JP2012506033A - 周波数変調されるクロック発生器の検査装置および検査方法 - Google Patents
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Abstract
Description
log{[spread*(f_m - f_mod)+2*f_mid*f_R] / [2*(f_m)2]}/log(2)
Claims (28)
- 周波数変調されるクロック発生器(1)の検査装置であって、
・クロック発生器(1,17,34)のクロック信号(f_sso)のクロックサイクルを、複数の順次連続する測定単位時間(T_m)で計数し、サイクル計数値(z)を出力するサイクルカウンタ(5,24)と、
・前記サイクル計数値(z)が入力され、それらを比較し、少なくとも1つの出力信号(S2,S6)を前記比較に依存して出力する比較装置(6,7,8)とを有する、
検査装置。 - 前記比較装置は、求めたサイクル計数値(z)を相互に比較し、周波数変調を評価するための出力信号(S2,S6)を、前記相互比較に依存して出力する、
ことを特徴とする請求項1に記載の装置。 - 前記少なくとも1つの出力信号(S2,S6)は、変調周波数(f_mod)、公称周波数(f_mid)および/またはクロック信号(f_sso)の相対的ばらつきに関する情報を含む、ことを特徴とする請求項1または2に記載の装置。
- 前記比較装置は、
・少なくともサイクル計数値の最小値と最大値を記憶する記憶装置(6,7)と、
・最小サイクル計数値と最大サイクル計数値との差を形成し、求められた差に依存して出力信号(S2,S6)を出力する評価装置(8)とを有する、
ことを特徴とする請求項1から3までのいずれか1項に記載の装置。 - 前記記憶装置(6,7)は、最大サイクル計数値を記憶する上側中間メモリ(6)と、最小サイクル計数値を記憶する下側中間メモリ(7)とを有し、
前記上側中間メモリ(6)は最大値中間バッファ(6a)を、前記下側中間メモリ(7)は最小値中間バッファ(7a)を有し、
該最大値中間バッファ(6a)と最小値中間バッファ(7a)とは、各測定単位時間(T_m)後に更新され、
前記最小値中間バッファ(7a)は、目下のサイクル計数値(z)が、記憶されている最小サイクル計数値より小さい場合に上書きされ、
前記最大値中間バッファ(6a)は、目下のサイクル計数値(z)が、これに記憶されている最大サイクル計数値より大きい場合に上書きされる、
ことを特徴とする請求項4に記載の装置。 - 前記下側中間メモリ(7)と前記上側中間メモリ(6)はそれぞれ、中間バッファ(6a、7a)に記憶されている値を、所定数の計数期間の後に入力する結果バッファ(6b、7b)を有する、
ことを特徴とする請求項5に記載の装置。 - 測定単位時間(T_m)の数を計数する測定数カウンタ(13)を有し、
前記比較装置(6,7,8)は、測定数カウンタ(13)により計数された複数のたとえば240の測定単位時間(T_m)からなる評価単位時間を設定し、
該評価単位時間内に求められた最大サイクル計数値と最小サイクル計数値を、出力信号(S2,S6)を求めるために使用する、
ことを特徴とする請求項1から6までのいずれか1項に記載の装置。 - 評価単位時間は、測定の開始時に測定数カウンタ(13)により所定数の測定単位時間(T_m)が計数されて初めて開始され、
比較装置(6,7,8)は、出力信号(S2,S6)を検出するために先行の測定単位時間(T_m)で求められたサイクル計数値を無視する、
ことを特徴とする請求項7に記載の装置。 - 測定単位時間(T_m)は、測定信号(m)により規定され、
該測定信号(m)はサイクルカウンタ(5)のリセット入力端(5b)に印加され、サイクルカウンタを測定単位時間(T_m)後にリセットし、
ここで測定信号(m)の測定周波数(f_m)は、変調されたクロック信号(f_sso)の変調周波数(f_mod)より高い、
ことを特徴とする請求項1から8までのいずれか1項に記載の装置。 - 測定周波数(f_m)は、クロック発生器(1)の公称周波数(f_mid)より低い変調周波数(f_mod)の少なくとも2倍の高さである、ことを特徴とする請求項9に記載の装置。
- 測定信号(m)の測定周波数(f_m)は、変調周波数(f_mod)の2倍超から7倍未満であり、ただし変調周波数(f_mod)の整数倍ではない、
ことを特徴とする請求項9または10に記載の装置。 - 監視カウンタ(11)が設けられており、該監視カウンタは、測定信号(m)によりリセットされるクロックサイクルの数を計数し、測定信号(m)が欠けている場合には所定の最大計数値まで計数し、
