形は、例えば、以下のデバイス:変形ミラー、マイクロミラーデバイス(DMD)、液晶マトリックス又は光空間モジュレータ(SLM)、液体レンズ、可変焦点レンズ、の1種又は2種以上を用いて実施することができる;
−励起ビームのスペクトル的成形、
−測定ビームの成形。
−特に生物学において全体的な性質及び形状がしばしば周知である、試料についての先験的知識に基づいて;
−例えば、対象物の形状を決定するための、場合によっては限定された数の点における、先行する測定の1つ又は2つ以上の結果、他のパラメータ(例えば、吸光係数等)に基づいて;
−先験的知識及び測定値の組合せに基づいて、
行うことができる。
−励起ビーム2を空間的に成形しそしてその集束距離を調整することができる、光学素子(例えば、固定又は可動レンズ);及び
−例えば、その波の前面を成形するために、光学的収差を制御するために、その強度を変えるために、そのスペクトルの内容を制御するために、そして、それを時間的に調節するために、励起ビーム2のコンディショニングを場合によっては測定の間で可能にする素子;
を限定的でなく含んでいることができる。これらの素子は、特に、液晶デバイス、変形ミラー、マイクロミラーデバイス、液体レンズを含んでいることができる。
−測定すべき試料7の範囲内に励起ビームの光を集光し、そして、拡散又は放射された光8を集める、集束モジュール6;
−スペクトル分離及び/又は偏光の手段を場合により含む、測定ビームの分離モジュール8;及び
−検出モジュール9;
も含む。
−考慮対象の試料は図1の球状の試料7のままであり、
−表示の切断面は平面21bであり、そして、
−考慮される影響の大きさは、例えば、励起ビームによって受ける吸収に特に強い影響を及ぼす、対象物内の測定すべき点の深度Hである。
−一般に、走査顕微鏡法による焦点容積(volume focal)の空間的および時間的な形状の制御のために;
−特に、平面ではない対象物(例えば、胚、球状の腫瘍(tumeurs spheroides)等)の3次元画像を用いた、生物学及び医学(厚い組織の観察)に関する非線形又は共焦点顕微鏡法の従来的用途の分野に;
−更に一般には、別の分野(例えば、材料の特徴づけ)に、
適用することができる。
Claims (20)
- 以下の段階:
−集束された光学的励起ビーム(2)と測定すべき対象物(7)との相対的移動を行なって、前記ビーム(2)の焦点が前記対象物(7)の容積内の規定の経路(26)の少なくとも1つに沿って進むようにする段階と;
−取得パラメータの少なくとも1つに従って前記経路(26)に沿って光学的測定信号を取得する段階と;
を含むレーザ走査顕微鏡法における信号の取得方法であって、
−前記光学的測定信号の取得の間、前記励起ビームの伝達に影響を与える前記励起ビーム(2)による通過を受ける媒体の少なくとも一部の光学的特性の変化が実質的に最小化されるように、励起ビーム(26)の経路を決定すること、及び
−前記励起ビーム(2)の移動の間に、前記取得パラメータのうちの少なくとも1つの取得パラメータを調節すること、
を特徴とする、前記方法。 - 通過を受ける媒体の光学的特性の変化の最小化が、前記媒体の分光学的特性の変化の最小化を含むことを特徴とする、請求項1に記載の方法。
- −励起ビームが測定系の軸(22)に実質的に垂直な平均平面(21)に位置している経路(26)の少なくとも1つに沿って進むこと;及び
−測定すべき対象物(7)の表面の等高線が前記平均平面(21)に投射されるように実質的に従うように前記経路(26)を決定すること;
を特徴とする、請求項1又は2に記載の方法。 - 前記励起ビームのコンディショニングの光学系の対称性に実質的に従うように、励起ビームの経路(26)を決定することを特徴とする、請求項1〜3のいずれかに記載の方法。
- 測定信号の原点において通過を受ける媒体の光学的特性及び特に分光学的特性の分布に実質的に従うように、励起ビームの経路(26)を決定することを特徴とする、請求項1〜4のいずれかに記載の方法。
- 励起ビームの経路(26)の決定が、測定すべき対象物(7)の形状についての先験的知識の利用を含むことを特徴とする、請求項1〜5のいずれかに記載の方法。
- 励起ビームの経路(26)の決定が、測定すべき対象物(7)の形状を決定するために得られた予備データの利用を含むことを特徴とする、請求項1〜6のいずれかに記載の方法。
- 励起ビームの経路(26)の決定が、測定すべき対象物(7)の光学的特性及び特に分光学的特性の分布を決定するために得られた予備データの利用を含むことを特徴とする、請求項1〜7のいずれかに記載の方法。
- 励起ビームの経路(26)が実質的に螺旋状の形状であることを特徴とする、請求項1〜8のいずれかに記載の方法。
- 調節される取得パラメータが、以下のパラメータ:
−励起出力;
−励起ビームの空間的成形;
−励起ビームのスペクトル的成形;
−励起ビームの時間的成形;
−励起ビームの偏光;
−励起ビームの移動速度;
−測定の取得時間;
の少なくとも1つを含むことを特徴とする、請求項1〜9のいずれかに記載の方法。 - 励起出力、励起ビームの移動速度、励起ビームの時間的成形、及び測定の取得時間のうちの少なくとも1つの取得パラメータを調節して、測定すべき対象物(7)における光学的損失を実質的に補正することを特徴とする、請求項10に記載の方法。
- 励起ビーム(2)の空間的成形を調節して、前記励起ビームによって受けた収差を実質的に補正することを特徴とする、請求項10又は11に記載の方法。
- 励起ビーム(2)の空間的成形、スペクトル的成形及び時間的成形のうちの少なくとも1つの取得パラメータを調節して、通過を受ける媒体の光学的特性及び特に分光学的特性の局在的変化を実質的に補正することを特徴とする、請求項10〜12のいずれか一項に記載の方法。
- 以下の手段:
−光学的励起ビーム(2)を生成する手段(1)と;
−対象物(7)の内部に前記ビーム(2)を集束させる手段(6)と;
−既定の経路(26)の少なくとも1つに沿って前記集束されたビーム(2)を移動させる手段(5)と;
−取得パラメータの少なくとも1つに従って、前記経路に沿って光学的測定信号(8)を取得する手段(9)と;
を含む、レーザ走査顕微鏡法における信号の取得デバイスであって、更に:
−前記の励起ビームの移動の間、前記取得パラメータのうちの少なくとも1つのパラメータを調節する手段(3,10)と;
−前記光学的測定信号の取得の間に、前記励起ビームの伝達に影響を与える前記励起ビームによる通過を受ける媒体の少なくとも一部の光学的特性の変化を実質的に最小化するように決定される前記励起ビーム(2)の経路(26)と;
を含むことを特徴とする前記デバイス。 - ビーム(2)の移動手段が、少なくとも1つの方向に励起ビームを偏向させる手段(5)を含むことを特徴とする、請求項14に記載のデバイス。
- 励起ビーム(2)の偏向手段が、ミラースキャナ及び音響光学素子のうちの少なくとも1つの素子を含むことを特徴とする、請求項15に記載のデバイス。
- 少なくとも1つの方向に測定すべき対象物(7)を移動させる手段を更に含むことを特徴とする、請求項14〜16のいずれか一項に記載のデバイス。
- 測定すべき対象物(7)に対する励起ビーム(2)の位置及び瞬間速度のうちの少なくとも1つのパラメータの測定手段を更に含むことを特徴とする、請求項14〜17のいずれか一項に記載のデバイス。
- 励起ビーム(2)の成形手段(3)を更に含むことを特徴とする、請求項14〜18のいずれか一項に記載のデバイス。
- 励起ビーム(2)の成形手段(3)が、液晶デバイス、変形ミラー、光空間モジュレータ、マイクロミラーデバイス、液体レンズ、可変焦点レンズのうちの少なくとも1つの素子を含むことを特徴とする、請求項19に記載のデバイス。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FR0950693A FR2941787B1 (fr) | 2009-02-04 | 2009-02-04 | Procede et dispositif d'acquisition de signaux en microscopie laser a balayage. |
FR0950693 | 2009-02-04 | ||
PCT/FR2010/050173 WO2010089504A1 (fr) | 2009-02-04 | 2010-02-03 | Procede et dispositif d'acquisition de signaux en microscopie laser a balayage |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012517035A true JP2012517035A (ja) | 2012-07-26 |
JP2012517035A5 JP2012517035A5 (ja) | 2015-03-19 |
JP5873721B2 JP5873721B2 (ja) | 2016-03-01 |
Family
ID=40852177
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011548748A Expired - Fee Related JP5873721B2 (ja) | 2009-02-04 | 2010-02-03 | レーザ走査顕微鏡法における信号取得の方法及びデバイス |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8284483B2 (ja) |
EP (1) | EP2394194B1 (ja) |
JP (1) | JP5873721B2 (ja) |
FR (1) | FR2941787B1 (ja) |
WO (1) | WO2010089504A1 (ja) |
Families Citing this family (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8201268B1 (en) * | 2008-11-13 | 2012-06-12 | Optonet Inc. | Integrated high index contrast sub-wavelength optical transforming tip (HICSWOTT) for near-field scanning optical microscope |
ES2371901B1 (es) * | 2011-07-11 | 2012-11-20 | Ismael Royo Bieto | Ovoscopio de medición portátil. |
US20140368904A1 (en) * | 2012-02-29 | 2014-12-18 | Agilent Technologies, Inc. | Software Defined Microscope |
DE102012101778A1 (de) | 2012-03-02 | 2013-09-05 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Scanmikroskopisches Verfahren und Scanmikroskop |
DE102012218624B4 (de) | 2012-09-07 | 2020-07-09 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Konfokales Laser-Raster-Mikroskop mit einer gepulst angesteuerten Laserlichtquelle |