前記比較装置(6,7,8)は、監視カウンタ(11)の出力信号を、測定信号(m)の検査のために入力する、
ことを特徴とする請求項11に記載の装置。 - プログラム可能な集積回路として構成されている、
ことを特徴とする請求項1から12までのいずれか1項に記載の装置。 - 集積回路は、周波数変調された検査すべきクロック信号(f_sso)用の入力端と、測定単位時間(T_m)を設定する外部測定信号(m2)用の入力端(50b)と、出力信号(S2)を出力する出力端とを有する、
ことを特徴とする請求項13に記載の装置。 - さらに集積回路は、内部測定信号(m1)を出力する内部クロック発生器(53)と、外部測定信号(m2)用の入力端と内部クロック発生器(53)とを切り換えるスイッチ(54)とを有する、
ことを特徴とする請求項14に記載の装置。 - 周波数変調されるクロック発生器(1)とともに集積回路として構成されている、
ことを特徴とする請求項13から15までのいずれか1項に記載の装置。 - マイクロコントローラ(90)内の端末モジュール(110)として構成されている、
ことを特徴とする請求項1から12までのいずれか1項に記載の装置。 - 周波数変調されるクロック発生器(1)の検査は、入力された外部の初期化信号(in)によりスタートされる、
ことを特徴とする請求項1から17までのいずれか1項に記載の装置。 - 少なくとも1つの出力信号(S2,S8)として、状態指示のための2進信号および/またはデータ信号、PWM信号、またはデジタル信号が出力される、
ことを特徴とする請求項1から18までのいずれか1項に記載の装置。 - 周波数変調されるクロック発生器を検査する検査システムであって、
・回路支持体(27)と、
・請求項13から16までのいずれか1項に記載の集積回路として構成された検査装置(2,32,132)と、
・内部クロック発生器(25)とを有し、
前記検査装置(2)と内部クロック発生器(25)は、回路支持体(27)上に実装されている検査システム。 - 回路支持体(27)上にはさらにマイクロコントローラ(28)が設けられており、
前記装置(2)の出力信号は、マイクロコントローラのデータ線路(29)を介して、および/または装置(132)の2進状態出力端(31)を介して出力される、
ことを特徴とする請求項20に記載の検査システム。 - SSOの周波数変調されるクロック信号(f_sso)を検査する方法であって、
周波数変調されるクロック信号(f_sso)のクロックサイクルを、順次連続する測定単位時間(T_m)内で計数するステップと、
測定単位時間(T_m)内に求められたサイクル計数値(z)を比較するステップ
とを有する方法。 - 求められたサイクル計数値(z)が相互に比較され、クロック信号(f_sso)が相互比較に依存して評価される、
ことを特徴とする請求項22に記載の方法。 - 変調周波数(f_mod)および/または公称周波数(f_mid)および/またはクロック信号(f_sso)の相対的ばらつきが求められ、評価される、
ことを特徴とする請求項23に記載の方法。 - 測定信号(m)の測定周波数(f_m)により測定単位時間(T_m)が設定され、
該測定信号(m)は、クロック信号(f_sso)のクロックサイクルを計数するサイクルカウンタ(5)をリセットする、
ことを特徴とする請求項22から24までのいずれか1項に記載の方法。 - 所定数の測定単位時間(T_m)にわたって最小サイクルカウンタ状態と、最大サイクルカウンタ状態が求められ、
最小および最大サイクルカウンタ状態から、変調周波数(f_mod)および/または公称周波数(f_mid)および/またはクロック信号(f_sso)の相対的ばらつきが求められ、評価される、
ことを特徴とする請求項25に記載の方法。 - さらに監視計数が実施され、当該監視計数では、測定信号(z)が欠けている場合にクロックサイクルが最高値まで計数され、
当該監視計数の計数器状態から測定信号(m)が正常に存在していることが推測される、
ことを特徴とする請求項22から26までのいずれか1項に記載の方法。 - 求められた最大計数器状態と最小計数器状態に基づき、求められた中心周波数(f_mid)を平均した公称周波数に対して関連付けて評価が行われ、
求められた相対的ばらつきが目標値と比較され、比較に依存して状態を指示するための出力信号(S2,S8)が出力される、
ことを特徴とする請求項22から27までのいずれか1項に記載の方法。
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