EP2725348A1 (en) * | 2012-10-29 | 2014-04-30 | Scientific Visual SARL | Optical quality control device |
CN103439533B (zh) * | 2013-09-05 | 2015-07-15 | 南开大学 | 纳米金属螺旋轴锥探针 |
US9820652B2 (en) | 2013-12-09 | 2017-11-21 | The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University | Multi-photon microscope having an excitation-beam array |
US10690897B2 (en) | 2015-04-20 | 2020-06-23 | Canon Kabushiki Kaisha | Laser scanning microscope apparatus |
CN105674892B (zh) * | 2016-02-06 | 2018-05-15 | 哈尔滨工业大学 | 中继式飞秒脉冲高精度位移探测方法 |
CN105572685B (zh) * | 2016-02-06 | 2017-11-10 | 哈尔滨工业大学 | 基于双向飞秒脉冲的深空引力波探测方法及装置 |
CN105509645B (zh) * | 2016-02-06 | 2018-07-17 | 哈尔滨工业大学 | 双向飞秒脉冲高精度位移探测方法及装置 |
CN105676228B (zh) * | 2016-02-06 | 2018-02-23 | 哈尔滨工业大学 | 双向飞秒脉冲高精度测距方法及装置 |
EP3538941A4 (en) | 2016-11-10 | 2020-06-17 | The Trustees of Columbia University in the City of New York | METHODS FOR FAST IMAGING OF HIGH RESOLUTION LARGE SAMPLES |
EP3724708B1 (en) * | 2017-12-12 | 2024-03-27 | Allen Institute | Systems, apparatuses, and methods for simultaneous multi-plane imaging |
CN113853544B (zh) * | 2019-03-28 | 2024-03-26 | 有限公司诗兰帝普研究所 | 图像数据获得方法 |
Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000098238A (ja) * | 1998-09-22 | 2000-04-07 | Olympus Optical Co Ltd | 走査型レーザ顕微鏡 |
JP2003195174A (ja) * | 2001-12-28 | 2003-07-09 | Olympus Optical Co Ltd | 走査型レーザ顕微鏡システム |
US6740868B1 (en) * | 1999-11-29 | 2004-05-25 | Leica Microsystems Heidelberg Gmbh | Scanning microscope and a method of scanning a specimen |
JP2004252414A (ja) * | 2003-01-28 | 2004-09-09 | Olympus Corp | 走査型光学顕微鏡装置及びその制御方法並びにプログラム |
JP2005165212A (ja) * | 2003-12-05 | 2005-06-23 | Olympus Corp | 走査型共焦点顕微鏡装置 |
JP2005292538A (ja) * | 2004-04-01 | 2005-10-20 | Olympus Corp | 走査型光学顕微鏡 |
JP2006011446A (ja) * | 2004-06-24 | 2006-01-12 | Fujifilm Electronic Imaging Ltd | 複数焦点スタック画像を形成する方法及び装置 |
JP2006023476A (ja) * | 2004-07-07 | 2006-01-26 | Olympus Corp | 共焦点走査型顕微鏡 |
JP2006520022A (ja) * | 2003-03-06 | 2006-08-31 | ボード オブ リージェンツ オブ ザ ネバダ システム オブ ハイアー エデュケーション オン ビハーフ オブ ザ ユニバーシティ オブ ネバダ リーノー | 連続的な非ラスタパターンを使用して撮像する方法および装置 |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5034613A (en) | 1989-11-14 | 1991-07-23 | Cornell Research Foundation, Inc. | Two-photon laser microscopy |
JP3816632B2 (ja) * | 1997-05-14 | 2006-08-30 | オリンパス株式会社 | 走査型顕微鏡 |
DE19733193B4 (de) * | 1997-08-01 | 2005-09-08 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Mikroskop mit adaptiver Optik |
US6820032B2 (en) * | 2001-02-05 | 2004-11-16 | National Instruments Corporation | System and method for scanning a region using conformal mapping |
DE10254139A1 (de) * | 2002-11-15 | 2004-05-27 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Verfahren und Anordnung zur tiefenaufgelösten optischen Erfassung einer Probe |
DE102004034970A1 (de) * | 2004-07-16 | 2006-02-02 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Lichtrastermikroskop und Verwendung |
WO2006042130A2 (en) | 2004-10-06 | 2006-04-20 | Baylor College Of Medicine | High speed microscope with three-dimensional laser beam scanning |
WO2006058187A2 (en) * | 2004-11-23 | 2006-06-01 | Robert Eric Betzig | Optical lattice microscopy |
JP4915071B2 (ja) * | 2005-09-22 | 2012-04-11 | 株式会社ニコン | 顕微鏡、およびバーチャルスライド作成システム |
-
2009
- 2009-02-04 FR FR0950693A patent/FR2941787B1/fr not_active Expired - Fee Related
-
2010
- 2010-02-03 WO PCT/FR2010/050173 patent/WO2010089504A1/fr active Application Filing
- 2010-02-03 JP JP2011548748A patent/JP5873721B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2010-02-03 US US13/147,232 patent/US8284483B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2010-02-03 EP EP10708273.7A patent/EP2394194B1/fr not_active Not-in-force
Patent Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000098238A (ja) * | 1998-09-22 | 2000-04-07 | Olympus Optical Co Ltd | 走査型レーザ顕微鏡 |
US6740868B1 (en) * | 1999-11-29 | 2004-05-25 | Leica Microsystems Heidelberg Gmbh | Scanning microscope and a method of scanning a specimen |
JP2003195174A (ja) * | 2001-12-28 | 2003-07-09 | Olympus Optical Co Ltd | 走査型レーザ顕微鏡システム |
JP2004252414A (ja) * | 2003-01-28 | 2004-09-09 | Olympus Corp | 走査型光学顕微鏡装置及びその制御方法並びにプログラム |
JP2006520022A (ja) * | 2003-03-06 | 2006-08-31 | ボード オブ リージェンツ オブ ザ ネバダ システム オブ ハイアー エデュケーション オン ビハーフ オブ ザ ユニバーシティ オブ ネバダ リーノー | 連続的な非ラスタパターンを使用して撮像する方法および装置 |
JP2005165212A (ja) * | 2003-12-05 | 2005-06-23 | Olympus Corp | 走査型共焦点顕微鏡装置 |
JP2005292538A (ja) * | 2004-04-01 | 2005-10-20 | Olympus Corp | 走査型光学顕微鏡 |
JP2006011446A (ja) * | 2004-06-24 | 2006-01-12 | Fujifilm Electronic Imaging Ltd | 複数焦点スタック画像を形成する方法及び装置 |
JP2006023476A (ja) * | 2004-07-07 | 2006-01-26 | Olympus Corp | 共焦点走査型顕微鏡 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2010089504A1 (fr) | 2010-08-12 |
US8284483B2 (en) | 2012-10-09 |
FR2941787B1 (fr) | 2011-04-15 |
JP5873721B2 (ja) | 2016-03-01 |
EP2394194A1 (fr) | 2011-12-14 |
FR2941787A1 (fr) | 2010-08-06 |
EP2394194B1 (fr) | 2016-08-03 |
US20110296562A1 (en) | 2011-12-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5873721B2 (ja) | レーザ走査顕微鏡法における信号取得の方法及びデバイス | |
JP5718329B2 (ja) | 適応光学系を有する顕微鏡検査法 | |
JP5897563B2 (ja) | ライン走査式顕微鏡における同期用システム | |
JP6899963B2 (ja) | リアルタイムの自動焦点調節走査 | |
JP6097516B2 (ja) | 顕微鏡撮像光線路の球面収差を識別し補正する方法及び装置 | |
JP2018533769A (ja) | 広視野高分解能顕微鏡 | |
US10401149B2 (en) | Method for determining the thickness of a specimen holder in the beam path of a microscope | |
US20160116727A1 (en) | Microscope apparatus and storage medium storing microscope apparatus control program | |
US10341646B2 (en) | Variable focal length lens system with optical power monitoring | |
JP7234254B2 (ja) | 顕微鏡において光路を操作する方法および装置、顕微鏡においてスタック画像を撮影する方法 | |
AU2018352821B2 (en) | Image reconstruction method, device and microscopic imaging device | |
CN109276229B (zh) | 一种用于光声显微成像的快速对焦系统及方法 | |
JP6178656B2 (ja) | 補償光学素子の設定方法及び顕微鏡 | |
JP2018063292A (ja) | 試料観察装置及び試料観察方法 | |
JP2022507849A (ja) | 光学顕微鏡および顕微鏡法 | |
JP2022519567A (ja) | 波面解析装置、蛍光顕微鏡画像化システムおよび対象を顕微鏡画像化する方法 | |
JP2005275199A (ja) | 3次元共焦点顕微鏡システム | |
JP2018521360A (ja) | 光学顕微鏡における画像処理のためのシステムおよび方法 | |
US20180267283A1 (en) | Image acquisition device and image acquisition method | |
CN111971607B (zh) | 试样观察装置 | |
EP3129817B1 (en) | Autofocus system | |
JP6825234B2 (ja) | 計測装置、計測方法、加工装置、および被加工物の生産方法 | |
JP2005201724A (ja) | 屈折率分布の測定方法および測定装置 | |
KR102058780B1 (ko) | 라인 스캐닝 방식의 공초점 현미경에서의 자동초점조절 방법 및 장치 | |
TWI470299B (zh) | 自動對焦裝置與方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20121214 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20121214 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20131218 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20140121 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20140421 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20140428 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20140521 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20140729 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20141029 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20141106 |
|
A524 | Written submission of copy of amendment under article 19 pct |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A524 Effective date: 20150129 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20150331 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20150731 |
|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20151005 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20151222 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20160118 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5873721 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |